TWI305643B - Labeling methods and apparatus using energy of two wavelengths - Google Patents

Description

1305643 九、發明說明： - c發明所屬之技術销城】 . 本發明係有關於使用雙波長能量之標記方法及裝置。 C先前技術3 5 發明背景 採用低功率雷射來讀寫於媒體資料側上的二進制資 料。一種典型的媒體為光學儲存碟片諸如CD、DVD等。典 φ 型地，於碟片旋轉中，各型資料藉雷射束而被寫於碟片的 資料側上。可經由改變記錄媒體上的期望區的性質，讓該 10 區指示0或1資料值來記錄資料。 資料碟片與資料側相對的對側常用來以書寫或固定或 標記具有與所記錄的資料相應的描述及說明之標籤。晚 - 近，已經發展出可使用與用來與碟片之資料側上讀寫數位 資料或電子資料的相同雷射，來於光碟的非資料區產生光 \15學可見的標記之裝置及方法。參考美國專利申請案第 • 2_〇1Q87Q8號(Ander_等人）’揭示使用雷射敏感性材料 於碟片標記上’該雷射敏感性村料可與光及熱的施用產生 化學反應，結果導致標記上的色彩及明暗度的變化。 彳吏用光碟機於碟片上製作記號時，輸送至媒體上的雷 20射功率可能例如經由雷射功率的耗損、或經由於雷射相關 光學系統上的污染的積聚，造成該雷射功率隨著時間的經 過而下降。此種雷射功率的下降可能對雷射可靠地讀寫至 碟片或其它媒體造成不良影響。結果，於工廠中設定的對 前感應二極體電壓之雷射功率的校準於使用期間顯著改 5 1305643 變。如此可能需要調整雷射功率，來維持形成於標記區的 記號上的良好光學密度，且可靠地記錄及檢測資料區上的 二進制資料。 一種調整雷射功率的辦法係利用直接讀取寫入期間的 5 資料記錄媒體(DRDW)，其中檢測系統監視寫入操作期間寫 入信號的反射，且對預定標準作測定。另一種方法係使用 寫入後直接讀取方法(DRAW)，其中雙雷射束陣列提供兩個 重疊的有相同波長的雷射束，各自係由分開的檢測器所監 視。一個雷射束用於資料的寫入，而另一個雷射束係讀取 10 恰於寫入後的資料。二重疊反射束之功率位準經比較，來 監視且調整功率輸出。於碟片之標記側上的標記中，使用 Anderson的申請案所述技術，標記上的化學可最佳化來吸 收儘可能大量於寫入雷射束的波長的光。結果，於寫入雷 射波長，光的反射率極低，寫入區與未寫入區間的反射率 15 變化極小。如此，使用也可產生光來測定所寫入的記號的 反射率的寫入雷射無法獲得滿意的結果。 【發明内容】 發明概要 於本發明之一個實施例中，提供一種測定記錄於記錄 20 媒體上的影像的相對明暗度之方法，該方法包含：施加具 有第一波長之第一電磁能至該記錄媒體來於其上記錄影 像；施加具有與第一波長不同的第二波長之第二電磁能至 該記錄媒體上已記錄的影像；以及測定來自該已記錄的影 像之第二電磁能的反射，來判定所記錄的影像之相對明暗 6 1305643 度。 圖式簡單說明 第1圖為根據本發明之實施例，一種雷射寫入與檢測系 統之示意圖； 5 第2圖為第1圖所示之略圖之部分示意圖； 第3圖為根據本發明之實施例使用的光碟之平面圖； 第4圖為用於本發明之實施例的類比至數位變換器電 路之示意圖； 第5圖為用於本發明之實施例之一種校準方法之流程 10 圖； 第6圖為根據本發明之實施例，一種選擇寫入雷射的最 佳功率位準之方法之流程圖； 第7圖為根據本發明使用之檢測方法之流程圖；以及 第8圖為示波器掃描之傳真線圖，顯示與本發明之實施 15 例相關之波形。 