TW202413980A - 用於測試待測元件的裝置以分離與待測元件不同功能塊相關聯或與一個或多個位元的不同塊相關聯的接收模式內的誤差，及其方法和電腦程式 - Google Patents

Abstract

一種用於測試待測元件的測試裝置，被配置成從待測元件接收模式，該模式包括來自該待測元件的多個功能塊的信息。該測試裝置被配置成在執行測試程序期間分離與該待測元件不同功能塊相關聯的接收模式內的誤差，或者該測試裝置被配置成在執行測試程序期間分離與一個或多個位元的不同塊相關聯的接收模式內的誤差。還描述了一種方法和一種電腦程式。

Description

用於測試待測元件的裝置以分離與待測元件不同功能塊相關聯或與一個或多個位元的不同塊相關聯的接收模式內的誤差，及其方法和電腦程式

根據本發明的實施例涉及一種用於測試待測元件的測試裝置。 根據本發明的又一些實施例涉及一種用於測試待測元件的方法。 又一些實施例涉及每核心結果處理器。

測試是電子電路系統（例如，集成電路）生產中的重要步驟。然而，電子電路（例如，集成電路）日益增加的複雜性構成了重大挑戰。

因此，為了增加掃描和功能測試的可用帶寬的最佳使用，電子設計自動化（EDA）軟體和測試設計中的參與者開始研究在通過測試接口將測試模式發送到待測元件（DUT）時使不同核心的測試模式交錯的方法，而不是將純（例如，單個核心）模式（個別核心）一個接一個地發送到目標IP核心。

“核心”在此（在本申請的上下文中）表示邏輯設計的基本單元，將在測試中單獨分析核心（例如，測試單元，測試結果的粒度）。舉例來說，核心可被認為是待測元件的功能塊。

鑒於這種情況，需要一種概念，該概念在不同核心的測試模式交錯的情況下允許實現複雜性、測試覆蓋範圍以及測試時間之間的良好折衷。

根據本發明的實施例創建了一種用於測試待測元件的測試裝置（例如，測試處理器、或自動化測試設備的通道模塊、或自動化測試設備）。測試裝置被配置成從待測元件接收模式（例如，結果模式；例如，響應模式），所述模式包括（例如，以組合的形式；例如，以交錯的形式）來自待測元件的多個功能塊（例如，“核心”；例如，結果塊；例如，提供基本上獨立的測試結果或測試響應的功能塊）的信息（或者與所述多個功能塊相關聯的信息）（例如，測試結果；例如，測試響應信息；例如，位元序列）。測試裝置被配置成在執行測試程序期間分離（例如，單獨處理或單獨記錄）與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式內的誤差（例如，分離不同核心的誤差）（例如，以在執行測試程序期間獲得待測元件的每功能塊的測試結果（例如，待測元件的每核心測試結果））。

已經認識到待測元件的多個功能塊的測試結果被組合在共用結果模式中（例如，經由待測元件的單個引腳以時分複用的方式輸出），在執行測試程序期間分離與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式內的誤差允許以高效的方式測試待測元件，同時避免儲存通常以非常高的數據速率提供的完整接收模式。

舉例來說，分離與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式內的誤差允許非常迅速地獲得待測元件的哪些功能塊包括誤差的概述（例如，無需存儲或緩衝接收測試模式）。在一些情況下，所述概念甚至允許在執行測試程序期間或在執行測試程序之後很短時間內獲得待測元件的哪些功能塊“嚴重”失效（在接收模式內具有與嚴重失效的功能塊相關聯的大量誤差）的概述。舉例來說，關於與不同功能塊相關聯（或者被分配給不同功能塊的測試結果位元）的接收模式內的位置（例如，位元位置）的先驗知識即使在執行測試程序期間仍可允許非常快速地分離與不同功能塊相關聯的（接收模式內的）誤差。

因此，在執行測試程序期間或在測試程序完成之後不久，可使得分離關於待測元件不同功能塊的故障的信息，這又允許基於關於不同功能塊的故障的信息（由與包括故障的功能塊相關聯的位元位置處的接收模式內的誤差指示）做出關於（進一步的）測試流程的決定。

綜上所述，已發現，由於當“在運行時間期間”（在執行測試程序期間）分離與待測元件不同功能塊相關聯的（接收模式內的）誤差時可能不需要存儲完整接收模式以用於後續分析，因此在執行測試程序期間分離與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式內的誤差（這會實現指示不同功能塊的故障的信息，例如單獨針對個別功能塊）會降低測試的複雜性。

因此，可獲得經聚合信息，所述經聚合信息單獨針對待測元件不同功能塊或者甚至單獨針對待測元件的每一功能塊指示待測元件的功能塊是否在接收模式中生成誤差。因此，上述測試裝置允許在執行測試程序期間高效地識別待測元件的一個或多個失效功能塊，即使多個功能塊的測試結果被組合在接收模式中（例如，在組合位元流中），其中，舉例來說，接收模式內的不同位置可與來自待測元件不同功能塊的測試結果相關聯，並且其中，舉例來說，測試裝置可基於關於待測元件的功能塊與接收模式內的位元位置的關聯的知識來分離源自待測元件不同功能塊（或者由待測元件不同功能塊引起）的測試結果（例如，與預期位元值的比較結果）。

由於在執行測試程序期間分離與不同功能塊相關聯的接收模式內的誤差可消除將接收模式上傳到單獨的處理單元以用於後處理的需要，因此可以非常高效的方式實現待測元件不同功能塊的故障的（單獨）檢測。具體來說，通過在執行測試程序期間分離接收模式內的誤差（而不是作為後處理步驟），可不必保存接收模式以供稍後檢測接收模式內的誤差。因此，可以低複雜性實現非常良好的功能，這有助於提高測試效率以及測試速度。

因此，測試裝置在複雜性、所提供的功能以及測試速度之間帶來了非常良好的折衷。

在實施例中，測試裝置被配置成即時地分離與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式內的誤差（例如，在開始分離與待測元件不同功能塊相關聯的誤差之前不緩衝或記錄完整接收模式；例如，在測試裝置完全接收到連續的測試模式流之前；例如，不記錄所接收的流）。

通過即時地分離與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式內的誤差，可避免緩衝或記錄非常消耗資源的完整接收模式。因此，接收模式內的位元位置與待測元件不同功能塊的即時關聯可用於區分和/或分離與待測元件不同功能塊相關聯的誤差信息（例如，指示接收模式中的誤差）。舉例來說，與待測元件不同功能塊相關聯的誤差信息可分佈到不同的誤差寄存器或誤差計數器（與待測元件不同功能塊相關聯）。因此，通過使用接收模式內的誤差的“即時”分離（或者等效地，指示接收模式內的誤差的誤差信息的即時路由）有助於使用於緩衝接收模式的緩衝努力減少或最小化，並且進一步避免執行測試程序之後的後處理所導致的延遲。

在優選實施例中，測試裝置被配置成實時地（例如，以與從待測元件接收接收模式的數據速率相同的速率）和/或與從待測元件接收所述接收模式的數據時鐘在時間上同步地分離與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式內的所述誤差。

通過實時地分離與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式內的誤差，不需要緩衝接收模式的重要部分或者甚至不需要緩衝整個接收模式。確切來說，實時地分離誤差（或者等效地，分離指示接收模式內的誤差的誤差形成）允許指示接收模式內的誤差的誤差信息在連續模式的接收期間已經可用。換句話說，在測試裝置接收到同一連續模式的後續部分之前，對在接收模式的第一部分中發生的誤差進行描述的誤差信息可為可用的。另外，在一些情況下，緩衝實際誤差檢測所需的接收模式的非常短的部分可為足夠的，但是在誤差被分離（實時地）之後，接收模式可被丟棄。在一些實施方案中，甚至可完全避免對接收模式進行緩衝。因此，已經認識到，分離誤差（或者更準確地說，分離對接收模式內的誤差的進行描述誤差信息）有助於使誤差處理更高效，並且使誤差信息非常快速地可用。

然而，在一些實施例中，測試器硬體確實會實時地即時檢測接收模式中的誤差（“精確地”）。這意味著通常所說的“邊沿比較器”在編程時間分析邏輯電平，並與預期狀態進行比較。舉例來說，首先在所謂的測試處理器週期（例如，最多8個比較器）內組合在該過程中識別的誤差，且然後，舉例來說，在所謂的比較器字（例如，上述比較器中的4個比較器）中組合在該過程中識別的誤差。在這種意義上，進一步的處理（關於它所屬的核心的故障分析）不再是瞬時的，而是（僅僅）延遲了一小段時間，例如幾納秒。然而，在數據處理的大畫面中（以及在本申請的意義上），這種處理被認為是“即時的”。另外，該處理與從待測元件接收所述接收模式的數據速率在時間上接近同步，並且與從待測元件接收所述接收模式的數據時鐘在時間上同步。

在優選實施例中，測試裝置包括專用硬體（例如，多路複用器），所述專用硬體被配置成分離與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式內的誤差。

通過使用專用硬體來分離接收模式內的誤差，可實現特別快速且高效的處理。舉例來說，應注意，接收模式通常包括非常高的數據速率，使得專用硬體特別有利並且允許“即時地”或“實時地”處理和分離與待測元件不同功能塊相關聯的誤差。

具體來說，使用專用硬體可消除對儲存接收模式的需要，這又會顯著降低該概念的資源需求。此外，已經認識到，與基於微處理器（例如，軟體控制的）的接收模式內的誤差分離相比，專用硬體通常更加節能。因此，通過使用專用硬體，甚至可在記錄誤差位之前分離與所述待測元件不同功能塊相關聯的接收模式內的誤差，並且基於硬體的誤差分離還可用於控制接收模式的誤差位元的記錄。

綜上所述，已經認識到，使用專用硬體來分離與所述待測元件不同功能塊相關聯的接收模式內的誤差可提高功率效率，並且還可非常快速地提供指示（或描述）與待測元件不同功能塊相關聯的誤差的誤差信息。因此，通過分離與待測元件不同功能塊相關聯的誤差而獲得的誤差信息可在進一步的處理步驟中使用（例如，在記錄接收模式的誤差位元中使用）。

在優選實施例中，測試裝置包括專用硬體（例如，多路複用器；例如，核心映射器），所述專用硬體被配置成選擇性地將誤差信號轉發到與待測元件的特定功能塊相關聯（或者等效地，與接收模式內的位元位置相關聯）的結果單元（例如，誤差標記寄存器或誤差計數器）（例如，與待測元件不同功能塊相關聯的多個結果單元中，或者等價地與接收模式的不同位元位置相關聯的結果單元中），所述誤差信號指示與待測元件的特定功能塊相關聯的接收模式的位元的位元值（例如，在與待測元件的特定功能塊相關聯的位元位置處）相對於由預期模式定義的預期位元值的偏差。舉例來說，專用硬體可依據當前考慮的位元位置並且使用對位元位置與待測元件的功能塊的關聯進行定義的（或等效地對位元位置的關聯進行定義的）分配規則來確定誤差信號應被轉發到哪個結果單元。

通過選擇性地將指示與待測元件的特定功能塊相關聯的接收模式的位元的位元值相對於由預期模式定義的預期位元值的偏差的誤差信號轉發到與待測元件的特定功能塊相關聯的結果單元，可以非常快速且高效的方式分離與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式內的誤差。舉例來說，僅由預期模式定義的預期位元與接收模式的位元的位元值之間的比較可以特別高效的方式在硬體中執行，其中應注意，當前的測試裝置包括用於提供表示預期模式的電信號的強大且高效的機制。

因此，舉例來說，將接收模式的電信號表示與預期模式的電信號表示進行比較的非常快速的比較器的輸出信號可提供結果信號（例如，以電信號的形式），並且這種（比較）結果信號（也可被認為是誤差信號）可例如使用多路複用器被高效地分配（從而選擇性地將誤差信號轉發到相應的結果單元）。

還已經認識到，選擇性地將誤差信號轉發到相應的結果單元（其中，舉例來說，不同的結果單元可與待測元件不同功能塊相關聯）可由硬體機制來控制，該硬體機制對接收模式的位元（或位元位置）與待測元件不同功能塊的關聯進行追蹤。因此，選擇性地將誤差信號（例如，通過多路複用器）轉發到不同結果單元可由（測試裝置的）功能塊控制，該功能塊對接收模式的位位置與待測元件不同功能塊的關聯進行追蹤。

因此，可通過快速、可靠和功率高效的電路系統中的專用硬體來分離與待測元件不同功能塊相關聯的誤差。另外，可與待測元件不同功能塊相關聯的不同結果單元可單獨地記錄或計數與待測元件不同功能塊相關聯的誤差，使得關於待測元件不同功能塊中出現一個或多個誤差的信息（例如，單獨的信息）在資源單元中是可用的。因此，由結果單元提供的信息可用於對待測元件進行評估和/或用於控制測試流程和/或用於任何其他測試目的。

在優選實施例中，測試裝置包括專用硬體，所述專用硬體被配置成選擇性地禁止對與待測元件的特定功能塊相關聯的接收模式的一個或多個位元（例如，在與待測元件的特定功能塊相關聯的位元位置處）與預期模式的一個或多個對應位元（例如，基於誤差所屬的被識別的邏輯塊或功能塊）進行比較（例如，由比較器執行）和/或選擇性地禁止轉發與待測元件的特定功能塊相關聯的接收模式的一個或多個位元（例如，在與待測元件的特定功能塊相關聯的位元位置處）與預期模式的一個或多個對應位元（例如，基於誤差所屬的被識別的邏輯塊或功能塊）之間的比較結果（例如，由比較器執行）和/或選擇性地禁止對與待測元件的特定功能塊相關聯的接收模式的一個或多個位元（例如，在與待測元件的特定功能塊相關聯的位元位置處）與預期模式的一個或多個對應位元（例如，基於誤差所屬的被識別的邏輯塊或功能塊）之間的比較結果進行處理（例如，由比較器執行）。

在使用這種概念的情況下，可選擇性地屏蔽對與待測元件的一個或多個指定功能塊相關聯的誤差的處置。如果已經認識到待測元件的特定功能塊生成了大量的誤差，這些誤差會干擾進一步的處理單元，則這是特別有用的。舉例來說，可使用所描述的機制來禁止對這種誤差進行記錄或進行更詳細的分析，這可例如有助於保持（節省）足夠的資源來對由待測元件的功能塊引起的誤差進行處置，這些功能塊僅表現出少量（並且易於管理）的誤差。因此，舉例來說，當在測試程序（或測試程序的一部分）的先前運行中發現待測元件的功能塊在接收模式中引起過多數量的誤差時，測試裝置可從對如此大量的誤差進行處置中解脫出來，並專注於待測元件的其他功能塊的測試。因此，在一些情況下，可顯著提高測試效率，這也可使得測試時間減少。

換句話說，可避免在待測元件的功能塊上浪費測試資源而在接收模式中生成過多的誤差。

在優選實施例中，測試裝置包括專用硬體，所述專用硬體被配置成識別與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式的一個或多個位元的不同塊，以便分離與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式內的誤差。

通過使用識別與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式的一個或多個位元的不同塊的專用硬體，可便於分離與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式內的誤差。舉例來說，可利用接收模式的一個或多個位元的不同塊與待測元件的功能塊的關聯的週期性來高效地識別與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式的一個或多個位元的不同塊。另外，專用硬體可利用這種事實，即在接收模式的一個或多個位元的塊與待測元件的功能塊之間可存在明確定義的關聯規則。舉例來說，該關聯池可由重複序列來定義，其中與待測元件不同功能塊相關聯的一個或多個位元的塊的長度可為已知的（例如，可為預定的或者可在查找表中進行定義等等）。然而，通過使用專用硬體來識別與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式的一個或多個位元的不同塊，會提供一種快速且省電的解決方案，其允許根據與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式的一個或多個位元的塊的識別來分離誤差。

