TWI397670B - 元件排列治具 - Google Patents

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Description

元件排列治具
本發明涉及一種元件排列治具，尤其涉及一種應用於各種元件測量平臺之元件排列治具。
在測量複數小型元件之某些性質時，如測量元件表面薄膜厚度等(見Yang.等人於1987年發表於Ultrasonics symposium,IEEE 1987之標題為“Thickness Measurement of Thin Films Using an Improved Laser Probe”之文章)，通常之做法是將複數元件放置於一測量平臺上，然後使用測量儀器(如工具顯微鏡或高度規)對該複數元件進行測量。然而，元件於放置於測量平臺上時不易定位，複數元件放置於測量平臺上時有些雜亂，測量人員於測量複數元件時有時會因為元件擺放之無秩序而出現將待測元件與已測元件混淆等問題，從而影響測量效率。
有鑒於此，有必要提供一種可將複數元件快速排列於測量平臺上之元件排列治具。
一種元件排列治具，用於將放置於元件承載臺之複數待測元件整齊排列，其包括至少一個第一支撐結構、一捲線器及一第一支撐結構容置體。該捲線器套設於該至少一個第一支撐結構，該至少一個第一支撐結構設置於該第一支撐結構容置體內並可在該第一支撐結構容置體內滑動。該元件排列治具進一步包括至少一個第二支撐結構、一接線體及一第二支撐結構容置體，該接線體套設於該至少一個第二支撐結構，該至少一個第二支撐結構設置於該第二支撐結構容置體內並可於第二支撐結構容置體內滑動。一線材之兩端分別與捲線器和接線體連接。
該元件排列治具於實際使用中，該第一支撐結構容置體和第二支撐結構容置體分別與測量平臺之兩相對側面相鄰設置，可操縱第一支撐結構和第二支撐結構帶動它們之間之線材橫向和縱向地撥動測量元件承載臺上之複數元件，使其成行列式排列，達到將複數元件快速整齊排列於元件承載臺上之目的。
下面將結合附圖，對本發明作進一步之詳細說明。
請參閱圖1，本發明第一實施例提供一種元件排列治具20。該元件排列治具20包括一捲線器202、一第一支撐結構204、一第二支撐結構206、一第一支撐結構容置體210以及第二支撐結構容置體212。捲線器202套設於該第一支撐結構204，第一支撐結構204之一端收容於第一支撐結構容置體210內。第二支撐結構206之一端收容於第二支撐結構容置體212內。該元件排列治具20用於將測量平臺(如圖3中之測量平臺40)表面之複數待測元件(如圖3中之待測元件50)按一定秩序排列。
第一支撐結構204包括一第一支撐桿2054、一調整螺母2056及一第一支撐座2058。第一支撐桿2054之一端垂直固定於第一支撐座2058上，固定方式可為螺紋配合或為一體結構。該第一支撐桿2054具有四個表面，兩相對表面為平面2053，另外兩個相對表面為不連續圓柱面2051。該不連續圓柱面2051設置有外螺紋2060，該調整螺母2056與該外螺紋2060配合；該平面2053設置有高度刻度線2057。
第一支撐結構容置體210為一長條形結構，其一個側面2102開設有第一容置槽2104，該第一支撐座2058設置於第一容置槽2104內且寬度略小於第一容置槽2104之寬度，以使第一支撐座2058可從第一容置槽2104取放並可於第一容置槽2104內滑動。該第一支撐結構容置體210之側面2102靠近其長邊之部分還設置有長度刻度線2106。
請一併參閱圖2，捲線器202包括一第一盒體部2022、一第二盒體部2024、一轉盤2026以及一動力彈簧2028。該第一盒體部2022之一個表面2030開設有一第一收容槽2032，該第二盒體部2024之一個表面開設有一第二收容槽(圖未示)，該第一盒體部2022與第二盒體部2024通過複數螺釘208固定形成一盒體2023，當第一盒體部2022與第二盒體部2024蓋合時，該第一收容槽2032與第二收容槽形成一收容空間。該第二收容槽之側壁設置有一溝槽2033，該溝槽2033將該收容空間與外部連通。
第一收容槽2032之底面2034中心處設置一柱體2036，該柱體2036沿其軸向設有第一缺口2038。該轉盤2026設有一中心孔2044，於轉盤2026之周緣固定一擋止圓環2046，該擋止圓環2046之中心軸與轉盤2026表面垂直，該擋止圓環2046設置一第二缺口2048。柱體2036穿過轉盤2026之中心孔2044，使轉盤2026收容於第一收容槽2032與第二收容槽形成之收容空間內。
