TWI253229B - Rotor position detection of a switched reluctance - Google Patents

Description

1253229 玖、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於磁阻機之無感測器式（sensorless)轉子位置 偵測，尤其是於切換式磁阻機。 【先前技術】 切換式磁阻機之控制與操作係槪括說明於其由J Μ Stephenson與R J Blake於西元1993年6月21至24日在德 國紐倫堡市舉行之PCIM’93會議及展覽所發表的論文“切 換式磁阻馬達與驅動機之特性、設計與應用”，其係以參 照方式而納入本文。於該論文，切換式磁阻機之激勵 (energiesation)的“削波（chopping) ” 與“單脈衝（singlepulse)” 模 式係分 別針對 於低速 與高速 之機器 的作業 而作說 明。 一種典型之先前技藝的驅動機係槪略顯示於第1圖。 此包括一個直流（DC)電源供應器11，其係可爲一電池或已 作整流且濾波後的交流（AC)幹線（mains)。由電源供應器11 所提供之直流電壓係藉著在電子控制單元14之控制下的電 力轉換器13而切換爲跨於馬達12之相繞組16。諸多習知 的轉換器拓樸結構（topology)之一者係顯示於第2圖，其中 ，電源供應器11係設於供應軌線（track) 26、27，其具有跨 接於其之一電容器25以迎合電流之任何的交流成分。相繞 組16係藉著一上開關21與一下開關22而連接至供應軌線 。能量返回二極體23、24係以習用的方式而連接。一電阻 器28係與下開關22爲串聯連接以提供一電流回授訊號。 1253229 一多相系統係典型爲運用第2圖之數個“相接腳（phase leg) ”，其爲並聯連接以激勵該電氣機器之諸相。 切換式磁阻機之性能係部分爲取決於其相對於轉子位 置之相位激勵的準確時序。轉子位置之偵測係習用爲藉著 運用一換能器（transducer) 15所達成，槪略顯示於第1圖， 諸如安裝於機器轉子上的一種旋轉齒狀碟片，其與安裝於 定子之一種光學、磁性或其他的感測器而共同運作。其代 表相對於定子的轉子位置之例如爲一脈衝串的訊號係由感 測器所產生，並且供應至控制電路，以允許準確的相位激 勵。此種系統係簡單且良好運作於諸多應用。然而，轉子 位置換能器係增高組件之整體成本。其亦增加對於機器之 額外的電氣連接，且因此係不可靠度之一潛在源。 用於免除轉子位置換能器之種種的方法係已經提出。 此等方法之數者係回顧於由W F Ray與I H Al-Bahadly所著 之“用於決定切換式磁阻馬達的轉子位置之無感測器式方 法”，其係刊載於西元1993年9月13-16日在英國 Brighton市所舉行之歐洲電力電子會議之期刊第6冊第7-13 頁，其係以參照方式而納入本文。 提出用於轉子位置估計之此等方法的諸多者係運用於 一或多相的相位磁通交鏈（fliix_linkage)(即：相對於時間之施 加電壓的積分）與電流之測量。位置係運用於機器之電感的 變化訊息而計算，其爲角度與電流之函數。此特性係可儲 存爲一磁通父鏈/角度/電流之圖表，且以圖像方式繪於第3 圖。此資料之儲存係一個缺點，由於涉及運用大量記憶體 1253229 陣列及/或另外的系統消耗（overhead)以供介於儲存點之間的 資料內插（interpolation)。 某些方法係於低速而利用此資料，其中，“削波”電 流控制係支配的控制策略，以供變化所發展的轉矩。削波 控制係以圖說明於第4(a)圖，於其之電流與電感波形係顯 示於一相位電感週期。