已經發現，使用這種表會高效且以良好配置識別與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式的一個或多個位元的不同塊。具體來說，已經發現，對與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式的一個或多個位元的塊名稱進行定義的表是對接收模式內與待測元件不同功能塊相關聯的位元的典型重複出現的高效且可良好配置的描述。另外，已經認識到，可使用專用硬體來高效地對這種表進行評估，這會實現高效的實施方案。

在優選實施例中，測試裝置包括參考模式生成器，所述參考模式生成器被配置成生成表示預期模式的時間信號，並且其中測試裝置包括比較器電路，所述比較器電路被配置成將表示接收模式的時間信號與表示預期模式的時間信號進行比較，其中比較器被配置成響應於預期模式的位元與接收模式的位元之間的偏差而提供誤差信令（例如，通過啟用誤差信號）（其中測試裝置被配置成選擇性地啟用和/或禁用由比較器執行的比較，和/或其中測試裝置被配置成依據當前位元位置選擇性地將該誤差信令轉發到多個結果單元中的一者，從而分離與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式內的誤差）。

已經認識到，使用參考模式生成器和比較器電路允許高效地實施該概念，其中參考模式生成器通常可被重新用於測試裝置的其他功能。此外，比較器還可用于測試傳統的待測元件，這些待測元件不在單個信號中對多個功能塊的測試結果進行多路複用。因此，已經認識到，該實施方案特別高效並且非常適合集成到測試裝置中。

在優選實施例中，測試裝置被配置成個別地對待測元件不同功能塊的測試結果（例如，誤差標記、誤差計數）進行追蹤（其中測試結果可例如基於接收模式內的誤差）。

因此，測試裝置可提供指示功能塊是否已經生成誤差和/或指示功能塊已經生成多少誤差的個別信息。因此，在執行測試程序期間，不同功能塊的誤差狀態（是否已經出現誤差或者出現多少誤差）的概述已經是可用的，並且例如可用於據此做出測試流程決定。此外，在測試程序完成後，無需進一步的後處理（正確）即可獲得基本測試結果（例如待測元件的功能塊是否已經生成誤差），這使得測試非常省時。

在優選實施例中，測試裝置被配置成個別地對待測元件不同功能塊的測試結果（例如，誤差標記、誤差計數）進行追蹤，這些測試結果是對於每個測試模式或每次測試執行（其中，舉例來說，測試執行可包括（向待測元件）提供多個測試模式）而基於（例如，共用的）接收模式推導出的（其中所述裝置例如可在向待測元件提供後續測試模式之間讀出一個或多個結果單元和/或其中所述測試裝置例如可在向待測元件提供後續測試模式之間對一個或多個結果單元進行複位）。

因此，可基於每個測試模式高效地獲得待測元件不同功能塊的完整性的概述（如果需要）。可選地，如果足夠，可基於每個測試執行獲得對不同功能塊的完整性的概述。換句話說，個別地記錄（或計數）待測元件不同功能塊的測試結果的結果單元可例如基於每個測試模式被讀出。這為測試流程控制或測試裝置的用戶提供了哪些測試模式已經使得待測元件不同功能塊生成一個或多個誤差的信息。因此，測試流程控制或測試裝置的用戶被提供了高度信息化的測試結果，其中在執行測試程序期間分離與待測元件不同功能塊相關聯的誤差允許非常快速地提供這些有意義的測試結果。

個別地對不同功能塊的測試結果進行追蹤的結果單元可例如具有“保持”功能（臨時保存測試結果）和/或複位功能（在例如由測試程序定義的時間執行複位）。另外，應注意，測試程序還可控制結果單元的讀出（個別地對待測元件不同功能塊的測試結果進行追蹤）和/或結果單元的複位。

因此，以良好的效率和不具有延遲（或非常小的延遲）的情況下來提供有意義的信息。

在優選實施例中，所述裝置包括與待測元件不同功能塊相關聯的多個結果單元。測試裝置被配置成選擇性地對結果單元中的一或多者進行複位（例如，在向待測元件提供後續測試模式之間）和/或測試裝置被配置成選擇性地凍結結果單元中的一或多者（例如，在向待測元件提供後續測試模式之間）。

通過具有選擇性地對結果單元中的一或多者進行複位和/或選擇性地凍結結果單元中的一或多者的可能性，可（例如，對於測試程序或對於測試流程控制）確定應確定哪些時間部分的對由待測元件不同功能塊提供的誤差進行描述的結果。舉例來說，通過對結果單元進行複位，所述結果單元可準備好記錄測試程序的期望部分的結果。另外，通過凍結結果單元，可實現結果單元不受測試程序的特定部分期間出現的誤差的影響。另外，通過例如在測試程序的控制下對結果單元進行複位和/或凍結結果單元，可確保從結果單元中讀出可靠且有意義的結果。

在優選實施例中，測試裝置被配置成將接收模式與預期模式進行比較。另外，所述裝置被配置成單獨地記錄與接收模式的一個或多個位元的不同塊相關聯的比較失敗和/或單獨地記錄與待測元件不同功能塊相關聯的比較失敗（其中，接收模式的一個或多個位元的不同塊可與待測元件不同功能塊相關聯）。

通過將接收模式與預期模式進行比較並且通過單獨地記錄與接收模式的一個或多個位元的不同塊相關聯的比較失敗和/或通過單獨地記錄與待測元件不同功能塊相關聯的比較失敗，測試裝置可高效地確定（例如，記錄）待測元件不同功能塊中出現的誤差，因為接收模式的一個或多個位元的不同塊通常與待測元件的這些不同功能塊相關聯。因此，可提供指示待測元件不同功能塊的完整性的有意義的測試結果信息。

在優選實施例中，測試裝置被配置成使用對接收模式的位元與記錄比較失敗的不同結果單元（例如，誤差標記寄存器或誤差計數器）的關聯進行定義的映射方案和/或使用對接收模式的位元與待測元件不同功能塊的關聯進行定義的映射方案來單獨地記錄與待測元件不同功能塊相關聯的比較失敗。

舉例來說，對接收模式的位元與記錄比較失敗的不同結果單元的關聯進行定義的映射方案可等同於對接收模式的位元與待測元件不同功能塊的關聯進行定義的映射方案。舉例來說，不同的結果單元可與待測元件不同功能塊相關聯。

利用映射方案的這種概念可提供測試結果，該測試結果以特定的有意義的方式表徵待測元件的完整性，即針對待測元件的每個功能塊單獨地表徵。映射方案可反映將與待測元件不同功能塊相關聯的結果位元包含到由測試裝置接收的模式中。因此，測試結果可幫助測試流程控制或自動化測試設備的用戶來判定待測元件，其中測試結果通常具有非常低的等待時間，因為比較失敗的單獨記錄通常可發生在測試程序的執行期間，其中，舉例來說，映射方案可以這種形式實施，使得它可“即時地”或實時地被評估。

在優選實施例中，測試裝置包括多個個別的結果單元，所述結果單元被配置成（例如，個別地）對與待測元件不同功能塊相關聯的測試結果（例如，失敗）進行追蹤（例如，個別地對接收模式的不同位元的塊與預期模式的相應位元的偏差進行追蹤；例如，個別地對與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式的位元（例如，位元的塊）與預期模式的對應位元之間的偏差進行追蹤）。

通過使用個別地對與待測元件不同功能塊相關聯的測試結果進行追蹤的個別的結果單元，可個別地確定待測元件不同功能塊的完整性。因此，可以非常快速且高效的方式將顯示一個或多個誤差的待測元件的功能塊與無缺陷的功能塊區分開。舉例來說，如果使用個別的硬體（例如，使用單獨的誤差寄存器，該誤差寄存器由與待測元件的給定功能塊相關聯的接收模式中的誤差的第一次出現來設定並且例如由專用複位信號來進行複位，或者使用單獨的計數器，所述計數器在的每一者對與待測元件的一個或多個功能塊相關聯的接收模式內的誤差進行計數），可以快速且高效的方式獲得有意義的測試結果，例如不需要使用微處理器對接收模式進行任何後處理。由於可實時地或與傳入的接收模式的數據時鐘同步地“觸發”個別的結果單元（例如，記錄與待測元件的特定功能塊相關聯的誤差的存在），因此接收模式的大部分的緩衝可為不必要的。已經發現，用硬體實施的個別結果單元特別適合於這種應用。

在優選實施例中，測試裝置包括與待測元件不同功能塊相關聯的多個個別的誤差標記寄存器。

已經發現，可很容易地實施個別誤差標記寄存器。舉例來說，個別誤差標記寄存器可為“粘性”寄存器，其在與待測元件的相應功能塊相關聯的誤差第一次出現時被設定。因此，舉例來說，每一誤差標記寄存器可與待測元件的一個或多個功能塊相關聯，並且源自待測元件的所述一個或多個相應功能塊的接收模式中的誤差可使得對誤差標記寄存器進行設定。因此，誤差標記寄存器的狀態可高效地指示與相應誤差標記寄存器相關聯的一個或多個功能塊是否出現誤差（使得與該功能塊相關聯的接收模式中的一個或多個位偏離預期位值）。因此，誤差標記寄存器為待測元件不同功能塊提供了非常緊湊的“通過/不通過”或“通過/失敗”信息，其中這種“通過/不通過”信息對於待測元件的分類和/或關於測試流程的決定非常有幫助。

在優選實施例中，測試裝置包括多個個別的誤差標記寄存器，所述誤差標記寄存器被配置成響應於在接收模式的一個或多個位元的不同塊中出現的接收模式的位元與預期模式的對應位元之間的比較誤差（例如偏差）而被設定（其中，例如，不同的個別誤差標記（個別的）與接收模式的一個或多個位元的不同塊中的比較誤差相關聯，並且其中，例如，接收模式的一個或多個位元的不同塊與待測元件不同功能塊相關聯）。

已經發現，這種佈置允許實現有意義的測試結果，其中，可根據與待測元件不同功能塊相關聯的誤差的分離來決定應設置哪個個別的誤差標記寄存器。舉例來說，根據映射規則或映射方案控制的上述多路複用器可用于決定響應於誤差信號設定多個誤差標記寄存器之中的哪個誤差標記寄存器。舉例來說，可根據接收模式內的一個或多個位元的不同塊的區別來選擇性地轉發誤差信號。綜上所述，個別的誤差標記寄存器可構成獲得測試結果信息的非常高效的方法。

在優選實施例中，測試裝置包括與待測元件不同功能塊相關聯的多個個別的誤差計數器。

存在個別的誤差計數器對於獲得關於不同功能塊的有意義的測試信息非常有幫助，所述誤差計數器例如可個別地對與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式內的誤差進行計數。舉例來說，誤差計數器可允許識別不同功能塊在接收的模式中生成多少誤差。因此，可區分不生成任何誤差的功能塊、僅生成少量誤差的功能塊以及生成大量誤差的功能塊。因此，可對個別的誤差計數器的計數值進行評估，以對待測元件不同功能塊進行分類，這又可用於獲得待測元件的總體分類和/或控制測試流程。因此，顯而易見的是，使用個別的誤差計數器是非常強大的工具，它給出了待測元件的功能的有意義的見解。

在優選實施例中，測試裝置包括多個個別的誤差計數器，所述誤差計數器被配置成響應於在接收模式的一個或多個位元的不同塊中出現的接收模式的位與預期模式的對應位元之間的比較誤差（例如，偏差）而遞增（其中，例如，不同的個別誤差計數器（個別的）與接收模式的一個或多個位元的不同塊中的比較誤差相關聯；其中，舉例來說，不同的個別誤差計數器被配置成對接收模式的一個或多個位元的不同塊中的誤差進行計數；其中，舉例來說，接收模式的一個或多個位元的不同塊與待測元件不同功能塊相關聯）。

已經發現，這種個別的誤差計數器允許以高效和快速的方式獲得關於待測元件不同功能塊的有意義的測試信息。

在優選實施例中，測試裝置被配置成響應於檢測到接收模式的位元與預期模式（例如，參考模式）的位元之間的偏差且依據關聯規則（其例如，對接收模式的位元與待測元件的功能塊之間的關聯和/或接收模式的位元與誤差標記之間的關聯進行定義；其可例如將指示比較誤差的誤差信號路由到相應誤差標記寄存器的置位輸入）選擇性地對多個個別的誤差標記例如，與待測元件不同功能塊相關聯）之中的誤差標記（例如，單個誤差標記；例如，粘性誤差標記，其保持活動直到複位被明確實現）進行設定。關聯規則例如可為靈活的，例如呈某種可編程的形式。

在使用其中關聯規則確定響應於檢測到接收模式的位元與期望模式的位元之間的偏差而應對多個個別的誤差標記中的哪個誤差標記進行設定的概念的情況下，構成了用於處理接收模式的高效機制，其中不同的位元或位元的群組與待測元件不同功能塊相關聯。因此，不同的個別誤差標記可發信號通知由待測元件不同功能塊引起的誤差。然而，通過使用例如可為可編程的靈活的關聯規則，測試裝置可適用於不同的待測元件，其中接收模式中的位元位置與待測元件的功能塊之間的關聯可在不同的待測元件之間變化。

在優選實施例中，測試裝置被配置成響應於檢測到與待測元件的給定功能塊相關聯的接收模式的位元相對於預期模式偏離而對與待測元件的給定功能塊相關聯的個別誤差標記進行設定，以便單獨地記錄與待測元件不同功能塊相關聯的比較失敗。

因此，通過響應於檢測到與待測元件的給定功能塊相關聯的接收模式的位元相對於預期模式偏離而對個別的誤差標記進行設定，可毫不費力地獲得表徵待測元件不同功能塊的有意義的測試結果信息。

在優選實施例中，測試裝置被配置成響應於檢測到接收模式的位元與預期模式（參考模式）的位元之間的偏差並且根據關聯規則（其對接收模式的位元（例如，接收模式的位元的塊）與待測元件的功能塊之間的關聯和/或接收模式的位元與誤差計數器之間的關聯進行定義；其可例如將指示比較誤差的誤差信號路由到相應誤差計數器的時鐘輸入的遞增輸入）而選擇性地使多個個別的誤差計數器（與待測元件不同功能塊相關聯）之中的誤差計數器（例如個別的誤差計數器）遞增。

通過使用這種配置，可通過適度的努力獲得關於待測元件不同功能塊的完整性的細節。舉例來說，關聯規則確定哪個誤差計數器響應於檢測到接收模式的位元與預期模式的位元之間的偏差而增加。為此，關聯規則可基於接收模式中的哪些位元位置與待測元件的哪些功能塊相關聯的先驗知識。因此，可以非常快速的方式獲得表徵待測元件的非常有意義的誤差信息，而不需要花費大量的處理時間。

在優選實施例中，測試裝置被配置成響應於檢測到與待測元件的給定功能塊相關聯的接收模式的位元相對於預期模式偏離而使與待測元件的給定功能塊相關聯的個別誤差計數器遞增，以便單獨地對與待測元件不同功能塊相關聯的比較失敗進行計數。

因此，例如使用低複雜性的硬體，可實現待測元件不同功能塊的可靠表徵。舉例來說，不需要基於微處理器的接收模式的評估來獲得關於待測元件不同功能塊的有意義的誤差信息。

在優選實施例中，所述裝置被配置成記錄個別的失敗信息（其可例如被上傳到工作站用於詳細分析，例如在執行測試之後），所述失敗信息指示多個比較失敗的相應失敗位置（使得所述單個別的失敗信息描述相應比較失敗在接收的模式內的實際位元位置）。另外，所述裝置被配置成獲得概述失敗信息（例如，概述失敗圖；例如描述多個誤差標記寄存器的狀態的信息；例如，描述多個誤差計數器的狀態的信息），所述概述失敗信息以概要形式（例如，以待測元件的每個功能塊的單個二進制值的形式，指示與待測元件的相應功能塊相關聯的接收模式的至少一個位元是否已經相對於參考模式的對應位元偏離或者以每個功能塊單個計數器值的形式，指示與待測元件的個別的功能塊相關聯的接收模式的位元數已經相對於參考模式的對應位元偏離）單獨地對與待測元件不同功能塊相關聯的誤差（例如，比較誤差）進行描述。

