TW587172B - Scan test machine for densely spaced test sites - Google Patents

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Description

587172 、發明説明( 相關申請案的前後對照 本發明是1998年09月23曰提出申請,申請案號為 〇9/158,823之美國專利申請案的一部份繼續案。 發明範疇 本發明是有關於印刷電路板之自動測試,特別是指 種供在一印刷電路板表面上稠密排列的測試部位用之掃 描測試機,其經由使用引導一雷射或電子光束橫跨在該印 刷電路板表面上,接觸該等測試部位去激發電路並產生測 試信號。 發明背景 元 任 同 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 供檢測印刷電路板用之自動測試設備,其需要使用 到在測試期間該電路板被安裝在其中之一長的"爪床"測試 疋位。此測試定位器包含大量類似爪之彈簧承載測試探 針,其被安排來在彈簧壓力下與在也被稱作為被測試單 或UUT”之被測試電路板上之指定測試點做電氣接觸。 何被鋪設在一印刷電路板上之特別的電路,是很可能不q 於/、他的電路,因此,用來接觸在該板上之測試點的爪床 排列,必需為了那些特別的電路板而定做。當該被測試電 路被設計時,被用來檢測之一測試點圖樣被選定,而測試 探針之一相對應列陣被形成在該測試定位器中。此典型地 包含在一採針板中鑽設一孔圖樣,來配合該定做之測試探 針列陣,並接著將該等測試探針安裝在該探針板之鑽孔中 。该電路板接著被安裝在疊置於測試探針列陣上之定位器 中。在測試期間,該彈簧承載探針產生彈性壓力與在該被 4 587172 —---- 五、發明説明(2 ) 一~---- /式電路板上的K點接觸。電子的測試信號接著從該板 被轉換至該等測試探針,並接著到該定位器外部,與一高 速電子測試分析儀相連通,該測試分析儀檢測在 該電路板 電路中的不同測試點之連續性或缺乏連續性。 在過去不同的研究已經被用來使該等測試探針與該 被測試電路板產生作為測試之接觸壓力。這些定位器之一 種類是一 ”用導線連接的測試定位器",其中該 個別地以導線連接至分隔的介面接點,用來從該等探針傳 送測試信號至該外部電子控制的測試分析儀。這些用導線 連接的測試定位器經常被稱作為,,真空測試定位器,,,因 為在測試期間一真空被作用在該測試定位器之殼體内部, 去壓迫該電路板接觸該等測試探針。定做之用導線連接的 測試定位器之類似結構也被製成,其利用除了真空以外之 機械裝置去作用在測試期間所需要用以壓迫該電路板接觸 該等測試探針之彈性力。 該等導線繞結或其他連接方式的測試探針、介面針 以及使用在一用導線連接的測試定位器之中的轉換針是相 當費時的。然而,在具有複雜測試點排列之測試電路板中 ’以及在較大及更複雜和昂貴的電子測試分析儀無法施行 之小體積製作板中,定做之用導線連接的測試定位器是特 別的有用。 如先前所提及,該定做之用導線連接的測試定位器 是用以將信號從該定位器傳送至外部電路測試儀之定位器 的一種。更進一步等級的測試定位器是一稱作為•,專用的" 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(21〇X 297公釐) I- !- - I- - : - 11 ^ 辦本-- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 587172
測試定位器,也是所知的,,格子型式定位器",在其中,在 该板上之測試點的隨意圖樣被以轉換針相接觸,該等轉換 針傳送信號至在-容納H中排列成_格子形態的介面針。 在這些格子型式定位器中,所定位的是通常比在該定做之 用導線連接的測试定位器中的不複雜以及較簡單。 一典型的專用或格子定位器包含具有一很大數量開 關的電子儀器,該等開關連接在—格子基座中之測試探針 至在一電子測試分析儀中之對應測試電路。在一格子測試 器的實施例中使用40,000個開關。當在此一測試器上測試 一無屏蔽板時,一轉換定位器所支承的轉換針是連接在一 格子基座中之測試探針的一格子圖樣,與在被測試板上之 測試點的一偏袼子圖樣之間。