TWI440840B

TWI440840B - 晃動測試裝置

Info

Publication number: TWI440840B
Application number: TW100132437A
Authority: TW
Inventors: Chin Lung Lien; Wei I Chen; Kuei Hua Chen
Original assignee: Inventec Corp
Priority date: 2011-09-08
Filing date: 2011-09-08
Publication date: 2014-06-11
Also published as: TW201312090A; US20130061682A1; US8769178B2

Description

晃動測試裝置

本發明是有關於一種測試技術，且特別是有關於一種適用於電腦系統之擴充槽的晃動測試裝置。

現行的電腦主機架構，除了包括有中央處理單元(central process unit；CPU)、橋接晶片組(bridge chipset)、記憶體(Memory)及顯示單元(Display unit)以外，可讓使用者進行電腦機能擴充的擴充槽(Expansion slot)亦是相當主要的一個部分。使用者可以利用電腦主機上的擴充槽以與周邊裝置(例如，顯示卡、音訊處理卡…等外接式插卡)進行溝通，藉以擴充電腦的機能，並增加電腦主機的應用。

此外，使用者除了希望電腦能在一靜止狀態中能夠順利使用以外，也會希望電腦主機能夠隨身攜帶以隨時使用。藉此，各大廠商必須不斷地測試電腦主機在晃動過程中的穩定度，以檢驗電腦主機在模擬移動的情況下是否能正常運作。

由於外接式插卡的種類多樣，並且每個外接式插卡的零件個數、重量以及支撐結構的設計皆不相同，因此在進行振動測試時，廠商難以利用實際的外接式插卡進行測試。若以上述方式進行測試，也必需具備眾多式樣的外接式插卡，才能進行較為全面的完整測試。

然而，以實際的外接式插卡進行測試的成本過高，上述測試方式也無法偵測到其金手指與擴充槽的實際跳脫情形。因此，當檢驗電腦主機在晃動過程的穩定度時，必須另外研發新穎的測試技術，以解決上述問題。

本發明提供一種晃動測試裝置，以偵測電腦主機當中的連結插件(例如擴充槽與晃動測試裝置的金手指部分)是否會因晃動而脫落，或是發生晃動測試裝置跳脫、但又插回插槽卻未發現等情形。

本發明提出一種晃動測試裝置，適用於一電腦系統的一擴充槽。晃動測試裝置包括一主板、一結構單元及一偵測模組。其中主板具有一金手指以電性連接至擴充槽。結構單元配置於主板，用以模擬一重量以及一支撐結構。偵測模組耦接至金手指之至少一腳位，用以偵測金手指與擴充槽之間的一接觸狀態以產生一警示訊息。

在本發明之一實施例中，上述之結構單元包括至少一砝碼及至少一支架。此至少一砝碼用以以模擬晃動測試裝置之重量，並且此少一支架用以模擬種晃動測試裝置之支撐結構以及種晃動測試裝置的一主板高度。

在本發明之一實施例中，上述之偵測模組包括一接觸偵測單元、一閂鎖單元及一警示單元。接觸偵測單元耦接至至少一腳位，用以當至少一腳位脫離擴充槽時，致能一接觸狀態訊號。閂鎖單元耦接至偵測單元，用以接收接觸狀態訊號，並在接觸狀態訊號致能時，致能並維持一閂鎖警示訊號。警示單元耦接至接觸偵測單元以及閂鎖單元，用以當接觸狀態訊號或閂鎖警示訊號致能時，產生警示訊息。

在本發明之一實施例中，上述之金手指的至少一腳位用以耦接至擴充槽的至少一接地腳位。其中接觸偵測單元包括一第一或閘以及至少一上拉電阻。第一或閘其每一輸入端分別耦接至金手指之至少一腳位，且第一或閘的輸出端產生接觸狀態訊號。每一上拉電阻的第一端耦接至一電源端，且每一上拉電阻的第二端分別耦接至至少一腳位。

在本發明之一實施例中，上述之閂鎖單元包括一D型正反器。D型正反器之資料輸入端耦接至一電源端，D型正反器之時脈輸入端接收接觸狀態訊號，且D型正反器的資料輸出端產生閂鎖警示訊號。

