TW411453B - Optical record carrier and apparatus for scanning such a record carrier - Google Patents

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TW411453B
TW411453B TW087115330A TW87115330A TW411453B TW 411453 B TW411453 B TW 411453B TW 087115330 A TW087115330 A TW 087115330A TW 87115330 A TW87115330 A TW 87115330A TW 411453 B TW411453 B TW 411453B
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servo track
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Den Enden Gijsbert Joseph Van
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Koninkl Philips Electronics Nv
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Description

>1 五、發明說明（16) 以控制之源。 當記錄.載體業已如上述經照射後，即使其接受蝕刻理 處，以去掉輻射敏感層77之業經曝露於輻射光束72之部 分，因而產生其中形成有一槽之主碟，此槽展現有一擺 動。如果連續之伺服執道經予以編號，在偶數軌道中之擺 動係按照圖4 b及c之調變圖型調變，在奇數軌道中之拽動 係按照圖4d及e之調變圖型調變。複製之碟即根據主碟製· 成，記錄層6沉積於複製碟之上。於以此方式獲致之銘刻 型記錄載體之中，與主碟中業已去掉輻射敏感層7 7之部分 相對應之部分，係用為伺服軌道（其可為一槽或一脊部）。 元件符號說明 1 記錄 載 體 2 記 錄 載 體 之 部分 4 槽 5 基 體 6 記錄 層 7 保 護 層 1 0 記錄 載 體 11 第 伺 服 軌 道 12 > 14 非 伺 服轨道 13 第 二 伺 服 軌 道 15 、16 、1 7 . 、1 8 軌道 20 第 一 伺 服 轨 道 2 1 第二 伺 服 軌道 22 非 伺 服 軌 道 23 '24 . 、25 信號 30 時 鐘 標 記 3 1 光學 系 統 32 輻 射 源 33 輻射 光 束 34 分 束 器 35 物鏡 36 輻 射 點 37 檢測 器 38 伺 服 電 路 39 信號 處 理 器 40 微 處 理 器 41 輸出 信 號 42 信 號
O:\54\54970.ptc 第20頁 2000.06.27. 020 411453 I五、發明說明（π i ! 本發明係關於一種光記錄載體，此載體包括具有實 |成平行之軌道之一記錄層以其用以記錄使用者資訊， !訊屬於可以光檢測之標記型式，平行之軌道以垂直於 ! 之方向形成重複連續之一第一词服執道，一非伺服轨 一第二伺服軌道及一非伺服執道，此等伺服執道具有 於使用者資訊型式之一軌道調變，及第一與第二伺服 具有代表第一及不同之第二位置資訊之第一及第二調 | 本發明亦關於一種掃描此種記錄載體之方法，一種 此種記錄載體之裝置及一種製造此種記錄載體之裝置 一般言之，一軌道為記錄載體上由一掃描裝置追之 線及具有約等於記錄載體之特性尺寸之長度。製於圓 記錄載體上之一軌道為一連續螺旋線之一 360°之圓擇 圓盤上之圓形線。調變為一載體特性之變化，此變化 資訊。當載體為一光記錄載體時，此特性可為載體之 I反射性，載體中一槽之寬度，或任何可以光檢測之變 丨性。不同之調變可用以鑑別以此等調變所記錄之不同 I訊型式。 ' 當利用輻射光點將使用者資訊寫於一記錄載體上時 '1 |般均希望知道此輻射點在記錄載體上之位置。由於根 |文導言，使用者之資訊並不備於空白之可記錄之記錄 丨上，此位置可藉自記錄載體之伺服軌道讀取位置資訊 i 丨以決定。 具有儲存於伺服軌道中之資訊之記錄載體見於日本 質上| 此資i 執道| 道，—! 不同 軌道-變型 掃描 0 一條 盤狀 3或 局部| <匕特! 之資丨 i ί i » 一 I 據前i 載體I t 而予 丨 i ! 專矛11 j
