TW202244309A - 雙閥門供氣系統 - Google Patents

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TW202244309A TW110116129A TW110116129A TW202244309A TW 202244309 A TW202244309 A TW 202244309A TW 110116129 A TW110116129 A TW 110116129A TW 110116129 A TW110116129 A TW 110116129A TW 202244309 A TW202244309 A TW 202244309A
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莊明岳
陳証价
張嘉宏
林揚士
陳彥政
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馗鼎奈米科技股份有限公司
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Abstract

一種雙閥門供氣系統,包含材料供應裝置、氣體緩衝容器、第一閥門、管路、及第二閥門。材料供應裝置配置以容納材料。氣體緩衝容器配置以接收並儲存來自材料供應裝置之蒸氣態材料。第一閥門接合在材料供應裝置與氣體緩衝容器之間,且配置以控制材料供應裝置與氣體緩衝容器之間的流體連通。管路配置以連接氣體緩衝容器與反應腔室,且與反應腔室流體連通。第二閥門接合在管路與氣體緩衝容器之間,且配置以控制氣體緩衝容器與管路之間的流體連通。氣體緩衝容器所儲放之蒸氣態材料之體積為雙閥門供氣系統對反應腔室之供氣週期之預設供應量。

Description

雙閥門供氣系統
本揭露是有關於一種供氣技術,且特別是有關於一種可穩定供氣之雙閥門供氣系統。
隨著半導體等產業的世代進展,為突破各種製程瓶頸,而採用了先進材料。蒸氣態材料為一種應用於各先進製程,例如原子層沉積(ALD)製程或有機金屬氣相磊晶(MOVPE)製程的先進材料。
目前,為了穩定供給蒸氣態材料,通常在供氣系統中裝設快速閥。透過控制快速閥之開關閥門的時間差,藉以達成定量供應定性蒸氣態材料的效果。然,實務上難以克服連續製程下,因供應容器內之材料耗損而導致之材料飽和蒸汽壓下降、與真空反應室壓力增加所造成的製程不穩定因素。
因此,本揭露之一目的就是在提供一種雙閥門供氣系統,其利用二閥門在此二閥門之間形成儲存蒸氣態材料的固定空間,藉此可在連續製程下,穩定供應定量蒸氣態材料。
本揭露之另一目的為提供一種雙閥門供氣系統,其可穩定供應定量蒸氣態材料給反應腔室,藉此可提升製程穩定度,提升製程良率。
根據本揭露之上述目的,提出一種雙閥門供氣系統。此雙閥門供氣系統包含材料供應裝置、氣體緩衝容器、第一閥門、管路、以及第二閥門。材料供應裝置配置以容納材料。此材料可在材料供應裝置內形成蒸氣態材料。氣體緩衝容器配置以接收並儲存來自材料供應裝置之蒸氣態材料。第一閥門接合在材料供應裝置與氣體緩衝容器之間。第一閥門配置以控制材料供應裝置與氣體緩衝容器之間的流體連通。管路配置以連接氣體緩衝容器與反應腔室,其中管路與反應腔室流體連通。第二閥門接合在管路與氣體緩衝容器之間。第二閥門配置以控制氣體緩衝容器與管路之間的流體連通。氣體緩衝容器所儲放之蒸氣態材料之體積為雙閥門供氣系統對反應腔室之供氣週期之預設供應量。
依據本揭露之一實施例,上述之第一閥門與第二閥門之耐熱度高於快速閥之耐熱度。
依據本揭露之一實施例,上述之第一閥門與第二閥門之耐熱度等於或大於300℃。
依據本揭露之一實施例,上述之氣體緩衝容器包含伸縮管。此伸縮管配置以根據預設供應量伸縮來調整氣體緩衝容器所儲放之蒸氣態材料之體積。
依據本揭露之一實施例,上述之氣體緩衝容器具有固定之容納體積。
依據本揭露之一實施例,上述之第一閥門與第二閥門更配置以控制材料供應裝置不直接與管路導通。
依據本揭露之一實施例,上述之雙閥門供氣系統更包含載氣供應源。此載氣供應源與第二閥門接合,且配置以在第二閥門開啟時供應載氣來運載氣體緩衝容器所儲放之蒸氣態材料。
依據本揭露之一實施例,上述之載氣供應源為氬氣供應源。
依據本揭露之一實施例,上述之反應腔室為真空腔室。