該動力彈簧2028之一端卡於該第一缺口2038內達到與該柱體2036之固定，另一端卡於該第二缺口2048達到與該擋止圓環2046之固定。一線材22之一端部(圖未示)固定於擋止圓環2046上而後纏繞於擋止圓環2046之外側，線材22之自由端224穿過該溝槽2033直至盒體2023之外側。
捲線器202之第一盒體部2022還包括一連接部2050，形成於第一盒體部2022之一側。該連接部2050設有一通孔2052，該通孔2052之形狀與第一支撐桿2054之形狀相配合，捲線器202於調整螺母2056旋入第一支撐桿2054後套設於第一支撐桿2054設置，通過旋轉調整螺母2056可將捲線器202定位於第一支撐桿2054之不同位置。
第二支撐結構206包括一第二支撐桿2062、一調整螺母2063、一接線體2065及一第二支撐座2064，該第二支撐桿2062、調整螺母2063以及第二支撐座2064之結構及連接關係與第一支撐桿2054、調整螺母2056以及第一支撐座2058之結構及連接關係相同，其中第二支撐桿2062之側面之平面部分(未標示)標示有高度刻度線2059。該接線體2065具有一通孔(圖未示)，該通孔具有與該連接部2050之通孔2052相同之形狀，於調整螺母2063旋入第二支撐桿2062後，接線體2065套設於第二支撐桿2062，通過旋轉調整螺母2063可將接線體2065定位於第二支撐桿2062之不同位置。
第二支撐結構容置體212與第一支撐結構容置體210之結構相同，第二支撐結構容置體212具有一側面2122，於側面2122開設有第二容置槽2124，側面2122靠近其長邊之部分還設置有長度刻度線2106。側面2122、第二容置槽2124及長度刻度線2126之分別與第一支撐結構容置體210之側面2102、第一容置槽2104以及長度刻度線2106相對應。第二支撐座2064設置於第二容置槽2124內且寬度略小於第一容置槽2104之寬度，以使第一支撐座2058可從第一容置槽2104取放並可於第一容置槽2104內滑動。
設置於捲線器202內之線材22之自由端224與接線體2065連接，該第二支撐桿2062之外側面具有高度刻度線2059，與第一支撐桿2054之高度刻度線2057相配合，較為容易使第一支撐桿2054與第二支撐桿2062之間之線材22調整為水平方向。
可以理解，該第一支撐桿2054之結構還可為一個部分圓柱面與一個平面相鄰接或複數圓柱面與複數圓柱面相鄰接之情況，只要可防止捲線器202圍繞第一支撐桿2054轉動即可。
實際應用中，捲線器202、第一支撐結構204、接線體2065以及第二支撐結構206分別可為複數，本實施例為便於說明，僅圖示出一個。
請參閱圖3，為第二實施例之元件排列治具30與測量平臺40以及待測元件50之配合示意圖。該測量平臺40具有一矩形之元件承載臺402，用於放置複數待測元件50，以利用高度規或工具顯微鏡等檢測儀器(圖未示)檢測該待測元件50之高度、厚度等參數。該待測元件50可為鏡片、鏡筒、墊片(spacer)或其他元件等，本實施例為鏡筒。
請一併參閱圖1與圖2，該元件排列治具30包括兩個第一支撐結構容置體210及兩個第二支撐結構容置體212，該兩個第一支撐結構容置體210分別緊靠測量平臺40之兩相鄰側面，兩個第二支撐結構容置體212分別緊靠測量平臺40之另外兩個側面，在第一支撐結構容置體210及第二支撐結構容置體212之側面與測量平臺40之側面之間可採用維可牢刺粘搭鏈(velcro)(圖未示)粘接，這樣可使第一支撐結構容置體210及第二支撐結構容置體212牢固固定於測量平臺上40，而且於測量完畢後還可很方便地將它們分離。於兩個第一支撐結構容置體210之第一容置槽2104內分別放置若干第一支撐結構204，各第一支撐結構204套設有捲線器202，本實施例第一支撐結構204與捲線器202各為六個，相對應地，兩個第二容置槽2124內分別設置六個第二支撐結構206，各個第二支撐結構206套設有接線體2065。