E:\1999NI\54970.ptd 第5頁 修正 五、發明說明（17) 43 源 控 制 單 元 50 類 比 至 數 位 變 換器 5 1 南 通 濾 波 器 52 餘 弦 渡 波 器 53 峰 值 檢 測 器 54 比 較 器 55 計 數 器 56 減 法 器 57 開 關 58 積 分 器 59 數 位 至 類 比變換器 60 電 壓 控 制 振 盪 器 6 1 高 通 濾 波 器 62 低 通 濾 波 器 63 餘 弦 濾 波 器 64 > 65 開 關 66 定 時 電 路 70 光 學 系 統 71 輻 射 源 72 輻 射 光 束 73 準 直 鏡 74 調 變 單 元 75 物 鏡 76 輻 射 點 77 輻 射 敏 感 層 78 記 錄 載 體 79 微 處 理 器 80 啟 動 器 82 調 變 器
O:\54V54970.pic 第20a頁 2000. 06. 27. 021 411453
i五、發明說明（2) I I申請案第0 6 3 3 8 0 6 6號。此專利中請案中所說明之記錄載體i I包括基體中相鄰之構式之交替之第一及第二伺服軌道。伺i i服軌道之調變為槽之中心線徑向擺動。第一伺服軌道係以丨 ! j |較低頻率調頻，第二伺服軌道則以較高頻率調頻》當掃描 j
I 一伺服轨道時，掃描點僅由伺服軌道之調變而被調變，及 I : . |掃描裝置可藉選擇用於一第一伺服軌道之一低頻解碼器及'| 丨用於一第二伺服軌道之一高頻解碼器而讀取位置資訊。當i ! i |掃描二伺服軌道之間之一軌道時，掃描點由此二相鄰伺服 i轨道之調變而被調變。掃描裝置可藉於低頻與高頻解碼器 |間轉換而鑑別來自第一與第二伺服軌道之信號，以讀取相 |鄰之第一及第二伺服軌道之位置資訊。 ! 為獲致記錄載體上掃描點之精確位置，伺服軌道t之位 |置資訊之密度應使之儘可能高。然而此密度係受到代表使 I用者資訊之信號軌道調變之串擾限制。於已知之記錄載體
I 丨中，第二伺服軌道之軌道之頻率可選擇接近由串擾所加之i I限制。第一伺服軌道之頻率必須大幅低於第二伺服轨道之丨 丨頻率以便能於掃描裝置中隔離此二頻率，因而於二伺服軌| 1道中產生低串擾。此大幅較低之頻率造成較低之資訊密 | ! ! |度。因此，第一伺服轨道相對而言有較低之位置資訊密 | 丨度。 丨
I I | 本發明之一目的為提供一記錄載體掃描方法及相關裝 i |置，此相關裝置之伺服軌道具有高位置資訊密度。 | I根據本發明之一特點，其記錄載體有如開始一段所說明| 丨者，其特點為第一及第二伺服執道之轨道調變有一預定之.丨: j i
E:\1999NI\54970.ptd 第6頁 411453 I五、發明說明（3) ί I相位關係。此預定相位關係可使一掃描裝置於掃描位於伺| 丨服軌道之間之一軌道時，可鑑別第一與第二伺服轨道之位丨 i ! 置資訊。掃描裝置可沿一軌道選擇適當不同之第一及第二！ ! i !位置，以對代表第一及第二伺服軌道二者合併之執道調變 j i之一檢測器信號取樣。於第一位置時，第一伺服軌道之調|
; I I變可在無來自第二伺服軌道之調變之干擾情況下自檢測器Ί I信號導出，於第二位置時，第二伺服執道之調變可在無第| 丨一伺服軌道之干擾或在有一已知干擾情況下導出。 丨 | 此預定之相位關係可利用以選擇不同頻率以供第一及第| i二伺服轨道之調變之用。此等頻率之實施之較佳者為二整| i ! I數之比值。二伺服軌道之實施之較佳者為一相同頻率調 | I變；當頻率經選擇靠近串擾所加之限制時，第一及第二伺1 ； j |服執道將有高位置資訊密度。如此可在記錄載體上有精確丨 丨之定位。 丨 丨 於一較佳之記錄載體之較佳具體實例中，執道調變沿伺 i ! 丨服軌道之有規則之預定位置處有一預定位置。當掃描一非丨 i I伺服轨道時、一掃描裝置可以有利方式使用此等預定數 丨 丨值。便於第一位置之檢測器信號之樣本係因相鄰之第一及|
第二伺服轨道二者之調變而產生。儘管如此，如果第二伺 丨 |服軌道之調變於第一位置處有一預定值，此掃描裝置可自i I檢測器信號中取出儲存於第一伺服轨道之調變中之位置資丨 I訊。同樣，當第一伺服轨道之調變於第二位置處有一預定| i值時，此事實可於掃描裝置中使用以藉對位於第二位置之I 丨檢測器信號取樣而導出第二伺服軌道之調變。 I
