TWI410244B - 經絡儀及檢測方法 - Google Patents
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Description
本發明關於一種經絡儀及其檢測方法,特別是有關於一種提供時變電壓的經絡儀及其檢測方法。
中國醫學認為經絡的穴位可反映人體臟腑的功能。1950年日本中谷義雄提出一種良導絡,據此探測人體體表特定點的電阻值,得到量化的測量結果,並根據測量結果來判斷人體臟腑的狀態,惟該所謂體表特定點大部份是為傳統中國針灸醫學上之十二原穴,但亦有不吻合的測定點。請參閱圖一,圖一係繪示一種習知的良導絡儀。如圖一所示,良導絡儀1包含電源供應器10、電阻12、可變電阻14、直流電流表16、以及金屬棒17和檢測棒18。電源供應器10用來提供一固定電壓的直流電,且電源供應器10與電阻12、可變電阻14、及直流電流表16串聯。測量時將金屬棒(負極)17交由受測者以單手適度握持,檢測棒(正極)18接觸受測者之穴位,藉此得到該穴位的電阻值。並據此取人體左右12點共24點加以統計換算產生判讀。
然而利用習知良導絡儀偵測時,施加一固定電壓的直流電流於受測者,用來檢測的直流電會與人體組織產生解離效應,導致流經人體的電流產生非線性的變化,干擾穴位電阻的量測,而降低了測量的精確度。
基於上述,本發明之一範疇為提供一種經絡儀,可減少解離現象及雜訊的產生,並提高測量的精確度。
本發明之另一範疇為提供一種應用上述經絡儀的檢測方法,可有效判斷人體的機能正常與否。
為達上述部分、其中之一或其他目的,本發明之一具體實施例提供一種經絡儀。經絡儀包含主裝置以及電極模組。主裝置具有波形產生單元、控制單元,其中波形產生單元用以產生時變電壓以及檢測電流,控制單元用以控制時變電壓於第一預定範圍內,以及控制檢測電流於第二預定範圍內。此外,時變電壓包含一浮動參考電位。電極模組電連接主裝置,具有第一電極以及第二電極,第一電極適於接觸受測者的皮膚而第二電極適於接觸受測者的一穴位以得到檢測值。
本發明另一實施例提供一種檢測方法,其包含下列步驟。
提供一經絡儀,經絡儀適於產生時變電壓與檢測電流,並包含第一電極及第二電極;將第一電極接觸受測者之皮膚,且將該第二電極接觸該受測者一側之第一穴位以產生第一檢測值;將第二電極接觸受測者另一側之第二穴位以產生第二檢測值,其中第一穴位的位置對應於第二穴位之位置;計算第一檢測值與第二檢測值的差值;以及比較差值與預定值;其中若差值的絕對值大於預定值則判斷為異常,若該差值的絕對值小於或等於該預定值則判斷為正常。
綜上所述,本發明一實施例提供一種經絡儀。經絡儀提供一時變電壓以及檢測電流,檢測時由於電壓隨著時間改變故可有效減少電荷的累積,減少解離現象的產生。本發明之另一實施例提供一種應用上述此經絡儀的檢測方法,藉由計算兩相對穴位檢測值的差值,並將差值與一預定值比較,藉此來判斷正常與否。
為讓本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯易懂,下文特舉較佳實施例,並配合所附圖式,作詳細說明如下。
參閱圖二及圖三。圖二繪示本發明一實施例之經絡儀功能方塊圖。圖三繪示本發明一實施例之經絡儀示意圖。如圖二及圖三所示,經絡儀2包括主裝置22、以及電極模組24。
於本實施例中,為了驅動經絡儀2,經絡儀2可外接電源模組3,或者是直接包含一電源模組,電源模組3產生驅動電壓及驅動電流提供給主裝置22。電源模組3所提供的驅動電壓可為+12V、+5V、+15V、-5V、-15V。此外,為了防止不當迴路產生及隔離雜訊,於本實施例中,電源模組3還電連接一隔離變壓器(未繪於圖中)。當然於其他實施例中,電源模組3可不連接隔離變壓器。
而與電源模組3電連接的主裝置22包含有波形產生單元222、控制單元224。波形產生單元222將從電源模組3所接收之驅動電壓及驅動電流轉換成隨時間變化的時變電壓及檢測電流。而控制單元224適於控制時變電壓於第一預定範圍內,並控制檢測電流於第二預定範圍內。舉例來說,第一預定範圍為+10V~-10V,而第二預定範圍則大於0mA,且小於或等於1mA。波形產生單元222所產生的時變電壓,電壓值隨時間而變。