依據本揭露之一實施例,上述之反應腔室為原子層沉積腔室。
請參照圖1,其係繪示依照本揭露之一實施方式的一種雙閥門供氣系統應用於反應腔室的裝置示意圖。雙閥門供氣系統100可用以對反應腔室200供應製程所需之反應物。舉例而言,雙閥門供氣系統100可在一供氣週期中,對反應腔室200供應定量之蒸氣態製程材料。
反應腔室200可為沉積腔室、蝕刻腔室、或表面處理腔室。舉例而言,反應腔室200可為原子層沉積腔室。在一些例子中,反應腔室200為真空腔室。在一些示範例子中,反應腔室200具有反應空間202,此反應空間202內可設有承載基座210。承載基座210可用以支撐基材220。承載基座210可利用真空吸附、靜電吸附、或以治具夾固等方式,將基材220固定在承載基座210上。在一些示範例子中,承載基座210可轉動,以帶動其上之基材220旋轉。
在一些例子中,雙閥門供氣系統100主要可包含材料供應裝置110、氣體緩衝容器120、第一閥門130、管路140、以及第二閥門150。材料供應裝置110可用以容納製程所需之材料160。材料160可例如為沉積製程或表面處理製程所需之前驅物,或蝕刻製程所需之蝕刻劑。材料160可在材料供應裝置110內形成蒸氣態材料162。舉例而言,可利用例如對材料供應裝置110內之材料160加熱的方式,使材料160轉變成蒸氣態材料162。材料供應裝置110為雙閥門供氣系統100之材料氣化段。
氣體緩衝容器120可與材料供應裝置110流體連通。氣體緩衝容器120可用以接收來自材料供應裝置110的蒸氣態材料162,並加以儲存,以待供應給反應腔室200。氣體緩衝容器120為雙閥門供氣系統100之氣體緩衝段。在一些例子中,氣體緩衝容器120設於材料供應裝置110之上方,藉此有利於材料供應裝置110內之蒸氣態材料162流動到氣體緩衝容器120。在本實施方式中,氣體緩衝容器120所儲放之蒸氣態材料162的體積為雙閥門供氣系統100對反應腔室200的一個供氣週期的預設供應量。
氣體緩衝容器120可為具有固定容納體積的容器,藉此可容納固定體積的蒸氣態材料162。在一些示範例子中,氣體緩衝容器120可包含伸縮管(bellow)。此伸縮管可根據反應腔室200內進行之製程所需之蒸氣態材料162供應量來調整伸縮管所能儲放之體積。舉例而言,可根據雙閥門供氣系統100對反應腔室200之一個供氣週期的預設供應量,來伸縮調整來調整伸縮管,藉此調整氣體緩衝容器120所能儲放之蒸氣態材料162的體積。
第一閥門130接合在材料供應裝置110與氣體緩衝容器120之間。第一閥門130可用以控制材料供應裝置110與氣體緩衝容器120之間的流體連通。也就是說,第一閥門130開啟時,材料供應裝置110內的蒸氣態材料162可通過第一閥門130而流入氣體緩衝容器120中;但第一閥門130關閉時,材料供應裝置110內的蒸氣態材料162則無法通過第一閥門130來流入氣體緩衝容器120中。第一閥門130之耐熱度高於一般快速閥之耐熱度,其中快速閥之耐熱度約為200℃。在一些示範例子中,第一閥門130之耐熱度可等於或大於約300℃。
管路140可用以連接氣體緩衝容器120與反應腔室200。管路140與反應腔室200流體連通。管路140可與氣體緩衝容器120流體連通。管路140可用以接收氣體緩衝容器120所儲存之蒸氣態材料162,並將蒸氣態材料162輸送至反應腔室200。因此,管路140為雙閥門供氣系統100之氣體至反應腔室200的路徑段。在一些例子中,管路140設於氣體緩衝容器120之上方,以利氣體緩衝容器120內之蒸氣態材料162流動到反應腔室200。
第二閥門150接合在管路140與氣體緩衝容器120之間。第二閥門150可用以控制氣體緩衝容器120與管路140之間的流體連通。第二閥門150開啟時,氣體緩衝容器120內所儲存的蒸氣態材料162可通過第二閥門150而流入管路140中。第二閥門150關閉時,氣體緩衝容器120內的蒸氣態材料162便無法通過第二閥門150來流入管路140中。第二閥門150之耐熱度高於一般快速閥之耐熱度,其中快速閥之耐熱度約為200℃。在一些示範例子中,第二閥門150之耐熱度可等於或大於約300℃。
由於第一閥門130與第二閥門150具有較快速閥高之耐熱度,因此雙閥門供氣系統100不僅可適用於採用快速閥之供氣系統所能供應之蒸氣態材料,亦可適用於較採用快速閥之供氣系統所能供應之蒸氣態材料的溫度高的材料。故,雙閥門供氣系統100的應用性較廣。