E:\1999NI\54970.ptd 第7頁 411453 五、發明說明（4) 伺服軌道之實施之較佳者為記錄載體之資訊層中之槽及 諸槽間之非伺服轨道島。軌道調變以一正弦型式為較佳。 其圖型可為伺服軌道橫向位置之正弦變化。此等變化可為 伺服軌道之橫向位置，其寬度或深度或彼等之組合之正弦 變化。此等變化可為對於位置，寬度或深度之一平均值之 偏移。由於沿一轨道之變化之平均值之非零值可使記錄載 體之掃描偏移，此平均值之實施之較佳者為等於零，且與 記錄載體之位置無關。使用者資訊可寫入槽中及（或）島 上。 第一及第二伺服軌道中之正弦圖形間之相位關係之實施 之較佳者為實質上等於9 0 °之一相移。因此，如果第一伺 服軌道之調變為一正弦波，則第二伺服轨道之調變即為一 餘弦波。當一樣本於一非伺服軌道之掃描期間於一第一 9 0 °位置取得時，餘弦調變之數值將為零值，及檢測信號 直接指示第一伺服軌道之調變之數值。同樣，當一樣本於 一第二0 °位置取得時，正弦調變將為零值及檢測器信號 將指示第二伺服軌道之調變之數值= 於記錄載體之較佳具體實例中，位置轨道藉丨8 0 °相移 鏈控而於伺服軌道中編碼。由於此種型式之編碼不會改變 第一及第二位置之調變數值，因此其適合與本發明之相移 調變合併。當伺服軌道備有時鐘標記時，即可獲得沿一轨 道之第一及第二位置之一良好界定。然後可將取樣位置就 時鐘標記而加以界定。 軌道調變可包含代表位置資訊之部分，及不代表位置資
E:\l999OV\54970.ptd 第8頁 411453 五、發明說明¢5) ^訊之部分，例如時鐘標記。時鐘標記可有用於檢測時鐘標 ^記之快速上升及下降邊緣α於鄰近伺服軌道中之時鐘標記 之實施之較彳圭者係以橫過軌道之方向校準。當鄰近之時鐘 標記記亦有同樣之相位時，二者在掃描伺服執道及非伺服 軌道時均可讀取，且彼等將不會干擾使用者資訊之讀取= 為能防止位置資訊調變當作時鐘標記被檢測，代表位置 '資訊之調變之實施較佳者具有對於軌道位置之一有限導 丨數。當轨道調變為正弦性質時，此調變可藉使用開始或終 :止於0 °或1 8 0 D之部分正弦波及開始或終止於9 0 °或 | 2 7 0 0之部分餘弦波而實施。如有需要，調變圖型可藉增 丨加具有無變化之正弦變化轨道部分而完成以具有一預定之 :固定長度。 : 根據本發明之另一特點，可提供有如申請專利範圍中所 j說明之一種掃描一記錄載體之方法。 根據本發明之另一特點，可提供一種用以掃描有如申請 '專利範圍中所說明之一光記錄載體之裝置。 根據本發明之另一特點，可提供一種用以製造有如申請 專利範圍中所說明之一光記錄載體之裝置。 本發明之目的，優點及特點將可自有如附圖中例示之本 ;發明之較佳具體實例之更具體說明而顯然易解，於附圖 中： 圖la-d顯示根據本發明之記錄載體之具體實例， 圖2顯示一記錄載體之透視圖， 圖3顯示根據本發明之二鄰近伺服軌道之調變，
li:\1999OV\54970.ptd 第 9 頁 I五、發明說明¢6) I 圖4a-e顯示軌道調變編碼資訊， 圖5顯示有時鐘標記之軌道調變， 圖6顯示根據本發明之一掃描裝置， 丨 圖7顯示一信號處理器用以自一檢測器信號導出位置資 |訊，及 I 圖8顯示一種用以製造記錄載體之裝置。 I 圖1顯示一記錄載體1之具體實例，圖la為一平面圖，圖 | 1 b以高度放大之比例顯示取自b - b線上之截面圖之一小部 分，及圖ic及圖Id為一平面圖顯示記錄載體1之一第一及 第二具體實例之一部分2。記錄載體1包括一序列伺服軌 道，每一軌道形成一螺旋線之一 360°之圓圈，圖中示出 其中之8圈。伺服執道例如由預先形成之槽4或脊構成。槽 i 4之底部部分較為靠近記錄載體之光線之入射側，而非槽 |之間之島狀部分。在一代替性具體實例中，島狀部分較為 |靠近光線入射側，而非槽之底部。伺服軌道係用以記錄位 |置資訊信號。為記錄資訊起見，記錄載體1包括一記錄層 I 6，此記錄層沉積於一透明之基體5上及覆以一保護層7。 |記錄層由對於輻射敏感之材料製.成，當其曝露於適當之輻
I i射中時，即會產生可以光檢測之改變。此記錄層例如可為 由碲材料成之薄層，當受到輻射光束之加熱時會使反射發 生改變。此記錄層可代之以磁光或相改變材料構成，此等 i材料於加熱時可分別改變磁化方向或晶體結構。當軌道由 i 一輻射光束掃描，且其輻射強度能符合需予以記錄之資訊 而被調變時，即可獲致可以光檢測之標記之資訊圖型，此
I 41145¾ i五 '發明說明（7) I圖型為資訊之代表。於一非使用者可記錄之僅讀記錄載體 中，層6可為例如is或銀之金屬製成之一反射層。此種記 錄載體中之資訊係於其製造期間例如以凸起之凹區形式預 錄於載體中。 ! 為能決定相對於參考伺服轨道開始處被掃描之軌道部分 之位置，位置資訊係利用預先形成之軌道調變而以圖1 c所_ 示之正弦軌道位置擺動圖型錄製，於圖中執道中心之徑向 位置係成擺動。由於軌道位置擺動於記錄載體製造期間簡 單易於實施，屬於此種執道位置擺動圖型之軌道調變遂為 較佳選擇。然而，例如軌道寬度調變（圖1 d )，或軌道深度 |調變之其他形式調變亦屬適用。 | 於圖1中可注意到軌道調變業經過度放大。