TWI404956B

TWI404956B - 液晶顯示面板的測試方法

Info

Publication number: TWI404956B
Application number: TW99131833A
Authority: TW
Inventors: Wei Ting Lan; Cheng Chi Yen; Ju Tien Cheng
Original assignee: Himax Display Inc
Priority date: 2010-09-20
Filing date: 2010-09-20
Publication date: 2013-08-11
Also published as: TW201213821A

Description

液晶顯示面板的測試方法

本發明是有關於一種測試方法，且特別是有關於一種液晶顯示面板的測試方法。

矽基液晶(Liquid Crystal on Silicon panel，LCOS)面板是一種架構在矽晶圓(silicon wafer)上的液晶面板。此外，LCOS面板不僅具備體積小的優勢，還具有不錯的解析度，因此廣泛地應用在各類型的液晶投影機中。

在整體架構上，LCOS面板是以金氧半電晶體(MOS transistor)取代傳統液晶顯示器的薄膜電晶體，且畫素電極(pixel electrode)是以金屬材質為主，因此LCOS面板是屬於一種反射型的液晶面板。對於反射型的液晶面板來說，高反射率將有助於提升面板的光效率。因此，在實際佈局上，LCOS面板中畫素的間距勢必越小越好，以提升LCOS面板的反射率。

然而，隨著畫素之間距的變小，將伴隨著畫素電極短路的風險。針對此種情況，製造廠商往往是在LCOS面板組裝完成後，透過點亮的畫面才發現LCOS面板的異常。如此一來，不僅增加了面板的生產時間，更加重了面板的生產成本。因此，如何在矽晶圓出廠時，立即檢測出畫素電極短路的問題，已是LCOS面板在測試上所面臨了一大課題。

本發明提供一種液晶顯示面板的測試方法，適用於具有彩色濾光片的矽基液晶面板，並用以降低面板的生產成本。

本發明提供一種液晶顯示面板的測試方法，適用於採用色序法的矽基液晶面板，並用以降低面板的生產時間。

本發明提供一種液晶顯示面板的測試方法，適用於採用色序法的矽基液晶面板，並用以在矽晶圓出廠時即可檢測出液晶電容錯誤連接的問題。

本發明提出一種液晶顯示面板的測試方法，其中矽基液晶面板包括多個畫素與一測試墊，這些畫素設置在第一至第三資料配線與多條掃描配線的交錯處，且所述液晶顯示面板的測試方法包括下列步驟：驅動每一掃描配線，以將這些畫素的液晶電容導通至第一至第三資料配線；分別提供第一測試電壓與第二測試電壓至第一資料配線與第二資料配線，其中第一測試電壓不等於第二測試電壓；將第一資料配線浮接；以及，透過測試墊量測浮接的第一資料配線，以判定電性連接至第一資料配線與第二資料配線的畫素中的液晶電容是否電性相連。

在本發明之一實施例中，上述之液晶顯示面板的測試方法，更包括：提供第一測試電壓至第三資料配線；將第三資料配線浮接；以及，透過測試墊量測浮接的第三資料配線，以判定電性連接至第三資料配線與第二資料配線的畫素中的液晶電容是否電性相連。

本發明提出另一種液晶顯示面板的測試方法，其中矽基液晶面板包括多個畫素與多個測試墊，每一畫素各自包括一預充電容、一緩衝器與一液晶電容，這些畫素電性連接一掃描配線、一顯示配線與多條資料配線，且液晶顯示面板的測試方法包括下列步驟：禁能每一畫素的緩衝器；驅動掃描配線與顯示配線，以將這些畫素的液晶電容與預充電容導通至資料配線；傳送第一測試電壓至這些資料配線中的奇數條資料配線，並傳送第二測試電壓至這些資料配線中的偶數條資料配線，其中第二測試電壓不等於第一測試電壓；將所述奇數條資料配線或是所述偶數條資料配線浮接；以及，透過部份測試墊量測浮接的奇數條資料配線或是偶數條資料配線，以判定這些畫素中的液晶電容是否電性相連。

