TW202324765A

TW202324765A - 電子裝置

Info

Publication number: TW202324765A
Application number: TW111118880A
Authority: TW
Inventors: 李淂裕; 劉侑宗; 廖偉汝
Original assignee: 群創光電股份有限公司
Priority date: 2021-12-03
Filing date: 2022-05-20
Publication date: 2023-06-16
Also published as: CN116247061A; TWI830313B; TW202324313A

Abstract

本揭露提供一種電子裝置，其特徵在於，包括：一感測裝置，該感測裝置包括：一抗反射單元；一電路層，包括一薄膜電晶體，設置於該抗反射單元上；以及一光感測元件，設置於該電路層上，且電性連接至該薄膜電晶體。

Description

電子裝置

本揭露有關於一種電子裝置，特別是有關於一種具有抗反射單元的電子裝置。

指紋感測技術適用於個人的識別或認證，廣泛運用在生活中，其中光學式的指紋辨識是目前關注度很高且被主要推崇的技術之一，對於應用在多種電子裝置上有卓越的潛力。

一般來說，一個良好的光學指紋感測器，必須具備高的安全程度(即低錯誤接受率(False Acceptance Rate，FAR)，生物辨識系統誤將不合法使用者辨認為合法使用者的機率低)，以及高的便利性(即低錯誤拒絕率(False Rejection Rate，FRR)，生物辨識系統將合法使用者誤判為不合法使用者的機率低)。為求降低光學指紋感測器誤判的機率，須將任何可能干擾判定指紋之光訊號的來源排除。

根據本揭露的一實施例，提供一種電子裝置，其特徵在於，包括：一感測裝置，該感測裝置包括：一抗反射單元；一電路層，包括一薄膜電晶體，設置於該抗反射單元上；以及一光感測元件，設置於該電路層上，且電性連接至該薄膜電晶體。

根據本揭露的一實施例，提供一種電子裝置，其特徵在於，包括：一感測裝置，該感測裝置包括：一基板，包括一第一側與一相對於該第一側的第二側；一抗反射層，設置於該第一側上；一電路層，包括一薄膜電晶體，設置於該第二側上；以及一光感測元件，設置於該電路層上，且電性連接至該薄膜電晶體。

根據本揭露的一實施例，提供一種電子裝置，其特徵在於，包括：一框體；以及一感測裝置，包括：一基板，包括一第一側與一相對於該第一側的第二側；一抗反射層，設置於該第一側上；一電路層，包括一薄膜電晶體，設置於該第二側上；以及一光感測元件，設置於該電路層上，且電性連接至該薄膜電晶體；其中，該感測裝置透過該抗反射層貼附於該框體上。

以下的揭露內容提供許多不同的實施例以實施本案的不同特徵。以下的揭露內容敘述各個構件及其排列方式的特定範例，以簡化說明。當然，這些特定的範例並非用以限定。例如，若是本揭露實施例敘述了一第一特徵部件形成於一第二特徵部件之上或上方，即表示其可能包含上述第一特徵部件與上述第二特徵部件是直接接觸的實施例，亦可能包含了有附加特徵部件形成於上述第一特徵部件與上述第二特徵部件之間，而使上述第一特徵部件與第二特徵部件可能未直接接觸的實施例。

應理解的是，額外的操作步驟可實施於所述方法之前、之間或之後，且在所述方法的其他實施例中，部分的操作步驟可被取代或省略。

此外，其中可能用到與空間相關用詞，例如「在…下方」、「下方」、「較低的」、「在…上方」、「上方」、「較高的」及類似的用詞，這些空間相關用詞係為了便於描述圖示中一個(些)元件或特徵部件與另一個(些)元件或特徵部件之間的關係，這些空間相關用詞包括使用中或操作中的裝置之不同方位，以及圖式中所描述的方位。當裝置被轉向不同方位時(旋轉45度或其他方位)，則其中所使用的空間相關形容詞也將依轉向後的方位來解釋。再者，當述及一第一材料層位於一第二材料層上或之上時，包括第一材料層與第二材料層直接接觸之情形，或者，其間亦可能間隔有一或更多其它材料層之情形，在此情形中，第一材料層與第二材料層之間可能不直接接觸。在本揭露一些實施例中，關於接合、連接之用語例如「連接」、「互連」等，除非特別定義，否則可指兩個結構係直接接觸，或者亦可指兩個結構並非直接接觸，其中有其它結構設於此兩個結構之間。且此關於接合、連接之用語亦可包括兩個結構都可移動，或者兩個結構都固定之情況。

