TWI436080B - 檢測電路、顯示面板的驅動晶片、顯示模組以及傳輸介面的檢測方法 - Google Patents

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檢測電路、顯示面板的驅動晶片、顯示模組以及傳輸介面的檢測方法
本發明是有關於顯示技術之領域，且特別是有關於一種檢測電路、一種顯示面板的驅動晶片、一種顯示模組及一種傳輸介面的檢測方法。
就目前而言，在檢測液晶顯示器的時候，都是直接點亮顯示面板，並利用目視的方式來直接判斷顯示畫面是否有異常現象。
然而，由於在點亮顯示面板的時候，顯示資料一般是透過傳輸介面傳送到顯示面板的驅動晶片，而前述的這種檢測方法在判斷顯示畫面有異常時，就得先藉由電表來檢測顯示資料的傳輸路徑是否有問題，例如是檢測傳輸介面內部是否有短路或是斷線的問題，或者是檢測傳輸介面與驅動晶片的接合處是否有接觸不良或短路的問題。因此，這種檢測方式不僅耗費時間，也不易找出有問題的位置。
本發明提供一種檢測電路，其可與特製的驅動晶片搭配使用，以快速地檢測出顯示資料的傳輸路徑是否有問題。
本發明另提供一種顯示面板的驅動晶片，此種驅動晶片用以與上述之檢測電路搭配使用。
本發明再提供一種顯示模組，其包括有上述之驅動晶片。
本發明又提供一種傳輸介面的檢測方法，其可快速地檢測出顯示資料的傳輸路徑是否有問題。
本發明提出一種檢測電路，其用於檢測一顯示模組。所述之顯示模組具有一顯示面板、一驅動晶片以及一傳輸介面。所述之驅動晶片用以驅動顯示面板，且此驅動晶片另具有多個第一輸入/輸出接腳。而所述之傳輸介面具有多個電性傳遞路徑，且每一電性傳遞路徑的其中一端電性連接上述第一輸入/輸出接腳的其中之一。上述之檢測電路包括有多個第二輸入/輸出接腳與一控制單元。每一第二輸入/輸出接腳用以電性連接上述電性傳遞路徑之其中之一的另一端。而上述之控制單元用以透過上述第二輸入/輸出接腳的其中之一而輸出一工作電源至一對應的電性傳遞路徑，以便利用此工作電源啟動驅動晶片，進而使驅動晶片透過接收工作電源之第一輸入/輸出接腳以外的每一第一輸入/輸出接腳輸出一位元資料至對應的電性傳遞路徑。此控制單元還用以判斷接收到的每一位元資料是否符合其對應的預設位元值，藉以判斷每一電性傳遞路徑以及電性傳遞路徑與第一輸入/輸出接腳相電性連接處是否有發生故障事件。
本發明另提出一種顯示面板的驅動晶片，其包括有多個輸入/輸出接腳與一控制單元。所述之輸入/輸出接腳皆用以電性連接一傳輸介面。而所述之傳輸介面具有多個電性傳遞路徑，且每一電性傳遞路徑的其中一端用以電性連接上述輸入/輸出接腳的其中之一，而每一電性傳遞路徑的另一端則用以電性連接同一檢測電路。所述之控制單元用以判斷驅動晶片是否有透過上述輸入/輸出接腳的其中之一而接收到一工作電源，進而被此工作電源所啟動。當判斷為是時，控制單元便利用接收上述工作電源之輸入/輸出接腳以外的每一輸入/輸出接腳輸出一位元資料至一對應的電性傳遞路徑。
本發明再提出一種顯示模組，其包括有一顯示面板、一傳輸介面以及一驅動晶片。所述之傳輸介面係具有多個電性傳遞路徑，且每一電性傳遞路徑的其中一端用以電性連接同一檢測電路。而所述之驅動晶片用以驅動顯示面板，且此驅動晶片另具有多個輸入/輸出接腳，每一輸入/輸出接腳用以電性連接一對應的電性傳遞路徑的另一端。此驅動晶片還用以判斷是否有透過上述輸入/輸出接腳的其中之一而接收到一工作電源，進而被此工作電源所啟動。當判斷為是時，驅動晶片便利用接收上述工作電源之輸入/輸出接腳以外的每一輸入/輸出接腳輸出一位元資料至一對應的電性傳遞路徑。
