TW202405462A - 用於對相對於載體結構的表面傾斜的成角度被測裝置進行無線測試的測試裝置 - Google Patents

Abstract

本發明關於一種用於對成角度被測裝置進行無線測試的測試裝置，其中，所述測試裝置包括載體結構。所述測試裝置包括耦合至所述載體結構的被測裝置托座，其中，所述被測裝置托座被配置為與所述被測裝置的內表面或與佈置在所述成角度被測裝置的所述內表面上的連接器建立電接觸。所述被測裝置托座被配置為定位所述成角度被測裝置，使得所述成角度被測裝置的第一外表面相對於所述載體結構的表面傾斜至少15度。

Description

用於對相對於載體結構的表面傾斜的成角度被測裝置進行無線測試的測試裝置

根據本發明的實施例關於一種用於進行無線測試的測試裝置，特別是使用相對於載體結構的表面傾斜的成角度被測裝置。

根據本發明的實施例關於一種用於使用自動化測試設備對L形封裝天線模組進行無線測試的托座。

測試裝置可用於測試能夠接收和/或發射電磁輻射的被測裝置（例如，封裝天線裝置）。通常，被測裝置具有帶有兩個相對平面形狀，使得例如被測裝置可安裝在被測裝置托座（例如，用於對封裝天線裝置進行輻射近場測試的空中（OTA）托座）中，使得其中的一個表面面向被測裝置托座，而另一個表面背向被測裝置托座。例如，可對被測裝置進行定向，使得具有天線的被測裝置的表面背向被測裝置托座。

然而，被測裝置的形狀可能不是平面的。例如，被測裝置可具有成角度形狀，諸如L形。此外，成角度裝置可被配置為在至少一個外表面處發射和/或接收電磁輻射。例如，角形被測裝置可在一個或兩個外表面上具有一個或多個天線陣列（或其他天線）。

已經發現，對在一個或多個外表面上包括無線通信部件的成角度被測裝置進行測試通常需要付出很大的努力才能將被測裝置放置在被測裝置托座中，並且此類被測裝置的測試結果通常會因人為因素而降級。

因此，需要一種改進測試效率、準確性與再現性之間的折衷的測試裝置。

本發明的一個實施例針對一種用於對成角度（例如，L形）被測裝置（例如，L形封裝天線被測裝置）進行無線測試的測試裝置，其中，所述測試裝置包括載體結構（例如，PCB測試夾具或負載板）。所述測試裝置包括被測裝置托座，所述被測裝置托座耦合至所述載體結構（例如，所述PCB測試夾具或所述負載板）（例如，直接或通過延伸器組件和/或位於所述載體結構與所述被測裝置托座之間的PCB中介層）。所述被測裝置托座被配置為與所述成角度（例如，L形）被測裝置的內表面（例如，與所述成角度被測裝置的與所述成角度被測裝置的第二外表面相對的內表面）或與佈置在所述成角度（例如，L形）被測裝置的所述內表面上的連接器建立電接觸。所述被測裝置托座被配置為定位所述成角度被測裝置，使得所述成角度（例如，L形）被測裝置的第一外表面相對於所述載體結構（例如，PCB測試夾具或負載板）的表面（例如，主表面）傾斜至少15度。

所述被測裝置托座允許將所述成角度被測裝置耦合至所述測試裝置。此外，所述電接觸允許在所述測試裝置與耦合至所述被測裝置托座的所述被測裝置之間（單向或雙向地）傳輸電能、一個或多個控制信號、測量信號或信號中的至少一者。

在至少15°的角度（相對於所述載體結構的所述表面），所述第一外表面不再近似平行於所述載體結構的所述表面，這意味著所述第一外表面的表面法線相對於所述載體結構的平面傾斜（斜向）。因此，佈置在所述第一外表面上或中的天線或天線結構的主波束方向（通常近似垂直於所述被測裝置的所述第一外表面）通常也相對於所述載體結構的所述平面傾斜。

已經發現，這又有助於減少所述載體結構對佈置在所述被測裝置的所述第一外表面上或中的天線或天線結構的天線特性（例如，輻射圖案、阻抗）的不利影響。

此外，已經認識到，通過使所述被測裝置具有傾斜的第一外表面，通常可以將測試天線放置成與所述被測裝置正上方（在垂直於所述載體結構的所述表面的方向上位於被測裝置的正上方）的位置偏移，所述測試天線傳輸將在佈置在所述被測裝置的所述第一外表面上或中的天線或天線結構處接收到的信號和/或接收由佈置在所述被測裝置的所述第一外表面上或中的天線或天線結構傳輸的信號。據此，可放置所述測試天線以允許在“直線”方向上（例如，沿著基本上垂直於所述載體結構的所述表面的路徑）高效地插入所述被測裝置。這促進操縱所述被測裝置，因為在一些情況下，不需要移動所述測試天線來將所述被測裝置插入至被測裝置托座中和/或從所述被測裝置托座移除所述被測裝置。

此外，還已經認識到，所述成角度（例如，L形）被測裝置的所述第一外表面的至少15度的傾斜度（通常對應於所述被測裝置托座的鄰接所述被測裝置的第一內表面的第一表面的相同傾斜度））允許（或促進）所述被測裝置在所述被測裝置托座中的重力支持插入和/或自對準。已經認識到，所述被測裝置托座的表面的傾斜度與所述被測裝置的所述第一外表面的傾斜度對應。允許所述被測裝置平穩地、重力輔助地“滑動”至所述被測裝置托座中。

總之，所述第一外表面至少部分地成角度遠離所述載體結構（例如，相對於所述載體結構的所述表面傾斜）。當所述被測裝置傾斜時，超過所述角度佈置的第二外表面也至少部分地成角度遠離所述載體結構（例如，相對於所述載體結構的所述表面傾斜）。結果，由所述外表面中的任一個（或更準確地，由佈置在所述相應外表面上或中的相應天線或天線結構）接收和/或發射的電磁場至少部分地成角度遠離所述載體結構（例如，相應主波束相對於所述載體結構的所述表面傾斜）。結果，減少了可能由所述載體結構引起的干擾。

根據實施例，所述被測裝置托座被配置為定位所述成角度被測裝置，使得所述成角度（例如，L形）被測裝置的第二外表面相對於所述載體結構（例如，PCB測試夾具或負載板）的所述表面（例如，主表面）傾斜至少15度。

由於所述被測裝置是成角度的並且所述第一外表面和所述第二外表面都相對於所述載體結構的所述表面傾斜至少15度，因此所述成角度被測裝置被佈置在有限角度範圍內，其中，所述第一外表面和所述第二外表面背向所述載體結構。此外，佈置在所述被測裝置的所述外表面上或中的天線或天線結構的主波束通常因此通常相對於所述載體結構的表面傾斜，從而導致低干擾並允許有利地放置相應測試天線來以無線方式測試所述被測裝置。此外，當所述被測裝置被放置至所述被測裝置托座中時，這種定向提高所述被測裝置自對準的改進的可能性。使用所述測試裝置的這種設計，所述第一外表面與所述第二外表面成角度，使得傳輸路徑和/或接收路徑（例如，佈置在所述被測裝置的所述外表面上或中的天線或天線結構的相應主波束方向））不可被佈置為垂直於所述載體結構的表面。因此，與所述傳輸路徑相關的結構（例如，天線、天線結構、鏡子或護罩）可能不需要佈置在所述被測裝置上方（或所述被測裝置正上方），從而促進安裝（插入）和拆卸（移除）所述被測裝置。

根據實施例，所述測試托座包括（至少）兩個支撐表面以支撐所述成角度被測裝置的兩個內表面，其中，所述兩個支撐表面都相對於所述載體結構（例如，PCB測試夾具或負載板）的所述表面（例如，主表面）傾斜至少15度。

已經認識到，成角度被測裝置可具有通常可平行於（或接近平行於）所述兩個外表面的兩個內表面。因此，所述成角度被測裝置的所述內表面抵接所述兩個支撐表面導致所述外表面傾斜，這至少類似於所述支撐表面的傾斜。因此，所述支撐表面可實現所述第一外表面和所述第二外表面的定向，這可能是如本文所討論的那樣有益的（例如，至少部分地背向可能引起干擾的載體結構）。

根據實施例，所述測試佈置包括支撐結構，所述支撐結構被佈置在所述載體結構的表面上並包括三角形橫截面（例如，在垂直於所述載體結構所在的平面的平面上）。所述支撐結構可被配置為承載所述被測裝置托座（例如，直接承載或在其間具有一個或多個層）。所述橫截面可以是直角三角形（即90°角），其中，直角可佈置在所述被測裝置的內邊緣處。

所述三角形橫截面產生可抵接所述被測裝置的所述成角度傾斜表面的所述內表面的（至少）兩個支撐表面。因此，所述三角形橫截面可限定所述被測裝置的所述外表面的定向。此外，所述支撐結構的三角形橫截面的使用允許簡單（或常規）被測裝置托座的使用。這允許成本高效的實現方式。具體地，由於傾斜是通過所述支撐結構實現的，因此所述被測裝置托座本身的尺寸可保持得相當小。

根據實施例，所述測試裝置包括柔性或膜狀或彈性平面導體結構（例如，柔性或彈性體印刷電路板），所述柔性或膜狀或彈性平面導體結構可被佈置成在所述載體結構的表面和所述被測裝置托座的相對於所述載體結構的所述表面傾斜的表面之間建立連接。

所述柔性或膜狀或彈性平面導體結構使得能夠在所述載體結構與所述被測裝置托座之間建立電連接，同時能夠適應所述被測裝置托座的表面的形狀。所述平面結構減少了所述被測裝置托座的表面結構的變化。例如，所述柔性或膜狀或彈性平面導體結構允許使所述電連接適應所述被測裝置托座的傾斜或適應所述支撐結構的傾斜。例如，所述柔性或膜狀或彈性平面導體結構可與所述支撐結構的表面一致，並例如可包括在所述從載體結構的所述表面至所述支撐結構的表面的過渡處的彎曲。這種柔性或膜狀或彈性平面導體結構的使用可減少實現工作，同時提供可靠的電連接。

根據實施例，所述柔性或膜狀或彈性平面導體結構電耦合至所述載體結構的表面並包括至少一個彎曲以與所述被測裝置托座的下表面對準。

所述彎曲允許所述柔性或膜狀或彈性平面導體結構適應所述載體結構與所述被測裝置托座之間的表面角度的轉變。

根據實施例，所述柔性或膜狀或彈性平面導體結構（至少部分地）在支撐結構的表面上延伸。所述支撐結構可佈置在所述載體結構的表面上並且可包括三角形橫截面（例如，在垂直於所述載體結構所在的平面的平面上）。所述支撐結構可被配置為承載所述被測裝置托座（例如，直接承載或在其間具有一個或多個層）。所述柔性或膜狀或彈性平面導體結構可部分地佈置在所述支撐結構與所述被測裝置托座之間。

