TW417017B - Probe tip for a radiation thermometer, radiation thermometer with the probe tip, and method for reducing temperature gradients in the radiation of the probe tip - Google Patents

Probe tip for a radiation thermometer, radiation thermometer with the probe tip, and method for reducing temperature gradients in the radiation of the probe tip Download PDF

Info

Publication number
TW417017B
TW417017B TW087103304A TW87103304A TW417017B TW 417017 B TW417017 B TW 417017B TW 087103304 A TW087103304 A TW 087103304A TW 87103304 A TW87103304 A TW 87103304A TW 417017 B TW417017 B TW 417017B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
radiation
sensor
probe tip
thermal
heat
Prior art date
Application number
TW087103304A
Other languages
English (en)
Inventor
Bernhard Kraus
Frank Beerwerth
Katja Honnefeller
Original Assignee
Braun Ag
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Braun Ag filed Critical Braun Ag
Application granted granted Critical
Publication of TW417017B publication Critical patent/TW417017B/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/04Casings
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K13/00Thermometers specially adapted for specific purposes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/06Arrangements for eliminating effects of disturbing radiation; Arrangements for compensating changes in sensitivity
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/08Optical arrangements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/08Optical arrangements
    • G01J5/0818Waveguides
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/08Optical arrangements
    • G01J5/0893Arrangements to attach devices to a pyrometer, i.e. attaching an optical interface; Spatial relative arrangement of optical elements, e.g. folded beam path
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/0215Compact construction
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/04Casings
    • G01J5/041Mountings in enclosures or in a particular environment
    • G01J5/045Sealings; Vacuum enclosures; Encapsulated packages; Wafer bonding structures; Getter arrangements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/04Casings
    • G01J5/049Casings for tympanic thermometers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Measuring And Recording Apparatus For Diagnosis (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)

