TWI430158B - Projection method of projection capacitive touch panel - Google Patents

Description

投射電容式觸控面板的掃描方法

本發明係有關於電容式觸控面板，特別是關於投射電容式觸控面板的掃描方法。

電容式觸控面板包括投射電容式和表面電容式，二者工作原理不盡相同。

如圖1所示：為投射式觸控屏1的結構，包括保護層11、基板12、投射電容式觸控面板13以及控制器14；保護層11為透明材料，位於投射電容式觸控面板13的上方；基板12位於投射電容式觸控面板13的下方；控制器14與投射電容式觸控面板13電連接，用於驅動投射電容式觸控面板13工作，所述的控制器14包括脈衝產生器、積分器。

如圖2所示：投射電容式觸控面板13一般是由相互直角相交絕緣的ITO導電電極構成，即第一方向排佈彼此相互平行的M(M≧1)行感應電極(X軸)和沿第二方向排佈亦彼此相互平行且正交於感應電極的N(N≧1)列驅動電極(Y軸)組成，感應電極與驅動電極交叉處形成互電容，共計M×N個互電容。當手指觸摸到投射電容式觸控面板13，被觸摸到的感應電極與驅動電極交叉處的互電容的容值就會減小。現在技術中，投射電容式觸控面板通常採用對互電容進行掃描檢測互電容的容值變化來達成對面板上觸點定位。

如圖3所示的對互電容掃描包括：(1)控制器的脈衝產生器送出一個固定低頻頻率的連續脈衝激勵信號對一條驅動電極充電，(2)控制器的積分器依次(從M=1到M=m)或並行收集到感應電極上與驅動電極相交處會感應出的電荷，控制器將所述的電荷轉化到電壓值作為這些互電容的電壓基準值進行存儲；(3)重複(1)對下一條驅動電極充電；(4)重複(2)得到所有的感應電極與驅動電極交叉處的互電容的電壓值(m×n個互電容的電壓值)。

上述投射電容式觸控面板13對其面板上的觸點定位過程是：

(a)控制器的脈衝產生器送出一個固定低頻頻率的連續脈衝激勵信號對所有的互電容進行掃描，得到所有的互電容的電壓基準值(m×n個互電容的電壓基準值)並存儲；

(b)面板被觸碰；

(c)重複(a)得到相應每個互電容的當前電壓值；

(d)控制器將每個互電容有當前電壓值與對應該互電容的基準電壓比較，判斷出當前電壓值超出一定差值的互電容，即受觸碰影響的互電容；

(e)計算出(d)確定出受觸碰影響的互電容所集中的區域進行重心計算，判斷出實際觸摸點的位置。

上述傳統的投射電容式觸控面板對整個面板所有電極交叉處的互電容進行掃描偵測，都是用相同的頻率激勵信號。雖然所有互電容的容值理論上都相同，但是由於每條驅動電極與所有的感應電極交叉處的互電容與積分器之間的ITO長度的不同，連接到積分器的電阻值不同，所以各條驅動電極與所有的感應電極交叉處的互電容的阻容常數也不同。越靠近積分器的互電容的阻容常數越小，越遠離積分器的互電容的阻容常數越大。尤其是對於大尺寸的觸摸面板，第一條驅動電極與所有的感應電極交叉處的互電容的阻容常數與最後一條驅動電極與所有的感應電極交叉處的互電容的阻容常數存在很大差異。為了保證定位的精度，傳統的投射電容式觸控面板均採用較低的單一頻率激勵信號進行掃描，以便能夠對每個的互電容取得穩定的電壓值，但是低頻率掃描意味著需要花費較長的時間。因此採用單一低頻率的激勵信號掃描，並不是一種優良化的掃描方式。

