TW202324354A - 電致發光顯示設備以及其顯示缺陷偵測方法 - Google Patents

電致發光顯示設備以及其顯示缺陷偵測方法 Download PDF

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Abstract

一種電致發光顯示設備包含顯示面板，所述顯示面板包含被連接至資料線、閘極線以及低位準電力線的至少一個子像素以及透過資料線以及低位準電力線被連接至所述至少一個子像素以比較來自資料線的第一輸入電壓與來自低位準電力線的第二輸入電壓以產生比較輸出的比較器。第一輸入電壓為參考電壓，且第二輸入電壓為能夠從輸出化電壓被偏移的所述至少一個子像素的特定節點的電壓。

Description

電致發光顯示設備以及其顯示缺陷偵測方法
本揭露相關於一種電致發光顯示設備以及其顯示缺陷偵測方法。
電致發光設備基於發光層的材料分類為無機發光顯示設備以及有機發光顯示設備。電致發光設備的每一個子像素包含自發光的發光裝置且使用基於影像資料的灰階的資料電壓控制從發光顯示裝置發出的光的大小以調整亮度。
當子像素隨著驅動時間經過而損害時，熱點缺陷可能因為異常的短路而發生。需要用於偵測被識別為熱點的缺陷子像素的另外的偵測線，且在此情況中，像素陣列可能變得複雜且/或面板的孔徑比可能被減少。孔徑比為像素的發光區域與像素的整個區域的比例。
為了克服先前技術的前述問題，本揭露可提供一種電致發光顯示設備以及其顯示缺陷偵測方法，其可在不需要另外的偵測線之下偵測異常短路造成的缺陷子像素。
為達成如在本文中所實施並廣泛說明的這些目標以及其他優勢並根據本揭露的目的，一種電致發光顯示設備包含顯示面板，所述顯示面板包含被連接至資料線、閘極線以及低位準電力線的至少一個子像素，以及透過資料線以及低位準電力線被連接到所述至少一個子像素以比較來自資料線的第一輸入電壓以及來自低位準電力線的第二輸入電壓以產生比較輸出的比較器，其中第一輸入電壓為參考電壓且第二輸入電壓為能夠從初始化電壓被移位的至少一個子像素的特定節點的電壓。
在本揭露另一方面中，電致發光顯示設備的顯示缺陷偵測方法被提供，電致發光顯示設備包含被連接至資料線、閘極線以及低位準電力線的至少一個子像素，所述方法包含透過資料線接收第一輸入電壓以及透過低位準電力線接收第二輸入電壓且比較第一輸入電壓與第二輸入電壓以產生比較輸出，其中第一輸入電壓為參考電壓且第二輸入電壓為能夠從初始化電壓被移位的至少一個子像素的特定節點的電壓。
在下文中，本揭露的解釋性的實施例將參考附圖詳細地被說明。在說明書中，在每個圖中為元件加入標號中，已被使用其他圖中的相似元件上的相同標號在所有可能的元件上被使用。在以下的說明中，當已被熟知的功能或配置被判斷將不必要的模糊本揭露的要點時，詳細的說明將會被省略。
圖1為根據一實施例的電致發光顯示設備。
請參考圖1，根據本揭露一實施例的電致發光顯示設備可包含顯示面板10、時序控制器11、資料驅動器12、閘極驅動器13、缺陷偵測電路14以及電源電路15。
於顯示輸入影像的顯示面板10上的螢幕區域中，在行方向（或垂直方向）中延伸的資料線DL可與在列方向（或水平方向）中延伸的閘極線GL相交，且像素PXL可在多個相交區域中以矩陣類型被佈置以配置像素陣列。在像素陣列中，低位準電力線PW2可在行方向中延伸，且被佈置在相同行線中的多個子像素可被連接至相同的低位準電力線PW2。低位準電力線PW2以及資料線DL的每一者可在行方向中被連接至與其相鄰的子像素，且每條閘極線GL可在列方向中被連接至與其相鄰的子像素。多個子像素可配置一個像素PXL。
當子像素隨驅動時間經過損害時，由異常短路造成的熱點缺陷可能發生。低位準電力線PW2以及資料線DL可被使用以偵測缺陷示是否在子像素中發生，且因此，另外的偵測線可不被需要。
時序控制器11可從主機系統接收時序訊號像是垂直同步訊號（Vsync）、水平同步訊號（Hsync）、資料致能訊號（DE）以及點時脈（DCLK）（前述訊號均未在圖1中表示）以產生用於控制資料驅動器12以及閘極驅動器13的每一者的工作時序的時序控制訊號。時序控制訊號可包含用於控制閘極驅動器13的閘極時序控制訊號GDC以及用於控制資料驅動器12的資料時序控制訊號DDC。
