TWI401617B - 獲取圖像偏移位置的方法及裝置 - Google Patents

Description

獲取圖像偏移位置的方法及裝置

本發明涉及圖像處理技術領域，尤其涉及一種獲取圖像偏移位置的方法及裝置。

在自動測試系統中，一幅圖像往往是由多幅圖像通過層層疊加而構成的。當上層圖像和下層圖像疊加在一起而構成一幅圖像時，如果上層圖像和下層圖像完全重疊，則上層圖像的邊緣在下層圖像上不會形成圖像分界，此時上層圖像在下層圖像上就不存在偏移位置，或者說上層圖像在下層圖像上的偏移位置為零；相反，如果上層圖像和下層圖像不是完全重疊，且上層圖像完全落在了下層圖像上，此時上層圖像的邊緣在下層圖像上必然會形成圖像分界，只要獲得上層圖像的邊緣在下層圖像上形成的圖像分界的位置就能獲得上層圖像在下層圖像上的偏移位置。

發明人發現，直接獲得上層圖像的邊緣在下層圖像上形成的圖像分界的位置有時是很困難的，因為如果上層圖像和下層圖像的圖案都十分複雜，或者圖案十分相近，這樣會導致上層圖像的邊緣在下層圖像上形成的圖像分界很不明顯，無法準確獲得上層圖像在下層圖像上的偏移位置。

本發明實施例提供了一種獲取圖像偏移位置的方法及裝置，可以在上層圖像和下層圖像層疊的情況下，準確地獲取上層圖像在下層圖像上的偏移位置。

本發明實施例提供了一種獲取圖像偏移位置的方法，包括：

沿圖像的Y軸和/或X軸方向探測第一尺樣條線和第二尺樣條線；該圖像是由上層圖像和下層圖像疊加構成的，該第一尺樣條線和第二尺樣條線預先繪製在該上層圖像上，且滿足預設的佈局條件；根據探測到的該第一尺樣條線和第二尺樣條線確定任意一條尺樣條線在上層圖像的位置；根據探測到的該尺樣條線在該上層圖像的位置和該尺樣條線在該圖像的位置計算上層圖像在下層圖像中的偏移位置。本發明實施例提供了一種獲取圖像偏移位置的裝置，包括：探測模組，用於沿圖像的Y軸和/或X軸方向探測第一尺樣條線和第二尺樣條線；該圖像是由上層圖像和下層圖像疊加構成的，該第一尺樣條線和該第二尺樣條線預先繪製在該上層圖像上，且滿足預設的佈局條件；確定模組，用於根據探測到的該第一尺樣條線和第二尺樣條線確定任意一條尺樣條線在上層圖像的位置；計算模組，用於根據探測到的該尺樣條線在該上層圖像的位置和該尺樣條線在該圖像的位置計算上層圖像在下層圖像中的偏移位置。

本發明實施例以圖像處理技術為基礎，利用繪製有尺樣條線的圖像作為上層圖像完全落在下層圖像上，並與下層圖像進行疊加，通過對疊加後的圖像從Y軸和/或X軸方向進行連續的第一尺樣條線和第二尺樣條線探測，並根據探測結果分析第一尺樣條線和第二尺樣條線在疊加後的圖像上的位置以及在上層圖像上的位置，將第一尺樣條線或第二尺橫條線在疊加後的圖像上的位置以及在上層圖像上的位置進行比較，即可獲得上層圖像落在下層圖像上的偏移位置。

下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基於本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬於本發明保護的範圍。

第一實施例：請參閱第1圖，第1圖為本發明實施例中提供的一種獲取圖像偏移位置的方法流程圖。如第1圖所示，該方法包括以下步驟：步驟101：沿圖像的Y軸和/或X軸方向探測第一尺樣條線和第二尺樣條線；該圖像是由上層圖像和下層圖像疊加構成的，該第一尺樣條線和第二尺樣條線預先繪製在該上層圖像上，且滿足預設的佈局條件；其中，上述的第一尺樣條線和第二尺樣條線預先繪製在該上層圖像上，且滿足預設的佈局條件具體可以為：上述的第一尺樣條線和第二尺樣條線是預先繪製在上層圖像上的，相互平行且第一尺樣條線和第二尺橫條線的間距對應了預設的第一尺樣條線和第二尺樣條線分別到達該上層圖像的起始位置的距離。

