TWI395947B - Instrument parameter setting card, parameter setting method and parameter setting device - Google Patents

Description

儀器之參數設定卡、參數之設定方法及參數設定裝置

本發明係關於一參數設定方法及裝置，確切言之，係關於一種檢測儀器之參數設定方法及裝置。

生物感測儀為診斷與監控疾病的重要儀器，這樣的檢測儀通常需搭配生物感測試片以進行檢測，例如自我監控血糖檢測儀(SMBG)需搭配血糖檢測試片以完成血糖濃度之檢測。此類生物感測儀所使用的感測試片通常為一次使用之耗材，使用者所購得每個單位之生物感測試片，該感測試片必要或相關的資訊可能需要輸入至生物感測儀，使儀器能夠正確運作並輸出準確之檢測結果，或更進一步達到系統管理之作用。這類的資訊可包括：試片校正參數(Calibration parameters)、感測功能資訊、試片效期資訊及其他需輸入至檢測儀器之資訊。特別是試片校正參數為目前自我監控生物檢測儀進行檢測時所必需輸入之資訊，由於生物感測試片製程技術上的因素，每一批次所生產的檢測試片會有批次與批次間(Lot-by-lot)的特性差異，為減小此差異反映在檢測結果上，會以一方程式來代表所製造每一批次的感測試片之特性，並根據該方程式之係數給予代表該批次試片特性的校正參數。所用的特性方程式通常為二元一次方程式，如方程式1所示，而特性曲線的斜率(a)與截距(b)值便是其校正參數。即

y=ax+b　方程式1

生物感測試片製造商於輸出檢測試片時必須隨該批試片附上所屬特性曲線之斜率與截距值，稱為校正碼(Calibration code)。使用者於開始使用每一批檢測試片進行量測前必須先依照使用手冊進行設定程序，使檢測儀器能夠獲得正確的校正資訊，以得到正確的量測結果。

目前習知的校正數值設定程序有兩種，一種為由使用者根據該批試片包裝上所標示的校正碼，選擇內建在儀器記憶體內相對應的一組校正碼。另一種方式為製造商於每批檢測試片出廠時隨附一張校正碼記憶卡(code card)，記憶卡上使用一記憶體(通常為EEPROM)儲存校正參數，當使用者於量測前將校正碼記憶卡插入儀器中，儀器會讀取記憶卡上記憶單元的校正參數至儀器，使儀器得到與該批試片相對應的校正資料。

上述第一種方法由於校正參數需事先決定並記錄於檢測儀器之記憶體當中，該校正資料之組數受限於記憶體空間的大小，並且往後製造的每一批檢測試片之特性均必需是內建於儀器之校正參數的其中一組，直接影響到感測試片之生產良率，更無法在改良或修改試片特性後使原本的檢測儀器繼續適用。另外，這樣的設定方法需使用者自行設定，使用上較不方便，且若因疏忽而導致設定錯誤時，會造成量測上的錯誤判讀。

而使用校正碼記憶卡的設定方法由於是在每一批次檢測試片出廠前才將所屬的校正參數儲存於該隨附的校正碼記憶卡上，因此不會有第一種設定方法所造成之問題，此方法由於是將校正參數記錄於每批試片所隨附的校正碼記憶卡內，因此不會受限於儀器本身的記憶體空間，也不會對所生產的試片特性造成限制。然而，這樣的作法需要於每批試片隨附上一張校正碼記憶卡，記憶卡內至少包含一個記憶單元，所需成本大為增加。

以上所提之兩種方法均無法同時達到具有檢測試片特性變更之可能性、提高試片生產之良率、設定快速、成本低廉、與增加設定方便性之考量。因此需要一種可達到上述所有目的的參數設定方法及裝置。

為解決習知技術所面臨的問題，本發明提出一種設定儀器參數的裝置與方法，其具有一與生物檢測儀器結合之參數設定卡，該設定卡上具有一識別指示物，該識別指示物能夠與生物感測器上的輸入埠相對應。由檢測儀器上偵測該指示物之邏輯變化能代表特定的資料意義，達到資料設定的目的。又因為本創作使用非記憶元件來達成，可迴避既有之專利。在輸入校正資料方面，具有檢測試片特性變更之可能性、提高試片生產之良率的優點，還可建立自有之技術及達到能降低成本的目的。

本發明揭示一種參數設定卡，其包括：一條狀區域；及一第一組塊狀區域；其中該第一組塊狀區域中的每一塊狀區域係分別連接至該條狀區域。

本發明另揭示一種參數設定方法，其包括下列步驟：讀取一資料設定卡；辨識所接收之邏輯變化；以及根據該邏輯變化設定參數；其中該參數設定卡包含：一條狀區域；及一第一組塊狀區域；其中該第一組塊狀區域中的每一塊狀區域係分別連接至該條狀區域。