I[實方包方式3 較佳實施例之詳細說明 現在將參照附圖舉例說明之實施例，使用特定語言來 說明該等實施例。但須了解絕非意圖囿限本發明之範圍。 20 此處所示發明特色之變化及進一步修改，以及此處所示本 發明之原理的額外應用，對熟諳技藝人士經由研讀本揭示 將顯然易明，且被視為屬於本發明之範圍。 於本發明之一態樣中，寫入雷射產生第一波長之雷射 束，來於感光記錄媒體上諸如記錄媒體的標記側製作光學 7 1305643 可見的記號。記號可形成文字、圖形、影像或其組合而可 用來例如描述或呈現記錄媒體上的資料。此種成像技術廣 用於施加記號至具有感光塗層的任何媒體。感光塗層之化 學係以吸收於寫入雷射波長的儘可能大量光來最佳化。結 5 果極少有光從寫入雷射束反射而可用來於寫入前及寫入後 測量媒體的反射率。 如此，使用分開檢測雷射，來產生與第一波長不同的 第二波長雷射束。檢測雷射監視影像，提供與影像的相對 明暗度相應的反射信號。相對明暗度可以光密度（OD)測 10 量，光密度OD為形成影像之記號的密度程度。因記號的視 覺外觀相當重要，故使用以於可見光譜的光操作的檢測雷 射來測定該記號的光密度。 然後將反射信號與參考信號比較來測定與期望的光密 度的偏差。響應於此種比較，寫入雷射之功率經調整來補 15 償功率偏差。一個實施例利用具有於NIR(近紅外光）波長的 光之寫入雷射，來有效致動媒體的化學。可見光雷射諸如 紅光雷射用於檢測雷射，發出於可見光譜的光來監視寫入 雷射的功率輸出。 雙雷射系統 20 第1圖和第2圖顯示根據本發明之實施例之資料儲存裝 置100，其中使用雙雷射，寫入雷射係用來將光學可見記號 寫入光碟上用的寫入雷射，以及檢測所寫的記號來判定寫 入雷射的結果用的檢測雷射。二雷射所送出的光束係於不 同時間收斂至同一個光徑到達光碟，故光學裝置被分享。 8 1305643 一雷射係於不同頻率操作’亦即寫入雷射係使用可於媒體 上有效標記的波長之雷射，而檢測雷射係使用將導致於媒 體上所做的記號有效檢測的波長。 資料健存裝置100係用來讀及/或寫至光碟1〇2。更特別 5貧料儲存裝置係用來將資料讀及/或寫至光碟102的可 光學寫入資料側1〇4。於資料的寫入操作完成後，一個實施 例中，光碟翻轉，故可寫上光碟的標記側1〇6用來提供光學 可見的標s己’否則為視覺可見的記號於光碟102上。另一實 施例中，資料側和標記側可為光碟的同側。光學拾取單元 10 (OPU) 110提供能束 '透鏡及其它需要的裝置來提供媒體讀 及寫用的能束，容後詳述。 儲存裝置100包括旋轉光碟1〇2用之心軸馬達112和心 軸114。特別，光碟102置於心軸丨丨4上，心軸114藉心軸馬 達112旋轉或移動至輸入控制信號116所規定的位置。控制 15器n8提供控制信號116’控制器118係由控制硬體及/或軟體 所組成。 儲存裝置100進一步包括用來移動支承OPU 11〇的滑概 (圖中未顯示）移動用之滑橇馬達12 0和滑橇執12 2。特別〇 p u 110置於滑橇上，滑橇於滑橇軌122上藉滑橇馬達12〇移動至 20由來自於控制器118的滑橇控制信號124所規定的位置。 OPU 110將標記資料讀及寫於光碟1〇2的標記側1〇6。於 一個實施例中，當標記資料寫至光碟1〇2上時，光碟1〇2係 藉心軸114旋轉。滑橇造成〇pu 11〇於徑向方向移動，讓標 記資料係以徑向增量寫入’該徑向增量可於光碟1〇2上組成 9 1305643 執跡或可未組成軌跡。心軸114和滑橇移動來造成〇pu 110 寫入標記資料的移動方式非屬本發明之一部分，於本發明 之不同應用中可改變。