TW409432B - Method for channel wavelength compensation in semiconductor manufacturing - Google Patents

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經濟部中央榡準局負工消費合你it印製 409432 at _____B7 五、發明説明(1 ) 技術領域 本發明係關於一光電子裝置中波長補償之方法,該裝置 利用選擇性區域生長製作於半導體基板上;本發明還關於 一積體電路,其包含一以此方法製造之光電子裝置。 發明背景 現存名爲選擇性區域生長(s AG)之技術,其在同—半導體 基板上,使用絕緣薄膜圖樣化之遮罩,積體化地製作此類 半導體光電子裝置’如各種不同功能之半導體雷射、光調 變器、光開關、光偵測器與光放大器:選擇性區域生長技 術主要包含’在半導體基板上形成絕緣薄膜圖樣化遮罩, 而使得丰導體晶體能夠在未遮罩區域,也就是暴露出之基 板區域,進行氣相成長;在製作目標丰導體光電子裝置期 間’絕緣薄膜遮罩之寬度與在半導體基板上暴露之區域, 在這些裝置之光傳輸方向有所變動,進而影響到合金半導 體之氣相生長:此點導致在同一製程中,根據絕緣薄膜遮 罩之見度與所暴姓之區域’而自動地形成不同生長層组成 與不同層厚度之合金半導體層:此係因爲各種内含構成合 金半導體晶體原子之材料的氣相密度梯度,以及其引入之 等效擴散長度,隨著材料不同而有所差異的緣故。 等效擴散長度主要由兩個機制構成,表面擴散與再擴散 (re-diffusion): —個原子,例如銦(In),其接觸到遮罩之表 面,可由於表面擴散機制,該原子沿著表面遷移,直到它 找到一個適合附著之物質,例如罐化铜([η P):另一方面, 該原子亦可由於再擴散機制,該原子從表面再擴散並沿著 ^_______________- 4 * 本&尺度適用中國國家標準(CNS ) Α^,1*77ϊ〇^297^^Γ7 I-^— Ί — *^----裝------訂------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ' 409432 A7 經濟部中央標準局負工消费合作社印11 _____________B7五、發明説明(2 ) 表面浮移,直到該原子與另一原子相碰撞:此碰撞導致該 原子再次掉至表面,如前所述,如果該處有適當之物質則 該原子將附著,或者再進行表面擴散或再擴散機制;該再 擴散機制是SAG中很重要的部份。 一個原子在其附著前移動之平均距離稱作擴散長度:在 InP基板上之擴散長度’表面擴散大約是1微米,而再擴散 大約是10至100微米,依SAG期間之壓力而定。 屬於同族元素之不同原子’例如三族元素,可能有不同 之擴散長度,例如,鎵(G a)具有相當長之擴散長度,大约 1 1 0微来,相較於銦(丨η),大約是〖5微米;這些値隨溫度 與壓力而變’但是他們之間的比率則大致是固定的:擴散 長度之差將導致靠近遮罩之磊晶生長材料組成之變化,該 材料由屬於同一族卻具有不同擴散長度之元素構成:再者 ,由於來自速罩表面之擴散,靠近每一個遮罩處將出現量 較多之材料。 靠近絕緣运罩晶晶生長材料之組成變動,可利用光激發 光量測技術價測與測量*其中測出該生長材料之能隙能量 變動並以波長變動表示之。 Makoto等人之美國專利5,543,353 ,發表了 —個以單— 步驟’製造如雷射與調變器之裝置的方法,其使用在這些 裝置之光傳輸方向,具有不同遮罩寬度之單一遮罩。 在木些應用中,例如波叹分士]混成(w a v e 1 e n g t h d i v i s i ο π multiplexing),WDM,會需要包含雷射與調變器之一群積 體電路:在WDM中數個雷射信號係透過一共同之光纖電 ______-5- 本纸張尺度適用中國國家缥孪(CNS ) A4規格(2ί0χ 297^·| ) ------- (諳先閔讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝. 