TW557423B - Performance measurement for embedded systems - Google Patents
Performance measurement for embedded systems Download PDFInfo
- Publication number
- TW557423B TW557423B TW091110221A TW91110221A TW557423B TW 557423 B TW557423 B TW 557423B TW 091110221 A TW091110221 A TW 091110221A TW 91110221 A TW91110221 A TW 91110221A TW 557423 B TW557423 B TW 557423B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- routine
- patent application
- cycles
- read
- scope
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
- G06F11/34—Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment
- G06F11/3409—Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment for performance assessment
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
- G06F11/34—Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment
- G06F11/3466—Performance evaluation by tracing or monitoring
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2201/00—Indexing scheme relating to error detection, to error correction, and to monitoring
- G06F2201/88—Monitoring involving counting
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2201/00—Indexing scheme relating to error detection, to error correction, and to monitoring
- G06F2201/885—Monitoring specific for caches
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
Description
557423 A7 B7 五、發明説明(i ) 發明領域 本發明與使用内嵌系統内指定邏輯的性能量測領域有 關。 發明背景 内嵌系統係用來控制、監視或協助設備、機器或較大型 系統操作的裝置。術語「内嵌」反映這些組件屬於整體系 統之集成部份的事實。換言之,系統包含自己的内嵌控制 器,而不是依賴一般用途電腦來控制系統操作。 所有内嵌系統皆是電腦或控制系統。但是,與一般用途 個人電腦相比,部份内嵌系統是非常簡單的裝置。最簡單 的裝置都是由一單一微處理器或微控制器所組成,而_微處 理器或微控制器可能與其他晶片封裝在一起,或與其他晶 片封裝一起在專用積體電路(ASIC)中。ASIC輸入來自偵測 器或感測器,並且ASIC輸出通到開關或啟動器,而開關或 啟動器可(例如)啟動或停止機器運作或執行某些其他運 作。 ASIC是一種專為特定應用所自訂設計的晶片,而不是如 微處理器之類的一般用途晶片。使用ASIC可改善整個一般 用途CPU的性能,因為ASIC是執行特定工作的「硬體」, 並且不需要擷取及解譯所儲存指令的内部操作。ASIC晶片 儘可能迅速執行電子運作,·當然,前提是電路設計是高效 率設計。 最簡單的内嵌系統皆能夠只執行單一功能或一組功能, -5- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 557423 A7 B7 五、發明説明(2 ) 以符合單一預先決定用途。在最複雜的系統中,内嵌系統 的功能係由應用程式決定,以使内嵌系統能夠執行特定應 用。擁有不同操作程式的能夠使同一系統可用於各種不同· 的用途。在某些情況下,微處理器可能被設計,以便能夠 將特定用途的應用程式軟體新增至第二處理序中的基本軟 體,而可能不會被進一步變更。特定應用程式軟體有時候 被稱為勃體。 通常,會將内嵌系統與儲存於唯讀記憶體(ROM)中的程 式一起置於單一微處理器電路板上。實際上,具有數位介 面(如,錶、微波爐、VCR、汽.車等等)所有設備都利用内 嵌系統。某些内嵌系統包括作業系統,但是許多内嵌系統 非常專門,而可能藉由單一程式來實施整個邏輯。 韌體設計人員通常需要微調其軟體以適用於給定的目標 平台(例如,目標内嵌系統)。此類的微調通常需要修改軟 體,以便嘗試及達成所期望結果。 一項微調軟體的此類技術涉及使用基準機制以量測内嵌 系統性能。例如,1984年由R.P.Wecker最先開發的 Dhrystone基準軟體程式(下文稱為「Dhrystone」)是用於測 試内嵌系統性能的基準測試。Dhrystone屬於精簡型,可在 公共領域廣泛取得,並且容易使用。Dhrystone依據基準來 比較處理器性能與參考機器性能。使用Dhrystone存在顯著 的缺點。Dhrystone結果易於反映C編譯程式及程式庫的性 能,更甚於反映處理器本身的性能。