也就是說，第一尺樣條線和第二尺樣條線的間距與第一尺樣條線和第二尺樣條線到達上層圖像的起始位置的距離是對應的。需要說明的是，根據本發明思想，任意連續的兩條尺樣條線的間距是不相同的，該間距所對應的連續的兩條尺樣條線到達該上層圖像的起始位置的距離與其他任意連續的兩條尺樣條線到達該上層圖像的起始位置的距離是不相同的。

根據本發明實施例提供的方法，可以在步驟101之前對上層圖像和下層圖像疊加構成的圖像進行二值化處理，二值化處理的目的是為了使探測第一尺樣條線和第二尺樣條線更加簡單，不用受圖像亮度和顏色的影響。

根據本發明實施例提供的方法，可以在二值化處理該圖像之後，沿圖像的X軸方向獲取多個基準點位置，每一個基準點位置滿足大於上述的下層圖像與上層圖像的高度的差值，且小於預設的上述的上層圖像的非尺樣條線區域高度的條件；和/或可以沿圖像的Y軸方向獲取多個基準點位置，每一個基準點位置滿足大於上述的下層圖像與上層圖像的寬度的差值，且小於預設的上述的上層圖像的非尺樣條線區域寬度的條件。

優選地，上述步驟101中的沿圖像的Y軸和/或X軸方向探測第一尺樣條線和第二尺樣條線具體可以包括：從X軸方向上獲取的每個基準點位置開始，沿圖像的Y軸方向逐各像素遍歷檢測像素灰階值，直到灰階值為零時停止檢測，並將灰階值為零的像素點的縱坐標存儲於第一陣列中；從第一陣列中統計出現次數最多的縱坐標，作為第一條尺樣條線在該圖像上的高度；然後，從灰階值為零的像素點開始，繼續沿圖像的Y軸方向逐各像素遍歷檢測像素灰階值，直到灰階值為零時停止檢測，並將灰階值為零的像素點的縱坐標存儲於第二陣列中；從第二陣列中統計出現次數最多的縱坐標，作為第二條尺樣條線在該圖像上的高度；和/或，從Y軸方向上獲取的每個基準點位置開始，沿圖像的X軸方向逐各像素遍歷檢測像素灰階值，直到灰階值為零時停止檢測，並將灰階值為零的像素點的橫坐標存儲於第一陣列中；從第一陣列中統計出現次數最多的縱坐標，作為第一條尺樣條線在圖像上的寬度；然後，從灰階值為零的像素點開始，繼續沿圖像的X軸方向逐各像素遍歷檢測像素灰階值，直到灰階值為零時停止檢測，並將灰階值為零的像素點的橫坐標存儲於第二陣列中；從第二陣列中統計出現次數最多的橫坐標，作為第二條尺樣條線在圖像上的寬度。

步驟102：根據探測到的第一尺樣條線和第二尺樣條線確定任意一條尺樣條線在上層圖像的位置；其中，步驟102可以包括：

1)計算第一尺樣條線和第二尺樣條線的間距；其中，第一尺樣條線和第二尺樣條線的間距可以是第一尺樣條線和第二尺樣條線的高度或寬度之間的間距。

2)根據預設的第一尺樣條線和第二尺樣條線的間距與第一尺樣條線和第二尺樣條線分別到達上述的上層圖像的起始位置的距離的對應關係，確定第一尺樣條線在上述的上層圖像的高度或寬度，或者確定該第二尺樣條線在上述的上層圖像的高度或寬度。

步驟103：根據探測到的該尺樣條線在該上層圖像的位置和該尺樣條線在該圖像的位置計算該上層圖像在下層圖像中的偏移位置。

其中，步驟103可以包括：計算第一尺樣條線在上述的上層圖像上的高度與第一尺樣條線在上述的圖像上的高度的差值；和/或，計算第二尺樣條線在上述的上層圖像的高度與第二尺樣條線在上述的圖像上的高度的差值；或者，計算第一尺樣條線在上述的上層圖像上的寬度與第一尺樣條線在上述的圖像上的寬度的差值；和/或，計算第二尺樣條線在上述的上層圖像的寬度與第二尺樣條線在上述的圖像上的寬度的差值，從而獲得上層圖像在下層圖像中的偏移位置。