訂 線 經濟部中央標準局員工消费合作社印製 409432 at _ B7 五、發明説明(3 ) 境傳輸;每一個信號代表一個通道,而每一個通道彼此分 離:一光纖電境可包含任意數量之通道’例如2 4個通道: 每一通道之波長係由每一雷射所發射光之波長來決定,其 結果爲每一通道之雷射必須發射不同波長之光。 一般製造WDM组雷射之雷射與調變器的方式,係在一 基板上並排地放置所需數量之雷射,其每一個發射預設之 波長:隨後在該雷射之光傳輸方向上,於波導層中形成具 相同特性、也就是波長,之調變.器:一群WDM組雷射可 自然地在同一基板上製造出來。 如此作可以將製造之成本降至最低且縮短生產時間,但 是會導致一些雷射之性能較其他的差,因爲在雷射與調變 器之間波長的差,即所謂失諧,隨雷射波長而變:爲得到 良好性能之光學連接之雷射與調變,一個可接受之失諧是 很重要的:介入損失(insertion loss)、衰減比(extinction ratio)與發射功率這三個參數,非常受到失諧的影響:如果 失諧減少,則更多來自雷射的光將被調變器吸收而衰減比 增加:如果失諧增加則反之:因爲此效應,包含雷射與調 史β之母一通道的性能,會有劇烈之變動。 發明簡述 本發明之一個目的,係提供一製造一群半導體光電子積 體電路之方法,其能克服先前技術之問題。 爲達到本發明先前與其他目的,已提供在單一丰導體基 板上’製造一群半導體光電子積體電路之方法,每一個該 積體電路包含至少-個第一與一個第二光電子裝置,其光 __一 -6- 本纸張尺&適國家辟(CNS ) Α4規格(:iGX 297公犮)~ ~ " — ΊΙΊ — J----裝------訂------線 - - (諳先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標隼局員工消費合作社印製 409432 A7 _________B7___ 五、發明説明(4 ) 學地連接至另一個,該群雷射發射一短波長之光與至少一 相較於该短波長之長波長的光,該方法由下列步驟構成: (i) 生長第一组層,其包含至少一個第一波導層,以在該 基板上形成該雷射, (ii) 提供一絕緣薄膜遮罩,其包含蓋住所有該雷射之遮罩 部份’而能在該基板上界定出遮罩與暴露區域, (in)自該暴露區域,移去該第—組層, (iv)選擇每一調變器之區域,其鄰近該每一雷射並在其光 傳輸之方向上,以及 (V)生長第—組層,其至少包括一個第二波導層,並利用 選擇性區域生長製程來形成該調變器, 該方法還包括以下步驟: (a) 安排該第二波導層,使其能隙能量能達成該第二波導 層與該短波長雷射間之可接受的失諧, (b) 於步驟(ii>,在該絕緣薄膜遮革中至少提供一個箱外遮 罩邵份,相鄰於每一個該區域’其在每—個發射相較 於該短波長之長波長之至少一個雷射的光傳輸方向上 ,每一額外遮罩部份具有選定之長度與可選擇之寬度 ’並且依序地、以平行於每一個別之雷射之光傳輸方 向放1,以及 (c) 對應於每一個該至少一個雷射發射之波長,選擇每― 個額外遮罩部份之寬度’使能至少部份地補償在每— 發射長波長之雷射與該第二波導層之間,能隙能量之 差, 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4規格(210X 297公釐) 丨^ — Μ--;----裝------訂------線 » * (讀先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 409432 A7B7 五、發明説明_( 5 經濟部巾央標苹局員工消费合作社印製 因而減少在每一個光學連接之雷射與之間,失諧之變動。 