Dhry stone程式碼非常精簡(例如,屬於大約100個高階語 -6- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X 297公釐) 557423 A7 B7 五、發明説明(3 ) 言陳述式的等級,並且只佔用1-1.5kB已編譯程式碼)。由 於屬於小型程式碼,所以不會運用快取區範圍外的記憶體 存取。因此,Dhrystone僅僅測試整個核心的性能。但是, 大部份處理器核心包括内嵌快取記憶體,而整體記憶體階 層結構及大量管理記憶體的方式會影響系統設計及性能。 如Dhrystone之類的基準工具不量測對記憶體管理及系統效 能的改良。本發明認識到需要且期望一種機制以協助量測 内嵌系統的實際微處理器性能,而不是僅決定内嵌系統的 基準是否已達成特定準則。 發明概要 · 在一項具體實施例中,本發明提供一種内嵌系統性能量 測方法。該方法包括起始該内嵌系統。該方法還包括在該 内嵌系統上載入指令,以讀取一性能量測遮罩。該方法還 包括執行該等指令,並且藉此促使讀取該性能量測遮罩。 該方法進一步包括分析該性能量測遮罩組態,以決定要量 測的性能度量資訊。另外,該方法包括依據該等量測性能 度量資訊,以在該内嵌系統上執行複數個性能監視工作。 該等性能度量資訊可能是下列示範性度量資訊的一項或一 項以上度量資訊:一特定常式的整體執行時間、該特定常 式中執行的指令週期數、該特定常式中的快取區命中數 目、該特定常式中的記憶體.讀取總數、該特定常式中的記 憶體存取(讀取及寫入)總數、該特定常式中的控制匯流排 讀取週期數、該特定常式中的控制匯流排週期(讀取及寫 入)數、該特定常式中的非可快取讀取週期數及該特定常 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X 297公釐)
裝 訂
線 557423 A7 B7 五、發明説明(4 ) 式中的非可快取存取週期(讀取及寫入)總數。最好依據一 包含於該内嵌系統内之遮罩中的控制旗標狀態來記綠該等 性能度量資訊。依據該等度量資訊,設計人員可微調軟體-以適用於該内嵌系統。 在另一項具體實施例中,本發明提供一種内嵌系統,其 包括一微處理器及一性能量測邏輯,該性能量測邏輯被耦 合至該微處理器並且被設定以記錄所選性能度量資訊。該 等性能度量資訊可能是下列一項或一項以上度量資訊:一 特定常式的整體執行時間、該特定常式中執行的指令週期 數、該特定常式中的快取區命中數目、該特定常式中的記 憶體碩取總數、該特定常式中的記憶體存取(讀取及寫入) 總數、該特定常式中的控制匯流排讀取週期數、該特定常 式中的控制匯流排週期(讀取及寫入)數、該特定常式中的 非可快取讀取週期數及該特定常式中的非可快取存取週期 (讀取及寫入)總數。一般而言,一計數器被配置以記錄每 項性能度量資訊的統計資料,並且可使用一可程式規劃遮 罩控制該等計數器,其中該可程式規劃遮罩包含於一耦合 至該微處理器的記憶體中。 圖式簡單說明 本發明將藉由附圖中顯示的範例來進行解說,但未限 制,圖式中相似的參照數字代表相似的元件,並且其中· 圖1顯示内嵌系統的一部份,其包括根據本發明具體實 施例配置的性能量測邏輯。 八把只 圖2顯示監視内嵌系統性能之方法。 -8- 詳細說明 本發明揭示-種用於量測_内嵌系統之實際性能的方 *议D又中參考特定圖解或示範性具體實施例來說明、 發明:但是在檢閱本說明書後,熟知技藝人士應明白本 2可達成各種系統中的應用。因此,在以下的說明書 中’解說的具體實施例應被視為僅僅是示麟具體實施 列二,而不應被視為限制本發明範轉。再者,會結合本發明 來特疋性把度I資訊。但是,本發明不限定於量測這 些特足度量資訊,並且可依據本發明來量測任何適合的度 量資訊。 ―圖1顯示内嵌系統10的-部份,其包括-微處理器或微 制器1 2在項示範性具體實施例中,微處理器丨2是一 RM微處理器。本發明可配合任何微處理器或微控制器一 起使用,如x-86型微處理器、MIps處理器、Risc處理器 或其他任何類型微處理器或微控制器。微處理器12被轉合 至各種系統組件之任一項(例如,輸入/輸出組件),圖式中 沒有詳細顯示這些組件,因為這些組件的組成不是本發明 的關鍵。 再者,記憶體系統14被耦合至微處理器12。記憶體系統 14可此疋揮發性記憶體,如讀取·寫入記憶體(RAM)。通 常也會配備非揮發性記憶體·16(通常稱為開機R0M)。非揮 發性記憶體16儲存微處理器12的啟動程式(或開機程式)。 性能量測邏輯20被耦合至微處理器12,通常係沿著處理器 匯流排槁合,或者,如果有分開的記憶體匯流排存在目,j可 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) -9- 557423 A7 B7 五、發明説明(6 沿著記憶體匯流排耦合。 