TWI432712B - 應用影像技術之鏡頭校準系統及其校準方法 - Google Patents

應用影像技術之鏡頭校準系統及其校準方法 Download PDF

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TWI432712B TW100128802A TW100128802A TWI432712B TW I432712 B TWI432712 B TW I432712B TW 100128802 A TW100128802 A TW 100128802A TW 100128802 A TW100128802 A TW 100128802A TW I432712 B TWI432712 B TW I432712B
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Description

應用影像技術之鏡頭校準系統及其校準方法
本發明是有關於一種應用影像技術之鏡頭校準系統及其校準方法,特別是有關於一種利用電荷耦合元件或互補式金氧半導體元件之感光元件應用於變焦鏡頭製程的應用影像技術之鏡頭校準系統及其校準方法。
一般鏡頭的組裝是將多個群組鏡片依序組裝於鏡筒內,當所有鏡片組裝完成後再檢驗鏡片光軸偏移量,檢測其光軸偏移量是否在該光軸之公差值內。但鏡頭組裝之敏感度極高,對於目前光學產品多以輕薄短小為特徵之情況下,對於鏡頭組裝的困難度相對提高。檢驗時若發現光軸偏移量大於公差值則必須拆解整組鏡片再重新組裝,然而拆解過程中發生鏡片又會有括傷或毀損以及耗費成本、時間和工序之疑慮。然而,目前大部分仍採用人工檢測進行原材料、成品及半成品的表面進行檢測。然而,人工檢測及判斷主觀因素影響甚大,使得檢測結果可信度降低,品質亦有不穩定之疑慮。
市面上有許多設備可針對鏡片或鏡頭進行半成品檢測,例如:畫像調芯機、衍射式單點調芯機以及電荷耦合元件接著調整設備等 。其中,畫像調芯機係利用對比值來判斷調芯品質,人員調芯時需兼顧重心及周邊的對比值,人員難以進行。同時,手動對焦功能需人員操作、人員判斷,主觀因素影響甚大,且品質不穩定。
衍射式單點調芯機係利用光波動特性,依據衍射芯像來判定鏡頭組裝同軸度的設備。但是,調芯時無法同時確認周邊調制轉換函數(Modulation Transfer Function,MTF)特性圖及其品質,亦須以人員視覺判斷,檢測可信度較低。電荷耦合元件接著調整設備係將電荷耦合元件鏡頭由安裝在待檢測物正前方作檢測。然而,習知的電荷耦合元件接著調整設備檢測水平度須依準直儀測量來判斷,接著間隙、旋轉及偏移則由設備之影像擷取系統擷取,亦須人員分析判斷,耗費許多工序及時間。
經由上述可知,習知技術均有費時、人力成本高且工序繁雜之問題。因此,以需求來說,設計一個應用影像技術之鏡頭校準系統及其校準方法,已成市場應用上之一個刻不容緩的議題。
有鑑於上述習知技藝之問題,本發明之目的就是在提供一種應用影像技術之鏡頭校準系統及其校準方法,以解決先前技術費時、人力成本高且工序繁雜之問題。
根據本發明之目的,提出一種應用影像技術之鏡頭校準系統,其包含一影像擷取模組、一處理模組以及一顯示模組。其中,影像擷取模組包含電荷耦合元件或互補式金氧半導體元件之感光元件,影像擷取模組透過鏡頭擷取標靶圖像,以取得即時影像。處理模組電性連結影像擷取模組,且處理模組分析即時影像以計算對 比度、光軸偏移量、偏移方向或偏移距離。顯示模組電性連結處理模組,且顯示模組係顯示即時影像、對比度、光軸偏移量、調整方向或調整距離。
其中,鏡頭校準系統更包含一屏幕,屏幕係顯示標靶圖像。
其中,鏡頭校準系統更包含一驅動模組,驅動模組電性連結處理模組,且驅動模組係控制馬達移動多軸平台。
其中,鏡頭係設置於多軸平台上。
其中,處理模組係分析即時影像之對比度,以取得鏡頭之光軸偏移量、偏移方向或偏移距離,並驅動模組係驅動多軸平台移動調整方向或調整距離。
其中,處理模組更分析即時影像以計算傾斜角度、平行度或接著間隙。
其中,顯示模組係顯示傾斜角度、平行度或接著間隙。