需要說明的是，本發明實施例只是為了便於介紹，僅僅探測連續的第一尺樣條線和第二尺樣條線，本領域技術人員可以理解，預先在上層圖像上繪製的尺樣條線的數目可以是大於兩條的，都屬於本發明的保護範圍。

上述對本發明第一實施例提供的獲取圖像偏移位置的方法進行了詳細的介紹，本發明實施例利用繪製有尺樣條線的圖像作為上層圖像完全落在下層圖像上，並與下層圖像進行疊加，通過對疊加後的圖像從Y軸和/或X軸方向進行連續的第一尺樣條線和第二尺樣條線探測，並根據探測結果分析第一尺樣條線和第二尺樣條線在疊加後的圖像上的位置以及在上層圖像上的位置，將第一尺樣條線或第二尺樣條線在疊加後的圖像上的位置以及在上層圖像上的位置進行比較，即可獲得上層圖像落在下層圖像上的偏移位置。

第二實施例：請參閱第2圖，第2圖為本發明實施例中提供的一種獲取圖像偏移位置的方法流程圖。本發明實施例以上層圖像的分別率是640×526，下層圖像的解析度是704×576為例，介紹本發明實施例提供的獲取圖像偏移位置的方法。如第2圖所示，該方法可以包括：步驟201：預先在上層圖像上繪製尺樣條線；其中，所謂的尺樣條線是指用於計算上層圖像完全落在下層圖像上的偏移位置的自繪規律線條。

本發明實施例是以640×526大小的白底圖片作為上層圖像，首先從上層圖像的最上邊往下方向以高度100像素的位置為起始，依次以2的n(其中，1<=n<=8)次方高間距居行中(左、右各留100像素寬度)畫8條橫黑線；同理，從上層圖像的最左邊往右方向以左寬度100像素的位置為起始，依次以2的n(其中，1<=n<=8)次方，寬間距居列中(上、下各留100像素寬度)畫8條豎黑線；這樣就形成了一副繪製有尺樣條線的上層圖像，請一併參閱第3圖，第3圖為本發明實施例提供的繪製有尺樣條線的上層圖像的示意圖。如第3圖所示，尺樣條線位置說明如下：尺樣條線從上到下、從左到右分別以相對100像素偏移的2的1次方(=2)，2的2次方(=4)，2的3次方(=8)，2的4次方(=16)，2的5次方(=32)，2的6次方(=64)，2的7次方(=128)，2的8次方(=256)；其中，第3圖所示的上層圖像中水準方向、垂直方向各繪製8條尺樣條線，上、下、左、右100像素邊距區域為非尺樣條線區域，中間尺樣條線交錯區域440 x 326為尺樣條線區域。

步驟202：對上層圖像和下層圖像疊加後的圖像進行二值化處理；二值化的目的是為了讓後續對圖像的尺橫條線的探測處理更加簡單，而且不受圖像亮度和顏色的影響。

影響二值化結果的因素主要是中間灰階值(亮度值)的取值，如果灰階值的取值偏低，則二值化後的黑色樣條線會更加淡細，樣條線之間的清晰度會越明顯；如果灰階值的取值偏高，則二值化後的黑色樣條線會更加粗濃，尺橫條線只見的清晰度會越模糊。

步驟203：沿圖像的X軸方向獲取多個基準點位置；其中，多個基準點位置滿足大於上述下層圖像與上層圖像的高度的差值、且小於預設的上述的上層圖像的非尺樣條線區域高度的條件。

根據本發明實施例提供的上層圖像和下層圖像的大小，由於上層圖像完全落在下層圖像上，所以上層圖像相對下層圖像的偏移位置範圍為：0<=上偏移<=64；0<=左偏移<=50。其中，64為下層圖像的高度704與上層圖像的高度640的差值，50為下層圖像的寬度576與上層圖像的寬度526的差值。

即是，多個基準點位置的高度大於60像素和/或多個基準點位置的寬度大於50像素，且小於100像素的非尺樣條線區域的高度條件。這裡所述的100像素的非尺樣條線區域的高度包括上，下，左，右的非尺樣條線區域的高度。其中，本發明實施例選擇疊加後的圖像80像素位置作為基準點位置，可以滿足基準點位置需要的條件。

