TWI253790B - The electrical contact probe - Google Patents

Description

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五、發明說明（1) 【發明所屬之技術領 製 待 的 天 程上為不可或缺的—環。 測1C之接點之導通連接。興= 。但亦有用於其它電性連^之: 線之連接。 < 的品質，在 #就是提供 $來達成訊 域，如手機 半導體元件 測試系統與 號量測之目 電池及手機 元刖技術 請 6, 2 2 0, 接觸探 如下述 每 缩彈| 的活塞 # °而 壓缩如 參閱第九圖及第十圖圖-^ 870B1號專利公報影太不/、係為美國專利公告第 針」，常見於一般的丨Γ /、係為—種「三段式電性 ： 的匕則忒連接座中。其基本結構 一支探針7 7均包令知且^ ΛΓ?^ ^ ^ ^ 田長形的彈簧限制套筒9 5、一懕 口目 Ρ之上下探針頭7 9、9卜這兩個探針頭 端"、101被限制在套筒兩端的捲曲1〇3、10^針碩 自由狀態時，内部彈簧頂住兩個活塞端如第九圖所 當探針頭被接觸時，探針頭產生位移同時彈箬也 第十圖所示。 〃 裝技 前 1. 2, 術 P、更換 述習知之I C電性接觸探針具有以下之缺點： 其組合構件繁雜。 組裝時需將彈簧限制套筒捲區變形，需較複雜之組 〇 當接觸部位因磨損而不堪使用時需整支更換，無法 磨損部件。 ' 1253790 五、發明說明（2) 4·通常各段元件 即，本創作之主 累加之總長度較長。 所需組裝之技術較低要；？二:„ -種組合構件少、 長度較短之電性接觸探針早 、磨知部件，且累加之總 【發明内容】 依據上述之目的，士 本發明所述的電性垃 型，其主要特徵在於： 接觸楝針分為四 第一型： 係利用具有活塞孔之上段接觸頭，配合且 下段接觸頭來達成上下電路導通的^的。夾;之 彈簧則提供上下接觸頭接觸時之接觸力。上段=的=縮 内肩部可與活塞袖上方之外肩部配合，；； = = : 動限制在活塞孔之範圍之内。下段接觸頭有外 4 >月 其下死點被限制在測試座下蓋板之内。 ^ ’可使 第二型： 係利用一具有活塞孔之上段接觸頭，配合里 下段接觸頭來達成上下電路導通的目的。灸/中門二$ = 體則提供上下接觸頭接觸時之接觸力。上段接觸 部，可使其上死點破限制在測試座上蓋板之内， 月 肩部可與活塞軸上方之外肩部配合，使得轴孔之間之=

1253790 五、發明說明（3) 限制在活塞孔之範圍之内。下段接觸頭有外肩部，可使其 下死點被限制在測試座下蓋板之内。 第三型： 係利用一具有活塞孔之上段接觸頭，配合具活塞軸之 下段接觸頭來達成上下電路導通的目的。夾在中間的壓縮 彈簧則提供上下接觸頭接觸時之接觸力。上段接觸頭有外 肩部，可使其上死點被限制在測試座上蓋板之内。也因此 使得軸孔之間之滑動限制在活塞孔之範圍之内。下段接觸 頭有外肩部，可使其下死點被限制在測試座下蓋板之内。 第四型： 係利用一具有活塞孔之上段接觸頭，配合具活塞軸之 下段接觸頭來達成上下電路導通的目的。夾在中間的彈性 體則提供上下接觸頭接觸時之接觸力。上段接觸頭有外肩 部，可使其上死點被限制在測試座上蓋板之内。也因此使 得軸孔之間之滑動限制在活塞孔之範圍之内。下段接觸頭 有外肩部，可使其下死點被限制在測試座下蓋板之内。 為期使對於本創作之目的、功效及構造特徵能有更詳 細明確的暸解，茲舉出如下述較佳之實施例並配合圖示說 明如后：