Description

A7 4ί7〇ΐ7 ^____B7___ 五、發明説明(1 ) 本發明係有關於如專利申請範圍丨中習知技藝所述的一種 無射溫度計之探釺尖端及一種使用該探針尖端的輻射溫度 °十並且疋有關於一種減少習知技藝中的探針尖揉輕射感 趣器的溫度悌度(gradients)的方法。 輕射溫度計愈來愈廣泛地用在人體溫度的快速與精確的 ;則量’使用這種測量時,輻射溫度計的探針尖端須伸入耳 仏中以量度由戟膜所散發出來的紅外線輻射,而鼓膜所散 發出的輻射是很精確的人體體溫指標,而且其精密度比P 過肛A或共6㈣助;/21讲丨量方式都要高。如果與傳統的 珍所用的灌有水銀的體溫if來比較,輻射溫度計已被證實 不傑快速和精確得多、而且能消除疾病傳染的機會一因爲 水銀體溫計用在口溫、肛溫的測量時,會與被測者的黏膜 接觸:另外,輻射溫度計無傳統體溫計在測量嬰兒和兒童 時所可能造成的直腸剌事的危險。 經濟部中央榡準局貝工消費合作社印製 輪射溫度計的探針尖端基本上包含—個能夠接收紅外線 輻射的開口’接收到的輻射則由一紅外竦波導管導引到— 熱輕射感應器’而通感應器σΓ能是一熱電感應器、溫差兩 堆或測輻射熱計:該感應器所測得的部份增溫轉化爲—& 氣式輸出電壓,.於是標的物的〜溫度就可經由個卞 '游+子 式測量線路來測定。 \ , rs磾度梯度在這種探針尖端發生時,邱如探釺尖端因爲 與耳腔壁接觸而使尖端的溫度不當地升高,因爲該熱#射 感應器的靈敏度很高,溫度悌度常會造成測量錯誤,所以 必須採取適當的措施或解決之道。 -4- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規梏(2i〇X297公f ) \
V 7?0 A7 B7 五、 發明説明( 有多種 不 爲了克服這種錯誤的測量結果,在習知技藝中 同的解決之道。 舉例來説’美國專利寶4 下剎系4.602,642唬所用的解決之 —個診斷用輻射體溫計在 :w 、疋知
T在仏丨量《江服之則.加以預熱到所預 的人體溫度3 7 L# 頂J A %,則C點,大多是在耳腔中, 尖端之間的溫度梯度诘s⑦IΓ - 針 & Α 土取小。然而,這種將探針 ::!地預熱▲要Μ精密的技術,而這種精密技術常會導致 非常不良的後果〜不僅大量增加製造上的繁鎖性和成本, 且會造成該*^ 4 A端泛用h的π Aft _ ” 丸、 ' 相當長,使得體溫的測量不能立即進行,1尤其對於使用 電池的輻射體溫計來說,預熱會消耗相當多電池的電量、 而使得預熱不具有實用價这3 經濟部中央標準局—工消費合作社印繁 另一解決之道是將該輻射感應器與—個大的感熱質量相 整合,以達到一個熱輪入只能造成一個小幅度的溫度上 升’於是溫度悌度就能減少。舉例來説,E P 〇 4 4 I 8 6 6 B 1 歐洲專利即描述一個與散熱器(heat sink )連接的感應器, 由耳腔壁傳導來的熱就能經由感應器而導入散熱器之中, 於是大多數的熱能不會集中在感應器之上。美國專利第 4J95.丨64號中,波導管的大,份和感應器都‘由一個具有良 好熱傳導性的夠大的金屬塊所環繞\,以達到等溫的要求。 然而,本解決之道的缺點是大型的導熱導使得該體溫計太 重而難以操作,而使得探針尖端的體積必需增大。又,這 種解決之道使得設計上和製造上的有很多的限制》 根據美國專利第5,293,877號’輻射感應器和探針尖端之 -5- 本紙張尺度適用中國國家標孪(CNS ) A4現格(210>< 297公楚) A? 4”o r, ———___r _B7___ 五、發明説明(3 ) 間有良好的熱絕緣’於是一個,,熱輸入’,(heat input)到探針 尖瑞之後’只會在感應器上產生一個小的升溫與溫度悌 度。然而,當探針尖端加熱時,該熱絕緣的感應器感應到 的溫度卻不一樣,所以所測値包含了波導管與開口窗口的" 内叙發射熱"(intrinsic emiss丨on )。爲了要得到準確的溫度 俊’就必需測得感應器、波導管與開口的溫度。 美國專利第L | 27,742號提出另一解決之道一_,切斷平衡 法’’(null balancing),例如可使用一個切斷器,在測量之 前和/或之後將熱切斷,來從事溫度測量。然而這將造成 機械及電氣上的複雜度3 在上述的美國專利第5,293,877號中,探針尖端和感應器 的溫度梯度可由溫度感應器來測得,於是就可將眞實的輻 射溫度計算出來,因爲溫度梯度値相當的小,所以其量度 過程也就相當複雜:另一缺點感應器和其導線需揞入體積 相當小的探針尖端之中:另外,輕射溫度的校正和計算的 複雜性也相對地提高。 