請參閱圖四A至圖四D,圖四A至圖四D為本發明一實施例之時變電壓的波形。如圖四A至圖四D所示,橫軸為時間,縱軸為電壓值。此外,時變電壓包含浮動參考電位6(以虛線繪示)、大於浮動參考電位6的高電位、和小於或等於浮動參考電位6的低電位。時變電壓的波形可如圖四A之方形波,此方形波的參考電位為1V,且包含高於1V的高電位及小於或等於浮動參考電位1V的低電位,當然時變電壓的波形亦可如圖四B,其週期、波形類似於圖四A,但浮動參考電位6為0V,並且具有大於零的高電位,和小於零的低電位。或者如圖四C、圖四D所示之週期波,其浮動參考電位6分別為0V、1V。實際上時變電壓的波形可為方形波、週期波、連續波或其他種類的波形,並且浮動參考電位6可隨著施測者的需求改變。
承上文,主裝置22與電源模組3電連接以接收驅動電壓及驅動電流,並轉換驅動電壓及驅動電流成時變電壓及檢測電流。主裝置22除了與電源模組3電連接外,還與電極模組24電連接,使得時變電壓及檢測電流傳送至電極模組24。其中,電極模組24包含第一電極240及第二電極242。於實際應用中,第一電極240可為如圖三所示的電極貼片,或者是金屬棒等導電材料所製成的電極,本實施例僅是作為說明,第一電極240不以上述為限。而第二電極242可為圖三所示之檢測棒,前端具有相對小的接觸點。
於實際應用中,將第一電極240與受測者5的皮膚接觸,而第二電極242則與受測者5的穴位接觸,例如:大陵穴,但不以此為限。藉此形成了迴路。於本實施例中,主裝置22除了包含波形產生單元222及控制單元224外,還可包含如圖二所示之處理單元226及顯示單元228,其中處理單元226用以處理及運算和放大訊號,而顯示單元228則顯示測量的結果。舉例來說:當形成上述之迴路時,檢測電流流經受測者5傳回主裝置22,然後藉由主裝置22中的處理單元226的運算出對應於受測者接受測試的穴位檢測值,如:電流值、電壓值、電阻值、阻抗值,但不以此為限。由於不同的時間所測量的檢測值不盡相同,處理單元226可根據設計者的設定計算出平均值、均方根值、標準差、或其他數值,並由與處理單元226電連接之顯示單元228顯示。
由於上述實施例中,時變電壓具浮動參考電位6、高電位及低電位,其中高電位大於浮動參考電位6而低電位小於或等於浮動參考電位6。電壓值隨時間改變,故可以減少如先前技術中解離效應及電荷持續累積的問題。且於若主裝置22所提供之時變電壓如圖四B所示時,時變電壓的浮動參考電位6為零,而高電位為大於零之正值,低電位為小於或零之負值。由於電壓值隨著時間正負交替,故可以改變電流的方向,更能有效減少電荷累積的問題。當然時變電壓的參考電位可不為零,可由施測者來決定。
於實際應用中,可運用上述之經絡儀2來檢測。請參閱圖五,圖五為本發明一實施例之檢測方法流程圖,並請同時參閱圖二至圖四。如圖五所示,檢測方法包含下列步驟S01~S05:S01:提供經絡儀2。於檢測時,先提供一個如圖二所示之經絡儀2,經絡儀2適於產生時變電壓與檢測電流,並且包含第一電極240及第二電極242。當提供經絡儀2後,執行步驟S02。
S02:將第一電極240接觸受測者5之皮膚,且將第二電極242接觸受測者5一側之第一穴位以產生第一檢測值。當欲檢測受測者5時,將經絡儀2電極模組24中的第一電極240接觸受測者5的皮膚,通常接觸的位置為掌心,當然並不受限於此。然後再將第二電極242接觸受測者5身體左側或右側的穴位,例如:位於左側之十二經穴其中之一。然後得到關於該穴位的檢測值,在此稱之第一檢測值。於執行步驟S02之後,執行步驟S03。
S03:將第二電極接觸受測者另一側之一第二穴位以產生一第二檢測值,其中第一穴位的一位置對應於第二穴位之一位置。若於步驟S02第二電極242所接觸的為受測者左側的某一穴位,於步驟S03中,則將第二電極242改為接觸相對於先前受測穴位之右側的穴位。然後得到第二檢測值,並執行步驟S04和S05。