鑑於上述，本發明實施例的目的之一在於提出一種投射電容式觸控面板的掃描方法，具有更快的掃描速度和更高的掃描準確度，適用對中、大尺寸面板掃描。

根據本發明實施例所揭露之一種投射電容式觸控面板的掃描方法，該投射電容式觸控面板包括沿第一方向排佈的至少一條感應電極和沿第二方向排佈的複數條驅動電極，該感應電極和驅動電極交叉排佈且彼此絕緣，在彼此交叉處形成互電容，其中驅動電極的一端與一脈衝產生器相連，感應電極的一端與一積分器相連，該掃描方法包括如下步驟：

(A)　根據所有的互電容分別到積分器之間的阻容常數，將所有的互電容分成複數組互電容組，分別設定各組互電容組的第一標準電壓值、第一變化差值和每個互電容的第二標準電壓值、第二變化差值；

(B)　對所有互電容組個別施加一單一頻率激勵信號進行掃描，以得到各互電容組內所有互電容各自的第一當前電壓值，其中該些單一頻率激勵信號的頻率高低與該些互電容組所代表的阻容常數的高低成反比；並將所有互電容的第一當前電壓值分別與所屬互電容組的第一標準電壓值比較，以將每一第一當前電壓值與第一標準電壓值的差值超出第一變化差值的互電容標示為一可疑互電容；

(C)對所述的可疑互電容施加一低頻率激勵信號進行掃描，得到所述的可疑互電容的一第二當前電壓值，並將所述的可疑互電容的第二當前電壓值與對應的第二標準電壓值比較，以將第二當前電壓值與第二標準電壓值的差值超出第二變化差值的可疑互電容判斷為一受觸碰影響的互電容。

本發明的掃描方法根據互電容阻容常數的不同將激勵脈衝的頻率設置為不同的值，可以使得掃描獲得的電壓值不致於相差太多，提高掃描的精度；同時由於相應與阻容常數較低的互電容採用了較高頻率的激勵脈衝，且僅對於可疑互電容使用較低頻率的激勵信號掃描，掃描的互電容數量大大減少，因而掃描的時間會有所減少，提高了掃描的速度。因而，本發明的掃描方法對觸點定位掃描及時、準確性高，尤其適合於中、大尺寸投射電容式觸控面板。

如圖6所示，本發明的掃描方法主要由投射電容式觸控面板13和控制器完成，投射電容式觸控面板13與控制器之間電性連接，所述投射電容式觸控面板13包括：至少一沿第一方向(如橫向)排佈的感應電極13X，及複數條沿第二方向(如縱向)排佈的驅動電極13Y。其中，本實施例的感應電極13X是例如採用M行相互平形的ITO導體之設計，而驅動電極13Y則是採用N行相互平行且正交於感應電極13X的ITO導體之設計，並且感應電極13X與驅動電極13Y的交叉處分別形成一互電容，共計M×N個互電容。所述的控制器包括脈衝產生器、積分器(圖未示)，其中脈衝產生器與驅動電極13Y的一端相連，積分器與感應電極13X的一端相連。該掃描方法如圖7所示，包括如下步驟：

(A)　根據所有互電容分別到積分器之間的阻容常數高低，將所有的互電容歸類分成複數組互電容組，分別設定各互電容組的第一標準電壓值、第一變化差值和每個互電容的第二標準電壓值、第二變化差值；

(B)　控制器對阻容常數相對較低的互電容組施加相對較高的單一頻率激勵信號，以此類推，對阻容常數相對較高的互電容組則是施加相對較低的單一頻率激勵信號來進行掃描，以得到各組內所有互電容的第一當前電壓值。換句話說，控制器是對所有互電容組個別施加單一頻率激勵信號，其中單一頻率激勵信號的頻率高低是與各互電容組所代表的阻容常數的高低成反比。並且控制器將該些掃描得到的互電容的第一當前電壓值分別與所屬互電容組的第一標準電壓值比較，以將各組內第一當前電壓值與第一標準電壓值的差值超出第一變化差值的互電容標示為一可疑互電容；

