TWI432859B - 液晶顯示面板及液晶顯示裝置 - Google Patents

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TWI432859B
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Makoto Iwasaki
Toshiharu Nishino
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Casio Computer Co Ltd
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Description

液晶顯示面板及液晶顯示裝置
本申請案係根據並主張2009年5月29日所提出之日本專利申請案第2009-130530號之優先權，其已揭示的整個內容在此一併作為參考。
本發明係關於液晶顯示面板以及液晶顯示裝置。
在以薄膜電晶體作為主動元件的主動式矩陣液晶顯示裝置方面就有具備觸控板面功能者。例如在特開2007-95044號公報中記載的液晶顯示裝置中，液晶顯示面板兼具觸控板面功能。具體而言，液晶顯示面板係具備夾著液晶層而相互面對的第1基板和第2基板。然後，在前述第1基板上設置：複數個畫素電極、以1個對應於1個畫素電極的方式連接於前述複數個畫素電極的複數個薄膜電晶體、複數條掃描線、和複數條信號線。此外，在前述第1基板上設置：複數條X座標檢測線，其用以檢測出碰觸點之X座標(以掃描線之延伸方向為軸的座標)；複數條Y座標檢測線，其用以檢測出前述碰觸點之Y座標(以信號線之延伸方向為軸的座標)；複數條X座標檢測電極，其配置成連接於前述X座標檢測線；以及Y座標檢測電極，其配置成連接於前述Y座標檢測線。另外，在前述第2基板上，除了以面對前述複數個畫素電極的方式設置的對向電極以外，另外在對應前述X座標檢測電極的位置或對應前述Y座標檢測電極的位置還形成了突起狀的接點部。在此，前述突起狀的接點部係形成為平常不會和前述X座標檢測電極或前述Y座標檢測電極接觸，並且當因從外部觸碰前述第2基板(由於來自外部的按壓)而使前述第2基板撓曲變形時，就會接觸前述X座標檢測電極或前述Y座標檢測電極。然後，在前述突起狀之接點部接觸前述X座標檢測電極或前述Y座標檢測電極的情況下，則構成為施加於前述對向電極的共通信號會介由前述X座標檢測電極或前述Y座標檢測電極而被充入至前述X座標檢測線或前述Y座標檢測線。亦即，在具有前述觸控板面功能的液晶顯示裝置中，檢測出在前述複數條X座標檢測線當中被充電入共通信號的X座標檢測線，藉以檢測出碰觸點的X座標，同時檢測出在前述複數條Y座標檢測線當中被充入了共通信號的Y座標檢測線，藉以檢測出碰觸點的Y座標。
不過，在如上述那種具有觸控板面功能的液晶顯示裝置中，用於檢測出被充入了共通信號的X座標檢測線的座標檢測電路係形成為和前述液晶顯示面板分開的個體，此外，因為前述X座標檢測線之每一個中，前述複數條X座標檢測線係個別連接於前述座標檢測電路，所以為了檢測出X座標，會有連接端子數量必須是前述X座標檢測線數量的問題。
另外，同樣地，用於檢測出被充入了共通信號的Y座標檢測線的座標檢測電路係形成為和前述液晶顯示面板分開的個體，此外，因為前述Y座標檢測線之每一個中，前述複數條Y座標檢測線係個別連接於前述座標檢測電路，所以為了檢測出Y座標，會有連接端子數量必須是前述Y座標檢測線數量的問題。
因此，本發明之目的在於提供液晶顯示面板及液晶顯示裝置，不但在液晶顯示面板上兼具觸控板面功能，也能夠使液晶顯示面板和座標檢測電路之連接端子數量比可檢測之座標點數還要少。
本發明之液晶顯示面板的一種態樣中，係連接於複數個畫素電晶體的複數個畫素電極被配置成於每個畫素介由液晶層而面對對向電極，且前述畫素電極與前述對向電極之間的電壓受到控制，藉以使前述液晶層中的液晶分子之配向方向改變。然後，具備：複數條掃描線，其以成為互相並列的方式延伸配置，使於預定期間將分別對應之前述畫素電晶體設為導通(ON)狀態的導通信號供給於前述畫素電晶體；複數個第1座標檢測電極，其排列在預定的方向上，且它們的一部分分別對應於相互不同的前述掃描線；以及複數個第1座標檢測電晶體，其根據前述掃描線供給於前述畫素電晶體之導通信號，而將對應於該掃描線的前述第1座標檢測電極電氣連接於前述複數個第1座標檢測電晶體共有之第1輸出線。
另外，本發明之液晶顯示面板的其他態樣，係連接於複數個畫素電晶體的複數個畫素電極被配置成於每個畫素介由液晶層而面對對向電極，且前述畫素電極與前述對向電極之間的電壓受到控制，藉以使前述液晶層中的液晶分子之配向方向改變。然後，具備：複數條掃描線，其以成為互相並列的方式延伸配置，使於預定期間將分別對應之前述畫素電晶體設為導通狀態的導通信號供給於前述畫素電晶體；複數條第1座標檢測線，其以成為互相並列的方式延伸配置，且分別對應相互不同的前述掃描線；以及複數個第1座標檢測電晶體，其根據前述掃描線供給於前述畫素電晶體之導通信號，而將對應於該掃描線的前述第1座標檢測線電氣連接於前述複數個第1座標檢測電晶體共有之第1輸出線。
另外，本發明之液晶顯示面板的一種態樣，係連接於複數個畫素電晶體的複數個畫素電極被配置成於每個畫素介由液晶層而面對對向電極，並控制施加於前述畫素電極與前述對向電極之間的電壓，而使前述液晶層中的液晶分子之配向方向改變。然後，具備：掃描驅動器，其對以成為互相並列的方式延伸配置的複數條掃描線，依序輸出使前述畫素電晶體於預定期間設為導通狀態的導通信號；複數個第1座標檢測電極，其排列在預定的方向上，且它們的一部分分別對應於相互不同的前述掃描線；以及複數個第1座標檢測電晶體，其根據輸出於前述掃描線的導通信號，而將對應於該掃描線的前述第1座標檢測電極電氣連接於前述複數個第1座標檢測電晶體共有之第1輸出線。而且前述畫素電晶體、前述第1座標檢測電晶體及前述第1輸出線係形成於同一基板上。
另外，本發明之液晶顯示面板的其他態樣，連接於複數個畫素電晶體的複數個畫素電極被配置成於每個畫素介由液晶層而面對對向電極，並控制施加於前述畫素電極與前述對向電極之間的電壓，而使前述液晶層中的液晶分子之配向方向改變。然後，具備：掃描驅動器，其對以成為互相並列的方式延伸配置的複數條掃描線，依序輸出使前述畫素電晶體於既定期間設為導通狀態的導通信號；複數條第1座標檢測線，其延伸配置成與前述複數條掃描線正交，且分別對應於相互不同的前述掃描線；複數條第2座標檢測線，其延伸配置成與前述複數條掃描線並列，且分別對應於相互不同的前述掃描線；複數個第1座標檢測電晶體，其根據前述掃描線供給於前述畫素電晶體之導通信號而將對應於該掃描線的前述第1座標檢測線，電氣連接於前述複數個第1座標檢測電晶體共有之第1輸出線；以及複數個第2座標檢測電晶體，其將根據前述掃描線供給於前述畫素電晶體之導通信號而將對應於該掃描線的前述第2座標檢測線，電氣連接於前述複數個第2座標檢測電晶體共有之第2輸出線。於是，前述畫素電晶體、前述第1座標檢測線、前述第2座標檢測線、前述第1座標檢測電晶體、前述第2座標檢測電晶體、前述第1輸出線及前述第2輸出線係形成於同一基板上。
另外，本發明之液晶顯示面板的其他態樣，具備：液晶顯示面板，其在形成有複數個畫素電晶體與複數個畫素電極的第1基板及形成有對向電極的第2基板之間形成液晶層，並且在前述液晶顯示面板被按壓時，在前述第2基板上形成的突起狀之接點部會接觸於在前述第1基板上形成之座標檢測電極；座標檢測電路，其取得前述突起狀之接點部與前述座標檢測電極之間的接觸資訊；以及掃描驅動器，其介由在前述第1基板上形成之掃描線，對前述畫素電晶體輸出使前述畫素電晶體於預定期間設為導通狀態的導通信號。然後，前述液晶顯示面板係在前述第1基板上形成：複數條座標檢測線，其對應相互不同之掃描線且對應相互不同之座標檢測電極；以及複數個座標檢測電晶體，其根據由前述掃描驅動器輸出於前述掃描線之導通信號而將對應於該掃描線的前述座標檢測線，電氣連接於前述複數個座標檢測電晶體共有之輸出線。
另外，本發明之液晶顯示面板的其他態樣，具備：液晶顯示面板，其作為觸控板面功能而在第1基板上形成座標檢測電極，並且在第2基板上形成突起狀之接點部；以及座標檢測電路，其檢測出前述液晶顯示面板被按壓的座標位置。於是，在前述液晶顯示面板上形成轉換電路，該轉換電路係將表示前述突起狀之接點部是否接觸於前述座標檢測電極的複數個資訊進行並列/串列轉換且輸出至前述座標檢測電路。
藉由本發明，不但在液晶顯示面板上兼具觸控板面功能，也能夠使液晶顯示面板和座標檢測電路之連接端子數量比可檢測之座標點數還要少。
本發明之優點會在以下描述中述及，部分可從描述中顯而易知，或透過實施發明而習得。藉由以下所特別指出的實施例及組合，可理解並明瞭本發明之優點。
納入及構成本說明書之一部份的附加圖式係說明了本發明之實施例，並配合以上所述之一般說明及以下所述之實施例細節，來解釋本發明的原理。
[第1實施例]
如第1圖所示，本發明的液晶顯示裝置1a係由以下所構成：具有觸控板面功能的液晶顯示面板1；被裝載於前述液晶顯示面板1的驅動元件38；顯示用控制器41；座標檢測電路44；以及主控制器45。
前述液晶顯示面板1係構成為：與複數個畫素電晶體連接的複數個畫素電極於矩陣排列的每個畫素上介由液晶層而配置成面對著對向電極，並藉由控制前述畫素電極和前述對向電極之間的電壓而使在前述液晶層中的液晶分子之配列方向改變。