線材22之自由端224與接線體2065之連接方法如下：拉動線材22之自由端224固設於接線體2065上。當拉動線材22之自由端224時，該線材22帶動該轉盤2026轉動，兩端分別固設於轉盤2026與第一盒體部2022之柱體2036之動力彈簧2028捲曲產生回復力，使第一支撐桿2054與第二支撐桿2062之間之線材22處於繃緊狀態。當測量完畢後，可將線材22之自由端224從接線體2065取下，或將第二支撐結構204從第二容置槽2124內取出，線材22由於動力彈簧2028之回復力而收回至捲線器202內。
使用元件排列治具30時，將每個第一支撐結構204、與其相對應之第二支撐結構206以及該第一支撐結構204與第二支撐結構206之間之線材22定義為一定位組，於測量平臺40之元件承載臺402之橫向X與縱向Y分別排列六組定位組。
請參閱圖3至圖7，使用元件排列治具30對放置於元件承載臺402之複數待測元件50進行定位之過程如下，本實施例以三十六個元件50為例：請參閱圖3至圖5，三十六個元件50零亂無序地擺設於元件承載臺402。先將一第一支撐結構204與第二支撐結構206分別置於沿橫向X設置之第一容置槽2104與第二容置槽2124內，並將一捲線器202與一接線體2065分別套設於該第一支撐結構204之第一支撐桿2054與第二支撐結構206之第二支撐桿2062，手動將該捲線器202與接線體2065抬高，使捲線器202與接線體2065之間之線材22之高度大於元件50之頂部高度；使第一支撐結構204與第二支撐結構206分別沿第一容置槽2104與第二容置槽2124滑動，然後降低線材22之高度至元件承載臺402與元件20之頂部高度之間，這時線材22可將部分元件50與其他元件50隔開，繼續滑動第一支撐結構204與第二支撐結構206，可推動部分元件50向第一支撐結構204與第二支撐結構206之滑動方向移動，從而將部分元件50從該三十六個元件中撥選出，並緊挨該線材22排列，通過此方法從零亂之元件50中撥選出六個，並使該六個元件50靠近測量平臺40之一個縱向Y之側面。
請參閱圖6，按照與上述步驟相同之方法將其他五個第一支撐結構204與五個第二支撐結構206依次設置於第一容置槽2104與第二容置槽2124內，通過分別操作其他五個捲線器202和五個接線體2065將該三十六個元件每六個一行地排成六行。通過觀察線材22於刻度線2106與2126分別指向之位置來判斷該縱向延伸之線材22之間是否平行。
請參閱圖7，按照與上述兩步驟相同之方法將六個第一支撐結構204與六個第二支撐結構206依次設置於第一容置槽2104與第二容置槽2124內，通週分別操作六個捲線器202與六個接線體2065將該三十六個元件按照行列方式整齊排列，通過觀察線材22於刻度線2106與2126分別指向之位置來判斷該縱向排列之線材22之間是否平行。
本實施例僅舉出一種採用該元件排列治具30定位該複數元件50之方法，實際應用中可根據情況採用其他之方式，如將該複數定位組縱橫排列後形成行列式之格子，將複數元件50分別放置於各個格子內；或僅使用一個定位組橫向X與縱向Y多次按照步驟2之方法，將複數元件50按照行列式排列。該定位組之個數也可根據實際情況改變，並不限於本實施例。
相對於先前技術，採用本實施例之元件排列治具30可將放置於元件承載臺402之複數元件50快速地按行列式整齊排列，從而再對該元件50進行有序地測量，避免將待測元件與已測元件混淆，有效提高測量效率。
請參閱圖8和圖9，本發明提供第三實施例之元件排列治具60。該元件排列治具60與第一實施例之元件排列治具20基本相同，其中，本實施例元件排列治具60之第一支撐結構容置體610及第一支撐結構604分別與第一實施例之第一支撐結構容置體210及第一支撐結構204之結構不同。
該第一支撐結構容置體610之第一容置槽6104長度方向兩側壁上分別開設有狹長通孔6108與6110，該通孔6108與6110之延伸長度分別與第一容置槽6104之延伸長度相同；該第一支撐結構604之第一支撐座6044開設有分別與通孔6108及6110連通之通孔6046，該通孔6046兩端分別具有一圓形開口6112與6114，其中開口6112半徑大於開口6114之半徑。
該元件排列治具60還包括一定位栓640、一彈簧620及一螺帽6202，其中彈簧620螺旋直徑大於開口6114之直徑而小於開口6112之直徑。該定位栓640包括一帽體部6402及與帽體部6402相連接之定位桿6404，該帽體部6402之直徑大於彈簧620之螺旋直徑，將彈簧620套設於定位栓640之定位桿6404然後將套設有彈簧620之定位栓640插入通孔6046，彈簧620之兩端分別與帽體部6402及開口6114周邊內壁接觸，當帽體部6402向開口6114方向移動時可使彈簧620壓縮。該螺帽6202與定位栓640伸出開口6114之一端通過螺紋配合固定。