已經發現，確定出個別失敗信息和概述失敗信息允許高效地測試待測元件，其中個別失敗信息允許精確地確定接收模式中的哪個位元是誤差的，概述失敗信息僅發信號通知待測元件不同功能塊中的哪個在接收模式中生成誤差（並且可選地提供功能塊在接收模式中已經生成多少誤差的信息）。舉例來說，通常不包括關於誤差位元在接收模式內的位置的精確信息的概述失敗信息允許快速判定待測元件的功能塊是否不生成任何誤差或者待測元件的功能塊是否生成一個或多個誤差。在一些情況下，例如，如果存在誤差計數器，概述失敗信息還可允許區分在接收模式內生成非常少量誤差的功能塊與在接收模式內生成大量誤差的功能塊。因此，概述失敗信息可非常快速地獲得，並且考慮到快速的可用性，可非常適合於做出測試流程決策。此外，概述失敗信息以非常緊湊的形式包括最相關的信息，即待測元件的哪些功能塊在接收模式中生成誤差的問題。

另一方面，記錄的個別失敗信息允許測試裝置的用戶進行更詳細的分析。因為所記錄的個別失敗信息通常可指示所接收模式內的哪一位是誤差的，且因此可允許非常詳細地識別誤差的來源（例如，下至單個柵極層級或甚至下至單個電晶體層級）。然而，應注意，在給定的資源限制下，可記錄的個別失敗信息的數量通常是有限的。因此，可能存在這種情況，其中有限數量的記錄的個別失敗信息僅描述了源自待測元件的個別功能塊的誤差，而概述失敗信息也允許識別源自待測元件的其他功能塊的誤差。

此外，應注意，概述失敗信息通常比個別失敗信息更快地可用和/或允許更快地做出一些結論，因為個別失敗信息通常包括更大量的信息，例如詳細的誤差位置信息等。

綜上所述，已經認識到確定個別失敗信息和概述失敗信息是有價值的，因為概述失敗信息特別適合於獲得待測元件完整性的總體情況和/或待測元件的分類和/或進行測試流程決策，而個別失敗信息允許對失敗進行更詳細的分析。

在優選實施例中，除了每功能塊誤差標記和/或每功能塊誤差計數之外，所述裝置被配置成以時間可識別的（例如，時間記錄的、可追蹤的）方式（例如，連同位元位置信息或時間戳信息）（例如，具有有限的記錄容量）記錄失敗週期（例如，接收模式的位元，對於所述位元而言與參考模式的比較指示偏差）。

除了每功能塊誤差標記和/或每功能塊誤差計數之外，通過以時間可識別的方式記錄失敗週期，所述測試裝置使得既可獲得對於待測元件的分類和/或測試流程決策非常有用的緊湊的概述信息，又可獲得非常適合於誤差的詳細分析的更詳細的信息。通過記錄失敗週期（例如用時間戳或位元位置值）而存在可用的信息，如果誤差的數目相對較小，則該信息特別有用。這種以時間上可識別的方式記錄的失敗週期可例如存儲在測試裝置中，並且可例如在測試程序執行後的後處理步驟中進行分析。可選地或另外地，以時間可識別的方式記錄的失敗週期可例如從測試裝置上傳到工作站，在工作站可使用軟體工具對其進行進一步分析。每功能塊誤差標記和/或每功能塊誤差計數可例如在測試程序的執行期間被評估，並且可例如直接用於待測元件的分類或者用於控制測試流程的執行。舉例來說，每功能塊誤差標記和/或每功能塊誤差計數可用於確定測試流程中接下來應執行哪個測試。

因此，記錄關於失敗週期的詳細信息和緊湊的“概要”信息的概念允許進行快速、高效和徹底的測試，並允許詳細瞭解待測元件的完整性。

在優選實施例中，測試裝置被配置成即使用於記錄個別失敗信息的存儲器被耗盡（例如，由於大量的比較失敗）仍繼續對概述失敗信息（例如，每功能塊誤差標記和/或每功能塊誤差計數）進行更新。

因此，即使存在大量可能例如由嚴重缺陷的功能塊引起的個別失敗信息，概述失敗信息仍提供關於待測元件不同功能塊的功能狀態的可靠信息。因此，即使在接收模式中存在大量位元誤差的情況下，概述失敗信息也允許對待測元件進行分類和/或非常快速地做出測試流程決定。因此，舉例來說，即使待測元件的單個有缺陷的塊在接收的模式中生成大量誤差並干擾個別失敗信息的記錄，仍可識別待測元件的無缺陷功能塊。因此，可顯著改善測試效率。

在優選實施例中，測試裝置被配置成選擇性地屏蔽（例如，省略）（例如，基於每功能塊或者以每功能塊粒度）對與待測元件的一個或多個功能塊相關聯的接收模式的位元的個別失敗信息（例如，誤差映射記錄）的記錄。可選地或另外地，測試裝置被配置成可選擇地（例如，基於每功能塊或以每功能塊粒度）啟用對與待測元件的一個或多個功能塊相關聯的接收模式的位元的個別失敗信息的記錄（例如，誤差映射記錄）。

通過選擇性地屏蔽或選擇性地啟用對個別失敗信息的記錄，對於與待測元件的一個或多個功能塊相關聯的接收模式的位元，允許將可用於記錄個別失敗信息的資源集中到一個或多個特別感興趣的功能塊的故障上。可選地，通過選擇性地屏蔽或選擇性地啟用對個別失敗信息的記錄，對於待測元件的一個或多個嚴重故障的功能塊，可避免記錄個別失敗信息，從而避免用於記錄個別失敗信息的資源的阻塞。因此，可記錄個別失敗信息，其集中於由待測元件的一個或多個所選功能塊引起的故障。因此，可以節省資源的方式獲得特定的有意義的分別失敗信息。

在優選實施例中，測試裝置被配置成使用表來確定應針對接收模式的哪些位省略（屏蔽）對個別失敗信息的記錄，所述表對與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式的一個或多個位的塊長度進行定義。

因此，可使用表來對接收模式的應記錄或者不應記錄個別失敗信息的位的選擇進行定義。因此，可實現個別失敗信息的一部分的選擇性屏蔽，這可例如有助於避免個別失敗記錄的堵塞。具體來說，已經認識到，使用對與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式的一個或多個位元的塊長度進行定義的表是區分應記錄個別失敗信息的接收模式的位元與不應記錄個別失敗信息的接收模式的位元的高效機制。

在優選實施例中，測試裝置包括專用硬體，所述專用硬體被配置成識別（例如，在運行時；例如，在從待測元件接收所述接收模式的過程中）接收模式的位元，對於所述接收模式的位元，應省略（例如，屏蔽）個別失敗信息的記錄（例如，使用對與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式的一個或多個位元的塊的長度、以及可選的啟動塊的長度、以及可選的週期進行定義的表）。

通過使用專用硬體來識別接收模式的位元，對於這些位元應省略對個別模式信息的記錄，可實現特別高效的實現。具體來說，通過使用專用硬體，可執行即時處理，這消除了對大量緩衝機制的需要。舉例來說，當使用專用硬體時，可例如通過抑制比較或通過禁用（或中斷）接收模式與參考模式之間的比較的誤差信令而在處理鏈的非常早的階段啟用或禁用個別失敗信息的生成。因此，計算複雜性可保持非常小並且對存儲器的要求也可放鬆。

在優選實施例中，測試裝置被配置成響應於檢測到選擇性地對與特定功能塊相關聯的位元的比較誤差進行計數的個別誤差計數器已達到預定最大值而（例如，自動地）啟用（例如，選擇性地）對與待測元件的特定功能塊相關聯的接收模式的位元的個別失敗信息的記錄的屏蔽（例如，選擇性地）（例如，在運行時；例如，在從待測元件接收所述接收模式期間）（例如，使得當已達到由特定功能塊生成的預定最大故障數時自動停止記錄與特定功能塊相關聯的個別失敗信息）。

自使用這種機制的情況下，如果認識到特定功能塊生成了過多的誤差，則可停止記錄與該功能塊相關聯的個別的失敗信息。因此，通過對源自待測元件的特定功能塊的誤差的數目進行計數，可限制與待測元件的特定功能塊相關聯的個別失敗信息的數量。這有助於避免在待測元件的一個或多個嚴重故障的功能塊存在的情況下，個別失敗信息的記錄受到干擾。相反，對於源自待測元件的其他功能塊的誤差，保持單獨的失敗記錄能力。因此，獲得了特別有意義的測試結果，因為該概念保持了記錄待測元件的幾個功能塊的個別失敗信息的可能性，即使在存在嚴重故障的功能塊的情況下（並且甚至考慮到記錄個別失敗信息的容量限制）。因此，該概念允許具有有意義的測試結果，該測試結果可由測試裝置的用戶進行分析，其中每個功能塊的個別失敗信息的數量可被限制。然而，每個功能塊的個別失敗信息量的這種限制通常不是問題，因為對於嚴重故障的功能塊，通常不需要具有完整的個別失敗信息。

因此，所述概念允許非常高效地執行測試並提供有意義的測試結果。

在優選實施例中，測試裝置被配置成使用表來識別接收模式的一個或多個位元的不同塊（例如，與待測元件不同功能塊相關聯），所述表對與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式的一個或多個位元的塊長度（以及可選地啟動塊的長度以及可選地週期）進行定義。

已經認識到，使用對與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式的一個或多個位元的塊長度進行定義的表來識別接收模式的一個或多個位元的不同塊是非常高效的概念，因為它與接收模式的典型結構非常一致，該接收模式包括與待測元件不同功能塊相關聯的位元的塊序列，其中所述一個或多個位元的塊包括可容易地在表中表示的預定長度。此外，在該機制中還可考慮與待測元件不同功能塊相關聯的位元的塊的週期性。因此，可實現該概念的高效實施方案，其可靠地識別與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式的一個或多個位元的不同塊，並因此允許分離源自待測元件的這些不同功能塊的誤差。

在優選實施例中，測試裝置被配置成使用所述表來識別與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式的一個或多個位元的週期性塊序列（例如，使得位元的塊與不同功能塊存在週期性關聯）。

通過利用接收模式的週期性，可顯著降低用於分離源自待測元件不同功能塊的誤差的機制的複雜性。舉例來說，基於表的機制的表可包括定義週期性的條目。然而，基於表的機制的表也可例如包括用於識別要忽略的接收模式的初始部分的機制。因此，該表的使用可例如定義與待測元件不同功能塊相關聯的一個或多個位元的部分的長度。如果合適，該表可定義一對數值，包括功能塊的長度信息和索引。此外，該表可例如包括對前進表條目的引用，從而表示週期性。

綜上所述，基於表的機制可例如包括一個或多個位元的塊的長度列表以及與一個或多個位元的塊相關聯的功能塊的索引列表以及對例如位元的塊的序列或後續序列的重複進行定義的週期性信息。因此，可以高效的方式實現對與待測元件不同功能塊相關聯的誤差的分離，因為該表的評估允許接收模式的位元與功能塊的可靠關聯。

在優選實施例中，測試裝置被配置成依據與待測元件的給定功能塊相關聯的接收模式內的誤差有關的信息（例如，依據與待測元件的給定功能塊相關聯的誤差標記寄存器的值和/或根據與待測元件的給定功能塊相關聯的誤差計數器的值）來對測試流程進行改編。

因此，可根據對待測元件的個別功能塊的測試結果進行描述的結果信息來對測試流程進行改編，其中由於在測試程序執行期間發生的與待測元件不同功能塊相關聯的誤差的分離，可非常快速地獲得（甚至在測試程序執行期間）該測試信息。因此，利用與待測元件不同功能塊相關聯的測試結果的快速可用性來提高測試質量，這是通過本文中公開的概念來實現的。舉例來說，如果發現待測元件的特定功能塊在接收模式中生成一個或多個誤差，則可觸發對該特定功能塊的重新測試。另一方面，如果在測試程序的執行期間獲得的測試結果信息（通過與待測元件不同功能塊相關聯的誤差的分離）指示特定功能塊發生嚴重故障，則測試可以這種方式進行調整，即省略該某個嚴重填充的功能塊的測試，以便高效地獲得其他功能塊的有意義的測試結果。因此，通過在測試程序執行期間分離誤差而獲得的與待測元件不同功能塊相關聯的測試結果信息可用於影響關於測試流程執行的決策。因此，通過執行適應於先前獲得的測試結果信息的測試程序或測試功能，可實現高測試效率。

在優選實施例中，測試裝置被配置成響應於確定出（例如發現或檢測到）與待測元件的給定功能塊相關聯的接收模式中的誤差的數目（例如比較誤差的數目）已達到或超過定最大數目而對測試流程進行改編。

在使用這種概念的情況下，測試流程可例如以這種方式進行調整，即嚴重故障的功能塊不會降低待測元件的進一步測試的可靠性或效率。舉例來說，進一步的測試可限於待測元件的其他功能塊，已經發現這些功能塊不生成誤差或者只生成少量誤差。舉例來說，可避免將測試時間花費在已經被識別為生成大量誤差的功能塊的測試上，因為不能期望該功能塊是無缺陷的。因此，測試資源（例如，測試時間和/或單個失敗記錄容量）可集中在待測元件的功能塊的測試上，這些功能塊不會在接收模式中生成過多的誤差。因此，可實現良好的測試效率。

在優選實施例中，測試裝置被配置成針對與待測元件的給定功能塊相關聯的接收模式的位元而啟用對個別失敗信息記錄的屏蔽或者禁用對個別失敗信息的記錄以及響應於確定出（例如發現或檢測到）與待測元件的給定功能塊相關聯的接收模式中的誤差的數目（例如比較誤差的數目）已達到或超過定最大數目（例如極限）而重複進行測試（例如完整的測試流程或測試流程的一部分）（例如利用相同的多核測試模式和相同的預期模式）。

在使用這種概念的情況下，可確保即使在待測元件存在嚴重故障的功能塊的情況下，也可為待測元件的多個不同功能塊記錄足夠量的個別失敗信息。具體而言，如果發現待測元件的特定功能塊生成了過多的誤差，則可自動禁止對這些誤差的單獨記錄，使得在重新執行測試程序時，有足夠的記錄容量來單獨記錄源自待測元件的其他功能塊（除了待測元件的嚴重故障功能塊之外）的誤差。

因此，可獲得有意義的測試結果，其不會被源自待測元件的嚴重故障功能塊的誤差所干擾。

實施例創建了一種用於測試待測元件的測試裝置（例如，測試處理器、或自動化測試設備的通道模塊、或自動化測試設備）。測試裝置被配置成從待測元件接收模式（例如，結果模式；例如，響應模式），所述模式包括（例如，以組合的形式；例如，以交錯的形式）來自待測元件的多個功能塊（例如，“核心”；例如，結果塊；例如，提供基本上獨立的測試結果或測試響應的功能塊）的信息（或者與所述多個功能塊相關聯的信息）（例如，測試結果；例如，測試響應信息）。測試裝置被配置成在執行測試程序期間分離（例如，單獨處理或單獨記錄）與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式內的誤差（例如，分離不同核心的誤差）（例如，以在執行測試程序期間獲得待測元件的每功能塊的測試結果（例如，待測元件的每核心測試結果））。

該實施例基於與以上公開的實施例相似的考慮，其中應注意，測試裝置被配置成在執行測試程序期間分離與一個或多個位元的不同塊相關聯的接收模式內的誤差。因此，在接收的模式內的位元與待測元件的功能塊之間沒有必要有固定的關聯。相反，該概念通常也是可用的，例如，在接收模式中的一個或多個位元的不同塊包括不同的含義、指示不同類型的誤差等情況下。然而，應注意，該概念可可選地由本文中公開的任何特徵、功能和細節來補充。