美國專利第4.722,6 1 2號所使用的解決之道是"第二感應 器平衡法”一溫度悌度的補償由第二個輻射感應器來完成, 該第二輻射器與原有感應器相_事聯,暴露在·溫度梯度之下 但不受輻射的直接影響3然而’二彳固這種類型的感應器自 然地會把成本提高且比一個感應器所佔的體積要大, 本發明專利中請範圍1所根據的是文件號碼J P63-9 1 526 ’是本發明的習知技藝’所提供的解決之道是熱偶 合一由波導管裝!I到感應器殼套的圓栓形壁之間佈置有這 -6 - 本紙張尺度適用中國國家標孪(CNS ) Λ4規格(2Ι0Χ297公H ~~ " ~~~~~' (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁} 、1Τ 經濟部中央標準局貝工消費合作社印製 4U0 Α7 87 經濟部中央標準局貝工消費合作社印" 五、發明贫明(4 種,偶合,其目的是要減少溫度梯度,熱偶合的最佳位置 :約應佈g在感應器殼套的中間點’然而究竟在何處才爲 瑕,點’貝’]是由溫度梯度的大小和正負値來決定:然而, :最佳點也由感應器殼套的特殊形狀與特性來決定—容熱 月匕力10叶接橫楗(感應器中常有這種橫樑),且每個不同的 =應器對熱的傳導性差別可能很大。爲了要獲得最佳結 果,在製造時贫必需把每個感應器的偶合位置單獨地加以. 選i於是在大量製造時,製造的困難度也就增加了 1 ?二這種熱偶合沒有把感應器的導管列八考慮之中,該導 =直接到感應器殼套的底部’於是使用者在使用該:: 相量時可能造成很大的溫度誤差3就上述的文件而十, ,度的解決之道是在感應器殼套底部如裝一個補;裝 :發明的一目的是要提供—種輻射溫度計的探針尖端, =權很“、經濟地製造、重量 精 在探針—任何溫«度之下都能很準確^ 溫度測$,而無上述幾種習知技藝的缺點上: 目的疋要提供—種減少輻射感應器殼套的溫度梯度的方 法能將溫度梯度對於娜量溫度的影響大量減卜 :二明的這種探針尖端能達到上”二個目的. 包含有輻射咸痒'^、Γi , W尖挪7 益而其熱偶合是與其波導 (the丨,mal center 〇f gravit、扣噠 中〜 “ — y)連接:這個熱中心是麵由 條線或區域熱能夠很均勻地傳 疋,.工由k 的任何不均勺的,…外 不產生在輻射感應器上 連化,其優點是:在坡導管和輕射爲 本紙張尺度ϋ财_家_ ( cns ) (請先閱讀背面之注意事項再填巧本頁)
五、 經濟部中央樣準局員工消t合作社印繁 發明説明() 應器之間有溫度悌度時,能夠影響測量溫度的溫度悌度並 不在福射感應器之中存在。又,如果將熱偶合佈置的容熱 能力維持在較小的數値,則波導管和輻射感應器之間的溫 度差很快地就會被平衡過來。另一方面,如果該佈置有較 火的容熱能力’其優點是只有少量的熱會在一個測量之中 破接收或釋放(這是因爲與被測物相接觸),而且在探針尖 瑞之中不會產生能查覺到的溫度坡度。 本發明之探針尖端較佳實施例係包含—種熱偶合裝置/ 讀裝E包含一熱累積裝置及—散熱裝置,這二種裝置相互 之間有一熱接頭,而能經由接頭而有直接的熱接觸’接頭 在分開時則使這二種裝置相互絕緣開來:感應器殼套則與 散熱裝置有直接的熱接觸,而該熱接頭則位在輻射感應器 輿散熱裝置的熱中心。特別有助益的是:感應器殼套至少 具有不同的二面與散熱裝置有直接的熱接觸—於是感應器 殼套之溫度改變皞至少在感應器殼套的二個接觸面產生一 均勻的溫度變化。該熱累積裝置則與波導管裝置有直接的 熱接觸’且最好與探針尖端殼套相互絕緣。 爲了使熱傳導能更有效率,該熱偶合裝置最好 異熱傳導能力的物質組成,這身物質可以是•銅 '铉或辞: 而該裝置的質量可以設計得較大;、以減少溫度,梯度的影 響。 本發明探針尖端之其它較佳f施例包含在其它的專利申 請範圍之中,專利巾請範本“探針尖端 的-種㈣溫度計有關…卜’輕射溫度計殼套的溫度梯 -8 - 本紙張尺度適用中國國家標率(CNS) Λ<堤格(210x 297公釐 HIJ - -I i/, nfl * (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 11Τ 第87103304號專利申請声 4 1 T (\71 了 中文說明書修正頁(89年7月) B7 ~ _;___Ίη- if五、發明説明(6 ) |補ί本 度的降低方式在專利申請範圍第1 4項有敘述。 本發明的其它特色和優點在閱讀以下的較佳實施例的詳 細說明和附圖後將會變得更加明白。在二個附圖中,相同 的部份具有相同的標示號碼。 圖1係圖不本發明的探針尖端的結構略園1以顯示福射感 應器殼套中的熱偶合裝置:及 圖2係圖示本發明輻射溫度計之一探針尖端實施例。 主要元件代表符號 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝'