(C)控制器對可疑互電容施加一個低頻率激勵信號進行掃描，得到所述的各個可疑互電容的第二當前電壓值，並與對應該互電容的第二標準電壓值比較，判斷出第二當前電壓值與第二標準電壓值的差值超出第二變化差值的互電容，即受觸碰影響的互電容。

上述的第一當前電壓值與第一標準電壓值的差值或第二當前電壓值與第二標準電壓值的差值均表示相差的絕對值，如第一當前電壓值可高於或低於第一標準電壓值。

在實際投射電容式觸控面板13被觸碰時，如圖6所示，至少一行感應電極13X與至少一列驅動電極13Y會被觸碰到。這是因為相互平行的所有感應電極13X之間以及相互平行的所有驅動電極13Y之間的較佳寬度是手指一半大小，所以通常有兩或三個感應電極13X與三或兩個驅動電極13Y被觸碰到，一般超過8個互電容受到觸碰影響，這些互電容的電壓值變化可以被檢測到。

如圖7所示：上述(B)步驟中各組內所有互電容的第一當前電壓值分別與所屬組別的第一標準電壓值比較，第一當前電壓值與第一標準電壓值的差值皆未超出第一變化差值時，則重複本步驟。

如圖7所示：上述(C)步驟中各個互電容的第二當前電壓值與對應該互電容的第二標準電壓值比較，第二當前電壓值與第二標準電壓值的差值皆未超出第二變化差值時，則重複(B)步驟。

如圖7所示：在(C)步驟之後增加一步驟(D)，控制器14進一步依據一預定範圍來判斷(C)步驟中所判斷出的所有受觸碰影響的互電容的集中區域，以對該集中區域中的所有受觸碰影響的互電容進行重心運算，如採用現有方法中的九宮演算法進行運算，達成對觸摸點的定位。該預定範圍可示例為手指觸摸時所能覆蓋的範圍，受觸碰影響的互電容應該落在該預定範圍內。該預定範圍在多點觸摸時具有重要意義，可避免將兩個觸碰區域合併成一個觸碰區域處理。假設該集中區域內有4個受觸碰影響的互電容之交叉點，各點座標為(Xa,Ya)、(Xb,Yb)、(Xc,Yc)、(Xd,Yd)，各點對應的感應電壓值分別為Ua、Ub、Uc、Ud，則該區域的重心(X，Y)計算為

X=(Xa*Ua+Xb*Ub+Xc*Uc+Xd*Ud)/(Ua+Ub+Uc+Ud)，

Y=(Ya*Ua+Yb*Ub+Yc*Uc+Yd*Ud)/(Ua+Ub+Uc+Ud)。

上述(A)步驟中所述的將所有的互電容根據到積分器的阻容常數高低分成至少兩組，對於中尺寸的投射電容式觸控面板，互電容數量較少可以分成數量較少的互電容組；對於大尺寸的投射電容式觸控面板，互電容數量較多可以分成數量較多的互電容組，不同互電容組之間可以採用等分或差分的方式劃分：等分方式為：以驅動電極13Y的方向的軸線為界，將所有互電容進行劃分後，各組互電容數量相等；差分方式為：以驅動電極的方向的軸線為界，將所有互電容進行劃分後，各組互電容數量不等。如圖4所示，將投射式觸控面板13的互電容依阻容常數的高低等分成高、中、低三組互電容組，第一組21阻容常數較高、第二組22阻容常數居中、第三組23阻容常數較低。

上述(A)步驟中設定各組互電容的第一標準電壓值和設定每個互電容的第二標準電壓值為直接存儲設定在控制器14中，或者控制器14對互電容進行掃描設定，這裡對互電容的掃描方式與現有技術類似，不同的是對不同組內的互電容採取的掃描頻率各不相同，比如控制器對阻容常數越低的組的互電容施加越高的單一頻率激勵信號、對阻容常數越高的組的互電容施加相對較低的單一頻率激勵信號進行掃描，得到各組內所有互電容各自的一第一初始電壓值，取均值作為該組互電容的第一標準電壓值進行存儲。