具體而言，前述液晶顯示面板1係作為畫素電晶體而將薄膜電晶體作為主動元件的主動式矩陣液晶顯示面板，如第1圖～第9圖所示，在夾著液晶層37而相互面對的第1透明基板3和第2透明基板4當中，在第1基板(以下稱為後基板)3之面對成為表面側的第2基板4之面上，設有：複數個透明畫素電極5，其在既定畫面區域2內形成為排列在列方向及行方向上；複數個顯示用薄膜電晶體(以下稱為顯示用TFT)6，其配置成分別對應前述各畫素電極5，且連接於對應的畫素電極5；複數條掃描線14，其在前述各畫素電極5的每列上，形成為沿著各畫素電極列，並分別供給閘極信號至各列的顯示用TFT6；以及複數條信號線15，其在前述各畫素電極5的每行上，形成為沿著各畫素電極行，並分別供給資料信號至各行的顯示用TFT6；而在前述第2基板(以下稱為前基板)4之面對前述後基板3的面上，則設有：一片膜狀的透明對向電極16，其面對前述複數個畫素電極5；遮光膜17，其對應由前述複數個畫素電極5與前述對向電極16互相面對之領域所組成的複數個畫素之間的區域；以及紅、綠、藍三色的彩色濾色片18R、18G、18B，其形成為分別對應前述各畫素。在此，更具體而言，複數條掃描線14係延伸配置成分別互相並列，且以將分別對應之顯示用TFT6在預定期間設為導通(ON)狀態的導通(ON)信號作為閘極信號而從掃描驅動器39供給至顯示用TFT6。
另外，此液晶顯示面板1係具備觸控板面功能，此觸控板面功能係藉由以下方式所構成：在前述後基板3之與前基板4面對的面上設置：複數條X座標檢測線19，其用以檢測碰觸點之第1座標，例如前述掃描線14方向的X座標；複數條Y座標檢測線20，其用以檢測前述碰觸點之第2座標，例如前述信號線15方向的Y座標；複數條X座標檢測電極25，其配置成分別連接於前述各X座標檢測線；以及複數條Y座標檢測電極26，其配置成分別連接於前述各Y座標檢測線；且設置在前述前基板4上之前述對向電極16的面對前述X座標檢測電極25及Y座標檢測電極26之各配置部的部分上，分別形成突起狀的複數個接點部31，且該接點部31係藉由因來自前述前基板4之外面側的碰觸(按壓)而造成前述前基板4的撓曲變形，而接觸於前述X座標檢測電極25與前述Y座標檢測電極26兩者。
X座標檢測線19係分別對應矩陣排列之畫素的不同行。換言之，各X座標檢測線19係設置於畫素電極5之行當中隔預定行數(例如每隔2行)的各個畫素電極行。另外，Y座標檢測線20係分別對應矩陣排列之畫素的不同列。換言之，各Y座標檢測線20係被設在所有畫素電極5的每一列。
在此，複數條X座標檢測電極25，係排列成在沿著各X座標檢測線19的方向上成為複數行，同時排列成也在沿著各Y座標檢測線20的方向上成為複數行。然後，複數條X座標檢測電極25係分別連接於最接近該X座標檢測電極25而鄰接之X座標檢測線19。換言之，在沿著Y座標檢測線20排列的X座標檢測電極25係分別對應著矩陣排列之畫素行。此外，雖然細節將於後述，但是各X座標檢測線19係分別對應著相互不同的掃描線14。換言之，使得在沿著Y座標檢測線20方向上排列的X座標檢測電極25係分別連接著相互不同的X座標檢測線19，因此，使得在沿著Y座標檢測線20方向上排列的X座標檢測電極25分別對應著相互不同的掃描線14。
另外，複數條Y座標檢測電極26係排列成在沿著各Y座標檢測線20的方向上成為複數行，同時排列成在沿著各X座標檢測線19的方向上亦成為複數行。然後，複數條Y座標檢測電極26係分別連接於最接近該X座標檢測電極25而鄰接之Y座標檢測線20。換言之，在沿著X座標檢測線19排列的Y座標檢測電極26係分別對應矩陣排列之畫素列。此外，雖然細節後述，但是各Y座標檢測線20係分別對應相互不同的掃描線14。換言之，在沿著X座標檢測線19方向上排列的Y座標檢測電極26係分別連接相互不同的Y座標檢測線20，因此，在沿著X座標檢測線19方向上排列的Y座標檢測電極26係分別對應相互不同的掃描線14。
另外，細節後述，但複數條X座標檢測電極25與複數條Y座標檢測電極26係設置成使相互數量成為相等，藉由一個X座標檢測電極25和一個Y座標檢測電極26來構成1組座標檢測點。然後，構成1組座標檢測點的X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26係配置成互相鄰接，在前述前基板4已撓曲變形時，互相接觸於共通的接點部31。
另外，各X座標檢測線19係配置成與各Y座標檢測線20正交。
此外，前述各畫素電極5係形成為前述列方向之電極寬度比前述行方向之電極寬度還要小的縱長矩形形狀，前述各顯示用TFT6係配置在形成為前述縱長矩形形狀的各畫素電極5之前述行方向的一方的端緣(在第3圖中為下端緣)側，前述各掃描線14係設置成沿著各列畫素電極5之已配置前述顯示用TFT6之側的端緣，前述各信號線15係設置成沿著各行畫素電極5之前述列方向之一方的側緣(在第3圖中為左側緣)。
另外，在前述前基板4上，藉由例如鉻和氧化鉻的積層膜而形成前述遮光膜17，前述紅、綠、藍三色的彩色濾光片18R、18G、18B係在前述前基板4之形成有前述遮光膜17的面上，分別對應前述各畫素電極行而形成為線條狀，並在這些彩色濾色片18R、18G、18B上形成前述對向電極16。
此實施例之液晶顯示面板1係檢測出前述掃描線14方向之碰觸點座標來作為X座標，並檢測出前述信號線15方向之碰觸點座標來作為Y座標者，前述各X座標檢測線19係在矩陣排列之畫素各行內的中央行之畫素電極5及與該畫素電極5之行鄰接的信號線15之間，形成為實質地並列於前述信號線15，前述各Y座標檢測線20係在矩陣排列之畫素的各列畫素電極5及與該畫素電極5之列鄰接的掃描線14之間，形成為實質地並列於前述掃描線14，且前述各接點部31係形成為與前述對向電極16導通。
此外，前述各X座標檢測線19係設置在畫素之各行內的端中央之畫素電極5與供給資料信號至顯示用TFT6的信號線15之間，其中該顯示用TFT6係連接於與該畫素行相鄰之畫素行內的相反側端之行的各畫素電極5，前述各Y座標檢測線20係設置在畫素之各列的畫素電極5以及供給閘極信號至顯示用TFT6的掃描線14之間，其中該顯示用TFT6係連接於該畫素列隔壁之畫素列的各畫素電極5。
此外，前述各X座標檢測線19與前述各Y座標檢測線20係設置成相互絕緣，在覆蓋前述各X座標檢測線19及前述各Y座標檢測線20而設置的絕緣膜(在此實施例中為後述的保護絕緣膜23或者前述顯示用TFT6之閘極絕緣膜8與前述保護絕緣膜23的雙層膜)的前述各X座標檢測線19與前述各Y座標檢測線20中之任一者或者兩者的線上之部分，用於檢測出前述X方向之碰觸點座標的X座標檢測電極25、及用於檢測出前述Y方向之碰觸點座標的Y座標檢測電極26係配置成將前述X座標檢測電極25在已設於前述絕緣膜的第1接觸孔29中連接於前述X座標檢測線19，將前述Y座標檢測電極26在已設於前述絕緣膜的第2接觸孔30中連接於前述Y座標檢測線20。
另外，前述X座標檢測電極25與前述Y座標檢測電極26係在前述各X座標檢測線19與前述各Y座標檢測線20交叉的各線交叉部附近配置成互相鄰接，前述各接點部31係形成為分別面對前述鄰接之X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26的各配置部，並接觸前述鄰接之X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26兩者的形狀。
此外，此液晶顯示面板1係具備配置在前述後基板3之前述畫面區域2外之領域的複數條X座標檢測用薄膜電晶體(以下稱為X座標檢測用TFT)6a以及複數條Y座標檢測用薄膜電晶體(以下稱為Y座標檢測用TFT)6b。該各X座標檢測用TFT6a及各Y座標檢測用TFT6b係配置在前述各掃描線及前述各Y座標檢測線之一端側的畫面區域外領域(在第1圖中為畫面區域2右側的領域)。
前述X座標檢測用TFT6a和前述Y座標檢測用TFT6b係分別具有與前述顯示用TFT6相同的積層構造。亦即，如第3圖～第6圖及第8圖所示，前述顯示用TFT6與前述X座標檢測用TFT6a和前述Y座標檢測用TFT6b係分別由以下所組成：閘極電極7，其形成於前述後基板3上；透明的閘極絕緣膜8，其形成為覆蓋前述閘極電極7；i型半導體膜9，其在前述閘極絕緣膜8上形成為面對前述閘極電極7；阻隔(blocking)絕緣膜10，其形成在前述i型半導體膜9的通道區域上；以及源極電極12與汲極電極13，其在前述i型半導體膜9之夾著前述通道區域的兩側部上隔著n型半導體膜11而形成。
另外，前述各掃描線14與前述各Y座標檢測線20係在前述後基板3上，藉由與前述顯示用、X座標檢測用及Y座標檢測用之各TFT6、6a、6b的閘極電極7相同的金屬膜而形成，前述各TFT6、6a、6b的閘極絕緣膜8係覆蓋前述各掃描線14及各Y座標檢測線20，並形成於前述後基板3的大略全體，前述各信號線15與前述各X座標檢測線19係在前述閘極絕緣膜8上，藉由與前述各TFT6、6a、6b的源極電極12及汲極電極13相同的金屬膜而形成。
亦即，前述各Y座標檢測線20係形成在前述後基板3上，前述各X座標檢測線19係藉由設置成覆蓋前述各Y座標檢測線20的前述閘極絕緣膜8，而形成為與前述各Y座標檢測線20絕緣。