在說明書中，「約」、「大約」、「大抵」、「大致」、「實質上」、「相同」、「相似」之用語通常表示一特徵值在一給定值的正負15%之內，或正負10%之內，或正負5%之內，或正負3%之內，或正負2%之內，或正負1%之內，或正負0.5%之內的範圍。在此給定的數量為大約的數量，亦即在沒有特定說明「約」、「大約」、「大抵」、「大致」、「實質上」的情況下，仍可隱含「約」、「大約」、「大抵」、「大致」、「實質上」之含義。

應當理解的是，雖然本文使用術語「第一」、「第二」、「第三」等來描述不同的元件、部件、區域、層及/或區段，這些元件、部件、區域、層及/或區段不應當被這些術語所限制。這些術語可以僅被用於將一個元件、部件、區域、層或區段與另一元件、部件、區域、層或區段區分開來。因此，在不脫離本揭露的技術的前提下，以下討論的第一元件、部件、區域、層或區段可以被稱為第二元件、部件、區域、層或區段。

除非另外定義，在此使用的全部用語(包括技術及科學用語)具有與此篇揭露所屬之一般技藝者所通常理解的相同涵義。能理解的是，這些用語，例如在通常使用的字典中定義的用語，應被解讀成具有與相關技術及本揭露的背景或上下文一致的意思，而不應以一理想化或過度正式的方式解讀，除非在本揭露實施例有特別定義。

請參閱第1圖，根據本揭露的一實施例，提供一種電子裝置10。第1圖為電子裝置10的剖面示意圖。如第1圖所示，電子裝置10包括一感測裝置19。感測裝置19可包括抗反射單元12、電路層14、以及光感測元件16。電路層14可設置於抗反射單元12上。光感測元件16可設置於電路層14上。電路層14可包括一薄膜電晶體33，薄膜電晶體33可包括一第一絕緣層26、一第一金屬層28、一半導體層24、以及一第二金屬層32。第一金屬層28可包括閘極，第二金屬層32可包括源極和汲極，第一絕緣層26可設置於第一金屬層28和第二金屬層32之間。光感測元件16可電性連接至薄膜電晶體33。例如，光感測元件16可電性連接至由第二金屬層32構成的電極(例如汲極)。上述各元件的結構及材料組成詳述如下。

如第1圖所示，感測裝置19可包括光路引導結構18，可設置於光感測元件16上。電子裝置10可包括感測裝置19和顯示器20，感測裝置19可設置在顯示器20下方。感測裝置19可藉由黏著層(未顯示)而固定於顯示器20的下方。顯示器20可設置於感測裝置19上，例如，可設置於光路引導結構18上。

在第1圖中，抗反射單元12可包括一基板12’。基板12’包括一第一側S1與一相對於第一側S1的第二側S2。電路層14可設置在基板12’的第二側S2上。依據一些實施例，抗反射單元12可為基板12’，亦即，基板12’本身可作為一抗反射單元。基板12’可為吸光材料。例如，基板12’可由可吸收穿透光感測元件16的光訊號的材料或結構所構成，或是由可吸收穿透光感測元件16的特定波長的光訊號的材料或結構所構成。依據一些實施例，抗反射單元12可避免穿透光感測元件16的光訊號反射回光感測元件16，而影響光感測元件16的光訊號感測效果。依據一些實施例，感測裝置19可作為生物辨識的感測，例如，指紋辨識的感測。在部份實施例中，基板12’可包括硬質基板或軟性基板。在部份實施例中，硬質基板可包括矽基板或玻璃基板，但本揭露不限於此。在部份實施例中，軟性基板可包括聚醯亞胺(PI)基板、聚對苯二甲酸乙二醇酯(PET)基板、或聚碳酸酯(PC)基板，但本揭露不限於此。在部份實施例中，基板12’的厚度可為介於大約10微米(micrometers)至大約100微米，但本揭露不限於此。

