TWI456493B - 除法方法及除法裝置 - Google Patents

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TWI456493B
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Silicon Motion Inc
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    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03K—PULSE TECHNIQUE
    • H03K21/00—Details of pulse counters or frequency dividers
    • H03K21/08—Output circuits
    • H03K21/10—Output circuits comprising logic circuits

Landscapes

  • Manipulation Of Pulses (AREA)
  • Noise Elimination (AREA)

Claims (13)

  1. 一種除法裝置，包含有：一第一除頻電路，用以接收一第一時脈訊號，並產生對應該第一時脈訊號之一第一除頻後訊號；以及一第一去雜訊電路，耦接至該第一除頻電路，用以接收一第二時脈訊號與該第一除頻後訊號，並參考該第二時脈訊號與該第一除頻後訊號，降低該第一除頻後訊號之雜訊，以產生一第一去雜訊除頻後訊號。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之除法裝置，其中該第二時脈訊號係為該第一除頻電路所接收之該第一時脈訊號。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之除法裝置，其另包含有：一第二除頻電路，用以接收該第一除頻後訊號，並產生一第二除頻後訊號；以及一第二去雜訊電路，耦接至該第二除頻電路，用以接收該第一去雜訊除頻後訊號與該第二除頻後訊號，並參考該第一去雜訊除頻後訊號與該第二除頻後訊號，降低該第二除頻後訊號之雜訊，以產生一第二去雜訊除頻後訊號。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之除法裝置，其中該第一去雜訊電路係參考該第一除頻後訊號之一訊號轉態時點，對該第二時脈訊號進行取樣，以產生該第一去雜訊除頻後訊號。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之除法裝置，其中該第一去雜訊電路係根據該第一除頻後訊號，對該第二時脈訊號進行資料閂鎖操作，以產生該第一去雜訊除頻後訊號。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之除法裝置，其中該第一去雜訊電路包含有一閂鎖單元，該閂鎖單元具有一資料輸入端、一資料輸出端與一致能輸入端，該第一除頻後訊號係耦接至該致能輸入端，該第二時脈訊號係耦接至該資料輸入端，以及該第一去雜訊除頻後訊號係產生於該資料輸出端。
  7. 如申請專利範圍第5項所述之除法裝置，其中該閂鎖單元係一穿透閂(transparent latch)。
  8. 一種除法方法，包含有：接收一第一時脈訊號，並產生對應該第一時脈訊號之一第一除頻後訊號；以及使用一第一去雜訊電路接收一第二時脈訊號與該第一除頻後訊號，並參考該第二時脈訊號與該第一除頻後訊號，降低該第一除頻後訊號之雜訊，以產生一第一去雜訊除頻後訊號。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之除法方法，其中該第二時脈訊號係相同於該第一時脈訊號。
  10. 如申請專利範圍第8項所述之除法方法，另包含有：接收該第一除頻後訊號，並對該第一除頻後訊號進行除頻以產生一第二除頻後訊號；以及使用一第二去雜訊電路接收該第一去雜訊除頻後訊號與該第二除頻後訊號，並參考該第一去雜訊除頻後訊號與該第二除頻後訊號，降低該第二除頻後訊號之雜訊，以產生一第二去雜訊除頻後訊號。
  11. 如申請專利範圍第8項所述之除法方法，其中參考該第一去雜訊除頻後訊號與該第二除頻後訊號產生該第二去雜訊除頻後訊號之步驟包含有：參考該第一除頻後訊號之一訊號轉態時點，對該第二時脈訊號進行取樣，以產生該第一去雜訊除頻後訊號。
  12. 如申請專利範圍第11項所述之除法方法，其中參考該第一除頻後訊號之該訊號轉態時點以產生該第一去雜訊除頻後訊號之步驟包含有：根據該第一除頻後訊號，對該第二時脈訊號進行資料閂鎖操作，以產生該第一去雜訊除頻後訊號。
  13. 如申請專利範圍第12項所述之除法方法，其中根據該第一除頻後訊號對該第二時脈訊號進行資料閂鎖操作以產生該第一去雜訊除頻後訊號的步驟包含有：提供一閂鎖單元，該閂鎖單元具有一資料輸入端、一資料輸出端與一致能輸入端；將該第一除頻後訊號耦接至該致能輸入端；將該第二時脈訊號耦接至該資料輸入端；以及於該資料輸出端產生該第一去雜訊除頻後訊號。
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