TWI393383B - Group Wiring System and Method for Grouping Group - Google Patents
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Description
本發明有關一種可進行線組定位之群組配線系統及其方法,尤指一種於線路伺服系統連線狀態下,能夠直接進行線組定位之群組配線系統及其方法。
目前各種網路系統牽涉到數百或甚至數千個位在不同區域位置的終端使用者分享同一個伺服系統所提供的服務。有些使用者可能藉由數據機透過網際網路來連接到伺服系統。有些使用者則可能利用位在遠處之區域伺服器來連接該伺服系統。另有些使用者可能使用位在同一棟大樓之不同樓層的集線器(Hub)來連接該伺服系統。而有些使用者則可能使用位在其座位或工作桌附近的網路線插座(Jack)來連接伺服系統。更有些使用者會使用無線網路裝置以及無線集線器來使用伺服系統。而上述所有的連接工作或多或少均需使用到所謂「線路(Wires)」或「纜線(Cables)以連接到該伺服系統。也就因此,線路系統(Wiring System)便成為一個值得重視與考量的課題。在此一線路系統中,來自四面八方的數千條線路在真正連接到伺服系統之前,將會先集中並連接到一配線架(Distribution Frame),例如一集線面板堆疊(Patch Panel Stack)。很顯然地,對此一龐大的線路系統而言,如何有效管理這眾多的線路是極為重要的。例如,如何去辨別集線面板上之任一個插座究竟是連接到任一個遠端位置。
傳統作法進行線組定位辨識時極浪費人力與時間,無法快速找出工作區之網路插座對應於網路接口之位置,因此線組定位作業麻煩困難。爰是本案申請人特的受讓擁有發明第201921號專利,其包含有測試電壓供應裝置及群組配線裝置,該群組配線裝置內建發光裝置與濾除裝置於各線組接收器中,當一測試電壓施加在發光裝置之電路上時,該發光裝置會發光以供進行線組定位。而當施加一通訊信號或低電壓信號時,該濾除裝置可以降低或避免由該發光裝置所可能造成之迴圈短路現象。該電路在正常通訊時可不必去除,亦可正常使用。
然而,此一專利仍有其缺失,例如當網路完成佈線後(已連接完成伺服器),若需再次對其定位,因其使用之測試電壓為直流低電壓信號,對於伺服器內部電子器件會造成線路阻抗太低,以致發生短路現象,而使群組配線裝置內建之發光裝置無法發生作用。若欲重新對配線裝置定位時,需將已連接配線裝置上之伺服器連線全部去除,方可使其正常作用,耗費大量人力及時間。
鑑於以上缺點,本發明即為針對此缺失所作之改良,其主要目的為提供一種可進行線組定位之群組配線系統及其方
法,以於線路伺服系統連線狀態下,能夠直接進行線組定位辨識,而不必事先拆除伺服系統,以提高作業效率,並且節省人力與時間,具備產業上利用價值。
為達上揭目的,本發明係由一線路伺服系統之集線器依序電性連接一含有複數個線組接受器之配線架、複數個遠端接受器及測試電源裝置所組成;該線組接受器之兩接點耦合一發光裝置及一濾除裝置,以及電性連接相對應之遠端接受器構成一線組;該測試電源裝置以測試電壓施加於遠端接受器之接點,使與其連接之相對應線組接受器之發光裝置發光;該測試電壓為200Hz以上之低頻電壓信號,於通過集線器內部產生之線路阻抗高於濾除裝置,以衰減濾除該低頻電壓信號,於不影響伺服系統運作下進行線組定位測試,使線組不致發生短路,以及發光裝置正常運作。
於較佳實施例中,該測試電源裝置含有一電源及一振盪電路,以輸出低頻電壓信號。
於可行實施例中,該低頻電壓信號為100KHz至3MHz。
有關本發明為達成上揭目的,所採用之技術手段及其功效,茲舉出可行實施例,並且配合圖面說明如下:首先,請參閱第1、2圖,本發明可進行線組定位之群組
配線系統及其方法,係由一線路伺服系統(10)之集線器(11)依序電性連接一含有複數個線組接受器(21)之配線架(20)、複數個相對應遠端接受器(31)及一測試電源裝置(50)所組成,其中集線器(11)以網路跳線(12)連接配線架(20),將各線組接受器(21)以網路線(22)連接相對應之複數個遠端接受器(31),而各遠端接受器(31)平時以網路跳線(32)連接相對應之工作區電腦(40),以及於測試線組定位時改為連接測試電源裝置(50)。
上述配線架(20)如第3圖所示具有一面板(23),供裝設複數個線組接受器(21),並且分別連接於配線架(20)內部電路板之相對應測試電路(27)(參閱第2、4圖)。各線組接受器(21)包括有至少兩接點(25)、(251),各接點(25)、(251)分別連接一導線(26)、(261),而每一測試電路(27)分別耦合於一相對應之線組接受器(21)之兩導線(26)、(261)之間,且更包括有一發光裝置(28)以及一濾除裝置(29)。該發光裝置(28)可在當一測試電壓施加到該測試電路(27)時發出光亮。該濾除裝置(29)是在測試電路(27)與發光裝置(28)串接。濾除裝置(29)可在當一通訊信號或低電壓信號施加於該接點時減少或甚至避免該測試電路(27)造成「迴圈短路