在本發明之一實施例中，上述之警示單元包括一第一反閘、一第二反閘、一第一二極體、一第二二極體、一第一電阻以及一第一發光二極體。第一反閘其輸入端接收接觸狀態訊號，並且第二反閘其輸入端接收閂鎖警示訊號。第一二極體其陰極端耦接至第一反閘的輸出端，並且第二二極體其陰極端耦接至第二反閘的輸出端。第一電阻其第一端耦接至第一二極體以及第二二極體的陰極端。第一發光二極體其陰極端耦接至第一電阻的第二端，且第一發光二極體的陽極端耦接至電源端。

在本發明之一實施例中，上述之警示單元更包括一接觸顯示單元。接觸顯示單元耦接至第一反閘及閂鎖單元的一反相資料輸出端，用以在接觸狀態訊號或閂鎖警示訊號禁能時，發出一接觸訊息。

在本發明之一實施例中，上述之接觸顯示單元包括一第二或閘、一第三二極體、一第二電阻及一第二發光二極體。第二或閘之第一輸入端以及第二輸入端分別耦接至第一反閘的輸出端以及反相資料輸出端，以產生一接觸顯示訊號。第三反閘用以反相接觸顯示訊號，第三二極體其陰極端耦接至第三反閘的輸出端，第二電阻其第一端耦接至第三二極體的陰極端，並且第二發光二極體其陰極端耦接至第二電阻的第二端，且第二發光二極體的陽極端耦接至電源端。

在本發明之一實施例中，上述之種晃動測試裝置更包括一電源供應模組，用以在晃動測試裝置的電源端提供一輸入電源。

在本發明之一實施例中，上述之之擴充槽符合一週邊裝置連接快遞(PCI-E)規格。

基於上述，本發明實施例所述的晃動測試裝置利用法碼、支架等硬體元件來模擬外接式插卡的重量以及支撐結構，並利用偵測模組來偵測電腦主機當中的連結插件是否會因晃動而脫落，或是發生晃動測試裝置的金手指跳脫、但又插回插槽卻未發現等情形。並且，當此晃動測試裝置的金手指因晃動而發生脫落時，便會立即產生警示訊息以告知測量者。

為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

圖1繪示本發明第一實施例之晃動測試裝置100之示意圖。請參照圖1，晃動測試裝置100包括一主板110、一結構單元120及一偵測模組130。本發明實施例之晃動測試裝置100主要應用於測試一電腦主機在晃動時，位於電腦主機內的擴充槽(expansion slot)以及與擴充槽連接之介面卡(interface card)(例如，顯示卡或音效卡)是否能夠穩固地與擴充槽接合。

以目前相關的測試技術而言，介面卡除了利用其金手指與擴充槽接合以外，通常搭配有相對應的卡榫、插槽，藉以增加介面卡與電腦主機之間的摩擦力，避免電腦主機在運送的過程中、或是在移動中使用電腦主機的時候，因為晃動的關係而造成介面卡暫時跳離，導致電腦主機功能異常之情況。然而，由於沒有相關測試技術可直接判斷介面卡與電腦主機之間的摩擦力是否成夠完全排除上述問題，其穩定性便是很大的疑問。因此，本發明實施例便利用圖1所述之晃動偵測裝置100來解決上述問題。

基於上述，主板110的其中一個側邊包括一金手指112，並且主板110用以模擬一介面卡的基本外觀，例如介面卡的長度、寬度等。晃動偵測裝置100利用主板110上之金手指112與一電腦主機之擴充槽接合，因此金手指112的腳位必須符合所要測試之擴充槽規格。例如，本實施例中電腦系統的擴充槽採用周邊裝置連接快遞(PCI-E)規格，因此金手指112必須要符合PCI-E規格而不能過長或過短，惟本發明實施例中擴充槽所採用的匯流排規格並不限於此。此外，基於不同的介面卡具有不同複雜度的功能，不同介面卡各自的結構亦不盡相同，例如結構較複雜的介面卡可能比結構較簡單的介面卡具有更多的晶片、電容、電阻、風扇、散熱片及電源…等，不但在外觀上有所差異，在重量上亦不相同。因此本實施例之晃動偵測裝置100利用結構單元120來模擬上述元件的重量及支撐結構。

在此詳細說明結構單元120。結構單元120包括至少一砝碼120a及至少一支架120b，由於不同複雜度之介面卡具有不同之重量，因此可利用砝碼120a代替所要模擬之介面卡上元件之重量。據此，只需要一個主板110加上砝碼120a，即可模擬各種不同重量之介面卡位於擴充槽上之情況，並且不需要大量購買各種不同複雜度的介面卡，以達到節省成本的目的。更進一步來說，不同介面卡不但重量可能不相同，重心也可能有所差異，可利用砝碼120a分佈於主板110上各處，亦可達到模擬不同重心之介面卡於擴充槽上之情況。

