TW452745B - A configurable multi-function touchpad device - Google Patents

Description

452745 五、發明說明（1) 發明範略 本發明與指紋偵測有關。更詳細地說 觸墊裝置有關的指紋偵測。 背景 本指標接觸墊裝置，基本上為固定指 用者操控電腦的圖形顯示（也就是螢幕） 標。目前指標接觸墊裝置係根據耦合電 一導電指標譬如手指’係與一兩層電極 圖形顯示上游標圖示的動作。兩層電極 的連續電極切口（electr〇de snip),同 續水平電極切口，該個別的電極切口係 電極切口相關電容之積體電路。 S亥導電指標（也就是手指），在應用3 置，’會改變個別切口間的電容，因為 扣）具有十分不同於氣體的特性。因j 是手j)的位置係取決於個別電極切口 P f電合差異從兩層電極柵移轉到電腦圖 :的游標圖不，以回應或追蹤兩層電極 作。 =此，該標準指標接觸墊裝置允許操 *不或指標，但除了游標控制之外通 ，用途或功能。但{，現在致力於將系 早多功能裝置以減少週邊元件數，並 本發明與指標接 示裝置，能夠由使 .上之游標圖示或指 容原則運作，其中 柵結合以提供電腦 柵之頂層包含垂直 時其底層包含一連 連接至一計算與各 :1J該指標接觸墊裝 導電指標（也就是 b，導電指標（也就 電容内的差異。 形顯示所包含之對 栅上導電指標的動 控圓形顯示上的游 常不提供任何輔助 統週邊元件整合到 簡化電 e 452745 五、發明說明（2) 為獨立個別的 有系統週邊元 同樣地，當 置用途以提供 元件的需求也 長。 在使用者獲 裝置透過指紋 目前的指紋辨 過連接線或其 紋辨識裝置通 配置的感應表 該指紋辨識裝 射影像與包含 料加以比對。 指紋鑑定通 或進入安全的 出。例如，如 電腦系統將提 置上以鑑定指 使用者是否獲 此’該指鑑定 未授權進入或 其進入。 元件，部份原因是他們不易整合或合併到現 件中。 越來越多的電腦系統整 系統安全時，整合指紋 合獨立的指紋辨識裝 辨識裝置到現有週邊 隨著簡化的單一多功能裝置的增加而跟著成 准進入系統或安全應用 鑑定確定使用者身份以 識裝置通常是外接到電 他輸入裝置耦合至電腦 常包括一發光源、一棱 面，以及一偵測陣列。 置鑑定，藉由獲得一反 指紋影像的資料庫或與 常用於選擇性管制進出 電腦系統，藉以限制僅 果有使用者企圖進入安 示該使用者置放選擇手 紋。接下來，就進行指 得授權能夠進入該安全 過程僅允許授權使用者 未獲准使用安全系統的 程式之前，指紋辨識 提供電腦系統安全。 腦系統，且一般是透 系統。典型的外接指 鏡，包含一用於指紋 因此，指紋影像係由 射指紋影像並將該反 授權使用者有關的資 或進入安全應用程式 有授權人員能夠進 全電腦應用程式，該 指到外接指紋辨識裝 紋鐘定工作，確認該 電腦應用程式。因 存取或進入，同時對 其他使用者，則拒絕

第5頁 45274 5 五、發明說明（3) 目4來#，需要指紋鑑定的安全電腦系統都利用獨立的 指標接觸墊裝置來操控游標，並利用獨立的指紋辨識裝置 來鑑疋指紋。同樣地，利用兩種個別週邊裝置來進行兩種 不的功能（也就是游標控制與指標鑑定）會導致使用安全電 腦系統的成本與複雜度增加。成本增加主要是源自安全電 腦系統中操作兩種不同裝置（指標接觸墊裝置和指紋辨識 裝置）所需要的支援結構與電路。例如，該指標接觸墊裝 置需要兩層電極栅、游標控制介面、#支援電路，以用於 ΐΐΓϋ:顯示上的游標圖示。同樣地，該指紋辨識裝 置需要發光源、一棱鏡、和一積測陣列、 和支援電路，以提供用於指紋鑑定。 、杆厍、 由於目剛趨勢為減少將現有週邊元件整合為單 4 低成本元件的尺寸、势吾知適换廢 ..^ 多力月 (”㈣執㈠ 度良玲兩顆個別元件 (心標接觸墊襄置和指紋辨識裝置）會有不良影響 用兩顆個別元件即代表需要進行指紋鑑定的安全 2使 其成本與複雜度會增加。 1：脂1系統 因此需要有一種多功能接觸墊裝置，在單一 :定就能夠在電腦圖形顯示上操控游#，也能夠進； 總結 測 偵 本發明的具體 表面的偵測陣 敌影像。此外 鲫陣列之影像 實施例提供一 列所組成，其 ，還提供一處 資料。該處理 種接觸墊裝置 中該4貞測表面 理裝置以接收 裝置以與指紋 ’由具有一偵 係組態以接收 才曰紋影像或該 影像有關之參