資料驅動器被佈置以透過資料線供應資料電壓至子像素，其中資料電壓的位準是基於比較輸出。例如，時序控制器11可從主機系統接收影音資料DATA且可從缺陷偵測電路14接收比較輸出OUT（例如，從比較器COMP）。當比較結果OUT輸入至時序控制器時，時序控制器11可執行暗點處理演算法（劣化子像素速補償演算法）以調變將被輸入至對應劣化子像素的影音資料DATA。當配置一個像素PXL的至少一個子像素為劣化的時，所述一個子像素PXL可被判斷為是劣化的。在此情況中，時序控制器11可只將要被施加至缺陷子像素的影音資料DATA替換為黑灰階資料，或可替換所有將被施加至具有缺陷的一個子像素PXL的影音資料DATA為黑灰階資料。時序控制器11可供應用於暗點處理的黑灰階資料以及其他影音資料DATA至資料驅動器12。
時序控制器11可基於時序控制訊號DDC以及GDC在時間上劃分顯示驅動以及偵測驅動。顯示驅動可為施加包含黑灰階資料的影音資料DATA至像素PXL以在螢幕上顯示輸入影像的操作。偵測驅動可為偵測用於在缺陷子像素上執行暗點處理的缺陷子像素的操作。
缺陷偵測電路14可從時序控制器11接收採樣時脈SCLK，採樣時脈SCLK導致比較輸出OUT輸出至時序控制器。
顯示驅動可在垂直主動週期中被執行，前述垂直主動週期為資料致能訊號DE在一幀中由邏輯高位準被移位至邏輯低位準。另一方面，偵測驅動可在顯示面板的螢幕的電源被關閉的狀態中執行。舉例而言，偵測驅動可在電源開啟週期中執行直到系統主電源被施加後的螢幕重現開始之前，或可在電源關閉週期中被執行直到螢幕再現結束後而系統主電源被釋放之前。電源開啟週期可為在螢幕再現開始之前發生但是在系統主電源被施加至顯示設備之後的一段時間。電源關閉週期可為螢幕再現結束但是在系統主電源從顯示設備被從螢幕移除之前的一段時間。螢幕再現可被描述為螢幕區域在顯示面板上顯示輸入影像的一段時間。
資料驅動器12可透過資料線DL被連接至子像素。資料驅動器12可產生用於子像素的顯示驅動或偵測驅動所需的資料電壓且可基於資料時序控制訊號DDC供應資料電壓至資料線DL。用於顯示驅動的資料電壓可為影音資料DATA的數位類比轉換結果，且為此目的，資料驅動器12可包含多個數位類比轉換器。用於偵測驅動的資料電壓（圖4的Vdata）可為具有截止（關斷）位準（圖4的VOFF）的偵測資料電壓以及偵測參考電壓。偵測資料電壓及偵測參考電壓的每一者可為不考慮影音資料DATA的固定電壓或預設電壓。在偵測驅動中，資料驅動器12可供應偵測資料電壓至資料線DL，接著可提供偵測參考電壓至資料線DL。偵測參考電壓可包含兩者不同的第一參考電壓（圖4的VL）以及第二參考電壓（圖4的VH）。
資料驅動器12可用多個源極驅動積體電路配置。源極積體電路的每一者可被安裝在可撓性電路膜上且可被接合至顯示面板10，並且，可包含移位暫存器、鎖存器、數位類比轉換器以及輸出緩衝器。源極積體電路的每一者更可包含用於產生偵測資料電壓以及偵測參考電壓的另外的電路。
閘極驅動器13可透過閘極線GL被連接至子像素。
在顯示驅動中，閘極驅動器13可基於閘極時序控制訊號GDC產生掃描訊號且可基於資料電壓供應時序將掃描訊號供應至閘極線GL。被供應資料電壓的水平顯示線可透過掃描訊號被選擇。掃描訊號的每一者可用在閘極導通位準以及閘極關斷位準之間擺盪的脈衝形式被產生。具有導通位準的掃描訊號可被設為高於電晶體的閾值電壓的電壓，且具有關斷位準的掃描訊號可被設為低於電晶體的閾值電壓的電壓。被包含在子像素中的電晶體可響應於具有導通位準的掃描訊號而被導通且可響應於具有關斷位準的掃描訊號而關斷。
更進一步，在偵測驅動中，閘極驅動器13可基於閘極時序控制訊號GDC的產生偵測掃描訊號（圖4的SCAN）且可供應偵測掃描訊號至預定的閘極線GL。偵測資料電壓將被供應至的水平顯示線可由偵測掃描訊號選擇。
閘極驅動器13可包含閘極移位暫存器，所述閘極移位暫存器包含多個輸出級（stage）。閘極移位暫存器可在顯示面板10的顯示區域外部的邊框區域中被提供。閘極移位暫存器的所述多個輸出級可透過串聯被彼此連接且可傳送以及接收進位訊號。所述多個輸出級可為獨立地連接至閘極線GL且可輸出掃描訊號至閘極線GL。
閘極驅動器13可包含轉換具有導通位準以及關斷位轉的擺盪幅度（width）的閘極時序控制訊號GDC以及供應被轉換的閘極時序控制訊號GDC至閘極移位暫存器的位準偏移器。所述位準偏移器可被安裝在電性連接至顯示面板10的印刷電路板（PCB）上。由時序控制器產生的閘極時序控制訊號GDC以電晶體至電晶體位準（transistor-to-transistor，TTL）擺盪。位準偏移器轉換閘極時序控制訊號GDC的電晶體至電晶體位準為導通位準以及關斷位準。導通位準以及關斷位準的電壓擺盪幅度大於電晶體對電晶體的電壓擺盪幅度