經濟部中央標準局負工消費合作社印I 10 探針尖端 28 散熱裝置 12 波導管裝置 28a 散熱装f 28之上部 14 輻射感應器或熱電換能器 28b 散熱裝f 28之下部 16 感應器殼套 30 熱接合 18 感應器元件 31 0型環 20 感應器窗口 32 空氣間隙 22 空氣間隙 34 開口或窗口 24 熱累積裝置 36 空氣間隙 24a 熱累積装置24之上部 38 探針尖端殼套 24b 熱累積裝置24之下部 40 感應器14之導管 26 位置或圓柱形表面 41 可撓曲印刷線路板 參考圖1,係本發明的一種探針尖端1 0的結構略圖。該探 針尖端1 0包含一波導管裝置1 2,該裝置能將要測的紅外绵 輻射由開口(未在囷上顯示出來)傳送到一個輻射感應器 -9- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4*H格(2t〇X297公釐) 訂 i/v 4 17017 第87103304號專利申請案 a7 t文說明書修正頁(的午8月) B? 五、發明説明(6a ) 或一個熱電換能器1 4,再將感應器經由輻射而導致的增溫 —部伤轉化為一電氣輸出信號,再經由—下游電子測量線 路(未在圖上顯示出來)來測定目標溫度u 輕射(或溫度)感應器丨4包含一感應器殼套16,舉例來 說,熱偶合以感應器元件18的方式設置在殼套之中;導線 (未在圖上顯示出來)則位於感應器殼套16的底部,該導線 則與下游電子測量線路相連接。感應器殼套〗6在接近輻射 進入或波導管裝置12的一面設有一感應器窗口 2〇,該窗口 疋為了讓所要測量的紅外線輻射進入,該波導管裝置丨2與 輻射感應器1 4之間係經由一空氣間隙2 2來達到相互熱絕緣 (thermally insulated)。 ’ 該轉射感應器14由一熱偶合裝置24,28,30所包園, 該熱偶合裝置包含一個熱累積裝置24,該裝置與波導管裝 置12在26的位置有直接的熱連接。傳統的作法是,熱累積 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央橾準局貝工消費合作社印裝 -9a- 本紙抶尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2丨0'乂297公釐) 4 170 1 A7 B7 五、發明説明( 經濟部中央標準局員工消贤合作社印製 裝置2 4與探針尖端殼套f夫Λu ^ 、 安(禾在圖上顯不)之間的熱絕緣係由 主氧間隙2 2所提供,立g的u φ — 士 a的尤要熱輸入維持在最小。在輕射感應器1 4與敖萃精哲咢。4η, '.·、糸% π置2 4乙間則設有一散熱裝置 28散熱裝置將輕射感應器14包園住,而該散熱裝置與 波導管裝置12之間的熱絕緣也是由__空氣間㈣所提供3 另外,該熱累積裝!24與㈣熱裝㈣之間❹絕緣也是 由—芏氣間隙2 2所提供:衿_姑田& 士 ρ ^ ‘ ’、151 —裝置的直接熱接觸僅經由一 接合30來達成a在接近内部處,該散熱裝置28與感 〜π ’队长i U 一面間叼然絕緣則係由一個空氣間隙3 2所提 ^ .錢熱裝置與感應器殼套】6的上下二面之間則有直接 熱接觸,上面是接近輻射入口或波導管裝置U的平面。爲 了。使感應器叙# 1 6的加熱或冷卻有最佳的均勻性,散熱裝 拉2 8的所有的表面都幾乎與該感應器殼套]6的表面是相毗 鄭而貼近的,除了感應器窗口 20的部分。通熱累積裝置2 4與該散熱裝置2 8最好係由有優異熱傳導 t力的物&如銅、鋁、鋅或類似金屬所組成,才能達到最 佳的熱傳送與快速熱平衡的調整3 現在’就溫度梯度對於波導管裝置丨2與熱累積裝置2 4的 加熱與冷郃的影響加以解釋。舉初,部份的<熱能由熱累積 私置2 4缓由熱接合3 〇傳向散熱裝異2 8,散熱裝置再將熱 此繼’ 向感應器殼套丨6的上、下二面傳半。爲了避免輕射 感應器1 4有任何溫度梯度的產生,而導致該感應器1 4的 4、、熱接合面的不均勾的加熱與不當的感應器輸出信號, 熱接合處3 0的位置與散熱裝置2 8形狀的遂擇必需要使得傳 本紙張尺糾财_ -IQ- (诗先聞讀背面之注意事項再填寫本Ϊ )
