TWI304480B - - Google Patents

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TWI304480B TW95130522A TW95130522A TWI304480B TW I304480 B TWI304480 B TW I304480B TW 95130522 A TW95130522 A TW 95130522A TW 95130522 A TW95130522 A TW 95130522A TW I304480 B TWI304480 B TW I304480B
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1304480 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關於一種電壓债測電路,特別有關於一種 用於_串聯電池㈣之電池電壓的侧電路及其方法。 【先前技術】
充% %池在使用上因為可以重複充電使用而相當經濟 方便、°然而當充電電池充電時,須注意充電之保護,藉此 除可避免發生災害外,亦能延長充電電池之壽命。 而電時之保護,不外乎於電池充電時監測電池 上之=包屯壓,若發現電池過充電或過放電時,即發出停 =充屯或如止放電之信號來控制充放電電路,以使充電電 >電壓維持在可容許的範圍,而保護充電電池的安全。 目丨4在身又的甩池組中如果只有單一電池,要偵測i電题 則較為簡單。只耍刺田八间; 文1貝’只 可。紗而产由好―利用刀壓電阻分出預定偵測的電壓值即 、、也iti g以二組或二組以上的電池時,因為偵測的電 池亚不疋以同一接地端為參 兒 壓即是電池保護設計中的重=接地點所以取付一參考電 然而在習知的串聯電池 知電壓偵測電路之電路 之孤測包路如弗一圖習 池B!之偵測電壓/ 在串接電池組上欲偵測電 之電壓Vi,以及接收串〜減法器電路S接收電池 的電壓v2,Vl及電 電池&之下-級〜 及運算放大器〇p之運算二,2、、二過減法态電路8中電阻玟 其值為電壓電壓殳 ^產生電池βι之電壓vBl,
之偵測電S VB2,便取I ^值。以此類推偵測電地B '2之電壓V2與串接於電地拉2 5 04480 之下一級電池B3的電壓V3來運管。产β A々 再根據該些電壓判斷對應之電、、也"T H电〉也電壓後, 情形。 w 也疋否有過充電或過放電之 然而習知的串聯電池組電壓監測電路 =互相赚生誤差較不準確,此將會影 【:=,造成相咖電路在 “二於系利用一正比於絕對溫度的電流 (IPTAT)电路產生一正比於絕對温度的電流 較準電壓產生電路,生 *㈣壓的準;j:二:=電面::藉此提 池提供—種電壓偵測電路’係用於偵測串聯電 器係之電壓’包括複數個分壓器,該些個分壓 分屙雷=5亥些電池之正極及負極,以輸出該電池之一 二參考電壓產生器,係連接於該些電池之負端, 數個參考電壓;及複數個比較器,該些比較器 1、/應連接於該些分㈣及該參考電黯生ϋ之-輸出 二:5收。亥分壓電壓與該參考電壓,藉此偵測該分壓器 、ΜΥ接之該電池是否有過充電或過放電的情形。 、、ί發1另提供—種電_測方法,係用於制串聯電 :,二::’也之電壓充放電情形,步驟首先由複數個分壓 應之〜該電池之電麼,以產生該電池之-分壓電 壓三接ί一正比於絕對溫度的電流之產生電路提供一正比 於,、皆度的電流,使複數個參考電壓產生電路產生複數 1304480 個參考電壓;最後複數個比較器對應接收該些分壓電壓及 該參考電壓,並比較該分壓電壓與該參考電壓,以判斷對 應之該電池之電壓充放電情形。 為了能更進一步暸解本發明為達成預定目的所採取之 技術、手段及功效,請參閱以下有關本發明之詳細說明與 附圖,相信本發明之目的、特徵與特點,當可由此得一深 入且具體之暸解,然而所附圖式僅提供參考與說明用,並 非用來對本發明加以限制者。 【實施方式】 請參閱第二圖,係為本發明電壓偵測電路之電路圖。 如圖所示本發明之電壓偵測電路包括複數個電池Bi、 B2 · · · Bn彼此係以串耳茆言免置’複數個分壓器D1、D2…Dn ’複 數個比較器Q、C2...Cn以及一參考電壓產生器Vg。其中 分壓器Di係連接於電池Bi之正端及負端,以接收電池I 之正端電壓V及負端電壓Vcl。