（注意：電感的變化係以理想化的形式 而繪成。）此等方法係通常運用診斷脈衝於非轉矩產生相。 適用於低速運作之一種方法係由N M Mvungi與J Μ Stephenson所提出之“於SR馬達之準確的無感測器式馬達 位置偵測”，其係刊載於西元1991年在義大利Firenze所 舉行之歐洲電力電子會議期刊第1冊第390-393頁，其係以 參照方式而納入本文。 其他的方法係以較高速度而運作於“單脈衝”模式之 激勵。此模式係說明於第4(b)圖，其中之電流與電感波形 係顯示於一相位電感週期。此等方法係監視一作用相之運 作電壓與電流而未干涉正常運作。一種典型的高速方法係 敘述於國際專利申請案W0 91/02401，其以參照方式而納入 本文。 無需一位置感測器而必須儲存一個二維陣列的機器資 料以運作係一個明顯的缺點。另外的方法係已經提出，其 避免對於大量的角度參考資訊之需要，而是儲存於僅有一 個角度之資料。一個該種方法係敘述於歐洲專利申請案EP-A-0573198 (Ray)，其係以參照方式而納入本文。此方法係 針對於感測在一預先定義角度之相位磁通交鏈與電流，藉 1253229 著根據其離開期望點之所計算的偏離而調整診斷點。磁通 交鏈係藉著積分（相對於時間）施加至該相之電壓的測量而估 計。二個一維圖表係儲存於較佳實施例中，一者爲在一個 參考轉子角度之磁通交鏈對於電流，而另一者爲關於轉子 角度對於電流之磁通交鏈的微分。藉著監視相位電壓與電 流，自一預測角度之偏離係可藉助於查詢表而評估，且系 統運作係可因而調整。此種方法係已顯示爲可靠，提供該 磁通交鏈爲可具有足夠準確度於每當由位置偵測演算法所 需時而判定。欲避免磁通交鏈積分器之漂移（drifting)(歸因 於系統之不想要的雜訊與於積分器的缺陷），其係在各個導 通週期之結束時而設定爲零，當電流係已經下降至零而且 該相繞組係不再交鏈任何磁通之時。此種方法係一種“預 測器/修正器”方法，其中，初始預測當轉子將在一參考位 置時，測量該機器之參數（當相信已經到達參考位置時），且 運用此等測量之結果以偵測於預測之誤差，因此，藉著採 取對於下一個參考位置之一新的預測而進行正確的作爲。 切換式磁阻機之操作的一個特殊模式係連續電流模式 ，如同揭示於US 5469039 (Ray)且其係以參照方式而納入本 文。於此模式中，繞組係在磁通（且因此爲電流）已經返回至 零之前（於能量返回週期之結束時）而再次連接至供應器。因 此，相繞組係以連續流通於其之電流而運作，且一直爲磁 通所交鏈。此係一種重要的模式，針對必須於其操作週期 的某些點而產生高位準的過負載輸出之系統。雖然驅動機 之效率係於此模式爲下降，其允許規格爲達成，否則其將 1253229 需要一較大機器。然而，於此模式中，其迄今係不可能運 用先前技藝方法的任一者以用於無感測器式之轉子位置偵 測，由於其無機會於相位週期而重置於零磁通與電流的某 些已知點之積分器，因爲該點係不存在。 欲找出對於此問題的一個解決方式之企圖係已經包括 設計爲，其允許驅動機運作於連續電流模式，除了當控制 系統係判斷必須重新估計位置，於其時，連續電流模式係 存在，位置係估計，且驅動機係放回於連續電流模式。明 確而言，此係可藉著執行該機器於一個模式而作成，其係 主要爲連續電流而在預定區間爲降回至不連續電流，以允 許得到位置資訊。該種技術係取決於實質固定的速度，其 可於較高速度時（於其經常運用連續電流）而接近爲真。然而 ，轉矩之損失係關聯於連續電流之退出。一種替代方法係 欲操作各相於給定數目（例如10個）的週期之連續電流，且 接著激發該相於下一個週期之較短時間，使得電流係將明 確下降至零，允許積分器以作重置而且磁通交鏈之一準確 估計係作出。