本發明又提出一種傳輸介面的檢測方法。所述之傳輸介面係電性連接一驅動晶片，而此驅動晶片係電性連接一顯示面板。上述之驅動晶片係具有多個輸入/輸出接腳，而上述之傳輸介面係具有多個電性傳遞路徑，且每一電性傳遞路徑的其中一端電性連接上述輸入/輸出接腳的其中之一。所述檢測方法的步驟包括：透過上述電性傳遞路徑的其中之一而傳遞一工作電源至一對應的輸入/輸出接腳，以便利用此工作電源啟動驅動晶片；使驅動晶片透過接收上述工作電源之輸入/輸出接腳以外的每一輸入/輸出接腳輸出一位元資料至一對應的電性傳遞路徑；以及從每一電性傳遞路徑的另一端接收位元資料，並判斷接收到的每一位元資料是否符合其對應的預設位元值。
本發明解決前述問題的方式，乃是改變檢測電路與顯示面板之驅動晶片的設計，並使此二者應用前述的檢測方法來檢測顯示資料的傳輸路徑是否有問題。由於驅動晶片在接收到檢測電路提供的工作電源之後，便會透過傳輸介面傳送位元資料給檢測電路來自動進行位元值的比對，因此本發明不僅可以依據比對結果來快速地檢測出顯示資料的傳輸路徑是否有問題，也可以依據比對結果迅速地找出傳輸路徑中有問題的位置。
為讓本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯易懂，下文持舉較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下。
圖1繪示有依照本發明一實施例之檢測電路、依照本發明一實施例之顯示面板的驅動晶片以及包含有上述驅動晶片的顯示模組。在圖1中，標示10即表示為所述之檢測電路，而標示12即表示為所述之顯示模組。而其中顯示模組12又具有顯示面板120、驅動晶片122以及傳輸介面124。所述之驅動晶片122即是用以驅動顯示面板120，且此驅動晶片122具有控制單元126與多個第一輸入/輸出接腳，而這些第一輸入/輸出接腳係以122-1~122-N來標示。上述之傳輸介面124則具有多個電性傳遞路徑，分別以標號124-1~124-N來標示。每一電性傳遞路徑的其中一端係電性連接上述第一輸入/輸出接腳的其中之一。至於檢測電路10，其具有控制單元100、儲存單元110與多個第二輸入/輸出接腳，而這些第二輸入/輸出接腳係分別以112-1~112-N來表示。每一第二輸入/輸出接腳係用以電性連接上述電性傳遞路徑的其中之一的另一端。上述的儲存單元110係用以儲存多個預設位元值，以便控制單元100進行存取(詳後述)。
檢測電路10的控制單元100係用以透過上述第二輸入/輸出接腳的其中之一而輸出一工作電源VDD至一對應的電性傳遞路徑，例如是透過第二輸入/輸出接腳112-1來傳送工作電源VDD至電性傳遞路徑124-1，以便利用此工作電源VDD來啟動驅動晶片122。而驅動晶片122的控制單元126則會去判斷驅動晶片122是否有透過這些第一輸入/輸出接腳的其中之一而接收到工作電源VDD，進而被此工作電源所啟動。當判斷為是時，驅動晶片122的控制單元126便會透過接收工作電源VDD之第一輸入/輸出接腳122-1以外的每一第一輸入/輸出接腳(即第一輸入/輸出接腳122-2~122-N)來分別輸出一位元資料至一對應的電性傳遞路徑。也就是說，驅動晶片122會透過第一輸入/輸出接腳122-2~122-N來輸出N-1個位元資料至電性傳遞路徑124-2~124-N。