實施例創建了一種用於測試待測元件的方法。所述方法包括從待測元件接收模式（例如，結果模式；例如，響應模式），所述模式包括（例如，以組合的形式；例如，以交錯的形式）來自待測元件的多個功能塊（例如，“核心”；例如，結果塊；例如，提供基本上獨立的測試結果或測試響應的功能塊）的信息（或者與所述多個功能塊相關聯的信息）（例如，測試結果；例如，測試響應信息；例如，位元序列）。所述方法還包括在執行測試程序期間分離（例如，單獨處理或單獨記錄）與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式內的誤差（例如，分離不同核心的誤差）（例如，以在執行測試程序期間獲得待測元件的每功能塊的測試結果（例如，待測元件的每核心測試結果））。

所述方法基於與本文中討論的測試裝置相同的考慮。另外，應注意，所述方法可可選地由本文中公開的任何特徵、功能和細節來補充，既可單獨補充也可組合補充。

根據本發明的實施例創建一種電腦程式，當所述電腦程式在計算機上運行時用於執行根據權利要求37所述的方法。

1. 根據圖 1 的測試裝置

圖1示出根據本發明實施例的測試裝置100的示意性方框圖。

測試裝置100被配置成從待測元件102接收輸入信號110，其中待測元件102通常不是測試裝置100的一部分。舉例來說，輸入信號110可定義輸入模式。另外，測試裝置100被配置成基於輸入信號110提供測試結果信息112。

應注意，測試裝置100可為測試系統的一部分。然而，可例如在測試處理器中、或者在自動化測試設備的通道模塊中、或者通常在自動化測試設備中實施測試裝置100。

測試裝置100被配置成從待測元件接收模式（例如，結果模式；例如，響應模式）。接收模式通常包括（例如，以組合的形式；例如，以交錯的形式）來自待測元件的多個功能塊（例如，“核心”；例如，結果塊；例如，提供基本上獨立的測試結果或測試響應的功能塊）的信息（或者與所述多個功能塊相關聯的信息）（例如，測試結果；例如，測試響應信息；例如，位元序列）。測試裝置包括誤差分離或誤差分離器，其被配置成在執行測試程序期間分離（例如，單獨處理、和/或單獨轉發、和/或單獨記錄）與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式內的誤差，例如以分離待測元件不同功能塊或“核心”的誤差。

因此，在執行測試程序期間，測試裝置100可獲得待測元件的每個功能塊（例如，待測元件的每個核心）的（例如，單獨的或不同的）測試結果。因此，測試結果信息112可例如對與待測元件不同功能塊或核心相關聯的單獨測試結果進行描述。

因此，在執行測試程序期間，通過分離與不同功能塊相關聯的接收模式內的誤差或者通過分離與一個或多個位元的不同塊相關聯的接收模式內的誤差，可用適度的實施努力和非常低的等待時間獲得有意義的測試結果信息。因此，測試結果信息112可包括有意義的信息，該信息分別描述了在測試程序執行期間待測元件不同功能塊或核心的完整性，例如，沒有對完整接收模式的大量緩衝。因此，已經發現，所描述的概念在複雜性、測試覆蓋率、等待時間以及準確性之間提供了非常好的折衷。因此，測試裝置100有助於高效地測試待測元件，該待測元件以多路複用的形式（例如，通過單個共用引腳）提供不同功能塊或核心的測試結果。

另外，應注意，測試裝置100可可選地由本文中公開的任何特徵、功能和細節來補充。

2. 根據圖 2 的測試裝置

圖2示出根據本發明實施例的測試裝置200的示意性方框圖。測試裝置200從待測元件202接收輸入信號210。舉例來說，輸入信號210可為來自待測元件的一個引腳的信號。舉例來說，輸入信號可為待測元件對激勵信號的響應，並且輸入信號210可例如定義輸入模式。

另外，測試裝置200提供測試結果信息212，該測試結果信息212可例如包括概述失敗信息212a和/或個別失敗信息212b。舉例來說，概述失敗信息212a可以概括的形式分別描述與待測元件202的不同功能塊相關聯的誤差。舉例來說，概述失敗信息212a可指示例如對於多個功能塊或多個功能塊的群組而言哪些功能塊或功能塊的群組在接收模式內（例如，在由輸入信號210確定的模式內）引起至少一個誤差。舉例來說，概述失敗信息212a可包括每個功能塊或每組功能塊的一個二進制值，相應的二進制值指示待測元件的相應功能塊或功能塊的群組是否已經在接收的模式中引起至少一個誤差。可選地或另外地，概述失敗信息212a可包括單獨的計數值，該計數值對由待測元件不同功能塊或功能塊的群組生成的誤差的數目進行計數。因此，不同的計數值可例如描述在接收模式內的一個或多個位元的不同塊中發生的誤差（其中一個或多個位元的不同塊可與待測元件不同功能塊或功能塊的群組相關聯）。因此，計數器值可例如單獨指示接收模式中有多少誤差是由待測元件不同功能塊或功能塊的群組引起的。

因此，概述失敗信息212a可例如提供不同功能塊是否在接收模式內引起了誤差和/或待測元件不同功能塊（或功能塊的群組）在接收模式內引起了多少誤差的有意義的信息。因此，概述失敗信息允許判斷不同的塊（或功能塊的群組）是否已經如預期的那樣操作（例如，它們是否沒有在接收的模式內引起任何誤差），或者不同的功能塊（或功能塊的群組）是否沒有以預期的方式操作（例如，已經在接收的模式內引起至少一個誤差）。

另外，在計數器信息被提供作為概述失敗信息212a的一部分的情況下，也可快速判斷待測元件的一個或多個功能塊（或功能塊的群組）是否已經嚴重故障，從而在接收模式中導致相對較高數目的誤差。舉例來說，如果發現由待測元件的特定功能塊（或功能塊的群組）引起的接收模式內的誤差的數目達到或超過預定數目，則測試裝置可推斷出該功能塊（或功能塊的群組）已經嚴重失效。舉例來說，這種被識別的功能塊（或功能塊的群組）可被排除在進一步的測試之外，因為可假設嚴重故障的功能塊（或功能塊的群組）不需要被進一步測試，並且會使不會在接收模式中引起誤差或僅在接收模式中引起少量誤差的其他功能塊的測試複雜化或受到阻礙。

然而，應注意，通常在測試程序執行期間提供的概述失敗信息212a對於測試中的裝置的測試非常有幫助，因為它通常具有低等待時間，並且在某些情況下可能足以對測試中的裝置進行分類（例如，正常工作或有缺陷）。具體來說，概述失敗信息可提供待測元件不同功能塊（或功能塊的群組）的完整性的概述，這對於做出測試流程決策和/或待測元件的更精細分類可為有用的。

可為測試結果信息212的一部分的個別失敗信息212b可例如以時間上可區分的方式描述接收模式中的個別失敗。舉例來說，個別失敗信息212b可使用描述個別誤差發生的時間的定時信息來描述接收模式內的個別故障（例如，使用時間戳或位元位置索引等來描述接收模式內的個別誤差的位元位置）。個別失敗信息通常描述接收模式內的個別故障，而不是接收模式的完整副本，從而節省存儲容量。舉例來說，個別失敗信息對於失敗的詳細分析可能是有用的，例如確定待測元件的哪個硬體組件發生了故障。

測試裝置200包括比較器220，比較器220將接收模式（可由輸入信號210表示）與預期模式（例如可被認為是參考模式並且例如可由參考信號生成器或參考模式生成器提供）進行比較。舉例來說，比較器220可響應於檢測到接收模式中的誤差而提供誤差信令222（其中接收模式的位元與參考模式的位元之間的偏差可被認為是誤差）。舉例來說，比較器可為參考模式與接收模式之間的每個誤差提供誤差信令222，但是在一些情況下，對於接收模式內的一個或多個位元位置的不同塊，可選擇性地啟用和/或禁用誤差信令222的比較和/或提供和/或誤差信令222的轉發（例如，從而分離與待測元件不同功能塊（或功能塊的群組）相關聯的誤差）。

測試裝置200還包括概述失敗信息確定/概述失敗信息確定器230，其從比較器220接收誤差信令222並提供概述信息212。概述失敗信息確定230可例如被配置成執行位元位置相關/功能塊相關的誤差記錄和/或位元位置相關/功能塊相關的誤差計數。舉例來說，誤差記錄可執行比較失敗記錄，其中接收模式的一個或多個位元的不同塊中的比較失敗可被記錄在不同的誤差寄存器中。相似地，誤差計數可執行比較失敗計數，其中在接收模式的一個或多個位元的不同塊中發生的比較失敗可由不同的計數器計數。舉例來說，概述失敗信息確定可從控制器240接收控制信號，其中控制信號242可例如向概述失敗信息確定指示哪個誤差寄存器應由誤差信令啟用或者多個誤差計數器中的哪個誤差計數器應響應於故障信令222而遞增。考慮到輸入信號210的定時，控制器240例如可根據接收模式內的哪些位元位置與待測元件的哪個功能塊（或功能塊的群組）相關聯的先驗知識來提供一個或多個控制信號242。因此，概述失敗信息確定可分別記錄和/或計數由待測元件不同功能塊（或功能塊的群組）引起的比較失敗。因此，可生成有意義的概述失敗信息。

另外，測試裝置200包括個別失敗信息記錄/個別失敗信息記錄器250，其可從比較器220接收誤差信令222並且還可從控制器240接收一個或多個控制信號244。個別失敗信息記錄/個別失敗信息記錄器提供個別失敗信息212b。舉例來說，個別失敗信息記錄/個別失敗信息記錄器250可執行位元位置相關/功能塊相關誤差記錄，從而獲得個別失敗信息212b。個別失敗信息212b可例如包括對比較失敗的時間位置進行描述的時間信息。然而，個別失敗信息記錄器/記錄器250可以這種方式被控制，使得與待測元件不同功能塊相關聯的比較失敗（比較誤差）被單獨記錄和/或使得對於與待測元件不同功能塊相關聯的故障而言，個別失敗信息的記錄可被單獨啟用和/或禁用。舉例來說，個別失敗信息記錄的啟用和/或禁用可由控制器240提供的控制信號244來控制。因此，可選擇性地記錄與待測元件不同功能塊相關聯的個別失敗信息，其中，舉例來說，對於由待測元件的一個或多個特定功能塊引起的故障，可禁止對個別失敗信息的記錄。因此，可將個別失敗信息的記錄集中在與當前感興趣的待測元件的一個或多個功能塊相關聯的個別失敗信息上。可選地或組合地，對於源自待測元件的一個或多個特定功能塊的故障，例如對於嚴重故障（並因此生成過多故障）的待測元件的一個或多個特定功能塊，可選擇性地抑制對個別失敗信息的記錄。

舉例來說，如果概述失敗信息確定230確定出待測元件的特定功能塊已經在接收模式中生成達到或超過預定閾值的多個誤差，則對於待測元件的特定功能塊，測試裝置（例如，控制器240）可自動禁止記錄個別失敗信息。因此，舉例來說，可確保對於待測元件的給定功能塊（或者對於待測元件的所有功能塊），僅記錄預定最大數量的個別失敗信息。這種阻止待測元件的嚴重故障功能塊的個別失敗信息的進一步記錄可例如由概述失敗信息確定所提供的控制信號244來控制。

因此，測試裝置200可在測試程序的執行期間分離與待測元件的不同功能塊相關聯的接收模式內的誤差。舉例來說，概述失敗信息212a可為待測元件不同功能塊分別指示失敗信息，該失敗信息指示待測元件不同功能塊是否已經導致接收模式中的故障和/或待測元件不同功能塊已經導致多少故障。另外，所述裝置允許提供個別失敗信息，其中，由於分離與不同功能塊相關聯的接收模式內的誤差，可確定（設定）記錄個別失敗信息212b的誤差。舉例來說，對於由待測元件的特定功能塊引起的誤差，可選擇性地啟用和/或禁用個別失敗信息的記錄。因此，個別失敗信息的量可保持合理的小，從而減少存儲器需求和/或防止可用存儲器的阻塞（例如，通過禁止記錄由待測元件的嚴重故障功能塊生成的誤差）。

因此，測試裝置提供待測元件的非常高效的測試，其中幾乎沒有延遲地可用的概述失敗信息可有助於對待測元件進行分類，並且還可有助於做出測試流程決定。此外，個別失敗信息的選擇性記錄可有助於節省測試資源，並且即使在待測元件的一個或多個功能塊嚴重故障的情況下仍可高效地獲得有意義的測試結果。

另外，應注意，測試裝置200可可選地由本文中公開的任何特徵、功能和細節來補充，既可單獨補充也可組合補充。

3. 根據圖 3A-3B 的測試裝置

圖3A-3B示出根據本發明另一實施例的測試裝置300的示意性方框圖。

根據圖3A-3B的測試裝置300被配置成接收輸入信號310並且基於輸入信號310提供結果信息312，結果信息312可例如包括概述失敗信息312a和個別失敗信息312b。此處可假設待測元件302提供測試裝置300的輸入信號310。舉例來說，輸入信號310可為由待測元件302在待測元件302的引腳處輸出的信號。舉例來說，輸入信號310可為數位信號，其中來自待測元件的第一功能塊的測試結果數據被包括在輸入信號310的一個或多個位元位置的第一塊中，並且其中來自待測元件302的第二功能塊的測試結果數據被包括在一個或多個位元位置的第二塊中。換句話說，可例如使用預定的複用規則在輸入信號310中對來自待測元件310的不同功能塊的測試結果數據進行複用（例如，時間複用）。因此，輸入信號310可例如是源自待測元件的一個引腳的信號，並且可例如表示待測元件對也可由測試裝置提供的激勵信號的響應。舉例來說，輸入信號310可定義輸入模式，其在本文中也被指定為接收模式。

輸入信號310可可選地在測試裝置中經歷一些預處理，這在圖3中未示出。預處理可例如包括將實際類比輸入信號310轉換成數位信號、時間離散化（例如採樣）等。

因此，舉例來說，輸入信號的時間離散數位版本可被提供給比較器320。比較器320還從參考信號生成器/參考模式生成器326接收參考信號或參考模式。因此，比較器可將輸入信號310（或其數字化和時間數字化版本）與參考信號生成器326提供的參考信號328進行比較，或者比較器320可將接收模式（由輸入信號310定義）與參考模式生成器326提供的參考模式進行比較。舉例來說，比較器320可逐位比較輸入信號（或其數位化和時間離散化版本）與對應的參考信號，或者比較器可逐塊比較接收模式與參考模式。

應注意是，在本概念中，輸入信號310（或其數位化和時間數位化版本）之間的逐位元比較以及參考信號與接收模式與相應參考模式之間的逐塊比較可用於識別接收模式中的誤差（其中假設輸入信號的位元與參考信號的位元之間的差指示接收模式中的誤差以及接收模式中的一個或多個位元與參考模式中的一個位元之間的差也指示接收模式中的誤差）。換句話說，應注意，由測試裝置接收的輸入信號可被認為是對接收模式的表示。

換句話說，檢測由測試裝置接收的輸入信號的位元是否相對於參考信號的對應位元偏離是檢測接收模式中的誤差的一種可能性。然而，輸入信號310的位元的塊與參考信號生成器326提供的參考模式的位元的塊之間的逐塊比較是識別接收模式內的誤差的另一個概念。一般而言，應注意，輸入信號310的時間演變定義了接收模式，使得接收模式中的誤差的檢測對應於輸入信號與對應參考信號的偏差的檢測。