在一先前技藝格子定位器令 ,所謂的”傾斜針”被使用來當作該等轉換針。該等傾斜 針疋直的固態針,被安裝在係為該轉換定位器之部份的該 等轉換板中之相對應預先鑽孔。該等傾斜針能夠以各種不 同的方向傾斜從在該板上之測試點偏格子隨意圖樣,轉換 为隔的測试k號至在該格子基座中之測試探針格子圖樣。 轉換疋位器能夠以複數塊由一例如為雷克恩(Lexan) 之塑膠材質所製成的轉換板來構成及組成。該等轉換板是 堆積在該定位器中,介於互相垂直地排成一線,以形成間 隔環繞該定位器周圍之,,支座”的相對應間隔件組之間。該 4間隔件保持該等轉換板位於直向地互相間隔的定位位置 ,並適度地互相平行。該等轉換板在該定位器之每一平面 上具有直線對準之預先鑽孔圖樣,該等孔控制在該轉換定 , T 狀衣-- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁} 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -1ί -: 6 587172 五、發明説明(4 ) 位器中之每一傾斜針的位置。 當在該印刷電路板上之職點是㈣稠密的定位在 一起且非常細小時’這些型式的職定位ϋ即會產生-些 問題。個別的測試點通常被稱作為測試焊接點,而-群測 試焊接點是為通常所知的測試單元。當該等傾斜針接觸非 常細小的測試焊接點時,該等焊接點會被該等傾斜針壓碎 或f曲。視對該等焊接點之破壞程度而定,以及其是如何 稠密的被定位,在測試期間該等個別的焊接點會被定型地 縮減在*-起。 由於這些型式的測試定位器所發生的第二個問題是 當該等焊接點是非常稠密的相間隔時,對於—測試單元 很難達到精確的測試結果。當該等焊接點是非常稠密的相 間隔時,引導-傾斜針至在該單元之每一焊接點變的非常 困難。測試針稍微不對準會影響測試結果降低測試的精 轉性。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 對於該等單元所遭遇的第三個問題是,所具有之一 焊接點格子密度是比料測試探針之格子密度大,使得當 該測試單元是以—球狀網格佈列(bga)或—四邊平队單元 (QFP:所形成時。在此情況沒有足夠的轉換針用來測試每 一測试焊接點,且對該單元完全的測試是不可能的。 為了對付這些問題,能夠精確且安全地測試具有小 尺度測試單it的電路板之印刷電路板測財位器已經被發 展出來’纟包含-定位在該定位器中之氣體致動縮小板, 匕對應於在印刷電路板上之_群待測試非常稠密間隔測試 I紙張尺度適财) M規格(2iqx297公慶) 587172
經濟部智慈財產局員工消費合作社印製 點的被測試位置。一孔被切開經過上方的轉換板,相對應 於該縮小板之尺寸以允許該縮小板銜接該被測試單元。一 層柔順的導電介質被定位在該縮小板之頂面上方,用以電 氣連接至測试點。該縮小板包含一用來裝設在經由該等轉 換板層向下延伸之氣壓缸上的按扣。該氣壓缸利用一底座 插頭安裝在該定位器之底部,該底座插頭卡入一剛性地固 定在該定位器之一下轉換板上的底座插座。 該被測試單元之測試期間,該氣壓缸被激發,舉起 該縮小板去接觸該測試單元,於測試時有效地縮減它們在 一起,沒有彎曲或破壞測試點。 由於此方法的一個問題是,因為在測試期間所有的 測試部位被縮減在一起,不能決定是否在該單元内之一個 或更多的個別的測試部位是不正確地被縮減在一起。 測試稠密間隔測試單元的另一方法是利用一探針去 接觸在該單元内之每一個別的焊接點。此方法由於非常地 耗時過程而不被期望。 因此,對於測試具有小尺度或稠密間隔測試部位 印刷電路板制試設備,有-正確、安全及快速地產 試結果之需求存在。 本發明之摘要 本發明包含—供測試在一印刷電路板上之稠 測試部位用之掃描測試機》該掃描測試機包含-自動二 的滑針電刷,其移動橫跨該等測試部位的上面以^制 位置。該掃描測試機包含—台式組合件,其具有試 . 袭------II------J (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁}