在第1圖中，電路層14可包括緩衝層22、半導體層24、第一絕緣層26、第一金屬層28、層間介電層(ILD) 30、第二金屬層32、第二絕緣層34、第一平坦層36、以及第三金屬層38。緩衝層22設置於基板12上。半導體層24設置於緩衝層22上。第一絕緣層26設置於緩衝層22上，並覆蓋半導體層24。第一金屬層28設置於第一絕緣層26上。層間介電層(ILD) 30設置於第一絕緣層26上，並覆蓋第一金屬層28，且形成開口31，露出部分的半導體層24。第二金屬層32設置於層間介電層(ILD) 30上，並填入開口31，與半導體層24電性連接。此處，第一絕緣層26可作為閘絕緣層，第一金屬層28可包括閘極，半導體層24可作為主動層，第二金屬層32可包括源極和汲極。因此，第一絕緣層26、第一金屬層28、半導體層24、以及第二金屬層32可構成一薄膜電晶體33。第二絕緣層34設置於層間介電層(ILD) 30上，並覆蓋第二金屬層32。第一平坦層36設置於第二絕緣層34上，並形成開口37，露出部分的第二金屬層32。第三金屬層38設置於第一平坦層36上，並填入開口37，與第二金屬層32電性連接。

在部份實施例中，緩衝層22、第一絕緣層26、層間介電層(ILD) 30、第二絕緣層34、以及第一平坦層36可包括有機材料或無機材料，例如，氧化矽、氮化矽、氮氧化矽、或其組合，但本揭露不限於此。在部份實施例中，半導體層24可包括非晶矽、多晶矽、或金屬氧化物，但本揭露不限於此。在部份實施例中，第一金屬層28、第二金屬層32、以及第三金屬層38可包括鉬、鋁、銅、鈦、或其組合，例如，鉬/鋁/鉬、鈦/鋁/鈦、或鈦/鋁/鉬，但本揭露不限於此，其他適合的導電材料亦適用於本揭露。

在第1圖中，光感測元件16可設置於電路層14上，且電性連接至薄膜電晶體33。例如，光感測元件16可電性連接至由第二金屬層32構成的電極(例如汲極)。第三金屬層38可設置於第二金屬層32上，且可設置於第一平坦層36的開口37中，與第二金屬層32所構成的汲極電性連接。具體而言，光感測元件16可設置於第三金屬層38上，與第三金屬層38電性連接。因此，光感測元件16可藉由第三金屬層38而與薄膜電晶體33電性連接。光感測元件16可包括對光線可產生響應的元件。在部份實施例中，光感測元件16可包括感光二極體(photodiode)，但本揭露不限於此。而感光二極體可包括有機感光二極體(organic photodiode)、無機發光二極體(inorganic light emitting diode)，但本揭露不限於此。感光二極體可為PN型、或PIN型，但本揭露不限於此。第三絕緣層40設置於第一平坦層36上，並覆蓋第三金屬層38與部分的光感測元件16。第二平坦層42設置於第三絕緣層40上，並形成開口43，露出部分的光感測元件16。第四絕緣層44設置於第二平坦層42上，並填入開口43，露出部分的光感測元件16。電極層46設置於第四絕緣層44上，並填入開口43，與光感測元件16電性連接。

在部份實施例中，第三絕緣層40、第二平坦層42、以及第四絕緣層44可包括有機材料、無機材料、或其組合，例如可包括氧化矽、氮化矽、氮氧化矽、或其組合，但本揭露不限於此。在部份實施例中，電極層46可包括銦錫氧化物(ITO)，但本揭露不限於此，其他適合的導電材料亦適用於本揭露。

在第1圖中，光路引導結構18包括第三平坦層48、第五絕緣層50、第四金屬層52、第六絕緣層54、第四平坦層56、第一介電層58、第一遮光層60、第二介電層62、第二遮光層64、第七絕緣層66、以及微透鏡68。第三平坦層48設置於電極層46上。第五絕緣層50設置於第三平坦層48上。第四金屬層52設置於第五絕緣層50上。第四金屬層52複數個開口52’。第六絕緣層54設置於第四金屬層52上，並填入第四金屬層52的開口52’。第四平坦層56設置於第六絕緣層54上。第一介電層58設置於第四平坦層56上。第一遮光層60設置於第一介電層58上。第一遮光層60包括複數個第一開孔60’。第二介電層62設置於第一遮光層60上，並填入第一遮光層60的第一開孔60’。第二遮光層64設置於第二介電層62上。第二遮光層64包括複數個第二開孔64’。第七絕緣層66設置於第二遮光層64上，並填入第二遮光層64的第二開孔64’。微透鏡68可設置於第七絕緣層66上，可對應下方的光感測元件16。