此外，在前述閘極絕緣膜8上，覆蓋前述各TFT6、6a、6b和前述各信號線15及前述各X座標檢測線19而設置保護絕緣膜23，前述各畫素電極5係在前述保護絕緣膜23上，形成為使這些畫素電極5之一端部面對前述各顯示用TFT6的汲極電極13，在設置於前述保護絕緣膜23的接觸孔24中，連接於前述顯示用TFT6的汲極電極13。
此外，雖在圖式中省略，但在前述後基板3上，介由前述閘極絕緣膜8與保護絕緣膜23而面對除了前述各畫素電極5之與顯示用TFT6的連接部以外的周緣部，在與前述各畫素電極5的周緣部之間形成補償電容的電容電極，係藉由與前述閘極電極7和前述各掃描線14及前述各Y座標檢測線20相同的金屬膜所形成。
然後，前述X座標檢測電極25與前述Y座標檢測電極26係形成在前述保護絕緣膜23上，該保護絕緣膜23係設置成覆蓋前述各X座標檢測線19。
在此實施例中，前述X座標檢測電極25與前述Y座標檢測電極26係在覆蓋前述各X座標檢測線19與前述各Y座標檢測線20交叉之各線交叉部附近當中的前述Y座標檢測線的部分上，形成為使與前述X座標檢測電極25之與前述Y座標檢測電極26鄰接之側的相反側的端部面對前述線交叉部。
此外，在此實施例中，前述X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26係設置在前述Y座標檢測線20上之與前述藍色濾色片18B面對的各畫素電極5相鄰的部分。
此外，在此實施例中，在前述後基板3上，對應前述X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26之至少接觸設於前述前基板4的前述接點部31之區域形成基座27，該基座部27係形成為與前述顯示用、X座標檢測用及Y座標檢測用的各TFT6、6a、6b以及其上的前述保護絕緣膜23相同的積層構造，在此基座部27上，形成前述X座標檢測電極25與前述Y座標檢測電極26。
前述基座部27係形成為與包含前述顯示用、X座標檢測用及Y座標檢測用的各TFT6、6a、6b之前述保護絕緣膜23的積層構造相同的的積層構造。亦即，前述基座部27係藉由以下所形成：前述Y座標檢測線20；前述閘極絕緣膜8，其設置成覆蓋前述Y座標檢測線20；三層膜，其與前述各TFT6、6a、6b之i型半導體膜9與阻隔絕緣膜10及n型半導體膜11相同；上部金屬膜28，其由和前述源極電極12及汲極電極13相同的金屬膜所組成；以及前述保護絕緣膜23。
然後，前述X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26係在前述基座部27上，即在前述保護絕緣膜23上之覆蓋前述Y座標檢測線20的部分，將與前述X座標檢測電極25之Y座標檢測電極26鄰接之側的相反側之端部形成為面對前述線交叉部，這些接點電極25、26當中的前述X座標檢測電極25係在已設於前述保護絕緣膜23的第1接觸孔29中，將前述相反側之端部連接於前述X座標檢測線19，Y座標檢測電極26係在已設於前述保護絕緣膜23及前述閘極絕緣膜8的第2接觸孔30中，將和此Y座標檢測電極26之前述X座標檢測電極25鄰接之側的相反側之端部，連接於前述Y座標檢測線20。此外，在此實施例中，將前述基座部27形成於與前述X座標檢測電極25及Y座標檢測電極26之互相鄰接的端部面對的部分，因此，前述X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26之鄰接端部以外的部分變得比前述鄰接端部還要低。
前述各TFT6、6a、6b及前述基座部27，係藉由在前述後基板3上形成閘極用金屬膜及將其圖案化，而同時形成前述閘極電極7與前述Y座標檢測線20，於其上依序形成前述閘極絕緣膜8、前述i型半導體膜9與前述阻隔絕緣膜10，將前述阻隔絕緣膜10圖案化以後，依序形成前述n型半導體膜11與源極、汲極用金屬膜，將此源極、汲極用金屬膜、前述n型半導體膜11與前述i型半導體膜9一起圖案化成前述各TFT6、6a、6b之源極電極12及汲極電極13與前述X座標檢測線19和前述基座部27之上部金屬膜28的形狀，之後以形成前述保護絕緣膜23的製程來形成，因此，前述i型半導體膜9與前述n型半導體膜11也存在於前述各信號線15及各X座標檢測線19下。此外，前述i型半導體膜9及n型半導體膜11係由非晶矽或多晶矽所形成。
另外，前述各X座標檢測線19係設置在預定之複數個畫素電極行的每一行，前述各Y座標檢測線20係設置在預定之複數個畫素電極列的每一列。此外，此實施例之液晶顯示面板1係將前述畫素電極行數量設為比前述畫素電極列數量還要多，在此實施例中，將前述各Y座標檢測線20設在全部前述各畫素電極5的每一列，將與前述Y座標檢測線數相同數量的X座標檢測線19設置於前述各畫素電極5之行當中隔預定行數(例如隔2行)的每畫素電極行(在第2圖以及第3圖中，與紅、綠、藍三色當中的藍色濾色片18B面對的每個畫素電極行)。
然後，前述X座標檢測用TFT6a和前述Y座標檢測用TFT6b，係在前述後基板3之前述畫面區域外的領域中，使前述X座標檢測用TFT6a和Y座標檢測用TFT6b分別逐一對應1條掃描線14而配置在與前述Y座標檢測線20相同數量之掃描線(在此實施例中為全部的掃描線)14的每一條。
此外，在此實施例中，前述各Y座標檢測用TFT6b係在前述畫面區域外領域當中的與前述畫面區域2鄰接之側，配置成以與前述各Y座標檢測線20之間隔相同程度的間隔而在列方向(與X座標檢測線19並列的方向)上排列成1行，前述各X座標檢測用TFT6a係在前述各Y座標檢測用TFT6b的外側，配置成和前述各Y座標檢測用TFT6b分別相鄰而在前述列方向上排列成1行。
然後，前述各掃描線14係分別連接於與該掃描線14對應之前述一個個的X座標檢測用TFT6a和Y座標檢測用TFT6b兩者的閘極電極7，前述各X座標檢測線19係分別連接於前述各X座標檢測用TFT6a的源極電極12，前述各Y座標檢測線20係分別連接於前述各Y座標檢測用TFT6b的源極電極12。
另外，前述各X座標檢測用TFT6a和各Y座標檢測用TFT6b係配置在將前述各Y座標檢測線20分別延長至前述畫面區域外領域之位置附近，前述各Y座標檢測線20係使這些Y座標檢測線20延長而連接於前述各Y座標檢測用TFT6b之源極電極12，前述各掃描線14係介由從這些掃描線14在前述行方向上延長的延長線14a而連接於前述各X座標檢測用TFT6a及各Y座標檢測用TFT6b的閘極電極7，前述各X座標檢測線19係透過從這些X座標檢測線19繞著前述畫面區域2外側而延長的延長線19a而連接於前述各X座標檢測用TFT6a的源極電極12。
此外，在前述後基板3的前述畫面區域外領域上，與前述各X座標檢測用TFT6a對應之1條X座標檢測用輸出線21a、以及與前述各Y座標檢測用TFT6b對應之1條Y座標檢測用輸出線21b，係沿著前述行方向而形成。
然後，前述各X座標檢測用TFT6a的汲極電極13係連接於前述1條X座標檢測用輸出線21a，前述各Y座標檢測用TFT6b的汲極電極13係連接於前述1條Y座標檢測用輸出線21b。
亦即，前述各X座標檢測用TFT6a係互相共有1條X座標檢測用輸出線21a。因此，使得前述各X座標檢測線19也互相共有1條X座標檢測用輸出線21a，此外，使得前述各X座標檢測電極25也互相共有1條X座標檢測用輸出線21a。
另外，前述各Y座標檢測用TFT6b係互相共有1條Y座標檢測用輸出線21b。因此，使得前述各Y座標檢測線20也互相共用1條Y座標檢測用輸出線21b，此外使得前述各Y座標檢測電極26也互相共有1條Y座標檢測用輸出線21b。
前述X座標檢測用輸出線21a和Y座標檢測用輸出線21b係在前述閘極絕緣膜8上，藉由與前述顯示用、X座標檢測用及Y座標檢測用之各TFT6、6a、6b的源極電極12及汲極電極13相同的金屬膜所形成，這些輸出線21a、21b的一端，會被拉出至使前述後基板3之一端部伸出到前述前基板4外側而形成的驅動器裝載部3a(參照第1圖)，並連接於在前述驅動器裝載部3a上設置的外部電路連接端子22a、22b。
另外，前述X座標檢測電極25與前述Y座標檢測電極26，係配置成分別互相鄰接於前述各X座標檢測線19與前述各Y座標檢測線20交叉之各線交叉部附近。
另一方面，設在前述前基板4內面之前述各接點部31的形狀係形成為分別面對前述鄰接的X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26的各配置部，並接觸前述鄰接的X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26兩者。
此各接點部31，係形成為將分別面對前述對向電極16之前述鄰接的X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26的部分，隔著間隙而面對前述X座標檢測電極25及Y座標檢測電極26，並且藉由來自前述前基板4外面側之碰觸而朝向內面方向的撓曲變形，而突出至接觸前述X座標檢測電極25及Y座標檢測電極26的高度。
在本實施例中，在前述遮光膜17上，藉由感光性樹脂等來形成跨過前述X座標檢測電極25與前述Y座標檢測電極26兩者而面對之形狀的凸部32，於其上形成前述對向電極16，藉以將前述對向電極16之前述凸部32上的部分作為前述接點部31。