藉著插入此“短”週期於操作在連續電流之 其他相位，轉矩之損失的不利影響係減輕。 然而，雖有所有此等方法，轉矩損失係將使得機器性 能爲不穩定，且在穩定度再次達到之前係需有數個週期， 因爲電流係必須建立於連續電流之一期間。 【發明內容】 本發明係界定於隨附的申請專利範圍獨立項。某些較 1253229 佳特徵係敘述於申請專利範圍附屬項。 根據本發明之一個實施例’係提出一種用於偵測磁阻 機的轉子位置之方法，包含：推導對於其關聯於磁阻機之該 相或至少一相在一最初點的磁通交鏈之一値，於電壓係施 加至該相之一瞬間；推導在轉子之一後續點的相位電流與相 位磁通交鏈之一値；結合所推導的磁通交鏈値，以給定在後 續點的總磁通交鏈之一値；及，由相位電流與總磁通交鏈値 而推導該轉子位置。 較佳而言，係提出一種方法，其中該瞬間係當磁通交 鏈的成長（growth)爲開始之時間點。在該瞬間之電流係可實 質爲零或非爲零。 較佳而言，在當電壓爲施加至該相之瞬間的磁通交鏈 値係由在該瞬間的電流而推導。舉例而言，在該瞬間的磁 通交鏈係由電流與儲存的電感値而推導，對於電流之縱座 標（ordinate) 〇 因此，本發明之實施例係特別可用於單脈衝的作業模 式之一種切換式磁阻機。本發明係可運用在最初點之電流 値，以推導磁通交鏈之値。當該電流係不連續，零電流値 係引起一零値的磁通交鏈。當電流係連續，電流値係可運 用以推導非爲零的磁通交鏈。 較佳而言，自該最初點的磁通交鏈係藉著積分相位電壓 爲自該瞬間至後續點而推導。在該後續點的磁通交鏈係藉著 積分相位電壓爲自該瞬間至後續點而推導。轉子位置係可由 其具有相位電流與磁通交鏈的座標之儲存參數而推導。 1253229 根據一個特定實施例之本發明的該種方法係測量在當 磁通成長爲開始時之一相位繞組之導通（turn-on)的電流，且 運用此電流値以索引一電感之列表。由該列表所提供之電 感値係接著乘以該電流，提供於該相之常駐的磁通交鏈之 一估計。亦於導通時，其設定爲零之一磁通測量積分器係 置於積分模式。在一預定的後續點，由積分器所提供的磁 通交鏈値係加至對於常駐的磁通交鏈之計算値，且所得的 總數係運用以決定轉子位置。 因爲電感係決定在切換導通時，S卩：於一相位電感週期 _ 之磁通成長開始時，該種方法係不需大量的儲存資料。此 於存在由其推論位置之波形上的雜訊時亦爲強健（robust)。 此外，根據本發明，係提出一種方法，其中之轉子位 置係由其關聯於一多相機器的各相之値而推導。 本發明之一個實施例係提出一種強健而且成本有效之 監視轉子位置的方法及一種轉子位置偵測器，其係可爲不 需要一轉子位置換能器而運作於單脈衝模式，不論有無連 續電流。 籲 【實施方式】 一個切換式磁阻機之相位電感週期係電感變化的週期 ，其係對於例如介於當定子磁極與相關個別的轉子磁極爲 完全對齊時的最大値之間的該相或各相。欲敘述之說明性 質的實施例係運用其於電動（motoring)模式之一 2相的切換 式磁阻驅動機，但是一相以上之任何相數係均可運用，無 論該驅動機爲於電動或發電之模式。 π 1253229 第5圖係顯示供實行本發明所實施的方法之一種系統 。第7圖係以圖說明對於第5圖之系統的連續電流波形。 於此系統，一電力轉換器13係典型爲同於第1圖所示者， 且相同的參考圖號係爲適當運用。轉換器13係控制該切換 式磁阻機，如同前述。轉換器13係本身爲由一控制器42 所控制，於此實施例中，控制器42係納入一數位訊號處理 器44，例如：選自類比裝置2181系列之一者。替代實施例 係可納入一微處理器或其他形式的可程式規劃裝置，如同 眾所週知於此技藝者。圖示的2相機器係具有一定子30與 一轉子32。