依據一些實施例，如第1圖所示，手指可觸碰顯示器20的表面20S。顯示器20所產生的光線可經手指反射之後產生反射光。反射光可經由微透鏡68、第二遮光層64的第二開孔64’、第一遮光層60的第一開孔60’到達光感測元件16。位於光感測元件16下方的抗反射單元12可吸收穿透光感測元件16的光訊號，避免穿透光感測元件16的光訊號反射回光感測元件16，影響光感測元件16的感測品質。依據一些實施例，抗反射單元12可避免穿透光感測元件16的光訊號反射回光感測元件16，而影響光感測元件16的光訊號感測效果。依據一些實施例，感測裝置19可作為生物辨識的感測，例如，指紋辨識的感測。

依據一些實施例，光路引導結構18的設置可對於光線的路徑進行引導，但並非必要元件。例如，第一遮光層60的第一開孔60’可避免大角度漏光。第二遮光層64的第二開孔64’可避免微透鏡68的漏光。依據一些實施例，第四金屬層52可具有開口52’。依據一些實施例，第二平坦層42的開口43、第一遮光層60的第一開孔60’、第二遮光層64的第二開孔64’，第四金屬層52的開口52’，在基板12’的法線方向(例如，圖1中的Z方向)上可與光感測元件16重疊。如此，光線可經由第二開孔64’、第一開孔60’、開口52’、和開口43，而傳送至光感測元件16。依據一些實施例，微透鏡68在基板12’的法線方向(Z方向)上可與光感測元件16重疊，可具有集光的效果，可將光線聚集到光感測元件16上。

依據一些實施例，第二開孔64’、第一開孔60’、和開口52’的尺寸可不限制，第二開孔64’的寬度可大於、小於、等於第一開孔60’的寬度，可大於、小於、等於開口52’的寬度。依據一些實施例，第二開孔64’的寬度可大於第一開孔60’的寬度，第一開孔60’的寬度可大於開口52’的寬度，但並不以此為限。上述第二開孔64’、第一開孔60’、開口52’、和開口43的寬度，可在相同的剖面圖中作量測。

在部份實施例中，第三平坦層48、第五絕緣層50、第六絕緣層54、第四平坦層56、第一介電層58、第二介電層62、以及第七絕緣層66可包括有機材料或無機材料，例如，氧化矽、氮化矽、氮氧化矽、或其組合，但本揭露不限於此。在部份實施例中，第四金屬層52可包括鉬、鋁、銅、鈦、或其組合，例如，鉬/鋁/鉬、鈦/鋁/鈦、或鈦/鋁/鉬，但本揭露不限於此，其他適合的導電材料亦適用於本揭露。在部份實施例中，第一遮光層60與第二遮光層64可包括鉻、氧化鉻、或黑色樹脂，但本揭露不限於此。

在部份實施例中，顯示器20可包括背光模組(未圖示)與顯示面板(未圖示)，但本揭露不限於此。在部份實施例中，背光模組可包括光源模組、反射片、導光板、光學膜片組、以及背板，但本揭露不限於此。在部分實施例中，光源模組可包括發光二極體(light emitting diode，LED)，但本揭露不限於此。依據一些實施例，顯示器20可為具有顯示功能的裝置，例如，顯示器20可為液晶顯示器、有機發光二極體(organic light emitting diode，OLED)顯示器、無機發光二極體(inorganic light emitting diode)顯示器、次毫米發光二極體(mini LED)、微發光二極體(micro LED)顯示器、或量子點發光二極體(quantum dot LED，QLED/QDLED)顯示器，但本揭露不限於此。在部分實施例中，光學膜片組可包括下擴散膜、上擴散膜、下增光膜、上增光膜、或稜鏡片，但本揭露不限於此。在部分實施例中，顯示器20可包括下偏光膜、薄膜電晶體層、彩色濾光層、上偏光膜、以及玻璃蓋板，但本揭露不限於此。