本紙張尺度賴巾 A7 _______B7_ 五、發明説明777 ^ ^ — 该待測試印刷電路板上方之測試頭。該測試頭包含該滑針 電刷,其被移動橫跨該印刷電路板上之表面,並接觸測試 焊接點,以掃描定位在該印刷電路板上之測試部位。該印 刷電路板被定位在-位於該組合地自動機器之底座上的測 试疋位器上,該測試定位器包含複數測試探針,其用來接 觸在该印刷電路板之一對立表面上的測試部位。從該滑針 電刷及專用定位器兩者所產生的測試信號,被傳送至外部 電氣控制的測試分析儀。該滑針電刷也可以連同一浮動探 針來使用。 在一另外的實施例中,一導電滾軸組合件被定位在 鄰接在該測試定位器上之一印刷電路板壓制塊。該滾軸組 合件包含一定位環繞一滾軸之導電布,該滾軸被移動橫跨 該電路板之表面,將測試信號從該等測試部位傳送至測試 分析儀。 在一第二及最佳的實施例中,本發明之該掃描測試 裝置包含一雷射、電子光束或其他定位在該被測試單元上 方之非接觸能量源,以激發該電路並產生供位於該電路板 之對立側上之測試定位器用的測試信號。 本發明之這些及其他方面,參考下列伴隨圖式之詳 細說明將能完全地被了解。 圖式之簡單說明 第1圖是本發明之掃描測試機的之一正視圖; 第2圖是第1圖中之掃描測試機的測試頭組合件之一 側視圖; 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) --------^II (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -訂- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 9 587172
經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 第3圖是第2圖中之該測試頭的一側視圖; 第4圖是第3圖中之測試頭的_滑針電刷組合件之〆 正視圖; 第5圖是第4圖中之滑針電刷組合件的_放大詳細圖 第6圖是第5圖中之滑針電刷的一頂視圖; 第7圖是第2圖中之測試頭的攝影組合件之一側視圖 第8圖是第1圖中之測試定位器的一正視圖; 第9圖是第8圖中之測試定位器的一側視圖; 第1〇圖是供第1圖中之掃描測試機用之所選定的滾軸 組合件之一側視詳細圖; 第11圖是該滑針電刷組合件結合一浮動探針之側視概 要圖;及 第12圖疋本發明之掃描測試機結合一非接觸能量源 的一正視圖。 詳細說明 本發明之掃描測試機是顯示在第丨圖中。該掃描測試 機包含一台式組合自動機器12,其具有一定位在被測試之 卩刷電路板或被測试單元(UUT) 16上之測試頭14。該被測 試單元16定位在位於該自動機器12之一底座2〇上的一測試 定位器18上方。該自動機器12包含連接至該底座2〇之每一 側的直立支架22。該等直立支架22沿著定位在該底座2〇側 邊之執道(未顯示)而連接至該底座2 〇之任一侧,使得該等 本、、氏張尺度適用中國國家標準() μ規格(21〇乂別公潑) 7 装-- (请先閱讀背面之注意事項#填寫本頁) 訂 10 587172 A7 B7 五、發明説明(8 ) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 直立支架22能沿著該底座20側邊前後移動。一台架24是位 於該底座20上方,剛性地連接在該等直立支架22之間。該 台架24上定位一自動機器頭26,其可沿著該台架24側向的 移動。動力經由一連接至該自動機器頭26之線路軌道28, 而供應至該自動機器頭26。在該自動機器頭26之底端是一 能在任一方向360度旋轉之轉軸30。該台架24沿著軌道(未 顯示)連接至該等直立支架22,使得該台架24以及該自動 機器頭26沿著該等直立支架22之長度垂直地上下移動。一 適當的自動機器可以是一新立卡斯特普羅(s〇NY CASTPRO)機器。 該測試頭14是連接至該轉軸30 ,並被更詳細的顯示 在第2圖及第3圖中。參考第2及3圖,該測試頭14包含一固 定在該自動機器轉軸30上之安裝台32。沿著該安裝台32之 一側連接一支承臂34 ,其朝該印刷電路板或被測試單元16 向下地延伸。定位在該支承臂34之底端的是一斜角支架36 ’其也是更詳細的被顯示在第4圖中。一調整臂3 8被定位 在邊斜角支架36之下方,並利用一從該斜角支架36向下延 伸之凸緣40(見第3圖),而被連接至該斜角支架36。該凸 緣40是利用一板42被剛性地固定在沿著在該斜角支架36之 側邊上的一凹穴,該板42將該凸緣40夾持至該斜角支架36 。該調整臂38以螺栓44固定在該凸緣40的底端。利用螺栓 46通過該斜角支架36並頂抵該調整臂%頂面,而能調整該 調整臂38的角度。螺栓46被調整壓縮一彈簧48 ,其也是定 位在壓抵該調整臂38頂面之該斜角支架36上的一槽道5〇内 Ί 裝-- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 i 4----------