^52745 五 ' 發明說明（4) 數為基礎組態該接觸墊裝置以作為指標控制裝置或是指紋 辨識裝置》 在一具體實施例中’該處理裝置在纟且態該接觸墊裝置以 作為指標控制裝置或指紋辨識裝置時，係利用與指紋影像 有關之區域參數。 在另一具體實施例中，該處理裝置在组態該接觸墊裝置 以作為指標控制裝置或指紋辨識裝置時，係利用與指紋影 像有關之圖案參數。 式之簡單説明 本發明將以範例加以說明，以下附圖的參考數字係指示 類似的元件。以下附圖揭示本發明不同的具體實施例，僅 作為說明用，且不用以限制本發明之範圍。 圖1說明一可設定的多功能接觸墊裝置之具體實施例之 方塊圖，能夠實行本發明的說法。 置結合使用之指紋 圖1 Α說明一與可設定多功能接觸墊裝 平台之具體實施例。 偵 偵 圖2A和2B说明在區域辨識 測表面之具體實施例。 圖3A和3B說明在圖案辨識 測表面之具體實施例。 模式下操作之偵測陣列的 模式下操作之偵測陣列的 圖4為一流程圖之具體實施例，該流程圖說明多功能接 觸墊裝置的操作特性。 詳細說明

4527 4 5 五、發明說明（5) 是本行業的專家將瞭解沒有這些特定細節也可實行本發 明°在其他範例中，尚未詳細說明通用的方法、程序、協 定、元件、演算法和電路，所以不要混淆本發明。 本發明係介紹一種可設定的多功能接觸墊裝置，能夠以 與指紋影像有關之參數為基礎當作指標控制裝置或是指紋 辨識裝置。 圖1為一可設定的多功能接觸墊裝置之具體實施例之方 塊圖’該裝置能夠實行本發明的說法。圖1說明一多功能 接觸墊裝置1 〇 〇 ’包括一耦合至一偵測陣列丨丨0之處理裝 置1 〇 5。該偵測陣列丨1 〇係組態以供應與預先提供之指紋影 像有關的指紋影像或指紋影像資料給該處理裝置丨〇 5 D此 外’ 一指紋資料庫115 ’包含一連串與選擇授權人員有關 之儲存指紋影像/資料，係耦合至該處理裝置丨〇 5。該處理 裝置1 0 5使用一連串儲存的指紋影像或資料，藉由比對接 收自偵測陣列11 〇的指紋影像或指紋影像資料與指紋資料 庫11 5内所儲存的指紋影像/資料，用以執行指紋影像鑑 定。

4 527 4 5 五、發明說明（6) ^ 以與反射（預先提供）指紋影像有關之選擇參數為基礎級 為將該多功能接觸墊裝置1 〇 〇當作指標控制裝置或是紅 辨識裝置。、 另外，還提供一指紋平台130和相關的發光裝置135，如 圖1所示’以便相對於指紋感測平台丨3〇上手指的配置， 供反射指紋影像或其他影像給偵測陣列1 1 0的偵測表面。 在一指紋平台1 3 0的具體實施例中’如圖丨A所示，該指紋 平台130包括一板狀棱鏡，與通常為大型三角形的標準全 尺寸棱鏡相較’該稜鏡為薄長形。該板狀棱鏡主要用於需 要薄長指紋平台的應用裝置，譬如膝上型電腦接觸墊。該 指紋平台130 ’如圖1 A所示，包括一連串小棱鏡140位於^ 對於板狀棱鏡的感應表面145之位置。因此，每一小棱鏡 140有一相對應的進出口表面，且每一小棱鏡14〇都鄰接到 板型棱鏡内的另一小棱鏡140。同樣地，當指紋影像（手 指）置於感應表面1 4 5上時，發光源1 3 5的一部份光線照射 進入小棱鏡140的入口表面。 手指上凸出部份接觸感應表面145，該輻射能量傳送至 手指或由手指吸收。另外，指紋影像溝（指紋），就是沒有 與感應表面140接觸的部份，從感應表面145反射輻射能量 到每一小棱鏡140相關的個別出口表面。該反射輻射能量 藉由小棱鏡1 4 0的個別出口表面發散出去並導引到偵測陣 列1 1 0的偵測表面，通常藉由透鏡1 5 0 ’其中指紋影像的反 射影像在偵測陣列11 〇的偵測表面上形成。 同樣地，在指紋平台1 3 0的替代具體實施例中，可使用

