TW202232718A - 異質高度邏輯單元架構 - Google Patents

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Abstract

金屬氧化物半導體積體電路包括第一和第二相鄰電晶體邏輯集合，每個集合包括以相同的閘極間距在第一方向上延伸的共線閘極互連。第一電晶體邏輯集合具有第一單元高度h 1，並且具有在與第一方向正交的第二方向上單向延伸的第一數目的M x層軌道。第二電晶體邏輯集合具有第二單元高度h 2，並且具有在第二方向上單向延伸的第二數目的M x層軌道，其中h 2＞h 1並且M x層軌道的第二數目大於M x層軌道的第一數目。滿足以下至少一項：高度比h R=h 2/h 1是非整數值，或第一電晶體邏輯集合的子集和第二電晶體邏輯集合的子集在一個邏輯單元內。

Description

異質高度邏輯單元架構
本申請主張2020年10月8日提交的題為“HETEROGENEOUS HEIGHT LOGIC CELL ARCHITECTURE”的美國專利申請號17/065,746的權益，透過引用將其整體明確併入本文。
本公開內容總體上涉及標準/邏輯單元架構，更具體地，涉及異質高度標準/邏輯單元架構。
標準單元設備是實現數位邏輯的積體電路（IC）。這種標準單元設備可以在特殊應用積體電路（ASIC）內被重複使用多次。諸如單晶片系統（SoC）設備之類的ASIC可以包含數千到數百萬個標準單元設備。通常的IC包括依次形成的層的堆疊。每個層可以被堆疊或覆蓋在前一層上並且被圖案化以形成定義電晶體（例如，場效應電晶體（FET）、鰭式FET（FinFET）、全環繞閘極（GAA）FET（GAAFET）和/或其它多閘極FET）的形狀，並且將電晶體連接到電路中。
用於高標準單元的較高標準單元架構可以提供比用於低標準單元的較低標準單元架構更高的性能，而用於低標準單元的較低標準單元架構可以提供比用於高標準單元的較高標準單元架構更好的面積效率。可以分開利用低標準單元架構和高標準單元架構，以實現更高的性能或面積效率兩者。當前需要利用低標準單元和高標準單元兩者的異質高度標準單元架構。
在本公開內容的一方面中，金屬氧化物半導體（MOS）IC包括第一電晶體邏輯集合。第一電晶體邏輯集合具有在第一方向上延伸的第一多個閘極互連。第一多個閘極互連具有閘極間距。第一電晶體邏輯集合具有一個或多個供電軌對，所述一個或多個供電軌對向每個對應的供電軌對之間的邏輯提供電源電壓和接地電壓。第一電晶體邏輯集合具有第一單元高度h 1並且具有在每個供電軌對之間在第二方向上單向延伸的第一數目的金屬x（M x）層軌道。第二方向與第一方向正交。MOS IC還包括第二電晶體邏輯集合。第二電晶體邏輯集合在第一方向上與第一電晶體邏輯集合相鄰。第二電晶體邏輯集合具有在第一方向上延伸的第二多個閘極互連。第二多個閘極互連具有與第一多個閘極互連相同的閘極間距，並且每個與第一多個閘極互連中的相應一個共線。第二電晶體邏輯集合具有一個或多個供電軌對，所述一個或多個供電軌對向每個對應的供電軌對之間的邏輯提供電源電壓和接地電壓。第二電晶體邏輯集合具有第二單元高度h 2並且具有在每個供電軌對之間在第二方向上單向延伸的第二數目的M x層軌道。第二單元高度h 2大於第一單元高度h 1。M x層軌道的第二數目大於M x層軌道的第一數目。滿足以下至少一項：高度比h R=h 2/h 1是非整數值，或者第一電晶體邏輯集合的子集和第二電晶體邏輯集合的子集在一個邏輯單元內。