本發明另揭示一種參數設定方法，其包括下列步驟：讀取一資料設定卡；辨識所接收之邏輯變化；以及根據該邏輯變化設定參數；其中該參數設定卡包含：一條狀區域；及一第一組塊狀區域；其中該第一組塊狀區域中的每一塊狀區域係分別連接至該條狀區域。

本發明另揭示一種裝置，其包括：一微控制器；以及一連接埠連接至該微控制器，包括至少一高電位接腳及至少一低電位接腳；其中該裝置係利用該連接埠讀取一參數設定卡之邏輯變化以設定參數。

經由以下的對應圖示與發明詳述及較佳實施例示，本發明的其他特徵及優點將會更加地明顯。

應注意，雖然於整個討論中提供一範例性具體實施例作為一範例，但是，替代的具體實施例亦可包含各方面而不脫離本發明之範疇。

圖1為根據本發明之一實施例之檢測儀器。如圖1所示檢測儀器100包含參數設定卡110、連接埠120、控制單元130、感測單元140、顯示單元150以及使用者控制介面160。檢測儀器100可為一具有生物檢測之功能之儀器，其透過連接埠120讀取參數設定卡110中的資料，而控制單元130可根據所讀取的資料進行參數校正。

圖2顯示如圖1之參數設定卡110、連接埠120及控制單元130。於參數設定卡110上，配置有條狀區域241、242、243及244；第一塊狀區域組251、252；和第二塊狀區域組253及254，每一塊狀區域組包含有多個塊狀區域。於本實施例中，每一塊狀區域組包含有5個塊狀區域。控制單元130具有二輸入埠A、B及接地點GND；接腳211連接至一高電位VDD及輸入埠B；接腳212連接至接地點GND；以及接腳213連接至一高電位VDD及輸入埠A。參數設定卡110上的條狀區域及第一塊狀區域組分別對應於連接埠120之各個接腳。由圖2可見，第一塊狀區域組251對應於接腳211；條狀區域241對應於接腳212；以及第一塊狀區域組253對應於接腳213。條狀區域241延伸至參數設定卡110之後端，並與第二塊狀區域組253及254中的各個塊狀區域透過複數個佈線260-269分別連接。圖3為參數設定卡110之背視圖，由此可知第一塊狀區域組251及252中的各個塊狀區域係分別連接至第二塊狀區域組253及254中的各個塊狀區域。

圖4及圖5顯示參數設定卡110插入連接埠120之過程，藉由此插入過程連接埠120之各個接腳可讀取一邏輯變化，即因各個塊狀區域所連接的高低電位不同所產生的HIGH/LOW變化。而每一邏輯變化代表一特定資料意義，使得檢測儀器100可根據特定資料意義進行校正，或執行其他功能。特定資料意義係利用程式化的方式寫入參數設定卡110中，程式化的步驟十分簡單，與習知技藝終將資料寫入記憶體的方法不同。參數設定卡110的程式化僅需利用切斷第二塊狀區域組253及254與條狀區域241之間的佈線260-269，使得第一塊狀區域組251及252代表一特定的邏輯變化。舉例而言，若將佈線260及262切斷，則在參數設定卡110完全插入連接埠120後，接腳211所讀取的邏輯變化則為「LOW、LOW、HIGH、LOW、HIGH」，若將其二元化可獲得「00101」；又，若將佈線266、267及269切斷，接腳212則會讀取「10110」。由此可知，每個塊狀區域之預設值均為「0」，而利用切斷該塊狀區域所對應之佈線可將該塊狀區域設定為「1」。利用此方法即可將外部資料程式化於參數設定卡110中，並輸入至檢測儀器100，達到參數校正等功效。為確保儀器所讀取之邏輯狀態正確無誤，可利用設定卡插入與拔除時具有反相訊號的特性來檢查。如插入時的邏輯狀態為「10110」，則拔除時應為「01101」，若兩者不同則代表設定卡輸入的過程有誤，可依此提示使用者重新操作。

本發明中的參數設定卡110亦可利用相同的方法，將其他外部資料輸入至儀器中。參數設定卡110的程式化可利用PCB雕刻機來達成，不僅成本低廉且加工迅速，省去習知技藝需使用記憶體的高成本，且達到免除使用者選擇校正碼的不便，這樣的自動校正(auto-coding)亦可成為與code card之專利技術相互獨立的另一校正系統。

前面對所揭示之具體實施例進行說明以使得任何熟習此項技術者能夠製造或使用本發明。熟習此項技術者將容易明白可對該些具體實施例進行各種修改，而且本文所定義的通用原理可應用於其他具體實施例而不背離本發明之精神或範疇。因此，本發明並非欲受限於本文所示的具體實施例，而係欲符合與本文所揭示之原理及新穎特徵相一致之最廣範疇。例如，雖然較佳實施例中，所例之參數設定卡的塊狀區域為五個，而通常熟悉本項技術人士可知減少或增加塊狀區域均在本發明所揭示的範圍之內。