請參閱第2圖，根據本揭露的一實施例，提供一種電子裝置10。第2圖為電子裝置10的剖面示意圖。

第2圖所示電子裝置10中各元件的結構及材料組成類似於第1圖所示的電子裝置10，此處不再贅述。與第1圖的主要差異在於，在第2圖中，抗反射單元12包括一基板12’與一抗反射層70。例如，於基板12’與電路層14之間，增加設置有抗反射層70。抗反射層70設置於基板12’的一側上。具體而言，基板12’包括一第一側S1與一相對於第一側S1的第二側S2。抗反射層70可設置於基板12’的第二側S2上。抗反射層70例如可為吸光層。依據一些實施例，抗反射層70可包括吸光材料，例如，抗反射層70可包括一膠體以及一摻雜於膠體內的吸光材料。

抗反射層70可抑制光線反射，其可吸收特定波長的光，例如，可見光或IR波段的光線。此特定波長的光線的範圍介於大約400奈米至大約750奈米之間。抗反射層70對於波長介於大約400奈米至大約750奈米之間的光的吸收率大於50%。

在部份實施例中，抗反射層70可包括半導體材料、有機絕緣材料、或無機絕緣材料，但本揭露不限於此。在部份實施例中，半導體材料可包括非晶矽，但本揭露不限於此。在部份實施例中，有機絕緣材料可包括壓克力系聚合物、聚亞醯胺、聚脂、環氧樹脂、或其組合、或其他適合的有機絕緣材料。在部份實施例中，適用於抗反射層70的無機絕緣材料可包括氧化矽、氮化矽、氮氧化矽、氧化鋁、或其組合、或其他適合的無機絕緣材料。在部份實施例中，當抗反射層70為半導體材料時，其厚度可為介於1奈米(nm; nanometers)至2微米(μm; micrometers)之間，例如可為介於10奈米至2微米之間，例如可為介於1奈米至5奈米之間，但本揭露不限於此。在部份實施例中，當抗反射層70為有機絕緣材料時，其厚度可為介於大約1微米至大約15微米之間，但本揭露不限於此。在部份實施例中，當抗反射層70為無機絕緣材料時，其厚度可為介於大約1奈米至大約100奈米之間，但本揭露不限於此。在部份實施例中，當抗反射層70為有機絕緣材料時，可藉由材料本身的光學特性或添加色阻，以吸收特定波長的光。此外，亦可藉由製程(例如，高溫製程)，使有機絕緣材本身產生質變，以增加對特定波長光的吸收。

抗反射層70設置的目的在於避免穿透光感測元件16的光訊號於光感測元件16下方的其他結構(例如，基板)反射，因為打到其他結構(例如，基板)反射回光感測元件16的光訊號會干擾光感測元件16感測打到指紋反射的光訊號，進而影響輸出的指紋影像品質。

請參閱第3圖，根據本揭露的一實施例，提供一種感測裝置10。第3圖為電子裝置10的剖面示意圖。

第3圖所示電子裝置10中各元件的結構及材料組成類似於第1圖所示的電子裝置10，此處不再贅述。與第1圖的主要差異在於，在第3圖中，抗反射單元12包括基板12’與抗反射層70，且抗反射層70設置於基板12’的一側上。具體而言，基板12’包括一第一側S1與一相對於第一側S1的第二側S2。抗反射層70可設置於基板12’的第一側S1上，電路層14可設置在第二側上S2。電路層14可包括薄膜電晶體33。光感測元件16設置於電路層14上，且可電性連接至薄膜電晶體33。第3圖所示抗反射層70和其他元件的材料組成及尺寸如前所述，此處不再贅述。抗反射層70設置於基板12’的下方(第一側S1)，可用於吸收穿透光感測元件16及基板12的光訊號，避免該光訊號反射回光感測元件16。

請參閱第4圖，根據本揭露的一實施例，提供一種電子裝置10。第4圖為電子裝置10的剖面示意圖。

第4圖所示電子裝置10中各元件的結構及材料組成類似於第3圖所示的感測裝置10，此處不再贅述。與第3圖的主要差異在於，在第4圖中，電子裝置10包括一框體72，感測裝置19透過抗反射層70貼附於框體72上。抗反射層70可設置於基板12’的第一側S1上，框體72可設置於第一側S1上，電路層14可設置在第二側上S2。