本發明之一個優點是,可以在同一基板上製造一群光電 子積體電路,其以不同波長運作,而性能可以提昇。 本發明之另一個優點是’可以非常低之成本,輕易地獲 得能隙能量差之補償。 以下將參照附圖對本發明作更詳細之敘述。 附圖簡述 圖1係示出在一 24個通道WDM雷射組中,以dB表示之 介入損失對通道之關係圖。 圖2係根據本發明具有3個通道之絕緣薄膜遮罩佈局的 上視圖。 圖3係根據本發明之作法,示出圖2中沿A-A之截面圖。 較佳實施例詳述 一 W D Μ雷射組可以包含任意數量之通道,每—通道代 表一個別之波長:應用在積體電路中WDM雷射组之一個 通道’由一雷射與一調變器構成:如前所述,每—通道之 性能特性,如介入損失’係由,舉例而言,雷射發射波長 與調變器波長之間的波長差來決定。 圖1示出在一個24通道WDM雷射组中,以dB表示之介 入損失對通道之關係圖,其第一條曲線1具備考處在24通 道WDM雷射組之介入損失後所需之行爲:該圖亦示出第 二條曲線2,其示出根據先前技術製造之24通道WDM雷 射組的正常行爲。 所需之行爲可以藉由在每一積體電路中,旬入不同貧戶 (詩先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) —裝--- 、11 線 -8 - 表纸掁尺度適用中國國家標準(CNS) A4^格(2;0>< 297公费) 409432 A7 B7 五、發明説明(6 ) 〜 之調變器遮罩來達成,因而在選擇性區域生長製裎中,能 在所有通道中獲得可接受之失諧。 如之前所提及的’該WDM雷射组之通道係分開的,並 且可以任意選定分開量,例如〇 · 8 n m : W D Μ系統中雷射 之一般數目爲24 ’在此例中其造成雷射波長差23 X 〇.8 nm = 18.4 nm ’自最低至最高之雷射波長(通道〇丨至24)。 該調變器波導層之形成,沒有使用補償之調變器遮罩, 如與圖2相連所描述的,獲得波導層中預設之波長,而該 波導層係光學連接至所有發射不同波長之雷射:如前所述 ’在雷射與調變器之間的波長差,即所謂的失諧,很重要 並且因此應作補愤以得到較好之性能。 母一個雷射/1周變器失諧之補償,可藉由對每一通道之每 一調變器’使用可選擇寬度之調變器遮罩來達成。 圖2示出根據本發明之用來製作三個雷射與三個調變器 之WDM遮罩的例子:該WDM遮罩包含五個遮罩部份,三 個雷射部份1 1 a、丨I b、I丨c其在後續製造步驟中,遮蓋並 保護第一组形成雷射之層,以及調變器部份丨2 a與丨2b : 區域丨3 a、1 3 b與係由每—雷射1丨a_丨1 c之光傳輸方向所界 定’以線14a、14b與I4c表之:第二組形成調變器之層在 此生長:調變器部份1 2a與1 2b個別平行於線1 4a與1 4b依 序放直’並個別鄰近於區域1 3 a與1 3 b。 在此例中應注意的是,第三個雷射1丨c沒有調變器遮覃 部伤’其开;:成在第二區域丨3 c中,配合最短發射波長;3之 第三個雷射’以便在第三個雷射與第三個調變器之間,沒 —_____ - 9- 本紙乐尺度通知t國國家標準(CNS ) A4規格 (請先閲讀背面之注意事項再填本頁) -裝. 、1 線 經濟部中央標準局K工消費合作社印製 經濟部中央標_局員工消费合作社印製 409432 a; ____B7 五、發明説明(7 ) ' --- 有補償而得到可接受之失諧。 第一個雷射11a具有最長之發射波長λι, 叫必須補償第 一個调變器波導層之波長,使能在形成於第一 ρ u h域13a中 的第一個雷射丨1 a與第一個調變器之間,这 所需之失譜 :該補償係在形成調變器層之前,藉由提供〜 ' 现弟一調變 器遮罩部份12a來達成;每一個第一調變器遮罩部份pa 工長度設足爲LM ’而寬度設定爲:在該组第一調變器 遮罩部份之間的距離則設定爲W0丨。 