其中,處理模組係分析即時影像,以取得鏡頭之傾斜角度、平行度或接著間隙,並驅動模組係驅動多軸平台移動調整角度、調整平行度或調整間隙。
其中,鏡頭更包含自動聚焦鏡片群。
根據本發明之目的,再提出一種應用影像技術之校準方法,適用於一應用影像技術之鏡頭校準系統中,其包含下列步驟:藉由影像擷取模組透過鏡頭擷取標靶圖像,以取得即時影像;利用處理模組分析即時影像以計算對比度、光軸偏移量、偏移方向或偏移距離;以及藉由顯示模組顯示即時影像、對比度、光軸偏移量、 調整方向或調整距離。
其中,此方法更包含利用屏幕顯示標靶圖像。
其中,此方法更包含藉由驅動模組控制馬達移動多軸平台。
其中,此方法更包含提供鏡頭設置於多軸平台上。
其中,此方法更包含利用處理模組分析即時影像之對比度;使用處理模組取得鏡頭之光軸偏移量、偏移方向或偏移距離;以及提供驅動模組驅動多軸平台移動調整方向或調整距離。
其中,此方法更包含提供處理模組分析即時影像;以及透過處理模組計算傾斜角度、平行度或接著間隙。
其中,此方法更包含提供顯示模組顯示傾斜角度、平行度或接著間隙。
其中,此方法更包含提供處理模組分析即時影像;利用處理模組取得鏡頭之傾斜角度、平行度或接著間隙;以及藉由驅動模組驅動多軸平台移動調整角度、調整平行度或調整間隙。
其中,此方法更包含一鏡頭,且鏡頭包含自動聚焦鏡片群。
綜上所述,本發明之應用影像技術之鏡頭校準系統及其校準方法,可藉由影像擷取模組取得即時影像,並即時校正、即時確認其校準結果,不須額外校準元件,藉此可降低生產成本。同時本發明較佳可以自動化模式進行,藉此可避免人工校準造成誤差過大或減低校準所需之工時及人事成本的浪費。
為讓本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯易懂,下文 特舉較佳實施例,並配合所附圖式,作詳細說明如下。
1、2、3‧‧‧應用影像技術之鏡頭校準系統
10‧‧‧屏幕
101‧‧‧標靶圖像
11‧‧‧影像擷取模組
111‧‧‧即時影像
12‧‧‧處理模組
1201‧‧‧對比度
1202‧‧‧光軸偏移量
1203‧‧‧偏移方向
1204‧‧‧偏移距離
1211‧‧‧傾斜角度
1212‧‧‧平行度
1213‧‧‧接著間隙
13‧‧‧顯示模組
14‧‧‧驅動模組
15‧‧‧多軸平台
20‧‧‧鏡頭
21‧‧‧自動聚焦鏡片群
30‧‧‧印刷電路板
S11~S17、S21~S27‧‧‧步驟
第1圖係為本發明之應用影像技術之鏡頭校準系統方塊圖;第2圖係為本發明之應用影像技術之鏡頭校準系統之第一實施例之方塊圖;第3圖係為本發明之應用影像技術之鏡頭校準系統之第一實施例之示意圖;第4圖係為本發明之應用影像技術之校準方法之第一實施例之流程圖;第5圖係為本發明之應用影像技術之鏡頭校準系統之第二實施例之方塊圖;第6圖係為本發明之應用影像技術之鏡頭校準系統之第二實施例之第一示意圖;第7圖係為本發明之應用影像技術之鏡頭校準系統之第二實施例之第二示意圖;以及第8圖係為本發明之應用影像技術之校準方法之第二實施例流程圖。
以下將參照相關圖式,說明依本發明之應用影像技術之鏡頭校準系統及其校準方法之實施例,為使便於理解,下述實施例中之相同元件係以相同之符號標示來說明。
請參閱第1圖,其係為本發明之應用影像技術之鏡頭校準系統方塊圖。如第1圖所示,應用影像技術之鏡頭校準系統可包含一屏幕10、一影像擷取模組11、一處理模組12、一顯示模組13及一驅 動模組14。影像擷取模組11可包含感光元件,如:互補式金氧半導體元件(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor,CMOS)或電荷耦合元件(Charge-Coupled-Device,CCD)。影像擷取模組11可透過鏡頭擷取標靶圖像,以取得即時影像111。其中,鏡頭為一待校準的鏡頭,其可包含一自動聚焦鏡片群。處理模組12係電性連結影像擷取模組11、顯示模組13及驅動模組14,其可為中央處理器(Central Processing Unit,CPU)或微處理器(Micro-Processing Unit)。處理模組12可分析即時影像111以計算對比度,再根據對比度計算鏡頭的光軸偏移量、偏移方向或偏移距離。而且,處理模組12亦可分析即時影像111以計算傾斜角度、平行度或接著間隙。在實施上,處理模組12較佳可自動計算或自動分析即時影像111,然,處理模組12亦可手動設定以分析或計算即時影像111,並不以此為限。