所述柔性或膜狀或彈性平面導體結構可適應所述三角形橫截面的形狀並可實現所述支撐結構與所述被測裝置托座（以及可選地所述被測裝置，當耦合至所述被測裝置托座時）之間的電接觸。所述柔性或膜狀或彈性平面導體結構可（至少部分地）適應所述支撐結構的形狀（或表面定向），例如，當支撐所述被測裝置托座時，所述支撐結構可限定所述被測裝置的定向。

根據實施例，所述被測裝置托座包括一個或多個同軸彈簧針（例如，可從所述被測裝置托座的與所述PCB測試夾具、與所述負載板、與支撐結構或與柔性或膜狀或彈性平面導體結構接觸的下表面延伸至所述被測裝置托座的與所述成角度被測裝置的所述第二內表面接觸的上表面），以便與所述成角度被測裝置建立電連接（其中，例如，所述同軸彈簧針的第一端可與所述PCB測試夾具上、所述負載板上、所述支撐結構上或所述柔性或膜狀或彈性平面導體結構上的焊盤接觸，並且其中，例如，所述同軸彈簧針的第二端可與所述成角度被測裝置上的焊盤或與所述成角度被測裝置的連接器接觸）。

彈簧針通常是可壓下的，並允許所述被測裝置托座在所述被測裝置耦合至所述被測裝置托座時（例如，在由所述處理器/推動器推入所述被測裝置托座時）與所述被測裝置建立電接觸。所述同軸彈簧可實現與所述被測裝置托座的高頻互連。

根據實施例，所述測試裝置包括第一天線或天線結構（例如，單孔徑天線（例如，雙線性極化或圓極化）），所述第一天線或天線結構被配置為接收從所述成角度被測裝置的所述第一外表面輻射的信號和/或被配置為發射將在所述成角度裝置的所述第一外表面處接收到的信號。

所述第一天線或天線結構允許對在至少一個外表面上包括一個或多個天線或天線結構的被測裝置進行無線測試。例如，可評估所述被測裝置的所述第一外表面上或所述第二外表面上的一個或多個天線或天線結構的接收和/或傳輸特性。然而，可替代地或附加地確定所述被測裝置的一個或多個其他特性。由於所述被測裝置的所述第一外表面的定向（例如，相對於所述載體結構的所述表面傾斜、歪斜或斜向的定向）和/或所述被測裝置的所述第二外表面的定向（例如，相對於所述載體結構的所述表面傾斜、歪斜或斜向的定向），因此減少了（無線）測試期間對所述載體結構的干擾。此外，所述定向可允許所述第一天線或天線結構不需要佈置在所述被測裝置正上方，這可促進所述被測裝置的插入和/或移除。

根據實施例，所述測試裝置包括第一天線或天線結構（例如，單孔徑天線（例如，雙線性極化或圓極化）），其中，所述第一天線或天線結構的孔徑被佈置成距所述成角度被測裝置的所述第一外表面一定距離（例如，包括低介電常數材料或電磁透明材料的推動器處於所述第一天線或天線結構與所述第一外表面之間），使得所述成角度被測裝置的所述第一外表面的表面法線延伸穿過所述第一天線或天線結構的所述孔徑（至少當所述第二天線或天線結構被放置在操作位置時）。

通過將所述第一外表面的所述表面法線佈置為穿過所述第一天線或天線結構的所述孔徑（例如，這可通過適當地對準所述被測裝置托座的抵接所述被測裝置的第一內表面的第一表面來實現），所述第一天線或天線結構的接收和/或發射可得到改進（或換句話說，所述被測裝置的所述第一外表面上的天線或天線結構與所述第一天線之間的良好電磁耦合）。所述間隔可促進所述被測裝置的插入和/或移除。所述推動器可選地可改進所述被測裝置在所述被測裝置托座中的固定並還可促進建立可再現的間隔。

根據實施例，所述第一天線或天線結構的天線孔徑相對於所述載體結構傾斜（例如，相對於所述載體結構的表面或主表面）。

傾斜可改進所述天線孔徑與佈置在所述第一外表面上或中的天線或天線結構之間的無線（電磁）耦合，所述天線或天線結構也是傾斜的。此外，所述天線孔徑的傾斜可允許所述第一天線或天線結構從所述被測裝置托座的中心正上方的區域橫向偏移間隔開（例如，平行於所述載體結構的表面），這可促進所述被測裝置的插入和/或移除（例如，即使不移動所述第一天線或天線結構）。

根據實施例，所述第一天線或天線結構的天線孔徑平行於所述成角度被測裝置的所述第一外表面。

所述天線孔徑與所述第一外表面的平行佈置可改進所述天線孔徑與佈置在所述第一外表面上或中的天線或天線結構之間的傳輸。

根據實施例，所述第一天線或天線結構被安裝成相對於所述被測裝置托座具有固定位置。

這種固定位置允許多個成角度被測裝置的重複耦合和測試，使得所述多個成角度被測裝置與所述第一天線或天線結構具有相同或類似的幾何關係。結果，可提高測試的準確性和再現性。此外，通過使用所述第一天線或天線結構相對於所述被測裝置托座的固定位置，可將所述結構的複雜度保持在較低水平。此外，通過使所述第一天線或天線結構具有固定位置，可實現高速測試。

根據實施例，所述第一天線或天線結構以機械方式耦合至（例如，附接至）至處理器（被配置為將所述成角度被測裝置插入至所述被測裝置托座中和/或將所述被測裝置推入所述被測裝置托座）的臂，使得所述第一天線或天線結構是可移動的。

所述可移動的第一天線或天線結構可允許更容易接近所述被測裝置托座（例如，用於插入和/或移除）。此外，所述可移動的第一天線或天線結構可允許調整所述第一天線或天線結構相對於所述傾斜的第一外表面的位置和/或定向（例如，當使用具有不同傾斜角度的托座時或為了測試所述被測裝置的傳輸和/或接收的角度依賴性）。此外，通過使所述第一天線或天線結構可移動，所述第一天線或天線結構可與將所述被測裝置推入所述測試托座的推動器以機械方式耦合。據此，可位於所述第一天線或天線結構的孔徑與所述被測裝置之間的所述推動器可準確地調整所述被測裝置的所述第一外表面與所述第一天線或天線結構之間的位置關係。

根據實施例，所述第一天線或天線結構被配置為在所述處理器已將所述第一天線或天線結構放置在操作位置時（等同地，在所述處理器已將所述成角度被測裝置插入至所述被測裝置托座中時，或在所述處理器將所述被測裝置推入所述被測裝置托座時）經由盲插微波連接（例如，經由盲插（中空）波導）與信號源和/或與信號接收器連接。

所述信號源使得所述第一天線或天線結構能夠發射信號（例如，將由所述成角度被測裝置的天線陣列接收），並且/或者所述信號接收器允許評估由所述第一天線或天線結構接收到的信號（例如，由所述成角度被測裝置的天線陣列發射）。因此，信號源和/或信號接收器的使用促進所述成角度被測裝置的測試。所述盲插微波連接促進所述信號源與所述第一天線或天線結構的（例如，手動和/或自動）耦合以及所述信號接收器與所述第一天線或天線結構的耦合。所述盲插微波連接還可允許移除所述第一天線或天線結構的至少一部分，這可提高所述被測裝置托座的可接近性。

根據實施例，所述測試裝置包括第二天線或天線結構（例如，單孔徑天線（例如，雙線性極化或圓極化）），所述第二天線或天線結構被配置為接收從佈置在所述成角度被測裝置的所述第二外表面上或中的天線或天線結構輻射的信號和/或發射將在佈置在所述成角度被測裝置的所述第二外表面上或中的天線或天線結構處接收到的信號（至少當所述第二天線或天線結構被放置在操作位置時）（或等同地，當所述處理器已將所述成角度被測裝置插入至所述測試托座中時，或當所述處理器已將所述被測裝置推入所述測試托座時）。

所述第二天線或天線結構允許測試所述第二外表面上或中的天線結構和/或允許對所述被測裝置的一個或多個其他部件進行無線測試。所述第二天線或天線結構受益於由所述被測裝置托座限定的所述第二外表面的定向。

所述第一天線或天線結構和所述第二天線或天線結構可測試由佈置在所述第一外表面和所述第二外表面上或中的天線或天線結構發射和/或接收的信號（例如，以同時或相繼方式），而不必在不同定向處（例如，或在不同被測裝置托座處）重新耦合（或重新佈置）所述成角度被測裝置。

例如，所述第一天線或天線結構和所述第二天線或天線結構都可以被佈置成使得所述第一天線或天線結構和所述第二天線或天線結構不妨礙將所述被測裝置插入至所述被測裝置托座中和/或從所述被測裝置托座移除所述被測裝置。

根據實施例，所述測試裝置包括第二天線或天線結構（例如，單孔徑天線（例如，雙線性極化或圓極化）），其中，所述第二天線或天線結構的孔徑被佈置成距所述成角度被測裝置的所述第二外表面一定距離（例如，在所述第二天線或天線結構與所述第二外表面之間有包括低介電常數材料或電磁透明材料的推動器），使得所述成角度被測裝置的所述第二外表面的表面法線（或同等地，所述被測裝置托座的抵接所述被測裝置的第一內表面的第二表面的表面法線）延伸穿過所述第二天線或天線結構的所述孔徑（至少當所述第二天線或天線結構被放置在操作位置時）（或等同地，當所述處理器已將所述成角度被測裝置插入至所述測試托座中時，或當所述處理器已將所述被測裝置推入所述測試托座時）。所述第二（和/或第一）外表面可具有或被配置為在垂直於所述第二（和/或第一）外表面的方向上發射和/或接納主波束（例如，通過波束賦形）。

換句話說，一個或多個天線或天線結構可佈置在所述被測裝置的所述第一外表面上或中和/或所述被測裝置的所述第二外表面上或中，並且這些天線或天線結構中的一個或多個可具有基本上垂直於相應外表面的主波束方向。

通過將所述第二外表面的所述表面法線佈置成穿過所述第二天線或天線結構的所述孔徑，可在所述第二天線或天線結構的一側實現對由佈置在所述第二外表面上或中的天線或天線結構發射的信號的良好接收。替代地或附加地，以這種方式，也可在佈置在所述第二表面上或中的所述天線或天線結構的一側實現對由所述第二天線或天線結構發射的信號的良好接收。