此外，在前述前基板4之面對後基板3的面上，規定前述後基板3與前基板4之間的間隙的複數個柱狀間隙物33(參照第6圖)，係配置成點狀存在於與前述接點部31不同的位置。
前述各柱狀間隙物33係在前述對向電極16上藉由感光性樹脂等之絕緣材料而形成，且設置成分別面對配置於列方向及行方向的各顯示用TFT6當中隔複數個之顯示用TFT6。
此外，前述彩色濾色片18R、18G、18B係形成在除了形成前述各接點部31之凸部32及前述各柱狀間隙物33的形成位置以外的位置，前述凸部32係形成為比前述彩色濾色片18R、18G、18B之膜厚還要高，前述柱狀間隙物33係形成為比前述凸部32還要高。
另外，設在前述前基板4的前述遮光膜17係形成於前述畫面區域2之複數個畫素間的領域和已配置前述各X座標檢測用TFT6a及各Y座標檢測用TFT6b的畫面區域外領域的整個區域，前述彩色濾色片18R、18G、18B係設置成對應前述畫面區域2，而前述對向電極16係形成為涵蓋於前述畫面區域2及畫面區域外領域的整個區域。
此外，在前述後基板3和前基板4上，配向膜34、35被形成為分別覆蓋前述各畫素電極和前述各X座標檢測用及各Y座標檢測用TFT6a、6b、前述對向電極16及前述各接點部31與前述各柱狀間隙物33。
此外，在此實施例中，雖將前述對向電極16與前述配向膜34、35形成為涵蓋前述畫面區域2及畫面區域外領域的整個區域，但前述對向電極16與前述配向膜34、35也可以僅形成於前述畫面區域2。
前述後基板3和前基板4，係使前述各柱狀間隙物33抵接於前述各顯示用TFT6，以前述接點部31藉適當間隔而面對前述X座標檢測電極25及Y座標檢測電極26的方式來規定前述基板3、4間之間隙而予以對向配置，透過包圍前述畫面區域2及畫面區域外領域的框狀密封材料36(參照第1圖)而接合。
然後，在由前述基板3、4間之間隙的前述密封材料36所包圍的領域中封入液晶層37，另外，在前述後基板3與前基板4的外面分別配置偏光板(未圖示)。
此外，此液晶顯示面板1可以是使前述液晶層37的液晶分子在前述基板3、4間扭轉配向的TN或STN型、使液晶分子配向成實質垂直於基板3、4面的垂直配向型、使液晶分子的分子長軸統一朝一個方向並配向成與基板3、4面實質並列的非扭轉水平配向型、使液晶分子彎曲配向的彎曲配向型、強介電性或者反強介電性液晶顯示面板等的任一種，另外，也可以是網狀聚合物(polymer network)型液晶顯示面板。
另外，在前述後基板3的驅動器裝載部3a上，裝載著由形成有第2圖所示之掃描驅動器39和資料驅動器40的LSI所組成的驅動元件38，前述各掃描線14與各信號線15係分別被導出至前述驅動器裝載部3a(未圖示)，且連接於前述掃描驅動器39和資料驅動器40的各輸出端子。
另一方面，連接於前述液晶顯示面板1的外部電路係如第1圖及第3圖所示，具備：顯示用控制器41，其控制前述驅動元件38之掃描驅動器39和資料驅動器40；X座標檢測用比較器42a，其連接於與前述各X座標檢測用TFT6a之汲極電極13連接的X座標檢測用輸出線21a之外部電路連接端子22a；Y座標檢測用比較器42b，其連接於與前述各Y座標檢測用TFT6b之汲極電極13連接的Y座標檢測用輸出線21b之外部電路連接端子22b；座標檢測用控制器44a，其根據從前述X座標檢測用比較器42a輸出之X資料和從前述Y座標檢測用比較器42b輸出之Y資料，來檢測出碰觸點的X座標和Y座標；以及主控制器45，其控制前述顯示用控制器41與前述座標檢測用控制器44a。
在此，在本實施的形態中，於座標檢測電路44上，如第3圖所示，至少包含X座標檢測用比較器42a、Y座標檢測用比較器42b、座標檢測用控制器44a和後述的重置開關43a、43b。
此外，雖在圖式中省略，但在前述液晶顯示面板1之後基板3上，設置：對向電極端子，其形成於前述驅動器裝載部3a；以及跨越電極(cross electrode)，其形成在由前述密封材料36所製成的基板接合部之一個或複數個角隅部，且與前述對向電極端子連接。設置於前述前基板4的對向電極16係在前述基板接合部中，電氣連接於前述跨越電極。
前述液晶顯示面板1係從未圖示之共通信號產生電路介由前述對向電極端子而對前述對向電極16施加共通信號，藉由前述顯示用控制器41的掃描驅動器39，依序選擇前述各掃描線14，對在每個選擇期間所選擇之掃描線14施加使前述顯示用TFT6為ON的閘極信號，同時藉由前述顯示用控制器41的資料驅動器40，在前述各掃描線14之每個選擇期間，將相對於前述共通信號而具有與畫像資料對應之電壓差的資料信號施加於前述各信號線15，藉以進行顯示驅動。
此外，在前述液晶顯示面板1的顯示驅動方式中有圖框反轉方式與線反轉方式，該圖框反轉方式係針對用以顯示1個畫面的每1個圖框，使施加於前述對向電極16的共通信號之電壓反轉為高位準(以下稱為H位準)和低位準(以下稱為L位準)，而線反轉方式係針對前述各掃描線14的每個選擇期間，使前述共通信號的電壓反轉為H位準和L位準，但無論採用哪一種驅動方式都可以。
接著，當說明前述液晶顯示面板1作為觸控板面的動作時，在前述顯示驅動中，從前述前基板4之外面側，藉由指尖或接觸筆(touch pen)等來碰觸前述畫面區域2內之任意位置，藉以進行對前述液晶顯示面板1的接觸輸入。
當進行前述接觸輸入時，前述前基板4被碰觸的部分(以下稱為碰觸部)會向內側撓曲變形，於前述前基板4之對向電極16上形成的各接點部31當中的前述碰觸部之接點部31會接觸到面對此接點部31的X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26，並導通前述對向電極16及前述接點部31所接觸之X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26。
此外，前述接點部31係介由分別設於前述前基板4和後基板3的配向膜35、34而接觸於前述X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26，但因為前述配向膜35、34分別是膜厚為0.02μm左右之非常薄的膜，所以介由這些配向膜35、34，電流會流動於前述接點部31與前述X座標檢測電極25及Y座標檢測電極26之間，前述對向電極16及前述接點部31所接觸之X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26會導通。
然後，因為前述X座標檢測電極25係每一批複數個分別連接於前述各X座標檢測線19，前述Y座標檢測電極26係每一批複數個分別連接於前述各Y座標檢測線20，所以當前述接點部31接觸於與1條X座標檢測線19連接之複數條X座標檢測電極25的任一個時，來自前述對向電極16的電壓被充入該X座標檢測線19，前述X座標檢測線19之電壓變成和被施加至前述對向電極16的共通信號之電壓相同，另外，當前述接點部31接觸於與1條Y座標檢測線20連接之複數條Y座標檢測電極26的任一個時，來自前述對向電極16的電壓被充入該Y座標檢測線20，前述Y座標檢測線20之電壓變成和前述共通信號之電壓相同。
另外，因為前述各掃描線14係分別連接於前述各X座標檢測用TFT6a和各Y座標檢測用TFT6b當中的一個X座標檢測用TFT6a和一個Y座標檢測用TFT6b，所以在前述各掃描線14的每個選擇期間，將閘極電極7連接於被選擇之掃描線14的一個X座標檢測用TFT6a和一個Y座標檢測用TFT6b會成為ON。
因此，於前述各掃描線14的每個選擇期間，與連接於藉由從所選擇之掃描線14施加閘極信號而成為ON的X座標檢測用TFT6a之源極電極12的X座標檢測線19之充入電壓對應的信號，係從前述X座標檢測用TFT6a的汲極電極13輸出至前述X座標檢測用輸出線21a，與連接於藉由從前述所選擇之掃描線14施加閘極信號而成為ON的Y座標檢測用TFT6b之源極電極12的Y座標檢測線20之充入電壓所對應的信號，係從前述Y座標檢測用TFT6b的汲極電極13輸出至前述Y座標檢測用輸出線21b。
亦即，此液晶顯示面板1，係將與前述各X座標檢測線19之各個的充入電壓對應的X座標的並列資料(parallel data)，對應前述各掃描線14之選擇順序而轉換為成為前述各X座標檢測線19之充入電壓值的X座標串列資料(serial data)，從前述X座標檢測用輸出線21a輸出該X座標串列資料信號，且將與前述各Y座標檢測線20之各個的充入電壓對應的Y座標的並列資料，對應前述各掃描線14之選擇順序而轉換為成為前述各Y座標檢測線20之充入電壓值的Y座標串列資料，從前述Y座標檢測用輸出線21b輸出該Y座標串列資料信號。
從前述X座標檢測用輸出線21a輸出的X座標串列資料信號，係輸入至前述X座標檢測用比較器42a的資料信號端子，從前述Y座標檢測用輸出線21b輸出的Y座標串列資料信號，係輸入至前述Y座標檢測用比較器42b的資料信號端子。
前述X座標檢測用比較器42a，係比較已輸入至該資料信號端子的前述X座標串列資料信號之前述掃描線14的每個選擇期間之電壓、與來自未圖示的參考信號發生部之比共通信號電壓還低之既定值的參考電壓Vref，當前述X座標串列資料信號之電壓比前述參考電壓Vref還高時(共通信號電壓之時)，就輸出1之值的數位信號，當前述X座標串列資料信號的電壓比前述參考電壓Vref還低時，就輸出0之值的數位信號。
