TWD239488S - 測試探針頭 - Google Patents
測試探針頭Info
- Publication number
- TWD239488S TWD239488S TW113304984F TW113304984F TWD239488S TW D239488 S TWD239488 S TW D239488S TW 113304984 F TW113304984 F TW 113304984F TW 113304984 F TW113304984 F TW 113304984F TW D239488 S TWD239488 S TW D239488S
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- test probe
- terminal
- probe head
- test
- item
- Prior art date
Links
Abstract
【物品用途】;本設計物品是一種用於測試資訊技術(IT)領域中使用的基板或半導體的電特性的測試探針頭。;【設計說明】;使用狀態參考圖表示測試探針頭在使用時與其他配件的組裝關係的爆炸圖。
Description
本設計物品是一種用於測試資訊技術(IT)領域中使用的基板或半導體的電特性的測試探針頭。
使用狀態參考圖表示測試探針頭在使用時與其他配件的組裝關係的爆炸圖。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW113304984F TWD239488S (zh) | 2024-09-27 | 2024-09-27 | 測試探針頭 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW113304984F TWD239488S (zh) | 2024-09-27 | 2024-09-27 | 測試探針頭 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TWD239488S true TWD239488S (zh) | 2025-07-21 |
Family
ID=96474533
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW113304984F TWD239488S (zh) | 2024-09-27 | 2024-09-27 | 測試探針頭 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| TW (1) | TWD239488S (zh) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN203732577U (zh) | 2013-01-11 | 2014-07-23 | 旺矽科技股份有限公司 | 探针头 |
-
2024
- 2024-09-27 TW TW113304984F patent/TWD239488S/zh unknown
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN203732577U (zh) | 2013-01-11 | 2014-07-23 | 旺矽科技股份有限公司 | 探针头 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TWD198372S (zh) | 電氣特性測定用探針之部分 | |
| TWD227946S (zh) | 測試積體電路的接觸引腳 | |
| TWD239489S (zh) | 測試探針頭 | |
| TWD239488S (zh) | 測試探針頭 | |
| TWD228536S (zh) | 電性接觸件之部分 | |
| TW200702667A (en) | Test probe and manufacturing method for test probe | |
| TWD229049S (zh) | 電性接觸件組之部分 | |
| TWD229954S (zh) | 電性接觸件組之部分 | |
| TWD238958S (zh) | 用於積體電路測試的接觸針 | |
| TWD233293S (zh) | 電性接觸件 | |
| TWD233294S (zh) | 電性接觸件 | |
| JP1743474S (ja) | 電気接触子 | |
| JP1745251S (ja) | スプリングピン | |
| TWD222981S (zh) | 電性接觸子之部分 | |
| TWD239166S (zh) | 測試探頭筒 | |
| JPS62291937A (ja) | プロ−バ | |
| JPH09127154A (ja) | プローブポジショナー装置 | |
| TWD229529S (zh) | 電性接觸件之部分 | |
| TWD229531S (zh) | 電性接觸件之部分 | |
| TWD229678S (zh) | 電性接觸件之部分 | |
| TWD236632S (zh) | 電路板、半導體等電氣特性測量用治具 | |
| TW202227827A (zh) | 探針卡裝置 | |
| TWI762339B (zh) | 測試探針模組 | |
| TWD235477S (zh) | 電性接觸件 | |
| JP1707776S (ja) | 電子部品試験装置用キャリア |