根據實施例，所述第二天線或天線結構的天線孔徑相對於所述載體結構傾斜（例如，相對於所述載體結構的表面或主表面）。

傾斜可改進所述第二天線或天線結構的所述天線孔徑與佈置在所述第二外表面上或中的天線或天線結構之間的電磁耦合，所述天線或天線結構也是傾斜的。此外，所述第二天線或天線結構的所述天線孔徑的傾斜可允許所述第二天線或天線結構相對於所述被測裝置托座橫向偏移間隔開（例如，在平行於所述載體結構的表面的方向上），這可促進所述被測裝置的插入和/或移除。

根據實施例，所述第二天線或天線結構的天線孔徑平行於所述成角度被測裝置的所述第二外表面（或等同地，平行於所述被測裝置托座的抵接所述被測裝置的第二內表面的第二表面）。

所述第二天線或天線結構的所述天線孔徑與所述第二外表面的平行佈置可改進所述天線孔徑與所述第二外表面之間的電磁耦合。

根據實施例，所述第二天線或天線結構被安裝成相對於所述被測裝置托座具有固定位置。

這種固定位置允許多個成角度被測裝置的重複耦合和測試，使得所述多個成角度被測裝置與所述第二天線或天線結構具有相同或類似的幾何關係。結果，可提高測試的準確性和再現性。

根據實施例，所述第二天線或天線結構以機械方式耦合（例如，附接）至處理器（被配置為將所述成角度被測裝置插入至所述被測裝置托座中）的臂，使得所述第二天線或天線結構是可移動的。

所述可移動的第二天線或天線結構可允許更容易接近所述被測裝置托座（例如，用於所述被測裝置的插入和/或移除）。此外，所述可移動的第二天線或天線結構可允許調整所述第二天線或天線結構相對於所述傾斜的第二外表面的位置和/或定向（例如，當使用具有不同傾斜角度的托座時或為了測試所述被測裝置的傳輸和/或接收的角度依賴性）。

根據實施例，所述第一天線或天線結構和/或所述第二天線或天線結構是用於將所述成角度被測裝置推入所述被測裝置托座的推動器的一部分。替代地，所述第一天線或天線結構和/或所述第二天線或天線結構可被配置為能夠與用於將所述成角度被測裝置推入所述被測裝置托座的推動器一起移動（其中，例如，所述推動器被佈置成使得所述推動器或所述推動器的一部分在所述被測裝置被插入至所述被測裝置托座中時位於所述第一天線或天線結構與所述成角度被測裝置的所述第一外表面之間）（其中，例如，所述推動器被佈置成使得所述推動器或所述推動器的一部分在所述被測裝置被插入至所述被測裝置托座中時位於所述第二天線或天線結構與所述成角度被測裝置的所述第二外表面之間）。

因此，例如，所述第一天線或天線結構和/或所述第二天線或天線結構的至少一部分可與所述推動器一起移動，並因此可移動（例如，為了更易於將所述成角度被測裝置耦合至所述被測裝置托座）或重新調整（例如，調整其定向）。例如，如果所述推動器被配置為將所述成角度被測裝置推入所述被測裝置托座，則所述推動器可促進在將所述成角度被測裝置耦合至所述被測裝置托座期間耦合和定位所述第二天線或天線結構。在所述第一天線或天線結構和所述第二天線或天線結構可與所述推動器一起移動的情況下，這些部件的位置以及因此測試更可再現，因為所述第一天線或天線結構和所述第二天線或天線結構與所述被測裝置之間的位置關係可由間隔件良好地限定（例如，如果間隔件直接抵接所述被測裝置的所述外表面以及所述第一天線或天線結構和所述第二天線或天線結構的天線孔徑）。

根據實施例，所述第二天線或天線結構被配置為在所述處理器已將所述第二天線或天線結構放置在操作位置時（或等同地，在所述處理器已將所述成角度被測裝置插入至所述測試托座中時，或在所述處理器將所述被測裝置推入所述測試托座時）經由盲插微波連接（例如，經由盲插波導）與信號源或與信號接收器連接。

所述信號源使得所述第二天線或天線結構能夠發射信號（例如，將由所述成角度被測裝置的天線陣列接收），並且/或者所述信號接收器允許評估由所述第二天線或天線結構接收到的信號（例如，由所述成角度被測裝置的天線陣列發射）。因此，信號源和/或信號接收器的使用促進所述成角度被測裝置的測試。所述盲插微波連接促進所述信號源與所述第一天線或天線結構的（例如，手動和/或自動）耦合以及所述信號接收器與所述第二天線或天線結構的耦合。所述盲插微波連接還可允許移除所述第二天線或天線結構的至少一部分，這可提高所述被測裝置托座的可接近性。

根據實施例，所述測試裝置包括用於將所述成角度被測裝置推入所述測試托座的推動器。所述推動器可被配置為使得當所述推動器處於推動位置時第一推動表面平行於所述成角度被測裝置的所述第一外表面，使得當所述推動器處於所述推動位置時第二推動表面平行於所述成角度被測裝置的所述第二外表面。

因此，所述第一推動表面和所述第二推動表面可同時抵接（並推動）所述第一外表面和所述第二外表面（例如，在所述推動器被壓向所述載體結構的情況下）。因此，所述推動器可將相對均勻分佈的力施加至所述被測裝置上。此外，所述第一推動表面和所述第二推動表面可以可靠方式固定所述被測裝置的位置和定向。

根據實施例，所述測試裝置包括用於所述將成角度被測裝置推入所述測試托座的推動器，其中，所述推動器被配置為使得當所述推動器處於所述推動位置（用於將所述成角度被測裝置推入被所述測裝置托座）時，所述推動器的第一推動表面相對於所述載體結構（例如，相對於所述載體結構的表面或主表面）傾斜，並且其中，所述推動器被配置為使得當所述推動器處於所述推動位置時，所述推動器的第二推動表面相對於所述載體結構（例如，相對於所述載體結構的表面或主表面）傾斜。

當所述被測裝置移動至所述被測裝置托座中時或當所述被測裝置位於所述被測裝置托座內時，所述第一推動表面和所述第二推動表面的傾斜角度在所述推動器抵接所述被測裝置的所述一個或多個傾斜表面時改進所述被測裝置的對準。

根據實施例，所述被測裝置托座包括被配置為支撐和/或對準所述成角度被測裝置的成角度凹槽或成角度凸起。所述成角度凹槽可具有包圍所述成角度凹槽或所述成角度凸起的至少一部分的邊界。

所述成角度凹槽或所述成角度凸起可改進所述被測裝置在所述被測裝置托座中的對準。對準可至少部分地由所述成角度凹槽的邊界引導。例如，邊界可被配置為支撐所述推動器（例如，以便減少作用在所述被測裝置上的過量的力）。例如，所述成角度凹槽可被配置為支持所述被測裝置的自對準，例如通過具有稍微傾斜的側表面。

根據實施例，所述被測裝置托座被佈置成使得所述成角度被測裝置的與所述成角度被測裝置的所述第二外表面相對的第二內表面（和/或所述成角度被測裝置的與所述被測裝置的所述第二外表面或與所述被測裝置的所述第一外表面相對的第一內表面）與所述載體結構（例如，負載板）間隔開至少10 mm、至少30 mm或至少45 mm，或間隔開所述成角度被測裝置的最低操作頻率下（例如，構成所述被測裝置或包括在所述被測裝置中的封裝天線（AiP）模組的最低操作頻率下）的至少2個波長、至少3個波長或至少4個波長（例如，自由空間波長，或所述成角度被測裝置的所述第一外表面與所述載體結構之間的介質中的波長）（例如，並且使得優選地，所述第一外表面的邊緣與所述負載板間隔開至少10 mm或至少20 mm，或間隔開所述成角度被測裝置的最低操作頻率下（例如，構成所述被測裝置或包括在所述被測裝置中的封裝天線（AiP）模組的最低操作頻率下）的至少2個波長、至少3個波長或至少4個波長（例如，自由空間波長，或所述成角度被測裝置的所述第一外表面與所述載體結構之間的介質中的波長）。

已經認識到，所述被測裝置的所述內表面的間隔進一步減少了由所述被測裝置發射或接收並由所述載體結構引起的電磁輻射的干擾。

根據實施例，所述被測裝置托座包括至少10 mm、至少30 mm或至少45 mm或所述成角度被測裝置的最低操作頻率下（例如，構成所述被測裝置或包括在所述被測裝置中的封裝天線（AiP）模組的最低操作頻率下）的至少2個波長、至少3個波長或至少4個波長（例如，自由空間波長，或所述成角度被測裝置的所述第一外表面與所述載體結構之間的介質中的波長）的最大托座高度（例如，當所述成角度被測裝置放置在所述被測裝置托座中時所述成角度被測裝置的內邊緣所在的高度）。

已經認識到，導致所述被測裝置與所述載體結構之間的距離的所述被測裝置托座的這種幾何形狀導致由所述被測裝置發射或接收並由所述載體結構引起的電磁輻射的干擾足夠小。

根據實施例，所述第一天線或天線結構和所述第二天線或天線結構被佈置成使得所述成角度被測裝置可在垂直於所述載體結構的表面（例如，主表面）的方向上被插入至所述被測裝置托座中而不移動所述第一天線和所述第二天線。替代地或附加地，所述第一天線或天線結構和所述第二天線或天線結構可被佈置成使得所述成角度被測裝置可在垂直於所述載體結構的表面（例如，主表面）的方向上從所述被測裝置托座移除而不移動所述第一天線和所述第二天線。

在不移動所述第一天線結構和所述第二天線結構的情況下插入和/或移除所述被測裝置提高了測試一個或多個被測裝置的測試效率和可靠性。可通過至少使所述被測裝置的所述第一外表面傾斜來促進這種佈置的實現。因此，至少所述第一天線或天線結構可能由於用於傳輸電磁信號的傾斜路徑而橫向偏移（在所述第一天線或天線結構與所述被測裝置的所述第一外表面之間）。

根據實施例，選擇所述第一天線或天線結構與所述第二天線或天線結構之間的間隔，使得所述成角度被測裝置可在垂直於所述載體結構的表面（例如，主表面）的方向上直線地（例如，在直線上）移動穿過所述間隔。因此，可以非常高效且快速的方式實現所述被測裝置的插入和移除。

