TWI377496B - - Google Patents

Description

1377496 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關一種電容式觸控裝置及其偵測方法。 【先前技術】 在傳統應用上，大尺寸電容式觸控螢幕皆使用表面電 容式（surface capacitive)感測技術，但表面電容式感測 技術是利用流向銀幕各端點的一組電流不同來判別手指 的位置，因此當觸碰觸控面板之手指數為二指以上時，回 報電流組數仍為一組，故僅能辨別一組絕對座標位置，例 如在二維矩陣時僅能回報一組X，Y參數，因而無法達到多 指觸控的功能。 所有觸點可定位（All Points Addressable; ΑΡΑ)型 陣列電容式感測技術雖然可以達到多指觸控的功能，但是 其需要對每個點感測器（Point Sensor)進行充放電的動 作，以矩陣形狀的觸控面板來說，當X軸及Y軸的感應線 (trace)增加時，APA型陣列電容式的像素數目將急劇增 加，因而造成取像速度（frame rate)下降，故不適用於大 尺寸觸控面板的應用。

另一種軸交錯（Axis Intersect; AI)型陣列電容式感 測技術也同樣能達到多指觸控的功能。圖1顯示傳統應用 在小尺寸觸控面板的AI型陣列電容式感測技術，其包括 一小尺寸觸控面板10以及一 AI型陣列電容式觸控1C 12 掃描觸控面板10，以一最大可支援掃描22條感應線的AI 5 1377496 型陣列電容式觸控IC 12為例來說，雖然應用在X軸及Y 軸各有10條感應線TRX1〜TRX10及TRY卜TRY10的小尺寸 觸控面板10時取像速度還不錯，但是若要將AI型陣列電 容式觸控1C 12應用於X軸及Y轴各有40條感應線 TRX1〜TRX40及TRY1〜TRY40的大尺寸觸控面板14時，如圖 2所示，則必須增加AI型陣列電容式觸控1C 12可掃描的 總感應線數量，然而，觸控1C 12每次對電容充放電所花 費的時間佔整體觸控面板應用上的取像速度的比例非常 大，也就是說取像速度問題主要由1C 12每個框（frame) 對電容充放電所決定，故以增加可掃描感應線數的方法應 用於大尺寸觸控面板14將會有一非常大的缺點，就是整 體應用上的取像速度將會嚴重下降，進而影響應用端的效 【發明内容】 本發明的目的，在於提出一種電容式觸控裝置及其偵 測方法。 根據本發明，一種電容式觸控裝置及其偵測方法包括 一觸控面板、一第一積體電路及一第二積體電路，該觸控 面板具有多條感應線，該多條感應線中的第N條感應線同 時連接第一積體電路與第二積體電路，但該第一及第二積 體電路不同時對該第N條感應線充放電，當該第一積體電 路對該第N條感應線充放電時，該第N條感應線對於該第 二積體電路的關係為浮接或高阻抗，當該第二積體電路對 6 1377496 該第N條感應線充放電時，該第N條感應線對於該第一積 體電路的關係為浮接或高阻抗。本發明以感應線重疊佈局 方式解決因使用二個以上的積體電路掃描該觸控面板時 產生的邊界問題，並利用兩積體電路對於同一條感應線的 讀值差異，在後端取用時修正彼此間讀值的落差；此外， 使用此二讀值經濾波後之值作為該條感應線之讀值，雜訊 所造成之影響亦可獲得改善。 【實施方式】 圖3顯示一種使用二顆以上AI型陣列電容式觸控1C 掃描觸控面板的電容式觸控裝置20。圖4顯示圖3的局部 放大圖。在電容式觸控裝置20中，觸控1C 24掃描觸控 面板22中的感應線TRX1至TRX10，觸控1C 26掃描觸控 面板22中的感應線TRX11至TRX20。由於以多顆AI型陣 列電容式觸控1C來掃描觸控面板22，因此應用在大尺寸 面板時，不但具有多指觸控功能，也因為多顆AI型陣列 電容式觸控1C 24及26可同時.對於感應線進行掃描而具 有良好的取像速度。在電容式觸控1C的掃描方式中，一 般為了得到較大的感應量值，將同時選取兩條感應線對於 電容進行充放電以取得較高的感度（Sensitivity)。 使用上述掃描方式，配合兩個電容式觸控1C共同掃 描同一軸向，如圖4所示，同時對感應線TRX7及TRX8充 放電以取得感應線TRX7及TRX8的ADC值，並根據取得的 ADC值決定感應線TRX7的感應量，依此類推，利用感應線 1377496 TRX8及TRX9的ADC值決定感應線TRX8的感應量，利用感 應線TRX9及TRX10決定感應線TRX9的感應量。按照前面 的述敍，大尺寸觸控面板22的感應線trxio的感應量應 該由感應線TRX10及TRX11的ADC值來判斷，但是感應線 TRX10是連接觸控ic 24而感應線TRX11是連接觸控IC 26，因此在邊界處的感應線TRX10的感應量只能用感應線 TRX10的ADC值來判斷，因而使感應線TRX1〇的感應量有 不正癌或偏小的情形。 本發明以感應線重疊佈局方式解決因使用二個以上 的觸控1C來掃描觸控面板同一軸向時產生的邊界問題。 圖5顯示本發明的第一實施例’其中觸控1C 24同樣連接 感應線TRX1至TRX10,而觸控1C 26除了連接感應線TRX11 至TRX20外，還連接感應線TRX10，換言之，觸控IC 24 及2 6所連接的感應線中感應線TRX1 〇重疊，感應線trx 1 〇 同時連接觸控1C 24及26。在一次選取兩條感應線進行充 • 放電的過程中，由於觸控IC24在掃描感應線TRX1至TRX8 時’並未對感應線TRX10進行充放電的動作，若在此期間 將觸控1C 24對於感應線TRX10的關係設定為浮接或高阻 抗，則在此期間内觸控1C 26對感應線TRX10進行充放電 將不對觸控1C 24產生影響；同樣的，當觸控ic 24對感 應線TRX10進行充放電時’若觸控1(：26對於感應線了敗⑺ 的關係為浮接或高阻抗’則觸控1C 24對感應線TRXi〇進 行充放電時將不對觸控1C 26產生影響，也就是說，觸控 1C 24及26不同時對感應線TRX10充放電，當其中之一對 8 1377496 共用感應線TRX10充放電時，另一個必須將連接該感應線 之接腳設定為浮接或高陴抗。進一步來說，假設觸控IC24 及26是同步開始掃描，當觸控1C 24選取感應線TRX1及 TRX2進行充放電以讀取感應線TRX1的感應量時，觸控1C 26則對感應線TRX10及TRX11進行充放電以得到感應線 TRX10的感應量，進而解決邊界問題，由於此時感應線 TRX10對於觸控1C 24為浮接或高阻抗，因此觸控1C 26 對感應線TRX10充放電並不影響觸控1C 24，當觸控1C 24 選取感應線TRX9及TRX10進行充放電以取得感應線TRX9 的感應量時，觸控1C 26將不對感應線TRX10進行充放電， 此時感應線TRX10對於觸控1C 26為浮接或高阻抗，故觸 控1C 24對感應線TRX10充放電並不影響觸控1C 26。 圖6顯示本發明的第二實施例，其中觸控IC 24及26 均連接感應線TRX8、TRX9及TRX10,如前所述，觸控IC24 及26不同時對同一條感應線TRX8、TRX9或TRX10充放電， 例如’當觸控1C 24對感應線TRX8充放電時，觸控1C 26 對於感應線TRX8的關係為浮接或高阻抗，同樣的，當觸 控1C 26對感應線TRX8充放電時，觸控ic 24對於感應 線TRX8的關係為浮接或高阻抗。在此實施例中，若每次 選取兩條感應線進行充放電，觸控1C 24及26都可以取 得感應線TRX8及TRX9的感應量，因此可以將觸控ic 24 及26所取得的同一條感應線的感應量進行濾波，例如平 均的動作’以降低不同觸控1C經過初步校正（canbration) 後之差異’並得到感應量間的差異’進而得到較佳的感應 9 1377496 量° 以每次選取兩條感應線進行充放電的過程來說，本發 明的感應線重疊佈局方式最多可以推廣到當觸控1C 24選 取感應線TRX[N]及TRX[N+1]進行充放電時，觸控1C 26 選取感應線TRX[N+2]及TRX[N+3]進行充放電，對於沒有 充放電的接腳皆設定為浮接或高阻抗狀態。圖7顯示本發 明的第三實施例，當觸控1C 24選取感應線TRX1及TRX2 以取得感應線TRX1的感應量時，觸控1C 26選取感應線 TRX3及TRX4以得到感應線TRX3的感應量，當觸控1C 24 選取感應線TRX2及TRX3以取得感應線TRX2的感應量時， 觸控1C 26選取感應線TRX4及TRX5以得到感應線TRX4 的感應量，以此類推，觸控1C 24及26沒有同時對同一 條感應線充放電的情況。 【圖式簡單說明】 圖1顯示傳統應用在小尺寸觸控面板的AI型陣列電 容式感測技術； 圖2顯示傳統AI型陣列電容式感測技術應用在大尺 寸觸控面板上的情形； 圖3顯示一種使用二顆以上AI型陣列電容式觸控1C 掃描觸控面板的電容式觸控裝置； 圖4顯不圖3的局部放大圖， 圖5顯示本發明的第一實施例； 圖6顯示本發明的第二實施例；以及 1377496 圖7顯示本發明的第三實施例。 【主要元件符號說明】