另外，前述Y座標檢測用比較器42b，係比較已輸入至該資料信號端子的前述Y座標串列資料信號之前述掃描線14的每個選擇期間之電壓、與來自前述參考信號發生部的參考電壓Vref，當前述Y座標串列資料信號之電壓比前述參考電壓Vref還高時(共通信號電壓之的時)就輸出1之值的數位信號，當前述Y座標串列資料信號的電壓比起前述參考電壓Vref更低時，就輸出0之值的數位信號。
亦即，從前述X座標檢測用比較器42a輸出的X資料和從前述Y座標檢測用比較器42b輸出的Y資料，係分別於前述掃描線14的每個選擇期間成為1或0之值的數位資料。
然後，前述座標檢測用控制器44a，係根據從前述X座標檢測用比較器42a輸出的X資料、和從前述Y座標檢測用比較器42b輸出的Y資料，來檢測出前述液晶顯示面板1之畫面區域2的碰觸點之X座標和Y座標，並將該X座標資料和Y座標資料輸出至外部。
此外，當前述接點部31不接觸於與1條X座標檢測線19連接的複數條X座標檢測電極25的任一個時，就沒有電壓充入該X座標檢測線19，另外，當前述接點部31不接觸於與1條Y座標檢測線20連接的複數條Y座標檢測電極26的任一個時，就沒有電壓充入該Y座標檢測線20。
但是，因為前述各掃描線14係於每1個圖框中被選擇，所以在先前的圖框中，前述接點部31接觸與前述1條X座標檢測線19連接之複數條X座標檢測電極25的任一個，電壓從前述對向電極16被充入至前述X座標檢測線19，與先前圖框之充入電壓(以下稱為殘留充入電壓)對應之信號也會從前述接點部31不接觸複數條X座標檢測電極25之任一個的X座標檢測線19而被輸入至前述X座標檢測用TFT6a的源極電極12，包含與前述殘留充入電壓之電壓對應的誤電壓的X座標串列資料信號會從前述X座標檢測用輸出線21a輸出。
同樣地，當在先前的圖框中，前述接點部31接觸與前述1條Y座標檢測線20連接之複數條Y座標檢測電極26的任一個，電壓從前述對向電極16被充入至前述Y座標檢測線20時，與前述殘留充入電壓對應之信號也會從前述接點部31不接觸複數條X座標檢測電極25之任一個的Y座標檢測線20而被輸入至前述Y座標檢測用TFT6b的源極電極12，包含與前述殘留充電電壓之電壓對應的誤電壓的Y座標串列資料信號會從前述Y座標檢測用輸出線21b輸出。
因此，在此實施例中，於對前述X座標檢測用比較器42a的資料信號輸入線、及對前述Y座標檢測用比較器42b的資料信號輸入線上，設置用以連接未圖示之重置電壓發生部的重置開關43a、43b，如第11圖及第12圖所示，於各掃描線14之選擇期間初期，藉由重置信號來將前述第1重置開關43a和前述第2重置開關43b切換至重置電壓發生部的連接側，使來自重置電壓發生部的重置電壓Vreset供給於對前述X座標檢測用比較器42a的資料信號輸入線和對前述Y座標檢測用比較器42b的資料信號輸入線，包含與前述殘留充入電壓之電壓對應的誤電壓的X座標串列資料信號及Y座標串列資料信號被輸入至前述X座標檢測用比較器42a及前述Y座標檢測用比較器42b，藉此防止碰觸點座標的誤檢測。
前述重置電壓Vreset係使前述共通信號之波形反轉的波形，也就是相對於共通信號電壓為正好相反的電壓，進行前述圖框反轉的顯示驅動時，及進行前述線反轉的顯示驅動時，都會在各掃描線14的選擇期間初期，將重置電壓Vreset供給於對前述X座標檢測用比較器42a的資料信號輸入線和對前述Y座標檢測用比較器42b的資料信號輸入線，藉以刪除包含與前述殘留充入電壓之電壓對應的誤電壓之X座標串列資料信號及Y座標串列資料信號，將當下時間點的正確X座標串列資料信號及Y座標串列資料信號輸入至X座標檢測用比較器42a及Y座標檢測用比較器42b，能夠提高前述座標檢測用控制器44a之碰觸點的X座標及Y座標的檢測精度。
此外，在第11圖及第12圖中，Vcom H係H位準的共通信號電壓，Vcom L係L位準的共通信號電壓，當將H位準的共通信號施加於前述對向電極16時，如第11圖所示，於各掃描線14的每個選擇期間，當前述接點部31不接觸與1條X座標檢測線19連接的複數條X座標檢測電極25之任一個的非碰觸(non-touch)時成為Vcom L的電壓，當前述接點部31接觸與1條X座標檢測線19連接的複數條X座標檢測電極25之任一個的碰觸時，前述重置後成為Vcom H之電壓的X座標串列資料信號會被輸入於前述X座標檢測用比較器42a，當前述接點部31不接觸與1條Y座標檢測線20連接的複數條Y座標檢測電極26之任一個的非碰觸時成為Vcom L的電壓，當前述接點部31接觸與1條Y座標檢測線20連接的複數條Y座標檢測電極26之任一個的碰觸時，在前述重置後成為Vcom H之電壓的Y座標串列資料信號會被輸入於前述Y座標檢測用比較器42b。
另外，在已對前述對向電極16施加L位準之共通信號時，如第12圖所示，於各掃描線14的每個選擇期間，當前述接點部31不接觸與1條X座標檢測線19連接的複數條X座標檢測電極25之任一個的非碰觸時成為Vcom H的電壓，當前述接點部31接觸與1條X座標檢測線19連接的複數條X座標檢測電極25之任一個的碰觸時，在前述重置後成為Vcom L之電壓的X座標串列資料信號會被輸入於前述X座標檢測用比較器42a，當前述接點部31不接觸與1條Y座標檢測線20連接的複數條Y座標檢測電極26之任一個的非碰觸時成為Vcom H的電壓，當前述接點部31接觸與1條Y座標檢測線20連接的複數條Y座標檢測電極26之任一個的碰觸時，在前述重置後成為Vcom L之電壓的Y座標串列資料信號會被輸入於前述Y座標檢測用比較器42b。
在第13圖以及第14圖中，Gate 1、Gate 2、...、Gate n、Gate n+1、Gate n+2、Gate n+3係施加於第1條、第2條、...第n條、第n+1條、第n+2條、第n+3條之各掃描線14的閘極信號，以前述圖框反轉方式來驅動前述液晶顯示面板1時，係藉由對前述X及Y座標檢測用比較器42a、42b輸入前述串列資料信號，從這些比較器42a、42b輸出如第13圖的波形之信號，從前述座標檢測用控制器44a輸出由比較器輸出之閂鎖(latch)波形和共通信號之閂鎖波形的「排他性邏輯和(XOR)」的「0」和「1」之二值信號所組成的碰觸點之X或Y座標資料。
另外，以前述線反轉方式來驅動前述液晶顯示面板1時，藉由對前述X及Y座標檢測用比較器42a、42b輸入前述串列資料信號，從這些比較器42a、42b輸出如第14圖的波形之信號，從前述座標檢測用控制器44a輸出由比較器輸出之閂鎖波形和共通信號之閂鎖波形的「排他性邏輯和」的「0」和「1」之二值信號所組成的碰觸點之X或Y座標資料。
上述液晶顯示裝置1a係在前述後基板3的畫面區域2外之領域設置：複數條X座標檢測用TFT6a，其分別將閘極電極7連接於前述各掃描線14，分別將源極電極12連接於前述各X座標檢測線19；複數條Y座標檢測用TFT6b，其分別將閘極電極7連接於前述各掃描線14，分別將源極電極12連接於前述各Y座標檢測線20；X座標檢測用輸出線21a，其連接於前述各X座標檢測用TFT6a的汲極電極13；以及Y座標檢測用輸出線21b，其連接於前述各Y座標檢測用TFT6b的汲極電極13。
因此，因為使得將與前述各X座標檢測線19之每一者之充入電壓對應的X座標之並列資料、及與前述各Y座標檢測線20之每一者之充入電壓對應的Y座標的並列資料分別轉換成串列資料並能輸出至座標檢測電路44，所以不但能在液晶顯示面板上兼具觸控板面功能，也能夠將液晶顯示面板1與座標檢測電路44之連接端子數減少為比可檢測之座標點數還要少。另外，因為能夠以液晶顯示面板進行並列/串列轉換，所以相較於以往包含並列/串列轉換電路的電路，能夠大幅度精簡座標檢測電路44的構成。
亦即，前述複數條X座標檢測用TFT6a和X座標檢測用輸出線21a，係作為與X座標軸對應之並列/串列轉換電路而形成於液晶顯示面板1上，前述複數條Y座標檢測用TFT6b和前述Y座標檢測用輸出線21b，係作為與Y座標軸對應之並列/串列轉換電路而形成於液晶顯示面板1上。
另外，因為上述液晶顯示裝置1a係將前述各X座標檢測用TFT6a和前述各Y座標檢測用TFT6b配置在前述各掃描線14及前述各Y座標檢測線20之一端側的畫面區域外領域，所以能整合前述各X座標檢測用TFT6a及各Y座標檢測用TFT6b的配置空間，減輕因具備前述各X座標檢測用TFT6a和各Y座標檢測用TFT6b而造成的液晶顯示裝置的大型化。
此外，因為上述液晶顯示裝置1a係分別將前述X座標檢測用TFT6a和前述Y座標檢測用TFT6b形成為和前述顯示用TFT6相同的積層構造，所以能夠一起形成前述顯示用TFT6與前述X座標檢測用TFT6a及Y座標檢測用TFT6b，因此，能夠用幾乎與無接觸裝置功能的主動式矩陣液晶顯示裝置之製造無差異的製程而以低成本進行製造。
然後，上述液晶顯示裝置1a係在前述X座標檢測線19與前述Y座標檢測線20之任一者或兩者的線上(在上述實施例中為Y座標檢測線20上)介由絕緣膜(在上述實施例中為保護絕緣膜23)而形成前述X座標檢測電極25和前述Y座標檢測電極26，在設於前述絕緣膜的接觸孔29、30中分別連接於前述X座標檢測線19與前述Y座標檢測線20，所以也能夠以充分的面積來形成與前述X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26之配置部鄰接的畫素電極5。