根據實施例，提供了一種用於對成角度（例如，L形）被測裝置（例如，L形封裝天線被測裝置）進行無線測試的測試裝置。所述測試裝置包括載體結構（例如，PCB測試夾具或負載板）和被測裝置托座，所述被測裝置托座耦合至所述載體結構（例如，所述PCB測試夾具或所述負載板）（例如，直接或通過延伸器組件和/或位於所述載體結構與所述被測裝置托座之間的PCB中介層）。所述被測裝置托座被配置為與所述成角度（例如，L形）被測裝置的內表面（例如，與所述成角度被測裝置的與所述成角度被測裝置的第二外表面相對的內表面）或與佈置在所述成角度（例如，L形）被測裝置的所述內表面上的連接器建立電接觸。所述被測裝置托座被配置為定位所述成角度被測裝置，使得所述成角度（例如，L形）被測裝置的第一外表面相對於所述載體結構（例如，PCB測試夾具或負載板）的表面（例如，主表面）傾斜至少15度。所述被測裝置托座被配置為定位所述成角度被測裝置，使得所述成角度（例如，L形）被測裝置的第二外表面相對於所述載體結構（例如，PCB測試夾具或負載板）的所述表面（例如，主表面）傾斜至少15度。此測試裝置包括類似於上面討論的測試裝置的優點。所述測試裝置可選地可單獨地和組合地由本文公開的任何特徵、功能性和細節補充。

即使出現在不同的附圖中，相同或等效元件或具有相同或等效功能性的元件也在以下描述中由相同或等效的附圖標記表示。

在以下描述中，闡述多個細節以提供對本發明的實施例的更徹底的解釋。然而，對於所屬技術領域中具有通常知識者顯而易見的是，可以在沒有這些具體細節情況下實踐本發明的實施例。在其他情況下，以框圖形式而不是詳細地示出眾所周知的結構和裝置，以避免模糊本發明的實施例。此外，除非另有特別說明，否則下文描述的不同實施例的特徵可選地可相互組合。

圖1示出對成角度被測裝置140進行無線測試的測試裝置100的示例的示意性橫截面。

測試裝置100包括載體結構110和耦合至載體結構110的被測裝置托座130。被測裝置托座130被配置為與成角度被測裝置140的內表面142或與佈置在成角度被測裝置140的內表面142上的連接器（圖1未示出）建立電接觸。被測裝置托座130被配置為定位成角度被測裝置140，使得成角度被測裝置的第一外表面相對於載體結構110的表面112傾斜至少15度的第一角度120。

載體結構110可以是（或包括）印刷電路板（PCB）測試夾具或負載板。載體結構110可例如包括具有平坦表面的區域。被測裝置托座130可佈置在載體結構110的頂部上（例如，在平坦表面上）或可經由一個或多個中間裝置耦合至載體結構110。

圖1所示的測試裝置100可例如用於測試成角度被測裝置140本身（例如，天線結構不檢測由成角度被測裝置發射的電磁輻射）或測試成角度被測裝置140與一個或多個附加天線的組合。例如，測試裝置100可用於測試被測裝置140的功耗或被測裝置140的天線之間的干擾。替代地，測試裝置100可被配置為以無線方式測試被測裝置的一個或多個天線結構。

由於被測裝置托座130被配置為與被測裝置的內表面142接觸，因此被測裝置140的外表面完全（或至少大部分）背向被測裝置托座130和載體110。因此，降低了被測裝置托座130和/或載體結構110對被測裝置140的外表面發射（和/或接收）的輻射（及其測試）的影響。此外，至少15度的第一角度120允許第一外表面144a和第二外表面144b背向載體結構110。因此，第一外表面144a和第二外表面144b從頂部具有改進的可接近性，例如，用於安裝、附接以及傳輸和/或接收。當垂直於載體結構110的表面的力（例如，重力）被施加至被測裝置140時，傾斜角度促進與被測裝置托座130的表面對準。

成角度被測裝置140可以是（或包括）封裝天線（AiP）裝置。成角度被測裝置140可以是L形（如圖1中抽象表示），例如，被測裝置可以是第一板141a連接至第二板141b的裝置，其中，板141a、141b相對於彼此成至少基本上90度的角度（例如，在+/–15度的公差內）。成角度被測裝置140可包括（例如，第一板141a的）第一外表面144a和（例如，第二板141b的）第二外表面144b，其中，第一外表面144a與第二外表面144b相對於彼此成至少基本上270度的角度（例如，在+/–15度的公差內）。成角度被測裝置140的內表面142可包括（例如，第一板141a的）第一內表面142a和（例如，第二板141b的）第二內表面142b，其中，第一內表面142a與第二內表面142b相對於彼此成至少基本上90度的角度（例如，在+/–15度的公差內）。第一內表面142a與第一外表面144a可被佈置成彼此平行。第二內表面142b與第二外表面144b可被佈置成彼此平行。

圖2A示出穿過可代替成角度被測裝置140的成角度被測裝置240的第一示例的示意性橫截面。

被測裝置240包括第一板241a和第二板241b，它們相對於彼此成至少90度的角度（例如，在+/–15度的公差內）。第一板241a包括第一外表面244a和第一內表面242a，並且第二板241b包括第二外表面244b和第二內表面242b。

在圖2A所示的示例中，第一外表面244a包括具有四個天線元件的第一天線陣列246a。然而，第一外表面244a可（附加地或替代地）包括任何其他形式的天線（例如，單個天線和/或圓極化天線）和任何其他數量的天線元件或天線陣列。替代地，第二外表面244b可包括第一天線陣列246a。第一天線陣列246a可被配置為接收和/或傳輸電磁輻射。

被測裝置240可還包括連接器248，例如陣列連接器。在圖2A所示的示例中，（陣列）連接器248佈置在第二內表面242b上。替代地，（陣列）連接器248可佈置在第一內表面242a上或（例如，在多個（陣列）連接器248的情況下）佈置在第一內表面242a和第二內表面242b上。（陣列）連接器248與第一天線陣列246a的至少一個天線元件（例如，所有天線元件）電連接。因此，在（陣列）連接器248處施加的電信號可使第一天線陣列246a發射電磁輻射。替代地或附加地，由第一天線陣列246a接收的電磁輻射可在（陣列）連接器248處生成電信號。（陣列）連接器248可以是或包括一個或多個焊球。（陣列）連接器248可被配置為將被測裝置140（例如，封裝天線模組）連接至系統（例如，連接至手機或連接至被測裝置托座130）並可使得能夠傳輸信號，例如功率信號、數位信號、射頻（RF）信號或中頻（IF）信號。

第一天線陣列246a可直接與（陣列）連接器248電連接，或可與（陣列）連接器248間接耦合，例如，其間有另外的電氣部件。例如，另外的電氣部件可包括放大器、濾波器、開關、電阻器、電容器和集成電路中的至少一者。在圖2A所示的示例中，另外的電氣部件包括天線電路249（例如，矽芯片）。天線電路249可例如被配置為將中頻（IF）信號轉換成mmWave信號（5G帶寬的信號，諸如介於24 Ghz至53 GHz的範圍內）和/或將mmWave信號轉換成IF信號。替代地或附加地，天線電路249可被配置為（至少部分地）控制第一天線陣列246a的波束賦形。

圖2B示出穿過可代替成角度被測裝置140的成角度被測裝置240a的第二示例的示意性橫截面。成角度被測裝置240a的第二示例基本上對應於如圖2A所示的成角度被測裝置240的第一示例，使得相同的元件將用相同的附圖標記指定，但還包括第二外表面244b上的第二天線陣列246b。第二天線陣列246b可具有與第一天線陣列246a類似（或相同）特徵。第二天線陣列246b也可電連接至（陣列）連接器248和天線電路249中的至少一者。替代地，第二天線陣列246b可電連接至單獨（陣列）連接器和/或單獨天線電路。

被測裝置托座130可被配置為定位成角度被測裝置140（例如，成角度被測裝置240或成角度被測裝置240a），使得成角度被測裝置140的第一外表面144a（例如，第一外表面244a）與載體結構110的表面112間隔開和/或背向表面112。被測裝置托座130可被配置為定位成角度被測裝置140，使得成角度被測裝置140的第一外表面144a的表面法線143a相對於載體結構110的表面112的表面法線傾斜至少15度的角度。被測裝置托座130可被配置為定位成角度被測裝置140，使得成角度被測裝置140的第二外表面144b的表面法線143b相對於載體結構110的表面112的表面法線傾斜至少15度的角度。

被測裝置托座130可被佈置成使得優選地第一外表面144a和/或第二外表面144b的邊緣與載體結構110間隔開至少10 mm、至少20 mm，或間隔開成角度被測裝置的最低操作頻率下（例如，構成被測裝置或包括在被測裝置中的封裝天線（AiP）模組的最低操作頻率下）的至少2個波長、至少3個波長或至少4個波長（例如，自由空間波長，或成角度被測裝置840的第一外表面844a和/或第二外表面844b與載體結構810之間的介質中的波長）。成角度被測裝置140可在5G標準的頻帶（例如，具有24 Ghz至53 GHz的範圍（例如，5G頻率範圍2）的帶寬）中操作。在這種情況下，最低操作頻率可以是24 GHz，波長為12.5 mm。第一外表面144a和/或第二外表面144b的邊緣與載體結構110的表面112之間的空間可以是25 mm或更大（即12.5 mm的兩倍）。

圖3示出可代替成角度被測裝置140的成角度被測裝置340的透視圖。

被測裝置340包括具有帶有四個天線元件的第一天線陣列的第一外表面344a和具有帶有四個天線元件的第二天線陣列的第二外表面344b。至少一個天線元件可包括至少一個寄生貼片。在圖3所示的示例中，每個天線元件包括四個寄生貼片。第一外表面344a包括兩個中央天線元件345a、345b。可代替成角度被測裝置140的被測裝置340附近不存在金屬化表面。

圖4示出由圖3中所描繪的被測裝置340的第一外表面344a的天線元件（例如，中央天線元件345a、345b中的一個）發射的遠場的模擬結果。遠場示出垂直於第一外表面344a的兩個中央天線元件345a、345b定向的明顯波束（其中，然而，當被測裝置340應用於系統中時，例如應用於提供金屬化背板的系統中可減少或抑制向後方向的輻射）。

圖5示出可代替成角度被測裝置140的成角度被測裝置540的透視圖。被測裝置540包括具有帶有四個天線元件的第一天線陣列的第一外表面544a和具有帶有四個天線元件的第二天線陣列的第二外表面544b。第一外表面544a包括兩個中央天線元件545a、545b。距離第一外表面544a 2 mm處存在金屬（例如，銅）表面550。