如圖4所示，控制器對阻容常數高的第一組21內的互電容統一施加300KHz頻率激勵信號進行掃描，對阻容常數居中的第二組22組內的互電容施加600KHz頻率激勵信號進行掃描，對阻容常數低的第三組23內的互電容施加1.2MHz頻率激勵信號進行掃描，分別得到第一組21、第二組22、第三組23內所有互電容的第一初始電壓值，取第一組21內所有互電容的第一初始電壓值均值作為第一組21互電容的第一標準電壓值進行存儲，同理得到第二組22互電容的第一標準電壓值、第三組23互電容的第一標準電壓值。

為得到更為穩定準確的互電容的第一標準電壓值，控制器按上述方式分別對第一組21、第二組22、第三組23內的互電容進行多次掃描，具體包括脈衝產生器對積分器離較遠、阻容常數較高的第一組21內的驅動電極13Y統一施加相對較低的單一300KHz頻率激勵信號依次(從N=2/3 n到N=n)進行多次充電，積分器依次(從M=1到M=m)或並行收集到感應電極上13X與驅動電極13Y交叉處(所有互電容)感應的電荷，控制器14將所述的感應電荷轉化成第一初始取樣電壓值，得到第一組21內各個互電容的複數個第一初始取樣電壓值並進而取平均值以得到第一組21內所有互電容各自的第一初始電壓值，再對第一組21的所有互電容的第一初始電壓值再取均值作為第一組21的第一標準電壓值進行存儲，同理得到第二組22互電容的第一標準電壓值、第三組23互電容的第一標準電壓值。

如圖5所示，設定每個互電容的第二標準電壓值為控制器對所有的互電容統一施加300KHz的低頻率激勵信號進行掃描，得到各個互電容的一第二初始電壓值，並作為各個互電容的第二標準電壓值進行存儲，共計得到M×N個互電容的第二標準電壓值。得到更為穩定準確的互電容的第二標準電壓值，控制器按上述方式所有的互電容進行多次掃描，得到各個互電容的複數個第二初始取樣電壓值並進而各取均值來作為各個互電容的第二標準電壓值進行存儲，具體為脈衝產生器對所有驅動電極13Y施加一個300KHz的低頻率激勵信號依次(從N=1到N=n)進行多次充電，積分器依次(從M=1到M=m)或並行收集到感應電極上與驅動電極相交處感應的電荷，控制器將所述的感應電荷轉化成第二初始取樣電壓值，得到各個互電容的複數個第二初始取樣電壓值並進而各取均值作為各個互電容的第二標準電壓值進行存儲。

上述(B)步驟中對各組內的互電容進行掃描方式與上述介紹設定各組互電容的第一標準電壓值原理相同，即控制器對(A)步驟中繪出的各組內所有互電容施加與(A)步驟中對該組進行掃描時使用頻率相同的激勵信號進行掃描，如圖4所示：控制器仍對阻容常數高的第一組21內的互電容統一施加300KHz頻率激勵信號進行掃描，對阻容常數居中的第二組22組內的互電容施加600KHz頻率激勵信號進行掃描，對阻容常數低的第三組23內的互電容施加1.2MHz頻率激勵信號進行掃描，分別得到第一組21、第二組22、第三組23內所有互電容的第一當前電壓值，具體為脈衝產生器對(A)步驟中第一組21內的驅動電極13Y統一施加相對較低的單一300KHz頻率激勵信號依次(從N=2/3 n到N=n)充電，積分器依次(從M=1到M=m)或並行收集到感應電極上13X與驅動電極13Y交叉處感應的電荷，控制器將所述的感應的電荷轉化成第一組21內所有互電容各自的第一當前電壓值，同理得到第二組22內所有互電容各自的第一當前電壓值及第三組23內所有互電容各自的第一當前電壓值，並且不同組內的所有互電容各自的第一當前電壓值分別與所屬組別的第一標準電壓值比較，判斷出超出第一變化差值的互電容。