本發明提出又一種液晶顯示面板的測試方法，其中矽基液晶面板包括M個畫素與一測試墊，每一畫素各自包括一預充電容、一緩衝器與一液晶電容，這些畫素電性連接M條掃描配線、M條顯示配線與一資料配線，M為不小於2的整數，且液晶顯示面板的測試方法包括下列步驟：禁能每一畫素的緩衝器；將第j個畫素內的液晶電容與預充電容充電至第一測試電壓，j為小於M的正整數；將第(j+1)個畫素內的液晶電容與預充電容充電至第二測試電壓，其中第一測試電壓不等於第二測試電壓；在驅動第(j+1)條掃描配線與第(j+1)條顯示配線的期間，致能第j個畫素內的緩衝器，並浮接資料配線；以及，在驅動第(j+1)條掃描配線與第(j+1)條顯示配線的期間，透過測試墊量測浮接的資料配線，以判定第j個畫素與第(j+1)個畫素內的液晶電容是否電性相連。

基於上述，本發明是將畫素分別充電至不同的測試電壓，並將部分資料配線切換至浮接狀態。藉此，透過量測浮接的資料配線而取得的量測電壓，將可用以判別畫素中的液晶電容是否因應畫素電極的短路而形成錯誤的連接。此外，本發明的測試方法可在面板尚未組裝前即可檢測出液晶電容錯誤連接的問題，因此可降低面板的生產時間以及生產成本。

為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

圖1為依據本發明之一實施例之液晶顯示面板的測試方法流程圖。其中，圖1所述之測試方法是以具有彩色濾光片(color filter)的矽基液晶面板為例，因此在說明圖1實施例之前，以下將先就具有彩色濾光片之矽基液晶面板的結構進行說明。

圖2為依據本發明之一實施例之具有彩色濾光片之矽基液晶面板的結構示意圖。參照圖2，矽基液晶面板200包括多個畫素P21~P26、多個開關SW21~SW23、一切換單元210與一測試墊220。畫素P21~P26的上方各自設有一彩色濾光片(未繪示出)，例如：畫素P21~P23分別對應紅色、綠色與藍色三個彩色濾光片。此外，畫素P21~P26設置在第一至第三資料配線DL21~DL23與多條掃描配線SL21~SL22的交錯處。開關SW21~SW23電性連接至第一至第三資料配線DL21~DL23，故開關SW21~SW23的導通與否將決定第一至第三資料配線DL21~DL23是否浮接(floating)。切換單元210會將第一至第三資料配線DL21~DL23之其一導通至測試墊220，以對畫素P21~P26進行量測。

此外，畫素P21~P26各自包括一液晶電容與一畫素開關。例如，畫素P21包括液晶電容CL21與畫素開關M21。在實際佈局上，液晶電容CL21~CL26的上電極板皆設置在同一電路層。舉例來說，圖3為用以說明圖2之液晶電容的上電極板的佈局示意圖。參照圖3，金屬電極R11、G11、B11分別為液晶電容CL21~CL23的上電極板，而金屬電極R12、G12、B12則分別為液晶電容CL24~CL26的上電極板。此外，隨著畫素P21~P26之間距的縮減，相鄰的兩金屬電極可能會短路而電性相連。例如，短路之畫素電極所造成的錯誤連接可能在金屬電極G11與B11之間形成一寄生電阻R3，進而導致金屬電極G11與B11電性相連。

為了在矽晶圓出廠時立即檢測出畫素電極短路的問題，也就是液晶電容錯誤連接的問題，以下將以圖1的流程圖來說明如何對圖2所示的矽基液晶面板200進行測試。請同時參照圖1與圖2，一開始，如步驟S111所示，將驅動每一掃描配線。例如，此時將提供高電壓給掃描配線SL21~SL22，以導通畫素P21~P26中的畫素開關M21~M26。相對地，畫素P21~P26中的液晶電容CL21~CL26將分別電性連接至相應的資料配線。