亦即，第21圖所示之比較例的液晶顯示裝置，係將X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26配置在Y座標檢測線20和畫素電極5之間。此外，此比較例的液晶顯示裝置之其他構成的說明係賦予與上述實施例對應之相同符號而省略之。
因為此比較例的液晶顯示裝置，必須在前述Y座標檢測線20和畫素電極5之間確保X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26的配置空間，所以必須將與這些接點電極25、26之配置部鄰接的畫素電極5形成為遠離前述Y座標檢測線20，因此，與前述接點電極25、26之配置部鄰接的畫素電極5的面積會變得相當小，使與此畫素電極5對應之畫素的開口率會大幅下降。
相對於前述比較例的液晶顯示裝置，因為上述實施例之液晶顯示裝置1a係在前述Y座標檢測線20上配置了X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26，所以前述Y座標檢測線20和畫素電極5的間隔可為極小，因此，也能以充分的面積來形成與前述X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26之配置部鄰接的畫素電極5，將與此畫素電極5對應之畫素的開口率下降減至極少。
此外，上述實施例之液晶顯示裝置1a係藉由和前述顯示用TFT6之閘極電極7相同的金屬膜來形成前述各X座標檢測線19，藉由與前述顯示用TFT6之源極電極12及汲極電極13相同的金屬膜來形成前述各Y座標檢測線20，將前述絕緣膜作為覆蓋前述各顯示用TFT6之閘極絕緣膜8、及各顯示用TFT6與各掃描線14及各信號線15而設置的保護絕緣膜23，在前述後基板3上，使對應前述X座標檢測電極25及Y座標檢測電極26之至少形成於對向電極16的接點部31所接觸的領域，而形成在前述後基板3上形成為與包含前述顯示用TFT6之前述保護絕緣膜23的積層構造相同的的積層構造的基座部27，因為在該基座部27上形成前述X座標檢測電極25與前述Y座標檢測電極26，所以能使這些接點電極25、26之前述接點部31所接觸的面，充分比畫素電極5和Y座標檢測線20還高，使前述接點部31確實地僅接觸於前述X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26。
而且，前述液晶顯示裝置1a，因為將前述基座部27形成為與包含前述各TFT6、6a、6b之前述保護絕緣膜23的積層構造相同的積層構造，所以前述基座部27也能利用前述顯示用TFT6、X座標檢測用TFT6a及Y座標檢測用TFT6b的形成製程來形成。
此外，前述基座部27並非侷限於與前述各TFT6、6a、6b的積層構造完全相同的積層構造，如第10圖所示之變形例，相對於前述各TFT6、6a、6b的積層構造，則是省略了前述阻隔絕緣膜10的積層構造，換言之，也可以是藉由以下的積層膜所形成：前述Y座標檢測線20、前述閘極絕緣膜8、和前述i型半導體膜9及n型半導體膜11之各膜相同的雙層膜、由與前述各TFT6、6a、6b之源、汲極電極12、13及前述X座標檢測線19相同的金屬膜所組成之上部金屬膜28、以及前述保護絕緣膜23，在這種情況下，也能利用前述顯示用TFT6與X座標檢測用TFT6a及Y座標檢測用TFT6b之形成製程來形成前述基座部27，同時使前述接點部31確實地僅接觸形成在前述基座部27上的前述X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26。
在此變形例中，因為前述基座部27的高度和第8圖所示的實施例相比，僅變低了前述阻隔絕緣膜10的膜厚份量，所以前述X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26的位置僅變低該份量，但對應於此，藉由增加前述前基板4之內面的各接點部31之突出高度，能夠使前述各接點部31隔著間隙面對前述X座標檢測電極25以及Y座標檢測電極26，並藉由來自前述前基板4外面側的碰觸所造成向內面方向的撓曲變形，而使接觸於前述X座標檢測電極25及Y座標檢測電極26。
[第2實施例]
第15圖和第16圖所示的第2實施例之液晶顯示裝置係將前述各Y座標檢測線20設置於預定的複數個畫素電極列之每一列，例如全部前述各畫素電極5的每一列，並將前述各X座標檢測線19設置於各畫素電極5之行當中隔預定的複數行數(例如隔2行)之每一行，使前述各X座標檢測用TFT6a分別對應於與設有前述Y座標檢測線20之各畫素電極行對應的前述各掃描線14當中之隔1條的複數條掃描線14而配置，將使前述各Y座標檢測用TFT6b分別對應於前述各掃描線14當中其他的隔1條的複數條掃描線14而配置。
然後，在本實施例中，將前述各掃描線14分別連接於與該掃描線14對應之X座標檢測用TFT6a或Y座標檢測用TFT6b的閘極電極7，將各X座標檢測線19，以相鄰既定數量(例如2條)之X座標檢測線19為一組，依各組來分別連接於前述各X座標檢測用TFT6a的源極電極12，將各Y座標檢測線20以相鄰既定數量(例如2條)之Y座標檢測線20為一組，依各組來分別連接於前述各Y座標檢測用TFT6b的源極電極12。
另外，前述各X座標檢測用TFT6a之汲極電極13係連接於1條X座標檢測用輸出線21a，前述各Y座標檢測用TFT6b之汲極電極13係連接於1條Y座標檢測用輸出線21b。此外，此實施例之液晶顯示裝置的其他構成，因為和上述第1實施例相同，所以在圖式中賦予相同符號並省略重複的說明。
此實施例之液晶顯示裝置，係將前述各X座標檢測線19設置於前述各畫素電極5之行當中之隔2行之每一行，使前述各X座標檢測用TFT6a分別對應於前述各掃描線14當中之隔1條之複數條掃描線14而配置，使前述各Y座標檢測用TFT6b分別對應於前述各掃描線14當中的其他隔1條之複數條掃描線14而配置，將前述各掃描線14分別連接於與該掃描線14對應之X座標檢測用TFT6a或Y座標檢測用TFT6b的閘極電極7，將前述各X座標檢測線19，以相鄰之2條X座標檢測線19為1組，依各組來分別連接於前述各X座標檢測用TFT6a的源極電極12，將前述各Y座標檢測線20，以相鄰之2條Y座標檢測線20為1組，依各組來分別連接於前述各Y座標檢測用TFT6b的源極電極12，所以和上述第1實施例相比，能夠將前述X座標檢測用TFT6a和Y座標檢測用TFT6b的數量實質地減半。
因此，根據本實施例之液晶顯示裝置，相較於上述第1實施例，能夠於畫面區域2外之領域所確保的X座標檢測用TFT6a和Y座標檢測用TFT6b之配置空間大幅縮小，能夠進一步減輕因具備前述各X座標檢測用TFT6a和各Y座標檢測用TFT6b而造成之液晶顯示裝置的大型化。
另外，本實施例之液晶顯示裝置，係以相鄰之2條X座標檢測線19為1組，依各組來分別連接於前述各X座標檢測用TFT6a的源極電極12，將前述各Y座標檢測線20，以相鄰之2條Y座標檢測線20為1組，依每組來分別連接於前述各Y座標檢測用TFT6b的源極電極12，所以在例如將和上述第1實施例相同數量的X座標檢測用TFT6a和Y座標檢測用TFT6b配置於畫面區域外領域的情況，能夠將前述X座標檢測線18設置在比前述隔2列隔更少的每一列，例如隔1列的每一列或全部列的每一列，在該情況下，能夠縮小X座標檢測電極25及Y座標檢測電極26的列方向之配置間距，能更高精度地進行碰觸點的X座標之檢測。
此外，在上述第2實施例中，以相鄰之2條X座標檢測線19為1組，依各組來分別連接於各X座標檢測用TFT6a的源極電極12，以相鄰之2條Y座標檢測線20為1組依各組來分別連接於各Y座標檢測用TFT6b的源極電極12，但並非侷限於此，也可以是其他數量，例如以3～5條X座標檢測線19為1組，依各組來分別連接於各X座標檢測用TFT6a的源極電極12，以相鄰之3～5條Y座標檢測線20為1組，依各組來分別連接於各Y座標檢測用TFT6b的源極電極12，藉由這種方式，能夠使於畫面區域外領域所確保的X座標檢測用TFT6a和Y座標檢測用TFT6b之配置空間更加縮小，進一步減輕因具備前述各X座標檢測用TFT6a和各Y座標檢測用TFT6b而造成之液晶顯示裝置的大型化。
[第3實施例]
第17圖和第18圖所示的第3實施例之液晶顯示裝置係在上述第2實施例之液晶顯示裝置中，將前述各X座標檢測用TFT6a之汲極電極13、與前述各Y座標檢測用TFT6b之汲極電極13連接於兼具X座標檢測用和Y座標檢測用的共通輸出線21，並從該共通輸出線21輸出以同步於各掃描線14之選擇期間的週期而交替地包含X座標和Y座標兩者的串列資料信號。
然後，在此第3實施例中，如第18圖所示，在外部電路上具備兼具X座標檢測用和Y座標檢測用的一個比較器42，從該比較器42將X資料和Y資料交替地輸入至座標檢測用控制器44a，於座標檢測用控制器44a，同步於前述各掃描線14之選擇期間來判別X資料和Y資料，檢測根據該X資料和Y資料的碰觸點的X座標和Y座標。
根據此第3實施例，則輸出前述串列資料信號的輸出線因為僅是根據兼具X座標檢測用和Y座標檢測用的共通輸出線21，所以能夠比上述第2實施例更加縮小在畫面區域2外之領域所確保的X座標檢測用TFT6a和Y座標檢測用TFT6b的配置空間，進一步減輕因具備前述各X座標檢測用TFT6a和各Y座標檢測用TFT6b而造成之液晶顯示裝置的大型化。