缺陷偵測電路14可透過資料線DL以及低位準電力線PW2被連接至子像素。在偵測驅動中，缺陷偵測電路14可透過資料線DL被供應第一輸入電壓且可透過低位準電力線PW2被供應第二輸入電壓。缺陷偵測電路14可用第二輸入電壓與第一輸入電壓比較以產生比較輸出OUT。在此，第一輸入電壓可為偵測參考電壓且第二輸入電壓可為能夠從預定或預設的初始化電壓偏移的子像素的特定節點（例如，源極節點）的電壓。特定節點的電壓能夠從初始化電壓被偏移，因為例如導致特定節點即使藉由與其他線斷線而浮接（floated）依舊充電或放電的像素中的缺陷（例如，與本文中說明的初始化電力端以及低位準電力端斷線）。
在偵測驅動中，偵測資料電壓具有關斷位準且初始化電壓可被施加至對應子像素。被包含在對應子像素中的驅動元件可由具有截止位準的偵測資料電壓關斷，且因此，驅動電流可不在驅動元件中流動。在此情況中，被連接到驅動元件的特定節點可為浮接的（例如，不存在於初始電力端或低位準電力端的任何連接中），且因此，若異常短路電路各種類型的任一者不發生對應在特定節點中，特定節點應維持在被施加的初始化電壓。然而，若多種類型的異常短路發生在對應的子像素中，特定節點的電壓可不被維持在初始化電壓且可為低於或高於初始化電壓（例如，初始化電壓隨著時間減少或增加）。缺陷偵測電路14可透過低位準電力線PW2接收能夠如上述般從初始化電壓被偏移的對應子像素的特定節點的電壓。
電源電路15可產生用於子像素的顯示驅動的高位準驅動電壓以及低位準驅動電壓。電源電路15可產生用於子像素偵測驅動所需的初始化電壓。在偵測驅動中，電源電路15可透過低位準電力線PW2供應初始化電壓至子像素的特定節點。
圖2為根據一實施例繪示的像素PXL的連接配置。
請參考圖2，根據一實施例的像素PXL可包含多個子像素SP。所述多個子像素SP可配置一個像素PXL以實現多種顏色組合。所述多個子像素SP可包含紅色（R）、綠色（G）、藍色（B）以及白色（W）子像素SP，但並不受限於前述。
所述多個子像素SP的每一者可包含反向有機發光二極體（OLED）的發光裝置。反向有機發光二極體可被供應高位準驅動電壓作為共同電壓，且因此，配置一個像素PXL的子像素SP的所有有機發光二極體的陽極電極可透過共同高位準電力線PW1被連接至高位準電力端EVDD。
配置一個像素PXL的子像素SP可透過不同低位準電力線PW2被連接至低位準電力端EVSS。不同低位準電力線PW2可為物理上彼此相隔，且因此，各可被使用作為偵測線。
配置一個像素PXL的子像素SP可透過不同資料線DL被連接至資料驅動器，且因此，可從資料驅動器被供應資料電壓Vdata。資料線DL可為物理上彼此相隔，且因此，各可被使用作為偵測線。
配置一個像素PXL的子像素SP可透過一條閘極線GL被連接至閘極驅動器，且因此，可被供應來自閘極驅動器的掃描訊號SCAN。
圖3繪是根據一實施例的子像素SP以及缺陷偵測電路之間的連接配置的圖。
參考圖3，子像素SP可包含發光裝置EL、驅動電晶體DT、開關電晶體ST以及儲存電容器Cst，且可被實現作為反向類型。子像素SP以反向類型被實現的原因可以是為了將低位準電力線PW2作為偵測線使用。並且，當子像素SP作為反向類型被實現時，子像素SP的結構可被簡化，且因此，具有高解析度的顯示面板的孔徑比以及大面積可簡單地增加。
發光顯示裝置EL可被實現為有機發光二極體。有機發光二極體的陽極電極可透過共同高位準電力線PW1被連接至高位準電力端EVDD，且有機發光二極體OLED的陰極電極可被連接至驅動元件DT的一個電極。
驅動元件DT可包含被連接至第一節點N1（閘極節點）的閘極電極、被連接至發光裝置EL的陰極電極的汲極電極（第一電極）以及被連接第二節點N2（源極節點）的源極電極（第二電極）。在此，第二節點N2可為將被偵測的特定節點。在下文中，特定節點可被稱為源極節點。
開關元件ST可被連接在資料線DL以及第一節點N1之間且可基於透過閘極線GL被供應的掃描訊號SCAN導通/關閉。
儲存電容器Cst可被連接至第一節點N1以及第二節點N2且可維持驅動元件DT的閘極源極電壓。
請參考圖3，子像素SP可透過資料線DL以及低位準電力線PW2被連接至缺陷偵測器14A。缺陷偵測器14A可包含比較器COMP、第一開關SW1以及第二開關SW2。
比較器COMP的第一輸入端（＋）可被連接至資料線DL，且比較器的第二輸入端（-）可被連接至低位準電力線PW2。比較器COMP可透過資料線DL接收第一輸入電壓、透過低位準電力線PW2接收第二輸入電壓且從時序控制器11接收採樣時脈SCLK。第一輸入電壓可為預定的偵測參考電壓，且第二輸入電壓可為子像素SP的源極節點N2的電壓。