如此一來，檢測電路10的控制單元100就可以透過第二輸入/輸出接腳112-2~112-N來接收這些位元資料，並從儲存單元110讀取出對應於這些位元資料的N-1個預設位元值，以判斷接收到的每一位元資料是否符合其對應的預設位元值，藉以進一步判斷每一電性傳遞路徑以及這些電性傳遞路徑與上述之第一輸入/輸出接腳相電性連接處是否有發生故障事件，例如是短路事件或是斷路事件。而當有任一接收到的位元資料不符合其對應的預設位元值時，檢測電路10的控制單元100便判斷為有發生故障事件，並進一步找出不符合其對應預設位元值之位元資料的資料傳輸路徑。
儘管在上述實施例中，檢測電路10係具有儲存單元110來儲存多個預設位元值，然此並非用以限制本發明，本領域具有通常知識者當知道若是檢測電路10的控制單元100本身具有儲存空間(未繪示)，那麼就可以直接利用此儲存空間來儲存這些預設位元值，如此便可將儲存單元110省略不用。
此外，驅動晶片122的控制單元126可以是利用第一輸入/輸出接腳122-2~122-N同時輸出N-1個位元資料，或者是利用第一輸入/輸出接腳122-2~122-N分批輸出N-1個位元資料，又或者是利用第一輸入/輸出接腳122-2~122-N依一預設順序輸出N-1個位元資料。也就是說，驅動晶片122輸出位元資料的方式可依照實際需要而設計。
當然，驅動晶片122的控制單元126也可以是透過第一輸入/輸出接腳122-2~122-N輸出多於N-1個位元資料，其例如是採每次輸出N-1個位元資料，且分成好幾次輸出的方式來執行。詳細來說，驅動晶片122的控制單元126可利用第一輸入/輸出接腳122-2~122-N輸出N-1個位元資料至對應的電性傳遞路徑124-2~124-N後，更再次利用第一輸入/輸出接腳122-2~122-N輸出N-1個位元資料至對應的電性傳遞路徑124-2~124-N。當然，第一輸入/輸出接腳122-2~122-N於相鄰二時間點所輸出的二組位元資料中，至少會有部份位元資料的位元值不同。如此一來，便可對每一資料傳輸路徑進行更精確地確認。
值得一提的是，上述之傳輸介面124可以是一串列週邊介面(SPI)、一RGB介面(RGB interface)、一中央處理單元介面(CPU interface)、一行動顯示數位介面(MDDI)或是一行動產業處理器介面(MIPI)。
藉由上述實施例之教示，本領域具有通常知識者當可歸納出一些基本的檢測步驟，一如圖2所示。圖2為依照本發明一實施例之傳輸介面的檢測方法。請參照圖2，所述之傳輸介面係電性連接一驅動晶片，而此驅動晶片係電性連接一顯示面板。此驅動晶片具有多個輸入/輸出接腳，而傳輸介面具有多個電性傳遞路徑，且每一電性傳遞路徑的其中一端電性連接上述輸入/輸出接腳的其中之一。所述之檢測方法包括有下列步驟：透過上述電性傳遞路徑的其中之一而傳遞一工作電源至一對應的輸入/輸出接腳，以便利用此工作電源啟動上述驅動晶片(如步驟S202所示)；使驅動晶片透過接收工作電源之輸入/輸出接腳以外的每一輸入/輸出接腳輸出一位元資料至一對應的電性傳遞路徑(如步驟S204所示)；以及從每一電性傳遞路徑的另一端接收上述位元資料，並判斷接收到的每一位元資料是否符合其對應的預設位元值(如步驟S206所示)，藉以判斷上述電性傳遞路徑以及上述電性傳遞路徑與上述輸入/輸出接腳相電性連接處是否有發生一故障事件。