此外,雙閥門供氣系統100採用第一閥門130與第二閥門150的雙閥門設計,以第一閥門130與第二閥門150之間之氣體緩衝容器120的固定空間所儲存之飽和蒸氣壓達到定量的概念,來取代由單一閥件固定開關時間差的方式。藉此,可有效確保在連續製程下,單次供應之蒸氣態材料162的分子量可達到定量的目標。
雙閥門供氣系統100可選擇性地包含載氣供應源170。載氣供應源170與第二閥門150接合。載氣供應源170可用以在第二閥門150開啟時,供應載氣來運載氣體緩衝容器120所儲放之蒸氣態材料162。載氣供應源170所供應之載氣可為惰性氣體。舉例而言,載氣供應源170可為氬氣供應源。
在一些例子中,雙閥門供氣系統100之第一閥門130與第二閥門150用以控制材料供應裝置110不直接與管路140導通。亦即,在反應腔室200進行製程期間,第一閥門130與第二閥門150不會同時開啟,以使得材料供應裝置110全程不直接導通管路140。
請同時參照圖2至圖4,其中圖2至圖4係繪示依照本揭露之一實施方式的一種雙閥門供氣系統之數個操作狀態的裝置示意圖。雙閥門供氣系統100進行一個供氣循環時,先關閉第二閥門150,以阻斷氣體緩衝容器120與管路140之間的流體連通,如圖2所示。再打開第一閥門130,以使材料供應裝置110與氣體緩衝容器120流體連通。此時,材料供應裝置110內的蒸氣態材料162經由第一閥門130流入氣體緩衝容器120,直至氣體緩衝容器120內達飽和蒸氣壓。
接下來,如圖3所示,關閉第一閥門130,以阻斷材料供應裝置110與氣體緩衝容器120之間的連通,而停止蒸氣態材料162進入氣體緩衝容器120。
如圖4所示,待雙閥門供氣系統100之供氣週期時,打開第二閥門150,以開啟氣體緩衝容器120與管路140之間的流體連通。藉此,氣體緩衝容器120內的蒸氣態材料162可經由第二閥門150與管路140流入反應腔室200之反應空間202中。在一些示範例子中,第二閥門150開啟時,載氣供應源170也與氣體緩衝容器120及管路140流體連通,而供應載氣,來將氣體緩衝容器120內所儲放之蒸氣態材料162經由管路140運載至反應空間202中。隨後,可關閉第二閥門150,再打開第一閥門130,以再次於氣體緩衝容器120中補充下一供氣週期所需之蒸氣態材料162。
由上述之實施方式可知,本揭露之一優點就是因為本揭露之雙閥門供氣系統利用二閥門在此二閥門之間形成儲存蒸氣態材料的固定空間,因此可在連續製程下,穩定供應定量蒸氣態材料。
本揭露之另一優點就是因為本揭露之雙閥門供氣系統,期可穩定供應定量蒸氣態材料給反應腔室,藉此可提升製程穩定度,提升製程良率。
雖然本揭露已以實施例揭示如上,然其並非用以限定本揭露,任何在此技術領域中具有通常知識者,在不脫離本揭露之精神和範圍內,當可作各種之更動與潤飾,因此本揭露之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
100:雙閥門供氣系統 110:材料供應裝置 120:氣體緩衝容器 130:第一閥門 140:管路 150:第二閥門 160:材料 162:蒸氣態材料 170:載氣供應源 200:反應腔室 202:反應空間 210:承載基座 220:基材
為讓本揭露之上述和其他目的、特徵、優點與實施例能更明顯易懂,所附圖式之說明如下: [圖1]係繪示依照本揭露之一實施方式的一種雙閥門供氣系統應用於反應腔室的裝置示意圖; [圖2]係繪示依照本揭露之一實施方式的一種雙閥門供氣系統之一操作狀態的裝置示意圖; [圖3]係繪示依照本揭露之一實施方式的一種雙閥門供氣系統之另一操作狀態的裝置示意圖;以及 [圖4]係繪示依照本揭露之一實施方式的一種雙閥門供氣系統之又一操作狀態的裝置示意圖。
國內寄存資訊(請依寄存機構、日期、號碼順序註記) 無 國外寄存資訊(請依寄存國家、機構、日期、號碼順序註記) 無
100:雙閥門供氣系統
110:材料供應裝置
120:氣體緩衝容器
130:第一閥門
140:管路
150:第二閥門
160:材料
162:蒸氣態材料
170:載氣供應源
200:反應腔室
202:反應空間
210:承載基座
220:基材

Claims (10)

  1. 一種雙閥門供氣系統,包含: 一材料供應裝置,配置以容納一材料,該材料可在該材料供應裝置內形成一蒸氣態材料; 一氣體緩衝容器,配置以接收並儲存來自該材料供應裝置之該蒸氣態材料; 一第一閥門,接合在該材料供應裝置與該氣體緩衝容器之間,其中該第一閥門配置以控制該材料供應裝置與該氣體緩衝容器之間的流體連通; 一管路,配置以連接該氣體緩衝容器與一反應腔室,其中該管路與該反應腔室流體連通;以及 一第二閥門,接合在該管路與該氣體緩衝容器之間,其中該第二閥門配置以控制該氣體緩衝容器與該管路之間的流體連通, 其中該氣體緩衝容器所儲放之該蒸氣態材料之一體積為該雙閥門供氣系統對該反應腔室之一供氣週期之一預設供應量。
  2. 如請求項1所述之雙閥門供氣系統,其中該第一閥門與該第二閥門之一耐熱度高於一快速閥之一耐熱度。
  3. 如請求項1所述之雙閥門供氣系統,其中該第一閥門與該第二閥門之一耐熱度等於或大於300℃。
  4. 如請求項1所述之雙閥門供氣系統,其中該氣體緩衝容器包含一伸縮管,該伸縮管配置以根據該預設供應量伸縮來調整該氣體緩衝容器所儲放之該蒸氣態材料之該體積。
  5. 如請求項1所述之雙閥門供氣系統,其中該氣體緩衝容器具有固定之一容納體積。
  6. 如請求項1所述之雙閥門供氣系統,其中該第一閥門與該第二閥門更配置以控制該材料供應裝置不直接與該管路導通。
  7. 如請求項1所述之雙閥門供氣系統,更包含一載氣供應源,其中該載氣供應源與該第二閥門接合,且配置以在該第二閥門開啟時供應一載氣來運載該氣體緩衝容器所儲放之該蒸氣態材料。
  8. 如請求項7所述之雙閥門供氣系統,其中該載氣供應源為一氬氣供應源。
  9. 如請求項1所述之雙閥門供氣系統,其中該反應腔室為一真空腔室。
  10. 如請求項1所述之雙閥門供氣系統,其中該反應腔室為一原子層沉積腔室。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN116926504A (zh) * 2023-09-19 2023-10-24 上海星原驰半导体有限公司 前驱体输出装置和原子层沉积设备

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