JPS584986A - 分波光検出器 - Google Patents

分波光検出器

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Publication number
JPS584986A
JPS584986A JP56103064A JP10306481A JPS584986A JP S584986 A JPS584986 A JP S584986A JP 56103064 A JP56103064 A JP 56103064A JP 10306481 A JP10306481 A JP 10306481A JP S584986 A JPS584986 A JP S584986A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
waveguide
beams
cut
wavelength
Prior art date
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Pending
Application number
JP56103064A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiko Fujiwara
雅彦 藤原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
Priority to JP56103064A priority Critical patent/JPS584986A/ja
Publication of JPS584986A publication Critical patent/JPS584986A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0216Coatings
    • H01L31/02161Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は波長多重された光信号を分波して検出する分波
光・検出器に関し、更に峰しくは光集積回路型の分波光
検出器に関するものである〇近年実用の域に達している
光通信の分野では1本の光ファイバで伝速する情報量を
増すため光信号の多重化が盛んに進められている。その
中で最も実用的火思われかつ最も多く検討さnているの
が、各信号の系統に応じて光搬送波の波長を変える波長
多重光通信方式である。このような波長多重光通信方式
では送信端での光の合波器と共に受信端で光を波長に応
じて分波する分波光検出器が特に重要な構成要素である
。現在用いられていΦ分波光検出器としては干渉フィル
ター回折格子と屈折率分布型レンズを組み合わせたマイ
クロ・オプティクス型のも、のが主流であるが将来の光
信号の高多重化、素子の小型化、高信頼化を考えると光
集積回路型のものが望まれている。光集積回路型の分波
光検出器としては導波路上にグレーティングを形成しそ
の回折の波長分散性を利用したものが考えられている。
しかしながら、導波路上に形成するグレーティングはそ
の周期が波長オーダに近いため導波路に放射損失を与え
ることなく高精度のグレーティングを再現性良く形成す
る事は必ずしも容易ではない0本発明の目的は上記の点
に鑑み、グレーティングを必要とせず従って製作の容易
な分波光検出器を提供することにある。本発明の分波光
検出器は、光の伝搬・方向にその断面形状が縮小する単
モード光導波路と、この光導波路中を伝搬する光エネル
ギーに比し、そのバンドギャップが狭い半導体材料で前
記先導波路上方あるいは外側に形成された光検出層とを
備え、この光検出層に複数の光検出器を備えた構成とし
、光導波路中での波長の違いに応じてカットオフ位置が
異なることを利用して各波長の光を分波検出するもので
ある。
第1図は本発明による分波光検出器の一実施例を示すも
のである。第1図は実施例の光の伝搬方向に平行、基板
に垂直な方向での断面を示している。ここでは説明の便
のため材料としてInGaAsP。
InGaAs系の半導体材料を考えるが、材料としては
これ擾こ限られる訳ではない。
第1図を用いて本実施例の構成及び動作について説明す
る。n−InP基板1上に導波する光に対し光分低損失
な組成のn−InGaAsPによる導波路層2を成長す
るが、この除光の伝搬方向にその層厚がゆるやかにかつ
連続的に減少するようにする。
このような結晶成長は液相エピタキシャル法ではボート
中に冷却用のフィンを挿入する事により比較的再現性良
く行なうことが出来る。この導波路層2のInGaAs
Pの組成はGa及びAsの組成比が小さければ光通信に
於て重要な波長1.3及び1.5μm帯の光に対し充分
低損失となりかつn−InP基板1よりは高屈折率とな
るため低損失な光導波路が形成される。ここではInP
の屈折率がInGaAsPの屈折率に比べ低いため基板
1の上に直接導波路層2が形成出来るが基板の屈折率が
高い場合には1層低屈折率のクラッド層を成長しておく
必要がある。
このようにして形成された導波路層2の上にn−InP
によるクラッド層3を成長し導波路を埋込み更にその上