n II 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(21〇><297公釐) HI —II 臁 11 587172 五、發明説明(9 ) ✓月針電刷52被定位在該調整臂3 8之端部,並最佳 如第5圖所顯示,以一固定在該調整臂38頂面之夾具科予 以保持定位。該滑針電刷52利用延伸橫跨在該滑針電刷52 長度的刷條5 6,而被夾持在該夾具54與調整臂3 8之間。最 佳如第6圖所見,該滑針電刷52包含複數條單獨的刷線58 ,每一刷線58之直徑較佳為·003英寸。該複數條小直徑 的刷線58互相具有獨立的柔順性,且每一刷線%包含一小 於該測試焊接點或部位之接觸表面。視該被測試單元16的 特殊需求而定,該滑針電刷52能包含任何所想要之刷線58 數目。除了使用一刷線以外,該滑針電刷能被修飾成撓性 電路、導電布或其他柔順的導電材質。接著將更詳細討論 ,該滑針電刷52移動橫跨在該被測試單元16的頂面,使得 其連續地接觸測試部位6〇,以掃描測試信號。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 再度參考第1及2圖,該測試頭14也包含一攝影組合 件62,其連接至該安裝台32的底面。又如第7圖所顯示, 該攝影組合件62包含一用來夾持該攝影機66至該安裝台32 的咸體64。該攝影機66典型是為一袖針型電腦控制顯示器 攝影機,例如為葉萵莫(Elmo)421E。該殼體64包含光源68 及鏡子70,其用來反射該測試部位之影像至一用來在測 式時間觀察該測試部位位置之電腦終端機72。 如前所述,該被測試單元16是被定位在如第8及9圖 中更詳細顯示之一測試定位器18上方。該測試定位器18是 一專用的定位器,其中該被測試單元16是被定位在一轉換
587172 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(10 ) 疋位器76的頂板74上方,該轉換定位器76具有複數塊以間 隔件80分隔之轉換板78。該等轉換板78包含複數個預先鑽 孔,其對應於位在該被測試單元丨6之底面的測試部位圖樣 ,而以行及列的形式相間隔分離。該轉換定位器76支承複 數支定位在該等轉換板78之預先鑽孔内之轉換針或測試探 針82。視特殊的運用而定,該等測試探針82可以是筆直固 態的轉換針或是傳統的彈性探針。較佳地測試探針是傳統 的彈性探針。該等測試探針82延伸經過該頂板74去接觸位 在該被測試單元16之底面上的測試部位。該等測試探針82 之底端具有接觸刷尾去容納定位器配線84,以轉化該等測 試信號至定位在下定位器88之中的測試探針86。該轉換定 位器76能以複數塊例如為由雷克恩(Lexan)之塑膠材質所 製成的轉換板所構成及組合而成。該等轉換板78利用將該 轉換疋位器76支承在該下定位器88上方之該等間隔件go相 間隔。 该下定位器88包含一容納額外之測試電子儀器的殼 體90。位在該殼體9〇内的是一安裝在一第二板安裝接線板 94上的接線板92。該接線板92以及該板安裝接線板94具有 複數個預先鑽好的孔,其排列去容納該等測試探針86。接 線板92及94被定位在一切換卡片電路板96的上方。該切換 卡片電路板96包含電氣聯結,其用來將測試信號轉換至以 邊緣卡片連接器100連接至該切換卡片電路板96底面之切 換卡片98。該等切換卡片98包含具有一些開關之電子儀器 ’該等開關連接該等測試探針86經由導線管1〇2至在外部 —1 批衣1T』· (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 千 - 一 M. y 13 587172 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 ________Β7_ 五、發明説明(u ) 的電子測試分析儀(未顯示)上之相對應測試電路。