1253790 五、發明說明（4) ~~~~~~~~~ ---- =參閱第一、五圖，其分別係為本發明第一型 示思圖及立體圖。直主I口〗面 /、 要構造由上段接觸頭2 1 0、下段接 觸頭04以及壓縮彈簧4〇〇所組成。在自由狀態時上接 頭2 1 0之肩部2 0 2盥下段技細π Λ +又接觸 麵彈力作=、限:在=頭/04之肩部2 0 5因麼縮彈簧 蓋板5⑽之中 板_及接觸座之下 * ，2 2瓜私如下述。當1 C封裝之外部接點1 0 0下麗 觸面203接觸，上段接觸頭謂始因受力而下 降，過程中以活窠衣？ n】爲、工也丄 J 1 太而下π拉總- 塞軸20 6間之持續接觸，另一 盥接m = t 4頭之接觸面2 0 9也因壓縮彈簧40 0的持續變形 與接觸而達成與電性測試之電路接點600導通之目的 第二型 清參閱第二、丄图，甘八 -r m u fr ^ ^ 、囷，、刀別係為本發明第二型之剖面 不思圖及立體圖。豆Φ I M、生 m Μ 2 04^ ^ ^ ^ ^ 妥構k由上段接觸頭210、下段接 二〇之二二=〇所組成。在自由狀態時上段接觸頭 210之肩4 202與下段接觸頭2 彈力作用被限制在接觸座之之肩°卩2 0 5因彈性體70/的 5 0 0之中。 蓋板3 0 0及接觸座之下蓋板 動作時之流程如下述。者 時，先與接觸面2_觸，裝之外部接點100下壓 方面下段接觸頭ί;=『9:轴206間之持續接觸，另- 接觸而達成與電性測：之電:也因彈性體·的持續變形與 〗忒之電路接點600導通之目的。

1253790 五、發明說明（5) 第三型 請參閱第三、七圖，其分別係為本發明第三型之剖面 示意圖及立體圖。其主要構造由上段接觸頭807、下段接 觸頭8 0 6以及壓縮彈簧11 〇 〇所組成。在自由狀態時上段接 觸頭8 0 7之肩部8 0 2與下段接觸頭8 0 6之肩部8 0 5因壓縮彈菁 4 0 0的彈力作用被限制在接觸座之上蓋板9 0 0及接觸座之下 蓋板1 0 0 0之中。 動作時之流程如下述。當I C封裝之外部接點1 〇 〇下壓 時，先與接觸面8 0 1接觸，上段接觸頭8 0 7開始因受力而下 降，過程中以活塞孔8 0 3及活塞軸8 0 4間之持續接觸，另一 方面下段接觸頭之接觸面8 0 8也因壓縮彈簧11 〇 〇的持續變 形與接觸而達成與電性測試之電路接點6〇〇導通之目的。 第四型 一請參閱第四、八圖，其分別係為本發明第四型之剖面 示意圖及立體圖。其主要構造由上段接觸頭8〇7、下段接 觸頭80 6以及彈性體1 40 0所組成。在自由狀態時上段接觸 頭80 7之肩部80 2與下段接觸頭8〇6之肩部8〇5因彈性體14〇〇 的彈^作^被限制在接觸座之上蓋板9晰接觸座之下蓋 板1 0 0 0之中。 動作時之流程如下述。當τ Γ 時，先與接觸面801接觸，上段卜部接點100下壓 降，過程中以活塞孔80 3及活塞因受力而下 土孕由8 0 4間之持續接觸，另一

第 頁 1253790 五、發明說明（6) 方面下段接觸頭之接觸面8 0 8也因彈性體1 4 0 0的持續變形 與接觸而達成與電性測試之電路接點6 0 0導通之目的。 藉由上述之結構設計，本發明之I C電性接觸探針具有 下列之優點： 1. 其組合構件簡單。 2. 組裝時需只需將部件放置於正確位置即可無須複雜 之組裝技術。

3. 當接觸部位因磨損而不堪使用時無須整支更換，只 更換磨損部件即可。 4. 通常各段元件所累加之總長度較短。 綜合上述可知，本發明在同類產品中實具有極佳之進 步實用性，同時遍查國内外關於此類結構之技術資料文獻 中，未發現有相同近似之構造存在在先，應已符合『創作

第10頁 1253790 圖式簡單說明 第一圖 係為本發明第一型之剖面及動作示意圖。 第二圖 係為本發明第二型之剖面及動作示意圖。 第三圖 係為本發明第三型之剖面及動作示意圖。 第四圖 係為本發明第四型之剖面及動作示意圖。 第五圖 係為本發明第一型之組成結構立體圖。 第六圖 係為本發明第二型之組成結構立體圖。 第七圖 係為本發明第三型之組成結構立體圖。 第八圖 係為本發明第四型之組成結構立體圖。 第九圖 係為習知（US 6，2 2 0，8 7 0 B 1 )在自由狀態之組成 結構剖面圖。 第十圖 係為習知（US 6，2 2 0，8 7 0 B 1 )在受壓狀態之組成 結構剖面圖。 (習知） 7 7三段式伸縮探針 7 9伸縮探針上段接觸頭端 9 1伸縮探針下段接觸頭端 9 5彈簧限制套筒 9 7壓縮彈簧 9 9上段接觸頭之活塞端 1 0 1下端接觸頭之活塞端 1 0 3彈簧限制套筒上捲曲端 1 0 5彈簧限制套筒下捲曲端