實際上，當 軌道寬度為6 Ο Ο X 1 (Γ9公尺時，表幅約為2 Ο X 1 (Γ9公尺之擺 丨動即適合用於對於輻射光束調變之可靠檢測。振幅小之擺 動之優點為相鄰之伺服軌道之距離可以很小。 | 於記錄載體之一特別具體實例中，儲存於伺服軌道中之 I位置資訊經分割為具有4 8二進位元之伺服段。一伺服段之 |第一位元代表用於位置資訊同步之一同步型式。隨後之4 位元代表記錄載體之層數。此數目指示具有多個重疊記錄 I 層之記錄載體中記錄載體之序數。伺服段之隨後3位元代 | 表軌道之段數。一伺服段經分成8徑向對準之伺服段。隨 i 後1 6位元代表伺服執道之軌道數。記錄載體上之最裡邊之 ί 伺服軌道之軌道號碼為零。伺服段之最後2 4位元代表用於 位置資訊之錯誤改正之3配類位元組。
E:\1999NI\54970.ptd 第 11 頁 411453 五、發明說明（8) ~ ~| i 圖2顯示一記錄載體1〇之橫截面圖’此載體有槽形狀之 i 词服軌道及槽與槽之間之島狀形式之非伺服軌道。此記錄i 載體具有多個由4軌道所組成之組，圖中示出其中2組。一丨 組軌道包括一第伺服軌道丨t ，一非伺服軌道丨2，一第二伺| 服軌道13及一非伺服軌道丨4、執道15, ι6， 17及18形成具| 有相同軌道之—相鄰之組。記錄標記之資訊圖型以示意圖· 方式示於軌道U， 12及。伺服軌道11及13藉對槽側壁
I 位置之調變而設備位置資訊。適合掃描此一記錄載體之一 掃描裝置可沿槽之中心及沿槽與槽之間之一島之中心而導 引一輻射點》此裝置可將資訊寫於槽中及島上及自槽中及 島上讀取資訊或將資訊抹除。當沿一伺服軌道，亦即圖2 中之一槽掃描時，掃描裝置可自槽之擺動獲致位置資訊。 槽之擺動可使用一般所稱之推挽方法’特別係美國專利第| 4，0 5 7，8 3 3號所說明之方法，予以讀取。當沿一非伺服轨 | 道，亦即圖2中之島掃描時，此推挽方法提供一信號，此 丨 信號為有不同資内容之槽擺動之結果。當使用根據本發明 之調變時，即可檢索二伺服軌道中所儲存之位置資訊。 圖3以示意圖方式顯不一第·一词服軌道20 ’ 一第二词服 轨道2 1及位於二伺服軌道之間之一非伺服軌道2 2 »如果將 丨伺服轨道予以編號，第一及第二伺服轨道可有分別為偶數i: 及奇數之第一及第二伺服執道。沿一轨道之位置係由度數| 指示，3 6 0 °為一正弦圖形之週期’伺服執道之位置，亦 i :即圖3中槽之中心線業己經歷一遇期之調變。伺服軌道2 q | |具有一正弦波之位置變化，而伺服轨道2 1則具有一餘弦之|
E:\1999Ni\54970.ptd 第 12 頁 411453 五、發明說明（9) 位置變化》圖之右半部顯示得自一推挽式檢測器之3信號 2 3， 2 4及2 5，此等信號係當掃描裝置之光點分別跟踪伺服 軌道2 0， 2丨及非伺服轨道2 2。圖左半部及右半部指示沿執 道以度數表示之同樣位置c·如信號2 3及2 4所示，當光點跟 一伺服轨道時，檢測器信號之波幅即跟踪軌道調變。因 此檢測器信號2 3及2 4相位移動9 〇 ° 。 當跟ί宗非伺服軌道2 2時，推挽信號2 5為信號2 3及2 4之線 性組合。自圖中可明白看出，在90°位置時，信號25之波 幅係由伺服軌道2 0之調變決定’但於0 °位置時，信號2 5 之波幅位置係由伺服軌道21之調變決定。因此*當對於沿 軌道9 0 °及0 °位置之推挽信號取樣時’即可檢索伺服軌 道20及21中所儲存之信號25之波幅。 圖4顯示一種可能將正弦軌道調變中之資訊編碼之方 式。一位置資訊位元係儲存於一伺服軌道之8 1 〇。之段 中。連續之位元儲存於連續之段中。圖4a顯示一同步圖 型。此二連續正弦波0。至180。段，具有零軌道偏差之一 9 0。段及二連續1 8 0 °至3 6 0。段之獨特圖型，不會發生於 伺服軌道中代表—同步圖形部分以外之部分。 圖4b顯示一第—伺服轨道中代表一邏輯值「1」之調變 圖型。此圖塑包括具有零軌道偏移之一 90。段之後之二完 整之正弦波。圖4c顯示一第一伺服執道中代表一邏輯值 「0」之調變圊型。此圖型包括具有零軌道偏移之一 9〇。 段之後之完整之反相正弦波。圖4d顯示一第二词服執道中 代表一邏輯值「丨」之調變圖塑。圖型包括有二完整正弦