承上所述,顯示模組13可為液晶顯示器(Liquid Crystal Display,LCD)或觸控式液晶螢幕,並可顯示即時影像111、對比度、光軸偏移量、偏移方向或偏移距離。屏幕10可用以顯示標靶圖像。驅動模組14可控制馬達移動多軸平台15,且鏡頭可設置於多軸平台15上以利校準。當處理模組12分析即時影像111的對比度,以取得鏡頭之光軸偏移量、偏移方向或偏移距離時,驅動模組14可驅動多軸平台15,並移動一相對於偏移方向或偏移距離的調整方向或調整距離。因此,本發明之應用影像技術之鏡頭校準系統1具有可針對鏡頭中之自動聚焦鏡片群進行半成品之調芯功能,並可應用於製造變焦鏡頭的製程中。
另外,當處理模組12分析即時影像111取得鏡頭之傾斜角度、平 行度或接著間隙時,驅動模組14可驅動多軸平台15移動調整角度、調整平行度或調整間隙。所以,本發明之應用影像技術之鏡頭校準系統1可調整鏡頭以正確的角度放置在印刷電路板上,具有校準之功能。
請參閱第2圖,其係為本發明之應用影像技術之鏡頭校準系統之第一實施例之方塊圖。如圖所示,應用影像技術之鏡頭校準系統2可包含一屏幕10、一影像擷取模組11、一處理模組12、一顯示模組13、一驅動模組14及多軸平台15。屏幕10可用以顯示標靶圖像101。影像擷取模組11可包含感光元件,如:互補式金氧半導體元件或電荷耦合元件。影像擷取模組11可透過鏡頭擷取標靶圖像101,以取得即時影像111。其中,鏡頭為一待校準的鏡頭,其可包含一自動聚焦鏡片群。處理模組12係電性連結影像擷取模組11、顯示模組13及驅動模組14,其可為中央處理器或微處理器。處理模組12可分析即時影像111以計算對比度1201,再根據對比度1201計算鏡頭的光軸偏移量1202、偏移方向1203或偏移距離1204。在實施上,處理模組12較佳可自動計算或自動分析即時影像111,然,處理模組12亦可手動設定以分析或計算即時影像111,並不以此為限。
承上所述,顯示模組13可為液晶顯示器或觸控式液晶螢幕,並可顯示即時影像111、對比度1201、光軸偏移量1202、偏移方向1203或偏移距離1204。驅動模組14可控制馬達移動多軸平台15,且鏡頭可設置於多軸平台15上以利校準。當處理模組12分析即時影像111的對比度1201,以取得鏡頭之光軸偏移量1202、偏移方向1203或偏移距離1204時,驅動模組14可驅動多軸平台15,並移 動一相對於偏移方向1203或偏移距離1204的調整方向或調整距離。
換句話說,本發明之應用影像技術之鏡頭校準系統2具有可針對鏡頭中之自動聚焦鏡片群進行半成品之調芯功能,並可應用於製造變焦鏡頭的製程中。
第3圖為本發明之應用影像技術之鏡頭校準系統之第一實施例示意圖。請一併參閱第2圖,屏幕10可為電腦螢幕、發光二極體顯示器、背投影螢幕或圖形變換裝置,且屏幕10可顯示標靶圖像101。鏡頭20包含多群鏡片,其中包含自動聚焦鏡片群21,且鏡頭20可設置於多軸平台15上以方便移動進行校準。影像擷取模組11透過鏡頭20擷取標靶圖像101,並取得即時影像111。透過處理模組12可分析即時影像111以對比度1201、光軸偏移量1202、偏移方向1203或偏移距離1204。
另外,處理模組12的計算結果均有其對應的計算方式,舉例來說,在進行對比度1201測試時,將預先得知之標靶圖像101之最亮灰階值及最暗灰階值相減再除以兩者相加,即可得出影像對比度值。換言之,影像擷取模組11可透過鏡頭20取得即時影像111,再代入對應的計算方式即可得出即時影像111之對比度1201。此對比度可再與處理模組12內建之預設值進行比較,即可得出光軸偏移量1202、調整方向或調整距離。