第11頁 1253790 圖式簡單說明(本創作） 1 0 0 I C封裝之外部接點 2 0 0伸縮探針 2 0 1第一、二型之上段接觸頭之活塞孔 2 0 2第一、二型之上段接觸頭之外肩部 2 0 3第一、二型之上段接觸頭之接觸面 2 0 4第一、二型之下段接觸頭 2 0 5第一、二型之下段接觸頭之外肩部 2 0 6第一、二型之下段接觸頭之活塞軸 2 0 7第一、二型之活塞軸之肩部 2 0 8第一、二型之活塞孔之肩部 2 0 9第一、二型之下段接觸頭之接觸面 2 1 0第一、二型之上段接觸頭 30 0第一、二型之接觸座之上蓋板 4 0 0壓縮彈簧 4 0 0 ’壓縮彈簧之受壓狀態 50 0第一、二型之接觸座之下蓋板 6 0 0電性測試之電路接點 7 0 0第二型之彈性體 7 0 0 ’第二型彈性體之受壓狀態 8 0 0伸縮探針 8 0 1第三、四型之上段接觸頭之接觸面 8 0 2第三、四型上段接觸頭之外肩部 8 0 3第三、四型上段接觸頭之活塞孔

1253790 圖式簡早說明 8 0 4第三、四型下段接觸頭之活塞軸 8 0 5第三、四型下段接觸頭之外肩部 8 0 6第三、四型下段接觸頭 8 0 7第三、四型上段接觸頭 8 0 8第三、四型下段接觸頭之接觸面 9 0 0第三型接觸座之上蓋板 1 0 0 0第三型接觸座之下蓋板 1 1 0 0壓縮彈簧 1 1 0 0 ’壓縮彈簧之受壓狀態 1 3 0 0第四型接觸座之上蓋板 1 4 0 0彈性體 1 4 0 0 ’彈性體之受壓狀態 1 5 0 0第四型接觸座之下蓋板 F探針接觸初期之受力方向 F ’探針受力時之受力方向

第13頁

Claims (1)

125379(^ r y〇 六、申請專利範圍 1 · 一種電性接觸探針， 上段接觸碩·· 其主要特徵包含有·· 外部下方具肩部之金ί::間具孔部，略呈门型之態樣， 壓縮彈簧··係屬物體； 下段接觸頭：^ 2 ^段接觸頭與下段接觸頭中間； 金屬物體’其輪部穿過壓部、外部下方具肩部之 部。 裝置於上段接觸頭之孔 2 ·依據申請專利範圍 上段接觸頭之t間員所述之電性接觸探針， 3.依據申請專利範圍第?：内肩部。 下段接觸頭之轴部具—外項二述之電性接觸探針，其中， 4· 一種電性接觸探 卜純一針’其主要特徵包含有： β.態樣， 1 ; η， ’其中’ ’其中’ 1253790 六、申請專利範圍8·依據申請專利 -- 彈性體Λ非道+ _ $ 4工員所迷之 為非蛉電性材質。之電性接觸探針，其中 9. 種電性接觸探 宜 上段接觸頭： 八要特徵包含有： 外部下方且户:、為一中間具孔部，略呈π μ u 壓縮彈簧？之金屬物體； ®同狀之態 下段接觸頭係二：二”頭與下段接觸頭中金屬物體，其輪部穿過壓縮；等=於：部下方具肩部之 部。 坪更裝置於上段接觸碩之孔< I 〇·種尸生接觸探針，其主要特徵包含有：上奴接觸頭：係為一中間具孔 樣部下方具肩部之金屬物體； 51同狀之態彈性體：係裴置於上段接觸頭與下段接觸頭中 下段接觸頭：係為一中間具軸部、外部下方具^ j 金屬物體，其軸部穿過彈性體裝置於上段接觸頭之^，之 II ·依據申請專利範圍第丨〇項所述之電性接觸探針，部。 中，彈性體具穿透孔部。 一 12 ·依據申請專利範圍第10項所述之電性接觸探針，其 中，彈性體為非導電性材質。 一 樣 m 第15頁