210 X 297/^¾ ) Α7 Β7 4 ^ 7〇 I 7 五、發明説明( 導到感應器殼套1 6的上、下二面的熱要能很均勻地傳導。 這是因爲該感應器】4的冷接合面具有高的容熱能力,且大 多與感應器殼套丨6的下面(底面)直接偶合,而其熱接合面 多設在一熱絕緣薄膜之上,具有很低的容熱能力且與感庳 器殼套1 6僅經由三種方式來偶合:經由薄膜、感應器殼二 】6内的氣體或熱輕射s 就本發明所輝示的感應器殼套16的熱偶合來説,該散熱‘ 裝置2 8與熱接合3 〇的設計和結構必需補償下列二項:感芦 存说套! 6上、F二面在容熱能力的相當大差異的輻射感廄 器丨4的導管與感應器殼套16之間的偶合3這樣,即使^ 均勻的加熱發生,仍能很準確地測量到溫度。 輻#感應器丨4與波導管裝置12有直接的熱接觸[在其它 的應用上,也可能與進入窗口的輻射(未在圖上顯示)有直 接的熱接觸],這熱接觸是經由熱偶合裝置2 4、2 8、3 〇 , 所以不必對於波導管裝置丨2 (與進入窗口的輻射)的内蘊發 射供補償。另外,也不必對於使用切斷器、額外的感應 器' 第二感應器等所造成的溫度變化提供補償。本發明的 熱偶合設計使得較便宜的溫差電堆或測輻射熱計能夠使用 爲感您举,不必.一定要使用特多最佳化且昂貴的感應器。 圖2所顯示的是本發明的輻射溫度、、計探釺尖端之一特殊實 施例,該探針尖端I 〇在其前端具有—開口或窗口 3 4,該開 口允淬要測量的紅外輻射進入,紅外輻射則再經由—波導 官1 2引導到一輻射感應器丨4,該輻射感應器經由一空氣間 隙2 2與波導管丨2之間互相呈熱絕緣。 t紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) ( 2]Ox 297^- ------------'衣.----- Γ靖先問讀、背兩之注意寧^再^"7本頁〕 -S& 經濟部中央標準局負工消費合作社印製 A7 B7 4 〇1於704號專利申請案 中文說明書修正頁(88年8月) 五、發明説明(9 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 沿著圓柱形表面26,該波導管12與一熱累積裝置24之間 有熱接觸,為了能簡單地裝配起來,該熱累積裝置24包含 一上部24a及一下部24达,這二個部份能夠很容易地裝配在 一起而形成一塊有大質量的熱累積裝置,以達到減少溫度 梯度的目的。為了將熱輸入維持在最小值,該熱累積裝置 24的外表與一探針尖端塑膠殼套38之間的熱絕緣係由一空 氣間隙3 6所提供。 該熱累積裝置24係由一散熱裝置所包圍,該散熱裝置也 由二個容易裝配起來的部分28a、2iJb所組成,除了有幾個 接觸點,這二個部分係呈相互熱絕緣。在熱累積裝置的下 部24b與散熱裝置的一部28b之間,裝有彈性0型邊31以提 供公差的補償,如果有公差的話。該散熱裝置的上部2 8 & 麵由一玄氣間隙3 2來與感應器殼套1 6的周邊相互熱絕緣, 蒽上郅2 8 a也經由另一空氣間隙2 2與波導管裝置丨2相互熱 絕緣’且該上部28a則與感應器殼套16的上表面有直接的 熱接觸。該散熱裝置的下部28b幾乎所有表面積都係感應 器殼套1 6的底部面有熱接觸,以利將其間的熱傳送達到最 佳化。 經濟部中央標準局負工消费合作社印笨 為了要使其間的熱傳送的效率更加提高,該熱累積裝置 24與散熱裝置28由具有優異熱傳導能力的物質如銅、鋁、 鋅或類似金屬所組成。 感應器14之導管40位於該熱累積裝置24之中,且處於一 熱絕緣的環境之中。經由一可撓曲的印刷線路板4丨,該感 應器14與一輕射體溫計的下游電子線路(未在圖上顯示)以 -12- 本纸张尺度適用中国國家標準(CNS) A4規格(2丨OX297公釐) A7 A7 經濟部中央標隼局貝工消費合作社印繁 B7 五、發明説明( 電子的方式相連接,該線路能測量由輻射感應器丨4所產生 的電氣輸出信號。爲了把導管所輸出的熱減到最小,該印 刷線路板的厚,設計爲十分薄,且具有十分低的導熱能 力,且在〇形柘3】的附近與該熱累積裝置2 4之間有熱偶 合。 由以上的敘述’我們可以明顯地㈣,因爲溫度悌度所 造成的不举確被消除’本發明所揭示的感應器殼套心, 波導管裝置〗2或附近裝置的熱偶合能夠使用來製造一體積 小、重量輕的探針尖端,且容易-使用的輕射溫度計^爲 本發明具有構造簡單及低價的傳統輻射感應器,如溫差電 堆與測輕射熱計可使用的特點,因此本發明的探^端二 有二額外的價値:製造容易且成本較低。 ’、 -13- 本紙張尺度適用中國國家榡準(CNS ) Λ4規枋(210X297公釐) {讀先閱讀背面之注意事^再填托本頁)