因此,當處理模組12計算出鏡頭20的光軸偏移量1202、偏移方向1203或偏移距離1204時,驅動模組14可根據偏移方向1203或偏移距離1204控制馬達,來驅動多軸平台15移動一調整方向或一調整 距離。在實施上,處理模組12較佳可自動計算或自動分析即時影像111,然,處理模組12亦可手動設定以分析或計算即時影像111,並不侷限於自動方式或手動方式。顯示模組13可為液晶顯示器或觸控式液晶螢幕,並可顯示即時影像111、對比度1201、光軸偏移量1202、偏移方向1203或偏移距離1204。
此外,本發明之應用影像技術之鏡頭校準系統2可包含一電性連接驅動模組14及影像擷取單元11之電源(未繪示),藉以提供校準鏡頭20所需之電力。
綜上所述,本發明之應用影像技術之鏡頭校準系統2最佳可採用自動化判定及透過影像擷取模組11進行擷取即時影像111來進行鏡頭20校準之動作,可解決傳統鏡頭20對焦機對焦工時過長、人力成本過高或生產成本過高之問題,確切達到精確、縮短工時及減少人力成本之功效。
儘管前述在說明本發明之應用影像技術之鏡頭校準系統2的過程中,亦已同時說明本發明之應用影像技術之校準方法的概念,但為求清楚起見,以下仍另繪示流程圖詳細說明。
請參閱第4圖,其係為本發明之應用影像技術之校準方法之第一實施例之流程圖,如圖所示,本發明之應用影像技術之校準方法,其適用於一應用影像技術之鏡頭校準系統2,該應用影像技術之鏡頭校準系統包含一屏幕、一影像擷取模組、一處理模組、一顯示模組及一驅動模組、一多軸平台。應用影像技術之鏡頭校準系統2之校準方法包含下列步驟:步驟S11:利用屏幕顯示標靶圖像; 步驟S12:提供鏡頭設置於多軸平台上;步驟S13:藉由影像擷取模組透過鏡頭擷取標靶圖像,以取得即時影像;步驟S14:利用處理模組分析即時影像之對比度;步驟S15:使用處理模組取得鏡頭之光軸偏移量、偏移方向或偏移距離;步驟S16:提供驅動模組控制馬達移動多軸平台,以移動調整方向或調整距離;以及步驟S17:藉由顯示模組顯示即時影像、對比度、光軸偏移量、偏移方向或偏移距離。
本發明之應用影像技術之鏡頭校準系統2的校準方法的詳細說明以及實施方式已於前面敘述本發明之應用影像技術之鏡頭校準系統2時描述過,在此為了簡略說明便不再敘述。
依據第一實施例,本發明更提出第二實施例作更進一步之舉例說明。
請參閱第5圖,其係為本發明之應用影像技術之鏡頭校準系統之第二實施例之方塊圖。如第5圖所示,應用影像技術之鏡頭校準系統可包含一屏幕10、一影像擷取模組11、一處理模組12、一顯示模組13、一驅動模組14及一多軸平台15。屏幕10可用以顯示標靶圖像101。影像擷取模組11可包含感光元件,如:互補式金氧半導體元件或電荷耦合元件。影像擷取模組11可透過鏡頭擷取標靶圖像101,以取得即時影像111。其中,鏡頭為一待校準的鏡頭,其可包含一自動聚焦鏡片群。處理模組12係電性連結影像擷取模組11、顯示模組13及驅動模組14,其可為中央處理器或微處理 器。處理模組12可分析即時影像111以計算傾斜角度1211、平行度1212或接著間隙1213。在實施上,處理模組12較佳可自動計算或自動分析即時影像111,然,處理模組12亦可手動設定以分析或計算即時影像111,並不以此為限。
承上所述,顯示模組13可為液晶顯示器或觸控式液晶螢幕,並可顯示即時影像111、傾斜角度1211、平行度1212或接著間隙1213。驅動模組14可控制馬達移動多軸平台15,且鏡頭可設置於多軸平台15上以利校準。當處理模組12分析即時影像111取得鏡頭之傾斜角度1211、平行度1212或接著間隙1213時,驅動模組14可驅動多軸平台15移動調整角度、調整平行度或調整間隙。所以,本發明之應用影像技術之鏡頭校準系統3可調整鏡頭以正確的角度放置在印刷電路板上,具有校準之功能。