第一個雷射1 1 b具有小於第一個但大於第三個之發射波 長λ:,λ,> λ: > λ3 :仍然必須補償第二個調變器波導層之 波長’使能達到可接受之失諳:該補償係在形成調變器層 之前’耠由提供一組第二調變器遮罩部份丨2 b來達成:每 一個第二调變器遮罩部份I 2 b之長度設定爲相等於第一調 變器遮罩部份之長度Lm,而寬度選定爲W2,其中w2小於 W! ’ W,_ < W t :在該組第二調變器遮罩部份之間的距離則 設定爲。 該尺寸’雷射遮罩部份1丨之長度Ll與寬度,依所使 用之雷射種類而定,在所有雷射上大致相等,以便在製造 調變器時能夠保護所有雷射:具能味能量對應於波長大约 1 550 nm之DFB雷射,其遮罩尺寸(並非限定之例;)爲,L[_〜 4 0 0微米而W L.〜12微米。 該調變器遮罩部份之可選擇的寬度,係用來在選擇性區 域生長製程期間,改變靠近遮罩生長層之组成與厚度,特 別是在區域I 3 a與1 3 b之中:如之前在表發明之背景中所 _______ - 10 - 本紙張尺度適用中國國家標孪(C\s ) Λ4規格(:M0 X 297公蹵) H t Ί I "裝----------- **—訂-------線 (請先閎讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消费合作社印製 409432 A7 B7 五、發明説明(8 ) 述,在靠近遮罩處,較短擴散長度之物質將增加,而普遍 地增加了材料量:在調變器遮罩部份每一個調變器之間的 較佳間距W Q 1、W 〇 2,最好在該較短擴散長度之1至3倍的 範圍中,如此可以在調變器中得到良好之光波導層组成, 與較佳之磊晶生長速度:在所有遮罩部价間該間距W〇 ,、 W〇2可以變動,但是最好大致上相等。 該半導體基板最好係以磷化銦(InP)作成,而在該調變器 中之光波導層最好以砷磷化銦鎵1hGauxASyPi.v作成,其 中X、y之値係介於〇與1之間’簡寫爲InGaAsP。 當成長波導層時,調變器遮覃部份寬度之定量增加,會 對應至靠近該調變器遮罩部份1 2a與1 2b處波長之增加。 圖3係圖2中沿線A-A之截面圖,其根據本發明之應用 ,利用非限定用例之圖2之遮罩,其中: 第一間距=W 〇 |, 弟'—間距=W 〇 2, 第一調變器遮罩宽度=WI ’以及 第二調變器遮罩寬度=w2。 在圖3中,創新之遮罩1 2a、1 2b放置在製作雷射所餘之 材料層L上的同時,亦放置在形成雷射之第一组層頂端上 ,作爲保護用之絕緣薄膜:並將未被此創新遮罩或該保護 遮罩覆蓋之區域,向下蝕刻至基板3 0。 在一個調變器之選擇性區域生長期間,利用上述遮罩部 份’可以得到數層,例如,包含在n-InP半導體基板30上 之n-inP/InGaAsP/p-InP ’其中π·[ηΡ是捧雜多餘電子之5舞 -11 - 尽紙張财料(CNS ) 格 U1GX297公^ — -s
IJ----------裝------訂-------線 . - (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁;J Α7 Β7 409432 五、發明説明(9 ) 化銦層,而p-InP則是摻雜多餘電洞之磷化銦層。 第一層3 1之n-InP稱爲區隔層(spacer),其係用來使次層 32,即波導層,下方之表面,盡可能沒有任何缺陷:如果 該基板之品質非常好的話,此層可以略去。 由於表面擴散的緣故,在遮罩邊緣可以見到沈積材料34 增加之厚度:此厚度上之變動可以忽略,因爲在每一個區 域1 3 a-1 3 c中,僅有一個很窄部份3 5的材料,用來製作每 一個調變器:再者,第一調變器高度Η, ’相較於第二調變 益而度H2有所增加’接每第二ί周變器局度Η 2相較於整體 高度Η;也增加,其係由於靠近遮罩處銦之增多:因此 Η|>Η2>Η3 0 藉由選擇每一個雷射之遮罩寬度’可達成在圖丨中所示 所需之線1表現:獲得此效應之準確寬度,依所使用波導 種類、在選擇性區域生長期間之壓力與溫度,當然以及所 用之反應器種類而定。 