下面結合圖式闡述的具體實施方式旨在作為對各種配置的描述，而不旨在表示其中可以實踐本文描述的概念的唯一配置。具體實施方式包括用於提供對各種概念的透徹理解這一目的的特定細節。然而，對於本領域技術人員明顯的是，可以在沒有這些具體細節的情況下實踐這些概念。在一些情況下，習知的結構和組件以方塊圖形式被示出以避免混淆這些概念。裝置和方法將在以下具體實施方式中被描述，並且在圖式中可以透過各種方塊、模組、組件、電路、步驟、程序、演算法、元件等來被繪示。
圖1是繪示IC的標準單元內的各種層的側視圖的第一圖100。各種層在y方向上改變。如圖1中所示，電晶體具有閘極102（其可以被稱為POLY，即使閘極102可以由金屬、多晶矽或多晶矽和金屬的組合形成）、源極104和汲極106。源極104和汲極106可以被佈置在矽基板上並且由鰭形成。閘極102可以在第一方向（例如，沿著離開頁面的z軸的垂直方向）上延伸，並且鰭可以在與第一方向正交的第二方向（例如，沿著x軸的水平方向）上延伸。接觸層互連108（也被稱為金屬POLY（MP）層互連）可以接觸閘極102。接觸層互連110（也被稱為金屬擴散（MD）層互連）可以接觸源極104和/或汲極106。通孔112可以接觸所述接觸層互連110。金屬1（M1）層互連114可以接觸通孔112。M1層互連114可以僅在第二方向上（即，在第二方向單向）延伸。通孔V1 116可以接觸M1層互連114。金屬2（M2）層互連118可以接觸通孔V1 116。M2層互連118可以僅在第一方向上（即，在第一方向上單向）延伸。M2層是最低的垂直層。具體地，M2層在垂直方向上可以是單向的，並且是離矽基板最近的垂直單向層。較高的層包括包含通孔V2的通孔層和包含M3層互連的金屬3（M3）層。M3層互連可以在第二方向上延伸。
圖2是繪示標準單元和IC內的各種層的側視圖的第二圖200。各種層在y方向上改變。如圖2中所示，電晶體具有閘極202、源極204和汲極206。源極204和汲極206可以由鰭形成。閘極202可以在第一方向（例如，沿著離開頁面的z軸的垂直方向）上延伸，並且鰭可以在與第一方向正交的第二方向（例如，沿著x軸的水平方向）上延伸。接觸層互連208可以接觸閘極202。接觸層互連210可以接觸源極204和/或汲極206。通孔212可以接觸接觸層互連208。M1層互連214可以接觸通孔212。M1層互連214可以僅在第二方向上（即，在第二方向上單向）延伸。通孔V1 216可以接觸M1層互連214。M2層互連218可以接觸通孔V1 216。M2層互連218可以僅在第一方向上（即，在第一方向上單向）延伸。M2層是最低的垂直層。具體地，M2層在垂直方向上可以是單向的，並且是離矽基板最近的垂直單向層。較高的層包括包含通孔V2的通孔層和包含M3層互連的M3層。M3層互連可以在第二方向上延伸。雖然在圖1、圖2中利用FinFET繪示了IC，但IC可以包括其它多閘極FET，諸如雙閘極FET、三閘極FET和/或GAAFET。
標準單元是在設計中標準化的單元。相同標準單元在整個IC中可以被利用數千次。在本文中，標準單元可以被稱為邏輯單元。邏輯單元具有輸入集合和輸出集合，其中輸入/輸出透過邏輯單元內的單元內路由（而不是跨不同邏輯單元的單元間路由）互連。利用相同的單元內路由配置，這種邏輯單元可以在IC中被利用數百到數千次。單元的高度等於位於單元頂部和底部的對應供電軌對之間的距離（在圖1、圖2中的第一方向上），其中頂部和底部單元邊緣延伸穿過供電軌中的每個供電軌的中心。可以透過技術改進和設計推動來降低邏輯單元的單元高度。關於技術改進，可以透過轉換到更小的技術程序節點來降低單元高度，在所述節點中程序的最小特徵尺寸減少。這種改進降低邏輯單元的單元高度，而不減少邏輯單元內用於單元內路由（邏輯單元中的電晶體之間的互連，以使邏輯單元可以提供邏輯功能）的軌道的數目。