S04:計算第一檢測值與第二檢測值的差值。當得到第一檢測值及第二檢測值時,將此兩檢測值相減,得到差值。
S05:比較差值的絕對值與預定值,並根據比較結果判斷正常或異常。其中若差值的絕對值大於預定值則判斷為異常,若差值的絕對值小於或等於該預定值則判斷為正常。舉例而言,當測量得之第一測量值為1.1,而第二測量值為1.2則差值的絕對值為0.1。當預定值為0.17時,由於0.17大於0.1故判斷關於該穴位所得到的檢測值是介於正常的範圍內。在此要特別說明的是,如先前文章中所提及的,經由圖二所示之經絡儀2而得到的檢測值,實際上可為電壓值、電阻值、電流值、或其他數值經處理單元226計算後所得之平均數、均方根、變異差、或其他統計數值,不同的數值對應不同的預定值。故隨著施測者設定上的不同,判斷檢測結果正常與否的預定值也會隨之改變。
綜上所述,本發明之一實施例提供一種經絡儀,經絡儀提供一時變電壓以及檢測電流。本發明之另一實施例提供一種應用上述此經絡儀的檢測方法,藉由計算兩相對穴位檢測值的差值,並將差值的絕對值與一預定值比較來判斷正常與否。本發明實施例中,利用時變電壓來檢測受測者,故得以降低單位時間內電壓與電流之乘積減少偵測人體組織時所產生的解離效應及電荷持續累積,以提高檢測的精確度。
雖然本發明已以較佳實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明,任何所屬技術領域中具有通常知識者,在不脫離本發明之精神和範圍內,當可作些許之更動與潤飾。
1、2...經絡儀
10...電源供應器
12...電阻
14...可變電阻
16...直流電流表
17...金屬棒
18...檢測棒
22...主裝置
222...波形產生單元
224...控制單元
226...處理單元
228...顯示單元
24...電極模組
240...第一電極
242...第二電極
3...電源模組
5...受測者
6...浮動參考電位
S01~S05...步驟
圖一繪示習知的經絡儀示意圖。
圖二繪示本發明一實施例之經絡儀功能方塊圖。
圖三繪示本發明一實施例之經絡儀示意圖。
圖四A至圖四D為本發明一實施例之時變電壓的波形。
圖五繪示本發明一實施例的檢測方法流程圖。
2...經絡儀
22...主裝置
222...波形產生單元
224...控制單元
226...處理單元
228...顯示單元
24...電極模組
3...電源模組
5...受測者
Claims (18)
- 一種經絡儀,包含:一主裝置,該主裝置包含一波形產生單元、一控制單元,其中該波形產生單元適於產生一時變電壓及一檢測電流,該控制單元適於控制該時變電壓於一第一預定範圍內、控制該檢測電流於一第二預定範圍內,該時變電壓包含一浮動參考電位;以及一電極模組,該電極模組電連接該主裝置,包含一第一電極以及一第二電極,其中該第一電極適於接觸一受測者的皮膚,且該第二電極適於接觸該受測者之一穴位得到一檢測值。
- 如申請專利範圍第1項所述之經絡儀,其中該主裝置與一電源模組電連接,該電源模組適於提供一驅動電壓及一驅動電流至該主裝置中。
- 如申請專利範圍第2項所述之經絡儀,其中該經絡儀更包含有一隔離變壓器,該隔離變壓器電連接該電源模組。
- 如申請專利範圍第1項所述之經絡儀,其中該主裝置更包含有一處理單元。
- 如申請專利範圍第1項所述之經絡儀,其中該主裝置更包含一顯示單元適於顯示該檢測值。
- 如申請專利範圍第1項所述之經絡儀,其中該第一預定範圍為+10V~-10V。
- 如申請專利範圍第1項所述之經絡儀,其中該第二預定範圍大於0mA且小於或等於1mA。
- 如申請專利範圍第1項所述之經絡儀,其中該時變電壓更包含一高電位及一低電位,該高電位大於該浮動參考電位,該低電位小於或等於該浮動參考電位。
- 如申請專利範圍第1項所述之經絡儀,其中該時變電壓的一波形為一方形波、一週期波或一連續波。