4 527 ^ 五、發明說明（7) 王尺寸棱鏡，該棱鏡提供類似操作功能，但相較於板狀棱 鏡外觀並不是薄長型。 回頭參見圖1，該偵測陣列丨丨〇或電荷耦合裝置（CCD晶 片）利用半導體技術在偵測陣列1 1 0的偵測表面上製作光感 ，裝置’譬如照相機（也就是錄影用或標準型）和影像掃描 器。每種福測陣列11 〇，或C C D晶片，一般是由光感應電池 陣列所組成’其中藉由在曝光之前提供光電池一電荷以使 各光電池感光（sensitized)。以下將就多功能接觸墊裝置 I 0 0的操作方面來進一步討論處理裝置丨〇 5相關的偵測陣列 II 0之用途。 操作時，指紋影像透過指紋平台1 3 〇被反射到偵測陣列 U 0的偵測表面上，該平台受到光源丨35的照射。該光源 1 3 5與指紋平台1 3 0和禎測陣列11 〇合用，以產生提供給偵 測陣列1 1 0偵測表面的反射指紋影像。同樣地，該偵測陣 列11 0係組態以提供指紋影像或影像資料給處理裝置〗〇 5 , 其中該處理裝置1 0 5將該多功能接觸墊裝置1 〇 〇以與指紋影 像有關之選擇參數為基礎組態為指標控制裝置或是指紋辨 識裝置。 圖2A、2B、3 A和3B說明偵測陣列1 1 〇的偵測表面之具體 實施例。該偵測陣列1 1 〇的偵測表面係由一連串光感應光 電池所組成’該光電池被組態為產生影像或影像資料以回 應被導引至光電池陣列上之指紋影像的反射。彳貞測陣列 1 1 0的偵測表面上所包含的光電池可安排為任意類型的組 態，譬如橢圓形組態直接對應到全尺寸指紋影像，或格網

第10頁 4 52 7， 五、發明說明（8) 組態、或所需要的任意其他組態。 希望的# f 4 & 力外，應瞭解到任何所· 布！的光電池數都可用以構成偵 』所 HI ? A却as — 4呼列的偵測表面。 圖Μ說明元整指紋被置放到指紋 測陣列11 0的偵、、則矣而拄沾庙.目,丨胳千σ 1 3 0上亚反射到偵 此，，及車列110的禮測表面。因 此該反射的元整指紋影像20 0，及射s，沾± 之上，杜媸伯…^ 欠射到偵測陣列表面1 1 0 之上佔據偵測陣列11 〇的偵測表面上的姓宗f祕π 4, 地’該反射的完敕浐攱导ί後？nni^上的特&域。同樣 面上特定教：二：： 提供摘測陣列110的領測表 : = 電池2°5能量，該表面對應到福測表*

ί ::: 影像2°°所佔據的特定區域。在圖2A 1徊if 整指紋影像20❶可例如位於-區域，該區域 #份對應到續測陣列no的谓測表面40%_70%的中 央區域。因此位於偵測陣列110的偵測表面40%一70%中央 區域的任-影像’將歸類為完整的指紋影像200。應瞭解 到上述百分比限制（40%-7〇%)僅作為說明用。進一步， 應瞭解到對應到完整指紋影像20 0的中央區域可加以選 擇，並設定為任何所需的數值，以允許指紋影像由處理裝 置105歸類為完整指紋影像2〇〇。 圖2B說明指尖紋路被置放到指紋平台丨3 〇上並反射到偵 測陣列11 0的偵測表面時的偵測陣列丨丨〇的楨測表面。因 此’該反射的指尖紋路影像210，反射到偵測陣列表面11〇 的偵測表面之上，佔據偵測陣列丨〗〇的偵測表面上的特定 區域。同樣地，該反射的指尖紋路影像2 i 〇藉此提供偵測 陣列11 0的偵測表面上特定數量的光電池2丨5能量，對應到 反射的指尖紋路影像21 0在偵測陣列〇的偵測表面上所佔

4 527 4 五 '發明說明（9) =定區：。在圓射，反射指尖紋路影像m可例如 谓測ί — 該區域整個或部份對應到偵測陣列no的 的僅、，丨的中央區域。因此，位於偵測陣列11() 尖%‘25%以區域的任一影像，將歸類為指 作Λ却^像210。應瞭解到上述百分比限制（15%-25%)僅 的明用°進—纟’應瞭解到對應到指失紋路影像21〇 Π:區域可加以選擇’並設定為任何所需的數值，以允 汗私紋影像由處理裝置丨〇5歸類為指尖紋路影像2ΐβ。 圖3 Α說明完整指紋影像3 〇 〇被置放到指紋平台1 3 〇上、以 2應到完整指紋影像3〇〇的完整指紋圖案3〇5 口反射到偵測 列的偵測表面時的偵測陣列11()的偵測表面。一般說 ^兀整和紋影像3 0 0包括實際上同中心的指紋圖案3 0 5， 该圖案確定為對應到完整指紋影像3 0 0的指紋圖案（同中心 的圖案）。 3因此，反射的完整指紋圖案3〇5(同中心的圖案），也就 疋反射、到偵測陣列〗丨〇的偵測表面的圖案係由處理裝置 =5加以刀析。該處理裝置1〇5被設定為：藉由分析與預先 提供的扣紋影像相關的圖案結構，決定相關反射指紋影像 的圖案類型。該處理裝置m可利用4定預先提供指紋影 像相關的圖案結構的不同方法，來確定特定指紋影像是否 包含對應到完整指紋影像的同中心圖案。 例如’該處理裝置j 0 5可比較預先提供的指紋圖案（同 t心的）與憑經驗決定的—般同中心指紋圖案，或形成該 指紋圖案的圖案，以確定與該指紋影像相關的指紋圖案是