在一項示範性具體實施例中,性能度量資訊可能是下列 示範性度量資訊的一項或一項以上度量資訊:一特定常式 的整體執行時間、該特定常式中執行的指令週期數、該特 足常式中的快取區命中數目、該特定常式中的記憶體讀取 總數、該特定常式中的記憶體存取(讀取及寫入)總數、該 特定常式中的控制匯流排讀取循總數、該特定常式中的控 制匯流排週期(讀取及寫入)數、該特定常式中的非可快取 讀取週期數及該特定常式中的非可快取存取週期(讀取及 寫入)總數。一般而言,對應的·計數器22a至22g被配置以 記錄每項性能度量資訊的統計資料,並且可使用一可程式 規劃遮罩來控制該等計數器223至22§,其中該可程式規 劃遮罩包含於一耦合至該微處理器的記憶體系統14中。在 π範性具體實施例中,也可使用包含於性能量測邏輯2 〇中 的一般計時器21來控制計數器22a至22 g。 性能量測邏輯2 〇包括一般計時器2 1、週期計數器2 2 a、 命中率計數器22b、記憶體讀取計數器22c、記憶體存取 計數器22d、控制匯流排讀取計數器S2e、非可快取讀取 計數器22f及非可快取存取計數器22g。一般計時器门也 可追蹤其完成或執行一作業或一組作業所花的時間。在一 項示範性具體實施例中,該等作業包括常式中執行的指令 週期、常式中的快取區命中、常式中的記憶體讀取、^二 中的圮憶體寫入、常式中的控制匯流排讀取、常式中的抑 制匯流排寫入、常式中的非可快取讀取及常式中的非可快
五、發明説明(7 ) 取寫入。 一般計時器21及計數器比叮么匕 Τ裂态22&土22§皆可能以兩種模式使 。在矛-模式中’會在特定時間週期期間設定_般計時 :,並且開始向下計數直到零。在-般計時器達到愛之 可,性能量測邏輯20中的所有計數器22a至22g會針對其 每項對應作業而遞增^在第二模式中,會利用遮罩Μ以針 對-組指定的對應指令(例如,款體/軔體常式)來啟用或停 用計數器22d22g。第二模式允許設計人員利用遮罩18 及計數器22 a至2 2g來量測特定常式的性能。下文中將進 一步說明遮罩1 8。 週期計數器22a追蹤執行的指令週期數目,會針對每個 執行的指令週期更新這個計數器。在一項示範性具體實施 例中,週期計數器22a是(3 2)位元暫存器。這些位元屬於 唯讀,並且是十六進位(ΗΕχ)格式。這些位元反映,在一 般計時器2 1指定的時間週期期間在記憶體匯流排。及控制 匯流排24上執行的LOAD/STORE週期數量,或是一特定常 式中執行的LOAD/STORE週期數量。所追蹤的 LOAD/STORE週期包括所有記憶體匯流排讀取/寫入週期 與所有控制匯流排讀取/寫入週期的組合。 命中率計數器22b追蹤特定常式中的快取區命中數目, 會針對每個快取區命中更|斤這個計數器。命中率計數器 2 2 b係用來決定内嵌系統中快取記憶體的性能。當在快取 區中發現資料時,就發生快取區命中,並且快取記憶體的 有效性係由快取區命中來決定。在一項示範性具體實施例 本紙張尺度i£财g g家鮮(CNS) A4規格(21GX297公爱) -11- 557423 五、發明説明(8 ) 中二命中率計數器22b是(32)位元暫存器。這些位元屬於 唯讀,並且是十六進位(ΗΕχ)格式。這些位元反映在 定的時間週期期間命中内部& $ 曰 Τ門那氏取區的記憶體讀取週期數 目’或是於料常式期間命中内部快取區的記憶體讀取週 期數目。 記憶體讀取計數器22。_特定常式巾的記憶體讀取總 數,會針對每個記憶體讀取更新這個計數器。在一項示範 性具體貫施例中,記憶體讀取計數器22c是(32)位元暫存 器。、這些位元屬於唯讀,並且是十六進位(HEX)格式。這 1位兀反映’在指定的時間週期期間在記憶體匯流排上執 行的讀取週期數目,或是於特定常式期間在記憶體g•流排 上執行的讀取週期數目。記憶體讀取循是發生於記憶體匯 流排上的連續操作,用以讀取記憶體。 记隐to存取计數器2 2 d追蹤特定常式中的記憶體存取(讀 取及寫入)總數,會針對每個記憶體存取更新這個計數 器。在-項示範性具體實施例中,記憶體存取計數器⑴ 疋(32)位元暫存器。這些位元屬於唯讀,並且是十六進位 (HEX)格式。這些位元反映,在指定的時間週期期間在記 憶體匯流排上執行的記憶體週期數目,或是於特定常式期 間在記憶體匯流排上執行的記憶體週期數目。記憶體循是 發生於記憶體匯流排上的連續操作,用以讀取記憶體或寫 入至記憶體。 控制匯流排嬪取計數器2 2 e追蹤特定常式中的控制匯流 排讀取週期數,會針對每個控制匯流排讀取更新這個計數 -12« 五、 發明説明( 器。在一項示範性具體實施例中,控制匯流排讀取計數叫 22e是(32)位元暫存器。這些位元屬於唯讀,並且是= 進位(HEX)格式。這些位元反映,在指定的時間週期_ 在控制匯流排上執行的讀取週期數目,或是於特定常式期 間在控制匯流排排上執行的讀取週期數目。控制區流二是 實體連接,用於在電腦内的cpu與其他裝置之間運載^ 資訊。例如’區流排的—條線路被用來指 ^ 正在讀取主記憶體或寫入至主記憶體。 卿疋否 非可快取讀取計數H22f追㈣定常式中的非可快取讀 取週期數,會針對每個非可快取讀取更新這個計數器。在 -項π範性具體實施例巾,非可快取讀取計數器是(32)位 元暫些位元屬於唯讀’並且是十六進位(ΗΕΧ)格 式。这些位7C反映,在指定的時間週期期間或是於特定常 式期間’在記憶體匯流排上執行的讀取週期數目,以存取 非可快取記憶體。 非可快取㈣計數器22g追料定常式中特制匯流排 週期(讀取及寫入)數,會針對每個控制匯流排週期更新這 個計數器。在-項示範性具體實施例中,非可快取存取計 數器22g是(32)位元暫存器。這些位元屬於唯讀,並且是 十六進位(HEX)格式。這些位元反映,在指定的時間週期 期間在控制匯流排上執行的讀取/寫入週期數目,或是於 特定常式期間在控制匯流排排上執行的讀取/窝入週期數 目。 圖2顯示依據本發明的示㈣内嵌系統性能量測方法。 -13- 本紙張尺度適财@ @家標芈((JNS) A4規格(21Gx297公爱) 557423 A7
