TWD237248S - 電力電子測試裝置 - Google Patents

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林家麟
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致茂電子股份有限公司 桃園市龜山區文茂路88號 (中華民國)
致茂電子股份有限公司
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Abstract

【物品用途】;本設計之物品係為一種電力電子測試裝置,用於電性連接待測物以進行電力特性的量測及測試。;【設計說明】;圖式所揭露之虛線及灰階填色,為本案不主張設計之部分。

Description

電力電子測試裝置
本設計之物品係為一種電力電子測試裝置,用於電性連接待測物以進行電力特性的量測及測試。
圖式所揭露之虛線及灰階填色,為本案不主張設計之部分。
TW112305748F 2023-11-07 2023-11-07 電力電子測試裝置 TWD237248S (zh)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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TWD242961S (zh) 2025-06-04 2026-02-11 艾瑪斯科技股份有限公司 桃園市中壢區過嶺路二段491號1樓 (中華民國) 液冷伺服器機櫃模組化電路測試治具

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USD983679S1 (en) 2020-01-21 2023-04-18 Ambit Microsystems (Shanghai) Ltd. Industrial signal testing equipment for wireless devices

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USD983679S1 (en) 2020-01-21 2023-04-18 Ambit Microsystems (Shanghai) Ltd. Industrial signal testing equipment for wireless devices

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWD242961S (zh) 2025-06-04 2026-02-11 艾瑪斯科技股份有限公司 桃園市中壢區過嶺路二段491號1樓 (中華民國) 液冷伺服器機櫃模組化電路測試治具

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