に導波する光に対して受光作用のある半導体(ここでは
n−InGaAS)による光検出層4を成長する。尚、
導波路層2の厚みとしては最も厚い部分でも単一モード
条件を満足するようにしておくoここで波長多重された
元(ここでは簡単のため波長ハ、λ2の2つの波長を含
む光とする)を導波路層2を層厚の厚い方力1ら伝搬さ
せると光は層厚の減少につれてしだいにカット・オフと
なる。このとき波長が異なる光λl、λ2はそれぞれ異
なるJil浮の部分でカット・オフとなる。一般に対称
なスラブ導波路ではその最低次のモードは力、ト・オフ
周波数を持たない事が知られているが、スラブ導波路で
も非対称な構造、また更に三次元等波路では最低次モー
ドも有限な実効的カット・オフ周波数を有する。
ここで1例として第2丙に示すような一辺がαである等
方な矩形vIT面を有する三次元導波路を考える。第2
図で11はコア部分でその屈折率はnl。
12はクラット部分で屈折率はn2である。クラッドと
してInP、 IR長λとして1.3μm付近妄考左心
とn2Q3.2となる。コアとしてバンドギャップ波長
1.05μm付近のInQaAsP 、)採用スルドア
t2:;3.36(ΔTh=5チ)となるが等側屈折率
法による計算では正規化周波数1fをv=(2“/λ)
ユ(n1′−TL22)4として0次及び1次モードの
カット・オフ時の正規化周波数値はそれぞれ0.4π、
1.4π根度となる。従ってコア11の大きさとしては
最大0.9μm程度迄は単一モード条件が満足される。
一方分波すべき2つの波長の間隔’) 0.05μm1
IAfにとる(λl=1.30μm、λ2=1.35μ
m)とそれぞれの波長の光が基本モードで実効的に力、
ト・オフとなるコアサイズはそれぞれ0.25μm、9
.26μm程度であり第1図の導波路N2のテーパ角を
0.1mrad程度にとると2つの波長λ1.λ!の力
、ト・オフとなる位置の間隔を100μms贋とること
が・でき、充分な空間的な分解能が得られる◎そこでそ
れぞnの力、ト・オフに対応する層厚の部分の上の光検
出層4に絶縁膜5のウィンドウを介して選択的にZn 
、cd等により拡散を行ないP領域6,6′を形成しそ
の上にP@電極7,7′を作製し光検出器アレイとする
。次いで光検出層4のrt@の部分にh側共通電極8を
形成しておけば各波長に応じて異なる層厚の部分でカッ
ト・オフとなった光はそれぞれ光検出器アレイにより受
光され分波光検出が可能となる。この構成では導波路層
2のテーパ形状、光検出器アレイの1素子の大きさ、素
子間隔寺により波長間のクロストークは光分小さく押え
ることが可能である。
本実施例では光検出器アレイの形成に選択的な拡散を用
いた例を示したが、光検出@4の上に1−P型の層を形
成しておき選択的なメサエッチを用いる方法でもよい。
また導波路層2のテーパ構造として層厚が変化するよう
な例を示したが、導波路自体が三次元化されている場合
にはその巾を変化させてもよい。この場合にはテーバ形
成にメサエッチ婢の技術を用いることが出来る。
以上峰細に説明したように本発明によればグレーティン
グ構4を全く用いる必要がなく、従って非常に線作の谷
易な分波光検出器が侍られる。
【図面の簡単な説明】
第1崗は本発明の1実施例を示す図、第2図は本発明に
用いる導阪路のカット・オフを説明するための図である
。 図に於て1は半4棒基板、2は導波路層、3はクラッド
層、4は光検出層、5は絶縁膜、6,6はP領域、7 
、7’GよP側電極、8はh側共通電極、11はコア、
12はクラッドである。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 光の伝搬方向にその断面形状が連続的−こ縮小する単一
    モード元導波路と、その先導波路の上方または外側に形
    成され前記光導波路中を伝絨する光に比しそのバンドギ
    ャップが狭い半尋体材料から成る光検出層とを備え、前
    記光検出層に複数の光検出器を備えていることを時機と
    する分波光検出器0
JP56103064A 1981-07-01 1981-07-01 分波光検出器 Pending JPS584986A (ja)

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JP56103064A JPS584986A (ja) 1981-07-01 1981-07-01 分波光検出器

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5985951A (ja) * 1983-10-03 1984-05-18 Nissan Motor Co Ltd 酸素濃度測定装置
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JP2005534178A (ja) * 2002-07-23 2005-11-10 インテル・コーポレーション テーパ導波管式の光検出器装置および方法

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