綜上所述，本發明解決前述問題的方式，乃是改變檢測電路與顯示面板之驅動晶片的設計，並使此二者應用前述的檢測方法來檢測顯示資料的傳輸路徑是否有問題。由於驅動晶片在接收到檢測電路提供的工作電源之後，便會透過傳輸介面傳送位元資料給檢測電路來自動進行位元值的比對，因此本發明不僅可以依據比對結果來快速地檢測出顯示資料的傳輸路徑是否有問題，也可以依據比對結果迅速地找出傳輸路徑中有問題的位置。
雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
10．．．檢測電路
12．．．顯示模組
100、126．．．控制單元
110．．．儲存單元
112-1~112-N．．．第二輸入/輸出接腳
120．．．顯示面板
122．．．驅動晶片
122-1~122-N．．．第一輸入/輸出接腳
124．．．傳輸介面
124-1~124-N．．．電性傳遞路徑
VDD．．．工作電源
S202~S206．．．步驟
圖1繪示有依照本發明一實施例之檢測電路、依照本發明一實施例之顯示面板的驅動晶片以及包含有上述驅動晶片的顯示模組。
圖2為依照本發明一實施例之傳輸介面的檢測方法。
S202~S206．．．步驟

Claims (17)

  1. 一種檢測電路，用於檢測一顯示模組，該顯示模組具有一顯示面板、一驅動晶片與一傳輸介面，該驅動晶片用以驅動該顯示面板，且該驅動晶片另具有多個第一輸入/輸出接腳，而該傳輸介面具有多個電性傳遞路徑，且每一電性傳遞路徑的其中一端電性連接該些第一輸入/輸出接腳的其中之一，該檢測電路包括：多個第二輸入/輸出接腳，每一第二輸入/輸出接腳用以電性連接該些電性傳遞路徑的其中之一的另一端；以及一控制單元，用以透過該些第二輸入/輸出接腳的其中之一而輸出一工作電源至一對應的電性傳遞路徑，以便利用該工作電源啟動該驅動晶片，進而使該驅動晶片透過接收該工作電源之第一輸入/輸出接腳以外的每一第一輸入/輸出接腳輸出一位元資料至一對應的電性傳遞路徑，該控制單元還用以判斷接收到的每一位元資料是否符合其對應的預設位元值，藉以判斷該些電性傳遞路徑以及該些電性傳遞路徑與該些第一輸入/輸出接腳相電性連接處是否有發生一故障事件。
  2. 如申請專利範圍第1項之檢測電路，其中當有任一接收到的位元資料不符合其對應的預設位元值時，該控制單元便判斷為有發生該故障事件。
  3. 如申請專利範圍第1項之檢測電路，其中該控制單元更具有一儲存空間，而該儲存空間用以儲存該些預設位元值。
  4. 如申請專利範圍第1項之檢測電路，其中該檢測電路更包括：一儲存單元，用以儲存該些預設位元值，以便該控制單元進行存取。
  5. 一種顯示面板的驅動晶片，包括：多個輸入/輸出接腳，用以電性連接一傳輸介面，其中該傳輸介面具有多個電性傳遞路徑，且每一電性傳遞路徑的其中一端用以電性連接該些輸入/輸出接腳的其中之一，而每一電性傳遞路徑的另一端則用以電性連接同一檢測電路；以及一控制單元，用以判斷該驅動晶片是否有透過該些輸入/輸出接腳的其中之一而接收到一工作電源，進而被該工作電源所啟動，當判斷為是時，該控制單元便利用接收該工作電源之輸入/輸出接腳以外的每一輸入/輸出接腳輸出一位元資料至一對應的電性傳遞路徑。
  6. 如申請專利範圍第5項之驅動晶片，其中該控制單元係利用接收該工作電源之輸入/輸出接腳以外的該些輸入/輸出接腳同時、分批或依一預設順序輸出該些位元資料。