比較器COMP可基於採樣時脈SLK比較偵測參考電壓與源極節點N2電壓以產生比較輸出OUT。也就是說，比較輸出OUT響應於採樣時脈訊號SCLK而被輸出。比較器COMP可傳送比較輸出OUT至時序控制器11。時序控制器11可判斷子像素SP是否發生缺陷且基於比較輸出OUT的邏輯值判斷缺陷的類型。為此目的，透過實驗取得的預定缺陷類型查表可預先被儲存。時序控制器11可執行用於缺陷子像素的暗點處理演算法以調變將被輸入至對應缺陷子像素的影音資料DATA。
第一開關SW1可將驅動子像素SP所需的低位準驅動電壓供應給子像素SP的源極節點N2。第一開關SW1可被連接在低位準電力線PW2以及低位準電力端EVSS之間。第一開關SW1可在顯示驅動中維持導通狀態且可在偵測驅動中維持關斷狀態。第一開關SW1可在偵測驅動中被關斷，且因此，低位準電壓線PW2可被使用作為偵測線。
第二開關SW2可供應初始化電壓Vpre至子像素SP的源極節點N2。第二開關SW2可被連接在低位準電力線PW2以及初始化電力端之間。第二開關SW2可在偵測驅動的初始化週期被導通且可在偵測驅動的其他週期中被關斷。
圖4為根據一實施例的缺陷偵測電路以及子像素的每一者的工作波形。
請參考圖4，偵測驅動可以初始化週期X1、過渡週期X2以及偵測週期X3的順序執行。
被施加至子像素SP的掃描訊號SCAN可在初始化週期X1以及過渡週期X2中具有導通位準，且在偵測週期X3中具有關斷位準。
被包含在缺陷偵測器14A第一開關SW1可在初始化週期X1、過渡週期X2以及偵測週期X3中維持關斷狀態。
被包含在缺陷偵測器14A中的第二開關SW2可在初始化週期X1中維持導通狀態且可在過渡週期X2以及偵測週期X3中維持關斷狀態。
資料驅動器可在初始化週期X1以及過渡週期X2中供應具有關斷位準的偵測資料電壓VOFF至資料線DL且可在偵測週期X3中供應偵測參考電壓至資料線DL。偵測參考電壓可包含低於初始化電壓Vpre的第一參考電壓VL以及高於初始化電壓Vpre的第二參考電壓VH。第一參考電壓VL可為用於偵測源極節點的電壓VN2低於初始化電壓Vpre的第一缺陷Defect1類型（下溢（underflow）類型）的偵測參考電壓。第二參考電壓VH可為用於偵測源極節點的電壓VN2高於初始化電壓Vpre的第二缺陷Defect2類型（溢出（overflow）類型）的偵測參考電壓。
下溢類型的第一缺陷可由子像素SP的開關元件的短路缺陷以及/或子像素SP的儲存電容器的短路缺陷導致。開關元件的短路缺陷可包含開關元件的閘極源極短路、閘極汲極短路以及/或汲極源極短路。儲存電容器的短路缺陷可代表配置儲存電容器的兩電極之間的短路。
溢出類型的第二缺陷可由子像素SP的驅動元件的短路缺陷以及/或子像素SP的發光裝置的短路缺陷造成。驅動元件的短路缺陷可包含驅動元件的閘極源極短路、閘極汲極短路以及汲極源極短路。發光裝置的短路缺陷可代表發光裝置的陽極電極以及陰極電極之間的短路。
當上述的缺陷類型發生在子像素SP中時，子像素SP的源極節點電壓VN2可不維持初始化電壓Vpre且可在過渡週期X2以及偵測週期X3中低於或高於初始化電壓Vpre。
在偵測週期X3中，資料驅動器可供應第一參考電壓VL至資料線DL，接著，可供應第二參考電壓VH至資料線DL。
比較器COMP可基於第一採樣時脈SCLK比較第一參考電壓VL以及子像素SP的源極節點N2（例如，當第一採樣時脈SCLK如圖4中所示的第一次在高電壓時）以如圖4中OUT訊號圖所示的在偵測週期X3的第一時序產生第一比較輸出，且可基於第二採樣時脈SCLK比較第二參考電壓VH以及子像素SP的源極節點電壓N2（例如，當第二採樣時脈SCLK如圖4中所示第二次在高電壓時）以接者第一時序且如圖4所表示的OUT訊號圖一般在偵測週期X3以第二時序產生第二比較輸出。第一比較輸出以及第二比較輸出的每一者可為指示高電壓的「1」以及指示低電壓的「0」的其中一者。採樣時脈SCLK作為鎖存輸出OUT訊號的時脈/鎖存。例如，OUT訊號可自第一採樣時脈的SCLK的上升緣的時間上升到「1」（或下降到「0」），且如果OUT訊號在第二採樣時脈SCCLK時改變，OUT訊號將自第二採樣時脈SCLK的上升緣的時間下降到「0」（或上升到「1」）。
在採樣時脈SCCLK訊號的第一時序，當子像素SP的源極節點電壓VN2低於第一參考電壓VL時，比較器COMP可產生高電壓「1」作為第一比較輸出，且可在當子像素SP的源極節點電壓VN2大於或等於第一參考電壓VL時產生低電壓「0」作為第一比較輸出。這可以是因為子像素SP的源極節點電壓VN2，也就是偵測目標電壓，輸入至比較器COMP的第二輸入端（－）。
於採樣時脈SCLK訊號的第二時序，比較器COMP可在當子像素SP的源極節點電壓VN2大於第二參考電壓VH時產生低電壓「0」作為第二比較輸出，且可在當子像素SP的源極節點電壓VN2低於或等於第二參考電壓VH時產生高電壓「1」作為第二比較輸出。