該定子係具有四個磁極50，於其係繞製有相位 繞組34/36。該轉子係具有轉子磁極52，以助於機器之起動 ，且具有一磁極面54，其界定與一個定子磁極面之一梯狀 的氣隙。熟悉此技藝人士係將瞭解的是，將可運用一種具 有不同的相數或磁極組合之機器，由於本發明係非爲特定 於任何的特殊機器拓樸結構。同理，本發明係不限定於一 特殊型式的控制技術，任何的控制器與轉換器係均可運用 ，只要其可適當程式規劃。 相位電流係由其爲配置關於各個相位繞組的一電流換 能器38所感測。代表於各相的電流之輸出訊號係饋送至控 制器42。其儲存對於轉子角度的相位電感之一查詢表46係 亦連接於控制器42。儘管對於各相之一個電流換能器係顯 示，根據本發明係可爲監視諸相之一者或選取者的相位電 流。 繪於控制器42之中的一積分器40係運用以推導磁通 12 1253229 之測量，藉著積分由電壓換能器43所提供之跨於繞組的相 位電壓V。針對更大的準確度，跨於繞組之電壓降（IR)係可 由所積分値而分解爲因數。僅有一個電壓換能器43係顯示 於第5圖，由於供應電壓係將爲共同於各相。將可理解的 是，各相可具有個別的電壓換能器。儘管積分器係顯示爲 一個離散的元件40，其係較佳實施爲執行於處理器44之軟 體。 根據本發明之此實施例的方法係運作如後。假設的是 ，該機器係運作於連續電流模式，且該轉子位置係已知爲 相當充分而允許繞組作激勵。於導通之點，當正電壓係施 加跨於該相之時，電流値係由換能器38所測量且由控制器 42所保持。已知該導通角度，對於角度的相位電感之查詢 表46係受到詢問而送回其對應於轉子角度之相位電感。該 電感値係乘以儲存的電流値，給定於導通點之該相位中的 磁通交鏈。此値係儲存。隨著轉子係轉動，積分器40係運 作以積分跨於該相繞組之電壓。當該控制系統係判定後續 的預定位置已經估計爲到達，電流係運用換能器38對於該 作用相而測量，且來自積分器40之磁通交鏈的估計係相加 至表46之儲存値，以給定於該位置之相位中的磁通交鏈之 總値。此總値係接著運用爲關聯於電流以找出真實位置， 若必要時，其係可運用以修正先前的估計。 介於所預測的轉子位置L與參考轉子位置t之間的角 度差異A係可由該處理器42所計算爲：

13 1253229 爲了決定介於所預測位置（於其係作出磁通與電流的測 量）與參考位置之間的角度差異，其因此亦爲此實施例之一 個特徵以儲存於處理器，以供對於一組的相位電流1値之 偏導數(或其逆者却/3(9)的參考位置値。 由於參考轉子位置\係已知，於預測瞬間之真實的轉 子位置係可由A所計算爲： (2) 對於下一個轉子位置之期望時間係可運用馬達速度之 已知値而估計。在加速或減速條件之下，可能必須作出對 於馬達速度之一修正。 若所有的相係均運用於測量，下個轉子參考位置係將爲 針對相2 (或者任何後續的下一相）。針對具有ρ個轉子磁極 之η相的馬達，對於此位置之旋轉角度係將爲（360/np)°- A， 且藉著將此角度除以速度，欲到達此下一個位置所需的時 間係可作估計。 若僅有一相係運用於測量，下個轉子參考位置係將在 (360/ρ)°- Δ 之一旋轉後，且藉著將此角度除以速度，欲到 達此位置所需的時間係可作估計。 對於下個轉子位置之所預測的時間係接著藉著習知方 式以運用一高頻時脈（未顯示）而算出，且於該時間已經消逝 之瞬間，磁通叱與電流Im之進一步的測量係對於對應相而 作出。歸因於速度之改變、以及於儲存資料與計算之容許 誤差，所預測的位置〜係將不會等於參考位置匕。角度差 異^〜係可運用式（1)與⑵以及上述程序而再次計算。 14 1253229 基於逐相（phase by phase)而預測轉子位置以及測量於各 個測量瞬間的真實轉子位置之過程係反覆，以提供轉子位 置之一遞增指示，而作爲對於現存的光學或電磁式轉子位 置感測器之一直接替換。 