本發明方法可自然而完全地補愤在每一個調變器;皮導淨 中之波長,使得在雷射與調變器間波長之差,即所謂 ,能降至可接受之範圍,例如大約是6 0 n m。 雖然該雷射係在同一基板上製作,該製程後基板在完成 後,也可以分割成調整至特定波長' 包含一個雷射與―域 調變器之雷射裝置;之後組合成一組WDΜ雷射,其包今 〆群波長均不相同之雷射裝置如此作可增加用於Wdμ 應用之作用雷射組之良率。 -12 - ^^度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2I0 X 297公漦) !.J丨 Ί.丨 -----抑衣------II------^ 一 - f請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 鉍濟部中央標準扃νκ.工消f 作社印裝

Claims (1)

  1. 409432 經多-部中央標準局員工消費合作社印製 A8 B8 C8 D8、申請專利範圍 ~~ — 1'種用以在單一半導體基板上製造一群半導體光電子積 體電路之方法,其中每一該積體電路至少包含由—個雷 射與一個互相光學地連接之調變器,該群雷射以一短波 長與至少一相較於該短波長之波長爲長之長波長發射光 ’該方法包含以下步驟: (I) 生長第一組層,其至少包含一第一波導層,以便在 該基板上形成該雷射, (II) 提供一絕緣薄膜遮罩,其包含蓋住所有該雷射之遮 罩邵份,以在該基板上界定遮蓋與暴露之區域, (i i i)自該暴露之區域移去該第一組層, (〖v)爲每一個調變器選擇—個區域,其鄰近於每一個該 雷射且在其光傳輸方向上, (v)生長第二組層,其至少包含一個第二波導層,以便 利用選擇性區域生長製程形成該調變器, 該方法之特徵,還包括以下之步螺: (a) 配置第二波導層之能隙能量,以在該第二波導層與 該短波長雷射之間,達到可接受的失諧, (b) 於步騍(ii)中’在該絕緣薄膜遮罩中至少提供一個額 外遮罩部份’其相鄰於在每一個該發射相較於該短 波長鸟長之該至少一個長波長雷射的光發射方向上 之該區域,每一額外遮罩部份具有選定之長度與可 送擇<I度,並且依序地、以平行於每一個別之雷 射之光傳輸方向放置,以及 (c) 對應於每一個該至少一個雷射之發射波長,選擇每 -13 - 本纸伕尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2!OX297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝 -1T 409432 經濟部中央標孪局員Η消費合作社印製 A8 B8 C8 D8 ___ 六、申讀專利範圍 —個額外遮罩部份之寬度,使能至少部份地補償’ 每一個發射較長波長雷射與該第二波導層之間能隙 能量的差, 因而減少在每一個光學相連之雷射與調變器之間,失 諧之變動。 2. 如申請專利範園第1項之方法,其特徵爲,於步騍(ii)中 在該絕緣薄膜遮罩提供兩個額外遮罩部份,鄰近地放置 在每一個該區域,該遮罩部份彼此大致平行且排列在每 一區域之相反惻。 3. 如申請專利範園第2項之方法’其特徵爲,選擇在該兩 個額外遮罩部份,其鄰近於所有區域間之間距,使之大 致相等。 4. —種積體電路,其至少包含一個雷射與一個互相光學地 連接之調變器,其特徵爲該積體電路係使用如申請專利 範園第1至第3項之任何一個方法所製造。 -14- 〜久張尺度適用中國國家樣孪(CNS ) Α4規格(公釐) (請先閎讀背面之注意事項再填寫本頁)
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