另外，應注意，由測試裝置接收的接收模式可為位元模式，其中（優選地根據預定的時分複用規則）對來自待測元件不同功能塊的測試結果數據進行時分複用。

比較器提供誤差信號322，其中誤差信號322可例如指示接收信號的位元與參考信號的位元之間的偏差或者等效地指示接收模式內的誤差。

舉例來說，可對誤差信號進行評估，以確定概述失敗信息。舉例來說，測試裝置300可包括一個或多個誤差分離器332a/誤差信號轉發器332b（其中，舉例來說，在多個誤差信號被同時或以接近時間順序生成的情況下，使用多個誤差分離器/誤差信號轉發器可為有利的），並且測試裝置300還可包括多個結果單元336a、336b、336n。舉例來說，誤差信號分離器332a可接收誤差信號322，並且根據控制信息（例如，根據誤差分離器控制信號342）將誤差信號322轉發到結果單元336a、336b、336n中的一者。舉例來說，誤差分離器332a可被認為是誤差信號轉發器，並且例如可使用多路複用器來實施。因此，誤差分離器332a可決定將誤差信號轉發到結果單元336a、336b、336n中的哪一個。

將誤差信號轉發到結果單元336a、336b、336n中的哪一個的決定可基於導致誤差信號322啟用的接收模式中的誤差位元與待測元件的哪個功能塊相關聯的確定。舉例來說，如果導致誤差信號322啟用的接收模式中的誤差位元與待測元件的第一功能塊相關聯（或由其引起），則可將誤差信號322轉發到第一結果單元336a。相反，如果導致誤差信號322啟用的接收模式內的誤差位元與待測元件的第二功能塊相關聯（或由其引起），則可將誤差信號322可被轉發到第二結果單元336b。此外，一般而言，如果誤差信號322的啟用是由與待測元件的第n個功能塊相關聯（或由其引起）的接收模式中的誤差位元引起的，則誤差信號322可由誤差分離器332a轉發到第n個結果單元336n。

相應的結果單元336a、336b、336n可例如被配和用於記錄被轉發到相應的結果單元的誤差信號的啟用。舉例來說，第一結果單元336a可包括誤差標記寄存器337a和/或誤差計數器338a。因此，如果誤差信號322被轉發到第一結果單元336a，則可對第一結果單元336a的誤差標記寄存器337a進行置位，從而指示接收模式中的誤差是由待測元件的第一功能塊引起的（其中，實際上，第一結果單元336a與待測元件的第一功能塊相關聯）。可選地或另外地，如果誤差信令（即，有效誤差信號322）被轉發到第一結果單元336a，則第一結果單元336a的誤差計數器338a將遞增。因此，結果單元336a的誤差計數器338a可對與待測元件的第一功能塊相關聯的接收模式內的誤差的數目進行計數。因此，結果單元336a可例如記錄在接收模式中是否存在由第一功能塊引起的誤差和/或在接收模式中存在多少由待測元件的第一功能塊引起的誤差。相似地，當（有效）誤差信號經由誤差分離器332a被轉發到第二結果單元336b時，第二結果單元336b的誤差標記寄存器337b將被啟用。換句話說，誤差標記寄存器337b將響應於與待測元件的第二功能塊相關聯（或由其引起）的接收模式中的誤差而被置位。可選地或另外地，第二結果單元336b的誤差計數器338b將響應於與待測元件的第二功能塊相關聯（或由其引起）的接收模式中的誤差的存在而遞增。

因此，相應的結果單元記錄和/或計數與待測元件的對應功能塊相關聯的接收模式中的誤差。然而，可選地，相應的結果單元也可記錄和/或計數由待測元件中的一組功能塊引起的接收模式中的誤差。換句話說，在待測元件的功能塊與結果單元之間沒有必要存在一對一的關聯。確切來說，在一些情況下（例如，如果結果單元的數目小於待測元件中的功能塊的數目），待測元件的多個功能塊可與單個結果單元相關聯。

綜上所述，使用例如由誤差分離器332a或由提供誤差分離器控制信號342的控制單元340控制的將誤差信號選擇性地轉發到結果單元中的一者，可在不同的結果單元中記錄和計數與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式中的誤差。因此，相應的結果單元的誤差標記寄存器指示與相應的結果單元相關聯的待測元件的功能塊是否在接收模式中引起誤差。相似地，相應的結果單元的誤差計數器指示與相應的結果單元相關聯的待測元件的功能塊在接收模式中引起多少誤差。因此，不同的結果單元提供關於待測元件不同功能塊的完整性的信息。舉例來說，結果單元的相應誤差標記寄存器指示待測元件的相應功能塊是否在接收模式中引起一個或多個誤差，並且相應的結果單元的誤差計數器指示待測元件的相應功能塊在接收模式中引起多少誤差。

因此，結果單元中的誤差標記寄存器和/或誤差計數器的信息可用作概述失敗信息312a。

應注意，結果單元可具有對誤差標記寄存器和/或誤差計數器進行複位和/或凍結誤差標記寄存器和/或誤差計數器的狀態，以及讀出誤差標記寄存器的狀態和/或誤差計數器的計數值的功能。舉例來說，讀出的值（例如，誤差標記寄存器的二進制值和/或誤差計數器的數值）可形成概述失敗信息。因此，概述失敗信息312a提供待測元件的哪個功能塊在接收模式中引起一個或多個誤差的快速概述。此外，概述失敗信息312a還可提供待測元件的哪些功能塊嚴重故障的快速概述，即，在接收的模式中生成大量誤差。

測試裝置300還包括（可選地）誤差記錄器350，其可提供個別失敗信息312b。舉例來說，誤差記錄器350可記錄（例如，儲存在儲存器中）詳細描述誤差並且通常包括精確定義誤差定時的時間信息的個別失敗信息。舉例來說，個別失敗信息可詳細描述接收模式中的多個誤差，包括誤差發生的精確時間（或位元位置）。由於通常假設接收模式僅包括相對少量的誤差，因此存儲個別的誤差信息通常比存儲完整的接收模式以用於稍後的評估要高效得多。然而，個別誤差信息通常允許測試裝置的用戶詳細分析待測元件中的誤差。因此，個別失敗信息通常允許更精確地計算出待測元件中發生了哪種類型的誤差，而概述失敗信息312a通常僅允許識別待測元件的功能塊中發生了誤差以及待測元件的功能塊發生故障的嚴重程度。

然而，測試裝置300可被配置成使得對於源自待測元件的特定功能塊的誤差可選擇性地啟用和/或禁用對個別失敗信息的記錄。舉例來說，控制單元340可提供一個或多個誤差記錄控制信號343，誤差記錄控制信號343選擇性地啟用和/或禁止對與待測元件的特定功能塊相關聯的接收模式內的誤差的個別失敗信息的記錄。舉例來說，當控制單元340發現接收模式的當前分析的位元位置與待測元件的功能塊相關聯時，控制單元340可啟用對個別失敗信息的記錄和/或可允許將故障信號322轉發到誤差記錄器350。另一方面，如果控制單元340發現當前分析（或處理）的位元位置與不應記錄單個誤差信息的待測元件的功能塊相關聯，則控制單元340可提供一個或多個控制信號，以禁止誤差記錄器350記錄誤差，或者禁止將誤差信號320轉發到誤差記錄器350（從而防止記錄個別失敗信息）。

因此，控制單元340可對當前由比較器320處理的當前位元位置與待測元件的哪個功能塊相關聯進行追蹤，並且可相應地控制誤差分離器332a，以將可能的誤差信號轉發到適當的結果單元，並且還可啟用或禁用對個別失敗信息的記錄。因此，可避免記錄待測元件的一個或多個功能塊的個別失敗信息。如果之前已經發現待測元件的一個或多個功能塊嚴重失敗，即在接收模式中提供非常大量的誤差，這是特別有利的。在這種情況下，通過禁止記錄來自待測元件的嚴重故障功能塊的接收模式中的個別失敗信息，可防止誤差記錄器或誤差記錄器的單個故障存儲器的阻塞。

另外，應注意，在測試裝置300中，對於結果單元識別出過量故障的待測元件的功能塊，可例如自動禁止記錄個別失敗信息。舉例來說，如果與待測元件的特定功能塊相關聯的結果單元的誤差計數器達到或超過預定閾值，則對於與待測元件的某個嚴重故障功能塊相關聯的位元位置，可自動禁止記錄個別失敗信息。為此目的，可使用簡單的控制邏輯，該控制邏輯識別某個結果單元的誤差計數器已經達到或超過預定閾值，並且該控制邏輯禁用對所接收模式的一個或多個位元的相關塊的個別失敗信息的記錄。

應注意，控制單元340可用於為誤差分離器332a提供控制信號，並且還用於啟用和禁止誤差記錄器350記錄對個別失敗信息的記錄。舉例來說，控制單元340可與向待測元件提供激勵信號的激勵生成器、參考信號生成器326和比較器320定時同步。因此，控制單元340可例如與輸入信號310的位元時鐘時間同步地操作。因此，控制單元340可對所接收的輸入信號310的位元進行計數，並且因此能夠與所接收的信號310的位元同步操作。舉例來說，控制單元可對輸入信號310的接收位元進行計數，從而推斷各個位元與待測元件的哪些功能塊相關聯。舉例來說，控制單元340可包括輸入信號310內的位元位置組的基於表的定義。基於表的定義可例如對輸入信號310內不同位元的群組（或塊）的長度進行描述。舉例來說，位元位置組的基於表的定義可指示輸入信號以許多應被丟棄的“不可靠”位元開始。控制單元340使用的位元位置組的基於表的定義然後可指定下一位的群組與待測元件的第一功能塊相關聯，並且隨後的位元的群組與待測元件的第二功能塊相關聯。一個或多個位元的不同組的長度也可在位元位置組的基於表的定義中定義。

此外，位元位置組的基於表的定義還可包括關於位元的群組的重複的信息（例如，重複計數）。舉例來說，位元位置組的基於表的定義可包括跳躍位置信息或週期性信息，其可例如定義位元位置組序列的重複。舉例來說，跳轉位置信息可指示跳回到基於表的定義的某一行，從而定義位元位置組與待測元件的功能塊的關聯的定義的重複。因此，輸入信號310內的位元位置組的週期性可由該表來定義。

因此，控制單元340可能夠為接收模式內的每個位元確定功能塊索引。換句話說，對於接收模式中的每個位元，控制單元340可確定該位元與待測元件的哪個功能塊相關聯（其中接收模式的一些位元可能實際上與待測元件的任何功能塊都不相關聯，這可例如由表示沒有關聯的“特殊”功能塊索引來指示）。因此，舉例來說，控制單元340可為接收模式的每個位元（位元位置）提供功能塊索引，包括指示沒有關聯的索引。該索引可例如用於控制誤差分離器332a，因為該索引可定義誤差信號（或誤差信令）應被轉發到哪個結果單元336a、336b、336n。另外，由控制單元340確定的索引還可用於確定在相應的位元出錯的情況下，誤差記錄器350是否應記錄個別失敗信息312b。舉例來說，可界定應針對控制單元340已將某些索引值與其相關聯的誤差位元（位元位置）記錄個別失敗信息，而如果其他索引值與誤差位元（位元位置）相關聯，則不應記錄個別失敗信息。因此，控制單元340可例如基於位元位置組的基於表的定義並利用與激勵生成器、參考信號生成器和比較器的定時同步來區分一個或多個位元位置的不同組，並且控制單元340可根據其中一個或多個位元的組（在位元位置組的基於表的定義中定義）發生誤差的確定來控制概述失敗信息的生成和個別失敗信息的記錄。因此，測試裝置300可獲得指示待測元件不同功能塊的完整性的概述失敗信息312a，並且測試裝置可獲得待測元件的所選功能塊的個別失敗信息312b。

另外，應注意，測試裝置包括測試流程控制380，其可例如確定執行哪些測試程序。舉例來說，測試流程控制可控制刺激生成器和參考信號生成器，但是測試流程控制也可控制測試裝置的其他部件。然而，測試流程控制380可根據概述失敗信息312a來決定測試流程的執行。在這點上，應注意，概述失敗信息312a幾乎沒有等待時間就可獲得，因為概述失敗信息312a通常是在測試程序執行期間確定的。因此，測試流程控制380可基於概述失敗信息快速識別待測元件的哪些功能塊看起來沒有誤差，以及待測元件的哪些功能塊出現故障或嚴重故障。因此，測試流程控制380可考慮由概述失敗信息提供的關於待測元件不同功能塊的功能狀態的信息，來決定應執行哪些測試程序。因此，可實施特別高效的測試流程，因為例如可避免對嚴重故障功能塊的進一步測試或者因為例如可對嚴重故障功能塊進行更詳細的分析。

自然地，響應於概述失敗信息，還可修改測試參數，如電源電壓、時鐘頻率等。

綜上所述，測試裝置380以非常高效和快速的方式提供了關於待測元件的大量信息。還可防止個別失敗信息記錄的堵塞，並且可將個別失敗信息記錄指向一個或多個特別感興趣的功能塊。也可通過利用概述失敗信息來優化測試流程控制。

此外，應注意，裝置300的功能可完全或部分地在硬體中實現，以允許特別快的反應時間。然而，應注意，測試裝置300的至少一些功能可可選地以軟體實施。

此外，應注意，測試裝置可可選地包括多個誤差分離器/誤差信號轉發器。舉例來說，如果比較器在輸入信號的位元的塊與參考信號的位元的塊之間執行逐塊比較，這可為有利的。在這種情況下，可對由所述逐塊比較生成的多個誤差信號進行並行處理。然而，應注意，沒有必要具有多於一個的誤差分離器/誤差信號轉發器。

此外，應注意，此處描述的功能也可使用不同的功能塊來實施。舉例來說，誤差分離器/誤差信號轉發器的功能可在結果單元中實施，例如使用選擇性啟用機制。

相似地，應注意，不同的實際實施方式可用於選擇性地啟用和禁用對個別失敗信息的記錄。然而，具有對接收模式的當前考慮的位元與一個或多個位元的哪個組相關聯進行追蹤的控制機制似乎是重要的（這對應於追蹤接收模式的位元與哪個功能塊相關聯）。通過知道接收模式的位元與哪些位元的群組（或者等效地，與待測元件的哪些功能塊）相關聯，可高效且準確地控制概述失敗信息和/或個別失敗信息的確定。

另外，應注意，根據圖3的測試裝置300可可選地由本文中公開的任何特徵、功能和細節來補充。

4. 根據圖 4 的位元流

圖4示出由待測元件提供的示例性位元流的示意圖。位元流用400表示。

位元流由待測元件提供並且可構成由本文中公開的測試裝置接收的接收模式。

舉例來說，位元流可在邏輯上被分成32位元的塊，其中每行410a、410b、410c示出了源自待測元件的不同引腳的32位元序列。舉例來說，位元0至2、8至10、16至18和24至26可不與待測元件的功能塊相關聯，但是可例如提供一般信息，如同步信息、奇偶信息、未定義信息或確定的固定值。然而，位元位置3至7、11至15、19至23和27至31可提供與待測元件不同功能塊相關聯的信息。舉例來說，位元位置3至7、11至15、19至23和27至31可包括待測元件不同功能塊的測試結果。

舉例來說，待測元件不同功能塊可由從測試裝置提供的一個或多個激勵信號激勵，其中激勵信號可例如輸入到待測元件的掃描鏈中和/或可在（例如待測元件的）輸入端子輸入。然而，待測元件的功能塊的結果信息可例如基於待測元件（或待測元件的功能塊）的內部信號，這些信號被一起多路複用到位元流400中。