L:\EXT\54\54970.PTD 第丨3頁 411453 I五'發明說明（ίο) ! !波之後之零轨道偏移之一 9 0 °段。圖4e顯示一第二伺服軌i |道中代表一邏輯值「0」之調變圖型。此圖型包括具有二 i | i 完整反向之正弦波之後之零軌道偏移之一 90°段。此等正| I弦圖型始終於一零值而非於一最大或最小值開始及終止， i以避免調變圖型之陡峭之轉變。此種轉變否則會干擾調變 圖型中嵌入之時鐘標記。 本發明不限於圖4所示之調變圖型。此圖型可僅包括1個 而非2個完整之正弦波。每一圖型或一序列圖型之平均值 之實施之較佳者為零以避免跟路之偏移。亦可使用例如三 角形圖型或同步函數圖型而取代正弦圖型。 圖5顯示嵌入於一邏輯值「0」及「1」之調變圖型中之 一時鐘標記3 0之舉例。時鐘標記為自零至一最大執道偏移 至最小軌道偏移及返回零軌道偏移之一相對快速調變。由 |於時鐘標記之相對快速之調變，因此可藉頻率選擇而自檢 I測器信號中抽取時鐘標記。時鐘標記之實施之較佳者係沿 j i伺服執道安排於0°位置。當一伺服執道上，亦即碟狀記 錄載體之一圈上有1 2 8時鐘標記時，即已完成一滿意之時 |鐘標記抽取。 圖6顯示有如圖3所示之一種用於掃描記錄載體之裝置。 I此裝置包括用於以光掃描記錄載體10中之軌道之一光學系I i統31。光學系統31包括例如為一半導體雷射之一輻射源 ! 32。輻射源32發射一輻射光束33，此光束由一分束器34反i I i I射及一物鏡35會聚至記錄載體10之一資訊層中之軌道上。 記錄載體反射之輻射經由物鏡35及分束器34被導引至檢測
i五、發明說明（U) ^ I I器3 7。檢測器為—分束檢測器，在檢測器2個半部之間有i | 一分隔線，此分隔線平行於被掃描之軌道方向延伸。一般丨 I稱之為中央孔信號之2個半部之和信號代表記錄於軌道中! |之資訊及以信號si作為輸出。一般稱之為推挽信號之2個| |半部之差，信號’代表記錄於執道中之位置資訊及伺服資| |訊及以信號Sp當作輸出。信號Sp之低頻成分代表伺服資 j i訊，以其指示相對於被掃描之中心線之輻射點3 6之位置。 信號S p用為一伺服電路3 8之輸入，此信號可能先經過一低 通濾波器’此濾波器使伺服資訊通過。但是會阻擋位置資 訊。此伺服電路藉控制光學系統31之位置及（或）光學系統 内物鏡35之位置而控制輻射光點在垂直於軌道方向之位 置。 | 信號Sp亦饋入一信號處理器39中，此處理器自信號^抽 取位置資訊。如圖6所示，自信號39輸出之位置輸出信號 I 係饋入一微處理器4 0，微處理器例如可自位置資訊信號導 出記錄載體10上之輻射光點36之現時位置。微處理器於讀 取，抹除或寫入時，可將現時位置與所希望之位置相比較 |及決定用於光學系統跳至所需位置之參數。用於此跳越之 參數饋入伺服電路38。資訊信號Si饋入微處理器’使其例 如能自此信號獲致用於控制輻射光束之目錄資訊。此資訊 |信號亦當作微處理器40之輸出信號41提供。 當將使用者資訊寫於具有預先記錄並且包含位置資訊1f 一記錄載體之上時，此需予以記錄之使用者資訊係藉一 ^ |號42而饋入微處理器40中。微處理器40使需予以寫入之貝’
I
411453 五 '發明說明G2) 訊與位置資訊同步及產生連接至一源控 信號。源拎制罝开4 ]批制 制I元4 3之一控制 摩控制早疋43控制由輻射源32所射，七^ 功率，因而控制記錄載體i0中桿，己 之輻射光束之光 於位置資訊中之η卡圖刑咖Γ 木成。同步作用包括 唬中同步圖型間應有固定關係。 节之使用者貝訊k 抽Γ^；?^311139之—具體實例用以自推挽信號& :置資訊。信號Sp連接至一類比至數位變換器5〇之輸 號ς微變換器以時鐘信號Sc所決定之速率取樣而將類比信 省、^換為數位輸出信號。此數位輸出信號連接至一高通 ^器5 1 ’ 5 2 ’此濾波器僅使數位輸出信號中之時鐘標記 通過二於所示之具體實例中濾波器包括一高通濾波器5 1及 52 通濾波器之輸出饋入餘弦濾波器52，此濾波器為— 雙& C有限響應濾波器，於高通濾波器所使用之取樣頻率 之半處具有一峯值。一峰值檢測器5 3決定經濾波之時鐘 標記之峯值。峯值檢測器具有一時間常數，藉此可獲致 值之運轉值。峯值檢測器之輪出及經遽波之時鐘標s己一者 j連接至~比較器54。此比較器僅當時鐘標記信號超過一 日令鐘仏5己之峯值時方提供一輸出信號，因而"SJ*避免電路被 雜訊觸發。比較器之輸出信號連接至一計數器55之重設定 輪入。计數器具有連接至時鐘信號Sc之一計數輸入及對一 時鐘標記之間之樣本數目之計數，一減法器56自一參考數 目Ns中減去此樣本數目’如此可指示二時鐘脈波間例如為 2 4 〇 〇之所需樣本數目。如果二時鐘標記間位元數目經選擇 為6，對於每一位元。亦即一軌道之每一81〇。段之樣本數