而且，根據此第3實施例，則因為外部電路所具備之比較器係只要是兼具X座標檢測用和Y座標檢測用的一個比較器42即可，所以能比上述第2實施例進一步簡化前述外部電路。
[第4實施例]
第19圖所示的第4實施例之液晶顯示裝置係將前述X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26配置在與上述第1～第3實施例不同的位置，在此實施例中，在X座標檢測線19上配置X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26，將其中的Y座標檢測電極26之與X座標檢測電極25的鄰接側之相反側的端部，在前述X座標檢測線19與Y座標檢測線20的線交叉部上，形成為在Y座標檢測線20方向上屈曲的形狀，將此X座標檢測電極25之屈曲部，於設置在保護絕緣膜23上設置之觸控孔30中連接於前述Y座標檢測線20。此外，在此第4實施例中除了前述X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26的配置以外之構成，因為與上述第1～第3實施例的任一個相同，所以在圖式中賦予相同符號並省略重複的說明。
[第5實施例]
第20圖所示的第5實施例之液晶顯示裝置，係將前述X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26配置在與上述第1～第4實施例不同的位置，在此實施例中，在Y座標檢測線20上配置X座標檢測電極25，在Y座標檢測線20上配置Y座標檢測電極26，同時使前述X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26的端部彼此在前述線交叉部上鄰接。此外，在此第5實施例中，除了前述X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26之配置以外之構成，因為與上述第1～第3實施例的任一個相同，所以在圖式中賦予相同符號並省略重複的說明。
[其他實施例]
此外，在上述各實施例中，將X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26配置在X座標檢測線19與Y座標檢測線20之任一者或兩者的線19、20上，但在容許與前述X座標檢測電極25和Y座標檢測電極26之配置部鄰接的畫素之開口率下降至某種程度的情況下，如第21圖所示的比較例，也可以將X座標檢測電極25與Y座標檢測電極26配置在X座標檢測線或Y座標檢測線20和畫素電極5之間。
[安裝本液晶顯示裝置的機器例]
第22圖～第25圖所示之第1～第4電子機器係安裝本發明之液晶顯示裝置1a者，第22圖的第1電子機器100係筆記型電腦，第23圖的第2電子機器110係數位相機，第24圖的第3電子機器120係行動電話，第25圖的第4電子機器130係手持式終端機。
其他優點及變形例對於熟習此項技術者而言是顯而易見。因此本發明的廣義態樣並非侷限此處所述的說明細節及實施例。因此，只要不悖離以下的申請專利範圍及其均等物所定義之本發明概念的精神及範疇，就可產生各種變化例。
1．．．液晶顯示面板
1a．．．液晶顯示裝置
2．．．畫面區域
3．．．第1透明基板
3a．．．驅動器裝載部
4．．．第2透明基板
5．．．畫素電極
6．．．顯示用TFT
6a．．．X座標檢測用薄膜電晶體
6b．．．Y座標檢測用薄膜電晶體
7．．．閘極電極
8．．．閘極絕緣膜
9．．．i型半導體膜
10．．．阻隔絕緣膜
11．．．n型半導體膜
12．．．源極電極
13．．．汲極電極
14．．．掃描線
14a．．．延長線
15．．．信號線
16．．．對向電極
17．．．遮光膜
18R．．．彩色濾色片
18G．．．彩色濾色片
18B．．．彩色濾色片
19．．．X座標檢測線
19a．．．延長線
20．．．Y座標檢測線
21a．．．X座標檢測用輸出線
21b．．．Y座標檢測用輸出線
22a．．．外部電路連接端子
22b．．．外部電路連接端子
23．．．保護絕緣膜
24．．．接觸孔
25．．．X座標檢測電極
26．．．Y座標檢測電極
27．．．基座部
28．．．上部金屬膜
29．．．第1接觸孔
30．．．第2接觸孔
31．．．接點部
32．．．凸部
33．．．柱狀間隙物
34．．．配向膜
35．．．配向膜
36．．．密封材料
37．．．液晶層
38．．．驅動元件
39．．．掃描驅動器
40．．．資料驅動器
41．．．顯示用控制器
42a．．．X座標檢測用比較器
42b．．．Y座標檢測用比較器
43a．．．重置開關
43b．．．重置開關
44．．．座標檢測電路
44a．．．座標檢測用控制器
45．．．主控制器
100．．．第1電子機器
110．．．第2電子機器
120．．．第3電子機器
130．．．第4電子機器
第1圖係本發明的第1實施例之液晶顯示裝置的平面圖。
第2圖係第1實施例之液晶顯示裝置的第1基板之電路構成圖。
第3圖係第1實施例的外部電路圖。
第4圖係第1實施例的前述第1基板之畫面區域的一部分之擴大平面圖。
第5圖係第1實施例的前述第1基板之X座標及Y座標檢測用薄膜電晶體配置區域之一部分的擴大平面圖。
第6圖係沿著第1實施例之液晶顯示裝置的第4圖之VI-VI箭號線的截面圖。
第7圖係沿著第1實施例之液晶顯示裝置的第4圖之VII-VII箭號線的截面圖。
第8圖係沿著第1實施例之液晶顯示裝置的第4圖之VIII-VIII箭號線的截面圖。
第9圖係沿著第1實施例之液晶顯示裝置的第5圖之IX-IX箭號線的截面圖。
第10圖係表示形成接點電極的基座部變形例之與第8圖對應之部分的截面圖。
第11圖係已對前述液晶顯示裝置的1條掃描線之選擇期間的對向電極施加高位準之共通信號時的比較器輸入時序圖。
第12圖係已對前述液晶顯示裝置的1條掃描線之選擇期間的對向電極施加低位準之共通信號時的比較器輸入時序圖。
第13圖係以圖框反轉方式來驅動前述液晶顯示裝置時的各驅動信號和碰觸點座標檢測系統之各信號的波形圖。
第14圖係以圖框反轉方式來驅動前述液晶顯示裝置時的各驅動信號和碰觸點座標檢測系統之各信號的波形圖。
第15圖係本發明第2實施例之液晶顯示裝置的第1基板之電路構成圖。
第16圖係第2實施例的外部電路圖。
第17圖係本發明第3實施例之液晶顯示裝置的第1基板之電路構成圖。
第18圖係第3實施例的外部電路圖。
第19圖係表示本發明第4實施例之X座標檢測電極及Y座標檢測用接點電極的平面圖。
第20圖係表示本發明第5實施例之X座標檢測電極及Y座標檢測用接點電極的平面圖。
第21圖係比較例之液晶顯示裝置的第1基板之畫面區域的一部分之擴大平面圖。
第22圖係具備本發明之液晶顯示裝置的第1電子機器之立體圖。
第23圖係具備本發明之液晶顯示裝置的第2電子機器之立體圖。
第24圖係具備本發明之液晶顯示裝置的第3電子機器之立體圖。
第25圖係具備本發明之液晶顯示裝置的第4電子機器之立體圖。
2．．．畫面區域
3．．．第1透明基板
5．．．畫素電極
6．．．顯示用TFT
6a．．．X座標檢測用薄膜電晶體
6b．．．Y座標檢測用薄膜電晶體
14．．．掃描線
14a．．．延長線
15．．．信號線
19．．．X座標檢測線
20．．．Y座標檢測線
21a．．．X座標檢測用輸出線
21b．．．Y座標檢測用輸出線
22a．．．外部電路連接端子
22b．．．外部電路連接端子
25．．．X座標檢測電極
26．．．Y座標檢測電極
39．．．掃描驅動器
40．．．資料驅動器
41．．．顯示用控制器
42a．．．X座標檢測用比較器
42b．．．Y座標檢測用比較器
43a．．．重置開關
43b．．．重置開關
44．．．座標檢測電路
44a．．．座標檢測用控制器
45．．．主控制器

Claims (15)

  1. 一種液晶顯示面板，其中連接於複數個畫素電晶體(6)的複數個畫素電極(5)係以介由液晶層(37)而面對對向電極(16)之方式配置於每個畫素，藉由控制前述畫素電極(5)與前述對向電極(16)之間的電壓而使前述液晶層(37)中的液晶分子之配向方向改變，該液晶顯示面板(1)具備：複數條掃描線(14)，其以成為互相並列的方式延伸配置，使於預定期間將分別對應之前述畫素電晶體(6)設為導通狀態的導通信號供給於前述畫素電晶體(6)；複數個第1座標檢測電極(25或26)，其係排列在預定的方向上的複數個第1座標檢測電極(25或26)，由它們當中2個以上的第1座標檢測電極(25或26)所構成的一組的第1座標檢測電極(25或26)係對應於前述複數條掃描線(14)當中任1條，另一組的第1座標檢測電極(25或26)係對應於前述複數條掃描線(14)當中其他的任1條；複數個第1座標檢測電晶體(6a或6b)，以成為互相並列的方式延伸配置的複數條第1座標檢測線(19或20)，由它們當中2條以上的第1座標檢測線(19或20)所構成的一組的第1座標檢測線(19或20)係對應於前述複數條掃描線(14)當中任1條，另一組的第1座標檢測線(19或20)係對應於前述複數條掃描線(14)當中其他的任1條，且前述複數條第1座標檢測線(19或20)當中1條的第1座標檢測線(19或20)係對應於前述複數個第1座標檢測電極(25或26)當中任1個，另1條的第1座標檢測線(19或20)係對應於前述複數個第1座標檢測電極(25或26) 