為了更精確地模擬出介面卡的實際結構，結構單元120更利用支架120b來模擬從介面卡表面延伸出來的立體結構，例如散熱風扇、散熱片之高度或者是分佈於介面卡各處的大型雙列直插封裝(Dual In-line Package；DIP)電容…等。本發明實施例之晃動偵測裝置100利用支架120b分佈於立體結構位於主板110上之所需的位置，以達到模擬介面卡立體結構之配置。支架120b可根據不同元件的外觀，製作成不同的高度及寬度，並且可隨意放置所需要模擬之位置，因此亦可廣泛地模擬測試各種不同結構的介面卡。

一般來說，由於介面卡與擴充槽接合於電腦主機機殼之內部，介面卡與擴充槽接合之穩定度不容易直接觀察，尤其是在介面卡跳脫後又再插回擴充槽的情形，更是難以觀察。因此，偵測模組130耦接金手指112之至少一腳位，以偵測金手指112與電腦主機之擴充槽之間的接觸狀態，藉以產生一警示訊息。舉例來說，警示訊息可為來自一紅色發光二極體之紅色光，當接觸狀態為脫落或接觸不穩定的情形時，則發光二極體發出紅色光。使用者可直接觀察警示訊息得知金手指112與電腦主機之擴充槽之間的接觸狀態。

如上所述，晃動測試裝置100更包括一電源供應模組114。電源供應模組114可在晃動測試裝置100之電源端提供一輸入電源。其中電源供應模組114包括至少一電池，並可依據電池之數目決定輸入電源的輸入電壓值。舉例來說，若一顆電池可提供之電壓值為1.5V，電源供應模組114所輸入之電源需求為4.5V，則可以利用三顆電池串聯達到所需要之電壓值。

圖2繪示本發明第一實施例之偵測模組130之功能方塊圖。請參照圖1及圖2，偵測模組130包括一接觸偵測單元132、一閂鎖單元134及一警示單元136。接觸偵測單元132耦接至之金手指112之至少一腳位。於本實施例中，這些金手指112的腳位(例如，腳位F1~FN)在插入擴充槽時，應會電性連接至PCI-E規格中的接地腳位，N為正整數。當金手指112的腳位F1~FN脫離一電腦主機的擴充槽時，接觸偵測單元132便會偵測到金手指112之接觸狀態的改變，接著致能一接觸狀態訊號CCS1。閂鎖單元134耦接至接觸偵測單元132，並且其輸入端接收接觸狀態訊號CCS1，在接觸狀態訊號CCS1致能時，閂鎖單元134致能並維持一閂鎖警示訊號LWS1。警示單元136耦接至接觸偵測單元132以及閂鎖單元134，當其輸入端接收到之接觸狀態訊號CCS1或閂鎖警示訊號LWS1致能時，則產生警示訊息WS1。

需要注意的是，金手指112跳脫的情形有可能包括只有金手指112其中一端跳脫，而金手指112之另一端並未跳脫，故本實施例可於金手指112的左右兩端各取對應PCI-E格式之接地腳位，藉以進行偵測。

更詳細而言，圖3繪示本發明第一實施例之偵測模組130之電路圖。請參照圖3，接觸偵測單元132包括一第一或閘A1以及至少一上拉電阻Ru1~RuN。第一或閘A1之每一輸入端分別耦接至金手指112之接地腳位F1至FN，且第一或閘A1的輸出端產生接觸狀態訊號CCS1。此外，每個上拉電阻Ru1~RuN的第一端耦接至一電源端V1，且每個上拉電阻Ru1~RuN的第二端則分別耦接至前述之金手指112的接地腳位F1至FN。

附帶一提，於其他實施例中，接觸偵測單元132亦可利用耦接至金手指112之至少一電源腳位，並且透過一下拉電阻耦接至一接地端，藉以做為偵測接觸狀態之設計，因此本發明實施例所述的接觸偵測單元132並不限制於上述兩種實線方式。