對於再生（regenerating)條件下之單脈衝作業情形的程序 係同於上述者，除了於第6圖所示之3Θ/外値係對於對應的 典型參考轉子位置將爲負（而非爲正）。 種種的配置係可運用於磁通之測量。任何習知形式之 磁通換能器係均可運用。然而，測量係較佳爲藉由類比或 數位電子可重置式積分器（其相對於時間t而積分相位電壓) 、以及用於補償對於相繞組中的電阻性電壓降之機構。 該積分器係執行方程式： ψ = |(v - iR)dt (3) 其中：V係相電壓； 1係相電流； R係相電阻； 、係測量之瞬間。 積分器起始時間^係安排爲於每當該相爲激勵時之電 壓施加至該相的瞬間（針對較高速度模式）。數位處理器係由 電子控制器而通知該電壓施加至該相的瞬間，藉著運用一 控制介面（未顯示）。積分器係由該數位處理器而重置，其在 各個磁通讀取已經作成之後。 於直流電源電壓V係相較於跨於電力轉換器中之半導 15 1253229 體開關的電壓降而爲相當大之應用中，直流電源電壓係可 作測量且積分而取代個別的相位電壓。此舉係具有優點在 於，僅有一個電壓係須作測量。 磁通係接著測量爲： ψ= j(V-iR)dt (4) 作爲運用單獨的電子積分器之一個替代者，數位處理 器係可藉著基於逐步（step by step)將直流供應（或相位）電壓 乘以時間而運用。此舉具有缺點在於，數位處理器係實質 爲忙碌且可能必須爲一個單獨的單元。 然而，假設該供應電壓係實質爲固定且相較於電阻電 壓iR爲大，種種的近似値係可作成。 舉例而言： Ψπτ(ν-Κ^)(^〇) (5) 其中k係一個常數，典型爲k=0.5，使得： \idt h 作爲進一步的實施例，於供應電壓V係相較於電阻電 壓iR而爲相當大之情形，欲補償對於電阻性電壓降之需要 係可避免，藉著運用一修正値以用於儲存資料的磁通或者 全然忽略iR。

於此例，對於儲存於數位處理器的一特定電流I與特 定轉子位置Θ之相位磁通交鏈（//的値係由伏特-秒之積分〆 的値所取代，其爲所需以產生對於轉子位置Θ之相位電流I 1253229 ，給定爲： ψ' - ^vdt 於測試該機器以建立〆與洲/5〆之値的圖表時，爲求方 便，V係可保持爲定値（假設V爲相當大）且係較佳爲等於供 應電壓。轉子位置測量程序係同於已經敘述於此申請案者 ，除了所測量的磁通L與期望的磁通^與偏導數（撕/~)係 分別由 <、<與（撕/〇所取代，其中％與（洲/3〆)係由第4 與6圖代表的儲存資料所述者而得到，且其中匕係測量爲： =V(tm-t〇) (6) 式（3)、（4)、（5)與（6)係代表不同的方法以評估針對判別 轉子位置之相位磁通交鏈，且此等式子係代表該技術之不 同的實施。 上述種種的實施例係均爲基於在一個預測轉子位置的 磁通^與電流Im之測量、對於其對應於參考轉子位置之所 測量電流im的期望磁通^之查詢、以及介於參考轉子位置 與預測轉子位置之間的差異ΔΘ之計算，其根據下式： .(h)⑺ 第6圖係以圖說明本發明之方法。鋸齒狀的波形&係 代表關聯於當該機器爲於連續電流模式時之一相的實際磁 通交鏈。磁通交鏈値^係於週期中的最小、或“常駐 (standing)”値。鋸齒狀的波形（//,·係代表由該積分器之輸出 所指出的磁通交鏈。相位係切換於角度Θ。，，在積分器已經 於期間R保持爲重置之前，藉由處理器44之一訊號。此期 17 1253229 間R係足夠長，以將該積分器輸出返回至零。於θ。。，電流 係測量（參閱第7圖）且電感之查詢表46係詢問以求得對於 該轉子角度之相位電感。電流與電感之乘積係由處理器44 所計算。