第12頁 4 5274-5 五、發明說明（ίο) 否符合同中心的圖案，或任何其他方法或流程，以確定該 指紋影像具有同中心圖案。 圖3B說明指尖紋路影像3丨〇被置放到指紋平台1 3 〇上、並 且對應到指尖紋路影像3 1 〇的指尖紋路圖案31 5反射到偵測 陣列11 0的偵測表面時的偵測陣列丨丨〇的偵測表面^ _般說 來’指炎紋路影像31 〇包括實際上平行線的指紋圖案315， 該圖案確定為對應到指尖紋路影像3丨〇的指紋圖案（實際上 為平行線圖案）一樣。 因此’反射的指尖紋路圖案315(實際上平行線圖案）， 也就是反射到偵測陣列1丨0的偵測表面的圖案，係由處理 裝置1 0 5加以分析。該處理裝置丨〇 5被設定為：藉由分析與 預先提供的指紋影像相關的圖案結構，決定相關反射指紋 影像的圖案類型。該處理裝置丨〇 5可利用確定預先提供指 紋影像相關的圖案結構的不同方法，來確定特定指紋影像 是否包含對應到指尖紋路影像實際上為平行線的圖案。 /例如，該處理裝置1 〇 5可比較預先提供的指紋圖案（平 行線）與憑經驗決定的一般平行線指紋圖案，或形成該預 先提供指紋H案的圖案，以確定與該預先提供的指紋圖形 符合平行線的圖案，或任何其他方法或流程，以破定該指 紋影像具有平行線圖案。 回頭參見圖 我衣罝丄”接收對應到完整指紋影ί 圖2Α及3Α)或來自錢陣列u〇的指尖紋路影像（圖2β和 3Β)之影像或影像資料。如上所述，μ多功 _係以提供給該處理冑置1〇5的影像

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的指紋影像有關之逸媒I 也仗 是指紋辨識裒ί 參；指標控制裝置或 睐列11 η &影# β ,此該處理裝置105分析接收自偵測 的操作模式 影像資料，以決定多功能接觸塾裝置100 使：：的：裝二，操作模式可根據特定 鑑定流程後，使用者可： 成指紋辨識或 100的任意操作樓^6t 1開啟、或自訂接觸塾裝置 ，能表，僅作為指標控間 二成的和操蚊辨識處理之後，使用者可组態多功能接觸墊裝置 用，’Λ在特Λ的/作期間内僅當作指標控制裝置使 期間内暫時關閉多功能接觸墊裝置 100作“紋辨識裝置的功能衮置 ；，：：η ： ϊ Γ " " — - - ^ 插作期間内都加以應用。 ^二步，使用者可組態該多功能接 :為在選擇時間間隔時當作指紋辨 置 ΐ:;Γΐ=10°為在選擇時間間隔二 ΐίί制；：ί操作期間内特定應用或終端的持續Ϊ H 藉讓多功能接觸墊裝置100於選擇時間 間隔時當作辨識裝置使用，該使用、擇時門 :續地鑑定為在特定操作期間獲授 J交；間=内 此，未授權的使用者無法在授權使用者；：：：：獲：許

452 7 4 五、發明說明（】2) ____ 可進出安全應用裝置或狄迪 ,., 使用 Λ «壯麥々缺 & ’或在特定操作期間使用去古 兒用—應用裝置或終螭時潴ίθ μ文币考未 端。 螂時獲付許可進出安全應用裝置或終 在—具體實施例中，該壺饰姑思,Λ c Α & ja Ju 孩處理裝置1〇5組態為檢杳鱼箱土 鍉供指紋影像有關的區域參 -與預先 的影像或影像資料。因代表接收自楨測陣列丨！ 〇 不同類型指紋影像有關的 夏野應到與 _ , 町不同區域中介範圍的眘每； > 产 域中央範圍代表對應到不n 分发你 貢訊。各區 資料有關的偵測陣列1 1 0 # ή 〜象或衫像 L, ^ u的偵測表面之一般實阵r? θ , 此一來，該區域中央範圍π掸斑 奴夏h £域。如 電池，該光電池回應不^ 應—選擇數量或範圍的光 或指尖紋路影像）相關的實際區域。 紋❼像 例如，一第一Φ -Φ- jJfl Λ-λτ 實際區域。因A，將回應完整指紋影像有關的 Κ射的池將在接收到價測陣列110的该測表面上 由血ΐϋ:整曰紋影像時被啟動（圖2α) β同樣地，-第二 〜川穴从略影像有關的貫際區域。 / 一中央範圍將回應某數量或範圍的光電池，該光 电池將在接收到偵測陣列11 〇的偵測表面上所反射的指尖 紋路景> 像時被啟動（圖2 Β )。 f另具體實施例中，該處理裴置1 〇 5組態為檢查與預 先像有關的圖案參數，代表接收自偵測陣列 11 ’ _ ' S影像資料。因此，該處理裝置1 0 5維護對應釗 與不同類型札致影像有關的不同指紋圖案之資m。各指紋 、二笙靶圍將回應指尖紋路影像有關的實際區域。因 此，該第二中土玆Wl Μ _ _