10 觸控面板 12 觸控1C 14 觸控面板 20 電容式觸控裝置 22 觸控面板 24 觸控1C 26 觸控1C 11

Claims (1)

1. 申請專利範圍： 種電容式觸控裝置，包括： 一觸控面板，具有多條感應線； 一第一積體電路，用以對該多條感應線中的第N 條感應線充放電；以及 一第二積體電路，.用以對該第N條感應線充放 電，該第一及第二積體電路不同時對該第N 條感應線充放電。 2·如請求項1之電容式觸控裝置，其中該第一積體電 路對該第N條感應線充放電時，該第n條感應線對於 該第二積體電路的關係為浮接。 3.如請求項1之電容式觸控裝置，其中該第一積體電 路對該第N條感應線充放電時，該第N條感應線對於 該第二積體電路的關係為高阻抗。 4·如請求項1之電容式觸控裝置，其中該第二積體電 路對該第N條感應線充放電時，該第N條感應線對於 該第一積體電路的關係為浮接。 5. 如請求項1之電容式觸控裝置，其中該第二積體 電路對該第N條感應線充放電時，該第N條感應線對 於該第一積體電路的關係為高阻抗。 6. —種容式觸控裝置的偵測方法，該電容式觸控裝置 包含一觸控面板具有多條感應線，一第一積體電路用 以對該多條感應線中的第N條感應線充放電，以及一 第二積體電路用以對該第N條感應線充放電，該偵測 方法包括下列步驟： 胃j #體電路對該第N條感應線充放電時’ 2 電路不對該第錄感應線進行充 放電；以及 當該:：積體電路對該第N條感應線充放電時， 2 —積體電路不對該第N條感應線進行充

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