此係提供（/^之一估計，其係接著由控制器42所儲 存。在Θ。，之後，於該相位之實際磁通交鏈係以施加電壓所 主導的一速率而增加，且係以一偏差（//s而爲積分器之輸出 所追蹤。於某點（非爲重要於此論述），該相係切斷且磁通交 鏈係開始傾斜向下。當控制系統係判定該轉子爲於預定位 置，積分器之輸出與相位電流之値係取樣且保持。^之 儲存的估計係相加至的値，以提供（/^之一估計。電流與 〜係可接著運用以求得實際的轉子角度，於上述與由Ray 於EP-A-0573198所揭示之方式。 本發明之此實施例係尤爲有利的是，其係同樣良好運 作於當相位電流爲不連續時，即於習用的單脈衝模式。此 係以圖說明於第8圖。由於電流係在之前而即爲零，乘 以電感値係提供零常駐磁通交鏈之正確結果。因此，相同 的程式碼係可針對不連續以及連續電流而運用於控制器42 〇 上述方法係提供一種簡單而有效之方式以結合連續電 流作業以及無感測器式位置偵測，而無於機器性能之任何 不想要的降級。 熟悉此技藝之人士將理解的是，所揭示配置之變化係 爲可能而未偏離本發明，尤其是於控制器中之演算法的實 施細節。此外，轉子位置偵測所基於之診斷係可實施於一 18 1253229 多相機器之僅有一相。是以，數個實施例之上述說明係以 舉例方式作成而非爲限制之目的。對於熟悉此技藝人士係 將顯明的是，對於驅動電路之小修改係可作成而無顯著改 變於上述運作。本發明係意欲爲僅由以下的申請專利範圍 之範疇所限定。 【圖式簡單說明】 (一）圖式部分 本發明係可爲以多種方式而作實施，現將參照隨附圖 式以舉例方式而說明某幾種，其中： 第1圖顯示一種典型之先前技藝的切換式磁阻機； 第2圖顯示第1圖之轉換器之一相的習知拓樸架構； 第3圖顯示典型的磁通交鏈與相電流曲線，以轉子位 置作爲一參數； 第4(a)圖顯示於削波控制之一典型的馬達電流波形； 第4(b)圖顯示於單脈衝控制之一典型的馬達電流波形； 第5圖係以槪要形式而顯示本發明所實施於其中之一 種切換式磁阻機； 第6圖顯示第5圖之驅動機的磁通交鏈波形，於連續 電流模式； 第7圖顯示對於第5圖之驅動機的連續電流波形；及 第8圖顯示第5圖之驅動機的磁通交鏈波形，於不連 續電流模式。 19 1253229 (二）元件代表符號 11 直流電源供應器 12 馬達 13 電力轉換器 14 電子控制單元 15 換能器 16 相繞組 19 負載 2卜22開關 籲 23、24 能量返回二極體 25 電容器 26、27 供應軌線 28 電阻器 30 定子 32 轉子 34、36 相繞組 38 電流換能器 鲁 40 積分器 42 控制器（處理器） 43 電壓換能器 44 數位訊號處理器 46 查詢表 50 定子磁極 52 轉子磁極 54 磁極面 20

Claims (1)

1. 1253229 拾、申請專利範圍 1. 一種用於偵測磁阻機的轉子位置之方法，包含： 於對於該相之電壓施加被啓動之一瞬間，推導對於關 聯於磁阻機之該相或至少一相在一最初點的磁通交鏈之一 値； 推導在一後續時間點的相位電流與磁通交鏈之一値； 結合所推導的磁通交鏈値，以給定在後續點的總磁通 父鏈之一値；及 由相位電流與總磁通交鏈値而推導該轉子位置。 ；. 2.如申請專利範圍第1項之方法，其中該瞬間係在當磁 通交鏈的成長爲開始之時間點。 ：； 3 ·如申請專利範圍第1項之方法，其中在該瞬間之電 i:' 流係非爲零。 4.如申請專利範圍第1項之方法，其中在該瞬間之電 ¥ 流係零。 5·如申請專利範圍第1項之方法，其中在當正電壓爲 施加至g亥相之瞬間的fe通父鍵値係由在該瞬間的電流而推 1導。 :: 6·如申請專利範圍第5項之方法，其中在該瞬間的磁通 交鏈係由電流與儲存的電感値而推導。 