舉例來說，在第一行410a中可看出，用422a表示的位元序列可從待測元件的（第一）功能塊e的位元e0開始，可從待測元件的（第二）功能塊c的兩個位元c7、c3繼續，可從待測元件的（第三）功能塊b的兩個位元b6、b2繼續，可從待測元件的（第四）功能塊a的三個位元a8、a4、a0繼續，可從來自待測元件的（第五）功能塊g的兩個位元g4、g0繼續，並且可以來自待測元件的第一功能塊e的兩個位元e8、e4結束。因此，序列422a可包括源自待測元件的五個不同功能塊的12個位元（三個位元來自功能塊e，兩個位元來自功能塊c，兩個位元來自功能塊b，三個位元來自功能塊a，並且兩個位元來自功能塊g）。可看出，源自待測元件不同功能塊的位元（例如，其可表示各個功能塊的內部信號的狀態）被交織成共用信號。舉例來說，不同的位元位置可與待測元件的功能塊的不同內部信號相關聯，使得不同位元位置中的實際值實際上可隨時間變化，例如，根據待測元件不同功能塊的“激勵”。因此，舉例來說，位元位置e0處的位元可描述第一功能塊e的某個內部信號的狀態，位元位置e8處的位元可描述第一功能塊e的另一個內部信號的狀態，並且位元位置e4處的位元可描述功能塊e的又一個內部信號。相似地，位元位置c3及c7處的位元可描述功能塊c的不同內部信號。

然而，位置的分配可能以某種週期性繼續下去。舉例來說，在行410a的第一行中示出的32個位元的組的位元位置21可再次表示待測元件的相同內部信號，該信號是在第一個32個位元的塊中的位元位置3處發信號通知的（但是在稍後的時刻）。此外，下面的位元位置22、23、27、28、29、30和31可描述已經在位置4、5、6、7、11、12和13表示的各個功能塊的相同內部信號。

然而，相似的信號可出現在待測元件的不同引腳上，如在第二行410b和第三條行410c中可看到的。

一般而言，應注意，待測元件通常提供用作測試裝置的輸入信號的信號，並且該信號包括週期性。由待測元件在測試裝置的輸入端子提供的信號通常包括描述待測元件內的各種信號的重複位元序列，這些信號通常是待測元件的功能塊的內部信號，但是也可包括外部可用的信號。

然而，測試裝置被配置成對位元序列的哪些位元屬於待測元件的哪些功能塊（或者接收信號或“接收模式”的哪些位元屬於哪組功能塊）進行追蹤，並且因此可分離屬於待測元件不同功能塊或功能塊的群組的誤差。為此目的，測試裝置可被配置成使用定義接收信號或接收模式中的哪些位元（或位元位置）與待測元件的哪些功能塊相關聯的規則（例如使用基於關聯規則定義的表）來追溯分配。

舉例來說，關聯規則的基於表的描述可通過位元的群組的長度（一個或多個位元）以及通過指定其相關功能塊或其相關功能塊的群組的索引來定義位元的群組。另外，關聯規則的基於表的定義可可選地包括週期的定義和不與待測元件的任何功能塊相關聯的位元的定義（例如，位元位置0至2、8至10、16至18和24至26）。

然而，應注意，如圖4所示的位元流400應當被認為僅僅是示例，並且也可存在位元流的不同格式。

5. 根據圖 5 的映射機制

圖5示出映射機制的示意性方框圖，該映射機制可用在根據本發明的測試裝置中。舉例來說，根據圖5的映射機制500可可選地用於本文中討論的任何測試裝置中，例如根據圖1的測試裝置100、根據圖2的測試裝置200或根據圖3的測試裝置300中。然而，映射機制500也可構成可獨立使用的獨立實施例。

根據圖5的映射機制500被配置成接收通過/失敗數據（PFD）510。

另外，映射機制500基於通過/失敗數據510提供屏蔽通過/失敗數據512和/或每核心通過/失敗數據514。舉例來說，映射機制500包括硬體映射器520，硬體映射器520接收通過/失敗數據510，並基於此提供屏蔽通過/失敗數據512和/或每核心通過/失敗數據514。硬體映射器520從映射方案530接收映射數據522。

舉例來說，映射方案530可定義硬體映射器520應如何將通過/失敗數據510映射到屏蔽通過/失敗數據512和/或每核心通過/失敗數據514上。舉例來說，映射方案530可定義在屏蔽通過/失敗數據512中應阻止（或省略）哪個通過/失敗數據510，和/或可定義應將哪個通過/失敗數據510接管到屏蔽通過/失敗數據512中。舉例來說，映射方案530可定義通過/失敗數據510的某些位元可被接管到屏蔽通過/失敗數據512中，或者映射方案530可定義通過/失敗數據510的某些位元應被阻止並且不應被接管到屏蔽通過/失敗數據512中。

映射方案530可例如包括應在屏蔽通過/失敗數據510中接管的通過/失敗數據510的位元位置（例如位元的群組）的定義和/或不應從通過/失敗數據510接管到屏蔽通過/失敗數據512中的位元位置（例如位元的群組）的定義。舉例來說，硬體映射器520可包括可控傳輸門，以基於通過/失敗數據510獲得屏蔽通過/失敗數據512，其中可控傳輸數據可由映射數據522控制。

另外，硬體映射器520可分發通過/失敗數據510（例如，到多個不同的輸出），從而獲得每核心通過/失敗數據或每核心通過/失敗信號514。舉例來說，硬體映射器可將通過/失敗數據510的一部分轉發到第一輸出，並且可將通過/失敗數據510的另一部分轉發到另一輸出。舉例來說，硬體映射器520可包括多路複用器，以選擇性地將通過/失敗數據510轉發到相應的輸出，其中多路複用器例如可由映射數據522控制。因此，與待測元件的第一功能塊（例如，核心）相關聯（例如，源自該第一功能塊）的通過/失敗數據的一個或多個位元可由硬體映射器轉發到第一輸出，並且硬體映射器510（或其多路複用器）可將與待測元件的另一功能塊（例如，核心）相關聯的通過/失敗數據510的一個或多個其他位元轉發到另一輸出。因此，通過/失敗數據510可被分成與待測元件不同功能塊（例如，核心）相關聯的通過/失敗數據，使得例如通過/失敗數據510的不同位元可被轉發到不同的輸出，用於單獨的每核心通過/失敗數據信號。這種多路複用也可由從映射方案530導出的映射數據522來控制。

僅作為示例，映射機制500可例如被配置成將基於位元e0、e4、e8、c3、c7、b2、b6、g0和g4的通過/失敗數據轉發到屏蔽通過/失敗數據512中，但是可例如阻止源自位元a0、a4和a8的通過/失敗數據，使得基於位元a0、a4、a8的通過/失敗數據不包括在屏蔽通過/失敗數據512中。舉例來說，如果功能塊（或核心）a嚴重故障（例如，生成大量故障位元），這可為有幫助的。因此，指示誤差位元的通過/失敗數據的量可保持相當小。

另外，映射機制500可例如被配置成選擇性地將基於位元a0、a4和a8的通過/失敗數據轉發到第一輸出（第一每核心通過/失敗數據輸出），將基於位元b2和b6的通過/失敗數據轉發到第二輸出（第二每核心通過/失敗數據輸出），將源自位元c3和c7的通過/失敗數據轉發到第三輸出（例如，第三每核心通過/失敗數據輸出），將源自位元e0、e4和e8的通過/失敗數據轉發到第四輸出（例如，到第四每核心通過/失敗數據輸出端），並將源自位元g0和g4的通過/失敗數據轉發到第五輸出（例如，第五每核心通過/失敗數據輸出端）。因此，基於與待測元件不同功能塊（核）相關聯的接收模式內的位元的通過/失敗數據可被轉發到硬體映射器520的不同輸出，使得與待測元件不同功能塊（例如核）相關聯的誤差可被分別記錄和/或計數。

另外，應注意，硬體映射器520可例如接管誤差分離器/誤差信號轉發器332a的功能和/或將誤差信號選擇性地傳送到誤差記錄器350的功能。舉例來說，通過/失敗數據510可對應於一個或多個誤差信號322，並且屏蔽通過/失敗數據512可例如對應於觸發誤差記錄器350的一個或多個屏蔽的誤差信號。另外，每核心通過/失敗信號514可例如對應於被選擇性地轉發到結果單元336a、336b、336n的誤差信號。映射方案530可例如由控制單元340評估，並且映射數據522可例如對應於誤差分離器控制信號342和/或誤差記錄控制信號343。舉例來說，在硬體映射器520中實施的複用功能可對應於在誤差分離器/誤差信號轉發器332a中實施的複用功能。

在硬體映射器520中實施的屏蔽功能可例如對應於從比較器320到誤差記錄器350的一個或多個誤差信號的選擇性轉發。映射方案530的評估可例如由控制單元340執行，其中映射方案530可例如對應於圖3所示的位元位置組的基於表的定義。

另外，應注意，由映射方案530定義的映射應優選地在X個週期之後是週期性的。然而，映射的功能通常取決於所使用的映射方案（其中，在一些實施例中，可使用基於表的映射方案）。

綜上所述，圖5示出可在本文中公開的任何實施例中使用的映射機制的方框圖。

另外，應注意，圖5的映射機制可可選地由本文中公開的任何特徵、功能和細節來補充。

6. 根據圖 6 的每核心結果映射器和映射方案

在下文中，將參照圖6描述每核心結果映射器（RPC，RPCM）。應注意，以下描述的每核心結果映射器可可選地用在本文中公開的任何實施例中。

每核心結果映射器（RPC）可被配置成查看比較結果（例如，評估比較結果），但是（例如）具有四個組件週期的粒度（例如，具有四個位元的粒度或者具有四個字節的粒度，例如，如果組件週期提供四個字節）。然而，可使用不同長度的組件週期，並且也可使用由每核心結果映射器處理的不同數目的組件週期。此外，每核心結果映射器可可選地對單個位元進行操作。

關於這個問題，應注意，如果映射描述沒有在映射器行的末尾結束，則應展開（或者，在某些情況下，需要展開）直到它適合為止。

舉例來說，如果希望（或有必要）最初忽略一些測試處理器週期，可映射到一個未使用的核心。舉例來說，未使用的核心索引可與這種數據相關聯（與要被忽略的測試處理器週期相關聯）。

現在參考圖6，將描述映射方案和映射方案的基於表的定義。舉例來說，映射方案用於所謂的“X4模式”,其中例如四個組件週期被一起處理。然而，映射方案也可用在不同的模式中，甚至用在單獨處理接收模式的各個位元的模式中。

舉例來說，基於表的定義600（可被認為是映射描述）包括多個行610a至610n。舉例來說，基於表的定義600可包括多個列612a至612d，其中列的數目可在一列與多個列之間變化。

舉例來說，一列與每個組件週期相關聯，但是不同的關聯是可能的。舉例來說，在一個簡單的實施例中，可只有一列，並且該列可與一個或多個位的單個群組相關聯。

可選地，行可具有重複指示符616，其可例如指示行是否應重複和/或可指示行應重複多少次。可選地，行可包括跳轉指示符（未示出），該跳轉指示符例如可定義跳回到前一行或者進一步跳到下一行。

在圖6所示的示例中，行610a、610b、610c、610d（或至少一些行）針對每個組件週期包括一個數據字段，其中數據字段可例如包括與相應組件週期相關聯的每位元一個功能塊索引（或核心索引）。舉例來說，如果假設在前四個組件週期DC1、DC2、DC3、DC4（由第一行610a描述）中不應評估接收模式的位元，則在第一行的數據字段中包括另外未使用的功能塊索引（例如“9”），該數據字段與接收模式的位元到功能塊的關聯相關。舉例來說，組件週期1、組件週期2、組件週期3和組件週期4的所有位元的功能塊索引可被設定為否則未使用的功能塊索引值9。舉例來說，這可能導致控制器340或映射方案530或硬體映射器540丟棄（不轉發）與相關組件週期相關聯的誤差信號。

舉例來說，第一行610a還可包括重複指示616，其指示第一行610的定義應重複n次。因此，4×n個組件週期的接收模式的接收位元將被丟棄。舉例來說，如果待測元件在測試開始後需要4×n個組件週期來提供可預測的（確定性的）結果，這可能是合理的。因此，與這4×n個組件週期相關聯的接收模式將不會對誤差記錄、誤差計數或誤差記錄（如用於記錄個別信號信息）有所貢獻。

然而，從行1（610b）開始，映射600的一行或多行將定義接收模式的位元與待測元件的（實際）功能塊（核心）的關聯。

舉例來說，行610b的第一條目可定義第一組件週期的位元（全部）與待測元件的第一功能塊相關聯（功能塊索引“1”）。行610b中的第二條目可指示第二組件週期的三個位元與待測元件的第二功能塊相關聯（功能塊索引“2”），並且第二組件週期的另外的位元與第三功能塊相關聯（功能塊索引“3”）。另外，行610b的第三條目可指示第三組件週期的第一位元可與待測元件的第三功能塊相關聯（功能塊索引“3”），並且第三組件週期的其他位元與待測元件的第四功能塊相關聯（功能塊索引“4”）。另外，行610b的第四條目指示第四組件週期的（所有）位元再次與待測元件的第一功能塊相關聯（功能塊索引“1”）。

另外，行610c和610d中的定義是相似的。然而，從圖6中可明顯看出，與待測元件不同功能塊相關聯的位元具有例如三個組件週期的週期。因此，鑒於行610b至610d中的每一行定義了四個組件週期的位元與待測元件的功能塊的關聯，就圖6的表的整行而言，在行610d的末端達到週期性。

因此，例如在行610d的條目中，或者在下一行的條目中，或者在單獨的信息中，可存在指示，即當行610d的映射已經完成時，映射應跳回到行610b的開始。因此，將會有在行610b到610d中定義的關聯的重複。因此，可高效地考慮位元位置與功能塊的關聯的週期性。

然而，應注意，可使用不同的機制來定義一個或多個位元的塊與待測元件的功能塊的關聯。舉例來說，在大的塊長度的情況下，使用一個值來定義位元的塊的長度可能更高效（例如，根據位元或根據字節或根據任何看起來合適的長度單位），其中在這種表或列表中使用重複或跳轉的指示仍是有利的。

綜上所述，針對圖5和圖6描述的概念可可選地用於任何實施例或本發明中。然而，應注意，針對圖5和圖6描述的功能可可選地由本文中公開的任何特徵、功能和細節來補充，既可單獨補充也可組合補充。此外，參考圖5和圖6描述的概念可可選地單獨使用。

在下文中，作為示例，將簡要描述每核心結果映射器（RPC，RPCM）如何工作。在一個實施例中，RPC查看比較結果，但是具有四個組件週期的粒度。如果映射描述沒有在映射器行的末尾結束，它可能會被展開，直到適合為止。舉例來說，自動化測試裝置可在X4模式下操作，其中，舉例來說，每個步驟處理四個組件週期。

舉例來說，如果希望最初忽略一些測試處理器週期，可映射到一個未使用的核心。

舉例來說，映射從行#1開始。

在#3的末尾，可編程跳轉回#1的開頭，在某些情況下，這將永遠運行下去。舉例來說，重置會將指針放回到#0的開頭。

換句話說，基於表的機制能夠處理跳轉指令以跳轉到表的另一行，例如，返回到前一行。可對無限重複進行編程，這可例如由測試流程控制380來停止，但是可替換地，也可在基於表的機制中限制重複的次數。

然而，應注意，這些實施方案都應被認為是可選的。

7. 根據圖 7 的方法

圖7示出用於測試待測元件的方法700的流程圖。方法700包括從待測元件接收710模式，所述模式包括來自待測元件的多個功能塊的信息。所述方法還包括在執行測試程序期間分離與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式內的誤差（720）。因此，可使用方法700獲得每功能塊的測試結果。

應注意，方法700基於與上述測試裝置相同的考慮。

另外，應注意，方法700可可選地由本文公開的任何特徵、功能和細節來補充，既可單獨補充也可組合補充。

8. 實施例中的其他方面和結論

在下文中，將描述關於本發明的其他方面和細節。此外，還將給出相應的結論。然而，應注意，本文公開的任何方面和實施例可可選地與本文公開的其他實施例單獨地或組合地進行組合。