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五、發明說明（13) 圖案代表與不同類型指紋影像（也就是完整指紋影 尖紋路影像）有關的實體圖案 泛 例如，對應到完整指紋影像的指紋圖幸 匕彷一同中心的 案，該圖案確定為對應到完整指紋影像（圖3a)的指 纹圖案（同中心的圖案）。同樣地，對應到指尖紋路圖案 指紋圖案包括一實際上為平行線的指紋圖案，該圖案埃^ 為對應到指尖紋路影像（圖3B)的指紋圖案（實際"上為平行疋 因此’在處理裝置105接收到偵測陣列丨1〇的影像或影像 資料之後，該處理裝置1 05檢查該影像或影像資料内含^ 相關參數（可以是區域或圖案參數），以確定多功能接觸塾 裝置1 0 〇相對應的操作模式。在確定指紋影像類型時，藉 由刀析相關參數（可以是區域或圖案參數），該處理裝置 105以影像内含的特定參數為基礎組態該多功能接觸塾穿 置1 〇 〇作為指標控制裝置或是指紋辨識裝置。應瞭解到該 處理裝置1 0 5可組態為分析與特定指紋影像有關的區域參 數與圖案參數的组合，以確定該多功能接觸墊裝置1〇〇相 對應的操作模式。 在操作時，假使該處理裝置1 〇 5確定接收自偵測陣列1 i 〇 的影像資料對應到一反射的完整指紋影像（區域參數對應 到完整指紋影像或是同中心的指紋對應到完整的指紋影 像），則該處理裝置1 0 5組態該多功能接觸墊裝置1 0 0作為 一指紋辨識裝置使用。 另一方面，假使該處理裝置10 5確定接收自偵測陣列的

d52 7 ' 五、發明說明（14) 影像資料對應到一反射的指尖紋路影傻（ ^ ^ 办1冢（區域參數對應到 H紋路影像或是實際上為平行線的囷案對應到指尖 影像），則該處理袭置1〇5組態該多功能接觸塾裝置1〇〇 為一指標控制裝置使用。 因此，假使該處理裝置1〇5蜂定該影像資料對應到突起 指紋影像（區域參數對應到完整指紋影像或是同中心指紋 圖案對應到完整指紋影像），則該處理裝置1〇5執行指紋鑑 定流程，其中該完整指紋影像或影像資料係與指紋資料庫 11 5内含的一連串授權指紋影像或資料加以對昭。該指紋 鑑定流程由該處理裝置105執行，其中該預先提供的完整 指紋影像或影像資料係與指紋資料庫丨丨5内含的一連串授 權指紋影像加以比較。該處理裝置丨〇5可組態以利用各種 不同的授權協定以完成鑑定流程，譬如，但不限定於指紋 圖案比較、數位化指紋分析、或任何其他指紋鑑定流程。 接下來’該處理裝置105確定該預先提供的指紋是否符 合相紋資料庫11 5内含的任一授權指紋影像。如果預先提 供的指紋符合指紋資料庫11 5内含的任一授權指紋影像， 則該處理裝置1〇5產生一鑑定輸出，允許該使用者進出一 安全應用裝置或執行需要指紋鑑定的任一安全交易。應瞭 解到該處理裝置105可組態為僅限具有選擇安全應用裝置 相關的授權指紋影像的使用者進出各種不同的安全應用裝 置。 相反地’假使該處理裝置1 〇 5確定影像資料對應到一指 尖紋路影像（區域參數對應到指尖紋路影像或是實際上為

第17頁 4527^ Π 五、發明說明（15) ™ -- 平行線的圖案對應到指尖紋路影像），則該處理裝置1〇5執 行游標控制功能。在確定處理裝置1〇5所接收到的影像或 影像_貝料對應到一指尖紋路影像時，該處理裝置1 5會追 蹤積測陣列110的谓測表面上反射指尖紋路影像的位置。 因此，該摘測陣列110的偵測表面係對照該介面顯示 125(也就是電腦顯示器），以致偵測陣列11〇的偵測表面上 的指尖紋路影像的位置對應到介面顯示丨25上的對應位 置。因此’該處理裝置i 05藉由確定偵測陣列丄i 〇的偵測表 面上的哪些光電池由該反射的指尖影像提供能4，加以組 態以確定彳貞測陣列110的偵測表面之指炎位置。因此，該 ^置1〇5沿著该測陣列110的偵測表面追縱反射指尖影 像的動作，透過游標控制裝置12〇，進入一對應的游標圖 不或介面顯不125上的指標顯示0 在另-具體實施例中’該搞測陣列11〇的福測表面係組 t以包含光敏即時影像相機裝置，該裝置追蹤積測陣列 ^貞測表=上反射指紋影像的位置。然後該㈣陣列 =追：資料給處理裝置1〇5，該資料 Π0的债測表面上反射指紋影像的地點或位置。因此 =襄置⑽係組態以確定並監控以追縱 ^mo的祕面上反射相尖纹路影像的地點或位、 5二更進-步’該處理裝置105接收光敏相機裝置的追縱 二=過=控!]裝置120將該追取資料轉換為相對應 的游標圖不或介面顯示1 25上的指標顯示。 圖4為-流程圖之具體實施例’說明多功能接觸墊裝置