步驟204：以X軸方向獲取的多個基準點開始，沿Y軸方向探測第一條尺樣條線，獲取第一條尺樣條線的高度值；假設，本發明實施例從X軸方向獲取的多個基準點的數目為30個，則遍歷這30基準點，依次從每一個基準點開始，沿Y軸方向上逐各像素遍歷檢測像素灰階值，直到碰到了灰階值為0的像素，將該像素的縱坐標(高度值)存儲在第一陣列中，這樣當30個採用探測結束時，第一陣列填滿；例如：第一陣列={452，381，382，451，382，382，382，382，452，382，382，382，382，383，382，382，382，452，382，382，381，382，382，382，382，382，383，382，382，382}；從第一陣列中統計出現次數最多的縱坐標為382，則將縱坐標382作為第一條尺樣條線在該圖像上的高度值。

步驟205：繼續沿Y軸方向探測第二條尺樣條線，獲取第二條尺樣條線的高度值；從第一陣列中存儲的灰階值為零的像素點開始，繼續沿圖像的Y軸方向逐各像素遍歷檢測像素灰階值，直到碰到了灰階值為0的像素，將該像素的縱坐標(高度值)存儲在第二陣列中，這樣當30個採用探測結束時，第二陣列填滿；例如：第二陣列={451，254，254，450，254，254，255，254，451，254，254，255，254，254，254，253，255，451，254，254，253，254，254，254，254，254，253，254，254，254}；從第二陣列中統計出現次數最多的縱坐標為254，則將縱坐標245作為第二條尺樣條線在該圖像上的高度值。

步驟206：計算第一條尺樣條線與第二條尺樣條線的間距，推算上層圖像在下層圖像上的Y軸方向偏移位置。

其中，由上述步驟203和步驟204可知，第一條尺樣條線在圖像上的高度值為382，第二條尺樣條線在圖像上的高度值為254，所以第一條尺樣條線與第二條尺樣條線的間距為：382-254=128。

利用上層圖像上繪製的尺樣條線的規律，確定第一條尺樣條線或第二條尺樣條線在上層圖像上的位置。

請參閱下面的表1，表1表示繪製在上層圖像上尺樣條線的佈局規律。

從上述表1可以得知上層圖像上預先繪製的尺樣條線具有這樣的佈局規律：

1)即任何兩個2的n次方位置的尺樣條線之間的間距是不會重複的；

2)任何兩個2的n次方位置的尺樣條線之間的間距存在關係：

2ⁿ -2^m >=2^(n-1) (m>=0,n>=1，m<n)

根據以上規律，可以在計算出第一條尺樣條線與第二條尺樣條線的間距時，很容易的得知第一條尺樣條線與第二條尺樣條線在上層圖像上的位置。

在本發明實施例中，第一條尺樣條線與第二條尺樣條線的間距是128，根據上述表1，可以知道這是2⁸ 標識的尺樣條線和2⁷ 標識的尺樣條線的之間的間距。從而知道第一條尺樣條線是2⁸ 標識的尺樣條線，第二條尺樣條線是2⁷ 標識的尺樣條線。

另外，又知道2⁸ 標識的第一條尺樣條線相對上層圖像最上邊的高度為：2⁸ +100；2⁷ 標識的第二條尺樣條線相對上層圖像最上邊的高度為：2⁷ +100；所以，根據第一條尺樣條線相對上層圖像最上邊的高度(2⁸ +100)以及第一條尺樣條線在疊加後的圖像中的位置382，或者根據第二條尺樣條線相對上層圖像最上邊的高度(2⁷ +100)以及第二條尺樣條線在疊加後的圖像中的位置254，可以得到上層圖像落在下層圖像上的偏移位置為：偏移位置=382-(2⁸ +100)=26，或者，偏移位置=254-(2⁷ +100)=26。

本實施例只是介紹從在Y軸方向上獲取上層圖像在下層圖像上的偏移位置，本領域技術人員可以理解，根據本發明實施例提供的方法，同樣可以從在X軸方向上的獲取上層圖像在下層圖像上的偏移位置，由於從X軸方向上的獲取上層圖像在下層圖像上的偏移位置與從Y軸方向上的獲取上層圖像在下層圖像上的偏移位置的方法完全相同，所以本實施例在此不作贅述。

另外，本實施例僅以2為底數，介紹本實施例提供的繪製在上層圖像上的尺樣條線的佈局規律，還可以通過改變指數2為3、4、5......等大於2的有理數，主要滿足：aⁿ -a^m >=a^(n-1) (其中，a>=2，m>=0，n>=1，m<n)即可，本實施例不作限定。