當中其他的任1個，根據前述複數條掃描線(14)當中任1條供給於前述複數個畫素電晶體(6)當中任1個之導通信號而將對應於該1條掃描線(14)的前述第1座標檢測電極(25或26)，電氣連接於前述複數個第1座標檢測電晶體(6a或6b)共有之第1輸出線(21a或21b)；複數個第2座標檢測電極(26或25)，其係沿著與前述預定方向正交之方向排列的複數個第2座標檢測電極(26或25)，由它們當中2個以上的第2座標檢測電極(26或25)所構成的一組的第2座標檢測電極(26或25)係對應於不與前述任一組的第1座標檢測電極(25或26)對應的剩餘的前述複數條掃描線(14)當中任1條，另一組的第2座標檢測電極(26或25)係對應於前述剩餘的複數條掃描線(14)當中其他的任1條；及複數個第2座標檢測電晶體(6b或6a)，以成為互相並列的方式延伸配置的複數條第2座標檢測線(20或19)，由它們當中2條以上的第2座標檢測線(20或19)所構成的一組的第2座標檢測線(20或19)係對應於前述剩餘的複數條掃描線(14)當中任1條，另一組的第2座標檢測線(20或19)係對應於前述剩餘的複數條掃描線(14)當中其他的任1條，且前述複數條第2座標檢測線(20或19)當中1條的第2座標檢測線(20或19)係對應於前述複數個第2座標檢測電極(26或25)當中任1個，另1條第2座標檢測線(20或19)係對應於前述複數個第2座標檢測電極(26或25)當中其他的任1個，根據前述複數條掃描線(14)當中任1條供給於前述複 數個畫素電晶體(6)當中任1個之導通信號而將對應於該1條掃描線(14)的前述第2座標檢測電極(26或25)，電氣連接於前述複數個第2座標檢測電晶體(6b或6a)共有之第2輸出線(21b或21a)。
  2. 如申請專利範圍第1項所記載之液晶顯示面板，其中，前述複數個畫素電晶體(6)、前述複數個第1座標檢測電晶體(6a或6b)及前述第1輸出線(21a或21b)係形成於同一基板(3)上。
  3. 如申請專利範圍第1項所記載之液晶顯示面板，其中，前述複數個畫素電晶體(6)、前述複數個第2座標檢測電晶體(6b或6a)及前述第2輸出線(21b或21a)係形成於同一基板(3)上。
  4. 如申請專利範圍第1項所記載之液晶顯示面板，其中，具備：第1基板(3)，其形成有前述第1座標檢測電極(25或26)；以及第2基板(4)，其配置成面對前述第1基板(3)且形成有前述對向電極(16)，前述第2基板(4)係形成有突起狀之接點部(31)，而該突起狀之接點部(31)會在藉由按壓而使該第2基板(4)撓曲變形時，接觸於前述第1座標檢測電極(25或26)。
  5. 一種液晶顯示裝置，其中連接於複數個畫素電晶體(6)的複數個畫素電極(5)係以介由液晶層(37)而面對對向電極(16)之方式配置於每個畫素，控制施加於前述畫素電極(5)與前述對向電極(16)之間的電壓，以控制前述液晶層(37)中的液晶分子之配向方向，其中，該液晶顯示面板(1a)具備：掃描驅動器(39)，其對以成為互相並列的方式延伸配 置的複數條掃描線(14)，依序輸出使前述畫素電晶體(6)於預定期間設為導通狀態的導通信號；複數個第1座標檢測電極(25或26)，其係排列在預定的方向上的複數個第1座標檢測電極(25或26)，由它們當中2個以上的第1座標檢測電極(25或26)所構成的一組的第1座標檢測電極(25或26)係對應於前述複數條掃描線(14)當中任1條，另一組的第1座標檢測電極(25或26)係對應於前述複數條掃描線(14)當中其他的任1條；複數個第1座標檢測電晶體(6a或6b)，以成為互相並列的方式延伸配置的複數條第1座標檢測線(19或20)，由它們當中2條以上的第1座標檢測線(19或20)所構成的一組的第1座標檢測線(19或20)係對應於前述複數條掃描線(14)當中任1條，另一組的第1座標檢測線(19或20)係對應於前述複數條掃描線(14)當中其他的任1條，且前述複數條第1座標檢測線(19或20)當中1條的第1座標檢測線(19或20)係對應於前述複數個第1座標檢測電極(25或26)當中任1個，另1條的第1座標檢測線(19或20)係對應於前述複數個第1座標檢測電極(25或26)當中其他的任1個，根據輸出於前述掃描線(14)的導通信號而將對應於該掃描線的前述第1座標檢測電極(25或26)，電氣連接於前述複數個第1座標檢測電晶體(6a或6b)共有之第1輸出線(21a或21b)；複數個第2座標檢測電極(26或25)，其係沿著與前述預定方向正交之方向排列的複數個第2座標檢測電極(26或25)，由它們當中2個以上的第2座標檢測電極(26或 25)所構成的一組的第2座標檢測電極(26或25)係對應於不與前述任一組的第1座標檢測電極(25或26)對應的剩餘的前述複數條掃描線(14)當中任1條，另一組的第2座標檢測電極(26或25)係對應於前述剩餘的複數條掃描線(14)當中其他的任1條；及複數個第2座標檢測電晶體(6b或6a)，以成為互相並列的方式延伸配置的複數條第2座標檢測線(20或19)，由它們當中2條以上的第2座標檢測線(20或19)所構成的一組的第2座標檢測線(20或19)係對應於前述剩餘的複數條掃描線(14)當中任1條，另一組的第2座標檢測線(20或19)係對應於前述剩餘的複數條掃描線(14)當中其他的任1條，且前述複數條第2座標檢測線(20或19)當中1條的第2座標檢測線(20或19)係對應於前述複數個第2座標檢測電極(26或25)當中任1個，另1條第2座標檢測線(20或19)係對應於前述複數個第2座標檢測電極(26或25)當中其他的任1個，根據前述掃描線(14)供給於前述畫素電晶體(6)之導通信號而將對應於該掃描線(14)的前述第2座標檢測電極(26或25)，電氣連接於前述複數個第2座標檢測電晶體(6b或6a)共有之第2輸出線(21b或21a)，前述畫素電晶體(6)、前述第1座標檢測電晶體(6a或6b)、前述第1輸出線(6a或6b)、前述第2座標檢測電晶體(6b或6a)、及前述第2輸出線(21b或21a)係形成於同一基板(3)上。
  6. 如申請專利範圍第5項所記載之液晶顯示裝置，其中，具備座標檢測電路，其同步於前述掃描驅動器(39)所輸出 之導通信號的輸出時序，使於前述第1座標檢測電極(25或26)及前述第2座標檢測電極(26或25)保持與前述對向電極(16)中之電壓不同的重置電壓。
  7. 如申請專利範圍第5項所記載之液晶顯示裝置，其中，具備座標檢測電路，其根據介由前述第1輸出線(21a或21b)所檢測之前述複數個第1座標檢測電極(25或26)中的電壓資訊，來檢測出形成有前述對向電極(16)之基板(4)朝形成有前述複數個第1座標檢測電極(25或26)之基板(3)的接觸的位置。
  8. 如申請專利範圍第5項所記載之液晶顯示裝置，其中，具備：第1基板(3)，其形成有前述第1座標檢測電極(25或26)；以及第2基板(4)，其配置成面對前述第1基板(3)且形成有前述對向電極(16)，前述第2基板(4)係形成有突起狀之接點部(31)，而該突起狀之接點部(31)會在藉由按壓而使該第2基板(4)撓曲變形時，接觸於前述第1座標檢測電極(25或26)。
  9. 如申請專利範圍第8項所記載之液晶顯示裝置，其中，具備座標檢測電路，其根據介由前述第1輸出線(21a或21b)所檢測之前述複數個第1座標檢測電極(25或26)中的電壓資訊，來檢測出與前述突起狀之接點部(31)接觸的前述第1座標檢測電極(25或26)。
  10. 如申請專利範圍第1項所記載之液晶顯示面板，其中，前述各組的第1座標檢測線(19或20)，係不介由其他的電路元件而連接於前述複數個第1座標檢測電晶體(6a或6b)的任一個的源極電極(12)，前述各組的第2座標檢測線(20或19)，係不介由其他 的電路元件而連接於前述複數個第2座標檢測電晶體(6b或6a)的任一個的源極電極(12)。
  11. 如申請專利範圍第1項所記載之液晶顯示面板，其中，前述第1輸出線(21a或21b)，係不介由其他的電路元件而連接於前述複數個第1座標檢測電晶體(6a或6b)的汲極電極(13)，前述第2輸出線(21b或21a)，係不介由其他的電路元件而連接於前述複數個第2座標檢測電晶體(6b或6a)的汲極電極(13)。
  12. 如申請專利範圍第1項所記載之液晶顯示面板，其中，前述第1輸出線(21a或21b)及前述第2輸出線(21b或21a)係同一配線。
  13. 如申請專利範圍第5項所記載之液晶顯示裝置，其中，前述各組的第1座標檢測線(19或20)，係不介由其他的電路元件而連接於前述複數個第1座標檢測電晶體(6a或6b)的任一個的源極電極(12)，前述各組的第2座標檢測線(20或19)，係不介由其他的電路元件而連接於前述複數個第2座標檢測電晶體(6b或6a)的任一個的源極電極(12)。
  14. 如申請專利範圍第5項所記載之液晶顯示裝置，其中，前述第1輸出線(21a或21b)，係不介由其他的電路元件而連接於前述複數個第1座標檢測電晶體(6a或6b)的汲極電極(13)，前述第2輸出線(21b或21a)，係不介由其他的電路元件而連接於前述複數個第2座標檢測電晶體(6b或6a)的汲極電極(13)。
  15. 如申請專利範圍第5項所記載之液晶顯示裝置，其中，前述第1輸出線(21a或21b)及前述第2輸出線(21b或21a)係同一配線。
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