在第4圖中，抗反射層70可包括具備黏著性的膠體。依據一些實施例，抗反射層70可包括吸光材料，例如，抗反射層70可包括一膠體以及一摻雜於膠體內的吸光材料。如此，當感測裝置19組裝至電子裝置10中時，感測裝置19的抗反射層70可直接貼合至電子裝置10的框體72上。例如，感測裝置19的抗反射層70可直接貼附在手機模組的中框上，進而縮短製程及節省成本。在部份實施例中，具備黏著性的膠體可包括壓克力系、聚氨酯(Polyurethane，PU)系、或矽系(Silicone)，但本揭露不限於此。在部份實施例中，吸光材料可為色阻，可吸收特定波長的光，例如，黑色色阻或綠色色阻。

請參閱第5圖，根據本揭露的一實施例，提供一種電子裝置10。第5圖為電子裝置10的剖面示意圖。

第5圖所示電子裝置10中各元件的結構及材料組成類似於第1圖所示的電子置10，此處不再贅述。與第1圖的主要差異在於，在第5圖中，抗反射單元12包括基板12’與抗反射層74。也就是，於基板12’與電路層14之間，增加設置有抗反射層74。抗反射層74設置於基板12’的一側上。具體而言，基板12’包括一第一側S1與一相對於第一側S1的第二側S2。抗反射層74可設置於基板12’的第二側S2上。

在部份實施例中，抗反射層74可由金屬材料或氧化物薄膜所組成。在部份實施例中，當抗反射層74為金屬材料時，其可包括銅(Cu)、鋁(Al)、鉬(Mo)、銦(In)、釕(Ru)、錫(Sn)、金(Au)、鉑(Pt)、鋅(Zn)、銀(Ag)、鈦(Ti)、鉛(Pb)、鎳(Ni)、鉻(Cr)、鎂(Mg)、鈀(Pd)、或上述材料的合金、或上述材料的組合、或其他適合的金屬材料。

請參閱第6圖，根據本揭露的一實施例，提供一種電子裝置10。第6圖為電子裝置10的剖面示意圖。

第6圖所示電子裝置10中各元件的結構及材料組成類似於第1圖所示的電子裝置10，此處不再贅述。與第1圖的主要差異在於，在第6圖中，抗反射單元12包括基板12’與抗反射層74，且抗反射層74設置於基板12’的一側上。具體而言，抗反射層74可設置於基板12’的第一側S1上，電路層14可設置在第二側上S2。第6圖所示抗反射層74的材料組成類似於第5圖所示的抗反射層74，此處不再贅述。

請參閱第7圖，根據本揭露的一實施例，提供一種電子裝置10。第7圖為電子裝置10的剖面示意圖。

第7圖所示電子裝置10中各元件的結構及材料組成類似於第1圖所示的電子裝置10，此處不再贅述。與第1圖的主要差異在於，在第7圖中，抗反射單元12可包括一基板12’以及一抗反射層74。抗反射層74可包括多層(74a、74b、74c)。也就是，於基板12’與電路層14之間，可增加設置有多層抗反射層，包括第一抗反射層74a、第二抗反射層74b、以及第三抗反射層74c，但本揭露不限於此。其他層數抗反射層亦適用於本揭露，例如，兩層或四層(含)以上。在第7圖中，第一抗反射層74a設置於基板12上，第二抗反射層74b設置於第一抗反射層74a上，以及第三抗反射層74c設置於第二抗反射層74b上。抗反射層74設置於基板12’的一側上。具體而言，基板12’包括一第一側S1與一相對於第一側S1的第二側S2。抗反射層74可設置於基板12’的第二側S2上。

在部份實施例中，第一抗反射層74a為絕緣材料，第二抗反射層74b為金屬材料，第三抗反射層74c為絕緣材料，但本揭露不限於此，其他材料組合亦適用於本揭露。依據一些實施例，抗反射層74可包括一第一無機層74a；一金屬層74b，設置於第一無機層74b上；以及一第二無機層74c，設置於金屬層74b上，但本揭露不限於此。