然而引起這些互電容的電壓值變化的原因有，一是受觸碰影響而導致互電容的電壓值發生變化，二是使用高頻率的激勵信號掃描可能存在充電不足而導致互電容的電壓值發生變化，這些超出第一變化差值的互電容只能算作可疑互電容；需要再對可疑互電容進行解析。

上述(C)步驟中對可疑互電容進行掃描方式與上述介紹設定所有互電容的第二標準電壓值原理相同，控制器對(B)步驟中確定的可疑互電容施加一個與上述介紹設定所有互電容的第二標準電壓值中頻率相同的激勵信號進行掃描，得到各個互電容的第二當前電壓值，並與對應該互電容的第二標準電壓值比較，判斷出超出第二變化差值的互電容，即受觸碰影響的互電容。如圖5所示，具體為脈衝產生器對可疑互電容所對應的驅動電極13Y施加一個300KHz的低頻率激勵信號依次(從N=1到N=n)進行充電，積分器依次或並行收集到感應電極上13X與驅動電極13Y交叉處感應的電荷，控制器將感應電荷轉化成第二當前電壓值，得到各個互電容的第二當前電壓值，並與對應該互電容的第二標準電壓值比較，判斷出超出第二變化差值的互電容，即受觸碰影響的互電容，排除因高頻率激勵信號可能存在充電不足影響的互電容。

現以我們57×42投射電容式面板為例，模擬用一個人手指進行觸摸，假設只影響到一行感應電極13X與一列驅動電極13Y被觸碰到，透過一組具體的實驗資料來論證本發明的方法的優點。

首先，測試互電容的電壓受激勵信號的頻率影響情況，我們分別採用高頻、中頻、低頻激勵信號分別所有的驅動電極進行充電，測試了與之相交一行感應電極對應的互電容的電壓，電壓的變化回饋如下表：

透過上表可以看出對於300KHz、600KHz及1.2MHz的激勵信號，第一條驅動電極與最後一條驅動電極相比，其電壓的壓降分別為31%，76.7%及100%，這就證明瞭低頻信號具有更好線性，採用較低頻率的激勵信號可以在每個互電容處產生更穩定的電壓或在所有的互電容產生更相近的電壓。

其次，如圖4所示：對驅動電極依據離積分器遠近存在阻容常數不同，我們將整個面板上所的互電容分成三個組。對第一組21內的互電容我們使用了300KHz的激勵信號進行掃描；對第二組22內的互電容我們使用了600KHz的激勵信號掃描；而對第三組23內的互電容我們使用了1.2MHz的激勵信號掃描，判斷出各組內電壓值變化超出第一變化差值的互電容。

最後，如圖5所示：對於已經確定超出第一變化差值的互電容使用300khz低頻率掃描。

從上例子中可以看出，本發明的掃描方法先針對不同組的互電容採用不同頻率300KHz、600KHz及1.2MHz的激勵信號進行掃描，而後僅僅對可疑互電容使用300KHz的激勵信號進掃描，由於可疑互電容數量較少，對可疑互電容進行掃描所花時間很少，所以本發明的掃描方法與傳統方法對所有的互電容都採用300khz來掃描相比，掃描時間節省了兩倍多，對觸點定位及時，特別適合對中、大尺寸投射電容式觸控面板進行掃描。

以上該僅為本發明之較佳實施例而已，並非用以限定本發明之申請專利範圍；凡其他未脫離發明所揭示之精神下所完成之等效改變或修飾，均應包含在下述之申請專利範圍內。

1．．．投射式觸控屏

11．．．保護層

12．．．基板

13．．．投射式觸控面板

13X．．．感應電極

13Y．．．驅動電極

14．．．控制器

21．．．第一組

22．．．第二組

23．．．第三組

圖1是現有的投射式觸控屏的結構示意圖；

圖2是現有的投射電容式觸控面板的結構示意圖；

圖3是現有的投射電容式觸控面板對互電容進行掃描示意圖；

圖4是本發明的投射電容式觸控面板設定第一標準電壓值時對互電容進行掃描示意圖；

圖5是本發明的投射電容式觸控面板設定第二標準電壓值時對互電容進行掃描示意圖；

圖6是本發明的投射電容式觸控面板受觸碰影響的互電容示意圖；

圖7是本發明的投射電容式觸控面板的掃描方法示意框圖。

(本案之指定代表圖為流程圖，故無元件符號簡單說明)