該切換 卡片電路板96以直立的支承件1〇4支承在該殼體90内。整 個專用的定位器18利用設於該底座2〇之支撐塊1〇6經過執 道(未顯示)而被連接至該自動機器12之底座2〇,使得整個 轉換定位器76能沿著該底座20從該自動機器12之前方移動 至後方。 可以瞭解雖然該專用的定位器被定位在該自動機器 上’使得該被測試單元之兩測可被測試,但也可瞭解如果 僅有該被測試單元的一側包含測試部位位置,該被測試單 疋能被定位在該自動機器之底座的一支承件上方,且該滑 針電刷能被使用來掃描所想要的測試位置。另外地其他測 試定位器型式能被使用來支承在該自動機器之底座上的被 測試單元。 現在參考第1 〇圖,本發明之掃描測試機也能包含一 用來從測試部位傳送測試信號至外部的測試電子儀器之導 電滾軸組合件108。該導電滚軸組合件108包含一殼體110 ’其被定位在一被測試單元壓制塊112上。該殼體11〇包含 用以前後移動導電滾軸114之一直線馬達或一氣動致動器( 未顯示)。該滾軸114具有一層導電材質,例如為布或橡膠 ’以傳送該等測試信號。該導電滚軸114被裝設在一連接 至該直線馬達或氣動致動器之指狀物116上。該指狀物116 經過一位於沿著該殼體110側邊之一槽118,而延伸進入該 殼體110内,使得該指狀物116能橫跨被測試單元16之表面 月'J後移動。該導電滚軸114被繞設平行於該滑針電刷,並 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS )八4規格(21〇><297公釐) ------------參------II------^ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 14 587172 A7 _____B7_ 五、發明説明(12 ) 被使用來連接該滑針電刷或與其分離,以傳送測試信號。 該導電滚軸114被顯示在其縮回位置120以及延伸位置122 〇 使用該自動機器移動該測試頭位置,使得該滑針電 刷成功地接觸在該被測試單元上之測試部位,以傳送信號 至外部的測試電子儀器。測試信號從在該被測試單元之底 面上的測試部位,被傳送經過專用的定位器至外部的測試 電子儀器。此外該等測試信號也能經由該導電滾軸傳送至 外部的測試電子儀器。利用該自動機器之測試頭的運動, 經由用以在該被測試單元上之特別的測試部位圖樣之軟體 程式而被控制。該滑針電刷藉著個別地接觸所想要的每一 測試位部位,提供用於稠密間隔測試部位之快速地測試。 第11圖說明該滑針電刷組合件130連結一浮動探針132 。該浮動探針13 2包含一位於一桿13 6上之本體部13 4,以 及從該本體部134延伸而出用以支承該滑針電刷組合件丨3〇 之|138。該浮動探針132是一傳統的探針,其在X、y及z 方向移動,並且能旋轉去移動滑針電刷140橫跨測試部位 〇 第12圖說明本發明之掃描測試機210的一較佳實施例 。該掃描測試機210包含一對應於如第1圖中所顯示及說明 之台式組合自動機器12。該自動機器12包含一褒設在該自 動機器12之轉軸30上的非接觸能量源212。該非接觸能量 源212可以是為一種產生光學輻射的雷射,其使用一藉著 受激之輻射放射,以提供光源放大之粒子數反轉,以及一 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝· 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -15 - 587172 五、發明説明(13 提供正反饋之光學諧振腔,或者可以是為一電子搶,其包 3 —產生並控制一電子光束之電極结構。其他的能量產生 非接觸裝置也可被預期。該非接觸能量源212被定位在該 被測試單元16之上方,並引導該雷射光束或電子光束至該 被測試單元16上,以激發在該被測試單元16上之電路。由 於忒被測试單元16被激發,位在該測試定位器η中之該等 測試探針82轉換測試信號至外部的電子儀器,參考如第8 至9圖所詳細討論者。 儘管本發明已經被描述並且相對應一較佳實施例予 以說明,可被瞭解那是沒有被限制。因為其中可做改變及 修飾’其是在本發明以下所請求之全部意指的範圍内。
