TWI276940B - Method and apparatus for dynamically adjusting the performance of load apparatus - Google Patents

Description

1276940 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種可動態調整負載裝置之執行效能的 I置及方法，尤指一種依據複數組臨界值以及反磁滯值r 5調整負載裝置之執行效能的裝置及方法。 ' 【先前技術】 如圖1所示’在-般之電子系統中，電源供應器1()係用 10 15 I:::電壓準位（例如：U〇伏特）之交流電，並輸出低 f位（例如：12伏特）之直流電，以供應令央處理器 〇 ”員不曰曰片、南北橋晶片、記憶體或其他電子元件箄倉 2裝置所需之電力。由於中央處理器30消耗電力所需之電 屋準位（例如：U伏特）較電源供應器10所提供之電厚^ 位為低，故藉由儲能電感24及儲能電容26之儲能能力：並 2=(脈波寬度調變）訊號（由PWM控制器12所輸出） U (Duty Cycle)之變化而控制高閘極控制訊號 燃gate及低閘極控制訊號之工作週期（細:

Si狀Ϊ仃電晶體開關器2〇及電晶體開關器22之開啟/ j $源供應器10可提供充裕的電力（包括工作 電流）至中央處理器3〇,而電晶體開關㈣ 所/及取之電力係亦由電 制器12可直純—岐供。自中，PWM控