圖6示出由圖5中所描繪的被測裝置540的第一外表面544a的第一天線陣列的天線元件（例如，中央天線元件545a、545b中的一個）發射的遠場的模擬結果（優選地考慮金屬表面550）。與圖4中所描繪的結果相比，遠場示出垂直於第一外表面544a的第一天線陣列的天線元件定向的不太明顯的輻射。相反，遠場的強度更均勻地分佈在被測裝置540周圍，在不同於表面法線至第一外表面544a上的方向的兩個方向上具有單獨主波束。結果表明，附近的金屬化表面會影響被測裝置540發射的遠場，因此會降低測試的準確性和/或再現性。例如，金屬化表面會降低波束賦形天線陣列的空間選擇性和/或改變主波束的方向。

因此，諸如上面所描述的第一外表面144a與載體結構110的表面112之間的角度（以及可選的間隔）可將由第一外表面114a（以及可選的第二外表面144b）發射和/或接收的電場定向成遠離載體結構110，從而提高測試的準確性和/或再現性。

圖7A示出可代替成角度被測裝置140的被測裝置740的示例的透視圖。被測裝置740包括第一內表面742a和第二內表面742b。在圖7A所示的示例中，被測裝置包括具有第一內表面742a的第一板741a和具有第二內表面742b的第二板741b。第一板741a和第二板741b通過諸如三個柔性印刷電路747a、747b、747c等柔性導電結構以機械方式（並且可選地以電氣方式）連接。第一板741a與第二板741b可相對於彼此移動（例如，彎曲）（例如，以便促進系統中的製造組裝）。然而，在一些情況下，板的可移動性可促進與被測裝置托座的連接或耦合。替代地，第一板741a與第二板741b可相對於彼此以固定方式佈置。

被測裝置740包括第二內表面742b上的（陣列）連接器748和矽芯片749（或任何其他天線電路）。矽芯片749可經由（陣列）連接器748間接地電接觸或經由矽芯片749本身的電觸點（圖7A未示出）直接電接觸。本文所描述的被測裝置托座（例如，通過形成相應天線結構）被配置為與被測裝置740的內表面（諸如第二內表面742b上的（陣列）連接器748）建立電接觸。

圖7B示出圖7A中所描繪的被測裝置740的不同透視圖。被測裝置740包括第一外表面744a（在第一板741a上）和第二外表面744b（在第二板741b上）。第一外表面744a和第二外表面744b被配置（例如，通過形成相應天線結構）為發射和/或接收電磁輻射。為此目的，天線元件（例如，天線陣列）可至少部分地佈置在第一表面744a和/或第二表面744b上或至少部分地佈置在第一板741a和/或第二板741b內。在圖7B所示的示例中，第一外表面744a和第二外表面744b被配置為發射和/或接收電磁輻射。替代地，僅第一外表面744a或僅第二外表面744b可被配置為發射和/或接收電磁輻射。

如圖1中可見，第二外表面144b與載體結構110的表面112形成第二角度122。被測裝置托座130可被配置為定位成角度被測裝置130，使得成角度被測裝置140的第二外表面144b相對於載體結構110的表面112傾斜至少15度的第二角度122。

例如，第一角度120可以是（至少基本上）15°、22.5°、30°、45°、60°、67.5°或75°。類似地，第二角度122可以是（至少基本上）15°、22.5°、30°、45°、60°、67.5°或75°。第一內表面142a與第二內表面142b可形成直角。在這種情況下，第一角度120與第二角度122相加為90度。例如，第一角度120和第二角度可以是15°和75°、22.5°和67.5°、30°和60°或45°和45°（即等腰直角三角形）。

測試托座130可包括（至少）兩個支撐表面131a、131b以支撐成角度被測裝置140的兩個內表面142a、142b。兩個支撐表面131a、131b可至少基本上成直角（即90°）佈置。兩個支撐表面131a、131b中的至少一個可凹入在被測裝置托座130中。兩個支撐表面131a、131b都可相對於載體結構110（例如，PCB測試夾具或負載板）的表面112（例如，主表面）傾斜至少15度。例如，兩個支撐表面131a、131b可被佈置為至少相對於彼此與兩個內表面142a、142b基本上成相同的角度（例如，成90度）。兩個支撐表面131a、131b中的至少一個可分別以第一角度120和第二角度122（例如，15°、22.5°、30°、45°、60°、67.5°或75°，反之亦然）佈置。

圖8示出對成角度被測裝置840進行無線測試的測試裝置800的示例的示意性橫截面。

測試裝置800包括載體結構810（可以是本文所描述的任何載體結構）和被測裝置托座830（可以是本文所描述的任何被測裝置托座）。

在圖8所示的示例中，測試裝置800包括支撐結構860，該支撐結構860佈置在載體結構810的表面812上並包括三角形橫截面（例如，在垂直於載體結構810所在平面的平面上）。支撐結構860可被配置為承載被測裝置托座830（例如，直接承載或在其間具有一個或多個層）。支撐結構860可包括被配置為將支撐結構860附接至載體結構810的附接部件。附接部件可包括開口（例如，被配置為接納螺釘）、螺釘、磁體和針中的至少一個。支撐結構860可由介電材料和/或金屬組成或包括介電材料和/或金屬。支撐結構860可包括（例如，內部）電連接，例如，用於在被測裝置托座830與載體結構810（和/或任何其他裝置）之間建立電連接。

如圖8所示，測試裝置800可包括柔性或膜狀或彈性平面導體結構862（例如，柔性或彈性體印刷電路板），該柔性或膜狀或彈性平面導體結構862被佈置成在載體結構810的表面812與被測裝置托座830的相對於載體結構810的表面812傾斜的表面（例如，用於將電信號路由至被測裝置托座830）。在圖8所示的示例中，平面導體結構862覆蓋支撐結構860的兩個表面。替代地，平面導體結構862可覆蓋（至少部分）支撐結構860的僅一個表面。進一步替代地，平面導體結構862可佈置在支撐結構860與載體結構810之間。

如圖8所示，柔性或膜狀或彈性平面導體結構862可電耦合至載體結構810的表面並包括至少一個彎曲以與被測裝置托座830的下表面對準。柔性或膜狀或彈性平面導體結構862可（至少部分地）在支撐結構860的表面上延伸。支撐結構860可佈置在載體結構810的表面812上並可包括三角形橫截面（例如，在垂直於載體結構所在平面的平面上）。橫截面可具有（例如，直角）等腰三角形的形狀。

支撐結構860可被配置為承載被測裝置托座830（例如，直接承載或在其間具有一個或多個層）。為此目的，支撐結構860可（直接或間接）附接至被測裝置托座830（例如，為了更容易處理）或從被測裝置托座830移除（例如，用於不同被測裝置托座的組合）。柔性或膜狀或彈性平面導體結構862可部分地佈置在支撐結構860與被測裝置托座830之間。另外的層（例如，減震層和高度調節層中的至少一個）可佈置在平面導體結構862與被測裝置托座830和支撐結構860中的至少一個之間。

在圖8所示的示例中，被測裝置托座830包括一個或多個同軸彈簧針832，以便與成角度被測裝置830建立電連接。

同軸彈簧針832可例如從被測裝置托座830的下表面延伸至被測裝置托座830的上表面，該下表面可與載體結構810（例如，PCB測試夾具或與負載板）、支撐件接觸結構860、柔性或膜狀或彈性平面導體結構862接觸，該上表面與成角度被測裝置840的內表面842（例如，第一內表面和/或第二內表面）接觸。

同軸彈簧針832的第一端可與載體結構810上（例如，PCB測試夾具上或負載板上）、支撐結構860上或柔性或膜狀或彈性平面導體結構862上的焊盤接觸。同軸彈簧針的第二端可與成角度被測裝置840上的焊盤或與成角度被測裝置840的連接器接觸。同軸彈簧針832的一端或兩端可以是可縮回的。例如，同軸針832的第一端可在被測裝置840被插入至被測裝置托座830中時縮回。替代地或附加地，當被測裝置托座830被佈置至支撐結構860和/或柔性或膜狀或彈性平面導體結構862上時，同軸針832中的第二個可以是可縮回的。

測試裝置800可包括一個或多個天線結構。例如，測試裝置800可包括第一天線或天線結構850（例如，單孔徑天線（例如，雙線性極化或圓極化）），該第一天線或天線結構850被配置為接收從成角度被測裝置840的第一外表面844a輻射的信號和/或被配置為發射將在成角度裝置840的第一外表面844a處接收到的信號。

第一天線或天線結構850可包括例如由波導饋送的孔徑。

第一天線或天線結構850的孔徑可被佈置成距成角度被測裝置840的第一外表面844a一定距離，使得成角度被測裝置的第一外表面的表面法線延伸穿過第一天線或天線結構的孔徑（至少當第二天線或天線結構被放置在操作位置時）。

距第一外表面844a的距離可用包括佈置在第一天線或天線結構850與第一外表面844a之間的低介電常數材料或電磁透明材料的推動器854實現。推動器854可被配置為將被測裝置840推入被測裝置托座830。為此目的，推動器854可包括被配置為將推動器854與載體結構810（直接或間接）附接的附接元件。

第一天線或天線結構850的天線孔徑可相對於載體結構810（例如，相對於載體結構810的表面或主表面812）傾斜。天線孔徑可至少基本上傾斜第一外表面844a與載體結構810的表面812之間的第一角度。第一天線或天線結構850的天線孔徑可被佈置為至少基本上平行於第一外表面844a。在圖8所示的示例中，第一天線或天線結構850的天線孔徑與第一外表面844a相對於載體結構810的表面812傾斜45°。替代地，第一天線或天線結構850的天線孔徑與第一外表面844a可以不同的角度傾斜。

第一天線或天線結構850可被安裝成相對於被測裝置托座830具有固定位置。為此目的，第一天線或天線結構850和被測裝置托座830都可相對於載體結構810具有固定位置。替代地，第一天線或天線結構850可相對於被測裝置托座830具有可調節位置。

第一天線或天線結構850可以機械方式耦合至（例如，附接至）處理器（例如，推動器854）的臂，使得第一天線或天線結構850是可移動的。

處理器的臂可被配置為將成角度被測裝置840插入至被測裝置托座830中和/或將被測裝置840推入被測裝置托座830。

第一天線或天線結構850可被配置為在處理器已將第一天線或天線結構850放置在操作位置中（或等同地，在處理器已將成角度被測裝置840插入至被測裝置托座830時，或在處理器將被測裝置840推入被測裝置托座830時）經由盲插微波連接（例如，經由盲插波導連接）與第一信號源和/或與信號接收器856a連接。