第18頁 im 4527， 五、發明說明（16) ~ 1 0 0的操作特性。剛開始，於步驟40 0，一手指置放於指紋 平台1 3 0之上，其中一相對應的指紋影像，以該平台感應 表面上手指（完整指紋或指尖）方向為基礎，提供給該福^ 陣列11 0的偵測表面。 ' 於步驟405，該處理裝置1 05接收來自偵測陣列丨丨〇的指 紋影像資料’該陣列對應到指紋平台丨3 〇感測表面上的手 指（完整指紋或指尖）方向。因此，指紋平台1 3 〇的感測表 面上的手指方向決定提供給偵測陣列丨丨〇的偵測表面之指 紋影像類型。同樣地，提供給處理裝置丨〇 5的影像或影像 資料對應到提供給偵測陣列1 1 0的偵測表面的指紋影像類 型。 於步驟4 1 0 ’該處理裝置分析來自偵測陣列丨i 〇提供給處 理裝置1 0 5的影像或影像資料。該處理裝置丨〇 5係組態為以 兩種方式分析影像或影像資料，區域技巧或圖案技巧，或 利用區域技巧和圖案技巧的組合。 因此’如步驟41 5A所述，如果該處理裝置丨〇5利用區域 技巧’處理裝置1 0 5確定指紋影像佔據於偵測陣列1 1 〇的偵 測表面上的區域（區域參數），係以接收自偵測陣列丨丨〇的 影像資料為基礎。指紋影像所佔據的區域對應到指紋平台 1 3 0感測表面上的手指（完整指紋或指尖）方向。該反射的 指尖紋路影像提供偵測陣列丨丨〇的偵測表面上所包含的特 定數量的光電池能量，該表面對應到偵測陣列u 〇的偵測 表面上反射的指紋影像所佔據的實際區域。因此，獲得能 量的光電池數對應到偵測陣列丨丨〇的偵測表面上的反射指

第19頁 4527 ^1 5 五、發明說明（17) _ 紋影像區域 '提供給處 量光電池數的反射指紋影^^的景夕像資料代表獲得能 當完整指紋影像反射到偵 影像資料以光電池數量或百八 1〇的偵測表面時，該 的個表面上的區=佔據該請列11。 供能量。該完整指紋影像大2 :完”紋影像提 像一10的偵測表面上的指尖紋路影 同ϊ: 據的區域較指尖紋路影像要大。 a ，S指尖紋路影像反射到偵測陣列11 〇的偵測表 面時，該影像資料以光電池的數量或百分比來代表佔據該 偵測陣列11 〇的偵測表面上的區域，該光電池由反射的指 尖紋路影像提供能量》該指尖紋路影像提供較少量或較小 百分比的光電池能量’相較於偵測陣列〗丨〇的偵測表面上 的完整指紋影像，指尖紋路影像所佔據的區域較指紋影像 要小。 或是，如步驟415B所述，如果該處理裝置105利用圖案 技巧’該處理裝置確定與反射指紋有關的列印圖案（圖案 參數），該反射指紋係以接收自偵測陣列11 〇的影像或影像 資料為基礎。與指紋影像有關的特定紋路圖案對應到指紋 平台1 3 0感測表面上的手指（完整指紋或指尖）方向。該反 射指紋影像同樣具有特定圖案，該圖案係以指紋平台丨3 0 感測表面上的手指（完整指紋或指尖）万向為基礎。 例如’完整指紋影像一般具有與對應到完整指紋影像的 指紋影像一樣的同中心指紋圖案。然而’4曰尖紋路圖案—

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五、發明說明（18) 般具有與對應到指尖紋路的指紋影像一樣實際上為平行線 於步驟420，該處理裝置1 〇5在從偵測陣列11〇接收影像 或影像資料時，以與對應到特定指紋影像的影像或影像資 料有關之參數為基礎組態該多功能接觸墊裝置為指標 控制裝置或是指紋辨識裝置。 $ 假使該處理裝置1 0 5確定接收自偵測陣列1 1 〇的影像資料 對應到一反射的完整指紋影像（區域參數）或是同中心的指 紋圖案（圖案參數），則該處理裝置丨05組態該多功能 S 塾裝置i〇〇作為一指紋辨識裝置使用。 b接觸 或是’假使該處理裝置1 0 5確定接收自偵測陣列丨丨〇的影 像資料對應到一反射的指尖紋路影像（區域參數）或是平行 線圖案（圖案參數），則該處理裝置105組態該多功能接觸 墊裝置100作為一指標控制裝置使用。 應進一步瞭解到，圖案及區域參數兩者可結合，其中該 處理裝置105可同時偵測與一影像有關的圖案及區域參 數，藉此找出影像是以圖案及區域參數為基礎的完整指紋 影像或和大紋路影像’以组態該多功能接觸塾裝置1 〇 〇的 操作。 因此，於步驟425A，假使該處理裝置1〇5確定該影像資 料對應到元整指紋影像或是同中心指紋圖案，則該處理裝 置105執行指紋鑑定流程，其中該指紋影像或代表影像資 料係與指紋資料庫115内含的一連串授權指紋影像或資料 加以對照β該指紋鑑定流程由該處理裝置1 Q 5執行，其中