請參閱第第6圖,其係為本發明之應用影像技術之鏡頭校準系統之第二實施例第一示意圖。請一併參閱第1圖,如圖所示,屏幕10可為電腦螢幕、發光二極體顯示器、背投影螢幕或圖形變換裝置,且屏幕10可顯示標靶圖像101。鏡頭20包含多群鏡片,其中包含自動聚焦鏡片群21。影像擷取模組11透過鏡頭20擷取標靶圖像101,並取得即時影像111。透過處理模組12可分析即時影像111以計算傾斜角度1211、平行度1212或接著間隙1213。當處理模組12計算出鏡頭20與印刷電路板30的傾斜角度1211、平行度1212或接著間隙1213時,驅動模組14可驅動多軸平台15移動調整角度、調整平行度或調整間隙。在實施上,處理模組12較佳可自動計算或自動分析即時影像111,然,處理模組12亦可手動設定以分析或計算即時影像111,並不侷限於自動方式或手動方式。
顯示模組13可為液晶顯示器或觸控式液晶螢幕,且顯示模組13可顯示鏡頭20的傾斜角度1211、平行度1212或接著間隙1213。同時,當多軸平台15移動以校準鏡頭20時,顯示模組13可顯示多軸平台15移動的調整角度、調整平行度或調整間隙。
此外,本發明之應用影像技術之鏡頭校準系統1可包含一電性連接驅動模組14及影像擷取單元11之電源(未繪示),藉以提供校準鏡頭20所需之電力。因此,本發明之應用影像技術之鏡頭校準系統3可調整鏡頭20以正確的角度放置在印刷電路板30上,可應用於製造變焦鏡頭的製程中。
順帶一提的是,在本發明所屬領域中具有通常知識者應當明瞭,於前面敘述方式之鏡頭20、屏幕10或影像擷取模組11設置位置之實施態樣僅為舉例而非限制;另外,熟悉此項技藝者當可任意結合上述之功能模組成一整合式模組,或分拆成各個功能細部單元,端看設計上的方便而定。
第7圖為本發明之應用影像技術之鏡頭校準系統之第二實施例之第二示意圖。請一併參閱第5圖及第6圖,影像擷取模組11透過鏡頭擷取標靶圖像,以取得即時影像111。如圖所示,處理模組12可分析即時影像111中的「+」字,藉由「+」字的位置分析鏡頭20水平旋轉的角度或水平偏移的距離。同時,處理模組12可分析圖中中心的長方形網格,以計算鏡頭20的接著間隙1213,並分析圖中四個角落的四個長方形網格,以計算鏡頭20傾斜角度1211。
因此,處理模組12可分析即時影像111,以取得鏡頭20的傾斜角度1211、平行度1212或接著間隙1213,並驅動模組14可驅動多軸 平台15移動調整角度、調整平行度或調整間隙,來校準鏡頭20使其與光軸垂直。
儘管前述在說明本發明之應用影像技術之鏡頭校準系統3的過程中,亦已同時說明本發明之應用影像技術之校準方法的概念,但為求清楚起見,以下仍另繪示流程圖詳細說明。
請參閱第8圖,其係為本發明之應用影像技術之校準方法之第二實施例之流程圖,如圖所示,本發明之應用影像技術之校準方法,其適用於一應用影像技術之鏡頭校準系統3,該應用影像技術之鏡頭校準系統包含一屏幕、一影像擷取模組、一處理模組、一顯示模組及一驅動模組、一多軸平台。應用影像技術之鏡頭校準系統3之校準方法包含下列步驟:步驟S21:利用屏幕顯示標靶圖像;步驟S22:提供鏡頭設置於多軸平台上;步驟S23:藉由影像擷取模組透過鏡頭擷取標靶圖像,以取得即時影像;步驟S24:提供處理模組分析即時影像;步驟S25:利用處理模組取得鏡頭之傾斜角度、平行度或接著間隙;步驟S26:藉由驅動模組驅動多軸平台移動調整角度、調整平行度或調整間隙;以及步驟S27:提供顯示模組顯示即時影像、傾斜角度、平行度或接著間隙。
本發明之應用影像技術之鏡頭校準系統3的校準方法的詳細說明 以及實施方式已於前面敘述本發明之應用影像技術之鏡頭校準系統3時描述過,在此為了簡略說明便不再敘述。
綜上所述,依本發明之應用影像技術之鏡頭校準系統及其校準方法,其可具有一或多個下述優點:
(1)此發明之應用影像技術之鏡頭校準系統及其校準方法可藉由影像擷取模組取得即時影像,並即時校正、即時確認其校準結果,不須額外校準元件,藉此可降低生產成本。
(2)此發明之應用影像技術之鏡頭校準系統及其校準方法較佳可以自動化模式進行,藉此可減低校準所需之工時及避免人工校準造成之誤差過大。
(3)此發明之應用影像技術之鏡頭校準系統及其校準方法較佳可以自動化模式進行,藉此可減低人事成本的浪費。