Claims (16)

1. 一種投射電容式觸控面板的掃描方法，該投射電容式觸控面板包括至少一條沿第一方向排佈的感應電極和複數條沿第二方向排佈的驅動電極，該感應電極和該些驅動電極係交叉排佈且彼此絕緣，以在交叉處分別形成一互電容，其中該些驅動電極的一端與一脈衝產生器電性連接，該些感應電極的一端與一積分器電性連接，該掃描方法包括如下步驟：(A)根據該些互電容分別到該積分器之間的阻容常數高低，將該些互電容分成複數組互電容組，並且分別設定每一該些互電容組的一第一標準電壓值、一第一變化差值和每一該些互電容的一第二標準電壓值、一第二變化差值；(B)對該些互電容組個別施加一單一頻率激勵信號進行掃描，以得到該些互電容組內的該些互電容各自的一第一當前電壓值，其中該些單一頻率激勵信號的頻率高低係與該些互電容組所代表的阻容常數的高低成反比；將該些互電容的第一當前電壓值分別與所屬互電容組的第一標準電壓值比較，以將第一當前電壓值與第一標準電壓值的差值超出第一變化差值的互電容標示為一可疑互電容；(C)對所述的可疑互電容施加一低頻率激勵信號進行掃描，以得到所述的可疑互電容的一第二當前電壓值，並將所述的可疑互電容的第二當前電壓值與對應的第二標準電壓值比較，以將第二當前電壓值與第二標準電壓值的 差值超出該第二變化差值的可疑互電容判斷為一受觸碰影響的互電容。
2. 如專利申請範圍第1項所述之投射電容式觸控面板的掃描方法，其特徵在於：步驟(B)中，若每一第一當前電壓值與第一標準電壓值的差值皆未超出第一變化差值時，則重複步驟(B)。
3. 如專利申請範圍第1項所述之投射電容式觸控面板的掃描方法，其特徵在於：步驟(C)中，若所述的第二當前電壓值與第二標準電壓值的差值皆未超出第二變化差值時，則重複步驟(B)。
4. 如專利申請範圍第1項所述之投射電容式觸控面板的掃描方法，其特徵在於：進一步依據一預定範圍來判斷所述的受觸碰影響的互電容的集中區域，以對該集中區域內的受觸碰影響的互電容進行重心運算。
5. 如專利申請範圍第1項所述之投射電容式觸控面板的掃描方法，其特徵在於：該第一方向為橫向，該第二方向為縱向，並且該些驅動電極為相互平行且分別正交於該感應電極。
6. 如專利申請範圍第1項所述之投射電容式觸控面板的掃描方法，其特徵在於：根據該些互電容分別到積分器之間的阻容常數高低，將該些互電容等分成該些互電容組。
7. 如專利申請範圍第1項所述之投射電容式觸控面板的掃描方法，其特徵在於：根據該些互電容分別到積分 器之間的阻容常數高低，將該些互電容差分成該些互電容組。
8. 如專利申請範圍第1項所述之投射電容式觸控面板的掃描方法，其特徵在於：進一步對該些互電容組個別施加該單一頻率激勵信號進行掃描，以得到該些互電容組內的該些互電容各自的一第一初始電壓值，並分別針對該些互電容組，取各自的該些第一初始電壓值的均值來對應設定為該第一標準電壓值。
9. 如專利申請範圍第8項所述之投射電容式觸控面板的掃描方法，其特徵在於：進一步對該些互電容組個別施加該單一頻率激勵信號進行多次掃描，以得到該些互電容組內的該些互電容各自的複數個第一初始取樣電壓值，並且分別針對該些互電容，取各自的該些第一初始取樣電壓值的均值來對應得到該第一初始電壓值。