上述對本發明第二實施例提供的獲取圖像偏移位置的方法進行了詳細的介紹，本發明實施例利用繪製有尺樣條線的圖像作為上層圖像完全落在下層圖像上，並與下層圖像進行疊加，通過對疊加後的圖像從Y軸方向進行連續的第一尺樣條線和第二尺樣條線探測，並根據探測結果分析第一尺樣條線和第二尺樣條線在疊加後的圖像上的位置以及在上層圖像上的位置，將第一尺樣條線或第二尺樣條線在疊加後的圖像上的位置以及在上層圖像上的位置進行比較，即可獲得上層圖像落在下層圖像上的偏移位置。

第三實施例：請參閱第4圖，第4圖為本發明實施例提供的一種獲取圖像偏移位置的裝置的結構示意圖。如第4圖所示，該裝置可以包括：探測模組401，用於沿圖像的Y軸和/或X軸方向探測第一尺樣條線和第二尺樣條線：該圖像是由上層圖像和下層圖像疊加構成的，第一尺樣條線和第二尺樣條線預先繪製在上述上層圖像上，且滿足預設的佈局規律；優選地，第一尺樣條線和第二尺樣條線滿足預設的佈局規律包括：第一尺樣條線和第二尺樣條線相互平行，且第一尺樣條線和第二尺樣條線的間距對應預設的第一尺樣條線和第二尺樣條線分別到達上述上層圖像的起始位置的距離。

具體地，第一尺樣條線和第二尺樣條線滿足預設的佈局規律可以和上述第二實施例中的表1所示，本實施例在此不再復述。

確定模組402，用於根據探測到的第一尺樣條線和第二尺樣條線確定任意一條尺樣條線在上層圖像的位置；計算模組403，用於根據探測到的該尺樣條線在上述的上層圖像的位置和該尺樣條線在該圖像的位置計算上層圖像在下層圖像中的偏移位置。

優選地，本發明實施例提供的裝置還可以還包括：處理模組404，用於在上述探測模組401對該圖像探測第一尺樣條線和第二尺樣條線之前，對該圖像進行二值化處理。

優選地，本發明實施例提供的裝置還可以還包括：獲取模組405，用於在上述探測模組401對該圖像探測第一尺樣條線和第二尺樣條線之前，沿該圖像的X軸方向獲取多個基準點位置，該基準點位置滿足大於上述的下層圖像與上層圖像的高度的差值，且小於預設的上述的上層圖像的非尺樣條線區域高度的條件；和/或沿該圖像的Y軸方向獲取多個基準點位置，該基準點位置滿足大於上述下層圖像與上層圖像的寬度的差值，且小於預設的上述的上層圖像的非尺樣條線區域寬度的條件。

請一併參閱第5圖，第5圖為本發明實施例提供的一種探測模組的結構示意圖。如第5圖所示，探測模組401包括：遍歷檢測子模組4011，用於從X軸方向上獲取的每個基準點位置開始，沿圖像的Y軸方向逐各像素遍歷檢測像素灰階值，直到灰階值為零時停止檢測，並將灰階值為零的像素點的縱坐標存儲於第一陣列中；統計子模組4012，用戶與從第一陣列中統計出現次數最多的縱坐標，作為第一條尺樣條線在該圖像上的高度；該遍歷檢測子模組4011，用於從灰階值為零的像素點開始，繼續沿圖像的Y軸方向逐各像素遍歷檢測像素灰階值，直到灰階值為零時停止檢測，並將灰階值為零的像素點的縱坐標存儲於第二陣列中；該統計子模組4012，用於從第二陣列中統計出現次數最多的縱坐標，作為第二條尺樣條線在該圖像上的高度。

或者，上述遍歷檢測子模組4011用於從Y軸方向上獲取的每個基準點位置開始，沿圖像的X軸方向逐各像素遍歷檢測像素灰階值，直到灰階值為零時停止檢測，並將灰階值為零的像素點的橫坐標存儲於第一陣列中；上述統計子模組4012用於從第一陣列中統計出現次數最多的縱坐標，作為第一條尺樣條線在圖像上的寬度；上述遍歷檢測子模組4011還用於從灰階值為零的像素點開始，繼續沿圖像的X軸方向逐各像素遍歷檢測像素灰階值，直到灰階值為零時停止檢測，並將灰階值為零的像素點的橫坐標存儲於第二陣列中；上述統計子模組4012還用於從第二陣列中統計出現次數最多的橫坐標，作為第二條尺樣條線在圖像上的寬度。