In ml _ ----------^I — (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 i i 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 16 587172 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(14 ) 元件標號對照 10…掃描測試機 54…夾具 12…台式組合自動機器 56…刷條 14…測試頭 58…刷線 16…被測試單元 60···測試部位 18…測試定位器 62…攝影組合件 20…底座 64…殼體 22…直立支架 66…攝影機 24…台架 6 8…光源 26…自動機器頭 70…鏡子 28…線路軌道 72…終端機 30…轉轴 7 4…頂板 32…安裝台 76…轉換定位器 34…支承臂 78…轉換板 36…斜角支架 80…間隔件 38…調整臂 82…測試探針 40…凸緣 84…定位器配線 42…板 86…測試探針 44…螺栓 88···下定位器 46…螺检 90…殼體 48…彈簧 92…接線板 50…槽道 94…板安裝接線板 52…滑針電刷 96…切換卡片電路板 —Γ. I ........... i=- I -- — I I I - ------ I ' ^IJ U3 、ν" (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X 297公釐) 17 587172 A7 B7 五、發明説明(15 ) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 98…切換卡片 120…縮回位置 100···邊緣卡片連接器 122…延伸裝置 102···導線管 130···滑針電刷組合件 104···直立的支承件 132…浮動探針 106···支撐塊 134…本體部 108···導電滚軸組合件 136…桿 110…殼體 138…臂 112···被測試單元壓制塊 140…滑針電刷 114···導電滾軸 210…掃描測試機 116···指狀物 212…非接觸能量源 118···槽 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) —©裝. 訂 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) -18 -

Claims (1)

  1. 、申請專利範圍 第88121692號申請案申請專利範圍修正本 92.8.11. 1 _ 一種供印刷電路板用之測試機,包含: 用來安裝一印刷電路板之定位器,其係一種具有複 數塊基本上平行並垂直地相間隔之轉換板的轉換定位 器,該等轉換板具有在該等轉換板中成一直線排列之選 定的孔圖樣,以容納並支承用來接觸該電路板之一第二 表面的探針;及 一安裝在該定位器上方之測試頭,包含一用來激發 在該電路板上之一測試電路至在該電路板上之一測試 部位的非接觸能量源。 2·如申請專利範圍第1項之測試機,更包含一連接至該測 试頭,用以在三度平面中移動該測試頭之自動機器。 5 經 濟 部 智 慧 財 產 局 員 工 消 費 合 h 社. 印 製 3·如申請專利範圍第2項之測試機,其中該測試頭被安裝 在該自動機器的一轉軸上,且該能量源是一定位在該轉 軸上,用以引導一雷射光束至該電路板上之雷射。 4·如申請專利範圍第2項之測試機,其中該測試頭被安裝 在該自動機器的一“軸上,且該能量源是一定位在該轉 軸上,用以引導一電子光束至該電路板上之電子搶。 5. —種供印刷電路板用之測試機,包含·· 用來女裝被測試之印刷電路板的測試定位器,· 一安裝在該定位器上方之測試頭,其具有用來激發 該電路板至在該電路板上之測試部位的非接觸裝置;及 一連接至該測試頭,用以在三度平面中移動該測試 頭之自動機器。 19 - 本紙張尺ϋ財開家鮮(CNS)A4規格(21G X 297公发 587172 10 A8 B8 C8 D8 、申睛專利範圍 6·如申請專利範圍第5項之測試機,其中該定位器包含複 數塊基本上平行並垂直;^目間隔之轉換板,其具有在該 等轉換板中成—直線排列之選定的孔圖樣,用以容納並 支承用來接觸該電路板之—第二表面的探針。 7.如申請專利範圍第5項之測試機,其中該非接觸裝置是 -剛性地定位在該測試頭之—端,用以引導—雷射光束 至該電路板上之雷射。 8_如申請專利範圍第5項之測試機,其中該非接觸裝置是 -定位在該賴頭之—端,用以料_電子光束至 路板上之電子搶。 , . —I— ^ i — — — — — — ^-111111-- (請先Mti背面之注意事π ·填寫本頁) , 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 (C 準 標 家 國 國 中 用 適 度 尺 張 紙 本 A