E:\1999NI\54970.ptd 第16頁 4iU3 I五、發明說明（13) ~ -— I目等於3 0 0由比較器54之輸出所控制之一開關57使減法 器之差收值通過一積分器58。積分器之輸出利用一數位至 類比變換器5 9變換為比信號。變換器之類比輸出作 一電壓控制振盪器60之輸入以提供時鐘信號&。^時鐘俨 號用以控制取樣率及所有組件5〇至59之處理率。组 6二c路’此環路將二連續時鐘標記間之樣本數 :汉疋於一預疋值1’此數值與記錄載體之掃描速度無 類比至數位變 器之一輸入，於 遽波器6 I，一低 波器使代表軌道 過。此帶通濾坡 二開關6 4及6 5。 於軌道中之擺動 資訊之特徵。 如果調變圈型 位置即為9 0 ° 服軌道之軌道瑞 道之位置為1 8 〇。 換器50之數位輪出信號連接至一帶通濾波 圖中之具體實例中，此濾波器包括一高通 通滯波器6 2及一餘弦濾波器6 3。此帶通濾 調變之擺動信號通過及阻擋時鐘標記之通 器之輸出連接至由一定時電路Μ所控制之 定時電路決定沿一軌道之時間點或位置， ^號之一數值具有編碼於伺服軌道中位置 有圖4所示之形式，用於第一伺服軌道之 27〇°，45 0 ° 及 6 3 0 ° (圖 4b 及 c);第二伺 移於此等位置處為零值。用於第二伺服軌 一飼服轨道之轨 器需要一段穩定 此等位置之實施 即對於第一伺服 ’ 360 °， 54 0 ° 及 7 2 0 ° (圖4d 及e)，第 填偏移於此等位置處為零。由於帶通慮波 時間以使其輸出信號適合於其輸入信號， <較佳者為將其選擇靠近圖型之端部，亦 勒1道言為450°或630°及對於第二伺服執 411453 五、發明說明（14) 道言為540。或720。。如果用於第-伺服軌道之位置係採 用45 0。，定時電路66則暫旖將開關“閉合以使擺動信號 之每-位元中自3 0 0樣本中取出之—樣本通過，此樣本序 號最接近4 5 0 * 3 0 0 / 8 1 0。代之以選擇此最接近之枚本者為 aa u内栖古式計算所測得之執道 亦可能於所需瞬間於樣本問以円拖方式丁 偏移。如果樣本有-正值，則有—邏輯值厂1」輸出以作 為第-飼服軌道之位置資訊位元；如果為1值’則有—邏
輯值Γ 0」。在同樣情況下，如果用於f -伺服：fT 置採用540。，開關65即暫時閉合以使每一位兀、有农 接近54 0*3G0/810之一序號之樣本通過。如果樣本有一正 值，即有一邏輯值「1」輸出以作為第二伺服軌道之位置 資訊；如果為負值，即有z邏輯值U出。位於開關 6 4輸出處之連續位元代表第/词服軌道之一位置資訊信號 S,，位於開關65之輸出處者遂代表第二祠服軌，之一位置 資訊信號S2。於掃描第一或第二軌道時，僅有彳5號\或$2 可供使用。當掃描一非伺服執道時，二信號\及心均可 用。 於圖7所示之信號處理器3 9之代替性具體實例中’封閉 環路5 0至6 0全部為數位性質。類比至數位變換器5 0係使用 一固定高速取樣之類比至數位變換器取代。此變換器之樣 本饋送至下降取樣器，此取樣器根據下降取樣器中輸入之 減縮因數而減少其樣本數目。下降取樣器之輸出連接至過 濾器51及61。圖7中之數位至類比變換器59及電壓控制振 盪器60遂不再需要’積分器58之輸出因為供下降取樣器之
L:\EXT\54\54970.PTD 第18頁 411453 I五、發明說明（15) | |減縮因數。 丨 j 圖8顯示用於製造根據本發明之一記錄載體之裝置。此 | i裝置包括一光學系統7 0，於此系統中一輕射源7 1產生一輪ί 射光束72，此光束導引經由一調變單元74及一物鏡75而至 j 一記錄载體78之一輕射敏感層77上之一輕射點76。一微處| 理器7 9控制一啟動器8 0，此啟動器控制光學系統7 0之相對1 於記錄載體7 8之位置。如果記錄載體為圓盤形，啟動器即i 控制光學系統之徑向位置。輻射點7 6在記錄載體上之切線 | 位置由一未示於圖中之驅動裝置控制，此驅動裝置使記錄 i ί i載體旋轉。軸射點7 6以一系列相鄰圓形軌道或一系列連續 |螺旋線所構成之3 6 0 °圓圈之形式而寫伺服轨道。 | 在於記錄載體上寫期間，微處理器將需記錄於伺服軌道 |中之資訊發送至一調變器82。調變器根據圖4中就第一及 i第二伺服轨道所示之圖型將位置資訊之每一位元變換為一 j軌道之一8 1 0 °段及加添時鐘標記。控制信號用為控制調 |變單元74之操作。調變單元調變輻射光束，如此可獲致伺j !服軌道之所需調變。如果伺服軌道之徑向位置需予以調 j j變，調變單元74將為例如一聲光裝置之偏轉裝置，用以改| |變輻射光束之方向，及以此光束垂直於軌道方向改變光點 丨 i之位置。如果伺服軌道寬度而非位置需予調變，調變單元I ! 74可為具有一可控制輻射光束發射之裝置，因此可控制沉丨 |積於記錄載體78上之輻射能量之數量。大量之能量較之小j j量之能量能造成一較寬之伺服執道。在此種情況下調變單 !元可與輻射源71形成一整體，因而形成輻射輸出功率可予.