請一併參閱第6圖，第6圖為本發明實施例提供的一種確定模組的結構示意圖。如第6圖所示，確定模組402可以包括：計算子模組4021，用於計算第一尺樣條線和第二尺樣條線的間距；確定子模組4022，用於根據預設的第一尺樣條線和第二尺樣條線的間距與第一尺樣條線和第二尺樣條線分別到達上述的上層圖像的起始位置的距離的對應關係，確定第一尺樣條線在上述上層圖像的高度或寬度，或者確定第二尺樣條線在上述上層圖像的高度或寬度。

可選地，上述計算模組403具體用於計算第一尺樣條線在上述上層圖像的高度或寬度與第一尺樣條線在圖像上的高度或寬度的差值；或者，用於計算第二尺樣條線在上層圖像的高度或寬度與第二尺樣條線在圖像上的高度或寬度的差值，從而獲得上述上層圖像在下層圖像中的偏移位置。

上述對本發明第三實施例提供的獲取圖像偏移位置的裝置進行了詳細的介紹，本發明實施例利用繪製有尺樣條線的圖像作為上層圖像完全落在下層圖像上，並與下層圖像進行疊加，通過對疊加後的圖像從Y軸方向進行連續的第一尺樣條線和第二尺樣條線探測，並根據探測結果分析第一尺樣條線和第二尺樣條線在疊加後的圖像上的位置以及在上層圖像上的位置，將第一尺樣條線或第二尺樣條線在疊加後的圖像上的位置以及在上層圖像上的位置進行比較，即可獲得上層圖像落在下層圖像上的偏移位置。

本領域普通技術人員可以理解：實現上述方法實施例的全部或部分步驟可以通過程式指令相關的硬體來完成，前述的程式可以存儲於一電腦可讀取存儲介質中，該程式在執行時，執行包括上述方法實施例的步驟；而前述的存儲介質包括：唯讀記憶體(ROM)、隨機存取器(RAM)、磁碟或者光碟等各種可以存儲程式碼的介質。

以上對本發明實施例所提供的一種獲取圖像偏移位置的方法及裝置進行了詳細介紹，本文中應用了具體個例對本發明的原理及實施方式進行了闡述，以上實施例的說明只是用於幫助理解本發明的方法及其核心思想；同時，對於本領域的一般技術人員，依據本發明的思想，在具體實施方式及應用範圍上均會有改變之處，綜上所述，本說明書內容不應理解為對本發明的限制。

401．．．探測模組

4011．．．遍歷檢測子模組

4012．．．統計子模組

402．．．確定模組

4021．．．計算子模組

4022．．．確定子模組

403．．．計算模組

404．．．處理模組

405．．．擷取模組

第1圖為本發明實施例中提供的一種獲取圖像偏移位置的方法流程圖；

第2圖為本發明實施例中提供的一種獲取圖像偏移位置的方法流程圖；

第3圖為本發明實施例中提供的繪製有尺樣條線的上層圖像示意圖；

第4圖為本發明實施例中提供的一種獲取圖像偏移位置的裝置結構圖；

第5圖為本發明實施例中提供的一種探測模組的結構示意圖；

第6圖為本發明實施例中提供的一種確定模組的結構示意圖。

Claims (15)