接著，如步驟S112所示，將這些畫素的液晶電容充電至一共同電壓。舉例來說，此時共用配線CDL將用以傳送共同電壓，且透過開關SW21~SW23的同時或依序導通，第一至第三資料配線DL21~DL23將同時或依序接收到共同電壓。藉此，畫素P21~P26中的液晶電容CL21~CL26將可先重置到共同電壓。之後，如步驟S113與步驟S114所示，將提供一第一測試電壓至第一資料配線與第三資料配線，並提供一第二測試電壓至第二資料配線，其中第一測試電壓不等於第二測試電壓。

舉例來說，此時面板驅動器(未繪示出)將參照一測試圖樣(pattern)，例如：FF/00/FF，而依序輸出第一測試電壓(例如：5V)、第二測試電壓(例如：10V)、第一測試電壓(例如：5V)至共用配線CDL。藉此，隨著開關SW21~SW23的依序導通，電性連接至第一資料配線DL21的液晶電容CL21將充電至第一測試電壓(例如：5V)，電性連接至第二資料配線DL22的液晶電容CL22將充電至第二測試電壓(例如：10V)，且電性連接至第三資料配線DL23的液晶電容CL23將充電至第一測試電壓(例如：5V)。

再者，如步驟S115與步驟S116所示，將第一資料配線與第三資料配線浮接，並透過測試墊量測浮接的第一資料配線與第三資料配線，以藉此判定這些畫素中的液晶電容是否電性相連。舉例來說，此時將不導通開關SW21與SW23，以將第一資料配線DL21與第三資料配線DL23維持在浮接的狀態。當金屬電極G11與B11錯誤連接(如圖3所示)時，液晶電容CL22將透過寄生電阻R3電性連接至液晶電容CL23。且知，此時位在第二行的液晶電容CL22與位在第三行的液晶電容CL23具有不同的電壓位準，因此液晶電容CL22與CL23將因應的電荷分享效應而導致其電壓位準產生變化。

相對地，當切換單元210將測試墊220電性連接至浮接的第三資料配線DL23時，將可量測出一量測電壓。藉由量測電壓與第一測試電壓的比較，將可判別位在第二行的液晶電容CL22與位在第三行的液晶電容CL23是否電性相連。其中，當量測電壓與第一測試電壓不相等時，則代表液晶電容CL22與/或CL23的電壓位準產生變化，故可判定位在第二行的液晶電容CL22與位在第三行的液晶電容CL23電性相連。相對地，當量測電壓與第一測試電壓相等時，則代表液晶電容CL22與CL23的電壓位準沒有產生變化，故可判定位在第二行的液晶電容CL22與位在第三行的液晶電容CL23沒有電性相連。

相似地，透過切換單元210的切換，測試墊220將可電性連接至浮接的第一資料配線DL21，進而量測出另一量測電壓。此時，由於位在第一行的液晶電容CL21與位在第二行的液晶電容CL22具有不同的電壓位準，因此藉由另一量測電壓與第一測試電壓的比較，也可判別位在第一行的液晶電容CL21與位在第二行的液晶電容CL22是否電性相連。其中，位在第一行的液晶電容CL21即是電性相連至第一資料配線DL21的液晶電容，以此類推液晶電容與資料配線的相應關係。

更進一步來看，如圖3所示的，基於金屬電極的排列方式，金屬電極錯誤連接的態樣包括：R11連接G11、G11連接B11、以及R11連接B11。也就是說，液晶電容錯誤連接的態樣包括：第一行與第二行之液晶電容的錯誤連接、第二行與第三行之液晶電容的錯誤連接、以及第一行與第三行之液晶電容的錯誤連接。其中，步驟S111~S116已檢測出第一行與第二行之液晶電容的錯誤連接、以及第二行與第三行之液晶電容的錯誤連接。因此，以下將透過步驟S121~S124來說明關於第一行與第三行之液晶電容的錯誤連接的測試。