閂鎖單元134包括一D型正反器DFF1。D型正反器DFF1之資料輸入端D耦接至一電源端V1，D型正反器DFF1之時脈輸入端CLK接收接觸狀態訊號CCS1，且D型正反器DFF1的資料輸出端Q產生閂鎖警示訊號LWS1。除此之外，D型正反器DFF1更包括重置端RST及反相資料輸出端Q’，藉由重置端RST，使用者可使D型正反器DFF1之輸出恢復初始狀態，並且反相資料輸出端Q’輸出與資料輸出端Q反相之訊號。由於D型正反器DFF1具有上升緣閂鎖功能，故在接觸狀態訊號CCS1上升緣時，也就是在接觸狀態訊號CCS1致能的時後，D型正反器DFF1會將電源端V1的一輸入電壓值從資料輸入端D傳送至資料輸出端Q，並在資料輸出端Q維持住此輸入電壓值。

警示單元136包括一第一反閘N1、一第二反閘N2、第一二極體D1、一第二二極體D2、一第一電阻R1及一第一發光二極體L1。第一反閘N1之輸入端接收接觸狀態訊號CCS1，並且第二反閘N2之輸入端接收閂鎖警示訊號LWS1。第一二極體D1之陰極端耦接至第一反閘N1的輸出端，且第二二極體D2之陰極端耦接至第二反閘N2的輸出端。第一電阻R1之第一端耦接至第一二極體D1以及第二二極體D2的陰極端。第一發光二極體D1之陰極端耦接至第一電阻R1的第二端，且第一發光二極體D1的陽極端耦接至電源端V1。

藉此，當金手指112的接觸狀態為已跳脫電腦主機的擴充槽時，耦接至接觸偵測單元132之其中一個或多個接地腳位F1~FN將會因跳脫而浮接(floating)，此時上拉電阻Ru會將已跳脫之接地腳位的電壓拉升至與電源端V1相同，第一或閘A1的接觸狀態訊號CCS1也將因而致能。當警示單元136所接收的接觸狀態訊號CCS1致能時，第一反閘N1將接觸狀態訊號CCS1反相，使得第一二極體D1之狀態由截止轉為導通，因而亦使第一發光二極體L1導通，並使得第一發光二極體L1發光以發出警示訊息WS1。

另一方面，閂鎖單元134中D型正反器DFF1的時脈輸入端CLK在接收到致能的接觸狀態訊號CCS1時，D型正反器DFF1會將電源端V1的一輸入電壓值從資料輸入端D傳送至資料輸出端Q，並將資料輸出端Q的電壓值鎖定在電源端V1之電壓值。於此同時，透過第二反閘N2，亦可使第二二極體D2導通。藉此，第一發光二極體L1會因為第一二極體D1或第二二極體D2其中之一導通而發光。

此時，若金手指112跳脫電腦主機之擴充槽後又插回擴充槽，則前述所跳脫之接地腳位F1~FN又會重新接地，而接觸偵測單元132輸出之接觸狀態訊號CCS1則會由致能轉換為禁能。藉此，由於第一反閘N1將接觸狀態訊號CCS1反相，因而使得第一二極體D1從導通轉變至截止。但另一方面，由於D型正反器DFF1的資料輸出端Q仍然鎖定在電源端V1之電壓值，所以第二二極體D2還是在導通的狀態下，第一發光二極體L1不會因金手指112跳脫電腦主機之擴充槽後又插回擴充槽而停止發光。由於當接觸狀態訊號CCS1或閂鎖警示訊號LWS1兩者之一致能時，第一發光二極體則會被點亮。因此透過閂鎖單元134之D型正反器DFF1鎖定閂鎖警示訊號LWS1，可以輕易的觀察到金手指112之跳脫情形。

圖4繪示本發明第二實施例之偵測模組130之功能方塊圖。請參照圖4，相對於圖2，本實施例之偵測模組130更包括一接觸顯示單元138。接觸顯示單元138耦接至閂鎖單元134及警示單元136。詳細而言，接觸顯示單元138的輸入端耦接至警示單元136的第一反閘以及閂鎖單元134的反相資料輸出端，並且在接觸狀態訊號CCS1或閂鎖警示訊號LWS1禁能時，發出一接觸訊息TS1。於本實施例而言，接觸訊息TS1為來自一綠色發光二極體之綠色光，當接觸狀態為正常接觸的情形時，便會發出綠色光昨為接觸訊息TS1，以使測試者得知其為正常接觸狀態。