1. 一種獲取圖像偏移位置的方法，包括下列步驟：沿圖像的Y軸和/或X軸方向探測第一尺樣條線和第二尺樣條線；該圖像是由上層圖像和下層圖像疊加構成的，該第一尺樣條線和該第二尺樣條線預先繪製在該上層圖像上，且滿足預設的佈局規律；根據探測到的該第一尺樣條線和該第二尺樣條線的間距確定任意一條尺樣條線在上層圖像的座標；根據探測到的該尺樣條線在該上層圖像的座標和該尺樣條線在該圖像的座標做差計算上層圖像在下層圖像中的偏移位置；其中，任意連續的兩條尺樣條線的間距是不相同的。
2. 如請求項1所述之獲取圖像偏移位置之方法，其中該滿足預設的佈局規律包括：該第一尺樣條線和第二尺樣條線相互平行，且該第一尺樣條線和該第二尺樣條線的間距對應預設的該第一尺樣條線和該第二尺樣條線分別到達該上層圖像的起始位置的距離。
3. 如請求項1或2所述之獲取圖像偏移位置之方法，其中該沿圖像的Y軸和/或X軸方向探測該第一尺樣條線和該第二尺樣條線之前，該方法還包括：對該圖像進行二值化處理。
4. 如請求項3所述之獲取圖像偏移位置之方法，其中該沿圖像的Y軸和/或X軸方向探測該第一尺樣條線和該第二尺樣條線之前，該方法還包括步驟：沿圖像的X軸方向獲取多個基準點位置，該基準點位置滿足大於該下層圖像與上層圖像的高度的差值，且小於預設的該 上層圖像的非尺樣條線區域高度的條件；和/或沿圖像的Y軸方向獲取多個基準點位置，該基準點位置滿足大於該下層圖像與上層圖像的寬度的差值，且小於預設的該上層圖像的非尺樣條線區域寬度的條件。
5. 如請求項4所述之獲取圖像偏移位置之方法，其中該沿圖像的Y軸和/或X軸方向探測該第一尺樣條線和該第二尺樣條線的步驟包括：從X軸方向上獲取的每個基準點位置開始，沿圖像的Y軸方向逐各像素遍歷檢測像素灰階值，直到灰階值為零時停止檢測，並將灰階值為零的像素點的縱坐標存儲於第一陣列中；從該第一陣列中統計出現次數最多的縱坐標，作為第一條尺樣條線在該圖像上的高度；從該灰階值為零的像素點開始，繼續沿圖像的Y軸方向逐各像素遍歷檢測像素灰階值，直到灰階值為零時停止檢測，並將灰階值為零的像素點的縱坐標存儲於第二陣列中；從該第二陣列中統計出現次數最多的縱坐標，作為第二條尺樣條線在該圖像上的高度；和/或，從Y軸方向上獲取的每個基準點位置開始，沿圖像的X軸方向逐各像素遍歷檢測像素灰階值，直到灰階值為零時停止檢測，並將灰階值為零的像素點的橫坐標存儲於第一陣列中；從該第一陣列中統計出現次數最多的縱坐標，作為第一條尺樣條線在該圖像上的寬度；從該灰階值為零的像素點開始，繼續沿圖像的X軸方向逐各像素遍歷檢測像素灰階值，直到灰階值為零時停止檢測，並將灰階值為零的像素點的橫坐標存儲於第二陣列中； 從該第二陣列中統計出現次數最多的橫坐標，作為第二條尺樣條線在該圖像上的寬度。
6. 如請求項5所述之獲取圖像偏移位置之方法，其中該根據探測到的該第一尺樣條線和該第二尺樣條線的間距確定任意一條尺樣條線在上層圖像的位置的步驟包括：計算該第一尺樣條線和該第二尺樣條線的間距；根據預設的該第一尺樣條線和該第二尺樣條線的間距與該第一尺樣條線和該第二尺樣條線分別到達該上層圖像的起始位置的距離的對應關係，確定該第一尺樣條線在該上層圖像的高度或寬度，或者確定該第二尺樣條線在該上層圖像的高度或寬度。
7. 如請求項6所述之獲取圖像偏移位置之方法，其中該根據探測到的該尺樣條線在該上層圖像的座標和該尺樣條線在該圖像的座標做差計算上層圖像在下層圖像中的偏移位置的步驟包括：計算該第一尺樣條線在該上層圖像的高度或寬度與該第一尺樣條線在該圖像上的高度或寬度的差值；或者計算該第二尺樣條線在該上層圖像的高度或寬度與該第二尺樣條線在該圖像上的高度或寬度的差值，從而獲得該上層圖像在下層圖像中的偏移位置。