關於設計推動，可以透過減少邏輯單元內用於單元內路由的軌道的數目來降低單元高度。透過減少用於單元內路由的軌道的數目（例如，從5到4、3或2）來降低邏輯單元的單元高度會增加面積效率，但可能會使單元內路由變得困難，如果不是不可能的話。如果單元內路由仍然可能，則軌道減少可能降低邏輯單元的性能。如上所討論，用於高邏輯單元的較高邏輯單元架構可以比用於低邏輯單元的較低邏輯單元架構提供更高的性能，而用於低邏輯單元的較低邏輯單元架構可以比用於高邏輯單元的較高邏輯單元架構提供更好的面積效率。可以利用具有相同技術程序節點的低邏輯單元架構和高邏輯單元架構兩者來實現更高的性能和面積效率兩者。下文提供了用於利用低邏輯單元和高邏輯單元的異質高度邏輯單元架構。
圖3是概念性地繪示異質高度邏輯單元架構的俯視圖的第一圖300。如圖3中所示，異質高度邏輯單元架構可以包括混合高度架構，其中具有高度h 2的較高高度部分370與具有高度h 1的較低高度部分380相鄰，其中h 2＞h 1並且在兩個部分之間共用供電軌330。兩個高度之間的高度比h R=h 2/h 1在第一配置中可以是非整數值，或者在第二配置中可以是整數值（例如，2、3）。供電軌330可以向較高高度部分370和較低高度部分380兩者提供電源電壓Vdd或接地電壓Vss。較高高度部分370包括在第二方向上延伸的供電軌310、330，並且包括在第一方向上延伸的閘極互連360，第一方向與第二方向正交。較高高度部分370提供在供電軌310、330之間在第二方向上單向延伸的M x層軌道320的集合。M x層可以是在第二方向上單向延伸的最低金屬層。例如，M x層可以是M1金屬層或M0金屬層。M x層軌道320可以用於單元內路由。較低高度部分380包括在第二方向上延伸的供電軌330、350，並且包括閘極互連360。較低高度部分380提供在供電軌330、350之間在第二方向上單向延伸的M x層軌道340的集合。M x層軌道340也可以用於單元內路由。
對於較高高度部分370和較低高度部分380兩者，閘極互連360具有相同的間距p g，其中間距p g是相鄰閘極互連的中心之間的距離。M x層軌道320的集合的間距p 2可以與M x層軌道340的集合的間距p 1相同或不同，其中間距p 1、p 2是對應的相鄰M x層軌道的中心之間的距離。在第一配置中，M x層軌道320的集合和M x層軌道340的集合具有相同的間距（p 2=p 1）。在第二配置中，M x層軌道320的集合和M x層軌道340的集合具有不同的間距（p 2≠p 1）。
較高高度部分370可以用於複雜邏輯單元（例如，正反器或其它複雜或較高性能邏輯），這是因為較高高度部分370為複雜邏輯單元的單元內路由提供足夠數目的M x層軌道320。較高高度部分370還為p型和n型擴散區域提供更大面積（即，更大數目的鰭），因此可以提供比較低高度部分380更高的性能。較低高度部分380可以用於簡單邏輯單元（例如，組合邏輯單元），這是因為提供較少的M x層軌道340。
在較高高度部分370和較低高度部分380內，可以定位邏輯單元。邏輯單元可以僅跨部分370、380之一或跨部分370、380兩者。再次參考高度比h R=h 2/h 1，高度比h R=h 2/h 1可以非整數值或整數值。如果高度比h R=h 2/h 1是非整數值，則個體邏輯單元可以跨部分370、380之一和/或跨部分370、380兩者。因此，IC的個體邏輯單元可以具有同質高度設計和/或異質高度設計。如果高度比h R=h 2/h 1是整數值，則兩種配置是可能的。在第一配置中，個體邏輯單元可以跨部分370、380兩者。因此，IC的所有個體邏輯單元可以具有異質高度設計。在第二配置中，個體邏輯單元可以跨部分370、380之一和/或部分370、380兩者。因此，IC的個體邏輯單元可以具有同質高度設計和/或異質高度設計。異質高度邏輯單元架構內的邏輯單元的示例位置在圖4、圖5中被繪示。