於步驟201,在開機或重置之後,於步驟2〇2,微處理器i 2 從非揮發性記憶體16載入指令,並且於步驟2〇3開始執行 扎令。指令可能是内嵌系統i 〇的韌體或其一部份。就提出-的案例而言,於步驟204的特定時間點,這些指令之一可 月匕疋印取记憶體1 4的一部份。所讀取之記憶體丨4的部份可 能被稱為性能量測遮罩18(例如,請參考圖υ。可藉由使 用者设定來設定遮罩18。在其他情況下,遮罩18或遮罩 1 8内用於設定位元的指令可能被併入,以作為非揮發性記 憶體16中之指令集的一部份。 遮罩18是一組位元,其可能是連續或不連續的位元,並 且可依據内嵌系統1〇是否執行特定性能監視工作來設定遮 罩。藉由設定遮罩18的特定位元,設計人員可指示内嵌系 統10執行特定工作,以收集性能監視資料,然後利用性能 監視'貝料來協助韌體開發程序。設計人員使用遮罩來啟用 或停用計數器2 2 a至2 2 g,以對應一組指定的軟體/韌體指 令(例如,常式)。例如,設計人員會想要檢查特定讀取常 式的性能,因此會設定遮罩i 8 (例如,使用Green mUs ARM開發工具),以便只有在執行特定讀取常式期間,微 處理器1 2才會遞增性能量測邏輯2〇中的計數器。 請參考圖2 ,於步驟205,決定是否有設定遮罩18中的任 何位元。如果有設定遮罩18中的位元,於步驟2〇6,微處 理器1 2分析遮罩1 8,以決定所要執行的監視工作,及執行 監視工作的常式。決定常式及工作之後,於步驟207重置 計數器22a至22g。於步驟208 ,微處理器12針對執行的每 -14- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公爱)
裝 訂
項對應作業開始遞増計數哭 孜 °〇22&至22§。於步驟 209,微處 理為1 2依據4ej令(例如,暗門 ^ ^ _ 時間限制)繼續監視作業,並且更 新計數器22a至22g。 处:吏用遮罩來担制计數器,則於步驟203讀取的指令 "把疋^ 7 21G用於在特疋時間期間啟用計數器仏至 22g。指足的時間係在—般計時器2ι中設定。步驟川的指 令不同於步驟204發出的如人 m 出的因為會依據特定常式來監 視性能,而不是在特定時間期間進行監視。 利用計數器22d22g提供的統計資料, 微調韌體,以配合内嵌系統10運作,並且改 因此,已說明内嵌系統中的性能量測機制。 設計人員能夠 良整體性能。 於前面的詳細汹,已參考本發明的料制實施例來 說明本發明的方法及裝置。但是,顯而易見,可進行各種 變^及修改,而不會脫離本發明廣大的精神及範蜂。具體 而言,各種方塊圖的分開方塊代表方法的功能步驟或裝^ 的功能組塊,並且不一定是實體或邏輯分隔的指示,或本 發明精神或範圍中固有操作順序的指示。例如,圖丨的各 種組塊可整合成組件,或可分割成組件。另外,圖2的步 驟代表方法的一部份,在某些具體實施例中,可將步驟重 新#序或以平行方式組織,而不是以線性或按步驟方弋組 織。因此’本說明書暨附圖應視為解說,而不應視為限 制。 、
Claims (1)
- Μ/423•—種用於量測一内嵌系統之實際性能之方法,包栝·· 藉由利用计數器來追縱作業發生次數,以追縱一内族 系統的性能度量資訊。 2·如申請專利範圍第1項之方法,其中該追蹤步騾進一步 包括: 接收指令,以在一指定時間週期期間監視作業發生次 數;以及 針對每次發生次數遞增對應的計數器。 3·如申請專利範圍第2項之方法,進一步包括: 在開始遞增之前,先重置該·等計數器。 4·如申請專利範圍第2項之方法,其中在該指定時間噢期 期間進一步包括一軟體或韌體常式。 5·如申請專利範圍第2項之方法,其中會依據一包含於該 内嵌系統内之遮罩中的位元設定狀態來監視該等作業。 6·如申叫專利範圍第2項之方法,其中該遮罩是一記憶體 系統中之指定數量的位元。 7·如申請專利範圍第6項之方法,其中該記憶體系統是一 揮發性記憶體系統。 8·如申請專利範圍第5項之方法,其中會藉由使用者設定 來設定該遮罩。 9·如申請專利範圍第2項之方法,其中該等作業包括下列 作業之一項或一項以上作業:一特定常式的整體執行時 間、該特定常式中執行的指令週期數、該特定常式中的 快取區命中數目、該特定常式中的記憶體讀取總數、該 -16- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公爱)裝 t 557423 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 特定常式中的記憶體存取(讀取及寫入)總數、該特定常 式中的控制匯流排讀取週期數、該特定常式中的控制匯 流排週期(讀取及窝入)數、該特定常式中的非可快取讀 取週期數及該特定常式中的非可快取存取週期(讀取及 寫入)總數。 10· —種内嵌系統,其包括一微處理器及一性能量測邏輯, 該性能量測邏輯耦合至該微處理器並且被設定以追蹤所 選性能度量資訊,其方式是利用計數器來追蹤作業發生 次數。 11·如申請專利範圍第1 〇項之内嵌.