此種標記寫入操作之實例係列舉於 共同審查中之美國專利申請案第10/898 392號，申請曰2〇〇4 5年7月23日名稱「媒體上的軌跡標記」；以及共同審查中之 美國專利申請案第1〇/867,36號，申請曰2004年6月14曰，名 稱「於光碟之可光學寫入標記側而尚未寫入記號的檢測半 徑」。 再度參照第1圖，控制器118產生雷射控制信號127予雷 10射二極體驅動器128來驅動OPU 110。尋軌語音線圈160係連 結至微調機構162，來對滑橇和滑橇馬達12〇的尋軌操作作 微小調整。同心軌跡或螺旋執跡諸如典型用於光碟1〇2的資 料側104的軌跡可能並非標記側1〇6所需。實際上，滑橇可 以小增量例如15 〇微米階移動來提供期望的影像標記。焦點 15致動器I64係與透鏡142關聯來如所需調整透鏡142的焦 點。尋執控制信號166係從控制器Π8導引至尋軌語音線圈 160。焦點控制信號17〇係從控制器118導引至焦點致動器 164。 其次參考第2圖，顯示0PU 11〇的細節。寫入雷射13〇 20設置來產生被導引至透鏡134的雷射束132 ,將發散射束轉 成實質上的準直射束。然後射束132進送至雙色鏡136，造 成部分射束被反射且通過偏振分束器14〇。然後射束132通 過雙色鏡136至可感測射束132強度的前方感測二極體 ]38射束132於通過偏振分束器14〇後的射束被導引通過四 10 1305643 分之一波長板141和聚焦透鏡142來寫至光碟1〇2的尋軌語 音線圈160上。 四分之一波長板141將線偏振光從雷射（p偏振）改變成 為圓偏振光。圓偏振光從光碟102反射，且藉四分之_波長 5板141而改回線偏振光(S偏振）。所得光係與來自雷射的原先 光呈90度角偏振。如此允許回送的S偏振光由偏振分束器 140反射。四分之一波長板141為分束器14〇操作所需。 檢測雷射150產生射束152,其進送通過透鏡154，作用 來改變射束152成為實質上準直射束。射束152通過偏振分 10束益140的雙色鏡U6來撞擊於早先藉聚焦射束132寫於標 §己側106上的影像上。反射射束153回送通過聚焦透鏡142和 四分之一波長板141至偏振分束器140。部分反射射束153係 由光檢測益156所攔截。由光檢測器156產生SUM信號158 且送至處理器159，如第1圖所示。SUM信號係於來與光碟 15側的反射光相對應。處理器159係透過鏈路119而與控制器 118雙向通訊來提供對驅動器之調整所需的回授。 於標記寫入操作中，於一個實施例中，寫入雷射130 可為發出波長約780奈米之光束的紅外光二極體雷射，俾便 來與媒體上的化學品交互作用，來造成進行影像標記。於 20其匕實把例中，可發出不同波長的光束來與不同化學品交 互作用來標記記號。檢測雷射150可為於約650奈米之可見 光光譜的紅光雷射，俾便檢測該記號的視覺特性和強度。 焦、點致動器16 4和尋軌語音線圈16 0用來將資料寫入光碟 102的資料側。 11 305643 龟寫至標記側106時，由於可能沒有任何軌跡可尋軌， 故可無需使用尋軌語音線圈160。聚焦透鏡142可為物鏡， 鏡可分開聚焦來配合寫入雷射丨3 〇和檢測雷射丨5 〇的不同 波 » $ &。右使用尋轨，且若徑向定向維持恆定，則紅光雷射 、’工外光雷射將聚焦於相同轨跡。 雷射二極體驅動器128可利用由外部電阻器設定至選 電流值可經過數位致能的電流源。四個光檢測器i 5 6表 ~ 來產生伺服控制信號的四個正交感測器，該伺服控制 15破可驅動來自於控制器118的焦點和尋執控制信號。 檢測雷射的校準與寫入雷射的最佳化 為了敢佳化寫入雷射的功率設定值，首先必須校準紅 光雷射。第3圖顯示光碟2〇〇，其包括光碟面2〇2，具有接近 光碟面202中心的具有已知反射率的鏡圈206。