訊號之工m 3G所發出之指令而調整PWM 义』，或依據電壓調整哭32

訊號之工作週期，盆中之H周整PWM /、中，電壓調整器32之運作係參考中央 20 1276940 處理器30提供之訊號而進行後續動作。緩衝裝置28將？麗 訊號之電壓準位予以提升以形成高問極控制訊號Ugate及 -1本控制^mgate’最後’由高閘極控制訊號u帅及低 3才HfL號Lgate以控制電晶體開_器2〇及電晶體開關器 22之致能/去能之維持時間，以提供中央處理器3〇無論重負 載狀態或輕負載狀態所需之電力。其中，緩衝裝置28最佳 係為正向器，較佳係為反向哭、 似功能之電子元件。 '讀-、或習知可提供類 正常假央處理器Μ目前處於正f狀態，則負載狀態 理則=行大量運算處理之應用程式，例如：影像處 =處理器3。之負载將增加’因而增加其電力之消 時門長产2者想更進—步縮短執行大量運算處理所需之 出^^ Γ者可藉由調整時脈產生器（未顯示）所輸 15 頻率而增加中央處理器30之工作頻率，以 中…:Γο:之執行效能。同樣地’為了進-步強化 哭似斤幹出能’使用者亦可藉由調整電塵調整 強。斤^之電壓值而增加中央處理器3〇之工作電屡，以 理所理益3〇之執行效能，達到縮短執行大量運曾處 理所需之時間長卢之曰从^ 、里逐斤處 處理哭m 反地，當系統閒置時，中央 法而；低中央電力，使用者可利用類似上述之作 牛低中央處理為30之工作頻率 央處理1130之電力效耗， 叫低中 點將更顯重要。 1了拓式电子系統而言，此優 20 10 15 # 2〇 ^/6940 然而，去φ + 時，將會衍生-個門=里盗30之工作頻率或工作電麼提升 或工作電應之調整後，、目==央處理器30之工作頻率 處理器30之工作頻率十 w…、良好之判斷機制可使中央 判斷機制並非完美、，;:：，復至原本之狀態，或此 工作頻率或工作電心1央處理器30持續工作於較高 這對於可攜式電子系二 央處理器30持續工：工：：：：之問題。另外，中 大量的熱氣，造成作 作電麼時將產生 相π妯 * 〇间式電子系統設計者不必要之困擾， 處理器30持續工作於較低之工作頻率丄 d亦存在執行效能不彰的㈣。 【發明内容】 本發明之主要目㈣在提供—種可 之執行效能之方法和裳置正負載衣置 成複數效能階級m —=負載衣置之執行效能區分 、、 使母一效此階級對應至一組臨界值以 、W4 負载炎置之負载狀態變化時，可依據臨界 值以及反磁滞值以作為是否進行執行效能調整之依據。 在本發明中，負載裝置可為中央處理器、顯示晶片、 或南北橋晶片等習知類似功能之電子元件；負载訊號可為 P WM訊號、高閘極控制訊號❿咖、低閘極控制訊號、 負載狀置之工作電壓值或汲取電流值等類似訊號。 7 25 1276940 【實施方式】 調整負載 負載裝置 為能讓貴審查委員能更瞭解本發明可動態 裝f之執行效能的裝置，則以中央處理器30作i 之靶列，並舉三較佳具體實施例並說明如下。 第一實施例： 如圖2所示，在本實施例中，本發明可動態調整 = 能的裝置可依據中央處理器3。之負載變: °°幻、作琶壓，其包括：電流負載请測電路40以及恭 壓調整器32。其中，電流負載债測電路4〇以及電壓調整= 32皆為習知元件’電流負載偵測電路40如中華民國第 94101902號專利申請案，發明名稱「電流負載偵測電路I 組叹包流負載偵測電路之電源供應系統」所示，可輸入p % Μ 15 «亚將PWM訊號之高準位維持時間/低準位維持時間（亦 %為工作週期）與臨界值或反磁滞值進行比對，並依據比 對之結果而輸出電壓控制訊號至電塵調整㈣。㈣㈣ 益32依據電壓控制訊號而調整中央處理㈣之工作電壓。 此外，除了可調整中央處理器3〇之工作電墨外，亦可 猎由調整中央處理器30之工作頻率而達到類似之效果。如 圖3所示’電麼調整器32可被時脈產生㈣所替代，其中， 時脈產生器36亦為習知元件。如此—纟，電流負載偵測電 路40可輸人PWM訊號並將pwM訊號之高準位維持時間/低 準位維持時間（亦稱為工作週期）與臨界值或反磁滞值進 仃比對’並依據比對之結果而輪出時脈控制訊號而非電壓 控制訊號至時脈產生器36 ’而時脈產生器％可依據時脈控 20 1276940 制訊號而調整中央處理考^ ^ ° 之工作頻率（或稱外部頻率）， 以凋整中央處理器30之執行效能。 千^ 可想而知地，/(李用^L __ '、可同時調整中央處理器30之工 作=以及工作頻率而達到調整中央處理器30之執行效能 = :::示’使用者僅需令電流負删電路4。依 據上述比對之結果而分另，丨心 J輪出电壓控制訊號以及時脈 訊號至電壓調整器32以及時 制 了脈產生态36即可，於實作上並 無技術上之困擾。另外，雷治自 电极負載偵測電路4〇亦可輸入盥 PWM訊號相似之訊號，例如··古 ^ 阿閘極控制訊號Ugate或低閘 極控制δίΐ 5虎Lgate ’並進行相似少_ ί田丄 仃邳似之處理，由於工作原理相似， 故不多作說明。 弟二貫施例： 如圖5所示，在本實施例中，本發明可動態調整中央處 理器30之執行效能的裝置可依據中央處理器3〇之負载變化 15而調整其工作電壓，其包括：電壓福測電路42以及電堡調 整器32。其中，電壓债測電路42以及電壓調整㈣皆為習 • 知元件，電壓偵測電路42可量測中央處理器30之工作電^ 之電壓值’並比對工作電磨之電壓值與臨界值或反= . 值，再依據比對之結果而輸出電壓控制訊號至電壓調整界 20 32，電壓調整器32可依據電壓控制訊號而調整中央處理哭 30之工作電壓。如第一實施例所述，使用者亦可以時脈產 生器36來替代電壓調整器32，或同時存在時脈產生器％以 及電壓調整器32，由於工作原理相似且無實現上之困難 故不多作說明。 1276940 弟二貫施例： 如圖6所示，在本實施例中，本發明可動態調整負載裝 置之執仃效能的裝置係依據中央處理器3〇所汲取之電流量 以及本發明可動態調整負載裝置之執行效能之方法所設定 5 品界值以及反磁滯值以作為是否調整負載裝置之工作電 I之依據，其包括·電流偵測電路44以及電壓調整器Μ。 其中，電流偵測電路44以及電壓調整器32皆為習知^件， 電流偵測電路44可量測中央處理器3〇之汲取電流之電流 >值，亚比對電流值與臨界值或反磁滞纟，再依據比對之姓 1〇果而輸出電壓控制訊號至電壓觀器32。電壓調整器難 據電壓控制訊號而調整中央處理器3〇之工作電壓。如第一 實施例所述，使用者亦可以時脈產生器36來替代電壓調整 器32，或同時存在時脈產生器36以及電壓調整器32,由於 工作原理相似且無實現上之困難，故不多作說明。 15 在上述中，臨界值、反磁滯值以及工作頻率（或工作 電慶）之關係如本發明可動態調整負載裳置之執行效能的 方法所述。如圖7所示，本發明可動態調整中央處理器川之 執行效能的方法包括下列步驟： 步驟S50 ·初始化。 20 步驟S52:將中央處理器3〇之執行效能區分成複數效能 P皆級，並設定每一效能階級所對應之工作頻率、臨界值以 及反磁滯值。如圖8所示’較佳係將中央處理器30之執行效 能區分成五效能階級，分別為超高效能j階、高效能以 正常效能m階（預設值）、低效能IV階、以及超低效能白v 10 1276940 階，且臨界值較佳分別為45、35、25以及2〇，反磁滞值較 佳：別為47、37、23以及18 ’而其工作頻率分別為預設頻 率提升1G%、預設頻率提升6%、預設頻率、預設頻率降低 6%、以及預設頻率降低1〇%，工作電遷分別為14、I.%、- 1.3、1.25、以及1.2伏特。由上述中可知，如果工作頻率及 工作電壓被提升者’則其反磁滞值將大於臨界值；相反地， 如果工作頻率及卫作被降低者，則其反轉值將小於 臨界值’此乃因為中央處理器3〇之工作頻率及工作電壓之 10 15 20 改變將造成中央處理㈣之執行效能改變，而此執行效能 之改變所產生之負載與中央處理器3〇因運算處理（例如· ，行大型應用程式）所產生之負載無關，& 了使中央處理 器30之執行效能的切換及基於相同之比對基礎上，故需以 反磁颅值以進行相關之比對，使中央處理器％之執行效能 之切換更符合現實之狀況。可想而知地，使用者可依其需 求而將執行效能之效能階級數予以增加或減少 界值與反磁滯值之值，或改银各 ^ At ^次改艾母一效能階級所對應之工作 頻率及工作電壓，並不以上述為限。 …步驟S54 :量化負載訊號以取得負載量化值。其中，負 載訊號可為PWM訊號、高閘極控制訊號❿咖、低間極控制 «Lgate、工作電壓之電壓值、或卫作電流之電流值，而 里化之過程可由電流負載僧測電路4 〇、電壓侧電路4 2、 或電流偵測電路44所執行，較佳係由電流負載制電路40 所執行。 11 1276940 5