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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7202690B2 (en) 2001-02-19 2007-04-10 Nidec-Read Corporation Substrate inspection device and substrate inspecting method
KR100877243B1 (ko) * 2001-02-19 2009-01-07 니혼 덴산 리드 가부시끼가이샤 회로 기판 검사 장치 및 회로 기판을 검사하기 위한 방법
JP2007206641A (ja) * 2006-02-06 2007-08-16 Laserfront Technologies Inc リペア装置及びリペア方法
TW201219807A (en) * 2010-11-15 2012-05-16 Askey Computer Corp Testing auxiliary apparatus
JP2013096829A (ja) * 2011-10-31 2013-05-20 Toshiba Corp 測定用保持具及び測定装置
CN104459517A (zh) * 2014-11-26 2015-03-25 芜湖雅葆轩电子科技有限公司 电路板检测装置
CN108780122B (zh) * 2015-12-28 2019-09-03 塞莱敦系统股份有限公司 用于受测试器件的模块化轨道系统、轨道系统、机构以及设备
CN106226683B (zh) * 2016-08-23 2022-11-11 黄河科技学院 带电路板快速焊接器的多功能综合电路调试仪
CN106405377A (zh) * 2016-09-27 2017-02-15 昆山维嘉益材料科技有限公司 一种电离子自动化电测设备
CN106371000A (zh) * 2016-09-27 2017-02-01 昆山维嘉益材料科技有限公司 一种激光自动化电测设备

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IL68568A0 (en) * 1983-05-04 1983-09-30 Optrotech Ltd Apparatus and method for automatic inspection of printed circuitboards
GB8328912D0 (en) * 1983-10-28 1983-11-30 Int Computers Ltd Testing electronic circuits
US5017863A (en) * 1989-10-20 1991-05-21 Digital Equipment Corporation Electro-emissive laser stimulated test
WO1996026446A1 (en) * 1995-02-23 1996-08-29 Aesop, Inc. Manipulator for automatic test equipment test head
US5729146A (en) * 1995-09-21 1998-03-17 Everett Charles Technologies, Inc. Quick stacking translator fixture

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