系統,其中該等性能度量 資訊包括下列一項或一項以上性能度量資訊:一特寒常 式的整體執行時間、該特定常式中執行的指令週期數、 該特定常式中的快取區命中數目' 該特定常式中的記憶 體讀取總數、該特定常式中的記憶體存取(讀取及寫入) 總數、該特定常式中的控制匯流排讀取週期數、該特定 常式中的控制匯流排週期(讀取及寫入)數、該特定常式 中的非可快取讀取週期數及該特定常式中的非可快取存 取週期(讀取及寫入)總數。 12·如申請專利範圍第n項之内嵌系統,其中每個計數器皆 被配置以分別記錄每項性能度量資訊的統計資料。 13·如申請專利範圍第1 2項之内嵌系統,其中該等計數器係 藉由一可程式規劃遮罩控制。 14·如申請專利範圍第1 3項之方法,其中該可程式規劃遮罩 包含於一耦合至該微處理器的記憶體系統中。 -17- 本紙張巧@家標準(CNS) μ規格(21〇 χ 297公爱)裝 訂557423 A BCD 六、申請專利範圍 15·—種内嵌系統,包括: 一微處理器;以及 性能量測邏輯,其輕合至該微處理器; 其中該微處理器接收指令,以在一指定時間週期期間 監視作業發生次數;以及 該微處理器遞增該性能量測邏輯中的該等計數器,以 對應各別的作業發生次數。 16. 如申請專利範圍第i 5項之内嵌系統,其中該等作業包括 下列作業之一項或一項以上:一特定常式的整體執行時 間、該特定常式中執行的指令.週期數、該特定常式中的 快取區命中數目、該特定常式中的記憶體讀取總數、該 特定常式中的記憶體存取(讀取及寫入)總數、該特定常 式中的控制匯流排讀取週期數、該特定常式中的控制匯 流排週期(讀取及寫入)數、該特定常式中的非可快取讀 取週期數及該特定常式中的非可快取存取週期(讀取及 寫入)總數。 17. 如申請專利範圍第1 6項之内嵌系統,該内展系統進一步 包括計數器,其中每個計數器皆被配置以記錄每項作業 的統計資料。 18. 如申請專利範圍第1 7項之内嵌系統,其中該等許數器係 藉由一可程式規劃遮罩控制。 19·如申請專利範圍第18項之内嵌系統,其中該微處理器從 第一記憶體系統載入指令,並且執行該等指令,以從 一第二記憶體系統讀取該可程式規劃遮罩。 -18- 本紙張尺度適用中國@家標準(CNS) A4規格(210X297公爱) ' ------- 557423 A8 B8 C8 D8 、申請專利範圍 20. 如申請專利範圍第1 9項之内嵌系統,其中該第一記憶體 系統是一非揮發性記憶體系統。 21. 如申請專利範圍第1 9項之内後系統,其中該第二記憶體 系統是一非揮發性記憶體系統。 -19- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐)
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US29178401P | 2001-05-16 | 2001-05-16 | |
US10/146,868 US6643609B2 (en) | 2001-05-16 | 2002-05-15 | Performance measurement for embedded systems |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW557423B true TW557423B (en) | 2003-10-11 |
Family
ID=26844368
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW091110221A TW557423B (en) | 2001-05-16 | 2002-05-16 | Performance measurement for embedded systems |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6643609B2 (zh) |
TW (1) | TW557423B (zh) |
WO (1) | WO2002093381A1 (zh) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20060224925A1 (en) * | 2005-04-05 | 2006-10-05 | International Business Machines Corporation | Method and system for analyzing an application |
US20100218171A1 (en) * | 2009-02-26 | 2010-08-26 | Computer Measurement Laboratory, Inc. | Computer bus monitoring for the adaptive control of executing software processes |
CN102929644B (zh) * | 2012-11-22 | 2015-08-26 | 江苏大学 | 一种用于计算机硬件实验微处理器的嵌入式运行控制装置 |
US9558006B2 (en) * | 2012-12-20 | 2017-01-31 | Intel Corporation | Continuous automatic tuning of code regions |