10 15 步驟S56·比對負载量化值與臨界值或反磁滞值 據=之結果以決定是否調整中央處理器 工作頻率。假設，中央處理哭a— a 邗冤&及 能冚卩比，者査.旦彳.°°30之執行效能置係為正常效 化勃田、里匕值增加時’則表示中央處理器30有強 化執仃效能之需求，故屮斟名#曰， 另 是否由正常效能_=:!=以及臨界值以決定 以及決定是否調高中二 階或高效能π階， 木“ 處理錢之工作電壓及工作頻率； 化值減少時表示中央處理器3g有降低執行效 ^古故比對負載量化值以及反磁滞值以決定是否由 ^效此！階或高效能Π階切換至正常效能瓜階， ::!調降中央處理器，之工作電麼及工作頻率。假設，、 =置化值持續減少時，則表示中央處理器3〇有降低執行 心之需求’故比對負载量化值以及臨界值以決定是否由 正常效能瓜階切換至低效能㈣或超低效能V階，以及決 :疋否調降中央處理器3〇之工作電壓及工作頻率，·當負載 f匕值增加時’則表示中央處理器3〇有增加執行效能之需 求’故比對負載量化值以及反磁滞值以決定是否由低效能 IVP白或超低效能乂階提供至正常效能瓜階，以及決定是否 調高中央處理器30之卫作電壓及卫作頻率。 20 比叙叹日’ +央處王里器30之執行效能置係為正常效能瓜 P白’負載®化值為30。當中央處理器30因執行大型應用程 j而使負載里化值增加時’這表示中央處理器财強化執 仃效此之需求，當負载量化值增加超越35時（即A點所示）， 為了強化中央處理器30之執行效能，則將中央處理器30之 12 1276940 【圖式簡單說明】 的裝置 圖1係電源供應電路以及中央處理器一土 圖2係本發明可動態調整負載裝置 之笛虚》/丨& Λ 丁效能 <弟一貫施例之電路方塊圖。 置之執行效能的裝置 置之執行效能的裝置 圖3係本發明可動態調整負載裝 之第一實施例之另一電路方塊圖。 圖4係本發明可動態調整負載裝 之第一實施例之另一電路方塊圖。 10 圖5係本發明可動態調整負載裝 之第一貫施例之電路方塊圖。 置之執行效能的裝置 置之執行效能的裝置 置之執行效能的方法 圖6係本發明可動態調整負載裝 之第三實施例之電路方塊圖。 圖7係本發明可動態調整負载裝 之流程圖。 15 圖8係負載量化值 臨界值以及反磁滯值之示意圖。