以上所述僅為舉例性,而非為限制性者。任何熟習此技藝者,在不脫離本發明之精神和範圍內,當可作些許之更動與潤飾,因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
1‧‧‧應用影像技術之鏡頭校準系統
10‧‧‧屏幕
11‧‧‧影像擷取模組
111‧‧‧即時影像
12‧‧‧處理模組
13‧‧‧顯示模組
14‧‧‧驅動模組
15‧‧‧多軸平台

Claims (9)

  1. 一種應用影像技術之鏡頭校準系統,其包含:一屏幕,係顯示一標靶圖像;一影像擷取模組,係包含電荷耦合元件或互補式金氧半導體元件之一感光元件,該影像擷取模組透過一鏡頭擷取該標靶圖像,以取得一即時影像;一處理模組,電性連結該影像擷取模組,該處理模組係分析該即時影像以計算一對比度、一光軸偏移量、一偏移方向或一偏移距離;一顯示模組,電性連結該處理模組,該顯示模組係顯示該即時影像、該對比度、該光軸偏移量、該偏移方向或該偏移距離;以及一驅動模組,係電性連結該處理模組,該驅動模組係控制一馬達移動一多軸平台;其中,該處理模組係分析該即時影像之該對比度,以取得該鏡頭之該光軸偏移量、該偏移方向或該偏移距離,並該驅動模組係驅動該多軸平台移動該調整方向或該調整距離。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之應用影像技術之鏡頭校準系統,其中該鏡頭係設置於該多軸平台上。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之應用影像技術之鏡頭校準系統,其中該處理模組更分析該即時影像以計算一傾斜角度、一平行度或一接著間隙,並由該顯示模組顯示該傾斜角度、該平行度或該接著間隙。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之應用影像技術之鏡頭校準系統,其中該處理模組係分析該即時影像,以取得該鏡頭之該傾斜角度、該平行度或該接著間隙,並該驅動模組係驅動該多軸平台移動一調整角度、一調整平行度或一調整間隙。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之應用影像技術之鏡頭校準系統,其中該鏡頭包含一自動聚焦鏡片群。
  6. 一種應用影像技術之校準方法,適用於一鏡頭校準系統,該校準方法包含下列步驟:利用一屏幕顯示一標靶圖像;藉由一影像擷取模組透過一鏡頭擷取該標靶圖像,以取得一即時影像;利用一處理模組分析該即時影像以計算一對比度、一光軸偏移量、一偏移方向或一偏移距離;藉由一驅動模組控制一馬達移動一多軸平台;藉由一顯示模組顯示該即時影像、該對比度、該光軸偏移量、該偏移方向或該偏移距離;利用該處理模組分析該即時影像之該對比度;使用該處理模組取得該鏡頭之該光軸偏移量、該偏移方向或該偏移距離;以及提供該驅動模組驅動該多軸平台移動該調整方向或該調整距離。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之應用影像技術之校準方法,更包含下列步驟:提供該鏡頭設置於該多軸平台上。
  8. 如申請專利範圍第6項所述之應用影像技術之校準方法,更包含下列步驟: 提供該處理模組分析該即時影像;透過該處理模組計算一傾斜角度、一平行度或一接著間隙;以及提供該顯示模組顯示該傾斜角度、該平行度或該接著間隙。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之應用影像技術之校準方法,更包含下列步驟:提供該處理模組分析該即時影像;利用該處理模組取得該鏡頭之該傾斜角度、該平行度或該接著間隙;以及藉由該驅動模組驅動該多軸平台移動一調整角度、一調整平行度或一調整間隙。
TW100128802A 2011-08-12 2011-08-12 應用影像技術之鏡頭校準系統及其校準方法 TWI432712B (zh)

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