E:\1999M\54970.ptd 第 19 頁 >1 五、發明說明（16) 以控制之源。 當記錄.載體業已如上述經照射後，即使其接受蝕刻理 處，以去掉輻射敏感層77之業經曝露於輻射光束72之部 分，因而產生其中形成有一槽之主碟，此槽展現有一擺 動。如果連續之伺服執道經予以編號，在偶數軌道中之擺 動係按照圖4 b及c之調變圖型調變，在奇數軌道中之拽動 係按照圖4d及e之調變圖型調變。複製之碟即根據主碟製· 成，記錄層6沉積於複製碟之上。於以此方式獲致之銘刻 型記錄載體之中，與主碟中業已去掉輻射敏感層7 7之部分 相對應之部分，係用為伺服軌道（其可為一槽或一脊部）。 元件符號說明 1 記錄 載 體 2 記 錄 載 體 之 部分 4 槽 5 基 體 6 記錄 層 7 保 護 層 1 0 記錄 載 體 11 第 伺 服 軌 道 12 > 14 非 伺 服轨道 13 第 二 伺 服 軌 道 15 、16 、1 7 . 、1 8 軌道 20 第 一 伺 服 轨 道 2 1 第二 伺 服 軌道 22 非 伺 服 軌 道 23 '24 . 、25 信號 30 時 鐘 標 記 3 1 光學 系 統 32 輻 射 源 33 輻射 光 束 34 分 束 器 35 物鏡 36 輻 射 點 37 檢測 器 38 伺 服 電 路 39 信號 處 理 器 40 微 處 理 器 41 輸出 信 號 42 信 號
O:\54\54970.ptc 第20頁 2000.06.27. 020 修正 五、發明說明（17) 43 源 控 制 單 元 50 類 比 至 數 位 變 換器 5 1 南 通 濾 波 器 52 餘 弦 渡 波 器 53 峰 值 檢 測 器 54 比 較 器 55 計 數 器 56 減 法 器 57 開 關 58 積 分 器 59 數 位 至 類 比變換器 60 電 壓 控 制 振 盪 器 6 1 高 通 濾 波 器 62 低 通 濾 波 器 63 餘 弦 濾 波 器 64 > 65 開 關 66 定 時 電 路 70 光 學 系 統 71 輻 射 源 72 輻 射 光 束 73 準 直 鏡 74 調 變 單 元 75 物 鏡 76 輻 射 點 77 輻 射 敏 感 層 78 記 錄 載 體 79 微 處 理 器 80 啟 動 器 82 調 變 器
O:\54V54970.pic 第20a頁 2000. 06. 27. 021

Claims (1)

  1. 411453 _案號87115330 Μ年6月曰 修正_ 六、申請專利範圍 1. 一種包括具有實質上平行軌道之一記錄層之光記錄載 體，用以記錄使用者資訊，此資訊具有可以光檢測之標記 所成之圖型，此等執道以垂直於軌道方.向形成重複連續之 一第一伺服執道，一非伺服軌道，一第二伺服軌道及一非 伺服軌道，此等伺服軌道具有不同於使用者資訊圖型之一-轨道調變，第一及第二伺服軌道具有代表第一及與其不相 同之第二位置資訊，其特點為第一及第二伺服軌道之軌道 調變具有一預定之相位關係。 2. 根據申請專利範圍第1項之光記錄載體，其中軌道調 變沿伺服軌道之規則性預定位置有一預定數值。 3 ,根據申請專利範圍第2項之光記錄載體，其中軌道調 變於伺服轨道之位置，寬度或深度中之至少之一有一正弦 圖型。 4. 根據申請專利範圍第3項之光記錄載體，其中第一伺 服轨道中之軌道調變對於第二伺服軌道之軌道調變有9 0 ° 相位差。 5. 根據申請專利範圍第3項之光記錄載體，其中位置資 訊係藉1 8 0 °相移鍵控而被編碼於伺服轨道中。 6 .根據申請專利範圍第1項之光記錄載體，其中伺服軌 道係備有時鐘標記。 7 .根據申請專利範圍第6項之光記錄載體，其中代表位 置資訊之執道調變具有對於沿軌道之位置之一有限導數。 8. —種掃描具有實質上平行執道之記錄載體用以記錄使 用者資訊之方法，此資訊具有可以光檢測之標記所成之圖
    O:\54\54970.ptc 2000.06.27.022 第1頁 411453 _案號87115330 Μ年6月曰 修正_ 六、申請專利範圍 1. 一種包括具有實質上平行軌道之一記錄層之光記錄載 體，用以記錄使用者資訊，此資訊具有可以光檢測之標記 所成之圖型，此等執道以垂直於軌道方.向形成重複連續之 一第一伺服執道，一非伺服軌道，一第二伺服軌道及一非 伺服軌道，此等伺服軌道具有不同於使用者資訊圖型之一-轨道調變，第一及第二伺服軌道具有代表第一及與其不相 同之第二位置資訊，其特點為第一及第二伺服軌道之軌道 調變具有一預定之相位關係。 2. 根據申請專利範圍第1項之光記錄載體，其中軌道調 變沿伺服軌道之規則性預定位置有一預定數值。 3 ,根據申請專利範圍第2項之光記錄載體，其中軌道調 變於伺服轨道之位置，寬度或深度中之至少之一有一正弦 圖型。 4. 根據申請專利範圍第3項之光記錄載體，其中第一伺 服轨道中之軌道調變對於第二伺服軌道之軌道調變有9 0 ° 相位差。 5. 根據申請專利範圍第3項之光記錄載體，其中位置資 訊係藉1 8 0 °相移鍵控而被編碼於伺服轨道中。 6 .根據申請專利範圍第1項之光記錄載體，其中伺服軌 道係備有時鐘標記。 7 .根據申請專利範圍第6項之光記錄載體，其中代表位 置資訊之執道調變具有對於沿軌道之位置之一有限導數。 8. —種掃描具有實質上平行執道之記錄載體用以記錄使 用者資訊之方法，此資訊具有可以光檢測之標記所成之圖