此時分壓器Di利用分壓電 阻Ru及R12將電池Bi之電壓(V—Vcl)分壓,並於分壓 電阻Rll與Rl2之間的節點輸出一分壓電壓V〇i且傳送至比 較器Q。另一方面,參考電壓產生電路Vg連接於電池B]! 之負端,接收電池B!及電池B2間之電壓Vcl,並提供一參 考電壓Vfl給比較器Q。而比較器Q接收分壓電壓VD1 與參考電壓Vfl,藉以比較分壓電壓VD1與參考電壓Vfl, 來判斷該電池^之充放電情形。 同理,分壓器D2係連接於電池B2之正端及負端,以 接收電池B2之正端電壓Vcl及負端電壓Vc2。此時分壓器 D2利用分壓電阻尺21及R22將電池B2之電壓(Vc厂Vc2) 分壓,並於分壓電阻R21與R22之間的節點輸出一分壓電壓 7 1304480
Vd2且輸出至比較器C2。另一方面,參考電壓產生哭v 連接於電池B2之負端,接收電池B2負端之電壓Vc2,並提g 供一參考電壓給比較器Gy而比較器a接收^壓電^ 與參考電壓,藉以比較分壓電壓與參考電ς Vf2 ’來判斷該電池Β2之充放電情形。 承上以此類推根據待測電池(Bl、Β2···、Bn)之數量 η,同理於偵測電路中設置對應之分壓器(m、此. 及比較器(Cl、C2〜、Cn)。在串聯二組或二組以上的l 池因為偵測的電池並不是以同一接地端為參考接地點,二 以本發明係利用參考電壓產生器¥§提供一參考電壓Vn、 Vf2".Vfn,以偵測各電池Bl、Β2···Βη是否有過充電或過放 電的情況。其中參考電壓Vfl、Vf2...Vfn係可為一過充電戈 一過放電之檢查參考電壓,藉此與各對應之分壓電^ VD1、VD2...VDn做比較即可得知電池Bl、B2···Βη是否有^ 充電或過放電情形。 。 接下來說明苓考電壓產生器Vg如何提供各比較器 Q、C2...Cn —適當的及較準確的參考電壓。請參閱第三 圖,係為本發明參考電壓產生器之電路圖。如圖所示參考 電壓產生器Vg包括一正比於絕對溫度的電流之產生電路 Vgl及複數個參考電壓產生電路Vg2i、vg22〜Vg2n。其中正 比於絕對溫度的電流之產生電路Vgl係包括兩個金屬氧化 物半導體Mu、Μη、一運算放大器、一電阻Ra及兩電 晶體Qu、Qn。正比於絕對溫度的電流之產生電路Vgi主 要係用於產生一正比於絕對溫度的電流(currents proportional to absolute temperature,IPTAT),也就是流經電 阻Ra之電流。 8 1304480 正比於絕對溫度的電流之產生電路Vgl中運算放大哭 〇ι之正輸入端電壓Va係近似於負輸入端電壓vb (此為運 异放大器特性)。而電晶體Qii之基-射極電壓Vbeb為 外以*ln(M^),電晶體Q12之基-射極電壓vbea為 〜(施/Λ)。所以vb等於vbeb,而近似於Va。進而電 阻Ra上之電壓可以下式表示: rIda# Is、
=W*lnlO AVRa= Vbeor- Vbeb= F/* In
*1η10 = 0.059152617V 接著可得知流經電阻Ra之電流lRa為 瓜-(UmMnV/RaHPTAT。並可知正比於絕對溫度的電流 IPTAT係為隨溫度上升而上升之電流,並且可藉由調整電 阻Ra來設定大小。而上述之lnl〇係為電晶體Qu與Qu之 面積比例,於本發明係不限定。 、另外,參考電壓產生電路係包括一金屬氧化物半 $體M2!、電阻Ri及一電晶體Q:21。參考電壓產生電路 νθΐ利用金屬氧化物半導體Mu將正比於絕對溫度的電流 之產生電路Vgi所產生之正比於絕對溫度的電流IPTAT鏡 射(mirror )過來,形成一第一正比於絕對溫度的電流 IPTAT1。電阻Rl之一端係連接於金屬氧化物半導體m2i, 另一端係連接於電晶體Q;21之射極。而電晶體Q2i之基極 與集極係連接於電池B1之負端,接收電壓Vcl。而參考 電壓產生電路Vg^於金屬氧化物半導體與電阻I間 =節點輸出參考電壓Vfl給比較器C1,該參考電壓Vfl為 第一正比於絕對溫度的電流〗P T AT i於電阻R〗上產生之電 l3〇448〇 屢加上電晶體QZ1之基_射極電壓Vbel。然而其中電晶體 之基-射極電壓Vbel係為隨溫度上升而下降之電壓特 性’其配合第一正比於絕對溫度的電流IpTATl (隨溫度上 外而上升之電流)可得不隨溫度變化之穩定電壓當參考電 缝。 % 、同理,參考電壓產生電路vg22係包括一金屬氧化物半 ‘體M22、一電阻以2及_電晶體。參考電壓產生電路 公似利用金屬氧化物半導體“η將正比於絕對溫度的電流 之產生電路vgl所產生之正比於絕對溫度的電流IpTAT鏡 ,過來,形成一第二正比於絕對溫度的電流IpTAT2。電阻 2之一端係連接於金屬氧化物半導體Mr,另一端係連接 ^電晶體Q22之射極。而電晶體&之基極與集極係連接 二電池B2之負端,接收電壓ν。2。而參考電壓產生電路v似 ^金屬氧化物半導體m22與電阻及2間之節點輸出參考電壓 ^給比較器c2,該參考電壓Vf2為第二正比於絕對溫度的 二⑽勘於電阻R2上產生之電壓加上電晶體q22之基_ 、亟Vbe2。同理’視串聯的電池數來增設參考電壓產 包括金屬氧化物半導體M2n、第η正比於絕 電阻〜及電晶體〜。其中電晶體 之基極與飾係連接於接地端,與電池&之負端同電 電阻Τ考電壓Vn、^係可藉_ 迅阻或祕Rl、R2〜Rn來調整其電壓值之大小。 紅上所述,參考電壓產+哭 電流之產生電路^產生正%利用正比於絕對溫度的 以提供ί該些參考絕對溫度的電流1ptat, X一包I生電路v印、vg22...Vg2n。進而該 10 1304480 些參考電壓產生,vg21、Vg22...Vg2n產生參考電壓Vn、 Vf2〜vfni、比車“ C!、C2 . .Cn用於與電池Βι、B2 . .Bn之分 壓電壓VD1、VD2...Vbn做比較。藉此债測電池B2 有無過放電或過充電之情形。 n
所以刺財發明之電壓動彳電路偵測電池B1是否過 充電,則設定參考電壓產生器Vg以產生一電池B1之過充 電偵測電壓(參考電壓Vfl),再利用比較器C1將電池h 之分壓電壓VD1與過充電偵測電壓做比較。若分壓電壓VD1 大於過充電偵測電壓,.則比較器C1輸出一過充電信號。若 欲偵測電池是否過放電則,設定參考電壓產生器\以 產生一電池之過放電偵測電壓(參考電壓vfl),再利用 比較器Ci將電池艮之分壓電壓VD1與過放電偵測電壓做 比較。若分壓電壓VD1小於過放電偵測電壓,則比較器Ci 輸出一過放電信號。同理,亦可作為電池B2至Bn之過充 電及過放電偵測之用。 比較器CrC〗···。!!之輸出可進一步連接一過電壓或—
過放電保護電路(圖未示),以於出現過充電或過放電時, 讓該些電池Β1、Β2···Βη停止充電或放電,以保護電池、 Β2···Βη。電池Bl、Β2···Βη係可為一鋰離子電池或一鎳鎘電 池0 接著請參閱第四圖,本發明電壓偵測方法之流程圖, 以說明本發明電壓偵測方法之流程。首先由複數個分壓器 Di、D2···%擷取對應之電池仏、Β2···Βη之電壓,並將該 對應電池Βι、Β2···Βη之電壓予以分壓,以產生對應之電池 的一分壓電壓vdi、ν〇2···ν〇η (如第四圖步驟S4〇1)。而 爹考電壓產生器Vg利用正比於絕對溫度的電流之產生電 11 1304480 路Vgl產生正比於絕對溫度的電流ΙΡΤΑΤ,以提供給該些 參考電壓產生電路 Vg21、Vg22...Vg2n。 進而該些爹考電壓產 生電路 Vg21、Vg22..*Vg2n 產生參考電壓vfl、vf2...vfn以提 供給比較器Ci、C2...Cn (如第四圖步驟S403 )。接著該些 比較器Q、C2...Cn將參考電壓Vfl、Vf2...Vfn與分壓電壓 VD1、VD2...VDn做比較,以偵測電池Β!、Β2···Βη有無過放 電或過充電之情形(如第四圖步驟S4〇5)。 惟,以上所述,僅為本發明較佳的具體實施例之詳細 說明與圖式,本發明之特徵並不偈限於此,並非用以限制 本發明,本發明之所有範圍應以下述之申請專利範圍為 準,凡合於本發明申請專利範圍之精神與其類似變化之實 施例,皆應包含於本發明之範疇中,任何熟悉該項技藝者 在本發明之領域内,可輕易思及之變化或修飾皆可涵蓋在 以下本案之專利範圍。 【圖式簡單說明】 第一圖係為習知電壓偵測電路之電路圖; 第二圖係為本發明電壓偵測電路之電路圖; 第三圖係為本發明參考電壓產生器之電路圖;及 第四圖係為本發明電壓偵測方法之流程圖。 