- 一種檢測方法,包含下列步驟:提供一經絡儀,該經絡儀適於產生一時變電壓與一檢測電流,其中該經絡儀包含一第一電極及一第二電極;將該第一電極接觸一受測者之皮膚,且將該第二電極接觸該受測者一側之一第一穴位以產生一第一檢測值;將該第二電極接觸受測者另一側之一第二穴位以產生一第二檢測值,其中該第一穴位的一位置對應於該第二穴位之一位置;計算該第一檢測值與該第二檢測值的一差值;以及比較該差值與一預定值,其中若該差值的一絕對值大於該預定值則判斷為異常,若該差值之該絕對值小於或等於該預定值則判斷為正常。
- 如申請專利範圍第10項所述之檢測方法,其中該第一、二穴位為十二經穴其中之一。
- 如申請專利範圍第10項所述之檢測方法,其中該經絡儀包含:一主裝置,該主裝置包含一波形產生單元、一控制單元,其中該波形產生單元適於產生該時變電壓及該檢測電流,該控制單元適於控制該時變電壓於一第一預定範圍內、控制該檢測電流於一第二預定範圍內,該時變電壓包含一浮動參考電位;以及一電極模組,該電極模組電連接主裝置,包含該第一電極以及該第二電極。
- 如申請專利範圍第12項所述之檢測方法,其中該主裝置更包含有一處理單元。
- 如申請專利範圍第12項所述之檢測方法,其中該主裝置更包含一顯示單元適於顯示該檢測值。
- 如申請專利範圍第12項所述之檢測方法,其中該第一預定範圍為+10V~-10V。
- 如申請專利範圍第12項所述之檢測方法,其中該第二預定範圍大於0mA且小於或等於1mA。
- 如申請專利範圍第12項所述之檢測方法,其中該時變電壓更包含一高電位及一低電位,該高電位大於該浮動參考電位,該低電位小於或等於該浮動參考電位。
- 如申請專利範圍第12項所述之檢測方法,其中該時變電壓的一波形為一方形波、一週期波或一連續波。
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TW99103452A TWI410244B (zh) | 2010-02-05 | 2010-02-05 | 經絡儀及檢測方法 |
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TW99103452A TWI410244B (zh) | 2010-02-05 | 2010-02-05 | 經絡儀及檢測方法 |
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TW201127364A TW201127364A (en) | 2011-08-16 |
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Family Applications (1)
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TW99103452A TWI410244B (zh) | 2010-02-05 | 2010-02-05 | 經絡儀及檢測方法 |
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Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US6108580A (en) * | 1998-02-26 | 2000-08-22 | Greenspan; Kenneth | Apparatus and method for stress reduction |
TWM258733U (en) * | 2004-03-01 | 2005-03-11 | Long Well Electronics Corp | Acupuncture point massager |
CN2899708Y (zh) * | 2005-07-18 | 2007-05-16 | 何伟 | 电子自动探穴仪 |
-
2010
- 2010-02-05 TW TW99103452A patent/TWI410244B/zh active
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