若干實施例 中’鏡圈206係相鄰於具有輪輻緣21〇的圈輪輻區208，經由 5將校準信號只閘控於高反射率區上方，輪輻緣210可用來校 準。另外’光碟200可未包括輪輻緣210。 如參照第2圖之討論來自檢測雷射15〇的射束152被導 引至光碟102。校準期間，射束152撞擊第3圖所示光碟的鏡 圈206 ’反射回〇pu 110。反射的紅光雷射束153係從鏡區被 20導引至光檢測器156，且產生相應的SUM信號158。 現在參考第4圖，SUM信號158通過包含類比至數位變 換器232的fes界值檢測器230，該變換器232具有SUM信號 158作為正輸入和參考信號234作為負輸入。輸出信號236係 用來校準檢測雷射150和寫入雷射]30二者。 12 1305643

多…、第5圖’顯示檢測（紅光）雷射準之處理程序 首先於步驟252’使用來自紅光雷射的已知輸出功率， 從紅光雷射150施加光束。記錄代表從鏡面反射光束的SUM 信號的平均振幅。此種平均值變成假設為施加雷射功率具 5有高反射比的參考點。理想上此種高反射率係實質上為所 施加之雷射功率的100%’但實際上高反射比值可能為所施 加雷射功率之75%至95%。於步驟攻，紅光雷射束可散焦， 讓大部分光未到達光檢測器，俾便獲得可表示低反射率， 理想上為G%反料的參輕。另外，於製造程序期間紅光 10雷射可經初步校準，來決定實質上100%反射率和〇%反射率 之數值。此等數值係與記錄面上的記號的光學密度相應， 其中元全被反射的光束（壳區）指示未檢測得記號；完全不反 射的光束（暗區）指示檢測得記號。一旦紅光雷射經過校準， .每次寫入雷射最佳化時，無需再度校準紅光雷射。注意， 15可使用紅光LED或其它可見光彩色LED以及紅光雷射。 苐6圖為說明對寫入雷射130建立最佳功率設定值之處 理程序260之流程圖。由於多項參數諸如溫度、濕度、媒體 表面等多項參數的變化故’每次使用時，寫入雷射的功率 位準須經過最佳化。寫入雷射130的功率可使用經校準的紅 2〇 光雷射來最佳化。寫入雷射130用來於記錄媒體上保留用於 校準部分製造記號。此種校準區可與光碟申媒體其餘部分 相同，或可具有更加適合功率校準用的額外層。 於步驟262 ’寫入雷射係於已知之不同功率位準集合操 作來於校準區製造數個記號。於步驟264，檢測（紅光）雷射 13 1305643 150係定位於記號上，來自紅光雷射的光束係從各個記號而 反射至光檢測器。來自光檢測器的各個信號之振幅係表°示 各個反射束的反射量。相反地，記號的光密度為記號的明 暗度的函數。如此記號的光密度係與各個sum信號的振幅 5 成反比。 如由來自光檢測器的信號表示的各個 其次於步驟266，

記號的光密度’各自係與以不同寫入功率位準所寫入的記 號相應’各記號的光密度係經由判定各信號與代表調整至 實質上為鹏和0%反射率的光密度的信號間之差來判 10定。結果所得數值稱作為△光密度（△㈣。△光密度（△〇〇) 為反射光與入射光間的以10為底的對數值。當欲檢查的光 碟部分加記號時’ QD將增高，SUM信號振幅下降。 於乂驟268各個△⑽與期望的△〇〇比較來選出最接 近期望的AOD之ZXOD。然後於步驟27〇，寫入雷射13〇之 15功率調整為用來將與所選用之相應的記號寫入的功 率=準。若△〇〇係低於期望的A〇D，則寫入雷射之功率 增高。若ΔΟϋ係高於期望的A()D，則寫人雷射之功率降 低。任種情況下’寫入雷射之功率最佳化皆可重複至^ OD實質上於目標值為止。 2〇 $ 胃人射13G的最佳功率位準之方法，係檢 /則單-5己破的反射’且將該記號與期望的反射比較。