在圖8所示的示例中，第一天線或天線結構850包括（或連接至）與信號源和/或與信號接收器856a連接（或可連接）的第一同軸電纜853a。然而，可替代地使用任何其他形式的電信號傳輸。替代地或附加地，第一天線或天線結構850可連接至任何其他裝置。第一同軸電纜853a可延伸穿過開口。替代地，同軸電纜853a可不延伸穿過開口（例如，在與被測裝置托座840和/或第一天線或天線結構850相同的一側處延伸）。

如圖8中可見，測試裝置800可包括第二天線或天線結構852（例如，單孔徑天線（例如，雙線性極化或圓極化）），該第二天線或天線結構852被配置為接收從成角度被測裝置840的第二外表面844b輻射的信號和/或發射將在成角度被測裝置840的第二外表面844b處接收到的信號（至少當第二天線或天線結構852被放置在操作位置時）（或等同地，當處理器已經將成角度被測裝置840插入至測試托座830中或當處理器將被測裝置840推入測試托座830時）。第二天線或天線結構852可包括例如由波導饋送的孔徑。

第二天線或天線結構852的孔徑可被佈置成距成角度被測裝置840的第二外表面844b一定距離（例如，在第二天線或天線結構852與第二外表面844b之間有包括低介電常數材料或電磁透明材料的推動器854），使得成角度被測裝置840的第二外表面844b的表面法線延伸穿過第二天線或天線結構852的孔徑（至少當第二天線或天線結構852被放置在操作位置時，或等同地，當處理器已將成角度被測裝置840插入至測試托座中830時，或當處理器將被測裝置840推入測試托座830時）。

距第二外表面844b的距離可用推動器854實現。推動器854可包括佈置在第二天線或天線結構852與第二外表面844b之間的低介電常數材料或電磁透明材料。在圖8所示的示例中，測試裝置800包括用於第一天線或天線結構850和第二天線或天線結構852（以及用於第一外表面844a和第二外表面844b）的共同推動器854。替代地，可為第一天線結構850和第二天線結構852（和/或相應第一外表面844a和第二外表面844b）中的每一個提供單獨推動器。

第二天線或天線結構852的天線孔徑可相對於載體結構810（例如，相對於載體結構的表面或主表面）傾斜。第二天線或天線結構852的天線孔徑可至少基本上傾斜第二外表面844b與載體結構810的表面812之間的第二角度。第二天線或天線結構852的天線孔徑可被佈置成至少基本上平行於第二外表面844b。在圖8所示的示例中，第二天線或天線結構852的天線孔徑與第二外表面844b相對於載體結構810的表面812傾斜45°。替代地，第二天線或天線結構852的天線孔徑與第二外表面844b可以不同的角度傾斜。

第二天線或天線結構852可被安裝成相對於被測裝置托座830具有固定位置。為此目的，第二天線或天線結構852和被測裝置托座830都可相對於載體結構810具有固定位置。替代地，第二天線或天線結構852可相對於被測裝置托座830具有可調節位置。

第二天線或天線結構852可以機械方式耦合（例如，附接）至處理器的臂（例如，以推動器854的形式），使得第二天線或天線結構是可移動的。處理器可被配置為將成角度被測裝置840插入至被測裝置托座830中。處理器的臂可被配置為將成角度被測裝置840插入至被測裝置托座830中和/或將被測裝置840推入被測裝置托座830。

第一天線或天線結構850和/或第二天線或天線結構852可以是用於將成角度被測裝置840推入被測裝置托座830的推動器的一部分。第一天線或天線結構850和/或第二天線或天線結構852可被配置為可與用於將成角度被測裝置840推入被測裝置托座的推動器一起移動。例如，推動器可被佈置成使得當被測裝置840被插入至被測裝置托座830中時，推動器或推動器的一部分位於第一天線或天線結構850與成角度被測裝置840的第一外表面844a之間。例如，推動器可被佈置成使得當被測裝置840被插入至被測裝置托座830中時，推動器或推動器的一部分位於第二天線或天線結構852與成角度被測裝置840的第二外表面844b之間。推動器可包括與波導連接的一個或多個孔徑，該波導被配置為在孔徑與第一天線或天線結構850和第二天線或天線結構852中的至少一個之間傳輸電磁波。

第二天線或天線結構852可被配置為在處理器已將第二天線或天線結構852放置在操作位置中（或等同地，在處理器已將成角度被測裝置插入至測試托座中時，或在處理器將被測裝置推入測試托座時）經由盲插微波連接（例如，經由盲插波導連接）與第二信號源和/或與信號接收器856b連接。

應當注意，圖8所示的測試裝置800具有兩個單獨信號源和/或信號接收器856a、856b。然而，測試裝置800可具有共同（例如，單個）信號源和/或信號接收器，該信號源和/或信號接收器可通過單獨或共同電連接（諸如同軸電纜）連接至第一天線或天線結構850和第二天線或天線結構852。

推動器854可被配置為使得當推動器處於推動位置時第一推動表面855a平行於成角度被測裝置840的第一外表面844a並且使得當推動器處於推動位置時第二推動表面855b平行於成角度被測裝置840的第二外表面844b。在圖8所示的示例中，第一外表面844a與第二外表面844b佈置成相對於彼此成直角（即90°），並且推動器854的第一推動表面855a與第二推動表面855b也佈置成彼此成直角。第一推動表面855a和第二推動表面855b中的至少一個可形成在推動器854的凹槽中，例如，以便促進推動器854與被測裝置840之間的對準。推動器854可具有另外的凹槽，這些凹槽被配置為在推動器854將被測裝置840推入被測裝置托座830時接納被測裝置托座830的至少一部分。

推動器854可被配置為使得當推動器854處於推動位置時，推動器854的第一推動表面855a相對於載體結構810傾斜。推動器854被配置為使得當推動器854處於推動位置時，推動器854的第二推動表面855b相對於載體結構810傾斜。

在圖8所示的示例中，當耦合至被測裝置托座830時，第一天線或天線結構850和第二天線或天線結構852的孔徑被佈置成平行於被測裝置840的第一外表面844a和第二外表面844b。結果，推動器854可具有可被佈置成平行於第一推動表面855a的第一外推動表面857a和可被佈置成平行於第二推動表面855b的第二外推動表面857b。

然而，第一天線或天線結構850和第二天線或天線結構852的孔徑可與外表面844a、844b以不同角度佈置。例如，第一外表面844a和第二外表面844b可分別相對於載體結構810的表面812以40°和50°的角度佈置，並且第一天線或天線結構850和第二天線或天線結構852的孔徑可相對於載體結構810的表面812以45°佈置。推動器854可被配置為補償第一天線或天線結構850和第二天線或天線結構852的孔徑與第一外表面844a和第二外表面844b之間的角度失配。例如，第一外推動表面857a和第二外推動表面857b可被佈置為相對於第一推動表面855a和第二推動表面855b傾斜5°。替代地或附加地，第一天線或天線結構850和第二天線或天線結構852中的至少一個可被配置為在位置和定向中的至少一個方面是可調節的。

被測裝置托座830可包括被配置為支撐和/或對準成角度被測裝置840的成角度凹槽或成角度凸起834。在圖8所示的示例中，成角度凹槽或成角度凸起834具有L形的橫截面，例如，呈以直角佈置的兩個板的形式。成角度凹槽或成角度凸起834可具有一個或兩個橫向側壁（例如，平行於成角度凹槽或成角度凸起834的橫截面），例如，以便減少被測裝置840在被測裝置托座830內部的橫向移動。成角度凹槽或成角度凸起834可以臺階為邊界。在圖8所示的示例中，臺階的高度與被測裝置840的第一內表面和第一外表面844a之間的距離至少基本上相同。結果，第一外表面844被佈置成與被測裝置托座830的臺階齊平。替代地，臺階可具有更大的高度（例如，以便為推動器854提供支撐）或更小的高度（例如，以便不限制由推動器854施加至被測裝置840上的壓力）。應當注意，在圖8中，第一推動表面855a和第二推動表面855b在至少上大於第一外表面844a和第二外表面844b。替代地，第一推動表面855a和第二推動表面855b的尺寸可在至少上基本上等於或小於第一外表面844a和第二外表面844b。

被測裝置840可包括成角度裝置840的第一內表面842a，該第一內表面842a與成角度被測裝置840的第一外表面844a相對。被測裝置840可包括成角度裝置840的第二內表面842b，該第二內表面842b與成角度被測裝置840的第二外表面844b相對。被測裝置托座830可被佈置成使得成角度被測裝置840的第一內表面842a和/或第二內表面842b與載體結構810（例如，負載板）間隔開至少10 mm、至少30 mm、至少45 mm，或間隔開成角度被測裝置的最低操作頻率下的至少2個波長、至少3個波長或至少4個波長（例如，自由空間波長，或成角度被測裝置的第一外表面與載體結構之間的介質中的波長）。

例如，最低操作頻率可以是構成被測裝置840或包括在被測裝置840中的封裝天線（AiP）模組的最低操作頻率。

被測裝置托座830可被佈置成使得優選地第一外表面844a和/或第二外表面144b的邊緣與負載板間隔開至少10 mm、至少20 mm，或間隔開成角度被測裝置的最低操作頻率下（例如，構成被測裝置或包括在被測裝置中的封裝天線（AiP）模組的最低操作頻率下）的至少2個波長、至少3個波長或至少4個波長（例如，自由空間波長，或成角度被測裝置840的第一外表面844a和/或第二外表面844b與載體結構810之間的介質中的波長）。

被測裝置托座830可包括至少10 mm、至少30 mm或至少45 mm、或成角度被測裝置的最低操作頻率（例如，構成被測裝置或包含在被測裝置中的封裝天線（AiP）模組的最低操作頻率）下的至少2個波長、至少3個波長或至少4個波長（例如，自由空間波長，或被測裝置托座830與載體結構810的兩個支撐表面的邊緣之間的介質中的波長）的最大托座高度836（例如，在載體結構810的表面812上方）。最大托座高度836可以是成角度被測裝置840被放置在被測裝置托座830中時被測裝置840的內邊緣位於的超出載體結構810的高度。最大托座高度836可以是被測裝置托座830的兩個支撐表面之間的邊緣位於的超出載體結構810的高度。

第一天線或天線結構850和第二天線或天線結構852可被佈置成使得成角度被測裝置840可在垂直於載體結構810的表面812（例如，主表面）的方向上被插入至被測裝置托座830中而不移動第一天線850和第二天線852。替代地或附加地，第一天線或天線結構850和第二天線或天線結構852可被佈置成使得成角度被測裝置840可在垂直於載體結構810的表面812（例如，主表面）的方向上從被測裝置托座830移除）而不移動第一天線850和第二天線852。推動器854的尺寸可設計成使得當被測裝置840、推動器854以及第一天線或天線結構850和第二天線或天線結構852處於操作位置時，推動器854抵接被測裝置840以及第一天線或天線結構850和第二天線或天線結構852。