【主要元件符號說明】 電池 B〗、B2、B3、Bn 分壓器Di、D2、 比較器Ci、C2、Cn 參考電壓產生器Vg 減法器電路s 12 1304480 運算放大器〇p、〇! 正比於絕對溫度的電流之產生電路Vg 1 .參考電壓產生電路Vg21、Vg22、Vg2n 金屬氧化物半導體Μη、M12、M21、M22、 電晶體 Qll、Ql2、Q21、Q22、Q2n 债測電壓Vb 1 電阻 R、Ra、R]1、R12、R21、R22、Rnl、Rn2、Rl、R2、Rn 分壓電壓Vdi、Vd2、Vdh 參考電壓vfl、vf2、vfn 電壓 V、Vp v2、vcl、vcn、va、vb 電流iRa 正比於絕對溫度的電流IPTAT 第一正比於絕對溫度的電流IPTATl 第二正比於絕對溫度的電流IPTAT2 第η正比於絕對溫度的電流ΙΡΤΑΤη
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Claims (1)

  1. yy年日修(更)正本 ^1304480 十、申請專利範圍: 一種電壓偵測電路,包括: 複數個分壓器,該些分壓器係個別連接一電池之正極及 負極,以輸出該電池之一分壓電壓; 一參考電壓產生器,係連接於該些電池之負端,用於輸 出複數個參考電壓;及 複數個比較裔,該些比較器係對應連接於該些分壓器及 該參考電壓產生器之一輸出端,以比較該分壓電壓與 該參考電壓,藉此偵測該分壓器所對應連接之該電池 之電壓是否有過充或過放電之情形; 其中該參考電壓產生器係包括: 一正比於絕對溫度的電流之產生電路,係用於產生一 正比於絕對溫度的電流,及 複數個參考電壓產生電路,係連接於該些電池之負 端,並根據該正比於絕對溫度的電流產生該些參考 電壓,以對應輸出至該些比較器。 2 如申印專利範圍第1項所述之電壓偵測電路,其中該此 參考電壓產生電路係包括一金屬氧化物半導體,以鏡射 該正比於絕對溫度的電流於該參考電壓產生電路。 3、如申請專利範圍第2項所述之電壓偵測電路,其中該些 參考電壓產生電路個別係包括: 黾阻,於該電阻之一端輸出該參考電壓;及 一電晶體,該電晶體之射極係連接於該電阻之另一端, 而該電晶體之基極及集極係連接於對應之該電池的 14 1304480 4 6 8、 9 10 負端。 如申=f利範圍第3項所述之電壓偵測電路,其中該些 餐考電壓值係為該正比於絕對溫度的電流流過該電阻 所產生之電壓加上該電晶體之基_射極電壓。 如申明專利|色圍第i項所述之電壓偵測電路,其中該此 比較器之輸出係連接-過電壓或—過電Ί 保護該些1池。 W 如申明專利範圍第i項所述之電壓偵測電路, 考電壓係為-過充電或—職電之檢查參考電壓。b 如申請專利範圍第1項所述之電壓偵測電路,中該此 電池係為一鋰離子電池或一鎳鎘電池。 、Μ二 一種電壓偵測方法,步驟包括: 複數個分壓ϋ擷取職之_電池之電壓,以產生 之一分壓電壓; 人彳 -正比於絕對溫度的電流之產生電路提供一正比於 對溫度的電流,使複數個參考電壓產生電 個參考電壓;及 座生後數 複數個比較器對應接收該些分壓電壓及該來考電壓 比較該分壓電壓與該參考電壓,以判斷對庫 I 之電壓充放電情形。 W 如申請專利範圍第8項所述之電壓偵測方法,其 考電壓係為一過充電或一過放電之檢查參考電厣。/ 如申請專利範圍第8項所述之電壓偵測方法电^中哕此 電池係為一鋰離子電池或一鎳鎘電池。 /、 ^二 如申請專利範圍第8項所述之電壓偵測方法,其中嗦此 15 11 ,1304480 ‘ I 參考電壓產生電路係利用一金屬氧化物半導體鏡射該 纊 正比於絕對溫度的電流於該些參考電壓產生電路,以產 生該些參考電壓。 12、 如申請專利範圍第8項所述之電壓偵測方法,其中該些 蒼考電壓係猎由該正比於絕對溫度的電流流過該些參 考電壓產生電路中之一電阻所產生的電壓加上該些參 考電壓產生電路中之一電晶體之基-射極電壓所產生。 13、 如申請專利範圍第8項所述之電壓偵測方法,其中該些 _ 參考電壓係藉由調整該正比於絕對溫度的電流之產生 電路中之一電阻來設定。 14、 如申請專利範圍第8項所述之電壓偵測方法,其中該些 . 參考電壓係藉由調整該些參考電壓產生電路中之一電 阻來設定。
    16
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