在第一支撐結構容置體610設置通孔6110之外側面固設有一維可牢刺粘搭鏈之具有細小鉤子之尼龍條6116，於使用該元件排列治具20時，與第一支撐結構容置體610對應之測量平臺(圖未示)之側面設置與尼龍條6116配合之具有毛圈之尼龍條，該尼龍條6116與具有毛圈之尼龍條相互粘合達到第一支撐結構容置體610與測量平臺之固定，當然尼龍條6116還可為具毛圈之尼龍條，相對應測量平臺側面設置具有細小鉤子之尼龍條。
元件排列治具60在使用時，由於彈簧620之彈力作用，該定位栓640之帽體部6402抵靠於該測量平臺之側面並對測量平臺之側面產生一壓力，從而使第一支撐座6044固定。
該元件排列治具60之第二支撐座6064及第二支撐結構容置體612具有與第一支撐座6044及第一支撐結構容置體610相同之結構，這裏不再贅述。
綜上所述，本發明確已符合發明專利之要件，遂依法提出專利申請。惟，以上該者僅為本發明之較佳實施方式，自不能以此限制本案之申請專利範圍。舉凡熟悉本案技藝之人士援依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。
線材．．．22
第一缺口．．．2038
元件排列治具．．．20,30,60
中心孔．．．2044
擋止圓環．．．2046
測量平臺．．．40
第二缺口．．．2048
元件承載臺．．．402
元件．．．50
連接部．．．2050
捲線器．．．202
不連續圓柱面．．．2051
第一支撐結構．．．204,604
通孔．．．2052,6046,6108,6110
第二支撐結構．．．206
平面．．．2053
螺釘．．．208
第一支撐桿．．．2054
第一撐結構容置體．．．210,610
高度刻度線．．．2057
第二撐結構容置體．．．212,612
自由端．．．224
第一支撐座．．．2058,6044
元件承載臺．．．402
高度刻度線．．．2059
外螺紋．．．2060
彈簧．．．620
第二支撐桿．．．2062
定位栓．．．640
調整螺母．．．2056,2063
盒體．．．2023
第二支撐座．．．2064
第一盒體部．．．2022
接線體．．．2065
第二盒體部．．．2024
側面．．．2102,2122
轉盤．．．2026
第一容置槽．．．2104,6104
動力彈簧．．．2028
刻度線．．．2106,2126
表面．．．2030
第二容置槽．．．2124
通孔．．．6046
第一收容槽．．．2032
第二支撐座．．．6064
溝槽．．．2033
開口．．．6112,6114
底面．．．2034
尼龍條．．．6116
柱體．．．2036
螺帽．．．6202
定位栓．．．640
帽體部．．．6402
定位桿．．．6404
圖1係本發明第一實施例元件排列治具之立體示意圖。
圖2係本發明圖1中元件排列治具之捲線器之立體分解示意圖。
圖3係本發明第二實施例元件排列治具與測量平臺以及元件之配合之立體示意圖。
圖4係至圖7係採用圖3中定位治具對待測元件進行定位之過程示意圖。
圖8係第三實施例之元件排列治具之立體示意圖。
圖9係圖8中元件排列治具中第一支撐結構之剖面示意圖。
線材．．．22
第一支撐桿．．．2054
元件排列治具．．．20
調整螺母．．．2056,2063
捲線器．．．202
高度刻度線．．．2057,2059
第一支撐結構．．．204
第一支撐座．．．2058
第二支撐結構．．．206
外螺紋．．．2060
第一支撐結構容置體．．．210
第二支撐桿．．．2062
第二支撐結構容置體．．．212
第二支撐座．．．2064
自由端．．．224
接線體．．．2065
第一盒體部．．．2022
側面．．．2102,2122
盒體．．．2023
第一容置槽．．．2104
第二盒體部．．．2024
刻度線．．．2106,2126
不連續圓柱面．．．2051
第二容置槽．．．2124
通孔．．．2052
平面．．．2053

Claims (10)

  1. 一種元件排列治具，用於將放置於元件承載臺之複數元件整齊排列，其包括至少一個第一支撐結構、一捲線器及一第一支撐結構容置體，該捲線器套設於該至少一個第一支撐結構，該至少一個第一支撐結構設置於該第一支撐結構容置體內並可於該第一支撐結構容置體內滑動；該元件排列治具進一步包括至少一個第二支撐結構、一接線體及一第二支撐結構容置體，該接線體套設於該至少一個第二支撐結構，該至少一個第二支撐結構設置於該第二支撐結構容置體內並可於第二支撐結構容置體內滑動；一線材之兩端分別與該捲線器及該接線體連接。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之元件排列治具，其中，該第一支撐結構容置體與第二支撐結構容置體分別開設有第一容置槽與第二容置槽，該至少一個第一支撐結構與該至少一個第二支撐結構分別放置於該第一容置槽與第二容置槽內並可於該第一容置槽與第二容置槽內滑動。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之元件排列治具，其中，該至少一個第一支撐結構包括一第一支撐座及垂直固定於第一支撐座之第一支撐桿，該至少一個第二支撐結構包括一第二支撐座及垂直固定於第二支撐座之第二支撐桿，該第一支撐座與第二支撐座分別設置於該第一容置槽內與第二容置槽內，該捲線器與接線體分別套設於該第一支撐桿與第二支撐桿。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之元件排列治具，其中，該捲線器設置有一通孔，該第一支撐桿穿設於該通孔，該至少一個第一支撐結構進一步包括一調整螺母，該第一支撐桿外側具有與該調整螺母相配合之螺紋，該第一支撐桿旋入該調整螺母，且該調整螺母位於該第一支撐座與捲線器之間，該調整螺母用於將捲線器定位於第一支撐桿之不同位置。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之元件排列治具，其中，該第一支撐桿與該第二支撐桿之外側面各包括至少一個部分圓柱面及與該至少一個部分圓柱面相鄰接之至少一個平面，該至少一個部分圓柱面具有與該調整螺母相配合之螺紋，該至少一個平面上設置有高度刻度線，該捲線器之通孔之形狀與該第一支撐桿之形狀相匹配。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之元件排列治具，其中，該捲線器包括一第一盒體部、一第二盒體部、一動力彈簧以及一轉盤，該第一盒體部開設一第一收容槽，該第二盒體部開設有第二收容槽，該第一收容槽與第二收容槽配合形成一收容空間，該第一收容槽之底面設置一柱體，該轉盤設有一中心孔，該柱體穿過該中心孔，該轉盤周緣固定一擋止圓環，該擋止圓環之中心軸與該轉盤表面垂直，該動力彈簧之一端固設於該柱體，另一端固設於該擋止圓環，該線材之一端固設於該擋止圓環並纏繞於該擋止圓環之外側。
  7. 如申請專利範圍第3項所述之元件排列治具，其中，該元件排列治具進一步包括一調整螺母，該接線體具有一通孔，該第二支撐桿穿插於該接線體之通孔，該第二支撐桿外側設置有與該調整螺母相配合之螺紋，該調整螺母旋入該第二支撐桿並位於該接線體與該第二支撐座之間，該調整螺母用於將接線體定位於第二支撐桿之不同位置。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之元件排列治具，其中，該第二支撐桿之外側面包括至少一個部分圓柱面和與該至少一個部分圓柱面相鄰接之至少一個平面，該至少一個部分圓柱面具有與該調整螺母相配合之螺紋，該至少一個平面上設置有高度刻度線，該接線體之通孔之形狀與該第二支撐桿之形狀相匹配。
  9. 如申請專利範圍第2項所述之元件排列治具，其中，該第一支撐結構容置體開設有第一容置槽之表面沿長度方向設置有刻度線，該第二支撐結構容置體開設有第二容置槽之表面沿長度方向設置有刻度線。
  10. 如申請專利範圍第3項所述之元件排列治具，其中，該第一支撐結構容置體長度方向之兩側壁上分別開設有狹長通孔，該第一支撐座開設有分別與該兩個狹長通孔連通之通孔，該通孔具有圓形之第一開口與圓形之第二開口，該第一開口大於該第二開口之直徑，該元件排列治具進一步包括一定位栓、一彈簧及一螺母，該定位栓包括一帽體部及與該帽體部連接之定位桿，該彈簧之螺旋直徑大於該第二開口之直徑而小於該第一開口與帽體部之直徑，該定位桿穿設於該彈簧，且該定位桿之端部穿過該第二開口並旋入該螺母。
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