  7. 如申請專利範圍第5項之驅動晶片，其中該控制單元在利用接收該工作電源之輸入/輸出接腳以外的每一輸入/輸出接腳輸出一位元資料至一對應的電性傳遞路徑後，更再次利用接收該工作電源之輸入/輸出接腳以外的每一輸入/輸出接腳輸出一位元資料至一對應的電性傳遞路徑。
  8. 如申請專利範圍第7項之驅動晶片，其中在接收該工作電源之輸入/輸出接腳以外的該些輸入/輸出接腳於相鄰二時間點所輸出的二組位元資料中，至少有部份位元資料的位元值不同。
  9. 一種顯示模組，包括：一顯示面板；一傳輸介面，具有多個電性傳遞路徑，每一電性傳遞路徑的其中一端用以電性連接同一檢測電路；以及一驅動晶片，用以驅動該顯示面板，且該驅動晶片另具有多個輸入/輸出接腳，每一輸入/輸出接腳用以電性連接一對應的電性傳遞路徑的另一端，該驅動晶片還用以判斷是否有透過該些輸入/輸出接腳的其中之一而接收到一工作電源，進而被該工作電源所啟動，當判斷為是時，該驅動晶片便利用接收該工作電源之輸入/輸出接腳以外的每一輸入/輸出接腳輸出一位元資料至一對應的電性傳遞路徑。
  10. 如申請專利範圍第9項之顯示模組，其中該驅動晶片係利用接收該工作電源之輸入/輸出接腳以外的該些輸入/輸出接腳同時、分批或依一預設順序輸出該些位元資料。
  11. 如申請專利範圍第9項之顯示模組，其中該驅動晶片在利用接收該工作電源之輸入/輸出接腳以外的每一輸入/輸出接腳輸出一位元資料至一對應的電性傳遞路徑後，更再次利用接收該工作電源之輸入/輸出接腳以外的每一輸入/輸出接腳輸出一位元資料至一對應的電性傳遞路徑。
  12. 如申請專利範圍第11項之顯示模組，其中在接收該工作電源之輸入/輸出接腳以外的該些輸入/輸出接腳於相鄰二時間點所輸出的二組位元資料中，至少有部份位元資料的位元值不同。
  13. 一種傳輸介面的檢測方法，所述之傳輸介面係電性連接一驅動晶片，而該驅動晶片係電性連接一顯示面板，該驅動晶片具有多個輸入/輸出接腳，而該傳輸介面具有多個電性傳遞路徑，且每一電性傳遞路徑的其中一端電性連接該些輸入/輸出接腳的其中之一，該檢測方法包括：透過該些電性傳遞路徑的其中之一而傳遞一工作電源至一對應的輸入/輸出接腳，以便利用該工作電源啟動該驅動晶片；使該驅動晶片透過接收該工作電源之輸入/輸出接腳以外的每一輸入/輸出接腳輸出一位元資料至一對應的電性傳遞路徑；以及從每一電性傳遞路徑的另一端接收該些位元資料，並判斷接收到的每一位元資料是否符合其對應的預設位元值。
  14. 如申請專利範圍第13項之檢測方法，其中當有任一接收到的位元資料不符合其對應的預設位元值時，便判斷為有發生該故障事件。
  15. 如申請專利範圍第13項之檢測方法，其中係利用接收該工作電源之輸入/輸出接腳以外的該些輸入/輸出接腳同時、分批或依一預設順序輸出該些位元資料。
  16. 如申請專利範圍第13項之檢測方法，其中在利用接收該工作電源之輸入/輸出接腳以外的每一輸入/輸出接腳輸出一位元資料至一對應的電性傳遞路徑後，更再次利用接收該工作電源之輸入/輸出接腳以外的每一輸入/輸出接腳輸出一位元資料至一對應的電性傳遞路徑。
  17. 如申請專利範圍第16項之檢測方法，其中在接收該工作電源之輸入/輸出接腳以外的該些輸入/輸出接腳於相鄰二時間點所輸出的二組位元資料中，至少有部份位元資料的位元值不同。
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