    O:\54\54970.ptc 2000.06.27.022 第1頁 411453 案號87115330 f1?年6月尸7曰 修正 六、申請專利範圍 型，此等執道以垂直於執道方向形成重複連續之一第一 {司 服執道，一非伺服軌道，一第二伺服軌道及一非伺服執 道，此等伺服軌道具有不同於使用者資-訊圖型之一執道調 變，特點為當掃描一非伺服執道時，位置資訊係藉沿此非 伺服軌道於規則性第一位置處對其執道調變取樣，而自第 一伺服軌道讀取位置資訊，及藉沿此非伺服軌道於規則性 第二位置處對其軌道調變取樣，而自第二伺服軌道讀取位 置資訊，此等第二位置不同於第一位置。 9.根據申請專利範圍第8項之方法，其中資訊調變為一 週期性變化及第一與第二位置具有此變化週期之9 0 °相位 差。 1 0. —種掃描具有實質上平行轨道之記錄載體用以記錄 使用者資訊之裝置，此資訊具有可以光檢測之標記所成之 圖型，此等執道以垂直於轨道方向形成重複連續之一第一 伺服軌道，一非伺服軌道，一第二伺服軌道及一非伺服執 道，此等伺服軌道具有不同於使用者資訊圊型之一軌道調 變，此裝置包括一光學系統用以藉一輻射光束掃描執道， 一檢測器用以檢測得自記錄載體及由至少一伺服軌道調變 之輻射光束，及一信號處理器用以自檢測器之一輪出導出 位置資訊，其特點為信號處理器備有一定時器用以沿被掃 描之執道定出位置及備有連接至此定時器之一取樣器用以 對檢測器之輸出信號取樣，及一信號電路用以形成一第一 資訊信號，此信號代表自規則性第一位置所取出之樣本而 儲存於第一伺服軌道中之位置資訊，及用以形成一第二資
    O:\54\54970.ptc 第2頁 2000.06. 27.023 411453 案號87115330 f1?年6月尸7曰 修正 六、申請專利範圍 型，此等執道以垂直於執道方向形成重複連續之一第一 {司 服執道，一非伺服軌道，一第二伺服軌道及一非伺服執 道，此等伺服軌道具有不同於使用者資-訊圖型之一執道調 變，特點為當掃描一非伺服執道時，位置資訊係藉沿此非 伺服軌道於規則性第一位置處對其執道調變取樣，而自第 一伺服軌道讀取位置資訊，及藉沿此非伺服軌道於規則性 第二位置處對其軌道調變取樣，而自第二伺服軌道讀取位 置資訊，此等第二位置不同於第一位置。 9.根據申請專利範圍第8項之方法，其中資訊調變為一 週期性變化及第一與第二位置具有此變化週期之9 0 °相位 差。 1 0. —種掃描具有實質上平行轨道之記錄載體用以記錄 使用者資訊之裝置，此資訊具有可以光檢測之標記所成之 圖型，此等執道以垂直於轨道方向形成重複連續之一第一 伺服軌道，一非伺服軌道，一第二伺服軌道及一非伺服執 道，此等伺服軌道具有不同於使用者資訊圊型之一軌道調 變，此裝置包括一光學系統用以藉一輻射光束掃描執道， 一檢測器用以檢測得自記錄載體及由至少一伺服軌道調變 之輻射光束，及一信號處理器用以自檢測器之一輪出導出 位置資訊，其特點為信號處理器備有一定時器用以沿被掃 描之執道定出位置及備有連接至此定時器之一取樣器用以 對檢測器之輸出信號取樣，及一信號電路用以形成一第一 資訊信號，此信號代表自規則性第一位置所取出之樣本而 儲存於第一伺服軌道中之位置資訊，及用以形成一第二資
    O:\54\54970.ptc 第2頁 2000.06. 27.023 411453 _案號 87115330_Μ 年亡月 日__ 六、申請專利範圍 訊信號，此信號代表自規則性第二位置所取出之樣本而儲 存於第二伺服軌道中之位置資訊，此等第一位置及第二位 置彼此不相同。 1 1 . 一種用以製造如申請專利範圍第1項之記錄載體之裝 置，包括一光學系統用以沿一路徑藉一賴射光束而掃描記 錄載體之一輻射敏感層，此路徑係對應於形成於輻射敏感 層中之伺服執道，及包括一調變單元用以調變輻射光束，' 其調變方式為由輻射光束所形成之圖型係對應於施加於調 變單元之控制信號，其特點為此裝置包括一電路，以其用 以自記錄於第一伺服軌道中之第一位置資訊及記錄於第二 伺服軌道中之第二伺服資訊形成一控制信號，此種形成方 式所產生之第一及第二伺服軌道之調變具有預定之相位關 係0
    O:\54V54970.ptc 第3頁 2000.06. 27. 024 411453 _案號 87115330_Μ 年亡月 日__ 六、申請專利範圍 訊信號，此信號代表自規則性第二位置所取出之樣本而儲 存於第二伺服軌道中之位置資訊，此等第一位置及第二位 置彼此不相同。 1 1 . 一種用以製造如申請專利範圍第1項之記錄載體之裝 置，包括一光學系統用以沿一路徑藉一賴射光束而掃描記 錄載體之一輻射敏感層，此路徑係對應於形成於輻射敏感 層中之伺服執道，及包括一調變單元用以調變輻射光束，' 其調變方式為由輻射光束所形成之圖型係對應於施加於調 變單元之控制信號，其特點為此裝置包括一電路，以其用 以自記錄於第一伺服軌道中之第一位置資訊及記錄於第二 伺服軌道中之第二伺服資訊形成一控制信號，此種形成方 式所產生之第一及第二伺服軌道之調變具有預定之相位關 係0
    O:\54V54970.ptc 第3頁 2000.06. 27. 024
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