圖4是概念性地繪示異質高度邏輯單元架構的俯視圖的第二圖400。如圖4中所示，邏輯單元402可以是具有高度h 1的低單高度單元，邏輯單元404可以是具有高度2*h 1的低雙高度單元，邏輯單元408可以是具有高度h 2的高單高度單元，邏輯單元410可以具有高度2*h 2的高雙高度單元，並且邏輯單元406可以跨高和低高度部分兩者，具有高度h 1+h 2。在一個示例中，邏輯單元402、404可以是簡單邏輯單元；邏輯單元408、410可以是複雜邏輯單元；並且邏輯單元406可以具有混合的簡單/複雜功能。
圖5是概念性地繪示異質高度邏輯單元架構的俯視圖的第三圖500。如圖5中所示，邏輯單元502可以是具有高度h 1的低單高度單元，邏輯單元506可以是具有高度2*h 1的低雙高度單元，邏輯單元514可以是具有高度h 2的高單高度單元，邏輯單元512可以是具有高度2*h 2的高雙高度單元，並且邏輯單元504、508、510可以包括高和低高度部分。例如，邏輯單元504可以依次包括低部分、高部分、高部分、低部分，具有高度2*h 1+2*h 2；邏輯單元508可以包括低部分和高部分，具有高度h 1+h 2；並且邏輯單元510可以依次包括高部分、低部分、低部分、高部分，具有高度2*h 1+2*h 2。在一個示例中，邏輯單元502、506可以是簡單邏輯單元；邏輯單元512、514可以是複雜邏輯單元；並且邏輯單元504、508、510可以具有混合的簡單/複雜功能。
圖6是概念性地繪示異質高度邏輯單元架構的俯視圖的第四圖600。異質高度邏輯單元架構可以包括具有第一高度h 1的較低高度部分和具有第二高度h 2的較高高度部分，其中h 2＞h 1，並且其中較高高度部分具有比較低高度部分更大數目的M x層軌道。一個邏輯單元602可以包括較高高度部分和較低高度部分兩者。例如，邏輯單元602可以包括第一電晶體邏輯集合604和第二電晶體邏輯集合606。電晶體邏輯包括p型MOS（pMOS）和n型MOS（nMOS）電晶體，它們在對應的較高高度/較低高度部分內形成邏輯閘。一個邏輯單元602的高度h m等於（n 1-1）h 1+（n 2-1）h 2，其中n 1≥2並且是第一電晶體邏輯集合內的供電軌軌道的數目，並且n 2≥2並且是第二電晶體邏輯集合內的供電軌軌道的數目，並且其中n 1+n 2-1是一個邏輯單元602內的供電軌的總數目。如圖6中所示，n 1=7並且n 2=3，因此邏輯單元602的高度為6*h 1+2*h 2。
圖7是概念性地繪示異質高度邏輯單元架構的不同配置的俯視圖的圖700、圖720、圖740、圖760的集合。每個電晶體邏輯集合由表示M s單元的集合的單高度單元繪示，其中s是特定集合並且所述電晶體邏輯集合具有高度M s*h。例如，在圖700中，具有較小高度架構的第一電晶體邏輯集合包括n 1=M 1+1個供電軌，並且具有高度M 1*h 1，並且對應地，高度為（n 1-1）h 1。與第一電晶體邏輯集合相鄰的是具有較高高度架構的第二電晶體邏輯集合。第二電晶體邏輯集合包括n 2=M 2+1個供電軌，並且具有高度M 2*h 2，並且對應地，高度為（n 2-1）h 2。與第二電晶體邏輯集合相鄰的是具有較小高度架構的第三電晶體邏輯集合。第三電晶體邏輯集合包括n 3=M 3+1個供電軌，並且具有高度M 3*h 1，並且對應地，高度為（n 3-1）h 1。與第三電晶體邏輯集合相鄰的是不同的較高和較小高度架構的不同集合，最終導致具有較小高度架構的第N電晶體邏輯集合。第N電晶體邏輯集合包括n N=M N+1個供電軌，並且具有高度M N*h 1，並且對應地，高度為（n N-1）h 1。