【主要元件符號說明】 2G電晶體開關器 26儲能電容 32電壓調整器 44電流偵測電路 10電源供應器12 PWM控制器 22電晶體開關器24儲能電感 8緩衝裝置 30中央處理器 36日守脈產生器42電壓偵測電路 4〇電在負載债测電路 15

Claims (1)

1. ΐ2ϋ年9月修正頁

   十、申請專利範圍 年月0修(更)正替換寅 ι 一種可動態調整負載裝置之執行效能的裝置，該負 載裝置之執行效能區分成複數效能階級，每一效能階級設 定有對應之工作參數、臨界值及反磁滞值，其中，於高於 5負載裝置之正常執行效能的效能階級中，該反磁滞值係大 於㈣界值，於低於負載裝置之正常執行效能的效能階級 卜該反磁滞值係小於該臨界值，該裝置係依據一負載訊 •;虎而調整該負載裝置之-執行效能，且該負載訊號對應至 該負载裝置之負載狀態，其包括： 、偵測衣置，係用以輸入並量化該負載訊號以取得一 負载里化值，並比對該負載量化值與該等臨界值及反磁滯 4以决疋一對應之效能階級，而輸出一控制訊號；以及 政月b控制裔，係依據該控制訊號而調整該負載裝置 之該執行效能至該對應之效能階級。 一 ^如申請專利範圍第1項所述之可動態調整負載裝置 • 之執仃效能的裝置，其中該負載裝置係為一中央處理器。 3·如申請專利範圍第丨項所述之可動態調整負載裝置 之執仃效能的裝置，其中該負載裝置係為一顯示晶片。 2〇 4·如申請專利範圍第1項所述之可動態調整負載裝置 之執仃效能的裝置，其中該負载裝置係為一南北橋晶片。 5·如申請專利範圍第丨項所述之可動態調整負載裝置 =執仃效能的裝置，其中該偵測裝置係 負載偵測 電路。 16 丄276940 Ί 廉9月日修(交:換寅j 之勃〜· ϋ申晴專利範圍第1項所述之可動態調整負載裝置 仃效能的裝置，其中該偵測裝置係為一電壓偵測電路。 之勃L如申请專利範圍第1項所述之可動態調整負載裝置 τ放此的I置，其中該偵測裝置係為一電流偵測電路。 t ^ ^如申凊專利範圍第1項所述之可動態調整負載裝置 壓值行效能的裝置，其中該負載訊號係為一工作電壓之電 10 15 20 之執^如申凊專利範圍第1項所述之可動態調整負載裝置 行放月b的I置，其中該負載訊號係為一 PWM訊號。 /10·如申睛專利範圍第1項所述之可動態調整負載裝置 仃效此的裝置，其中該負載訊號係為一閘極控制訊號。 11 ·如中睛專利範圍第i項所述之可動態調整負載裝置 流:行效能的裝置，其中該負載訊號係為一工作電流之電 如申請專利範圍第1項所述之可動態調整負載裝置 提2仃效此的裝置，其中該負載訊號係由一PWM控制器所 13·如申請專利範圍第丨項所述之可動態調整負載裝置 之執行效能的裝置，其中該效能控制器係為一電壓調整器。 14. 如申請專利範圍第ί項所述之可動態調整負載/置 之執行效能的裝置，其中該效能控制器係為一時脈產生器。 15. 如申請專利範圍第丨項所述之可動態調整負载枣置 之執行效能的裝置，其中該控制訊號係為一電壓控制訊 17 I276940 號 並藉由調整該負載装置之 工 月&