Claims (1)

  1. 417017 第87103304號專利申請案 B8 中文申請專利範圍修正本(89年7月)g88 申請專利範圍 A8 B8
    經濟部中央標準局貝工消費合作社印褽 1- 一種輻射溫度計之探針尖端(10),該尖端具有—開口 (34),係允許待測輻射之進入口,輻射藉由一波擎管裝 置(12)以由開口(34)導入一輻射感應器(14),該轉射感 應器能將收到的輻射轉化為一電氣式輸出信號,且該輻 射感應器包含一感應器殼套(16),該殼套經由—熱接合 上與該波導管裝置(12)來熱偶合; 其特徵在一佈置包含該輻射感應器(14),熱奘 !_(28)在該波導管裝置(12)的熱中心與該裝置熱傳合。 2,如申請專利範圍第1項之探針尖端, 其±_該熱偶合裝置(24,28,30)包含一熱累積裝置 (24)及一散熱裝置(28),而此二裝置係相互呈熱絕緣, 但可經由一熱接合(丨2)進行直接熱接觸;該感應器殼套 (16)與該散熱裝置(28)之間呈直接之熱接觸,該熱接合 (3 0)係位在由該輻射感應器(14)與該散熱裝置(28)所組 成之一個裝置的熱中心。 3. 如申請專利範圍第2項之探針尖端, 其土_該感應器殼套(16)至少具有相對向之二面以與該 散熱裝置(28)呈直接之熱接觸,因此該感應器殼套(16) 之一溫度改變至少能在該二面產生一均勻之溫度改變。 4. 如申請專利範圍第2或3項之探針尖端, 其該熱累積裝置(24)與該波導管裝置(12)係呈直接 之熱接觸。 5. 如申請專利範圍第2或3項之探針尖端, 其中該熱累猜奘置(24)及該散熱装為由一且有 本紙張尺度速用中國國家梂準(CNS ) A4规格(2丨0X297公釐) (請先«讀背面之注$項再填窝本頁) '裝· 訂·
    申請專利範圍 經濟部4-央梂隼局貝工消費合作社印繁 1A_導熱性質之物皙听,士: | „ 6·如申請專利範圍第之探針尖端, 甚_±_孩熱累積裝置(24)及/或散熱裝置(28)係由二互 補部份(24a、24b ; 28a、28b)所组成。 7’如申請專利範圍第2或3項夕探針尖端, 其土_在該熱累積裝置(24)與該散熱裝置(28)之間設置 個彈性0形環,該環具有低導熱性,以利補償公差。 8.如申請專利範圍第2炎1^_之探針尖端, 其該熱累積裝置(24)之外部係與該殼套(38)呈熱絕 緣。 9,如申請專利範圍第4項之探針尖端, 係輿一下蛑PCB以雷氣太方式速接, 兹計為薄且具右一饵導埶性,虬力埶桩合 U 〇 )附坊熱累積装f^24)呈執儡会》 瓜一種具有如申請專利範圍第1,2或3項之探針尖端之輻 射溫度計。 11. 一種減少在卷__射溫度計之探針尖端π〇)輻射溫度梯度之 方法,有一開口 Π 4 ),係允許待測輻射之造入 口’福一玻導管装f(i2)以由開口(34)導入一輻 ,該輻射感鹿器能將收到的輻射棘化為一 言號,JL該輻射威應器包含一感應器殼套 套經由一熱接合no)诲該浊導營装罾Π21夾 熱偶合; 其特徵為利用一裝置之熱中心方式將輻射感應器與探 本紙張尺度逋用中國國家棣丰(CNS ) Α4洗格(2丨〇><297公釐) (請先Μ讀背面之注意事項再填寫本頁) '裝 、11 A8 B8 C8 D8 4 170 1 7 申請專利範圍 針尖端上之熱交換*熱由該尖端送入或移出該感應器 而該裝置包含該輻射感應器Π4)輿一散熱裝置(28) » (請先Η讀背面之注意事項再填寫本頁) 經_部4-央揉率局負工消費合作社印製 -3- 本紙張尺度逋用中國國家梂準(CNS ) Μ规格(210Χ297公羞)
TW087103304A 1997-04-02 1998-03-06 Probe tip for a radiation thermometer, radiation thermometer with the probe tip, and method for reducing temperature gradients in the radiation of the probe tip TW417017B (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19713608A DE19713608A1 (de) 1997-04-02 1997-04-02 Meßspitze für Strahlungsthermometer