在部份實施例中，抗反射層所使用的絕緣材料可包括無機絕緣材料或有機絕緣材料。在部份實施例中，無機絕緣材料可包括氧化矽、氮化矽、氮氧化矽、氧化鋁、或前述的組合、或其他適合的無機絕緣材料。在部份實施例中，有機絕緣材料可包括全氟烷氧基烷烴聚合物(perfluoroalkoxy alkane，PFA)、聚四氟乙烯(polytetrafluoroethylene，PTFE)、全氟乙烯丙烯共聚物(fluorinated ethylene propylene，FEP)、聚乙烯、或前述的組合、或其他適合的有機絕緣材料。在部份實施例中，抗反射層所使用的金屬材料可包括銅(Cu)、鋁(Al)、鉬(Mo)、銦(In)、釕(Ru)、錫(Sn)、金(Au)、鉑(Pt)、鋅(Zn)、銀(Ag)、鈦(Ti)、鉛(Pb)、鎳(Ni)、鉻(Cr)、鎂(Mg)、鈀(Pd)、或上述材料的合金、或上述材料的組合、或其他適合的金屬材料。在部份實施例中，當抗反射層為絕緣材料時，其厚度介於大約500埃至大約1,000埃。在部份實施例中，當抗反射層為金屬材料時，其厚度介於大約40埃至大約200埃，或介於大約40埃至大約160埃。

本揭露藉由多層抗反射層使穿透光感測元件16的光訊號在通過不同薄膜時所產生的反射光彼此進行破壞性干涉，抵消光強度，達成抗反射的效果。

在部份實施例中，抗反射層12的表面可包含多個微結構(未圖示)。抗反射層12可具有不平整的表面。例如，抗反射層12的表面具有表面起伏的構造。例如，抗反射層12的表面具有曲面構造。如此，抗反射層12的表面上的微結構可將光線打散，可使穿透光感測元件16的光訊號打到抗反射層後產生漫射，進而減少反射回光感測元件16的光訊號。上述抗反射層12的表面，可為較接近顯示器20的表面。

本揭露電子裝置作為一種光學指紋感測裝置，適用於具有顯示器的電子裝置，包含設置在顯示器下方用於實現屏下光學指紋感測的光學指紋感測陣列(例如，光感測元件16)、設置於顯示器與光學指紋感測陣列之間且將打到指紋反射之光訊號傳輸到光學指紋感測陣列的光路引導結構、以及設置於光學指紋感測陣列下方用於吸收穿透光學指紋感測陣列之光訊號的吸光層或是用於避免穿透光學指紋感測陣列之光訊號反射回光學指紋感測陣列的單層或多層抗反射層。

本揭露之電子裝置包括感測裝置，感測裝置可包括抗反射單元。依據一些實施例，可避免不必要的反射訊號干擾感測的判定，進而增加安全性及便利性。

上述一些實施例的部件，以便在本揭露所屬技術領域中具有通常知識者可以更理解本揭露實施例的觀點。在本揭露所屬技術領域中具有通常知識者應該理解，他們能以本揭露實施例為基礎，設計或修改其他製程和結構以達到與在此介紹的實施例相同之目的及/或優勢。在本揭露所屬技術領域中具有通常知識者也應該理解到，此類等效的結構並無悖離本揭露的精神與範圍，且他們能在不違背本揭露之精神和範圍之下，做各式各樣的改變、取代和替換。因此，本揭露之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。另外，雖然本揭露已以數個較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本揭露。

整份說明書對特徵、優點或類似語言的引用，並非意味可以利用本揭露實現的所有特徵和優點應該或者可以在本揭露的任何單個實施例中實現。相對地，涉及特徵和優點的語言被理解為其意味著結合實施例描述的特定特徵、優點或特性包括在本揭露的至少一個實施例中。因而，在整份說明書中對特徵和優點以及類似語言的討論可以但不一定代表相同的實施例。

再者，在一個或多個實施例中，可以任何合適的方式組合本揭露的所描述的特徵、優點和特性。根據本文的描述，相關領域的技術人員將意識到，可在沒有特定實施例的一個或多個特定特徵或優點的情況下實現本揭露。在其他情況下，在某些實施例中可辨識附加的特徵和優點，這些特徵和優點可能不存在於本揭露的所有實施例中。