可選擇第一天線或天線結構850與第二天線或天線結構852之間的間隔（例如，在平行於載體結構810的表面812的方向上），使得成角度被測裝置可直線地（例如，在直線上）在垂直於載體結構的表面（例如，主表面）的方向上移動穿過間隔。可選擇間隔，使得天線裝置840可至少基本上不旋轉地或旋轉地移動穿過間隔，使得第一外（或內）表面844a或第二外（或內）表面844b至少基本上平行於載體結構810的表面812定向。不旋轉地或旋轉地，間隔可比被測裝置840的寬度的5%、10%或20%更寬。

圖9示出可例如在本文公開的任何實施例中使用的被測裝置托座930的示例的透視圖。

被測裝置托座930可被配置為接收本文所描述的任何被測裝置並成為本文所描述的任何測試佈置的一部分。被測裝置托座930可被配置為與本文所描述的任何支撐結構（例如，支撐結構860）耦合（例如，插入至該支撐結構其中），其中，另外的部件（諸如柔性或膜狀或彈性平面導體結構862）可選地可至少部分地佈置在被測裝置托座930與支撐結構之間。

被測裝置托座930包括被配置為支撐和/或對準成角度被測裝置的成角度凹槽或成角度凸起960。成角度凹槽或成角度凸起960包括被配置為抵接被測裝置的第一內表面（例如，第一內表面142a、242a或742a）的第一抵接表面962a和被配置為抵接被測裝置的第二內表面（例如，第二內表面142b、242b或742b）的第二抵接表面962b。第一抵接表面862a和第二抵接表面962b可以抵接表面角度佈置，其中，抵接表面角度（例如，270度）與被測裝置的第一內表面與第二內表面之間的角度（例如，90度）的總和至少基本上為360度。例如，如果被測裝置的第一內表面和第二內表面可以90度角佈置，則抵接表面角度可以是270度（90度與270度之和為360度）。

被測裝置托座930的任何表面都可被配置為與被測裝置的內表面建立電接觸。例如，第一抵接表面962a和/或第二抵接表面962b可被配置為與被測裝置的內表面建立電接觸和/或為被測裝置的天線結構提供接地平面。為此目的，第一抵接表面962a和/或第二抵接表面962b可包括或可由導電材料（例如，金、銅、鐵和鎳中的至少一種）形成。替代地，第一抵接表面和/或第二抵接表面可包括或可由介電（非導電）材料（例如，耐磨材料）形成。可選地，第一抵接表面962a和/或第二抵接表面862b可包括一個或多個（局部）托座連接器965（或用於與被測裝置接觸的其他接觸結構，如導電焊盤、彈簧針、彈簧式觸點等）。托座連接器965被佈置成使得當被測裝置被佈置在被測裝置托座960中時，連接器965與被測裝置的內表面或其連接器（例如，陣列連接器248、748）建立電連接。

被測裝置托座930包括支撐體964，該支撐體964包括主托座結構964a和腿托座結構964b。主托座結構964a和腿托座結構964b都具有長方體外形（可選地具有圓邊），其中，腿托座結構964b的至少兩個邊緣小於（短於）主托座結構964a的兩個邊緣（例如，對應邊緣）。主托座結構964a與腿托座結構964b例如可具有相同的高度。腿托座結構964b的側表面861被佈置成與主托座結構964a的側表面齊平，腿托座結構964b的另外三個側表面相對於主托座結構964a的另外三個（對應）側表面凹陷。因此，腿托座結構964b可例如由載體結構（或耦合至載體結構的延伸器結構）中的開口接納，使得例如被測裝置托座930的橫向移動受到腿托座結構964b的側表面限制。然而，被測裝置托座也可附接在延伸器結構的頂部器，其中，主托座結構964a可佈置在延伸器結構的頂表面上，並且其中，腿托座結構964b可與延伸器結構的側壁相鄰。

被測裝置托座930可還包括或替代地包括在朝向載體結構的方向上從支撐體964（例如，從主托座結構964a）延伸的一個或多個突出部966。突出部966可以是或包括軸（例如，具有圓柱形狀）。突出部966可由載體結構的凹槽接納。替代地或附加地，被測裝置托座930可包括被配置為接納諸如針或螺釘等附接元件的一個或多個貫穿孔。

在圖9所示的示例中，成角度凹槽或成角度凸起960延伸至主托座結構964a和腿托座結構964b中。替代地，成角度凹槽或成角度凸起960可僅延伸至主托座結構964a中。

成角度凹槽或成角度凸起960可在其末端（在圖9中僅一個末端是直接可見的）具有相應側壁968a、968b。側壁968a、968b彼此面對並被佈置成至少基本上彼此平行（忽略可選的錐形）。在圖9所示的示例中，側壁968a、968b被定向成垂直於或至少近似垂直於第一抵接表面962a和第二抵接表面962b。側壁968a、968b可限制被測裝置在成角度凹槽或成角度凸起960內的橫向移動，同時仍然允許被測試裝置平穩且良好引導地插入至成角度凹槽或成角度凸起960中，並還允許平穩地取出被測裝置。替代地，成角度凹槽或成角度凸起960僅包括一個側壁或不包括側壁，例如以便增加關於定位的靈活性。

成角度凹槽或成角度凸起960可包括至少一個錐形，例如，使得橫截面（例如，平行於第一抵接表面962a或第二抵接表面962b）在從外側朝向第一抵接表面或第二抵接表面862b的方向上減小。在圖9所示的示例中，成角度凹槽或成角度凸起960包括第一錐形和第二錐形。根據第一錐形，側壁968a、968b之間的距離朝向第一抵接表面962a減小。根據第二錐形，主托座結構964a的包圍第二抵接表面962b的三個側壁具有朝向第二抵接表面962b減小的橫截面。錐形可具有自定心功能並促進將被測裝置插入至成角度凹槽或成角度凸起960中。

被測裝置托座930可具有與成角度凹槽或成角度凸起960相交的相鄰開口969。在圖9所示的示例中，被測裝置托座930包括佈置在第二抵接表面962b的拐角附近的四個相鄰開口969。替代地，被測裝置托座930可包括定位成與第二抵接表面962b（和/或第一抵接表面962a）相鄰的任何其他位置處的任何其他數量的相鄰開口969。相鄰開口969中的至少一個可被配置為接納具有螺釘頭的螺釘，該螺釘頭被配置為在被測裝置被插入至成角度凸起960中並且螺釘擰入時抵接被測裝置的第一內表面或第二內表面。因此，相鄰開口969可允許將被測裝置附接在被測裝置托座930中。替代地或附加地，相鄰開口969中的至少一個可被配置為接納抓取元件（例如，夾持裝置或用戶的手指）使得抓取元件可從側面觸碰被測裝置（例如，以便將被測裝置插入至被測裝置托座中和/或從被測裝置托座930取出被測裝置）。例如，相鄰開口可適於防止被測裝置傾斜，例如當被測裝置被插入至托座930中時。然而，相鄰開口也可促進從托座930取出被測裝置。

成角度凹槽或成角度凸起960可包括附加凹槽或凸起，例如，以便貼合被測裝置的形狀。例如，圖9所示的成角度凹槽或成角度凸起960包括第一抵接表面962a中的臺階967。臺階967可例如適應第一內表面的結構特徵或為被測裝置提供支撐表面以便在下方形成空間（例如，用於抓取被測裝置）。

被測裝置托座930可包括盲插接口。在圖9所示的示例中，主托座結構964a包括兩個配合（例如，盲插）凹槽963a、963b。替代地，主托座結構964a可包括任何其他數量的配合凹槽。配合凹槽963a、963b被配置為接納推動器或處理器（例如，處理器754）的配合（例如，盲插）突出部。替代地或附加地，主托座結構964a可包括例如被配置為被推動器或處理器（例如，處理器754）的配合（例如，盲插）凹槽接納的一個或多個配合（例如，盲插）突出部。

總之，托座930可接納成角度被測裝置並可與成角度被測裝置建立電接觸。被測裝置可定位（對準）在成角度凹槽或成角度凸起960內，使得可使用天線結構或成角度被測裝置的兩個外表面上的天線對被測裝置進行無線測試。被測裝置在托座中良好對準，同時托座對被測裝置的天線或天線結構的輻射特性的失真可保持在相當小的水平。托座可易於附接至載體結構並可在本文公開的任何實施例中使用。

100:測試裝置 110:載體結構 112:表面 120:第一角度 122:第二角度 130:被測裝置托座 131:支撐表面 131a:支撐表面 131b:支撐表面 140:成角度被測裝置 141a:第一板 141b:第二板 142:內表面 142a:第一內表面 142b:第二內表面 143a:表面法線 143b:表面法線 144a:第一外表面 144b:第二外表面 240:成角度被測裝置 240a:成角度被測裝置 241a:第一板 241b:第二板 242a:第一內表面 242b:第二內表面 244a:第一外表面 244b:第二外表面 246a:第一天線陣列 246b:第二天線陣列 248:連接器 249:天線電路 340:成角度被測裝置 344a:第一外表面 344b:第二外表面 345a:中央天線元件 345b:中央天線元件 540:成角度被測裝置 544a:第一外表面 544b:第二外表面 545a:中央天線元件 545b:中央天線元件 740:成角度被測裝置 741a:第一板 741b:第二板 742a:第一內表面 742b:第二內表面 744a:第一外表面 744b:第二外表面 747a:柔性印刷電路 747b:柔性印刷電路 747c:柔性印刷電路 748:連接器 749:矽芯片 800:測試裝置 810:載體結構 812:表面 830:被測裝置托座 832:同軸彈簧針 834:成角度凹槽或成角度凸起 836:最大托座高度 840:成角度被測裝置 842:內表面 842a:第一內表面 842b:第二內表面 844a:第一外表面 844b:第二外表面 850:第一天線或天線結構 852:第二天線或天線結構 853a:同軸電纜 853b:同軸電纜 854:推動器 855a:第一推動表面 855b:第二推動表面 856a:信號接收器 856b:信號接收器 857a:第一外推動表面 857b:第二外推動表面 860:支撐結構 862:平面導體結構 930:被測裝置托座 960:成角度凹槽或成角度凸起 961:側表面 962a:第一抵接表面 962b:第二抵接表面 963a:配合凹槽 963b:配合凹槽 964:支撐體 964a:主托座結構 964b:腿托座結構 965:托座連接器 966:突出部 967:臺階 968a:側壁 968b:側壁 969:相鄰開口