(Loop Back Shorting)」現象。於較佳實施例中,該發光裝置(28)可為發光二極體(LED)(281)、(282)為較佳,而濾除裝置(29)可為相串聯之濾波器(291)與電阻(292)、(293)。該面板(23)的前側表面設置有複數燈孔(24),其位置恰對應於各發光裝置(28),以供發光裝置(28)所發出亮光可經由燈孔(24)暴露至外界。
本實施例測試電源裝置(50)之測試電壓經由第2圖所示之電路板插座(58)、網路跳線(32)及遠端接受器(31),以高於200Hz之低頻電壓信號施加於相對應線組接受器(21)之測試電路(27)上(參閱第2、4圖),使發光裝置(28)之發光二極體(281)、(282)發光,以供辨識定位線組。
上述測試電源裝置(50)含有一電源(51)及一振盪電路,該電源(51)經由開關(57)輸出,使石英晶體振盪器(52)由VCC通入電源後,會產生一振盪信號由Clock輸出,此振盪信號可穿過電容(53)附加在電阻(54)、(55)所組成之偏壓上,然後輸入NPN電晶體(56)中,由輸入B極之電壓信號控制C極與E極之通斷。於較佳實施例中,由B極輸入1MHz信號,即在C極、E極兩端形成1MHz之導通及斷開效果,藉由NPN電晶體(56)提供一足
夠之電流及電壓,以驅動相對應線組接受器(21)之發光二極體(281)、(282)發亮。
本實施例低頻電壓信號必須高於200Hz,其較佳使用頻率範圍為100KHz至3MHz,於此以實驗值為1MHz的頻率,使發光二極體(281)、(282)亮暗之反應時間無法及時動作,使用者眼睛亦無法辨識此一明暗頻率,而會看到常亮發光。該發光二極體(281)、(282)之亮度與低頻電壓信號之頻率成正比,當頻率增至1MHz時其亮度最亮,但頻率再增大時,亮度反而轉弱。同時低頻電壓信號(實驗值為1MHz)通過集線器(11)內部變壓器時所產生之線路阻抗高於濾除裝置(29)之阻抗,以衰減濾除該低頻電壓信號,使線組不致發生短路,以及發光裝置(28)正常運作,因此於線路伺服系統(10)連線狀態時,能夠以低頻電壓信號直接進行線組定位辨識,而不必事先拆除伺服系統(10)。
本實施例如以200Hz以下之低頻電壓信號輸人集線器(11)內部變壓器時會造成線路阻抗太低,而發生短路現象,以致發光裝置(28)無法正常運作。
一般使用於10/100/1000Mbps Switch集線器之變壓器感值約為350uH,使200Hz以上之低頻電壓信號通過變壓器時嚴重衰減,但此低頻電壓信號通過低感值濾
波器(291)及電阻(292)、(293)時衰減較小,能夠驅使發光裝置(28)發亮。
考慮目前市面上之網路產品,一般集線器內部會有以下幾種線路,因此上述200Hz以上之低頻電壓信號最好施加於網路線中之1/2線對,以免造成短路。若使用於其他種類產品時,則可適當選用不同線對的組合,使基於此技術之產品更方便使用,並可兼容於往後更高階產品之應用。
1. IEEE802.3/IEEE802.3u10/100Bese-TX Ethernet/Fast Ethernet:使用12/36線對傳輸資料,經過變壓器濾波後將信號傳入集線器控制IC內部。通常將4/5、7/8線對短路,串線電阻及電容接地。
2. IEEE802.3ab1000Base-T Gigabit Ethernet:使用12/36/45/78傳輸資料,經過變壓器濾波後將信號傳入集線器控制IC內部。
3. IEEE802.3af POE技術:使用12/36線對傳輸資料,經過變壓器濾波後將信號傳入集線控制IC內部。4/5線對短路後接地,7/8線對短路後用來傳輸48VDC電力。
以上所舉實施例僅用為方便說明本發明,而並非加以限制,在不離本發明精神範疇,熟悉此一行業技藝人士所可作之各種簡易變化與修飾,均仍應含括於以下申請專利範圍中。
(10)‧‧‧伺服系統
(11)‧‧‧集線器
(12)‧‧‧網路跳線
(20)‧‧‧配線架
(21)‧‧‧線組接受器
(22)‧‧‧網路線
(23)‧‧‧面板
(24)‧‧‧燈孔
(25)、(251)‧‧‧接點
(26)、(261)‧‧‧導線
(27)‧‧‧測試電路
(28)‧‧‧發光裝置
(29)‧‧‧濾除裝置
(281)、(282)‧‧‧發光二極體
(291)‧‧‧濾波器
(292)、(293)‧‧‧電阻
(31)‧‧‧遠端接受器
(32)‧‧‧網路跳線
(40)‧‧‧工作區電腦
(50)‧‧‧測試電源裝置
(51)‧‧‧電源
(52)‧‧‧石英晶體振盪器
(53)‧‧‧電容