應注意，根據本發明的實施例創建每核心結果處理器。

應注意，為了增加掃描和功能測試的可用帶寬的最佳使用，EDA軟體和測試設計中的參與者開始研究在通過測試接口將測試模式發送到待測元件（DUT）時使不同核心的測試模式交錯的方法，而不是將純模式（個別核心）一個接一個地發送到目標IP核心。這將在測試的刺激端以及組件響應端進行。

已認識到，具有專用硬體來理解（例如評估）組件答案並快速導出必要的測試流程決策是有利的。

在下文中，將提供對基本考慮的概述。

為了增加掃描和功能測試的可用帶寬的最佳使用，EDA軟體和測試設計中的參與者開始研究在通過測試接口將測試模式發送到待測元件（DUT）時使不同核心的測試模式交錯的方法，而不是將純模式（個別核心）一個接一個地發送到目標IP核心。

應注意，在本發明的上下文中，“核心”在此表示邏輯設計的基本單元，將在測試中單獨分析核心（例如，測試單元，測試結果的粒度）。另外，應注意，“核心”是“功能塊”的示例。

這種情況發生的程度可能因情況而異。舉例來說，本發明涵蓋以下實例，但不限於此： 作為示例，待測元件可由四個核心1、2、3和4組成。測試數據的劃分如下，序列在一個測試模式中從1、…、N次重複。N通常在10,000、…、50,0000的範圍內（但是其他值也是可行的） 核心1的32個位元 核心2的18個位元 核心3的24個位元 核心4的48個位元 作為第二示例，核心的序列要長得多，核心可能是交錯的或者不停止。 核心1的10,000個位元 核心2的32,000個位元 核心3的50,320個位元 核心4的200,010個位元 在測試中涉及的所有測試引腳上，這些序列示例應是不同的，作為特例，它們可能是相同的。

綜上所述，接收模式可例如包括來自不同核心的多組位元，其中接收模式可例如包括序列的（例如，週期性的）重複，其中每個序列包括例如與待測元件不同功能塊（核心）相關聯的多組一個或多個位元。然而，沒有必要重複序列，例如，如果序列相對較長。

圖4示出不同測試引腳（行）隨時間變化的示例性位元序列（列，x軸）。

舉例來說，這將在測試的刺激端以及組件響應端進行。在自動化測試設備（ATE）上，期望具有允許處理這種模式的結果處理器，這在下文中將被稱為“多核心模式”。

一般而言，在測試執行期間，激勵模式被發送到待測元件（DUT）（其中，例如，激勵模式由圖3所示的激勵生成器390生成），同時，待測元件的響應與響應模式進行比較（其中，響應模式例如可由參考信號生成器326生成，並且其中響應模式可被指定為“參考模式”，並且其中，響應模式例如可由參考信號328表示）。舉例來說，兩個部分都包括測試模式。

比較部分（例如，比較器320）對照預期的邏輯狀態檢查來自待測元件（DUT）的電平信息，知曉正確的預期狀態（其中預期狀態可例如由參考模式或參考信號定義）。模式的響應部分通常定義期望0（低，L）、期望1（高，H）或屏蔽（忽略狀態，X）。

如果識別出偏差並且預期模式沒有狀態“X”，這通常被記錄在狀態標記（例如，全域和/或每個信號）中，該狀態標記突出顯示“比較失敗”和大量N個失敗週期的詳細誤差記錄（模式內序列中的預期狀態）以及它們的地址（序列號）。

雖然在傳統的掃描和功能測試流程中，通常基於全域通過/失敗狀態標記和每測試信號通過/失敗狀態標記來做出決定，但是已經認識到，在上述多核心模式的情況下，這種所使用的模型失敗，因為不再有相同的映射信號失敗à核心/功能塊失敗，因為許多核心在信號引腳之後或者可能導致失敗的測試結果。因此，已經發現ATE架構應引入新元素來應對這些類型的測試模式。

根據本發明的方面，結果處理器的設計覆蓋以下功能（例如也在權利要求中定義）。

對每核心粒度的測試結果進行追蹤。

根據一個方面，存在對每核心粒度的測試結果的追蹤。

根據本發明的方面，希望硬體支持多個核心，其中此處的“核心”是指結果單元。根據這個結果，對單元在測試執行中是否失敗進行追蹤。舉例來說，硬體可支持64個結果單元，這些結果單元可被分配來追蹤待測元件中的一個或多個IP核的結果。該硬體在下文中被稱為“核心映射器”。它包括將故障位置映射到以下提到的（或本文中一般提到的）其他塊中的核心。

舉例來說，誤差分離器/誤差信號轉發器332a可承擔所謂的“核心映射器”的部分或全部功能。然而，結果單元336a、336b、336n也可接管所謂的“核心映射器”的部分功能。

核心映射器可例如能夠對每個測試執行的這些測試結果進行追蹤，或者在該測試執行中使用的每個模式（其中，例如，中間結果可在結果模式之後被複位）。因此，舉例來說，對於每核心測試結果，可實現一個測試模式的時間粒度。

對於每個模式的分析，可能希望（或需要）有精細的控制來重置（重新裝備）分析器，以及凍結和重置在剛剛完成的模式中獲得的結果，並在下一個模式開始時從乾淨狀態開始。

舉例來說，結果單元336a、336b、336n的複位輸入和/或凍結輸入可允許複位相應的誤差標記寄存器和/或相應的誤差計數器，其中何時讀出結果單元336a、336b、336n和/或何時複位結果單元和/或何時“凍結”結果單元的時間可例如由控制單元340或測試流程控制器380根據需要來確定。

根據一個方面，還應支持每次測試執行僅啟動一次核心映射器，並在結束時（例如，在測試執行之後）處理所有結果。舉例來說，測試流程控制380或控制單元340可控制這種機制。

根據本發明的方面，硬體應支持多個核心的短序列以及長塊的序列，按順序測試（見上文）。

每核心結果。

根據一個方面，本發明的實施例提供每核心結果。

根據一個方面，硬體可能夠與在測試裝置中執行的通常的比較失敗記錄並行工作，並且它能夠記錄哪些核心已經經歷了至少一次比較失敗。舉例來說，硬體可被配置成以單個測試模式粒度或針對模式突發（列表）的組合來報告這裡討論的結果。這例如可在核心概述誤差映射中的（粘性）位元中實現，所述位元在第一次失敗時被設定，然後可在測試完成後被讀出。

舉例來說，誤差標記寄存器337a、337b、337n可用作“粘性位元”寄存器，並且這些誤差標記寄存器的輸出在一起時可形成“核心概述誤差圖”。因此，通過讀出各個誤差標記寄存器或由誤差標記寄存器的輸出的組合形成的“核心概述誤差圖”，可快速獲得待測元件的哪些功能塊在接收的模式中生成了至少一個誤差的概述。

舉例來說，根據本發明的方面，在失敗記錄（例如，由誤差記錄器350執行的失敗記錄）被限制或根本不被執行的情況下，這種能力也應存在，因為關於什麼核已經發現故障的信息對於測試流程決策（例如，可由測試流程控制380做出）是重要的。舉例來說，這種決定可能涉及額外的測試運行以進一步分析故障（例如，涉及特殊的診斷模式）或者分支到新的測試內容以進行修復等。

舉例來說，概述誤差圖應具有在模式開始時被重置的能力，或者更一般地，在適當的時候從測試執行控制器（例如，測試流程控制380）被複位。然而，舉例來說，也可進行誤差標記寄存器337a、337b、337n的單獨複位。

失敗日誌要求。

在下文中，將描述一些失敗日誌要求，這些要求可可選地應用于根據本發明的一些實施例中。

首先，由於ATE測試的模式仍然源自ATPG工具（例如，來自自動測試模式生成器工具），生成STDF文件（例如，標準測試數據格式文件）的數據記錄器將像以前一樣記錄故障週期，並為EDA工具（電子設計自動化工具）生成STDF或其他格式的記錄器文件，以分析組件故障。首先，這是不能改變的。

在實際應用中，記錄這些誤差的誤差圖的深度是有限的，以找到上傳時間與處理時間之間的平衡。對於描述中列出的（或此處列出的）場景，這可能會導致一個嚴重或致命故障核心在響應模式中生成大量比較文件（或比較失敗），從而阻止分析這些嚴重故障核心後面的序列中的核心或功能。因此，在一個模式中稍後測試的元素的失敗貢獻可能在誤差記錄中不可見。

然而，用戶可從核心概述誤差圖中的粘性位元得知核心發生了故障。

換句話說，“核心概述誤差圖”或誤差標記寄存器337a、337b、337n的輸出允許測試裝置（或測試流程控制）的用戶快速概述待測元件的功能塊的完整性。

每核心屏蔽能力。

在下文中，將描述每核心屏蔽能力，其可在根據本發明的實施例中實施。

根據本發明的一個方面，中心特徵是屏蔽比較失敗的能力。傳統上，這是通過將位元的預期狀態字符設置為屏蔽（通常用“X”表示）來實現的。在傳統的測試模式中，有時需要忽略最初的失敗狀態，直到達到穩定的組件狀態，從而丟棄初始的隨機內部狀態，直到激勵模式的第一個測試結果可用。這同樣適用於測試模式中預期結果不穩定的區域（例如，邏輯和時序分析模式）。

根據一個方面，這一方法被擴展到多核心模式，在某種意義上，可歸因於特定核的結果可在每個核的基礎上被屏蔽。這些應用包括但不限於： 屏蔽致命或嚴重故障核心的（誤差）結果，因為如果記錄的長度由於實際原因（測試時間、後處理時間）而受到限制，這些結果將淹沒誤差圖記錄，並防止記錄核心僅出現幾次故障 以聚焦方式記錄一個或多個單核心。

舉例來說，可用多種方式實現每核心屏蔽能力。舉例來說，測試裝置可在與要被屏蔽的功能塊相關聯的位置處自動將屏蔽信息（例如，“X”）插入到參考信號/參考模式中（例如，在執行測試程序期間）。可選地，測試裝置可在與要屏蔽的功能塊相關聯的位元位置處禁用比較器和/或誤差記錄器。舉例來說，對於與待屏蔽的待測元件的功能塊相關聯的位元（或位元位置），測試裝置可禁止將誤差信令從比較器轉發到誤差記錄器。

因此，可使用不同的硬體實施方案來獲得自動的每核心屏蔽能力，其中應注意，在優選實施例中，可“即時地”（，例如，在執行測試程序期間）實施每核心屏蔽能力，而不需要修改參考信號生成器/參考模式生成器的輸入信號或輸入數據（例如，通過在參考信號生成器/參考模式生成器的輸出之後（之後）引入屏蔽）。

每核心誤差計數能力。

在下文中，將描述每核心誤差計數能力。根據本發明的一個方面，已經設計出新的邏輯，允許對每個定時週期記錄的故障進行精確計數，不僅是總數，而且是在核心表中設置的每個核心。舉例來說，可按每個核心（例如，在核心表中設置的每個核心）來記錄失敗（例如，比較失敗）。

這種能力對於識別哪些核心（測試單元）顯示出的失敗對於分析來說足夠好，以及哪些核心確實嚴重失敗是有用的（甚至是需要的）。該功能非常有用（或者在某些情況下是必需的），因為當需要更高分辨率結果數據的特定核心的更多結果時，它能夠分析在同一多核心模式的後續運行中應屏蔽（或者必須屏蔽）哪些核心。舉例來說，它可決定測試應關注哪些核心、核心選擇，因此可節省記錄用戶不感興趣的嚴重（致命）故障核心的結果所需的時間。

換句話說，通過在每個功能塊的基礎上對故障進行計數，可區分沒有出現誤差的功能塊、出現少量誤差的功能塊和出現大量誤差的功能塊。因此，指示功能塊是沒有誤差，還是只有少量誤差或者甚至大量誤差的該信息可用於決定如何繼續測試，其中，舉例來說，測試流程控制380可使用關於每個功能塊的誤差的數目的該信息。舉例來說，可根據與不同功能塊相關聯的誤差的數目來選擇不同的測試程序，從而將測試集中在嚴重失敗的塊上（如果需要），或者將測試集中在測試的前一階段中沒有誤差或者只有少量誤差的功能塊上。因此，可改善效率。

每核心自動屏蔽功能。

在下文中，將描述可根據本發明的一個方面使用的每核心屏蔽能力。這種能力結合了精確的誤差計數和屏蔽能力。它還使用（或有時需要）將誤差計數與限值進行比較。如果在運行測試中一個核心（或功能塊）達到了極限，例如，屏蔽可被重新編程，用於比較該核心的後續故障，以屏蔽該核心上的後續故障。這使得能夠記錄每個核心的有限數量的失敗，而不管它們是發生在測試執行的最開始還是結束，並且避免氾濫或堵塞。

舉例來說，當與某個嚴重故障核相關聯的誤差計數器達到或超過閾值時，控制單元340可禁止誤差記錄器350記錄與該特定嚴重故障核相關聯的個別失敗信息。因此，待測元件的每個功能塊記錄的個別失敗信息的數量可為有限的，這使得即使在存在一個或多個嚴重故障的功能塊或核心的情況下，也可記錄許多不同功能塊或核心（或者甚至所有功能塊）的個別失敗信息。因此，可提供高效的測試。

然而，應注意，本文中描述的每核心屏蔽能力、每核心誤差計數能力和每核心自動屏蔽能力應被認為是可選的，使得沒有必要在本發明的特定實施例中實施所有這些功能。

結論。

在下文中，將簡要概述本發明的各個方面。

本文中討論的能力使得在一些實施例中，所需的大多數或所有測試結果在測試模式的單次執行中可用（例如，無需重新執行），這是因為以下結果可用： 每核心通過/失敗信息，例如用於流程決策 每核心的絕對故障數→判斷致命故障，以及是否需要重新執行特定核心，以進行流程決策 每核心記錄的故障數量有限，例如所有核心→足以記錄故障數據，以便在EDA軟體中進行後處理 第一失敗測試週期，可獲得每個核心的用於分析目的的標準信息（例如，保證） 在大多數情況下，只有在為了記錄大量比較失敗而需要重新執行單核心時，才需要重新執行 禁用某些核心進行測試。在某些情況下，這需要結合兩種能力： 禁用DUT的測試設計電路中單核心的測試的能力（不在本發明的範圍內） 屏蔽禁用核心的比較失敗的能力，這是由於在與預期多核心模式的比較中將生成大量（隨機）失敗。（由本發明的各個方面涵蓋）。

根據本發明的方面，這種新的硬體能力消除了ATE軟體對比較結果進行複雜的後處理和過濾的需要，並顯著減少了將記錄和後處理的數據量。它還減少了所需的設置數據量，這是由於可移除專門的單核模式並且可避免重新執行所消耗的測試時間。

此外，應注意，根據本發明的實施例可用在數位卡中，例如用於自動化測試設備的數位通道模塊上。

具體來說，根據本發明的實施例可用在V93000自動化測試設備中，例如用於改善T4掃描能力和處理多核心模式。

9. 備選實施方案

儘管在裝置的上下文中描述了一些方面，但是清楚的是，這些方面也表示對應方法的描述，其中方框或組件對應於方法步驟或方法步驟的特徵。類似地，在方法步驟的上下文中描述的方面也表示對應裝置的對應方框或項目或特徵的描述。一些或所有方法步驟可通過（或使用）硬體裝置來執行，例如微處理器、可編程計算機或電子電路。在一些實施例中，一個或多個最重要的方法步驟可由此種裝置執行。

依據某些實施要求，本發明的實施例可用硬體或軟體來實施。所述實施可使用數位儲存介質來執行，例如軟碟、數位化視頻光碟（digital video disk，DVD）、光碟（compact disc，CD）、只讀儲存器（read only memory，ROM）、可編程只讀儲存器（programmable read-only memory，PROM）、可擦除可編程只讀儲存器（erasable programmable read-only memory，EPROM）、電可擦除可編程只讀儲存器（electrically erasable programmable read-only memory，EEPROM）或閃存，其上儲存有電子可讀的控制信號，這些控制信號與可編程計算機系統協作（或能夠協作）從而執行相應的方法。因此，數位儲存介質可為計算機可讀的。