附圖不一定按比例繪製，而是重點通常放在示出本發明的原理上。在以下描述中，參考以下附圖描述本發明的各個實施例，其中： 圖1     示出用於對成角度被測裝置進行無線測試的測試裝置的示例的示意性橫截面； 圖2A   示出穿過成角度被測裝置的第一示例的示意性橫截面； 圖2B   示出穿過成角度被測裝置的第二示例的示意性橫截面； 圖3     示出成角度被測裝置的透視圖； 圖4     示出圖3中所描繪的被測裝置的第一外表面天線陣列的天線元件所發射的遠場的模擬結果； 圖5     示出成角度被測裝置的透視圖； 圖6     示出圖5中所描繪的被測裝置的第一外表面天線陣列的一個天線元件所發射的遠場的模擬結果； 圖7A   示出被測裝置的示例的透視圖； 圖7B   示出圖7A中所描繪的被測裝置的不同透視圖； 圖8     示出用於對成角度被測裝置進行無線測試的測試佈置的示例的示意性橫截面；以及 圖9     表示被測裝置托座的示例的透視圖。

100:測試裝置

110:載體結構

112:表面

120:第一角度

122:第二角度

130:被測裝置托座

131:支撐表面

131a:支撐表面

131b:支撐表面

140:成角度被測裝置

141a:第一板

141b:第二板

142:內表面

142a:第一內表面

142b:第二內表面

143a:表面法線

143b:表面法線

144a:第一外表面

144b:第二外表面

Claims (31)

1. 一種用於對成角度被測裝置進行無線測試的測試裝置， 其中，所述測試裝置包括載體結構； 其中，所述測試裝置包括耦合至所述載體結構的被測裝置托座， 其中，所述被測裝置托座被配置為與所述被測裝置的內表面或與佈置在所述成角度被測裝置的所述內表面上的連接器建立電接觸，並且 其中，所述被測裝置托座被配置為定位所述成角度被測裝置， 使得所述成角度被測裝置的第一外表面相對於所述載體結構的表面傾斜至少15度。
2. 如請求項1所述的測試裝置， 其中，所述被測裝置托座被配置為定位所述成角度被測裝置， 使得所述成角度被測裝置的第二外表面相對於所述載體結構的所述表面傾斜至少15度。
3. 如請求項1或2所述的測試裝置， 其中，所述被測裝置托座包括兩個支撐表面以支撐所述成角度被測裝置的兩個內表面， 其中，所述兩個支撐表面都相對於所述載體結構的所述表面傾斜至少15度。
4. 如請求項1所述的測試裝置， 其中，所述測試裝置包括支撐結構，所述支撐結構佈置在所述載體結構的表面上並包括三角形橫截面； 其中，所述支撐結構被配置為承載所述被測裝置托座。
5. 如請求項1所述的測試裝置， 其中，所述測試裝置包括柔性或膜狀或彈性平面導體結構，所述柔性或膜狀或彈性平面導體結構被佈置成在所述載體結構的表面與所述被測裝置托座的相對於所述載體結構的所述表面傾斜的表面之間建立連接。
6. 如請求項5所述的測試裝置， 其中，所述柔性或膜狀或彈性平面導體結構電耦合至所述載體結構的表面並包括至少一個彎曲以與所述被測裝置托座的下表面對準。
7. 如請求項5或6所述的測試裝置， 其中，所述柔性或膜狀或彈性平面導體結構在支撐結構的表面上延伸， 其中，所述支撐結構佈置在所述載體結構的表面上並包括三角形橫截面； 其中，所述支撐結構被配置為承載所述被測裝置托座；並且 其中，所述柔性或膜狀或彈性平面導體結構部分地佈置在所述支撐結構與所述被測裝置托座之間。
8. 如請求項1所述的測試裝置， 其中，所述被測裝置托座包括一個或多個同軸彈簧針，以便與所述成角度被測裝置建立電連接。
9. 如請求項1所述的測試裝置， 其中，所述測試裝置包括第一天線或天線結構，所述第一天線或天線結構被配置為接收從所述成角度被測裝置的所述第一外表面輻射的信號和/或被配置為發射將在所述成角度被測裝置的所述第一外表面處接收到的信號。
10. 如請求項1所述的測試裝置， 其中，所述測試裝置包括第一天線或天線結構，其中，所述第一天線或天線結構的孔徑被佈置成距所述成角度被測裝置的所述第一外表面一定距離，使得所述成角度被測裝置的所述第一外表面的表面法線延伸穿過所述第一天線或天線結構的所述孔徑。
11. 如請求項9至10中一項所述的測試裝置， 其中，所述第一天線或天線結構的天線孔徑相對於所述載體結構傾斜。
12. 如請求項9至10中的一項所述的測試裝置， 其中，所述第一天線或天線結構的天線孔徑平行於所述成角度被測裝置的所述第一外表面。
13. 如請求項9至10中一項所述的測試裝置， 其中，所述第一天線或天線結構被安裝成相對於所述被測裝置托座具有固定位置。
14. 如請求項9至10中一項所述的測試裝置， 其中，所述第一天線或天線結構以機械方式耦合至處理器的臂，使得所述第一天線或天線結構是可移動的。
15. 如請求項9至10中一項所述的測試裝置， 其中，所述第一天線或天線結構被配置為在處理器已將所述第一天線或天線結構放置在操作位置中時經由盲插微波連接與信號源和/或與信號接收器連接。
16. 如請求項9所述的測試裝置， 其中，所述測試裝置包括第二天線或天線結構，所述第二天線或天線結構被配置為接收從所述成角度被測裝置的第二外表面輻射的信號和/或發射將在所述成角度被測裝置的所述第二外表面處接收到的信號。
17. 如請求項10所述的測試裝置， 其中，所述測試裝置包括第二天線或天線結構，其中，所述第二天線或天線結構的孔徑被佈置成距所述成角度被測裝置的第二外表面一定距離，使得所述成角度被測裝置的所述第二外表面的表面法線延伸穿過所述第二天線或天線結構的所述孔徑。
18. 如請求項16至17中一項所述的測試裝置， 其中，所述第二天線或天線結構的天線孔徑相對於所述載體結構傾斜。
19. 如請求項16至17中一項所述的測試裝置， 其中，所述第二天線或天線結構的天線孔徑平行於所述成角度被測裝置的所述第二外表面。
20. 如請求項16至17中一項所述的測試裝置， 其中，所述第二天線或天線結構被安裝成相對於所述被測裝置托座具有固定位置。
21. 如請求項16至17中一項所述的測試裝置， 其中，所述第二天線或天線結構以機械方式耦合至處理器的臂，使得所述第二天線或天線結構是可移動的。
22. 如請求項16至17中一項所述的測試裝置， 其中，所述第一天線或天線結構和/或所述第二天線或天線結構是用於將所述成角度被測裝置推入所述被測裝置托座的推動器的一部分，或者 其中，所述第一天線或天線結構和/或所述第二天線或天線結構被配置為能夠與用於將所述成角度被測裝置推入所述被測裝置托座的所述推動器一起移動。
23. 如請求項16至17中一項所述的測試裝置， 其中，所述第二天線或天線結構被配置為在所述處理器已將所述第二天線或天線結構放置在操作位置中時經由盲插微波連接與信號源和/或與信號接收器連接。
24. 如請求項1所述的測試裝置， 其中，所述測試裝置包括用於將所述成角度被測裝置推入所述被測裝置托座的推動器， 其中，所述推動器被配置為使得當所述推動器處於推動位置時第一推動表面平行於所述成角度被測裝置的所述第一外表面，並且 其中，所述推動器被配置為使得當所述推動器處於所述推動位置時第二推動表面平行於所述成角度被測裝置的所述第二外表面。
25. 如請求項1所述的測試裝置， 其中，所述測試裝置包括用於將所述成角度被測裝置推入所述被測裝置托座的推動器， 其中，所述推動器被配置為使得當所述推動器處於所述推動位置時所述推動器的第一推動表面相對於所述載體結構傾斜，並且 其中，所述推動器被配置為使得當所述推動器處於所述推動位置時所述推動器的第二推動表面相對於所述載體結構傾斜。
26. 如請求項1所述的測試裝置， 其中，所述被測裝置托座包括被配置為支撐和/或對準所述成角度被測裝置的成角度凹槽或成角度凸起。
27. 如請求項1所述的測試裝置， 其中，所述被測裝置托座被佈置成使得所述成角度被測裝置的與所述成角度被測裝置的所述第二外表面相對的第二內表面與所述載體結構間隔開至少10 mm、至少30 mm或至少45 mm，或間隔開所述成角度被測裝置的最低操作頻率下的至少2個波長、至少3個波長或至少4個波長。
28. 如請求項1所述的測試裝置， 其中，所述被測裝置托座包括至少10 mm、至少30 mm或至少45 mm或所述成角度被測裝置的最低操作頻率下的至少2個波長、至少3個波長或至少4個波長的最大托座高度。
29. 如請求項16至17中一項所述的測試裝置， 其中，所述第一天線或天線結構和所述第二天線或天線結構被佈置成使得能夠在垂直於所述載體結構的表面的方向上將所述成角度被測裝置插入至所述被測裝置托座中，而不移動所述第一天線或天線結構和所述第二天線或天線結構，並且/或者 其中，所述第一天線或天線結構和所述第二天線或天線結構被佈置成使得能夠在垂直於所述載體結構的表面的方向上從所述被測裝置托座移除所述成角度被測裝置，而不移動所述第一天線或天線結構和所述第二天線或天線結構。
30. 如請求項16至17中一項所述的測試裝置， 其中，第一天線或天線結構與第二天線或天線結構之間的間隔被選擇為使得所述成角度被測裝置能夠在垂直於所述載體結構的表面的方向上直線移動穿過所述間隔。
31. 一種用於對成角度被測裝置進行無線測試的測試裝置， 其中，所述測試裝置包括載體結構； 其中，所述測試裝置包括耦合至所述載體結構的被測裝置托座， 其中，所述被測裝置托座被配置為與所述被測裝置的內表面或與佈置在所述成角度被測裝置的所述內表面上的連接器建立電接觸，並且 其中，所述被測裝置托座被配置為定位所述成角度被測裝置， 使得所述成角度被測裝置的第一外表面相對於所述載體結構的表面傾斜至少15度，並且 使得所述成角度被測裝置的第二外表面相對於所述載體結構的所述表面傾斜至少15度。

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