   作電壓而調整該執行效 之劫一二卜專利軌圍第1項所述之可動態調整負载妒置 ，效能的裂置’其中該控制訊號係為一時置 能。 貞^置之—卫作頻率而調整該執行效 17. —種可動態調整負截 據-負載訊號而調整該負載、^丁效月b的方法’係依 10 15 20 訊號對應至該負載裝置之負載=^^ (A)將该負載裝置之該能 級，並設定每一嗜耸1 Rtb ,仃效靶£ /刀成设數效能階 界值以及-:磁級:一工作… 效能的效能階級中，該；磁、帶值：：負載裝置之正常執行 _置之正常執行效::效界值，於低於 於該臨界值； 財，該反磁滞值係小 ⑻量化該負載訊號以取得一負載量化值；以及 對該負魅化值與該等臨界值歧磁滞值，以 ^一“之效能階級，俾調整該負載裝置之該工作來 以使該負載裝置之該執行效能調整至該對應之效能階 ^如申請專利範圍第17項所述之可動態調整負载裝 置之執傾能的方法，其中該負载裝置係為-中央處理器。 =·如申請專利範圍第Π項所述之可動態調整負载裝 置之執仃效能的方法，其中該負载裝置係為一顯示晶片。 18 1276940 % 丨^:u愈、幻止替換頁 . 2。·如申請專利範圍第Π項所述之可^ 置之執行效能的方法’其中該負載裝置係為一南北橋晶片： 21.如申請專利範圍第丄7項所述之可動態調整負载裝 置之執仃效能的方法，其中該工作參數係為一工作電壓。 5 泛如申請專利範圍第17項所述之可動態調整負載裝 i之執行效能的方法，其中該工作參數係、為―工作頻率。、 23.如申請專利範圍第17項所述之可動態調整負載襄 % i之執行效能的方法’其中該工作參數係為-工作電壓以 . 及一工作頻率。 10 认如申請專利範圍第17項所述之可動態調整負載裝 置之執行效能的方法，其中該負载訊號係為-PWM訊號。 25.如申請專利範圍第17項所述之可動態調整負載裝 置之執仃放月匕的方法’其中該負載訊號係為一問極控制訊 15 26.如申請專利範圍第17項所述之可動態調整負載裝 置之執行效月b的方法’其中該負載訊號係為一工作電壓之 # 電壓值。 27.如申請專利範圍第17項所述之可動態調整負載裝 • 置之執行效能的方法，其中該負載訊號係為-工作電流之 、20 電流值。 19