10. 如專利申請範圍第9項所述之投射電容式觸控面板的掃描方法，其特徵在於：由該脈衝產生器對該些互電容組個別施加該單一頻率激勵信號進行多次充電，由該積分器依次或並行收集到該些互電容組的該些互電容各自所感應的複數個電荷，由一控制器將該些電荷轉化成該些第一初始取樣電壓值。
11. 如專利申請範圍第1項所述之投射電容式觸控面板的掃描方法，其特徵在於：進一步對該些互電容施加該低頻率激勵信號進行掃描，得到該些互電容各自的一第二初始電壓值，並分別將該些互電容的第二初始電壓值對應 設定為該第二標準電壓值。
12. 如專利申請範圍第11項所述之投射電容式觸控面板的掃描方法，其特徵在於：進一步對該些互電容施加該低頻率激勵信號進行多次掃描，得到該些互電容各自的複數個第二初始取樣電壓值，並且分別針對該些互電容，取各自的該些第二初始取樣電壓值的均值來對應設定為該第二標準電壓值。
13. 如專利申請範圍第12項所述之投射電容式觸控面板的掃描方法，其特徵在於：由該脈衝產生器對該些互電容施加該低頻率激勵信號依次進行多次充電，由該積分器依次或並行收集到該些互電容組的該些互電容各自所感應的複數個電荷，由一控制器將該些電荷轉化成該些第二初始取樣電壓值。
14. 如專利申請範圍第1項所述之投射電容式觸控面板的掃描方法，其特徵在於：步驟(B)中，由該脈衝產生器對該些互電容組個別施加該單一頻率激勵信號依次進行充電，由該積分器依次或並行收集到該些互電容組中的該些互電容各自所感應的電荷，由一控制器將該電荷轉化成該第一當前電壓值。
15. 如專利申請範圍第1項所述之投射電容式觸控面板的掃描方法，其特徵在於：步驟(C)具體包括由該脈衝產生器對所述的可疑互電容對應的驅動電極施加該低頻率激勵信號依次進行充電，由該積分器依次或並行收集到所述的可疑互電容感應的電荷，由一控制器將該電荷轉化 成該第二當前電壓值。
16. 如專利申請範圍第1項所述之投射電容式觸控面板的掃描方法，其特徵在於：步驟(A)中根據該些互電容分別到積分器之間的阻容常數高低，將該些互電容分成三組高、中、低阻容常數的互電容組，並且對該高阻容常數的互電容組施加300KHz頻率激勵信號進行掃描，對該中阻容常數的互電容組施加600KHz頻率激勵信號進行掃描，對該低阻容常數的互電容組施加1.2MHz頻率激勵信號進行掃描，得到該些高、中、低阻容常數的互電容組內的該些互電容各自的一第一初始電壓值，並分別針對該些高、中、低阻容常數的互電容組，取各自的該些第一初始電壓值的均值來對應設定為各互電容組的該第一標準電壓值，並且對該些互電容施加300KHz頻率激勵信號進行掃描，得到該些互電容各自的一第二初始電壓值，並分別將該些互電容的第二初始電壓值對應設定為該第二標準電壓值；步驟(B)中，對該高阻容常數的互電容組施加300KHz頻率激勵信號進行掃描，對該中阻容常數的互電容組施加600KHz頻率激勵信號進行掃描，對該低阻容常數的互電容組施加1.2MHz頻率激勵信號進行掃描，得到該些高、中、低阻容常數的互電容組內的該些互電容各自的第一當前電壓值；步驟(C)中，對所述的可疑互電容施加300KHz頻率激勵信號進行掃描，得到所述的互電容的第二當前電壓值。