TWI570738B (zh) * | 2013-03-29 | 2017-02-11 | 萬國商業機器公司 | 具有使用歷程記錄的主記憶體模組以及此主記憶體模組於電腦系統之應用 |
US9424159B2 (en) | 2013-10-10 | 2016-08-23 | International Business Machines Corporation | Performance measurement of hardware accelerators |
US9996389B2 (en) * | 2014-03-11 | 2018-06-12 | International Business Machines Corporation | Dynamic optimization of workload execution based on statistical data collection and updated job profiling |
US10891071B2 (en) * | 2018-05-15 | 2021-01-12 | Nxp Usa, Inc. | Hardware, software and algorithm to precisely predict performance of SoC when a processor and other masters access single-port memory simultaneously |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5845310A (en) * | 1993-12-15 | 1998-12-01 | Hewlett-Packard Co. | System and methods for performing cache latency diagnostics in scalable parallel processing architectures including calculating CPU idle time and counting number of cache misses |
US5537541A (en) | 1994-08-16 | 1996-07-16 | Digital Equipment Corporation | System independent interface for performance counters |
FR2763712B1 (fr) | 1997-05-26 | 2001-07-13 | Bull Sa | Dispositif d'instrumentation pour machine avec memoire a acces non uniforme |
US6092180A (en) * | 1997-11-26 | 2000-07-18 | Digital Equipment Corporation | Method for measuring latencies by randomly selected sampling of the instructions while the instruction are executed |
US6079032A (en) * | 1998-05-19 | 2000-06-20 | Lucent Technologies, Inc. | Performance analysis of computer systems |
EP0992905A3 (en) | 1998-10-06 | 2002-11-27 | Texas Instruments Inc. | Cache miss benchmarking |
US6502133B1 (en) * | 1999-03-25 | 2002-12-31 | Lucent Technologies Inc. | Real-time event processing system with analysis engine using recovery information |
US6430659B1 (en) * | 2000-09-22 | 2002-08-06 | International Business Machines Corporation | Method and means for increasing performance of multiprocessor computer systems by reducing accesses to global memory locations through the use of quanta |
-
2002
- 2002-05-15 US US10/146,868 patent/US6643609B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-05-16 WO PCT/US2002/015672 patent/WO2002093381A1/en not_active Application Discontinuation
- 2002-05-16 TW TW091110221A patent/TW557423B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6643609B2 (en) | 2003-11-04 |