根據本發明的一些實施例包括具有電子可讀控制信號的數據載體，該數據載體能夠與可編程計算機系統協作從而執行本文中描述的方法中的一者。

一般來說，本發明的實施例可被實施為具有程序代碼的電腦程式產品，當電腦程式產品在計算機上運行時，所述程序代碼可操作用於執行這些方法中的一者。程序代碼可例如儲存在機器可讀載體上。

其他實施例包括儲存在機器可讀載體上的用於執行本文中描述的方法中的一者的電腦程式。

換句話說，因此，本發明方法的實施例是一種電腦程式，所述電腦程式具有程序代碼，當該電腦程式在計算機上運行時，所述程序代碼用於執行本文中描述的方法中的一者。

因此，本發明方法的另外的實施例是一種數據載體（或數位儲存介質、或計算機可讀介質），包括記錄在其上的用於執行本文中描述的方法中的一者的電腦程式。數據載體、數位儲存介質或記錄介質通常是有形的和/或非暫時性的。

因此，本發明方法的另外的實施例是代表用於執行本文中描述的方法中的一者的電腦程式的數據流或信號序列。數據流或信號序列可例如被配置成經由數據通信連接，例如經由互聯網來傳輸。

另外的實施例包括處理裝置，例如計算機或可編程邏輯組件，所述處理裝置被配置成或適於執行本文中描述的方法中的一者。

另外的實施例包括計算機，其上安裝有用於執行本文中描述的方法中的一者的電腦程式。

根據本發明的另外的實施例包括一種裝置或系統，其被配置為將用於執行本文中描述的方法中的一者的電腦程式傳送（例如，電子地或光學地）到接收器。例如，接收器可為計算機、移動設備、儲存組件等。所述裝置或系統可例如包括用於將電腦程式傳送到接收器的文件服務器。

在一些實施例中，可編程邏輯組件（例如現場可編程門陣列）可用于執行本文中描述的方法的一些或全部功能。在一些實施例中，現場可編程門陣列可與微處理器協作，以執行本文中描述的方法中的一者。一般來說，所述方法優選地由任何硬體裝置來執行。

本文中描述的裝置可使用硬體裝置、或使用計算機、或使用硬體裝置及計算機的組合來實施。

本文中描述的裝置或本文中描述的裝置的任何部件可至少部分地用硬體和/或軟體來實施。

本文中描述的方法可使用硬體裝置、或使用計算機、或使用硬體裝置及計算機的組合來執行。

本文中描述的方法或本文描述的裝置的任何部件可至少部分地由硬體和/或軟體來執行。

上述實施例僅是對本發明原理的例示。應理解，本文描述的佈置及細節的修改及變化對於所屬領域中的其他技術人員來說將是顯而易見的。因此，其意圖是僅由隨附的專利權利要求的範圍來限制，而不由本文實施例的描述及說明所呈現的具體細節來限制。

100:測試裝置 102:待測元件 110:輸入信號 112:測試結果信息 130:誤差分離/誤差分離器 200:測試裝置 202:待測元件 210:輸入信號 212:測試結果信息 212a:概述失敗信息 212b:個別失敗信息 220:比較器 222:誤差信令 230:概述失敗信息確定/概述失敗信息確定器 236:控制信號 240:控制器 242:控制信號 244:控制信號 250:個別失敗信息記錄/個別失敗信息記錄器 300:測試裝置 302:待測元件 310:輸入信號 312:結果信息 312a:概述失敗信息 312b:個別失敗信息 320:比較器 322:誤差信號 326:參考信號生成器/參考模式生成器 328:參考信號 332a:誤差分離器 332b:誤差信號轉發器 336a:結果單元 336b:結果單元 336n:結果單元 337a:誤差標記寄存器 337b:誤差標記寄存器 337n:誤差標記寄存器 338a:誤差計數器 338b:誤差計數器 340:控制單元 341:位元位置組的基於表的定義 342:誤差分離器控制信號 343:誤差記錄控制信號 350:誤差記錄器 380:測試流程控制 390:激勵生成器 400:位元流 410a:行 410b:行 410c:行 422a:位元序列 500:映射機制 510:通過/失敗數據 512:屏蔽通過/失敗數據 514:每核心通過/失敗數據 520:硬體映射器 522:映射數據 530:映射方案 600:基於表的定義 610a:行 610b:行 610c:行 610d:行 610n:行 612a:列 612b:列 612c:列 612d:列 616:重複指示符 700:方法 710:從待測元件接收模式，所述模式包括來自待測元件的多個功能塊的信息 720:在執行測試程序期間分離與待測元件不同功能塊相關聯的接收模式內的誤差

隨後將參考附圖描述根據本發明的實施例，其中： 圖1示出根據本發明實施例的測試裝置的示意性方框圖； 圖2示出根據本發明實施例的測試裝置的示意性方框圖； 圖3A-3B示出根據本發明實施例的測試裝置的示意性方框圖； 圖4示出位元流的示意性表示； 圖5示出根據本發明另一實施例的可在測試裝置中使用的映射機制的示意性方框圖； 圖6示出基於表的誤差信息分離的示意性表示；並且 圖7示出根據本發明實施例的方法的流程圖。

100:測試裝置

102:待測元件

110:輸入信號

112:測試結果信息

130:誤差分離/誤差分離器

Claims (38)

1. 一種測試待測元件的測試裝置， 其中所述測試裝置被配置成從所述待測元件接收模式，所述模式包括來自所述待測元件的多個功能塊的信息； 其中所述測試裝置被配置成在執行測試程序期間分離與所述待測元件不同功能塊相關聯的接收模式內的誤差。
2. 如請求項1所述之測試裝置， 其中所述測試裝置被配置成即時地分離與所述待測元件不同功能塊相關聯的所述接收模式內的所述誤差。
3. 如請求項1所述之測試裝置， 其中所述測試裝置被配置成實時地、和/或與從所述待測元件接收所述接收模式的數據速率在時間上同步地、和/或與從所述待測元件接收所述接收模式的數據時鐘在時間上同步地分離與所述待測元件不同功能塊相關聯的所述接收模式內的所述誤差。
4. 如請求項1所述之測試裝置， 其中所述測試裝置包括專用硬體，所述專用硬體被配置成分離與所述待測元件不同功能塊相關聯的所述接收模式內的所述誤差。
5. 如請求項1所述之測試裝置， 其中所述測試裝置包括專用硬體，所述專用硬體被配置成選擇性地將誤差信號轉發到與所述待測元件的特定功能塊相關聯的結果單元，所述誤差信號指示與所述待測元件的所述特定功能塊相關聯的所述接收模式的位的位值相對於由期望模式定義的期望位值的偏差。
6. 如請求項1所述之測試裝置， 其中所述測試裝置包括專用硬體，所述專用硬體被配置成選擇性地禁止對與所述待測元件的特定功能塊相關聯的所述接收模式的一個或多個位和所述預期模式的一個或多個對應位進行比較，以及/或者 選擇性地禁止轉發與所述待測元件的特定功能塊相關聯的所述接收模式的一個或多個位和所述預期模式的一個或多個對應位之間的比較結果，以及/或者 選擇性地禁止對與所述待測元件的特定功能塊相關聯的所述接收模式的一個或多個位和所述預期模式的一個或多個對應位之間的比較結果進行處理。
7. 如請求項1所述之測試裝置， 其中所述測試裝置包括專用硬體，所述專用硬體被配置成識別與所述待測元件不同功能塊相關聯的所述接收模式的一個或多個位的不同塊，以便分離與所述待測元件不同功能塊相關聯的所述接收模式內的所述誤差。
8. 如請求項1所述之測試裝置， 其中所述測試裝置包括專用硬體，所述專用硬體被配置成使用表識別所述接收模式的一個或多個位的不同塊，所述表對與所述待測元件不同功能塊相關聯的所述接收模式的一個或多個位的塊長度進行定義。
9. 如請求項1所述之測試裝置， 其中所述測試裝置包括參考模式生成器，所述參考模式生成器被配置成生成表示所述預期模式的時間信號，並且 其中所述測試裝置包括比較器電路，所述比較器電路被配置成將表示所述接收模式的時間信號與表示所述預期模式的所述時間信號進行比較， 其中比較器被配置成響應於所述預期模式的位與所述接收模式的位之間的偏差而提供誤差信令。
10. 如請求項1所述之測試裝置， 其中所述測試裝置被配置成對所述待測元件不同功能塊的測試結果進行個別追蹤。
11. 如請求項10所述之測試裝置， 其中所述測試裝置被配置成對所述待測元件不同功能塊的測試結果進行個別追蹤，所述測試結果是對於每個測試模式或每次測試執行而基於所述接收模式推導出的。
12. 如請求項10所述之測試裝置， 其中所述測試裝置包括與所述待測元件不同功能塊相關聯的多個結果單元； 其中所述測試裝置被配置成選擇性地對所述結果單元中的一者或多者進行複位，並且/或者 其中所述測試裝置被配置成選擇性地凍結所述結果單元中的一者或多者。
13. 如請求項1所述之測試裝置， 其中所述測試裝置被配置成將接收模式與預期模式進行比較；並且 其中所述測試裝置被配置成單獨地記錄與所述接收模式的一個或多個位的不同塊相關聯的比較失敗，以及/或者 單獨地記錄與所述待測元件不同功能塊相關聯的比較失敗。
14. 如請求項13所述之測試裝置， 其中所述測試裝置被配置成單獨地記錄與所述待測元件不同功能塊相關聯的比較失敗， 使用映射方案記錄所述比較失敗，所述映射方案對所述接收模式的位與不同結果單元的關聯進行定義，並且/或者 使用對所述接收模式的位與所述待測元件不同功能塊的關聯進行定義的映射方案。
15. 如請求項1所述之測試裝置， 其中所述測試裝置包括多個個別的結果單元，所述結果單元被配置成對與所述待測元件不同功能塊相關聯的測試結果進行追蹤。
16. 如請求項1所述之測試裝置， 其中所述測試裝置包括與所述待測元件不同功能塊相關聯的多個個別的誤差標記寄存器。
17. 如請求項1所述之測試裝置， 其中所述測試裝置包括多個個別的誤差標記寄存器，所述誤差標記寄存器被配置成響應於在所述接收模式的一個或多個位的不同塊中出現的所述接收模式的位與所述預期模式的對應位之間的比較誤差而被設定。
18. 如請求項1所述之測試裝置， 其中所述測試裝置包括與所述待測元件不同功能塊相關聯的多個個別的誤差計數器。
19. 如請求項1所述之測試裝置， 其中所述測試裝置包括多個個別的誤差計數器，所述誤差計數器被配置成響應於在所述接收模式的一個或多個位的不同塊中出現的所述接收模式的位與所述期望模式的對應位之間的比較誤差而被遞增。
20. 如請求項1所述之測試裝置， 其中所述測試裝置被配置成響應於檢測到所述接收模式的位與所述期望模式的位之間的偏差而依據關聯規則選擇性地對多個個別的誤差標記之中的誤差標記進行設定。
21. 如請求項1所述之測試裝置， 其中所述測試裝置被配置成響應於檢測到與所述待測元件的給定功能塊相關聯的所述接收模式的位相對於預期模式偏離而對與所述待測元件的所述給定功能塊相關聯的個別誤差標記進行設定，以便單獨地記錄與所述待測元件不同功能塊相關聯的比較失敗。
22. 如請求項1所述之測試裝置， 其中所述測試裝置被配置成響應於檢測到所述接收模式的位與所述期望模式的位之間的偏差而依據關聯規則選擇性地使多個個別的誤差計數器之中的誤差計數器遞增。
23. 如請求項1所述之測試裝置， 其中所述測試裝置被配置成響應於檢測到與所述待測元件的給定功能塊相關聯的所述接收模式的位相對於預期模式偏離而使與所述待測元件的所述給定功能塊相關聯的個別誤差計數器遞增，以便單獨地對與所述待測元件不同功能塊相關聯的比較失敗進行計數。
24. 如請求項1所述之測試裝置， 其中所述測試裝置被配置成記錄指示多個比較失敗的對應失敗位置的個別失敗信息，並且 其中所述測試裝置被配置成獲得概述失敗信息，所述概述失敗信息以概要形式單獨地對與所述待測元件不同功能塊相關聯的誤差進行描述。
25. 如請求項1所述之測試裝置， 其中所述測試裝置被配置成除了每一功能塊的誤差標記和/或每一功能塊的誤差計數之外還以時間可識別的方式記錄失敗週期。
26. 如請求項24所述之測試裝置， 其中所述測試裝置被配置成即使用於記錄所述個別失敗信息的存儲器耗盡仍繼續對所述概述失敗信息進行更新。
27. 如請求項24所述之測試裝置， 其中所述測試裝置被配置成選擇性地屏蔽對與所述待測元件的一個或多個功能塊相關聯的所述接收模式的位的個別失敗信息的記錄；並且/或者 其中所述測試裝置被配置成選擇性地啟用對與所述待測元件的一個或多個功能塊相關聯的所述接收模式的位的個別失敗信息的記錄。
28. 如請求項27所述之測試裝置， 其中所述測試裝置被配置成使用表確定應針對所述接收模式的哪些位省略對個別失敗信息的記錄，所述表對與所述待測元件不同功能塊相關聯的所述接收模式的一個或多個位的塊長度進行定義。
29. 如請求項27所述之測試裝置， 其中所述測試裝置包括專用硬體，所述專用硬體被配置成識別所述接收模式的應省略對個別失敗信息的記錄的位。
30. 如請求項27所述之測試裝置， 其中所述測試裝置被配置成響應於檢測到選擇性地對與所述待測元件的特定功能塊相關聯的位的比較誤差進行計數的個別誤差計數器已達到預定最大值而啟用對與所述特定功能塊相關聯的所述接收模式的位的個別失敗信息的記錄的屏蔽。
31. 如請求項1所述之測試裝置， 其中所述測試裝置被配置成使用表識別所述接收模式的一個或多個位的不同塊，所述表對與所述待測元件不同功能塊相關聯的所述接收模式的一個或多個位的塊長度進行定義。
32. 如請求項31所述之測試裝置， 其中所述測試裝置被配置成使用所述表來識別與所述待測元件不同功能塊相關聯的所述接收模式的一個或多個位的週期性塊序列。
33. 如請求項1所述之測試裝置， 其中所述測試裝置被配置成依據與所述待測元件的給定功能塊相關聯的所述接收模式內的誤差相關的信息來對測試流程進行改編。
34. 如請求項33所述之測試裝置， 其中所述測試裝置被配置成響應於確定出與所述待測元件的給定功能塊相關聯的所述接收模式中的誤差數目已達到或者超過所述預定最大數目而對測試流程進行改編。
35. 如請求項34所述之測試裝置， 其中所述測試裝置被配置成針對與所述待測元件的所述給定功能塊相關聯的所述接收模式的位而啟用對個別失敗信息的記錄的屏蔽或者禁用對個別失敗信息的記錄，並且響應於確定出與所述待測元件的所述給定功能塊相關聯的所述接收模式中的誤差數目已達到或者超過所述預定最大數目而重複進行測試。
36. 一種用於測試待測元件的測試裝置， 其中所述測試裝置被配置成從所述待測元件接收包括位序列的模式； 其中所述測試裝置被配置成在執行測試程序期間分離與一個或多個位的不同塊相關聯的所述接收模式內的誤差。
37. 一種用於測試待測元件的方法， 其中所述方法包括從所述待測元件接收模式，所述模式包括來自所述待測元件的多個功能塊的信息； 其中所述方法包括在執行測試程序期間分離與所述待測元件不同功能塊相關聯的所述接收模式內的誤差。
38. 一種電腦程式，當所述電腦程式在計算機上運行時用於執行根據請求項37所述的方法。