TWI373627B - Crystal oscillator detecting apparatus - Google Patents

Description

101年06月29日核正替法頁 1373627 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 [0001] 本發明係關於一種檢測裝置，尤指一種晶體振盪器檢測 裝置。 【先前技術】 [0002] 晶體振盪器（crystal )在電子產品上被廣泛應用，以提 供電子產品工作所需之系統頻率，故需要對晶體振盪器 進行檢測，以驗證其是否符合要求。 [0003] 目前，習知之檢測方法包括兩種，第一種方法是先把晶 體振盪器安裝在電子產品上，再用示波器直接在電子產 品上之相應探測點上量測晶體振盪器之頻率；第二種方 法是先用萬用表量測一品質好的晶體振盪器，再量測待 測晶體振盪器，然後將品質好的測量結果與待測的測量 結果作比較來判斷待測晶體振盪器之好壞。 [0004] 惟，由於目前電子產品上之晶體振盪器之數目愈來愈多 ，應用上述兩種檢測方法都會花費大量之時間，而且測 試精度也不是很高。 【發明内容】 [0005] 鑒於以上内容，有必要提供一種測試簡單、測試精度高 之晶體振盪器檢測裝置。 ’ [0006] —種晶體振盪器檢測裝置，包括第一及第二電晶體、一 指示器、第一至第三電容、一第一二極體、第一及第二 測試引腳，該第一測試引腳連接一電源，該第一電晶體 之集極連接到該第一測試引腳，射極透過該指示器接地 0971321lf 單编號 A_ 第4頁/共13頁 1013249045-0 1373627 I丄U1平06月 ’該第-電晶體之基極連接到該第-二極體之陰極，該 第一二極體之陽極依次透過該第—及第二電容與該第— 測試引腳相連’該第二電晶體之射極連接在該第—及第 二電容之間之節點’集極接地，基極連接到該第二測試 引腳’該第三電容連接在該第二電晶體之基極與射極之 間。 [0007]上述晶體振盪器檢測裝置透過該第二電容、第三電容及 第二電晶體組成之振盪電路測試待測晶體振盪器是否符 合規格，並透過該第一電晶體控制該指示器快速地顯示 檢測結果，相較於習知之測試方法具有測試簡單快捷， 且測試精度高等優點。. 【實施方式】 [0008] 汰 | | m "月麥亏圖1，本發明晶體振盪器檢測裝置之較佳實施方式 包括一用於容置電路元件之殼體1〇，該殼體1〇上設有— 指示器20、一晶體振盪器連接器30及一電源開關4〇。該 殼體10為方形也可以根據需要設計為其他形狀。該指示 25 2〇用於指示檢測結果》該晶體振盪器連接器3〇用於連 接待測之晶體振盪器，以使待測之晶體振盪器接入到測 #電路中。該電源開關4〇用於接通檢測用之電源。 [〇〇〇9]請繼續參考圖2，該晶體振盪器檢測裝置之内部測試電路 包括一電源Vcc、一第一電晶體Q1、一第二電晶體Q2、該 電源開關40、該指示器20、第一至第三電阻R卜1?3、第 一至第四電容C1-C4、第一及第二二極體D1及D2、該晶 體振盪器連接器3〇 (圖2中以兩測試引腳XI及X2表示）。 本實施方式中 09713211+單編號 A0101 該第一及第二電晶體Q1及Q2為NPN型電晶 第5頁/共13頁 1013249045-0 1373627 101 年 Οβ月 29 日 ， 體，該指示器20為一發光二極體，也可以根據需要將該 指示器2 0選用其他具有指示功能之元件，如蜂鳴器等。 [0010] 該電源Vcc透過該電源開關4〇連接到該測試引腳XI。該第 一電晶體Q1之集極連接到該測試引腳XI，射極連接到該 指示器20之陽極，該指示器2〇之陰極透過該第一電阻以 接地，該第一電晶體Q1之基極連接到該第一二極體〇1之 陰極，該第一二極體D1之陽極依次透過該第一及第二電 谷C1及C2與該測試引腳XI相連，該第四電容連接於該 第一電晶體Q1之集極及基極之間，該第二二極體D2之陽 極連接於該測試引腳XI，陰極連接於該第一二極體〇1與 該第一電容C1之間之節點，該第二電阻R2連接在該測試 引腳XI與β亥第一及第二電容ci及C2之間之節點之間，該 第二電晶體Q2之射極連接在該第一及第二電容^及以之 間之郎點，集極接地，基極連接到測試引腳X2，該第三 電容C3連接在該第二電晶體q2之基極與射極之間，該測 試引腳X2還透過該第三電阻R3接地。 [0011] 本實施方式中，該第一電阻R1之電阻值以^⑽口，該第 二電阻R2之電阻值R2 = 1KD，該第三電阻”之電阻值 Ι?3 = 30ΚΩ，該第一電容C1之電容值Cl = i 000pF，該第二 電容C2之電容值C2=150pF，該第三電容(；3之電容值 C3 = 680pF ’該第四電容C4之電容值C4 = 〇. 。 [0012] 測試時’將一待測晶體振盪器X放置於該晶體振盈器連接 器30内’即該待測晶體振盪器X之兩輪出引腳透過該兩測 試引腳XI及X2連接到了圖2之電路中’按下該電源開關4〇 ’該電源Vcc即接入到了測試電路中。如果待測晶體振盈 單编號 A〇101 第6頁/共13頁 1013249045-0 1373627 101年.06月29日修正替換頁 器X滿足規格要求，在電源VCC接入後，由該待測晶體振 盪器X、第二電容C2、第三電容C3及第二電晶體Q2組成之 振盪電路將開始工作，振盪訊號由該第二電晶體Q2之射 極輸出，經該第一電容C1耦合到該_一二極體D1進行檢 波、濾波後變成直流電壓訊號，再送至該第一電晶體Q1 之基極以使其導通，此時該指示器20發光，指示該待測 晶體振盪器X符合規格要求。如果待測晶體振盪器X不滿 足規格要求，在電源Vcc接入後，由該待測晶體振盪器X 、第二電容C2、第三電容C3及第二電晶體Q2組成之振盪 電路將不工作，進而使該指示器20不發光，表明該待測 晶體振盪器X不符合規格要求，該晶體振盪器檢測裝置相 較於習知之測試方法具有測試簡單快捷，且測試精度高 等優點。 [0013] 其中，該電阻R3為阻尼電阻，當待測晶體振盪器X之頻率 小於6MHz且待測晶體振盪器X之等效電阻大於100 Ω時產 生穩定振盪之作用，也可根據實際需要選擇刪除該電阻 R3，即將該測試引腳X2僅連接至該第二電晶體Q2之基極 即可。該第二及第三電容C2及C3為移相電容，並且 C2*C3/(C2 + C3)=CL-Cs，式中CL為待測晶體振盪器X之 負載電容值，Cs為雜散電容值，在電路中Cs約為4-6pF ，透過調整該第二及第三電容C2及C3之電容值可以測試 不同頻率之晶體振盪器X。該第一及第二電阻R1及R2為分 壓限流電阻，用以保護該指示器20，該第四電容C4為濾 波電容，該第二二極體D2產生防止第一電容C1放電回流 之作用，為進一步降低成本，可以將該第一及第二電阻 0971321lf A0101 第7頁/共13頁 1013249045-0 101年06月29日梭正替病頁 1373627 R1及R2、第四電容C4、第二二極體D2刪除。 [0014] 綜上所述，本發明符合發明專利要件，爰依法提出專利 申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施方式，舉 凡熟悉本案技藝之人士，在爰依本發明精神所作之等效 修飾或變化，皆應涵蓋於以下之申請專利範圍内。 【圖式簡單說明】 [0015] 圖1係本發明晶體振盪器檢測裝置之較佳實施方式之示意 圖。 [0016] 圖2係本發明晶體振盪器檢測裝置之較佳實施方式連接一 待測晶體振盪器之電路圖。 【主要元件符號說明】 [0017] 電源：Vcc [0018] 第一電晶體：Q1 [0019] 第二電晶體：Q2 [0020] 第一二極體：D1 [0021] 第二二極體：D2 [0022] 第一電容：C1 [0023] 第二電容：C2 [0024] 第三電容：C3 [0025] 第四電容：C4 [0026] 第一電阻：R1 單编號A〇101 第8頁/共13頁 1013249045-0 1373.627 101年.06月29日修正替換頁 [0027] 第二電阻：R2 0 [0028] 第三電阻：R3