(54)、(55)‧‧‧電阻
(56)‧‧‧電晶體
(57)‧‧‧開關
(58)‧‧‧電路板插座
第1圖係本發明較佳實施例群組配線之方塊圖;第2圖係如第1圖群組配線之示意圖;第3圖係如第2圖配線架之示意圖;第4圖係如第1圖群組配線之測試電路圖。
(11)...集線器
(12)...網路跳線
(20)...配線架
(21)...線組接受器
(22)...網路線
(27)...測試電路
(28)...發光裝置
(29)...濾除裝置
(31)...遠端接受器
(32)...網路跳線
(50)...測試電源裝置
(51)...電源
(52)...石英晶體振盪器
(53)...電容
(54)、(55)...電阻
(56)...電晶體
(57)...開關
(58)...電路板插座
(281)、(282)...發光二極體
(291)...濾波器
(292)、(293)...電阻
Claims (4)
- 一種可進行線組定位之群組配線系統,係由一線路伺服系統之集線器依序電性連接一含有複數個線組接受器之配線架、複數個遠端接受器及測試電源裝置所組成;該線組接受器之兩接點耦合一發光裝置及一濾除裝置,以及電性連接相對應之遠端接受器構成一線組;該測試電源裝置以測試電壓施加於遠端接受器之接點,使與其連接之相對應線組接受器之發光裝置發光;該測試電壓為100KHz至3MHz之低頻電壓信號,於通過集線器內部產生之線路阻抗高於濾除裝置,以衰減濾除該低頻電壓信號,於不影響伺服系統運作下進行定位測試。
- 如申請專利範圍第1項所述可進行線組定位之群組配線系統,其中該測試電源裝置含有一電源及一振盪電路,以輸出低頻電壓信號。
- 一種可進行線組定位之群組配線方法,係由一線路伺服系統之集線器依序電性連接一含有複數個線組接受器之配線架、複數個遠端接受器及測試電源裝置;該線組接受器之兩接點耦合一發光裝置及一濾除裝置,以及電性連接相對應之遠端接受器構成一線組;該測試電源裝置以一測試電壓施加於遠端接受器之接點,以通過相對應線組接受器之發光裝置,使發光裝置發光辨識定位該線組;該測試電壓使用100KH z至3MHz之低頻電壓信號,於通過集線器內部產生之線路阻抗高於濾除裝置,以衰減濾除該低頻電壓信號,於不影響伺服系統運作下進行定位測試。
- 如申請專利範圍第3項所述可進行線組定位之群組配線方法,其中該測試電源裝置以一電源及一振盪電路輸出低頻電壓信號。
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TW200737827A TW200737827A (en) | 2007-10-01 |
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Citations (2)
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US5512819A (en) * | 1994-03-17 | 1996-04-30 | Dasu Limited Liability Company | Assembly and associated method for locating a selected wire of a wiremat |
US20040021452A1 (en) * | 2002-08-05 | 2004-02-05 | Richard Hwang | Group wiring patching system and method for wire pair identification |
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2006
- 2006-03-17 TW TW095109063A patent/TWI393383B/zh active
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US5512819A (en) * | 1994-03-17 | 1996-04-30 | Dasu Limited Liability Company | Assembly and associated method for locating a selected wire of a wiremat |
US20040021452A1 (en) * | 2002-08-05 | 2004-02-05 | Richard Hwang | Group wiring patching system and method for wire pair identification |
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