於此，對第二實施例做更詳細之說明。圖5繪示本發明第二實施例之偵測模組130之電路圖。請參照圖5，接觸顯示單元138包括一第二或閘A2、一第三反閘N3、一第三二極體D3、一第二電阻R2及一第二發光二極體L2。第二或閘A2之第一輸入端以及第二輸入端分別耦接至第一反閘N1的輸出端以及D型正反器DFF1之反相資料輸出端Q’，並且產生接觸顯示訊號TDS1。第三反閘N3反相接觸顯示訊號TDS1，並且第三二極體D3之陰極端耦接至第三反閘N3的輸出端。第二電阻R2之第一端耦接至第三二極體D3的陰極端，第二發光二極體L2之陰極端耦接至第二電阻R2的第二端，並且第二發光二極體L2的陽極端耦接至電源端V1。

當金手指112並未跳脫電腦主機之擴充槽或是跳脫後又插回電腦主機之擴充槽之情況下，接觸狀態訊號CCS1透過第一反閘N1及第二或閘A2以致能接觸顯示訊號TDS1，或者是透過D型正反器DFF1的反相資料輸出端Q’致能接觸顯示訊號TDS1。同時，再透過第三反閘N3將接觸顯示訊號TDS1反相，使第三二極體D3導通，並且點亮第二發光二極體L2。透過第二發光二極體L2之發光與否可以得到接觸訊息TS1，並且經由接觸訊息TS1可以觀察到目前金手指112之接觸狀態是否有跳脫電腦主機之擴充槽。

如上所述，利用第一發光二極體L1得到之警示訊息WS1及第二發光二極體L2得到之接觸訊息TS1可以利用不同顏色之發光顏色表示。舉例來說，第一發光二極體L1可為一紅色發光二極體，並且第二發光二極體L2可為一綠色發光二極體。當金手指112為跳脫之狀態或者跳脫後又插回電腦主機之擴充槽時，則第一發光二極體L1會發出一紅色光之警示訊息WS1。同樣地，當金手指目前為插在電腦主機之擴充插之狀態時，則第二發光二極體L2發出綠色光之接觸訊息TS1。更進一步來說，更可以將兩發光二極體(L1及L2)以一光罩遮住，當金手指112未發生過跳脫狀態時，則光罩因為第一發光二極體L1發光而呈現出綠色。若金手指112為跳脫電腦主機之擴充槽狀態，則光罩因為第二發光二極體L2發光而呈現出紅色。此外，若金手指112曾經跳脫並且又再插回電腦主機之擴充槽時，則兩個發光二極體(L1及L2)同時會發光，此時光罩可將綠色光及紅色光混色成類似琥珀色。使用者或測量者更可利用三種發光顏色分辨目前金手指112之狀態。

值得一提的是，本發明一實施例可將發光二極體置於晃動測試裝置或是電腦主機之機殼外部。使用者可不需要打開機殼即可利用發光二極體所發出之警示訊息或接觸訊息得知接觸狀態。更值得一提的是，若在燒機狀態下測試，也就是電腦主機在作業系統啟動下進行震動測試，可將警示訊息或接觸訊息送至電腦主機，並利用偵測軟體接收其訊號，使用者則可利用操作偵測軟體得知晃動測試裝置之金手指之接觸狀態。上述為利用警示訊息或接觸訊息之其中一實施例，惟本發明不限於此。

綜上所述，本發明實施例所述的晃動測試裝置利用法碼、支架等硬體元件來模擬外接式插卡的重量以及支撐結構，並利用偵測模組來偵測電腦主機當中的連結插件是否會因晃動而脫落，或是發生外接式插卡跳脫、但又插回插槽卻未發現等情形。並且，當此晃動測試裝置的金手指因晃動而發生脫落時，便會立即產生警示訊息以告知測量者。並且，可以利用例如不同顏色發光之方式產生警示訊息及接觸訊息或其它方法，使測量者能夠輕易觀察。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100．．．晃動偵測裝置

