TWI352190B - - Google Patents
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- TWI352190B TWI352190B TW096140768A TW96140768A TWI352190B TW I352190 B TWI352190 B TW I352190B TW 096140768 A TW096140768 A TW 096140768A TW 96140768 A TW96140768 A TW 96140768A TW I352190 B TWI352190 B TW I352190B
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Description
1352190 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種探針卡共平面度之檢測工具,尤指 一種適用於印刷電路板之共平面度檢測裝置,藉此檢測機 構可使圓形探針卡其印刷電路板之共平面度之檢測方式標 準化。 【先前技術】 般而§,取決圓形探針卡之良、劣的判斷的依據在 10於印刷電路板之共平面度。所謂共平面度簡言之可指此印 刷電路板整體的平整程度。舉例而言,若此印刷電路板之 共平面度在於特定之標準值内,其後,於此印刷電路板所 焊设的探針,其相對於印刷電路板的垂直度、及探針與探 針之間的平行度必定良好’依此印刷電路板所製作出來的 15探針卡其所有之探針必可與受測元件的受測腳位有良好地 接觸,進而得到正確的量測數據;反之,若印刷電路板之 八平面度超出於特定之標準值外,則依此印刷電路板所製 作出來的探針卡其所有之探針則不能保證與受測元件的受 測腳位有良好地接觸,而能認定其量測數據是正確的。 20 習知之印刷電路板之共平面度之量測方式,是以一花 崗石基座作為一水平基準,再將圓形的印刷電路板放置其 上再以間隙規度量此匕印刷電路板相對於&尚岩基座的趣 曲程度而計#其共平面度,由於量測過程經是以人手接觸 此P刷電路板進行量測,其所得到之共平面度數據,因捧 5
I35219U 雜人為因素之干擾而倍受質疑。因 ::r的標準化量測,以期能精準的測量圓形探= P刷電路板的共平面度。 5 【發明内容】 一 種印刷電路板之共平面度檢測裝置,包括—基座、 轉盤、一驅動器' 一印刷電路板、一光源、一影像 。貝取盗、以及一控制器。其中,承載轉盤其滑設於基座上, ►驅動器係驅動承載轉盤旋轉。印刷電路板係放置於承载轉 10盤上又印刷電路板包括一待測面。光源可設置於承載轉 盤之^方或下方,光源之光線投射於印刷電路板之待測面 上。影像掏取器,其與光源設置於承載轉盤之同側,影像 擷取器對準待測面之一特定區域並棟取其影像。控制器係 與驅動器、及影像操取器電性輕合,以控制驅動器旋轉, 15及儲存影像拮貞取器所操取待測面之特定區域影像。如此, 可藉由此共平面度檢測裝置檢測印刷電路板之共平面度是 丨 否合於設定值之標準範圍。 其中,印刷電路板可為一校正圓板,校正圓板其有一 外側校正凸緣、以及一内側校正凸緣,外側校正凸緣之高 2〇度可高於内側校正凸緣。如此’可藉由此校正圓板使正影 像擁取器之單位像素對應於校正圓板之内彻】、及外側校正 凸緣實際之單位尺寸。又,此印刷電路板亦可指定為待測 之一楝針卡印刷電路板。其後,控制器可將此探針卡印刷 電路板之待測面劃分複數個特定角度,控制器並藉由驅動 25器旋轉承載轉盤於複數個特定角度其一時,控制器藉由影 6 1352190 像操取器擷取此待測面位於特定角度之影像,再經控制器 。十算此複數個特定角度之平面度是否合於設定值之標準範 圍。 *另外,驅動器可為-步進馬達或直流馬達、飼服馬達… 5等之等效驅動器。