[0029] 待測晶體振盪器：X

[0030] 殼體：10 [0031] 指示器：20 [0032] 晶體振盪器連接器：30 [0033] 電源開關：40 0971321lf^A0101 第9頁/共13頁 1013249045-0

Claims (1)

101年06月29日修正替择頁 1373627 七、申請專利範圍： 0 1 . 一種晶體振盪器檢測裝置，包括第一及第二電晶體、一指 示器、第一至第三電容、一第一二極體、第一及第二測試 引腳，該第一測試引腳連接一電源，該第一電晶體之集極 連接到該第一測試引腳，射極透過該指示器接地，該第一 電晶體之基極連接到該第一二極體之陰極，該第一二極體 之陽極依次透過該第一及第二電容與該第一測試引腳相連 ，該第二電晶體之射極連接在該第一及第二電容之間之節 點，集極接地，基極連接到該第二測試引腳，該第三電容 連接在該第二電晶體之基極與射極之間。 2 .如申請專利範圍第1項所述之晶體振盪器檢測裝置，其中 該電源與該第一測試引腳之間還連接一電源開關。 3 .如申請專利範圍第2項所述之晶體振盪器檢測裝置，其中 該第一及第二測試引腳與一晶體振盪器連接器之對應引腳 相連，用於插接一晶體振盪器。 4 .如申請專利範圍第3項所述之晶體振盪器檢測裝置，其中 該電源開關、該指示器及該晶體振盪器連接器均設於一殼 體上。 5 .如申請專利範圍第1項所述之晶體振盪器檢測裝置，其中 該指示器為一發光二極體或一蜂鳴器。 6 .如申請專利範圍第1項所述之晶體振盪器檢測裝置，其中 該第一電晶體之集極與基極之間還連接一第四電容。 7 .如申請專利範圍第6項所述之晶體振盪器檢測裝置，其中 該第一至第四電容之電容值分別為lOOOpF、150pF、 680pF及0.0047uF。 0971321#單编號歷 第10頁/共13頁 1013249045-0 ,^ 101年06月29日孩正替換頁 =申請專利範圍第I項所述之晶體振盪器檢 二日二，與地之間還串聯一第一電阻該第一測試引腳與 ^ -及第一電容之節點之間還串聯一第二電阻，該第二 測試引腳與地之間還串聯—第三電阻。 如申請專利範圍第8項所述之晶體振堡器檢測裝置，其中 該第—至第三電阻之電阻值分別為100Ω、1ΚΩ及30κω 〇 10 如申請專利範圍第1項所述之晶體振盤器檢測裝置，其中 該第-極體之陽極與該第—測試引腳之間還串聯一第 =極體，且該第二二極體之陽極連接該第1試^= 極連接該第一二極體之陽極。 第11頁/共13頁 097132nf 單編號 Α〇101 1013249045-0