110．．．主板

112．．．金手指

114．．．電源供應模組

120．．．結構單元

130．．．偵測模組

CCS1、LWS1、TDS1．．．訊號

WS1、TS1．．．警示訊息

132．．．接觸偵測單元

134．．．閂鎖單元

136．．．警示單元

A1、A2．．．或閘

Ru、R1、R2．．．電阻

V1．．．電源端

DFF1．．．D型正反器

D．．．D型正反器DFF1之資料輸入端

Q．．．D型正反器DFF1的資料輸出端

Q’．．．D型正反器DFF1之反相資料輸出端

RST．．．D型正反器DFF1之重置端

N1、N2、N3．．．反閘

D1、D2、D3．．．二極體

L1、L2．．．發光二極體

圖1繪示本發明第一實施例之晃動測試裝置之示意圖。

圖2繪示本發明第一實施例之偵測模組之功能方塊圖。

圖3繪示本發明第一實施例之偵測模組之電路圖。

圖4繪示本發明第二實施例之偵測模組之功能方塊圖。

圖5繪示本發明第二實施例之偵測模組之電路圖。

100．．．晃動測試裝置

110．．．主板

112．．．金手指

114．．．電源供應模組

120．．．結構單元

120a．．．砝碼

120b．．．支架

130．．．偵測模組

Claims

一種晃動測試裝置，適用於一電腦系統的一擴充槽，該晃動測試裝置包括：一主板，具有一金手指以電性連接至該擴充槽；一結構單元，配置於該主板，用以模擬一重量以及一支撐結構；以及一偵測模組，耦接至該金手指之至少一腳位，用以偵測該金手指與該擴充槽之間的一接觸狀態以產生一警示訊息，其中該偵測模組包括：一接觸偵測單元，耦接至該至少一腳位，用以當該至少一腳位脫離該擴充槽時，致能一接觸狀態訊號；一閂鎖單元，耦接至該接觸偵測單元，用以接收該接觸狀態訊號，並在該接觸狀態訊號致能時，致能並維持一閂鎖警示訊號，其中該閂鎖單元包括：一D型正反器，其資料輸入端耦接至一電源端，該D型正反器之時脈輸入端接收該接觸狀態訊號，且該D型正反器的資料輸出端產生該閂鎖警示訊號；以及一警示單元，耦接至該接觸偵測單元以及該閂鎖單元，用以當該接觸狀態訊號或該閂鎖警示訊號致能時，產生該警示訊息。
如申請專利範圍第1項所述之晃動測試裝置，其中該結構單元包括：至少一砝碼，用以模擬該種晃動測試裝置之該重量；以及至少一支架，用以模擬該種晃動測試裝置之該支撐結構以及該種晃動測試裝置的一主板高度。
如申請專利範圍第1項所述之晃動測試裝置，其中該金手指的該至少一腳位用以耦接至該擴充槽的至少一接地腳位，並且，該接觸偵測單元包括：一第一或閘，其每一輸入端分別耦接至該金手指之該至少一腳位，且該第一或閘的輸出端產生該接觸狀態訊號；以及至少一上拉電阻，每一上拉電阻的第一端耦接至一電源端，且每一上拉電阻的第二端分別耦接至該至少一腳位。
如申請專利範圍第1項所述之晃動測試裝置，其中該警示單元包括：一第一反閘，其輸入端接收該接觸狀態訊號；一第二反閘，其輸入端接收該閂鎖警示訊號；一第一二極體，其陰極端耦接至該第一反閘的輸出端；一第二二極體，其陰極端耦接至該第二反閘的輸出端；一第一電阻，其第一端耦接至該第一二極體以及該第二二極體的陰極端；以及一第一發光二極體，其陰極端耦接至該第一電阻的第二端，且該第一發光二極體的陽極端耦接至一電源端。
如申請專利範圍第4項所述之晃動測試裝置，其中該警示單元更包括：一接觸顯示單元，耦接至該第一反閘及該閂鎖單元的一反相資料輸出端，用以在該接觸狀態訊號或該閂鎖警示訊號禁能時，發出一接觸訊息。
如申請專利範圍第5項所述之晃動測試裝置，其中該接觸顯示單元包括：一第二或閘，其之第一輸入端以及第二輸入端分別耦接至該第一反閘的輸出端以及該反相資料輸出端，以產生一接觸顯示訊號；一第三反閘，用以反相該接觸顯示訊號；一第三二極體，其陰極端耦接至該第三反閘的輸出端；一第二電阻，其第一端耦接至該第三二極體的陰極端；以及一第二發光二極體，其陰極端耦接至該第二電阻的第二端，且該第二發光二極體的陽極端耦接至該電源端。
如申請專利範圍第1項所述之晃動測試裝置，其中該晃動測試裝置更包括一電源供應模組，用以在該晃動測試裝置的該電源端提供一輸入電源。
如申請專利範圍第1項所述之種晃動測試裝置，其中上述之擴充槽符合一周邊裝置連接快遞(PCI-E)規格。