然後 寫入雷射之功率位準可以與所檢測的反射對期 望的反射之 比相應之方式调整。若有所需，該處理程序可重複至所檢 測的反射貫質上係與期望的反射相同為止。同樣地，可對 14 1305643 所檢測的光密度和期望的光密度進行前述處理程序，而非 對所檢測的反射和期望的反射進行處理。 記號的光密度之檢測 於檢測後’或紅光雷射150經校準，且寫入雷射130的 5 功率已經對記錄活性最佳化之後’檢測雷射150可用來檢測 由寫入雷射所做的記號。需要此種檢測活性來驗證標記含 量，來讀取嵌於標記内用於特定用途的資料，或用於若干 其它理由。檢測雷射150發出於可見光譜的光，媒體上的記 號於可見光譜呈現亮或暗。結果，來自檢測雷射之反射光 10概略具有對檢測得的記號之光密度的反比關係。換言之， 紅光雷射可以相對高的信號對雜訊比（s N R)來檢測是否存 在有記號，以及記號的相關光密度。 第7圖為流程圖，顯示於標記程序中，量測於光碟之兮己 錄媒體上所做的記號的相對明暗度或光密度之處理程序 15 300。首先於步驟302’標記資訊係以可表示記號和未加標 S己區的資料形式編碼。其次於步驟304，寫入雷射13〇係根 據該資料操作，來於光碟102的標記媒體上製作—個或多個 記號。於步驟306 ’紅光雷射經操作來發出可見射束於光碟 102的標記面上，結果獲得來自媒體的反射光，包括來自記 2〇號的反射光。於步驟308，所記錄的記號之光密度係以前文 就第6圖之步驟262_268討論的寫入雷射之功率優化期間之 相同方式測定。最後於步驟310，對各個與該記號之△〇〇 相應的記號產生信號’判定於媒體上的各個檢測位置是否 存在有記號。 疋 15 1305643 前述標記程序的計時可使用鎖相迴路和讀取通道進 行另外如第3圓所示，鏡帶之輪輕緣可用來計時標記區的 - 寫入及檢測。 本發明提供多項優點。首先，經由使用兩型不同雷射， 可分開寫入功能與檢測功能，故各項功能可利用最有效的 雷射用於相應用途。此處所述本發明之實施例可達成光功 率控制（OPC)，同時校準檢測雷射和寫 入雷射，同時於期望 . 的場最佳化寫入雷射的功率。當寫入雷射老化時，當光學 系統變髒或被燒蝕所覆蓋時，或當記錄媒體具有與前一個 0 5己錄媒體不同的特性時，本系統允許使用者調整寫入雷射 . 的功率位準來補償功率輸出的變化。 . 此外’使用可發出可見光譜光的檢測雷射，來提供準 確測疋S己號的光密度，且獲得比較使用單一雷射用於寫入 力月b與檢測功能二者獲得更高sNR。 15 此外’使用本系統，描述標記的資訊諸如標記的識別 > 身分和光密度可於標記表面的專用區編碼與寫入，讓使用 者可對相關光碟進行搜尋，或設定讀取雷射來與光碟上的 記號的光密度相應。此外，此處所述系統的檢測能力可用 來檢測光碟上的某些區是否已經加記號。此種能力允許系 20統可決定有多少未加記號的標記空間玎供加記號。此外， 本發明之檢測系統可檢真保護讓此等區不會過 需’否則可能導致標記材料的燒蚀。 雙雷射寫入與檢測系統之實例 現在參照第8圖，提供線圖作以波器掃描的傳真，顯 16 1305643 示與本發明之一個實施例相關的波形400。波形400係與來 自雷射束被導引至記錄媒體來檢測影像或記號的存在的反 射信號相應。於本實施例中’具有波長780奈米之雷射束的 紅外光寫入雷射係用來輸送能量於標記記錄媒體上且製作 5記號。型號JW2 0PU紅光雷射具有650奈米波長的光束，係 用來測量反射率’因而測量記號的光密度。此媒體具有空 間平均白光光密度從未加記號區的約〇 44改變為全加記號 區的1.13。此點係與於650奈米之△ SUM信號約366毫伏特 相應。 10 780奈米雷射聚焦於媒體上，於諸如45毫瓦之期望功率 和諸如0‘25米/秒之線性速度„來形成記號於媒體上。此 種程序結果於程序中的某個點於媒體上獲得目測可見記 號。其次，聚焦透鏡再度聚焦於65〇奈米波長，檢測雷射轉 成約15毫瓦功率。紅光檢測雷射掃描光碟上的執跡或遞增 15 位置來檢測記號。進杆篦-人十 進订第一回合來進一步精製雷射功率的