7 ·如申g靑專利軺圍弟1項之方法，其中在該後續點的 磁通交鏈係藉著積分相位電壓自該瞬間至後續點而推導。 8.如申請專利範圍第7項之方法，其中該瞬間係最小磁 通交鏈之點，且積分係起始於該瞬間。 21 1253229 9 ·如申請專利範圍第1項之方法，其中該轉子位置係 由相位電流與磁通交鏈之儲存參數而推導。 10·如申請專利範圍第1項之方法，其中該轉子位置係 由其關聯於一多相機器的各相之値而推導。 11. 如申請專利範圍第1項之方法，其中該轉子位置係 由其關聯於一多相機器的一相之値而推導。 12. —種用於磁阻機之轉子位置偵測器，包含： 機構，供於對於該相之電壓施加被啓動之一瞬間，決 定對於關聯於磁阻機之該相或至少一相在一最初點的磁通 交鏈之一値； 機構，供推導在一後續時間點的相位電流與磁通交鏈 之一値； 機構，供結合所推導的磁通交鏈値，以給定在後續點 的總磁通交鏈之一値；及 機構，供由相位電流與總磁通交鏈値而推導該轉子位 置。 13. 如申請專利範圍第12項之偵測器，包括一查詢表， 其儲存對於相位電流値之電感値。 14. 如申請專利範圍第12項之偵測器，其中供推導對 於在後續點之磁通交鏈値的機構包括一積分器，供積分相 位電壓自該瞬間至後續點。 15. 如申請專利範圍第14項之偵測器，包括重置機構， 其可運作以對於該瞬間而重置該積分器。 16. 如申請專利範圍第12項之偵測器，包括處理器機 22 1253229 構，其可運作以決定對於當磁通交鏈的成長爲開始時之磁 通交鏈的値。 17. 如申請專利範圍第16項之偵測器，其中該處理器機 構係可運作以由在該瞬間的電流而推導對於該磁通交鏈的 値。 18. 如申請專利範圍第12項之偵測器，其中供推導轉 子位置的機構包括儲存機構，其供儲存對於相位電流與磁 通交鏈値之轉子位置値。 19. 如申請專利範圍第13項之偵測器，其中供推導轉 子位置的機構包括儲存機構，其供儲存對於相位電流與磁 通交鏈値之轉子位置値。 20. 如申請專利範圍第14項之偵測器，其中供推導轉子 位置的機構包括儲存機構，其供儲存對於相位電流與磁通 交鏈値之轉子位置値。 21 ·如申請專利範圍第15項之偵測器，其中供推導轉子 位置的機構包括儲存機構，其供儲存對於相位電流與磁通 交鏈値之轉子位置値。 22. 如申請專利範圍第16項之偵測器，其中供推導轉子 位置的機構包括儲存機構，其供儲存對於相位電流與磁通 交鏈値之轉子位置値。 23. 如申請專利範圍第Π項之偵測器，其中供推導轉子 位置的機構包括儲存機構，其供儲存對於相位電流與磁通 交鏈値之轉子位置値。 24·—種用於偵測磁阻機之連續電流模式的轉子位置之 23 !253229 方法，包含： 於對於該相之電壓施加被啓動之一瞬間，推導對於關 聯於磁阻機之該相或至少一相在一最初點的磁通交鏈之一 値； 推導在一後續時間點的相位電流與磁通交鏈之一値； 結合所推導的磁通交鏈値，以給定在後續點的總磁通 交鏈之一値；及 由相位電流與總磁通交鏈値而推導該轉子位置； 其中，於該瞬間的相位電流與磁通交鏈係非爲零，且 該磁阻機係於連續電流模式下操作。 25.—種用於磁阻機之轉子位置偵測器，包含： 機構，供當電壓施加至該相之一瞬間，決定對於關聯 於磁阻機之該相或至少一相在一最初點的磁通交鏈之一値； 機構，供推導在一後續點的相位電流與相位磁通交鏈 之一値； 機構，供結合所推導的磁通交鏈値，以給定在後續點 的總磁通交鏈之一値； 機構，供由相位電流與總磁通交鏈値而推導該轉子位 置；及 處理器機構，可操作於當磁通交鏈成長被啓動時，決 定磁通交鏈之値； 其中，供推導該轉子位置之機構係包含儲存機構，其 供儲存對於相位電流與磁通交鏈値之轉子位置値。 24