10:電子裝置 12:抗反射單元 12’:基板 14:電路層 16:光感測元件 18:光路引導結構 19:感測裝置 20:顯示器 20S:顯示器的表面 22:緩衝層 24:半導體層 26:第一絕緣層 28:第一金屬層 30:層間介電層 31,37,43:開口 32:第二金屬層 33:薄膜電晶體 34:第二絕緣層 36:第一平坦層 38:第三金屬層 40:第三絕緣層 42:第二平坦層 44:第四絕緣層 46:電極層 48:第三平坦層 50:第五絕緣層 52:第四金屬層 52’:開口 54:第六絕緣層 56:第四平坦層 58:第一介電層 60:第一遮光層 60’:第一開孔 62:第二介電層 64:第二遮光層 64’:第二開孔 66:第七絕緣層 68:微透鏡 70,74:抗反射層 72:框體 74a:第一抗反射層 74b:第二抗反射層 74c:第三抗反射層 S1:基板的第一側 S2:基板的第二側

以下將配合所附圖式詳述本揭露實施例。應注意的是，各種特徵部件並未按照比例繪製且僅用以說明例示。事實上，元件的尺寸可能經放大或縮小，以清楚地表現出本揭露實施例的技術特徵。第1圖根據本揭露的一實施例，一種電子裝置的剖面示意圖；第2圖根據本揭露的一實施例，一種電子裝置的剖面示意圖；第3圖根據本揭露的一實施例，一種電子裝置的剖面示意圖；第4圖根據本揭露的一實施例，一種電子裝置的剖面示意圖；第5圖根據本揭露的一實施例，一種電子裝置的剖面示意圖；第6圖根據本揭露的一實施例，一種電子裝置的剖面示意圖；第7圖根據本揭露的一實施例，一種電子裝置的剖面示意圖。

10:電子裝置

12:抗反射單元

12’:基板

14:電路層

16:光感測元件

18:光路引導結構

19:感測裝置

20:顯示器

20S:顯示器的表面

22:緩衝層

24:半導體層

26:第一絕緣層

28:第一金屬層

30:層間介電層

31,37,43:開口

32:第二金屬層

33:薄膜電晶體

34:第二絕緣層

36:第一平坦層

38:第三金屬層

40:第三絕緣層

42:第二平坦層

44:第四絕緣層

46:電極層

48:第三平坦層

50:第五絕緣層

52:第四金屬層

52’:開口

54:第六絕緣層

56:第四平坦層

58:第一介電層

60:第一遮光層

60’:第一開孔

62:第二介電層

64:第二遮光層

64’:第二開孔

66:第七絕緣層

68:微透鏡

70:抗反射層

S1:基板的第一側

S2:基板的第二側

Claims

一種電子裝置，包括：提供一基板；形成一焊料與一助焊劑於該基板上；接合一電子元件於該焊料上；以及移除至少一部分的該助焊劑。
如請求項1的電子裝置，其中該抗反射單元包括一基板。
如請求項1的電子裝置，其中該抗反射單元包括一基板與一抗反射層，設置於該基板上。
如請求項3的電子裝置，其中該抗反射層包括一半導體材料。
如請求項4的電子裝置，其中該抗反射層的厚度介於1奈米至2微米之間。
如請求項3的電子裝置，其中該抗反射層包括一有機絕緣材料。
如請求項6的電子裝置，其中該抗反射層的厚度介於1微米至15微米之間。
如請求項3的電子裝置，其中該抗反射層包括一無機絕緣材料。
如請求項8的電子裝置，其中該抗反射層的厚度介於1奈米至100奈米之間。
如請求項3的電子裝置，其中該抗反射層包括一第一無機層；一金屬層，設置於該第一無機層上；以及一第二無機層，設置於該金屬層上。
如請求項3的電子裝置，其中該抗反射層的表面包含多個微結構。
一種電子裝置，包括：一感測裝置，該感測裝置包括：一基板，包括一第一側與一相對於該第一側的第二側；一抗反射層，設置於該第一側上；一電路層，包括一薄膜電晶體，設置於該第二側上；以及一光感測元件，設置於該電路層上，且電性連接至該薄膜電晶體。
一種電子裝置，包括：一框體；以及一感測裝置，包括：一基板，包括一第一側與一相對於該第一側的第二側；一抗反射層，設置於該第一側上；一電路層，包括一薄膜電晶體，設置於該第二側上；以及一光感測元件，設置於該電路層上，且電性連接至該薄膜電晶體；其中，該感測裝置透過該抗反射層貼附於該框體上。
如請求項13的電子裝置，其中該抗反射層包括一膠體以及一摻雜於該膠體內的吸光材料。