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW417017B true TW417017B (en) 2001-01-01

Family

ID=7825239

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW087103304A TW417017B (en) 1997-04-02 1998-03-06 Probe tip for a radiation thermometer, radiation thermometer with the probe tip, and method for reducing temperature gradients in the radiation of the probe tip

Country Status (11)

Country Link
US (1) US6152595A (zh)
EP (1) EP0972175B1 (zh)
JP (1) JP2001517120A (zh)
KR (1) KR100539205B1 (zh)
CN (1) CN1281181C (zh)
AT (1) ATE295532T1 (zh)
AU (1) AU6827398A (zh)
DE (2) DE19713608A1 (zh)
HK (1) HK1024296A1 (zh)
TW (1) TW417017B (zh)
WO (1) WO1998044322A1 (zh)

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999004230A1 (en) * 1997-07-16 1999-01-28 Terumo Kabushiki Kaisha Ear type clinical thermometer
US6572264B1 (en) * 1998-12-15 2003-06-03 Citizen Watch Co., Ltd. Radiation clinical thermometer
JP2000254103A (ja) * 1999-03-11 2000-09-19 Citizen Watch Co Ltd 放射温度計
DE19929503B4 (de) * 1999-06-28 2008-06-26 Braun Gmbh IR-Thermometer für unterschiedliche Messorte
US6425688B1 (en) * 2000-04-21 2002-07-30 Actherm Inc. Infrared temperature wave guide device
EP1302761B1 (en) * 2000-06-13 2014-08-06 Omron Healthcare Co., Ltd. Pyrometer
US6637931B2 (en) 2001-07-19 2003-10-28 Oriental System Technology Inc. Probe for use in an infrared thermometer
JP2004045330A (ja) * 2002-07-15 2004-02-12 Ricoh Co Ltd 非接触温度検知装置
US6749334B2 (en) 2002-08-09 2004-06-15 Radiant Innovation Inc. Ear thermometer probe structure
US20060006339A1 (en) * 2004-06-30 2006-01-12 Trojan Technologies Inc. Radiation sensor device and fluid treatment system containing same
TW200615520A (en) * 2004-11-09 2006-05-16 Norm Pacific Automat Corp Infrared thermometer
US7897920B2 (en) * 2005-09-21 2011-03-01 Analog Devices, Inc. Radiation sensor device and method
US7275867B2 (en) * 2005-12-01 2007-10-02 Oriental System Technology Inc. Probe assembly of infrared thermometer
DE102006021528B3 (de) 2006-02-15 2007-09-13 Epcos Ag Fühler
TW200841859A (en) * 2007-04-27 2008-11-01 Actherm Inc Infrared thermometer
US8186876B2 (en) * 2009-04-20 2012-05-29 Welch Allyn, Inc. Calibrated assembly for IR thermometer apparatus
US8136985B2 (en) * 2009-05-05 2012-03-20 Welch Allyn, Inc. IR thermometer thermal isolation tip assembly
US20140142462A1 (en) * 2011-06-15 2014-05-22 Koninklijke Philips N.V. Peripheral temperature measuring
TWM480991U (zh) * 2013-12-05 2014-07-01 Yofa Biotechnology Co Ltd 貼片式溫度量測裝置
JP5996139B1 (ja) * 2016-03-31 2016-09-21 興和株式会社 赤外線温度計
KR101804374B1 (ko) 2016-11-30 2017-12-04 주식회사 씨알아이지 적외선 귀체온계 및 이를 이용한 체온 측정 방법
CN106710121A (zh) * 2017-02-28 2017-05-24 桂林电子科技大学 一种基于仿生感知器的森林火灾定位装置
DE102019107338A1 (de) * 2019-04-03 2020-10-08 Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh Sensorvorrichtung, Verfahren zur Herstellung einer Sensorvorrichtung und Fahrzeug
KR102599974B1 (ko) * 2021-02-17 2023-11-07 부경대학교 산학협력단 측정 신뢰도가 향상되는 적외선 체온계의 측정 방법