8. 一種獲取圖像偏移位置的裝置，其中包括：探測模組，用於沿圖像的Y軸和/或X軸方向探測第一尺樣條線和第二尺樣條線；該圖像是由上層圖像和下層圖像疊加構成的，該第一尺樣條線和該第二尺樣條線預先繪製在該上層圖像上，且滿足預設的佈局規律；確定模組，用於根據探測到的該第一尺樣條線和該第二尺樣條線的間距確定任意一條尺樣條線在上層圖像的位置； 計算模組，用於根據探測到的該尺樣條線在該上層圖像的座標和該尺樣條線在該圖像的座標做差計算上層圖像在下層圖像中的偏移位置；其中，任意連續的兩條尺樣條線的間距是不相同的。
9. 如請求項8所述之獲取圖像偏移位置之裝置，其中該裝置還包括：處理模組，用於在該探測模組對該圖像探測該第一尺樣條線和該第二尺樣條線之前，對該圖像進行二值化處理。
10. 如請求項9所述之獲取圖像偏移位置之裝置，其中該裝置還包括：獲取模組，用於在該探測模組對該圖像探測該第一尺樣條線和該第二尺樣條線之前，沿該圖像的X軸方向獲取多個基準點位置，該基準點位置滿足大於該下層圖像與上層圖像的高度的差值，且小於預設的該上層圖像的非尺樣條線區域高度的條件；和/或沿該圖像的Y軸方向獲取多個基準點位置，該基準點位置滿足大於該下層圖像與上層圖像的寬度的差值，且小於預設的該上層圖像的非尺樣條線區域寬度的條件。
11. 如請求項10所述之獲取圖像偏移位置之裝置，其中該探測模組包括：遍歷檢測子模組，用於從X軸方向上獲取的每個基準點位置開始，沿圖像的Y軸方向逐各像素遍歷檢測像素灰階值，直到灰階值為零時停止檢測，並將灰階值為零的像素點的縱坐標存儲於第一陣列中；統計子模組，用戶與從該第一陣列中統計出現次數最多的縱坐標，作為第一條尺樣條線在該圖像上的高度； 該遍歷檢測子模組，用於從該灰階值為零的像素點開始，繼續沿圖像的Y軸方向逐各像素遍歷檢測像素灰階值，直到灰階值為零時停止檢測，並將灰階值為零的像素點的縱坐標存儲於第二陣列中；該統計子模組，用於從該第二陣列中統計出現次數最多的縱坐標，作為第二條尺樣條線在該圖像上的高度。
12. 如請求項11所述之獲取圖像偏移位置之裝置，其中該遍歷檢測子模組用於從Y軸方向上獲取的每個基準點位置開始，沿圖像的X軸方向逐各像素遍歷檢測像素灰階值，直到灰階值為零時停止檢測，並將灰階值為零的像素點的橫坐標存儲於第一陣列中；該統計子模組用於從該第一陣列中統計出現次數最多的縱坐標，作為第一條尺樣條線在該圖像上的寬度；該遍歷檢測子模組還用於從該灰階值為零的像素點開始，繼續沿圖像的X軸方向逐各像素遍歷檢測像素灰階值，直到灰階值為零時停止檢測，並將灰階值為零的像素點的橫坐標存儲於第二陣列中；該統計子模組還用於從該第二陣列中統計出現次數最多的橫坐標，作為第二條尺樣條線在該圖像上的寬度。
13. 如請求項11或12所述之獲取圖像偏移位置之裝置，其中該確定模組包括：計算子模組，用於計算該第一尺樣條線和該第二尺樣條線的間距；確定子模組，用於根據預設的該第一尺樣條線和該第二尺樣條線的間距與該第一尺樣條線和該第二尺樣條線分別到達該上層圖像的起始位置的距離的對應關係，確定該第一尺樣條線在該上層圖像的高度或寬度，或者確定該第二尺樣條線在該 上層圖像的高度或寬度。
14. 如請求項13所述之獲取圖像偏移位置之裝置，其中該計算模組具體用於計算該第一尺樣條線在該上層圖像的高度或寬度與該第一尺樣條線在該圖像上的高度或寬度的差值；或者，用於計算該第二尺樣條線在該上層圖像的高度或寬度與該第二尺樣條線在該圖像上的高度或寬度的差值，從而獲得該上層圖像在下層圖像中的偏移位置。
15. 如請求項8所述之獲取圖像偏移位置之裝置，其中該第一尺樣條線和該第二尺樣條線滿足預設的佈局規律包括：該第一尺樣條線和第二尺樣條線相互平行，且該第一尺樣條線和第二尺樣條線的間距對應預設的該第一尺樣條線和該第二尺樣條線分別到達該上層圖像的起始位置的距離。