100．．．檢測儀器

110．．．參數設定卡

120．．．連接埠

130．．．控制單元

140．．．感測單元

150．．．顯示單元

160．．．使用者控制介面

211、212、213．．．接腳

241、242、243、244．．．條狀區域

251、252、253、254．．．塊狀區域組

260、261、262、263、264．．．佈線

265、266、267、268、269．．．佈線

圖1為根據本發明之一實施例之檢測儀器；

圖2為如圖1之參數設定卡、連接埠及控制單元之細節圖；

圖3為如圖1之參數設定卡之背視圖；以及

圖4及圖5參數設定卡插入連接埠之過程。

110．．．參數設定卡

120．．．連接埠

130．．．控制單元

211、212、213．．．接腳

241、242、243、244．．．條狀區域

251、252、253、254．．．塊狀區域組

260．．．佈線

Claims (19)

1. 一種參數設定卡，其包括：一條狀區域；及一第一組塊狀區域；其中該第一組塊狀區域中的每一塊狀區域係分別連接至該條狀區域，且該參數設定卡係用於插入一連接埠以產生一邏輯變化，該邏輯變化係於該參數設定卡由該連接埠之一開端插入該連接埠之一底端的一過程中被讀取。
2. 如請求項1之參數設定卡，其中該條狀區域係對應於該連接埠之一低電位接腳，而該第一組塊狀區域係對應於該連接埠之一高電位接腳。
3. 如請求項1之參數設定卡，其中該條狀區域係對應於該連接埠之一高電位接腳，而該第一組塊狀區域係對應於該連接埠之一低電位接腳。
4. 如請求項1之參數設定卡，其中該第一組塊狀區域中的每一塊狀區域係利用一佈線連接至該條狀區域。
5. 如請求項4之參數設定卡，其中該佈線可被切斷以程式化該塊狀區域。
6. 如請求項1之參數設定卡，其中該條狀區域係延伸至該參數設定卡之後端。
7. 如請求項1之參數設定卡，其中該第一組塊狀區域另包含一第二組塊狀區域配置於該參數設定卡之後端，且該第二組塊狀區域中的每一塊狀區域係分別連接至該第一組 塊狀區域中的每一塊狀區域。
8. 如請求項7之參數設定卡，其中該第一組塊狀區域中的每一塊狀區域係透過該第二組塊狀區域中的每一塊狀區域連接至該條狀區域，該第二組塊狀區域中的每一塊狀區域係利用一佈線連接至該條狀區域。
9. 如請求項8之參數設定卡，其中該佈線可被切斷以程式化該塊狀區域。
10. 一種參數設定方法，其包括下列步驟：於一參數設定卡由一連接埠之一開端插入該連接埠之一底端的一過程中讀取該參數設定卡；辨識所接收之一邏輯變化；以及根據該邏輯變化設定參數；其中該參數設定卡包含：一條狀區域；及一第一組塊狀區域；其中該第一組塊狀區域中的每一塊狀區域係分別連接至該條狀區域。
11. 如請求項10之方法，其中讀取該參數設定卡係利用複數個連接埠讀取該條狀區域及該第一組塊狀區域。
12. 如請求項10之方法，其中該邏輯變化係由程式化該參數設定卡而形成。
13. 如請求項12之方法，其中該程式化該參數設定卡係透過改變該第一組塊狀區域中的每一塊狀區域與該條狀區域之連接關係而形成。
14. 如請求項10之方法，另包含：利用讀取該參數設定卡插入與拔除時之訊號判斷資料是否正確。
15. 一種參數設定裝置，其包括：一微控制器；以及一連接埠連接至該微控制器，包括至少一高電位接腳及至少一低電位接腳；其中該裝置係利用該連接埠讀取一參數設定卡之邏輯變化以設定參數，且該參數設定卡包括一條狀區域及一第一組塊狀區域，該第一組塊狀區域中的每一塊狀區域係分別連接至該條狀區域，該邏輯變化係於該參數設定卡由該連接埠之一開端插入該連接埠之一底端的一過程中被讀取。
16. 如請求項15之裝置，其中讀取該參數設定卡係利用複數個連接埠讀取該條狀區域及該第一組塊狀區域。
17. 如請求項15之裝置，其中該邏輯變化係由程式化該參數設定卡而形成。
18. 如請求項17之裝置，其中該程式化該參數設定卡係透過改變該第一組塊狀區域中的每一塊狀區域與該條狀區域之連接關係而形成。
19. 如請求項15之裝置，另包含：利用讀取該參數設定卡插入與拔除時之訊號判斷資料是否正確。