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2416775A (en) * 1942-04-20 1947-03-04 O W Wortman Cooled radiation thermocouple
US2811856A (en) * 1946-03-29 1957-11-05 Honeywell Regulator Co Temperature measuring apparatus
JPS6391526A (ja) * 1986-10-06 1988-04-22 Nireko:Kk 放射温度計
DE3739717C1 (de) * 1987-11-24 1989-03-16 Kober Ag Vorrichtung zur UEberbrueckung von Dehnungsfugen
JP2826337B2 (ja) * 1988-04-12 1998-11-18 シチズン時計株式会社 放射体温計
US5018872A (en) * 1988-11-01 1991-05-28 Diatek, Inc. Probe assembly for infrared thermometer
US5653238A (en) * 1988-12-06 1997-08-05 Exergen Corporation Radiation detector probe
US5445158A (en) * 1988-12-06 1995-08-29 Exergen Corporation Radiation detector probe
US4993419A (en) * 1988-12-06 1991-02-19 Exergen Corporation Radiation detector suitable for tympanic temperature measurement
AU1152592A (en) * 1990-12-12 1992-07-08 Sherwood Ims, Inc. Infrared thermometer utilizing calibration mapping
IT1255461B (it) * 1992-07-28 1995-11-02 Luso Farmaco Inst Eteri di imidazoli ad attivita' a ii antagonista
US5368038A (en) * 1993-03-08 1994-11-29 Thermoscan Inc. Optical system for an infrared thermometer
US5857775A (en) * 1995-09-05 1999-01-12 Tyco Group S.A.R.L. Thermometer probe having a watertight seal

Also Published As

Publication number Publication date
KR20010005869A (ko) 2001-01-15
HK1024296A1 (en) 2000-10-05
CN1281181C (zh) 2006-10-25
JP2001517120A (ja) 2001-10-02
CN1251168A (zh) 2000-04-19
DE19713608A1 (de) 1998-10-08
EP0972175A1 (de) 2000-01-19
DE59812790D1 (de) 2005-06-16
ATE295532T1 (de) 2005-05-15
EP0972175B1 (de) 2005-05-11
US6152595A (en) 2000-11-28
AU6827398A (en) 1998-10-22
KR100539205B1 (ko) 2005-12-28
WO1998044322A1 (de) 1998-10-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW417017B (en) Probe tip for a radiation thermometer, radiation thermometer with the probe tip, and method for reducing temperature gradients in the radiation of the probe tip
WO1997024588A1 (fr) Thermometre a infrarouge
US6694174B2 (en) Infrared thermometer with heatable probe tip and protective cover
TW496951B (en) Infrared sensor stabilisable in temperature, and infrared thermometer with a sensor of this type
JPH0741026B2 (ja) 体温計
CN107655940B (zh) 一种变压器绕组材质检测设备及系统
CN205642664U (zh) 一种红外线铂热电阻温度传感器
CN106539567A (zh) 身体核心温度测量
US6076962A (en) Infrared probe of thermometer
US7988352B2 (en) Probe structure
TW201307815A (zh) 電校式輻射計
CN108261050A (zh) 测温装置以及微波烹饪器具
CN105004418B (zh) 多用途高精度直接辐射表
CN109540284B (zh) 一种光功率探测器及其测量方法与制备方法
CN216961529U (zh) 加热体、加热组件及电子烟
CN106679818A (zh) 光滑表面温度分布的测量装置及方法
US4379118A (en) Process for measuring a continuous neutron flux and measuring apparatus for carrying out this process
CN212158838U (zh) 一种红外耳温计探头及红外耳温计
Murthy et al. Comparative calibration of heat flux sensors in two blackbody facilities
CN101191745A (zh) 一种红外线耳温温度计
JP5754223B2 (ja) 定着装置
CN215338650U (zh) 一种温度传感器校准装置
CN220358168U (zh) 电芯、电池包及车辆
JPH08278203A (ja) 赤外線放射温度計
JPS6047932A (ja) 温度センサ

Legal Events

Date Code Title Description
GD4A Issue of patent certificate for granted invention patent
MK4A Expiration of patent term of an invention patent