比較器COMP可傳送第一比較輸出以及第二比較輸出至時序控制器11。時序控制器11可基於第一比較輸出以及第二比較輸出的邏輯組合判斷子像素SP的缺陷是否發生。詳細來說，只有當第一比較輸出以及第二比較輸出的邏輯組合為（1，0）時，時序控制器11可判斷子像素SP在正常狀態中，不然，可判斷子像素SP在缺陷狀態中。
更進一步，當時序控制器11的邏輯組合為（1，1）時，可判斷下溢類型的第一缺陷發生在子像素SP中，且當時序控制器11的邏輯組合為（0，0）時，時序控制器11可判斷溢出類型的第二缺陷發生在子像素SP中。
圖5至圖8為繪示缺陷偵測電路的佈置位置的多種例子。在圖5至圖8中，「SPSB」可代表源極印刷電路板，「COF」可代表可撓性電路膜且「SIC」可代表源極積體電路。
在圖5至圖7中，第一開關SW1被連接至低位準電力線PW2以及低位準電力端EVSS之間。第二開關SW2被連接至低位準電力線PW2以及供應初始化電壓Vpre至多個子像素SP的初始化電力端之間。低位準電力端EVSS被連接至電源電路15以及第一開關SW1之間，且初始化電力端被連接至電源電路15以及第二開關SW2之間。
在圖5至圖8中，比較器COMP的輸出端被連接至時序控制器11。
參考圖5，配置缺陷偵測電路14A的比較器COMP以及第一開關SW1以及第二開關SW2可被設置在顯示面板10不顯示影像的虛擬區域DMY中。如此，可以有利地允許源極印刷電路板SPCB的尺寸被減少。在此情況中，被佈置在顯示面板10的影像顯示區域ACT中的相同行線COL中的多個子像素SP可共享被設置在虛擬區域DMY中的缺陷偵測器14A。缺陷偵測器14A可被連接至被佈置在相同行線COL中的資料線DL以及低位準電力線PW2。
缺陷偵測器14A可於顯示面板10的多個虛擬區域DMY中被提供。該些缺陷偵測器14A可分別對應於多條行線COL。
參考圖6，配置缺陷偵測器14A的第一開關SW1以及第二開關SW2及比較器COMP可被設置於透過可撓性電路膜COF被連接至資料驅動器的源極印刷電路板SPCB上。在此情況中，被佈置在顯示面板10的同一行線COL中的多個子像素SP可共享被設置在源極印刷電路板SPCB中的缺陷偵測器14A。缺陷偵測器14A可被連接至被佈置在相同行線COL中的資料線DL以及低位準電力線PW2。
缺陷偵測器14A可以多個的方式在源極印刷電路板SPCB上被提供。該些缺陷偵測器14A可分別對應於多條行線COL。
比較器COMP可被連接至時序控制器11。
參考圖7，配置缺陷偵測器14A的比較器COMP、第一開關SW1以及第二開關SW2可被設置在用於實現資料驅動器的源極積體電路SIC中。相較於其他顯示感測配置，在本文中說明的缺陷偵測器（包含比較器COMP）的使用可允許每個像素中一或更多個感測組件（例如感測電晶體）以及在源極積體電路SIC中相關的類比數位轉換器組件的省略。在源極積體電路SIC中的比較器COMP的布局有效地運用空間且為了比較器COMP而重新設計顯示器其他區域的佈線的需求被最小化。在此情況中，被佈置在顯示面板10中的相同行線COL中的多個子像素SP可共享被設置在源極積體電路SIC中的缺陷偵測器14A。缺陷偵測器14A可被連接到被佈置在相同行線COL中的資料線DL以及低位準電力線PW2。
為了驅動具有大面積的顯示面板10，可能需要多個源極積體電路SIC，且一個缺陷偵測器14A可在每一個源極積體電路SIC中被提供。該些缺陷偵測器14A可分別對應於多條行線COL。
請參考圖8，配置缺陷偵測器14A的比較器COMP、第一開關SW1a、SW1b，以及第二開關SW2可被設置在透過可撓性電路膜COF被連接至資料驅動器的源極印刷電路板SPCB上。在此情況中，被佈置在顯示面板10中的多條行線COL1以及COL2的多個子像素SP可共享被設置在源極印刷電路板SPCB中的一個缺陷偵測器14A。缺陷偵測器14A可被連接至佈置於多條行線COL1以及COL2中的多條資料線DL以及多條低位準電力線PW2，且可藉由包含多條行線COL1以及COL2的區塊單元偵測缺陷子像素。
第一多工器M1可被連接到比較器COMP以及多條資料線DL之間，且第二多工器M2可被連接到比較器COMP以及多條低位準電力線PW2之間。第一多工器M1可選擇性地連接該些資料線DL的任一者至比較器COMP。第二多工器M2可選擇性地連接該些低位準電力線PW2的任一者至比較器COMP。該些資料線DL的一資料線透過第一多工器M1被選擇且被連接至比較器COMP的第一輸入端，且該些低位準電力線PW2的一低位準電力線PW2透過第二多工器被選擇且被連接至比較器COMP的第二輸入端。
第一開關SW1a以及第二開關SW2可被連接至電源電路15。
與圖5至圖7的佈置例子相比，圖8的佈置例子可以減少比較器COMP的數量，因此減少了製造的複雜度以及成本。
本揭露可實現以下的功效。
在本實施例中，因為驅動子像素所需的資料線以及低位準電力線的每一者被使用作為偵測線，可不需要另外用於偵測子像素的的偵測線。
因為本實施例應用一種反向類型的簡單子像素結構且不需要另外的偵測線，本揭露可簡單地被應用在具有高解析度以及需要高孔徑比的大面積顯示面板。
在本實施例中，因為透過低位準電力線接收的子像素的特定節點的電壓基於二偵測參考電壓被雙重採樣，缺陷是否發生以及缺陷的類型可有效地被判斷。因此，在本揭露中，藉由偵測及補償由異常短路導致的熱點缺陷，顯示品質可以被增強且產品的可用時間以及可靠性可以增加。
根據本揭露的功效並不受限於上述例子，且其他多種功效可被包含在說明書中。
在本揭露被具體表示且參考本揭露的解釋性實施例被說明的同時，在本領域中具有通常知識者應理解多種形式及細節上的改變可被實行而不脫離如所附專利範圍界定的本揭露的範圍。
以下的數個條項也在本文中被揭露： 條項1 一種電致發光顯示設備，包含： 一顯示面板，包含被連接至資料線、閘極線以及電力線的至少一個子像素；以及 一比較器，透過資料線以及低位準電力線被連接到至少一子像素，以比較來自資料線的第一輸入電壓與來自低位準電力線的第二輸入電壓以產生比較輸出， 其中第一輸入電壓為預設參考電壓，且 第二輸入電壓為能夠從預設初始化電壓被偏移的至少一個子像素的特定節點的電壓。 條項2 如條項1所述的電致發光顯示設備，其中參考電壓包含低於初始化電壓的第一參考電壓以及高於初始化電壓的第二參考電壓。 條項3 如條項1或條項2所述的電致發光顯示設備，其中，在預設偵測週期中，比較器基於第一採樣時脈比較至少一子像素的特定節點的電壓與第一參考電壓以產生第一比較輸出，且基於第二採樣時脈比較至少一子像素的特定節點的電壓與第二參考電壓以產生第二比較輸出。 條項4 上述任何條項的電致發光顯示設備進一步包含： 一資料驅動器，在預設偵測週期中供應第一參考電壓至資料線，然後，供應第二參考電壓至資料線；以及 一電源電路，在先於預設偵測週期的初始化週期中產生將透過低位準電力線被供應到至少一個子像素的特定節點的初始化電壓。 條項5 任何上述的電致發光設備，進一步包含： 第一開關，被連接至低位準電力線以及低位準電力端之間，以將用於驅動至少一個子像素的低位準驅動電壓供應到至少一個子像素的特定節點；以及 第二開關，被連接至低位準電力線以及初始化電力端之間，以供應初始化電壓到至少一個子像素的特定節點。 條項6 如上述任何條項所述的電致發光顯示設備，其中第一開關在初始化週期以及預設偵測週期中維持關斷狀態，且 第二開關在初始化週期維持導通狀態且在預設偵測週期維持關斷狀態。 條項7 如上述任何條項所述的電致發光顯示設備，其中比較器、第一開關以及第二開關被設置在顯示面板的佈顯示影像的虛擬區域中，且 被佈置在顯示面板的相同行線中的多個子像素共享被設置在虛擬區域中的比較器、第一開關以及第二開關。 條項8 如上述任何條項所述的電致發光顯示器，其中比較器、第一開關以及第二開關被設置在被連接至資料驅動器的源極印刷電路板上，且 被佈置在顯示面板的至少一行線中的多個子像素共享被設置在源極印刷電路板上的比較器、第一開關以及第二開關。 條項9 如上述任何條項所述的電致發光顯示設備，其中比較器、第一開關以及第二開關被設置在源極積體電路中以實現資料驅動器，且 被佈置在顯示面板的同一條行線中的多個子像素共享被設置在源極積體電路中的比較器、第一開關以及第二開關。 條項10 如上述任何條項所述的電致發光顯示設備，其中所述至少一個像素包含： 一發光裝置，其一個電極被連接至高位準電力端且透過高位準電力端被供應驅動至少一個子像素所需的高位準驅動電壓； 一驅動元件，包含被連接至第一節點的閘極電極、被連接至發光裝置的另一電極的第一電極以及被連接至特定節點的第二電極； 一開關元件，被連接至資料線以及第一節點之間；以及 一儲存電容器，被連接至第一節點以及特定節點之間。 條項11 一種電致發光顯示設備的顯示缺陷偵測方法，電致發光顯示設備包含被連接至資料線、閘級線以及電力線的至少一個子像素，顯示缺陷偵測方法包含： 透過資料線接收第一輸入電壓且透過電力線接收第二輸入電壓；以及 比較第一輸入電壓與第二輸入電壓以產生比較輸出， 其中第一輸入電壓為參考電壓，且 第二輸入電壓為能夠從初始化電壓被偏移的至少一個子像素的特定節點的電壓。 條項12 如條項11所述的顯示缺陷偵測方法，其中參考電壓包含低於初始化電壓的第一參考電壓以及高於初始化電壓的第二參考電壓。 條項13 如條項11或條項12所述的顯示缺陷偵測方法，其中比較第一輸入電壓與第二輸入電壓以產生比較結果包含： 在預設偵測週期中，基於第一採樣時脈比較至少一子像素的特定節點的電壓及第一參考電壓以產生第一比較輸出；以及 在預設的偵測週期中，基於第二採樣時脈比較至少一個子像素的特定節點的電壓及第二參考以產生第二比較輸出。 條項14 如條項11至13任一項所述的顯示缺陷偵測方法，更包含在先於預設偵測週期之前的初始化週期中透過電力線供應初始化電壓到至少一個子像素的特定節點。
10:顯示面板 11:時序控制器 12:資料驅動器 13:閘極驅動器 14:缺陷偵測電路 15:電源電路 DL:資料線 PXL:像素 PW1:共同高位準電力線 PW2:低位準電力線 GL:閘極線 OUT:比較輸出 SCLK:採樣時脈 DDC:資料時序控制訊號 DATA:影音資料 GDC:閘極時序控制訊號 Vdata:資料電壓 SCAN:掃描訊號 EVSS:低位準電力端 SP:子像素 ST:開關元件 Cst:電容器 N1:第一節點 N2:第二節點 COMP:比較器 SW1:第一開關 SW2:第二開關 14A:缺陷偵測器 EVDD:高位準電力端 Vpre:初始化電壓 X1:初始化週期 X2:過渡週期 X3:偵測週期 VL:第一參考電壓 VH:第二參考電壓 VOFF:偵測資料電壓 SPCB:源極印刷電路板 COF:可撓性電路膜 DMY:虛擬區域 COL:行線 SIC:源極積體電路 M1:第一多工器 M2:第二多工器
被包含以提供本揭露進一步理解且被整合並構成本申請的圖式繪示本揭露的實施例且與說明書一起旨在解釋本揭露的原理。在圖式中： 圖1為根據一實施例所繪示的電致發光顯示設備的方塊圖； 圖2為根據一實施例所繪示的像素的連接配置的圖； 圖3為根據一實施例所繪示的子像素以及缺陷偵測電路之間的連接配置的圖； 圖4為根據一實施例所繪示的子像素以及缺陷偵測電路各自的工作波形的圖；以及 圖5至圖8為缺陷偵測電路的佈置位置的多種例子的圖。
Vdata:資料電壓
SP:子像素
SCAN:掃描訊號
GL:閘極線
SCLK:採樣時脈
OUT:比較輸出
11:時序控制器
COMP:比較器
ST:開關電晶體
N1:第一節點
N2:第二節點
CST:電容器
DT:驅動元件
EL:發光裝置
EVDD:高位準電力端
PW1:共同高位準電力線
PW2:低位準電力線
SW1:第一開關
SW2:第二開關
EVSS:低位準電力端
Vpre:初始化電壓
14A:缺陷偵測器

Claims (25)

  1. 一種電致發光顯示設備，包含：一顯示面板，包含至少一子像素，該子像素連接至一第一資料線與一第一低位準電力線；以及一第一比較器，藉由該第一資料線與該第一低位準電力線連接至該至少一子像素，其中該第一比較器用於比較來自該第一資料線的一第一輸入電壓與來自該第一低位準電力線的一第二輸入電壓以產生一比較輸出，其中該第一輸入電壓係一參考電壓，並且該第二輸入電壓係該至少一子像素的一特定節點的一電壓。
  2. 如請求項1所述的電致發光顯示設備，其中該參考電壓包含低於該初始電壓的一第一參考電壓以及高於該初始電壓的一第二參考電壓。
  3. 如請求項2所述的電致發光顯示設備，其中，在一預設偵測週期內，該第一比較器用於：在接收到一第一時脈訊號，比較該第一參考電壓與該至少一子像素的該特定節點的該電壓以產生一第一比較輸出；並且在接收到一第二時脈訊號，比較該第二參考電壓與該至少一子像素的該特定節點的該電壓以產生一第二比較輸出。
  4. 如請求項2所述的電致發光顯示設備，更包含：一資料驅動器，用於在一預設偵測週期提供該第一參考電壓到該第一資料線，接著提供該第二參考電壓到該第一資料線；以及一電源電路，用於在該預設偵測期間之前的一初始期間，產生欲透過該第一低位準電力線提供給該至少一子像素的該特定節點的該初始電壓。
  5. 如請求項4所述的電致發光顯示設備，更包含：一第一開關，在該第一低位準電力線與一低位準電源端之間連接以提供用於驅動該至少一子像素的一低位準驅動電壓於該至少一子像素的該特定節點；以及一第二開關，在該第一低位準電力線與一初始電源端之間連接以提供該初始電壓於該至少一子像素的該特定節點。
  6. 如請求項5所述的電致發光顯示設備，其中該第一開關於該初始期間與該預設偵測期間維持一關閉狀態，並且該第二開關於該初始期間維持一開啟狀態並且於該預設偵測期間維持一關閉狀態。
  7. 如請求項5所述的電致發光顯示設備，其中該第一比較器、該第一開關以及該第二開關被設置在：一源極印刷電路板，連接至該資料驅動器，一軟性電路薄膜，或者該顯示面板不顯示一影像的一虛擬區域。
  8. 如請求項1所述的電致發光顯示設備，更包含排列為一第一行的多個第一子像素，該些第一子像素包含該至少一子像素。
  9. 如請求項8所述的電致發光顯示設備，其中該些第一子像素共享該第一比較器、該第一開關以及該第二開關。
  10. 如請求項8或請求項9所述的電致發光顯示設備，其中該顯示面板更包含連接至一第二資料線以及一第二低位準電力線的多個第二子像素；並且其中該第一比較器透過該第二資料線與該第二低位準電力線連接至該些第二子像素，其中該第一比較器係用於比較來自該第二資料線的一第三輸入電壓以及來自該第二低位準電力線的一第四輸入電壓以產生另一比較輸出，其中該第三輸入電壓係另一比較電壓，並且該第四輸入電壓係該些第二子像素的一特定節點之一電壓。
  11. 如請求項10所述的電致發光顯示設備，其中在一第一模式下該第一比較器連接至該些第一子像素並且在一第二模式下該第一比較器連接至該些第二子像素。
  12. 如請求項10所述的電致發光顯示設備，更包含：一第五開關，在該第一低位準電力線與一低位準電源端之間連接以提供該些第一子像素的該特定節點用於驅動該些第一子像素的一低位準驅動電壓；以及一第二開關，在該第一低位準電力線與第二低位準電力線中的每一個與一初始電源端之間連接以提供一初始電壓給該些第一子像素與第二子像素的特定節點中的每一個；以及一第三開關在該第二低位準電力線以及該低位準電源端之間連接以供該些第二子像素的該特定節點用於驅動該些第二子像素的一低位準驅動電壓。
  13. 如請求項12所述的電致發光顯示設備，其中該第一比較器、該第一開關、該第二開關以及該第三開關被設置在透過一柔性電路薄膜連接到該資料驅動器的一源極印刷電路板上。
  14. 如請求項10所述的電致發光顯示設備，其中該些第二子像素設置在一第二行。
  15. 如請求項1所述的電致發光顯示設備，其中任一子像素包含：一發光元件連接至一電極的一高位準電源端並且提供一高位準驅動電壓，該高位準驅動電壓透過該高位準電源端驅動該至少一子像素；一驅動元件，包含連接至一第一節點的一閘極電極，連接至該發光元件的另一電極的一第一電極，以及連接至該特定節點的第二電極；一開關元件在該資料線與該第一節點之間連接；以及一儲存比較器在該第一節點與該特定節點之間連接。
  16. 如請求項2所述的電致發光顯示設備，其中該參考電壓係一預設參考電壓並且該初始電壓係一預設初始電壓。
  17. 如請求項1所述的電致發光顯示設備，更包含一資料驅動器，用於透過該第一資料線提供一資料電壓給該至少一子像素，其中該資料電壓的一位準係基於該比較輸出。
  18. 如請求項1所述的電致發光顯示設備，其中該至少一子像素中的一缺陷導致該特定節點的一浮動電壓基於被施加的該初始電壓增加或減少。
  19. 一種電致發光顯示設備的顯示缺陷偵測方法，該電致發光顯示設備包含連接到一第一資料線的至少一子像素以及一第一低位準電力線，該顯示缺陷偵測方法包含：透過一第一資料線接收一第一輸入電壓以及透過該第一資料線接收一第二輸入電壓；並且比較該第一輸入電壓與該第二輸入電壓以產生一比較輸出，其中該第一輸入電壓係一參考電壓，並且該第二輸入電壓係該至少一子像素的一特定節點的一電壓。
  20. 如請求項19所述的顯示缺陷偵測方法，其中該參考電壓包含低於一初始電壓的一第一參考電壓以及高於該初始電壓的一第二參考電壓。
  21. 如請求項20所述的顯示缺陷偵測方法，其中比較該第一輸入電壓與該第二輸入電壓以產生該比較輸出包含：在一預設偵測期間並且反應於一第一時脈訊號，比較該第一參考電壓與該至少一子像素的該特定節點的該電壓以產生一第一比較輸出；並且在該預設偵測期間並且反應於一第二時脈訊號，比較該第二參考電壓與該至少一子像素的該特定節點的該電壓以產生一第二比較輸出。
  22. 如請求項21所述的顯示缺陷偵測方法，更包含在該預設期間之前的一初始期間透過該低位準電力線提供該初始電壓給該至少一子像素的該特定節點。
  23. 如請求項19至22所述的顯示缺陷偵測方法，更包含透過該第一資料線提供給該至少一子像素的一資料電壓，其中該資料電壓的該位準係基於該比較輸出。
  24. 如請求項19至22所述的顯示缺陷偵測方法，其中在該至少一子像素中的一缺陷導致該特定節點的一浮動電壓增加或減少自施加的該初始電壓。
  25. 如請求項19至22所述的顯示缺陷偵測方法，其中比較該第一輸入電壓與該第二輸入電壓以產生該比較輸出是在該顯示面板上沒有顯示圖片的一期間進行的。
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