WO2002093381A1 (en) | 2002-11-21 |
US20020188889A1 (en) | 2002-12-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4138021B2 (ja) | プロセッサベースのデバイス、ソフトウェア性能プロファイリング情報をもたらす方法およびソフトウェア性能プロファイリング情報を生成し分析するためのソフトウェア開発システム | |
US5301312A (en) | Method and system for utilizing benign fault occurrence to measure interrupt-blocking times | |
US7222030B2 (en) | Method and apparatus for profiling power performance of software applications | |
US6748558B1 (en) | Performance monitor system and method suitable for use in an integrated circuit | |
US8818760B2 (en) | Modular re-configurable profiling core for multiprocessor systems-on-chip | |
EP2513752B1 (en) | A counter architecture for online dvfs profitability estimation | |
US8898049B2 (en) | System level power profiling of embedded applications executing on virtual multicore system-on-chip platforms | |
WO2011001629A1 (ja) | データ処理装置、性能評価解析装置、性能評価解析システムおよび方法 | |
US20030191976A1 (en) | Power profiling system and method for correlating runtime information | |
JPS6226732B2 (zh) | ||
US20140149078A1 (en) | Performance measurement unit, processor core including the same and process profiling method | |
Clark et al. | Measuring VAX 8800 performance with a histogram hardware monitor | |
CN101819553A (zh) | 微码指令执行次数的计数装置以及计数方法 | |
TW557423B (en) | Performance measurement for embedded systems | |
TWI437488B (zh) | 微處理器及適用於微處理器之操作方法 | |
CN114489801A (zh) | 高精度测量嵌入式系统中断时长的方法、系统及介质 | |
US7159144B2 (en) | Firmware code profiling | |
Inam et al. | Bandwidth measurement using performance counters for predictable multicore software | |
US20140149968A1 (en) | Dynamic library profiling method and dynamic library profiling system | |
US20110107072A1 (en) | Method for self-diagnosing system management interrupt handler | |
EP1351148A2 (en) | Power profiling system and method for correlating runtime information | |
WO2002048888A9 (en) | Watchpoint engine for a pipelined processor | |
Uzelac et al. | Using branch predictors and variable encoding for on-the-fly program tracing | |
JP4024026B2 (ja) | 半導体装置および評価装置 | |
JPH1124959A (ja) | マイクロプロセッサのトレース情報出力方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GD4A | Issue of patent certificate for granted invention patent | ||
MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |