TW202322687A - 用於校準剪切測試工具之設備和方法 - Google Patents

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Abstract

一種用於校準剪切測試工具之設備，其利用了彈性樞軸機構來提高力校準的準確性和可靠性。該設備包括固定元件、構造為可相對於固定元件旋轉的可樞轉元件、以及聯接在固定元件和可樞轉元件之間以形成樞軸的彈性樞軸機構。當為了旋轉可樞轉元件並提升聯接到可樞轉元件的重物而由剪切測試工具在可樞轉元件上施加力時，可樞轉元件可繞樞軸旋轉以提升該重物。

Description

用於校準剪切測試工具之設備和方法
本發明總體上涉及對形成在電子器件上的互連鍵合部，例如形成在電子器件上的引線鍵合部，或形成在晶片和襯底之間的晶片鍵合部進行剪切測試，並且更具體地涉及對用於此類鍵合接頭的剪切測試工具進行校準。
在半導體組裝和封裝期間，可以執行剪切測試以確定互連鍵合部的鍵合強度或晶片和襯底之間的附接程度。重要的是測試電子器件中這些互連鍵合部的機械強度，以便準確評估這些鍵合部的品質，從而確定鍵合部強度是否足夠和/或是否需要修改鍵合參數。
為了使用剪切測試工具準確測量鍵合強度，需要定期校準剪切測試工具，以便在測試結果顯示出任何變化和偏離預定允許公差時對剪切測試工具進行補償和/或校正。在用於剪切測試工具的現有技術的力校準裝置中，軸承樞軸通常用於在固定元件和可樞轉元件之間形成樞軸以進行校準。在這種力校準過程中，機械軸承中的軸承摩擦可能會導致軸承磨損和撕裂，從而降低軸承的使用壽命和力校準的可靠性。進而，使用傳統的力校準裝置確定的校準結果可能不準確，因為軸承摩擦不是恒定的，並且可能因校準過程中使用不同的重物而變化。此外，軸承部件如果含有鐵，則可能隨著時間的推移而生銹和腐蝕。雖然可以使用潤滑劑來減少摩擦和生銹，但這會導致更多的維護工作和更高的成本。
因此，設計一種用於剪切測試工具的新的力校準裝置將是有益的，其可以避免傳統的力校準裝置面臨的上述缺點中的至少一些。
因此，本發明的目的是尋求提供一種改進的力校準設備，其利用彈性樞軸機構以提高力校準設備的使用壽命和可靠性。
根據本發明的第一態樣，提供了一種用於校準剪切測試工具之設備。該設備包括：固定元件；可樞轉元件，其構造為可相對於固定元件旋轉；以及彈性樞軸機構，其聯接在固定元件和可樞轉元件之間以形成樞軸，使得當為了旋轉可樞轉元件並提升聯接到可樞轉元件的重物而由剪切測試工具在可樞轉元件上施加力時，可樞轉元件能夠圍繞樞軸旋轉以提升重物。
在該用於校準剪切測試工具的設備中，使用彈性樞軸機構來代替在現有技術的力校準裝置中使用的軸承樞軸。因此，彈性樞軸機構與力校準裝置的其他部件之間不會產生摩擦。因而，可以相應地避免現有技術的力校準裝置中由軸承摩擦引起的問題。力校準裝置的使用壽命和可靠性將得到顯著提高，並且即使使用了一段時間，校準結果也會更加準確。此外，不需要潤滑劑來減少摩擦和生銹，因此將減少維護工作和成本。
在一些實施例中，可樞轉元件可以相對於樞軸限定沿水準方向的第一長度和沿垂直方向的第二長度，重物聯接到第一長度的遠離樞軸的端部，並且剪切測試工具能夠操作為在第二長度的遠離樞軸的端部上施加基本水準的力以旋轉可樞轉元件並提升重物。
在一個實施例中，彈性樞軸機構包括交叉彈簧樞軸機構。交叉彈簧樞軸機構由具有開口的第一彈簧片和尺寸設計為穿過第一彈簧片的開口的第二彈簧片形成，第一彈簧片和第二彈簧片彼此成角度地佈置。第一彈簧片和第二彈簧片中的每一個都具有固定到固定元件的第一邊緣和固定到可樞轉元件的第二邊緣，使得第一彈簧片和第二彈簧片中的每一個都可偏轉地與固定元件和可樞轉元件接觸。優選地，第一彈簧片和第二彈簧片相互垂直地安裝。
在另一個實施例中，彈性樞軸機構包括第一對彈簧片和第二對彈簧片。固定元件具有沿固定元件和可樞轉元件之間的介面定位的相對的第一側和第二側。第一對彈簧片安裝在固定元件的第一側上，而第二對彈簧片安裝在固定元件的第二側上。每個彈簧片都可偏轉地與固定元件和可樞轉元件接觸。優選地，第一對彈簧片中的各個彈簧片相互垂直地安裝，且第二對彈簧片中的各個彈簧片也相互垂直地安裝。
在一些實施例中，該設備還可包括聯接裝置，該聯接裝置構造為將重物可拆卸地聯接到可樞轉元件。在一個實施例中，聯接裝置可包括鉤，重物被構造為懸掛在鉤上。
在一些實施例中，剪切測試工具可以包括剪切測試杆和聯接到剪切測試杆的力感測器。力感測器能夠操作為測量為了旋轉可樞轉元件並提升重物而用剪切測試杆施加到可樞轉元件上的力。在一個實施例中，剪切測試杆可以具有錐形的尖端。
在一些實施例中，該設備還可包括可操作地連接到力感測器的處理器。該處理器配置為在重物已經被由剪切測試杆施加的力從靜止位置提升之後，確定用力感測器測量的相對恒定的力。
根據本發明的第二態樣，提供了一種用於校準剪切測試工具之方法。該方法包括：提供校準設備，該校準設備包括固定元件、被構造為能夠相對於固定元件旋轉的可樞轉元件、以及聯接在固定元件和可樞轉元件之間以形成樞軸使得可樞轉元件能夠圍繞樞軸旋轉的彈性樞軸機構；以及使用剪切測試工具在可樞轉元件上施加力，使得可樞轉元件圍繞樞軸旋轉以提升聯接到可樞轉元件的重物。
在一些實施例中，可樞轉元件相對於樞軸限定了沿水準方向的第一長度和沿垂直方向的第二長度。相應地，該方法還包括：將重物聯接到第一長度的遠離樞軸的端部；並且其中在可樞轉元件上施加力的步驟包括：用剪切測試工具在第二長度的遠離樞軸的端部上施加基本水準的力以旋轉可樞轉元件並提升重物。
在一個實施例中，彈性樞軸機構包括交叉彈簧樞軸機構。交叉彈簧樞軸機構可以由具有開口的第一彈簧片和尺寸設計為穿過第一彈簧片的開口的第二彈簧片形成，第一彈簧片和第二彈簧片彼此成角度地佈置。優選地，第一彈簧片和第二彈簧片相互垂直地安裝。
在另一個實施例中，彈性樞軸機構包括第一對彈簧片和第二對彈簧片。固定元件具有沿固定元件和可樞轉元件之間的介面定位的相對的第一側和第二側。第一對彈簧片安裝在固定元件的第一側上，而第二對彈簧片安裝在固定元件的第二側上。每個彈簧片都可偏轉地與固定元件和可樞轉元件接觸。優選地，第一對彈簧片中的各個彈簧片相互垂直地安裝，且第二對彈簧片中的各個彈簧片相互垂直地安裝。
在一些實施例中，剪切測試工具可以包括剪切測試杆和聯接到剪切測試杆的力感測器。該方法還包括：移動剪切測試杆以對可樞轉元件施加力；以及用力感測器測量為了旋轉可樞轉元件並提升重物而利用剪切測試杆施加到可樞轉元件上的力。
在一些實施例中，該方法還可以包括：在重物已經被由剪切測試杆施加在可樞轉元件上的力從靜止位置提升之後，用處理器或電腦系統確定用力感測器測量的相對恒定的力。
關於描述部分、所附申請專利範圍和附圖將更好地理解這些和其他特徵、方面和優點。
圖1A是根據本發明的一些實施例的用於校準剪切測試工具之設備100的剖視圖。如圖1A所示，設備100包括固定元件111、可樞轉元件112和彈性樞軸機構113。可樞轉元件112構造為可相對於固定元件111旋轉。圖1B是設備100的剖視圖，其中該設備的固定元件111和可樞轉元件112已經被分離。彈性樞軸機構113聯接在固定元件111與可樞轉元件112之間以形成樞軸，使得在為了旋轉可樞轉元件112並提升聯接至可樞轉元件112的重物而由剪切測試工具對可樞轉元件112施加水準定向的力時，可樞轉元件112可繞樞軸轉動以提升該重物。
圖2A和圖2B分別示出了根據本發明第一實施例的彈性樞軸機構113的主視圖和等距視圖。圖2C是根據本發明第一實施例的設備100的透視圖。在本實施例中，彈性樞軸機構113包括交叉彈簧樞軸機構，該交叉彈簧樞軸機構由具有開口的第一彈簧片113a和尺寸設計為穿過第一彈簧片113a的開口的第二彈簧片113b形成。當第一彈簧片113a和第二彈簧片113b安裝在固定元件111和可樞轉元件112之間時，第一彈簧片113a和第二彈簧片113b彼此垂直地安裝，如圖2C所示。
在本實施例中，第一彈簧片113a通過包括四對螺栓和螺母的第一聯接裝置聯接在固定元件111和可樞轉元件112之間，而第二彈簧片113b通過包括兩對螺栓和螺母的第二聯接裝置聯接在固定元件111和可樞轉元件112之間。參考圖2A至圖2C，第一彈簧片113a具有固定於固定元件111的第一邊緣113a-1及固定於可樞轉元件112的第二邊緣113a-2，以使第一彈簧片113a可偏轉地與固定元件111和可樞轉元件112兩者接觸。類似地，第二彈簧片113b具有固定到固定元件111的第一邊緣113b-1和固定到可樞轉元件112的第二邊緣113b-2，以使第二彈簧片113b可偏轉地與固定元件111和可樞轉元件112接觸。應注意，本實施例中的第一聯接裝置和/或第二聯接裝置僅用於說明。在其他實施例中，可以使用不同的聯接裝置將第一彈簧片113a和第二彈簧片113b安裝在固定元件111和可樞轉元件112之間。
應當理解，本實施例中交叉彈簧樞軸機構的部件和結構僅用於說明。交叉彈簧樞軸機構可以具有不同的結構和部件，例如，交叉彈簧樞軸機構可以是具有兩個彈簧片的一體形成的部件，這兩個彈簧片是整體的並且相對於彼此垂直地佈置。
在本發明的第二實施例中，彈性樞軸機構113包括第一對彈簧片113A和第二對彈簧片113B。圖3A示出了根據本發明第二實施例的兩對彈簧片113A和113B。每對彈簧片包括相互垂直地安裝在固定元件111和可樞轉元件112之間的兩個彈簧片。如圖3A所示，第一對彈簧片113A包括第一彈簧片113A-1和第二彈簧片113A-2，第二對彈簧片113B包括第一彈簧片113B-1和第二彈簧片113B-2。圖3B和圖3C分別示出了根據本發明第二實施例的設備100的透視圖和主視圖。如圖3B和圖3C所示，固定元件111具有位於固定元件111與可樞轉元件112之間的介面上的相對的第一側111a和第二側111b。第一對彈簧片113A安裝在固定元件111的第一側111a上，而第二對彈簧片113B安裝在固定元件111的第二側111b上。每個彈簧片可偏轉地與固定元件111和可樞轉元件112接觸。兩個彈簧片113A-1和113A-2相互垂直地安裝，且兩個彈簧片113B-1和113B-2也相互垂直地安裝。
圖4是根據本發明的一個實施例的用於校準剪切測試工具115時的設備100的剖視圖。在使用中，具有預定重量值(例如恒定重量或靜質量(dead mass))的重物114通過聯接裝置聯接到可樞轉元件112。在本實施例中，聯接裝置包括鉤116，重物114被構造為懸掛在鉤116上。需要說明的是，重物114可以通過使用本發明其他實施例中的任何方式與可樞轉元件112聯接，只要重物114對可樞轉元件112施加已知的垂直定向的力F1即可。例如，重物114可以直接附接到可樞轉元件112的底/頂表面，不論有或沒有任何額外的聯接裝置。
剪切測試工具115包括剪切測試杆115a和聯接到剪切測試杆115a的力感測器115b。移動剪切測試工具115，使得剪切測試杆115a與可樞轉元件112接觸並在可樞轉元件112上施加力以旋轉可樞轉元件112以便提升重物114。力感測器115b可操作為測量當剪切測試杆115a使可樞轉元件112旋轉以提升重物114時由可樞轉元件112施加在剪切測試杆115a上的反作用力。剪切測試杆115a可以具有錐形的尖端以最小化剪切測試杆115a和形成有或定位有互連鍵合部的表面之間的接觸。
如圖4所示，在本實施例中，可樞轉元件112限定了沿相對於樞軸的水準方向的第一長度L1以及沿相對於樞軸的垂直方向的第二長度L2。重物114聯接到第一長度L1的遠離樞軸的端部並且剪切測試工具115可操作為在第二長度L2的遠離樞軸的端部上施加基本水準的力F2以旋轉可樞轉元件112以便提升重物114。在本實施例中，第一長度L1的遠離樞軸的端部位於可樞轉元件112的臂的一端P處。然而，在其他實施例中，第一長度L1的遠離樞軸的端部的位置可以不同，例如，該位置可以定位在不在端部P處的一點處。
在本發明的一些實施例中，設備100還可以包括處理器或任何計算系統，其可操作地連接到力感測器115b並且被配置為在重物114已經被由剪切測試杆115a施加在可樞轉元件112上的力而從其靜止位置提升之後，確定通過使用力感測器115b測量的相對恒定的力。
圖5是示出使用根據本發明第一實施例的設備100得到的剪切測試工具115的校準結果的線圖。如圖5所示，力感測器115b測量的反作用力隨著剪切測試杆115a沿水準方向朝可樞轉元件112移動的距離而顯著增加，直到可樞轉元件112開始旋轉並且重物114被提升為止。一旦處理器確定由力感測器115b測得的力保持相對恒定，即，在當剪切測試杆115a沿水準方向進一步移動時由力感測器115b測量的力也沒有顯著增加時，取相對恒定的力C的值作為對剪切測試工具115進行校準的校準結果。需要注意的是，力感測器115b所測得的力雖然在重物114被提升後可能不會明顯增加，但在校準過程中也不會成為真正的恒定值。其原因是，為了確保剪切測試杆115a以恒定速度沿水準方向移動，施加到可樞轉元件112的力仍會隨著剪切測試杆115a的進一步移動而緩慢增加，因為樞轉彈力將隨著彈性樞軸機構113的彈簧片的進一步變形而增加。由於彈性樞軸機構113的彈簧常數是非常小的值，例如0.017g/um，因此由彈性樞軸機構113的進一步變形引起的測量力的增加並不明顯。
為了準確地校準剪切測試工具115，可以使用具有不同值的多個重物來進行對剪切測試工具115的校準。
圖6是說明使用根據本發明的一個實施例的設備100來校準剪切測試工具之方法600的流程圖。
在步驟601中，提供校準設備100，其包括固定元件111、被構造為可相對於固定元件111旋轉的可樞轉元件112、以及聯接在固定元件111和可樞轉元件112之間的彈性樞軸機構113。
在步驟602中，將具有預定值的重物114聯接到可樞轉元件112。
在步驟603中，使剪切測試工具115相對於可樞轉元件112移動，使得剪切測試工具115的剪切測試杆115a接觸可樞轉元件112，並施加力以旋轉可樞轉元件112並提升重物114。
在本實施例中，可以先將剪切測試工具115向下移動，直到剪切測試杆115a位於預定高度，然後將剪切測試工具115以恒定速度沿水準方向移動，直到剪切測試杆115a在預定位置處與可樞轉元件112接觸，例如在第二長度L2的遠離由可樞轉元件112限定的樞軸的端部處與可樞轉元件112接觸。一旦剪切測試杆115a接觸可樞轉元件112，則將基本上水準的力施加在可樞轉元件112上以旋轉可樞轉元件112並提升重物114。
在步驟604中，可操作地連接到剪切測試工具115的處理器或計算系統在重物114已經被由剪切測試杆115a施加在可樞轉元件112上的力提升之後，確定由剪切測試工具115的力感測器115b測量的相對恒定的力。
具體地，在剪切測試杆115a沿水準方向移動期間，隨著剪切測試杆115a沿水準方向移動的距離增加，處理器或計算系統可以記錄由力感測器115b測量的力。基於記錄的力確定相對恒定的力的值。
為了準確地校準剪切測試工具115，可以使用具有不同重量值的多個重物來執行步驟602至步驟604。
從以上描述中可以理解，本發明所述實施例提供的用於校準剪切測試工具之設備和方法利用彈性樞軸機構在固定元件和可樞轉元件之間形成樞軸，使得當力通過剪切測試工具施加在可樞轉元件上時，可樞轉元件繞樞軸旋轉以提升重物。相較於現有技術的由軸承樞軸形成的力校準裝置，由於安裝在固定元件和可樞轉元件之間的彈性樞軸機構不產生摩擦，因此將避免各種機械軸承中的軸承摩擦引起的問題。具體而言，力校準設備的使用壽命和可靠性將得到顯著提高，由於不需要潤滑劑來減少摩擦和生銹，因此將減少力校準設備的維護工作和成本。此外，將獲得更準確的校準結果，尤其是在長期使用的情況下，因為避免了由軸承摩擦引起的不準確。
下面的表1說明了使用根據本發明第一實施例的設備100獲得的校準結果。具有不同值的重物用於進行校準過程。從表1所示的結果可以看出，基於測量結果從設備100獲得的力比(force ratios)是相對恒定的。
表1
重量（g） 力（N/g） 比率
5.000 8.600 1.7201
10.000 17.210 1.7210
25.000 43.084 1.7234
50.000 86.259 1.7252
100.000 172.523 1.7253
儘管已經參考某些實施例相當詳細地描述了本發明，但其他實施例也是可能的。因此，所附申請專利範圍的精神和範圍不應限於本文所包含的實施例的描述。
100:設備 111:固定元件 112:可樞轉元件 113:彈性樞軸機構 113a:第一彈簧片 113a-1:第一邊緣 113a-2:第二邊緣 113b:第二彈簧片 113b-1:第一邊緣 113b-2:第二邊緣 113A:第一對彈簧片 113A-1:第一彈簧片 113A-2:第二彈簧片 113B:第二對彈簧片 113B-1:第一彈簧片 113B-2:第二彈簧片 114:重物 115:剪切測試工具 115a:剪切測試杆 115b:力感測器 116:鉤 600:方法 601:步驟 602:步驟 603:步驟 604:步驟
圖1A是根據本發明的一些實施例的用於校準剪切測試工具的設備的剖視圖。 圖1B是圖1A所示設備的剖視圖，其中該設備的固定元件和可樞轉元件已被分離。 圖2A和圖2B分別示出了根據本發明第一實施例的彈性樞軸機構的主視圖和等距視圖。 圖2C是根據本發明第一實施例的用於校準剪切測試工具的設備的透視圖。 圖3A示出了根據本發明的第二實施例的包括兩對彈簧片的彈性樞軸機構。 圖3B和圖3C示出了根據本發明第二實施例的用於校準剪切測試工具的設備的相應透視圖和主視圖。 圖4是根據本發明的一個實施例的用於校準剪切測試工具的設備在用於校準剪切測試工具時的剖視圖。 圖5是示出使用根據本發明第一實施例的用於校準剪切測試工具的設備得到的剪切測試工具的校準結果的線圖。 圖6是說明根據本發明的一個實施例的用於校準剪切測試工具的方法的流程圖。
100:設備
111:固定元件
112:可樞轉元件
113:彈性樞軸機構

Claims (20)

  1. 一種用於校準剪切測試工具之設備，該設備包括： 固定元件； 可樞轉元件，其構造為能夠相對於所述固定元件旋轉；及 彈性樞軸機構，其聯接在所述固定元件和所述可樞轉元件之間以形成樞軸，使得當為了旋轉所述可樞轉元件並提升聯接到所述可樞轉元件的重物而由剪切測試工具在所述可樞轉元件上施加力時，所述可樞轉元件能夠繞所述樞軸旋轉以提升所述重物。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之設備，其中，所述可樞轉元件相對於所述樞軸限定了沿水準方向的第一長度和沿垂直方向的第二長度；所述重物聯接到所述第一長度的遠離所述樞軸的端部；並且所述剪切測試工具能夠操作為在所述第二長度的遠離所述樞軸的端部上施加基本水準的力以旋轉所述可樞轉元件並提升所述重物。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之設備，其中，所述彈性樞軸機構包括交叉彈簧樞軸機構。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之設備，其中，所述交叉彈簧樞軸機構由具有開口的第一彈簧片和尺寸設計為穿過所述第一彈簧片的開口的第二彈簧片形成，所述第一彈簧片和所述第二彈簧片彼此成角度地佈置。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之設備，其中，所述第一彈簧片和所述第二彈簧片中的每一個都具有固定到所述固定元件的第一邊緣和固定到所述可樞轉元件的第二邊緣，使得所述第一彈簧片和所述第二彈簧片中的每一個都可偏轉地與所述固定元件和所述可樞轉元件接觸。