第21頁 4527 五、發明説明（19) 該預先提供的私紋影像係與指紋資料庫115内含的一連串 授權指紋影像加以比對。該處理裝置丨〇 5可組態以利用各 種不同的授權協定以完成鑑定流程，譬如’但不限定於指 紋圖案比較、數位化指紋分析、或任何其他指紋鑑定流 程0 同樣地，該處理裝置1〇5確定該預先提供的指紋是否符 合扣紋=貝料庫1 1 5内含的任一授權指紋影像或資料。如果 預先提供的指紋符合指紋資料庫丨15内含的任一授權指紋 影像或資料，則該處理裝置丨〇5允許該使用者進出一安全 應用裝置或執行需要指紋鑑定的任一安全交易。應瞭解到 該處理裝置1 05可組態為僅限具有選擇安全應用裝^目關 的授權指紋影像的使用者進出各種不同的安全應用裝置。 一相反地，於步驟42 5Β，如果該處理裝置1〇5確定該影像 寊料對應到指尖紋路影像或平行線圖案，則該處理裝置 2 5執行—游標控制功能。在確定處理裝置1 〇 5所接收到的 影像資料對應到一指尖紋路影像或平行線圖案時，該處理 裝置105會追蹤偵測陣列110的偵測表面上反射指尖紋路影 像的位置。該偵測陣列丨丨〇的偵測表面係對照該介面顯示 1 2 \(也就是電腦顯示器）’以致偵測陣列丨丨〇的偵測表面上 的指尖紋路影像的位置對應到介面顯示丨25上的對應位 置。因此’該處理裝置1 0 5藉由確定偵測陣列丨丨〇的偵測表 面上提供哪些光電池能量，加以組態以確定陣列的谓測表 之心K位置。因此’該處理裝置1 〇 5沿著彳貞測陣列11 〇的 積測表面追蹤反射指尖影像的動作，透過游標控制裝置

第22頁 4 52 7 / 五、發明說明（20) 120 ’進入一對應的游標圖示或介面顯示us上的指標顯 示0 在另一具體實施例中’該偵測陣列丨丨〇的偵測表面係组 態以包含光敏即時影像相機裝置，該裝置追蹤偵測陣列 110的偵測表面上反射指紋影像的位置。然後該偵測陣列 110提供追蹤資料給處理裝置105，該資料對應到偵測表面 上反射指紋影像的地點或位置β因此，該處理裝置丨〇 5係 組，以確定並監控以追蹤資料為基礎的偵測障列11〇的債 表面上反射指尖紋路影像的地點或位置。更進一步，該 處理裝置105接收光敏相機裝晉的 制裝菩1 9η肱1、, 的追蹤資料並透過游標控 制裝置120將該追蹤資料轉換為相 顯示125上的指標顯示。 士應的游標圖不或介面 從以上說明及附圖，本行業的 具體實施例及描述僅作為說明u解到所示之特定 的範圍。本行業的專家將發現本發明；=制住本發明 體呈現，而不脫離其精神或重要 拉::他特定方式具 詳細說明參考資料不限制本申請專=範=具體實施例的

Claims (1)

1. 4 52 7 " 々、申請專利範圍 1. 一種接 一具有 以接收一指 一組態 理裴置，其 組態該多功 辨識裝置。 2. 如申請 指紋平台， 偵測陣列的 3. 如申請 台包括一板 4. 如申請 鏡係組態以 5. 如申請 以與指紋影 制裝置或是 6. 如申請 關之區域參 置係組態以 7. 如申請 關之區域參 置係組態以 8·如申請 觸墊裝置 偵測表面 纹影像； 以便自偵 中該處理 能接觸墊 專利範圍 其中該指 偵測表面 專利範圍 狀棱鏡。 專利範圍 集中指紋 專利範圍 像有關之 指紋辨識 專利範圍 數對應到 作為一指 專利範圍 數對應到一 作為一指 專利範圍 ，包括： 的偵測陣列，其中呼扁 主 r孩偵測表面係纟且態 測陣列接收指紋影像或影像資料的處 裴置以與指紋影像有關之參數為基礎 裝置，以作為指標控制裝置或是指紋 第1項之接觸墊裝置，進一步包括— 紋平台係組態以提供一指紋影像至該 Q 第1項之接觸墊裝置，其中該指紋平 第3項之接觸墊裝置，其中該板狀棱 影像於該偵測陣列的偵測表面上。 第1項之裝置’其中該接觸墊裝置係 區域參數為基礎組態，以作為指標控 裝置。 第5項之裝置’其中當與指紋影像有 一第—區域中央範圍時，該接觸墊裝 紋辨識裝置。 第5項之裝置，其中當與指紋影像有 二區域中央範圍時，該接觸墊裝 標控制裝置。 第1項之裝置，其中該接觸墊裝置係 Η 第24頁 4527