設定。 …弟8圖料實财，媒财生”平如絲密度，未 加δ己5虎的月景區為q 44，而六口老从 巧4而加心虎的位置為1.13。光碟係於 20 电壓測付為2為伏_蝴。純 最高位準)。未加記號對加記號之二: 測付為366毫伏特。 电土 w厂印玟疋於2.554伏 整加記號區_回送料心 仇料重合於凡 的+均讀信號。表示加記號區的波 17 1305643 形410係顯示於希古 > 、盂直私S己線412 (Αχ)與414 (Bx)間。上水平 標記線418 _人 y)表不介於光碟的垂直標記414 (Βχ)與422 (CX)間相郴於加標記區的該未加標記區420回送的平均 麗仏號'則得為2.920伏特。超出標記422啊的波形410 5的其餘部分非與本實例相關。鏡帶區的反射率係估計於 90%於鏡帶由〇pu回送的信號值估計為4 伏特。使用 此等OPUk就，於65G奈米，未加記號區和加記號區的反射 率估。十為38.2%及18·5%。f射電流設定為100毫安培，650 不米田射輸出光為148毫瓦。前述實例結果證實本發明之 10 值。 先月ό，已經使用780奈米紅外光雷射，具有全級值4〇96 ADC计數中的2〇 ADC計數信號，來驗證光功率控制 (〇PC)。此乃占全級的20/4096=0.49%之信號。前述650奈米 0PC測量的全級電壓為4.2790V-2.2066V=2.0724。使用650 15奈米雷射的0PC將顯示電壓的改變4.2790V-2.920V= 1.359V。假設用於〇PC的aDC具有全級設定為超過鏡帶時 回送的電壓，則650奈米雷射OPC呈全級的百分比獲得 0.366/2.0724=17.6%。與780奈米紅光雷射〇pc比較，信號 為17.6%/0.49%：=36倍高。對任一種〇pc測量皆未完全決定 20雜訊特徵。但若SNR於最惡劣情況對780奈米雷射OPC為電 壓比2:1或+6分貝，則給定前述比值，650奈米雷射OPC之 SNR將為+37分貝。注意6分貝SNR獲得記號的缓慢邊際檢 測’而37分貝獲得極為快速且可靠的檢測。如此，使用紅 光雷射來檢測得實例系統，獲得比使用紅外光雷射檢測高 18 1305643 36倍的大信號對雜訊測量值。 須瞭解前述配置僅供舉例說明本發明之原理之應用。 熟諳技藝人士瞭解，可未悖離如申請專利範圍列舉之本發 明之原理及構想而做出多項變化。舉例言之，雖然此處係 5 參考光碟做說明，但須瞭解本發明可用於具有感光面，適 合透過雷射光來加標記的其它型別的媒體，諸如其上有感 光塗層的任何型別的紙媒體或塑膠媒體。 【圖式簡單說明】 第1圖為根據本發明之實施例，一種雷射寫入與檢測系 10 統之示意圖； 第2圖為第1圖所示之略圖之部分示意圖； 第3圖為根據本發明之實施例使用的光碟之平面圖； 第4圖為用於本發明之實施例的類比至數位變換器電 路之示意圖； 15 第5圖為用於本發明之實施例之一種校準方法之流程 圖； 第6圖為根據本發明之實施例，一種選擇寫入雷射的最 佳功率位準之方法之流程圖； 第7圖為根據本發明使用之檢測方法之流程圖；以及 20 第8圖為示波器掃描之傳真線圖，顯示與本發明之實施 例相關之波形。 19

