TWI396387B - 降頻裝置 - Google Patents

Description

降頻裝置

本發明是有關於一種降頻裝置，且特別是有關於一種振盪訊號之降頻裝置。

隨著電子產業的發展及終端電子裝置的普及，客戶端對於電子裝置的品質有著愈來愈高的要求。因此，如何提升電子裝置中主被動元件的品質及良率，係成業界重視的課題之一。

振盪器是電子裝置中不可或缺的元件，其應用十分廣泛，例如個人電腦主機板上、儀器電路板上、行動電話之通訊元件等。振盪器輸出的振盪訊號，係成為電子裝置中計時、運算的基礎。不正確的振盪訊號會導致計時變慢，或者導致運算發生誤差等問題。因此，製造商需在產線中對於振盪器進行測試，以檢測其輸出之振盪訊號是否正確。

目前業界習用之測試裝置，可量測之振盪訊號的頻率在60MHz以內，對於頻率超過60MHz的振盪訊號，便無法進行量測。因此必須使用降頻器將振盪訊號降頻至測試裝置可量測的範圍內。然而，對於不同類型的振盪器，需要應用不同型式的降頻器來進行處理，如此係提高了測試的成本。此外，目前產線上應用的降頻器，其降頻能力最高僅達到350MHz。對於更高頻的振盪訊號，便無法將其降頻至測試裝置可量測之範圍內，大大限制了應用的彈性。

因此，本發明之一實施例是在提供一種降頻裝置，包括一連接器、一第一降頻單元以及一第二降頻單元。連接器經由一第一接收端接收一第一振盪訊號，並且由一第二接收端接收一第二振盪訊號。第一降頻單元用以對於第一振盪訊號進行第一次降頻。第二降頻單元用以對於第一次降頻後之第一振盪訊號，進行第二次降頻。另外，第二降頻單元更用以對於第二震盪訊號進行降頻。

依據本發明一實施例，連接器更包括一第一輸出端，用以將第一振盪訊號輸出至一外部檢測裝置。降頻裝置更包括一切換單元。當切換單元於一致能狀態時，其係將第一振盪訊號由第一接收端傳遞至第一降頻單元。當降頻單元於一非致能狀態時，其係直接將第一振盪訊號由第一接收端傳遞至第一輸出端。

依據本發明另一實施例，第二降頻單元更用以將第一次降頻後之第一振盪訊號傳遞至切換單元。切換單元於致能狀態時，更用以將第一次降頻後之第一振盪訊號傳遞至第一輸出端。

依據本發明再一實施例，第二降頻單元更用以將第二次降頻後之第一振盪訊號傳遞至切換單元。切換單元於致能狀態時，更用以將第二次降頻後之第一振盪訊號傳遞至第一輸出端。

上述依照本發明實施例之降頻裝置，利用第一及第二降頻單元對於第一振盪訊號進行降頻，利用第二降頻單元對於第二振盪訊號進行降頻，使得降頻器可以對於不同頻率的振盪訊號進行降頻，可以提升裝置之應用彈性。此外，利用連接之第一及第二降頻單元對於振盪訊號進行降頻的動作，可以使振盪訊號的頻率降低之外部檢測裝置的檢測範圍內。另外，切換單元可應用同一條線路將降頻後以及未降頻的振盪訊號傳遞至輸出端，可以節省成本。

請參照第1A圖，其繪示依照本發明一實施例的一種降頻裝置的功能方塊圖。欲進行降頻之訊號係由降頻裝置100之一連接器170，傳遞進入降頻裝置100。降頻後之訊號係由連接器170傳遞離開降頻裝置100。降頻裝置100利用一第一降頻單元110及一第二降頻單元120對於訊號進行降頻處理。因此，離開降頻裝置100的訊號頻率，係落入一外部測試裝置E之量測範圍。降頻裝置100更應用一切換單元150進行訊號的切換，可選擇性地直接將未降頻的訊號轉送離開降頻裝置100，或者將訊號傳遞至第一降頻單元110及第二降頻單元120以進行降頻。

首先針對降頻裝置100之連接器170進行說明。連接器170係包括多個輸出輸入端。其中，一第一接收端171a係用以連接於一第一訊號源O1，以接收第一訊號源O1輸出之一第一振盪訊號。此外，一第一輸出端171b係用以連接於外部測試裝置E，以將經過降頻或者未經過降頻的第一振盪訊號輸出至外部測試裝置E。再者，一第二接收端172a係用以連接於一第二訊號源O2，以接收第二訊號源O2輸出之一第二振盪訊號。另外，一第二輸出端172b係用以連接於外部測試裝置E，以將降頻後之第二振盪訊號輸出至外部測試裝置E。

另外，本實施例中，第一接收端171a、第一輸出端171b、第二接收端172a及第二輸出端172b，係可分別根據第一訊號源O1及第二訊號源O2之類別及訊號傳遞之需求，利用一個或一個以上的針腳連接於對應之訊號源。並且對應利用一個或一個以上的線路，分別將第一振盪訊號S1及第二振盪訊號S2傳遞至第一降頻單元110及第二降頻單元120。

切換單元150連接於第一接收端171a、第一輸出端171b以及第一降頻單元110，用以根據使用者設定，將第一振盪訊號傳遞至第一降頻單元110，或者將第一振盪訊號直接轉送至第一輸出端171b。

請參照第1B圖，其繪示切換單元於致能狀態時降頻裝置的示意圖。實際應用上，當切換單元150於致能狀態時，例如提供2.5V之電壓予切換單元150時，切換單元150係將第一振盪訊號S1傳遞至第一降頻單元110。第一降頻單元110對於第一振盪訊號S1進行第一次降頻的動作。接著，第一降頻單元110係將第一次降頻後的第一振盪訊號S1’，傳遞至第二降頻單元120。

第二降頻單元120連接於第一降頻單元110及切換單元150。第二降頻單元120用以對於第一次降頻後的第一振盪訊號S1’，進行第二次降頻。第二降頻單元120接著更用以將第二次降頻後的第一振盪訊號S1’’，傳遞至切換單元150。第二次降頻後的第一振盪訊號S1’’，係經由切換單元150及第一輸出端171b傳遞至外部測試裝置E。

另外，第二降頻單元120更連接於第二輸入端172a，用以接收第二振盪訊號S2。第二降頻單元120更用以對於第二振盪訊號S2進行降頻的動作。接著，第二降頻單元120將降頻後之第二振盪訊號S2’，傳遞至第二輸出端172b，以將其輸出至外部測試裝置E。

第一降頻單元110具有1/16倍率、1/8倍率、1/4倍率及1/2倍率之降頻能力。第二降頻單元120具有1/4倍率及1/2倍率之降頻能力。因此，降頻裝置100對於第一振盪訊號S1而言，共具有1/64倍率之降頻能力。於一實施例中，第一降頻單元110例如是Micrel公司之SY89871U晶片，第二降頻單元120例如是IDT公司之ICS55801晶片。

實際應用上，第一訊號源O1可為相對高頻之一晶體諧振電路(crystal，Xtrl)。第二訊號源O2可為相對低頻之一晶體振盪器(oscillator，OSC)。降頻裝置100最高可以接收頻率約為3.84GHz之第一振盪訊號S1，使得經由降頻器100降頻後的第一振盪訊號S1’’，其頻率不會高於60MHz。另外，降頻裝置100最高可以接收頻率約為240MHz之第二振盪訊號S2，使得由降頻器100降頻後的第二振盪訊號S2’，其頻率不會高於60MHz。如此一來，降頻裝置100降頻後之訊號，係可符合習用外部測試裝置E之頻量測範圍，藉以判斷第一訊號源O1及第二訊號源O2輸出之頻率是否正常。

在另一實施例中，當第一訊號源O1輸出之第一振盪訊號S1其頻率小於等於約960MHz時，第一振盪訊號S1經過第一次降頻後之頻率係可小於等於約60MHz。此時第二降頻單元120係可直接將第一次降頻後之第一振盪訊號S’傳遞至切換單元150，並由第一輸出端171b輸出至外部測試裝置E。

另外一方面，請參照第1C圖，其繪示切換單元於非致能狀態時降頻裝置的示意圖。當切換單元150於非致能狀態時，切換單元150係直接將第一振盪訊號S1，由第一接收端171a傳遞至第一輸出端171b。如此係可利用外部測試裝置E，檢測降頻裝置100與第一訊號源O1之間，以及降頻裝置100與外部測試裝置E之間的連線是否正常。

進一步來說，切換單元150係應用相同之線路，將降頻後之第一振盪訊號S1’’以及未降頻的振盪訊號S1傳遞至第一輸出端171b，如第1B圖及第1C圖所示。如此係可降低降頻裝置100中需要的線路及接腳數目，進而節省成本。

此外，當切換單元150於非致能狀態時，第二降頻單元120仍可用以對於第二振盪訊號S2進行降頻的動作。並且同樣將降頻後之第二振盪訊號S2’傳遞至第二輸出端172b，以輸出至外部測試裝置E。

上述依照本發明實施例之降頻裝置，利用第一降頻單元及第二降頻單元對於第一振盪訊號及第二振盪訊號進行降頻，可以大幅提昇降頻裝置的降頻能力，進而增加降頻裝置的應用彈性。另外，切換單元可應用同一條線路將降頻後以及未降頻的振盪訊號傳遞至輸出端，可以節省成本。

雖然本發明已以實施方式揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100．．．降頻裝置

110．．．第一降頻單元

120．．．第二降頻單元

150．．．切換單元

170．．．連接器

171a．．．第一接收端

171b．．．第一輸出端

172a．．．第二接收端

172b．．．第二輸出端

E．．．外部測試裝置

O1．．．第一訊號源

O2．．．第二訊號源

S1．．．第一振盪訊號

S1’．．．降頻之第一振盪訊號

S1”．．．降頻之第一振盪訊號

S2．．．第二振盪訊號

S2’．．．降頻之第二振盪訊號

為讓本發明之上述和其他目的、特徵、優點與實施例能更明顯易懂，所附圖式之說明如下：

第1A圖繪示依照本發明一實施例的一種降頻裝置的功能方塊圖。

第1B圖繪示切換單元於致能狀態時降頻裝置的示意圖。

第1C圖繪示切換單元於非致能狀態時降頻裝置的示意圖。

100．．．降頻裝置

110．．．第一降頻單元

120．．．第二降頻單元

150．．．切換單元

170．．．連接器

171a．．．第一接收端

171b．．．第一輸出端

172a．．．第二接收端

172b．．．第二輸出端

E．．．外部測試裝置

O1．．．第一訊號源

O2．．．第二訊號源

S1．．．第一振盪訊號

S1’．．．降頻之第一振盪訊號

S1’’．．．降頻之第一振盪訊號

S2．．．第二振盪訊號

S2’．．．降頻之第二振盪訊號

Claims (9)

1. 一種降頻裝置，包括：一連接器，至少包括：一第一接收端，用以接收一第一振盪訊號；及一第二接收端，用以接收一第二振盪訊號；一第一降頻單元，用以對於該第一振盪訊號進行第一次降頻；一第二降頻單元，用以對於第一次降頻後之該第一振盪訊號，進行第二次降頻，該第二降頻單元更連接於該第二接收端，用以對於該第二震盪訊號進行降頻；以及一切換單元，當其於一致能狀態時，係將該第一振盪訊號由該第一接收端傳遞至該第一降頻單元，當其於一非致能狀態時，係由該第一接收端直接將該第一振盪訊號作傳遞。
2. 如申請專利範圍第1項所述之降頻裝置，其中該連接器更包括：一第一輸出端，用以將該第一振盪訊號輸出至一外部檢測裝置，其中當其於該非致能狀態時，係直接將該第一振盪訊號由該第一接收端傳遞至該第一輸出端。
3. 如申請專利範圍第1項所述之降頻裝置，其中該第二降頻單元更用以將第一次降頻後之該第一振盪訊號傳遞至該切換單元。
4. 如申請專利範圍第3項所述之降頻裝置，其中該切換單元於該致能狀態時，更用以將第一次降頻後之該第一振盪訊號傳遞至該第一輸出端。
5. 如申請專利範圍第1項所述之降頻裝置，其中該第二降頻單元更用以將第二次降頻後之該第一振盪訊號傳遞至該切換單元。
6. 如申請專利範圍第5項所述之降頻裝置，其中該切換單元於該致能狀態時，更用以將第二次降頻後之該第一振盪訊號傳遞至該第一輸出端。
7. 如申請專利範圍第1項所述之降頻裝置，其中該連接器更包括：一第二輸出端，連接於該第二降頻單元，用以將降頻後之該第二振盪訊號輸出至一外部檢測裝置。
8. 如申請專利範圍第1項所述之降頻裝置，其中該第一降頻單元具有1/16倍率、1/8倍率、1/4倍率及1/2倍率之降頻能力。
9. 如申請專利範圍第8項所述之降頻裝置，其中該第二降頻單元具有1/4倍率及1/2倍率之降頻能力。