且承載轉盤之内周緣環設有一承載環以 載电路板又,承載轉盤之下端框設有複數個滚輪。 再於驅動器固設-齒盤,承載轉盤外周緣固設一齒環,如 此,可使齒盤與嵩環相互傷合進而帶動待測之印刷電路板 10 【實施方式】 15 20 _明參閱圖1,其係為本發明較佳實施例之立體圖。如層 所示’其顯示為一種印刷電路板之共平面度檢測裝置,自 括一基座丄、-承載轉盤U、一驅動器2、一印刷電路板Η 一光源5、一影像擷取器3、以及一控制器4。 於本實施例中基座1係指形基座、印刷電路板12係 指-圓形印刷電路板。承载轉盤u,其滑設於基座以,承 載轉盤11之外周緣設有-齒環lu,承載轉盤u之下端枢設 有複數個滾輪112。承載轉#11之内周緣環設有一承載環 m’印刷電路板12係放置於承載環113上而得以固定於承 載轉盤11上。 驅動器2,驅動器2包括有一齒盤21、一馬達22,齒盤 21固設於馬達22上。驅動器2之齒盤21與承載轉盤u之齒環 111相互堪合,.以馬達22運轉以驅動承載轉盤u旋轉。印刷 7 1352190 電路板12,係放置於承載轉盤丨丨上,此刷電路板12包括一 待測面121,此測面121朝向承載轉盤"之下方。 在本實施例中,光源5係指一聚光燈,其設置於承載轉 盤11之下方,聚光燈之光線投射於印刷電路板12之待測面 5 121上,以利影像擷取器3擷取待測面121之影像。 在本實施例中,影像擷取器3係指一感光耦合元件 (Charge Coupled Device,CCD)攝影機。其設置於承載轉盤 11之下方,影像擷取器3係對準待測面121之一特定區域, 並擷取其影像。控制器4,其係與驅動器2、及影像擷取器3 10電性耦合,以控制驅動器2之馬達22旋轉’及儲存影像擷取 器3所擷取待測面121之特定區域影像。 請參閱圖2,如圖所示其係本發明較佳實施例之校正圓 板13之示意圖。當使用者在檢測印刷電路板之共平面之 前,會以一校正圓板(alignment k⑴13作為基準進行影像度 15 量單位之校正,此校正之依據為校正圓板13。此校正圓板 13之待測面131包括有一外側校正凸緣丨32、及一内側校正 凸緣133。外側校正凸緣132之高度係高於内側校正凸緣 133 « 此時,配合圖1其校正之步驟如下:首先,影像擷取器 20 3將待測面13 1作為基準面,再擷取校正圓板13之内側校正 凸緣133之凸緣高度,當此凸緣高度其所對應於影像擷取器 3之像素數值有非整數的情形發生時。例如,於本實施例 中,内側校正凸緣133之凸緣高度為〇.〇5mm,若其所對應之 影像操取器3之像素為4.5像素(pixel)值,在此情況下,應將 1352190 影像操取器3之像素值調整至5像素值,使得影像擷取器3之 每一像素所對應之實際高度s〇 olmm,以利於計算,此過 程稱為粗調。 粗調完成後再以外側校正凸緣132為校正標的,於本實 5細*例中此外侧校正凸緣132之高度為〇. imm,再以影像擷取 器3取得其高度之像素值,以粗調時所得之像素實際值為基 礎而對應出此外側校正凸緣132之實際高度是否正確,若有 些微之偏差,則再以外側校正凸緣132為基準再作一次調 整而使所對應之像素值為實際尺寸之整數倍,此階段稱 10為細調。如此,則可使影像擷取器3其每一像素得到更精準 之實際值。 請參閱圖3並請一併參閱圖丨,其係本發明較佳實施例 之平面度檢測示意圖。當影像擷取器3之像素值與實際值校 對完成後,再將待測之探針卡印刷電路板14置放於共平面 15度檢測裝置上’此時’控制器4之内部設定係將此探針卡印 刷電路板14之待測面丨4丨劃分複數個特定 •針卡印刷電路心每15。、3〇。或者每45、劃為 度。於本例中以虛線142、143、及144作為示意代表將探針 卡印刷電路板U之待測面141每45。為一間隔以作為取影像 2〇基準。