  6. 如申請專利範圍第4項所述之設備，其中，所述第一彈簧片和所述第二彈簧片相互垂直地安裝。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之設備，其中，所述固定元件具有沿所述固定元件和所述可樞轉元件之間的介面定位的相對的第一側和第二側，並且所述彈性樞軸機構包括安裝在所述固定元件的所述第一側上的第一對彈簧片以及安裝在所述固定元件的所述第二側上的第二對彈簧片，每個彈簧片都可偏轉地與所述固定元件和所述可樞轉元件接觸。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之設備，其中，所述第一對彈簧片的各個彈簧片相互垂直地安裝，且所述第二對彈簧片的各個彈簧片也相互垂直地安裝。
  9. 如申請專利範圍第1項所述之設備，還包括聯接裝置，其構造為將所述重物可拆卸地聯接到所述可樞轉元件。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之設備，其中，所述聯接裝置包括鉤，所述重物配置為懸掛在所述鉤上。
  11. 如申請專利範圍第1項所述之設備，其中，所述剪切測試工具包括剪切測試杆和聯接到所述剪切測試杆的力感測器，所述力感測器能夠操作為測量為了旋轉所述可樞轉元件並提升所述重物而由所述剪切測試杆施加到所述可樞轉元件上的力。
  12. 如申請專利範圍第11項所述之設備，還包括可操作地連接到所述力感測器的處理器，所述處理器配置為在所述重物已經被由所述剪切測試杆施加的力從靜止位置提升之後，確定由所述力感測器測量的相對恒定的力。
  13. 如申請專利範圍第11項所述之設備，其中，所述剪切測試杆具有錐形的尖端。
  14. 一種用於校準剪切測試工具之方法，所述方法包括： 提供校準設備，所述校準設備包括固定元件、被構造為能夠相對於所述固定元件旋轉的可樞轉元件、以及聯接在所述固定元件和所述可樞轉元件之間以形成樞軸使得所述可樞轉元件能夠圍繞所述樞軸旋轉的彈性樞軸機構；以及 使用所述剪切測試工具在所述可樞轉元件上施加力，使得所述可樞轉元件圍繞所述樞軸旋轉以提升聯接到所述可樞轉元件的重物。
  15. 如申請專利範圍第14項所述之方法，其中，所述可樞轉元件相對於所述樞軸限定了沿水準方向的第一長度和沿垂直方向的第二長度，其中所述方法還包括： 將所述重物聯接到所述第一長度的遠離所述樞軸的端部；並且其中 在所述可樞轉元件上施加所述力的步驟包括：用所述剪切測試工具在所述第二長度的遠離所述樞軸的端部上施加基本水準的力以旋轉所述可樞轉元件並提升所述重物。
  16. 如申請專利範圍第14項所述之方法，其中，所述彈性樞軸機構包括交叉彈簧樞軸機構。
  17. 如申請專利範圍第16項所述之方法，其中，所述交叉彈簧樞軸機構由具有開口的第一彈簧片和尺寸設計為穿過所述第一彈簧片的開口的第二彈簧片形成，所述第一彈簧片和所述第二彈簧片彼此成角度地佈置。
  18. 如申請專利範圍第14項所述之方法，其中，所述固定元件具有沿所述固定元件和所述可樞轉元件之間的介面定位的相對的第一側和第二側，並且所述彈性樞軸機構包括安裝在所述固定元件的所述第一側上的第一對彈簧片以及安裝在所述固定元件的所述第二側上的第二對彈簧片，每個彈簧片都可偏轉地與所述固定元件和所述可樞轉元件接觸。
  19. 如申請專利範圍第14項所述之方法，其中，所述剪切測試工具包括剪切測試杆和聯接到所述剪切測試杆的力感測器，並且所述方法還包括：移動所述剪切測試杆以對所述可樞轉元件施加所述力；以及用所述力感測器來測量為了旋轉所述可樞轉元件並提升所述重物而由所述剪切測試杆施加到所述可樞轉元件上的所述力。
  20. 如申請專利範圍第16項所述之方法，還包括：在所述重物已經被由所述剪切測試杆施加的所述力從靜止位置提升之後，用處理器或計算系統確定由所述力感測器測量的相對恆定的力。
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