1305643 【主要元件符號說明】 100.. .資料儲存裝置 102.. .光碟 104.. .可光寫入資料側 106.. .標記側 110.. .光學拾取單元(OPU) 112…心轴馬達 114…心轴 116.. .輸入控制信號 Π8...控制器 119.. .鏈路 120…滑橇馬達 122.. .滑橇執 124.. .滑橇控制信號 127.. .雷射控制信號 128.. .雷射二極體驅動器 130…寫入雷射 132.. .第一電磁能、雷射束 134.. .透鏡 136.. .雙色鏡 13 8...前方感測二極體 140.. .偏振分束益 141···四分之一波長板 142.. .聚焦透鏡 150.. .檢測雷射 152.. .第二電磁能、雷射束 153.. .反射射束 154.. .透鏡 156.. .光檢測器 158.. .5.M 信號 159.. .處理器 160.. .尋軌語音線圈 162.. .微調機構 164.. .焦點致動器 166.. .尋軌控制信號 170.. .焦點控制信號 200.. .光碟 202.. .光碟表面 206.. .鏡圈 208.. .圈輪輻區 210.. .輪輻緣 230.. .臨界值檢測器 232.. .數位變換器 234.. .參考信號 236.. .輸出信號 250.. .處理程序 250-254…步驟 20 1305643 260.. .處理程序 260-270···步驟 300.. .處理程序 300-310...步驟 400.. .波形 404.. .雷射off SUM電壓 406.. .鏡帶SUM電壓 408.. .下水平記號線 410.. .波形 412、414..垂直記號線 418.. .上水平記號線 420.. .未加記號區 422.. .垂直記號

21

Claims (1)

1305643 十、申請專利範圍： 1. 一種測定記錄於記錄媒體上的影像的相對明暗度之方 法，該方法包含： (a) 施加具有第一波長之第一電磁能至該記錄媒體 5 來於其上記錄影像； (b) 施加具有與第一波長不同的第二波長之第二電 磁能至該記錄媒體上已記錄的影像；以及 (c) 測定來自該已記錄的影像之弟二電磁能的反 射，來判定所記錄的影像之相對明暗度。 10 2.如申請專利範圍第1項之方法，其中該第一電磁能係從 第一寫入雷射發射。 3. 如申請專利範圍第2項之方法，其中該第二電磁能係由 與該寫入雷射不同的第二雷射發射。 4. 如申請專利範圍第1項之方法，進一步包含校準第二電 15 磁能之反射之步驟。 5. 如申請專利範圍第4項之方法，其中該校準反射之步驟 包含測定第二電磁能從參考影像之反射之參考值。 6. 如申請專利範圍第5項之方法，進一步包含下述步驟， 比較第二電磁能從所記錄的影像之反射與反射標準，來 20 判定可記錄的影像與標準影像間之光密度之差。 7. 如申請專利範圍第6項之方法，進一步包含相對於光密 度之差，改變第一電磁能之功率位準來最小化光密度之 差之步驟。 8. —種測定記錄於記錄媒體上的影像的相對明暗度之裝 22 1305643 置，該裝置包含： (a) 施加具有第一波長之第一電磁能至該記錄媒體 來於其上記錄影像用之第一元件； (b) 施加具有與第一波長不同的第二波長之第二電 5 磁能至該記錄媒體上已記錄的影像用之第二元件；以及 (c) 測定來自該已記錄的影像之第二電磁能的反 射，來判定所記錄的影像之相對明暗度之測定用之測定 元件。 9. 如申請專利範圍第8項之裝置，其中該第一電磁能係從 10 第一寫入雷射發射。 10. 如申請專利範圍第8項之裝置，其中該第二電磁能係由 與該寫入雷射不同的第二雷射發射。 23