   六、申請專利範圍 以與指紋影像有關之圖案參數為基礎組態以作為指標控制 裝置或是指紋辨識裝置。 9,如申請專利範圍第8項之裝置，其中當與指紋影像有 關之圖案參數符合一第一圖案時，該接觸墊裝置係組態以 作為一指紋辨識裝置》 。 1 0.如申請專利範圍第9項之裝置，其中該第一 i'J - ^ ^ ^ ^ ® 〇 ^ 其中當與該指紋影像 該接觸墊裴置係組態 U.如申請專利範圍第8項之裝置， 有關之圖案參數符合一第二圖案時， 以作為一指標控制裝置。 12,如申請專利範圍第11項之裝置，其中該第二 應到一指尖紋路圖案。 、子 1】.如申請專利範圍第1之褒置，其中 作為指標控制裝置時，該處理裝置係組態為將 ^置 的指紋影像之位置轉譯為顯示介面區域上的游护位 上 14.如申請專利範圍第1項之裝置，見 二 。 以與指紋影像有關之圖案參數及區域^ = 裝置係 以作為指標控制裝置或是指紋辨識裴置。 土礎紐態 15· —種多功能裝置，包括： —提供裝置， 表面； 用以提供指紋影像 至一偵測陣列的谓 像， 該多 —處理裝置，用以 其中該處理裝置以 功能接觸墊裝置以 處理提供給該谓 與指、纹影像有關 作為指標控制裳 測陣列的指紋影 之參數為基礎級織 置或是指紋辨織製

   452 六、申請專利範圍 置。 H w政申清專利範圍第15項之多功能裝置，其中該處理 ^係以與指紋影像有關之參數為基礎組態以選擇性地將 ^功能裝置作為指標控制裝置或是指紋辨識裝置。 能梦署W利範圍第15項之多功能裝置，其中該多功 $ ^ π /、指紋影像有關之區域參數為基礎组態，以作 為心標控制裝置或是指紋辨識裝置。 乂作 指餘8·县如申請專利範圍第17項之多功能裝置，兑中者盘吁 該多ΐ ϊ有關之區域參數對應到-第-區域中央範V: 〆功能裝置係組態以作為一指紋辨識裝置。、時’ 丨9.如申請專利範圍第17項之多功能 ^影像有關之區域參數對應其中虽與該 2/如能/…系組態以作為-指標 能裳置V'\專利範圍第15項之多功能褒置，苴… 為指標控制裝置或是指故辨識參數為基礎組態，以作 指 ':景广像申/專利範圍第2〇項之多功能裝置，其中〜 裴置俾纽雉關之圖案參數符合〜般指尖圖案時、，节V: g係組態以作為一指標控制骏置。 該多功能 指'C專利範圍第20項之多功能裝置，兑中-命 襄置關之圖案參數符合〜般指兴圖案時Ά該 23知^且態以作為一指紋辨織α。 該多功能 法，包括種分析指紋影像以組態-多功能裝置之操作的方

   452 六、申請專利範圍 提供指紋影像至一彳貞測陣列的彳貞測表面； 分析與指紋影像有關之選擇指紋參數；以及 以與指紋影像有關之指紋參數為基礎，組態該多功能 裝置以作為指標控制裝置或是指紋辨識裝置。 2 4.如申請專利範圍第23項之方法，其中該多功能裝置 係組態以作為指標控制裝置或是以與指紋影像有關之區域 參數為基礎的指紋辨識裝置。 2 5,如申請專利範圍第24項之方法，其中當與該指紋影 像有關之區域參數對應到完整指紋影像時，該多功能裝置 係組態以作為一指紋辨識裝置。 2 6.如申請專利範圍第24項之方法，其中當與該指紋影 像有關之區域參數對應到指尖紋路影像時，該多功能裝置 係組態以作為一指標控制裝置。 2 7.如申請專利範圍第23項之方法，其中該多功能裝置 係以與指紋影像有關之圖案參數為基礎組態以作為指標控 制裝置或是指紋辨識裝置。 28.如申請專利範圍第27項之方法，其中當與該指紋影 像有關之圖案參數符合一般指紋圖案時，該多功能裝置係 組態以作為一指紋辨識裝置。 2 9.如申請專利範圍第27項之方法，其中當與該指紋影 像有關之圖案參數符合一般指尖圖案時，該多功能裝置係 組態以作為一指標控制裝置。 3 0.如申請專利範圍第2 3項之方法，進一步包括： 當該多功能裝置係組態以作為指標控制裝置時，將提

   第27頁 452^ 六、申請專利範圍 供給該偵測陣列的偵測表面的指紋影像之位置轉譯為顯示 介面區域上的游標位置。 31.如申請專利範圍第23項之方法，進一步包括： 當該多功能裝置係組態以作為指紋辨識裝置時，對提 供給偵測陣列的偵測表面之指紋影像，執行指紋鑑定。

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