請繼續參照圖1與圖2，如步驟S121所示，在進行另一錯誤連接的測試時，會將這些畫素的液晶電容重新充電至共同電壓。舉例來說，此時共用配線CDL將再次傳送共同電壓，且透過開關SW21~SW23的切換，畫素P21~P26中的液晶電容CL21~CL26將重置到共同電壓。接著，如步驟S122所示，將分別提供第一測試電壓與第二測試電壓至第三資料配線與第一資料配線。

舉例來說，此時面板驅動器(未繪示出)將參照另一測試圖樣，例如：FF/FF/00，而依序輸出第一測試電壓(例如：5V)、第一測試電壓(例如：5V)、與第二測試電壓(例如：10V)至共用配線CDL。藉此，隨著開關SW21~SW23的依序導通，電性連接至第一資料配線DL21與第二資料配線DL22的液晶電容CL21、CL22將充電至第一測試電壓(例如：5V)，且電性連接至第三資料配線DL23的液晶電容CL23將充電至第二測試電壓(例如：10V)。

再者，如步驟S123與步驟S124所示，將第一資料配線浮接，並透過測試墊量測浮接的第一資料配線，以藉此判定位在第一行與第三行的液晶電容是否電性相連。舉例來說，透過切換單元210的切換，測試墊220將可電性連接至浮接的第一資料配線DL21，進而量測出又一量測電壓。此時，由於位在第一行的液晶電容CL21與位在第三行的液晶電容CL23具有不同的電壓位準，因此藉由又一量測電壓與第一測試電壓的比較，將可判別位在第一行的液晶電容CL21與位在第三行的液晶電容CL23是否電性相連。

圖4為依據本發明之另一實施例之液晶顯示面板的測試方法流程圖。其中，圖4所述之測試方法是以採用色序法(color sequential)的矽基液晶面板為例，也就是本實施例之顯示面板是利用發光二極體(light-emitting diodes)來產生背光源。因此，在說明圖4實施例之前，以下將先就採用色序法之矽基液晶面板的結構進行說明。

圖5為依據本發明之一實施例之採用色序法之矽基液晶面板的結構示意圖。參照圖5，矽基液晶面板500包括多個畫素P51~P54、多個開關SW51~SW52、多個切換單元511~512與多個測試墊521~522。畫素P51~P54採用預充電的機制，因此每一畫素包括一預充電容、一液晶電容、一緩衝器與兩個畫素開關。舉例來說，畫素P51包括預充電容CP51、液晶電容CL51、緩衝器501與兩個畫素開關M512與M513。此外，為了分別控制預充電機制下的兩畫素開關，每一畫素分別電性連接至一掃描配線、一顯示配線與一資料配線。例如，畫素P51電性連接至掃描配線SL51、顯示配線PL51與資料配線DL51。

此外，為了能夠在測試畫素時直接量測到液晶電容的電壓變化，每一畫素更包括電性連接在資料配線與緩衝器的輸出端之間的畫素開關。舉例來說，畫素P51除了包括兩個畫素開關M512與M513以外，更包括另一畫素開關M511，其中畫素開關M511電性連接在資料配線DL51與緩衝器501的輸出端之間。再者，為了測試畫素，每一資料配線的一端會電性連接至一開關，且其另一端會透過一切換單元電性連接至一測試墊。例如，資料配線DL51的一端電性連接至開關SW51，且其另一端透過切換單元511電性連接至測試墊521。

在實際佈局上，液晶電容CL51~CL54的上電極板皆設置在同一佈局層，且其上電極板呈現田字型的排列。因此，液晶電容錯誤連接的組合例如包括：左右相鄰之畫素中的液晶電容的錯誤連接、以及上下相鄰之畫素中的液晶電容的錯誤連接。舉例來說，如圖5所示，短路之畫素電極所造成的錯誤連接可能在液晶電容CL53與CL54之間形成一寄生電阻R51，進而造成左右相鄰之兩畫素P53與P54中的液晶電容CL53與CL54的錯誤連接。圖6為依據本發明之另一實施例之採用色序法之矽基液晶面板的結構示意圖，如圖6所示，短路之畫素電極所造成的錯誤連接也可能在液晶電容CL51與CL53之間形成一寄生電阻R52，進而造成上下相鄰之兩畫素P51與P53中的液晶電容CL51與CL53的錯誤連接。

以下請同時參照圖4與圖5來看，關於左右相鄰之畫素中的液晶電容的測試。如步驟S410所示，在測試液晶電容之錯誤連接的過程中，每一畫素的緩衝器將被禁能。舉例來說，此時畫素P51~P54中的緩衝器501~504將不會被啟動。此外，如步驟S420所示，掃描配線與顯示配線將被驅動。舉例來說，此時將提供高電壓給掃描配線SL51~SL52與顯示配線PL1~PL52，以導通畫素P51~P54中的每一畫素開關。藉此，畫素P51~P54中的液晶電容CL51~CL54與預充電容CP51~CP54將分別電性連接至相應的資料配線。

接著，如步驟S430所示，傳送第一測試電壓至多條資料配線中的奇數條資料配線，並傳送第二測試電壓至所述多條資料配線中的偶數條資料配線，其中第二測試電壓不等於第一測試電壓。舉例來說，此時開關SW51與SW52將導通，以致使面板驅動器(未繪示出)分別傳送第一測試電壓(例如：0V)與第二測試電壓(例如：6V)給資料配線DL51與DL52。藉此，電性連接至資料配線DL51的液晶電容CL53將充電至第一測試電壓(例如：0V)，且電性連接至資料配線DL52的液晶電容CL54將充電至第二測試電壓(例如：6V)。

再者，如步驟S440與步驟S450所示，將奇數條資料配線或是偶數條資料配線浮接，並透過部份測試墊量測浮接的奇數條資料配線或是偶數條資料配線，以判定左右相鄰之畫素中的液晶電容是否錯誤連接。舉例來說，倘若資料配線DL51被維持在浮接的狀態，則透過切換單元511的切換，測試墊521將可透過切換單元511電性連接至浮接的資料配線DL51，進而量測出一量測電壓。

且知，位在第一行的液晶電容CL53與位在第二行的液晶電容CL54具有不同的電壓位準。因此，當畫素電極短路而形成寄生電阻R51時，如電流路徑530所示，液晶電容CL53與CL54之間將透過寄生電阻R51產生電荷分享，進而導致液晶電容CL53的電壓位準產生變化。藉此，當資料配線DL51被維持在浮接的狀態時，藉由量測電壓與第一測試電壓的比較，將可判別左右相鄰之畫素中的液晶電容是否電性相連。

其中，當量測電壓與第一測試電壓不相等時，則可判定位在第一行的液晶電容CL53與位在第二行的液晶電容CL54電性相連。相對地，當量測電壓與第一測試電壓相等時，則可判定位在第一行的液晶電容CL53與位在第二行的液晶電容CL54沒有電性相連。相對地，當資料配線DL52被維持在浮接的狀態時，將可藉由量測浮接的資料配線DL52來取得量測電壓，並可藉由量測電壓與第二測試電壓的比較，來判別左右相鄰之畫素中的液晶電容是否電性相連。

圖7為依據本發明之又一實施例之液晶顯示面板的測試方法流程圖。其中，圖7所述之測試方法是以採用色序法的矽基液晶面板為例，並用以測試上下相鄰之畫素中的液晶電容的錯誤連接。因此，以下請同時參照圖6與圖7來看，關於上下相鄰之畫素中的液晶電容的測試，且以下將以電性連接至資料配線DL51的M個畫素P51與P53為例進行說明，其中M等於2。

如步驟S710所示，在測試液晶電容之錯誤連接的過程中，一開始，每一畫素的緩衝器將被禁能。舉例來說，在測試液晶電容的初期，畫素P51~P54中的緩衝器501~504將不會被啟動。此外，如步驟S720所示，將第j個畫素內的液晶電容與預充電容充電至第一測試電壓，j為小於M的正整數。

舉例來說，以第1個畫素P51為例來看，此時將提供高電壓給掃描配線SL51與顯示配線PL1，以導通畫素P51中的畫素開關M511~M513。此外，開關SW51將導通，以致使面板驅動器(未繪示出)傳送第一測試電壓(例如：6V)至資料配線DL51。藉此，導通的畫素開關M511~M513會將來自資料配線DL51的第一測試電壓(例如：6V)傳送至液晶電容CL51與預充電容CP51，進而致使液晶電容CL51與預充電容CP51充電至第一測試電壓(例如：6V)。換言之，步驟S720的細部流程包括：驅動第j條掃描配線與第j條顯示配線；以及，傳送第一測試電壓至資料配線。

接著，如步驟S730所示，將第(j+1)個畫素內的液晶電容與預充電容充電至第二測試電壓，其中第一測試電壓不等於第二測試電壓。

舉例來說，當第1個畫素P51充電完之後，將對下一畫素P53進行充電。此時，將驅動掃描配線SL52與顯示配線PL52，而其餘的掃描配線與顯示配線則不被驅動。藉此，畫素P53中的畫素開關M531~M533將被導通。此外，面板驅動會透過導通的開關SW51傳送第二測試電壓(例如：0V)至資料配線DL51。藉此，來自資料配線DL51的第二測試電壓(例如：0V)將傳送至液晶電容CL53與預充電容CP53，進而致使液晶電容CL53與預充電容CP53充電至第二測試電壓(例如：0V)。換言之，步驟S730的細部流程包括：驅動第(j+1)條掃描配線與第(j+1)條顯示配線；以及，傳送第二測試電壓至資料配線。

再者，如步驟S740所示，在驅動第(j+1)條掃描配線與第(j+1)條顯示配線的期間，致能第j個畫素內的緩衝器，並浮接資料配線。舉例來說，在驅動掃描配線SL52與顯示配線PL52的期間，上一畫素P51中的緩衝器501會被致能，且透過開關SW51的不導通，資料配線DL51將被切換至浮接狀態。也就是說，在驅動掃描配線SL52與顯示配線PL52的期間，畫素P53會進行充電，之後將驅動上一畫素P51中的緩衝器501，並浮接資料配線DL51。

此外，如步驟S750所示，在驅動第(j+1)條掃描配線與第(j+1)條顯示配線的期間，透過測試墊量測浮接的資料配線，以判定第j個畫素與第(j+1)個畫素內的液晶電容是否電性相連。舉例來說，透過切換單元511的切換，測試墊521將可透過切換單元511電性連接至浮接的資料配線DL51，進而量測出一量測電壓。且知，位在第一列的液晶電容CL51與位在第二列的液晶電容CL53具有不同的電壓位準。因此，如圖6所示，當畫素電極短路而形成寄生電阻R52時，如電流路徑540所示，被驅動的緩衝器501將透過寄生電阻R52導致液晶電容CL51與CL53之間的電荷分享，進而導致液晶電容CL53的電壓位準產生變化。藉此，藉由量測電壓與第二測試電壓的比較，將可判別是上下相鄰之畫素中的液晶電容是否電性相連。

其中，當量測電壓與第二測試電壓不相等時，則代表液晶電容CL53的電壓位準產生變化，故可判定位在第一列的液晶電容CL51與位在第二列的液晶電容CL53電性相連。相對地，當量測電壓與第二測試電壓相等時，則代表液晶電容CL53的電壓位準沒有產生變化，故可判定位在第一列的液晶電容CL51與位在第二列的液晶電容CL53沒有電性相連。

綜上所述，本發明是將畫素分別充電至不同的測試電壓，並將部分資料配線切換至浮接狀態。藉此，透過量測浮接的資料配線而取得的量測電壓，將可用以判別畫素中的液晶電容是否因應畫素電極的短路而形成錯誤的連接。此外，本發明的測試方法可在矽晶圓出廠時立即檢測出液晶電容錯誤連接的問題，因此可降低面板的生產時間以及生產成本。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

S111~S116、S121~S124．．．用以說明圖1之實施例的各步驟流程

200、500．．．矽基液晶面板

210、511~512．．．切換單元

220、521~522．．．測試墊

SW21~SW23、SW51~SW52．．．開關

P21~P26、P51~P54．．．畫素

DL21~DL23．．．資料配線

SL21~SL22．．．掃描配線

CDL．．．共用配線

CL21~CL26、CL51~CL54．．．液晶電容

M21~M26、M511~M513、M521~M523、M531~M533、M541~M543．．．畫素開關

R11、R12、R21、R22、R31、R32、G11、G12、G21、G22、B11、B12、B21、B22．．．金屬電極

R3、R51、R52．．．寄生電阻

S410~S450．．．用以說明圖4之實施例的各步驟流程

CP51~CP54．．．預充電容

501~504．．．緩衝器

530、540．．．電流路徑

S710~S750．．．用以說明圖7之實施例的各步驟流程

圖1為依據本發明之一實施例之液晶顯示面板的測試方法流程圖。。

圖2為依據本發明之一實施例之具有彩色濾光片之矽基液晶面板的結構示意圖。。

圖3為用以說明圖2之液晶電容的上電極板的佈局示意圖。

圖4為依據本發明之另一實施例之液晶顯示面板的測試方法流程圖。

圖5為依據本發明之一實施例之採用色序法之矽基液晶面板的結構示意圖。

圖6為依據本發明之另一實施例之採用色序法之矽基液晶面板的結構示意圖。

圖7為依據本發明之又一實施例之液晶顯示面板的測試方法流程圖。

S111~S116、S121~S124．．．用以說明圖1之實施例的各步驟流程

Claims

一種液晶顯示面板的測試方法，其中該液晶顯示面板包括多個畫素與一測試墊，該些畫素設置在一第一至一第三資料配線與多條掃描配線的交錯處，且該液晶顯示面板的測試方法包括：驅動每一該些掃描配線，以將該些畫素的液晶電容導通至該第一至該第三資料配線；分別提供一第一測試電壓與一第二測試電壓至該第一資料配線與該第二資料配線，其中該第一測試電壓不等於該第二測試電壓；將該第一資料配線浮接；以及透過該測試墊量測浮接的該第一資料配線以取得一量測電壓，並比較該量測電壓與該第一測試電壓以判定電性連接至該第一資料配線與該第二資料配線的該些畫素中的液晶電容是否電性相連。
如申請專利範圍第1項所述之液晶顯示面板的測試方法，更包括：提供該第一測試電壓至該第三資料配線；將該第三資料配線浮接；以及透過該測試墊量測浮接的該第三資料配線，以判定電性連接至該第三資料配線與該第二資料配線的該些畫素中的液晶電容是否電性相連。
如申請專利範圍第1項所述之液晶顯示面板的測試方法，更包括：將該些畫素的液晶電容充電至一共同電壓。
如申請專利範圍第3項所述之液晶顯示面板的測試方法，更包括：將該些畫素的液晶電容重新充電至該共同電壓；分別提供該第一測試電壓與該第二測試電壓至該第一資料配線與該第三資料配線；將該第一資料配線浮接；以及透過該測試墊量測浮接的該第一資料配線，以判定電性連接至該第一資料配線與該第三資料配線的該些畫素中的液晶電容是否電性相連。
如申請專利範圍第1項所述之液晶顯示面板的測試方法，其中透過該測試墊量測浮接的該第一資料配線以取得該量測電壓，並比較該量測電壓與該第一測試電壓以判定電性連接至該第一資料配線與該第二資料配線的該些畫素中的液晶電容是否電性相連的步驟包括：將該測試墊電性連接至浮接的該第一資料配線；根據該量測電壓與該第一測試電壓的比較結果判別該量測電壓與該第一測試電壓是否相等；當該量測電壓與該第一測試電壓不相等時，則判定電性連接至該第一資料配線與該第二資料配線的該些畫素中的液晶電容電性相連；以及當該量測電壓與該第一測試電壓相等時，則判定電性連接至該第一資料配線與該第二資料配線的該些畫素中的液晶電容電性不相連。
一種液晶顯示面板的測試方法，其中該液晶顯示面板包括多個畫素與多個測試墊，每一該些畫素各自包括一預充電容、一緩衝器與一液晶電容，該些畫素電性連接一掃描配線、一顯示配線與多條資料配線，且該液晶顯示面板的測試方法包括：禁能每一該些畫素的該緩衝器；驅動該掃描配線與該顯示配線，以將該些畫素的該些液晶電容與該些預充電容導通至該些資料配線；傳送一第一測試電壓至該些資料配線中的奇數條資料配線，並傳送一第二測試電壓至該些資料配線中的偶數條資料配線，其中該第二測試電壓不等於該第一測試電壓；將所述奇數條資料配線或是所述偶數條資料配線浮接；以及透過部份該些測試墊量測浮接的所述奇數條資料配線或是所述偶數條資料配線，以判定該些畫素中的該些液晶電容是否電性相連。
如申請專利範圍第6項所述之液晶顯示面板的測試方法，其中透過部份該些測試墊量測浮接的所述奇數條資料配線或是所述偶數條資料配線，以判定該些畫素中的該些液晶電容是否電性相連的步驟包括：將部份該些測試墊電性連接至所述奇數條資料配線或是所述偶數條資料配線，以量測出多個量測電壓；逐一將該些量測電壓與該第一測試電壓或是該第二測試電壓進行比較，以判別該些量測電壓之其一是否與該第一測試電壓相等；當該些量測電壓之其一與該第一測試電壓或是該第二測試電壓不相等時，則判定部份該些畫素中的該些液晶電容電性相連；以及當該些量測電壓皆相等於該第一測試電壓或是該第二測試電壓時，則判定該些畫素中的該些液晶電容電性不相連。
一種液晶顯示面板的測試方法，其中該液晶顯示面板包括M個畫素與一測試墊，每一該些畫素各自包括一預充電容、一緩衝器與一液晶電容，該些畫素電性連接M條掃描配線、M條顯示配線與一資料配線，M為不小於2的整數，且該液晶顯示面板的測試方法包括：禁能每一該些畫素的該緩衝器；將第j個畫素內的該液晶電容與該預充電容充電至一第一測試電壓，j為小於M的正整數；將第(j+1)個畫素內的該液晶電容與該預充電容充電至一第二測試電壓，其中該第一測試電壓不等於該第二測試電壓；在驅動第(j+1)條掃描配線與第(j+1)條顯示配線的期間，致能第j個畫素內的該緩衝器，並浮接該資料配線；以及在驅動第(j+1)條掃描配線與第(j+1)條顯示配線的期間，透過該測試墊量測浮接的該資料配線，以判定第j個畫素與第(j+1)個畫素內的該些液晶電容是否電性相連。
如申請專利範圍第8項所述之液晶顯示面板的測試方法，其中將第j個畫素內的該液晶電容與該預充電容充電至該第一測試電壓的步驟包括：驅動第j條掃描配線與第j條顯示配線；以及傳送該第一測試電壓至該資料配線。
如申請專利範圍第8項所述之液晶顯示面板的測試方法，其中將第(j+1)個畫素內的該液晶電容與該預充電容充電至該第二測試電壓的步驟包括：驅動第(j+1)條掃描配線與第(j+1)條顯示配線；以及傳送該第二測試電壓至該資料配線。
如申請專利範圍第8項所述之液晶顯示面板的測試方法，其中透過該測試墊量測浮接的該資料配線，以判定第j個畫素與第(j+1)個畫素內的該些液晶電容是否電性相連的步驟包括：將該測試墊電性連接至浮接的該資料配線，以量測出一量測電壓；將該量測電壓與該第二測試電壓進行比較，以判別該量測電壓與該第二測試電壓是否相等；當該量測電壓與該第二測試電壓不相等時，判定第j個畫素與第(j+1)個畫素內的該些液晶電容電性相連；以及當該量測電壓與該第二測試電壓相等時，判定第j個畫素與第(j+1)個畫素內的該些液晶電容電性不相連。