控制器4並藉由驅動器2旋轉承載轉盤u於此特定角 度其一_,控制器4藉由影像操取器3榻取待測面 特定角度其一之影像。 此 控制器4所取得探針卡印刷電路板14之待測面⑷ 有特定角度之數值之後,待測面141其所有特定角度之數值 9 1352190 必須小於1/1000D,其中,D是代表待測的探針卡印刷電路 板的直徑,亦即此待測面141之共平面度必須小於i/i〇〇〇d 才符&要求。若探針卡印刷電路板14小於l/l〇〇〇D即符合檢 測之標準而可進一步製作成探針卡;反之,若探針卡印刷 5電路板14大於1/100〇D則不符合檢測之標準’應予以淘汰。 由於,此共平面度檢測裝置檢測印刷電路板之檢測過 程完全不假人手,因此能改善習知以間隙規度量此印刷電 路板,摻雜人為因素之干擾而影響共平面度之測量值不精 確之問題,而使得共平面度之量測有一標準化之依據標準。 D 上述實施例僅係為了方便說明而舉例而已,本發明所 主張之權利範圍自應以申請專利範圍所述為準,而非僅限 於上述實施例。 【圖式簡單說明】 15 圖1係本發明較佳實施例之立體圖。 圖2係本發明較佳實施例校正圓板之示意圖。 圖3係本發明較佳實施例之平面度檢測示意圖。 【主要元件符號說明】 基座1 滾輪112 待測面 121,131,141 内侧校正凸緣133 驅動器2 承載轉盤11 齒環111 承載環113 印刷電路板12 校正圓板13 外側校正凸緣132 探針卡印刷電路板14虛線142,143,144 齒盤21 馬達22 1352190 影像擷取器3 控制器4 光源5
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Claims (1)
1352190 肢日修(更)正替換頁I第號,轉5月修正頁 十、申請專利範圍: ^ —種印刷電路板之共平面度檢測裝置,包括: 一基座; 一承載轉盤,其滑設於該基座上; 5 一驅動器’該驅動器係驅動該承載轉盤旋轉; 一印刷電路板’其係放置於該承載轉盤上,該印刷電 路板包括一待測面; # 一光源’其設置於該承載轉盤之一側,該光源之光線 投射於該待測面上; 10 一影像擷取器,其設置於該承載轉盤之一側,該影像 擷取器係對準該待測面之一特定區域並擷取其影像;以及 一控制器,其係與該驅動器、及該影像擷取器電性耦 合,以控制該驅動器旋轉,及儲存該影像擷取器所擷取該 待測面之特定區域影像; 15 其中,該印刷電路板係為一校正圓板(alignment kit), • 該校正圓板於該待測面更包括有一外側校正凸緣、以及一 内側校正凸緣,該外側校正凸緣之高度係高於該内側校正 凸緣。 2. 如申請專利範圍第1項所述之印刷電路板之平面 2〇度檢測裝置,《中,該承載轉盤之外周緣設有一齒環,該 驅動器固設有一齒盤,該齒盤與該齒環相互嚅合。 3. 如申請專利範圍第丨項所述之印刷電路板之共平面 度檢測裝置,其中’該承載轉盤之下熟設有複數個^輪。 12 1352190 _____ (cO年jr月A曰修(更)正替換頁 4. 如申請專利範圍第1項所述之印刷電路板之共平面 度檢測裝置,其中,該承載轉盤之内周緣環設有一承載環。 5. 如申請專利範圍第1項所述之印刷電路板之共平面 度檢測裝置’其中’該驅動器係為一馬達。 6. 如申請專利範圍第7項所述之印刷電路板之共平面 度檢測裝置,其中’該驅動器係為一步進馬達。 7. 如申請專利範圍第1項所述之印刷電路板之共平面 度檢測裝置中’該影像擷取㈣為—感光輕合元件攝 影機。 8. 如申請專利範圍第1項所述之印刷電路板之共平面 度檢測裝置,其中’該光源為一聚光燈。 9. 如申請專利範圍第丨項所述之印刷電路板之共平面 度檢測裝置’其中,該基座係指一圓形基座。 13
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