作為另一個示例，在圖720中，具有較小高度架構的第一電晶體邏輯集合包括n 1=M 1+1個供電軌，並且具有高度M 1*h 1，並且對應地，高度為（n 1-1）h 1。與第一電晶體邏輯集合相鄰的是具有較高高度架構的第二電晶體邏輯集合。第二電晶體邏輯集合包括n 2=M 2+1個供電軌，並且具有高度M 2*h 2，並且對應地，高度為（n 2-1）h 2。與第二電晶體邏輯集合相鄰的是具有較小高度架構的第三電晶體邏輯集合。第三電晶體邏輯集合包括n 3=M 3+1個供電軌，並且具有高度M 3*h 1，並且對應地，高度為（n 3-1）h 1。與第三電晶體邏輯集合相鄰的是不同的較高和較小高度架構的不同集合，最終導致具有較高高度架構的第N電晶體邏輯集合。第N電晶體邏輯集合包括n N=M N+1個供電軌，並且具有高度M N*h 2，並且對應地，高度為（n N-1）h 2。
作為另一個示例，在圖740中，具有較高高度架構的第一電晶體邏輯集合包括n 1=M 1+1個供電軌，並且具有高度M 1*h 2，並且對應地，高度為（n 1-1）h 2。與第一電晶體邏輯集合相鄰的是具有較低高度架構的第二電晶體邏輯集合。第二電晶體邏輯集合包括n 2=M 2+1個供電軌，並且具有高度M 2*h 1，並且對應地，高度為（n 2-1）h 1。與第二電晶體邏輯集合相鄰的是具有較高高度架構的第三電晶體邏輯集合。第三電晶體邏輯集合包括n 3=M 3+1個供電軌，並且具有高度M 3*h 2，並且對應地，高度為（n 3-1）h 2。與第三電晶體邏輯集合相鄰的是不同的較高和較小高度架構的不同集合，最終導致具有較小高度架構的第N電晶體邏輯集合。第N電晶體邏輯集合包括n N=M N+1個供電軌，並且具有高度M N*h 1，並且對應地，高度為（n N-1）h 1。
作為另一個示例，在圖760中，具有較高高度架構的第一電晶體邏輯集合包括n 1=M 1+1個供電軌，並且具有高度M 1*h 2，並且對應地，高度為（n 1-1）h 2。與第一電晶體邏輯集合相鄰的是具有較低高度架構的第二電晶體邏輯集合。第二電晶體邏輯集合包括n 2=M 2+1個供電軌，並且具有高度M 2*h 1，並且對應地，高度為（n 2-1）h 1。與第二電晶體邏輯集合相鄰的是具有較高高度架構的第三電晶體邏輯集合。第三電晶體邏輯集合包括n 3=M 3+1個供電軌，並且具有高度M 3*h 2，並且對應地，高度為（n 3-1）h 2。與第三電晶體邏輯集合相鄰的是不同的較高和較小高度架構的不同集合，最終導致具有較高高度架構的第N電晶體邏輯集合。第N電晶體邏輯集合包括n N=M N+1個供電軌，並且具有高度M N*h 2，並且對應地，高度為（n N-1）h 2。
通常，一個邏輯單元可以包括如圖700、圖720、圖740、圖760中所示的邏輯單元集合的任何組合。例如，如果一個邏輯單元包括第一電晶體邏輯集合、第二電晶體邏輯集合和第三電晶體邏輯集合，具有組合低-高-低架構，則所述一個邏輯單元的高度h m將等於（n 1-1）h 1+（n 2-1）h 2+（n 3-1）h 1，其中n 1≥2並且是第一電晶體邏輯集合內的供電軌軌道的數目，n 2≥2並且是第二電晶體邏輯集合內的供電軌軌道的數目，並且n 3≥2並且是第三電晶體邏輯集合內的供電軌軌道的數目，其中n 1+n 2+n 3-2是一個邏輯單元內的供電軌的總數目。此外，在另一個示例中，如果一個邏輯單元包括第一電晶體邏輯集合、第二電晶體邏輯集合和第三電晶體邏輯集合，具有組合高-低-高架構，則所述一個邏輯單元的高度h m將等於（n 1-1）h 2+（n 2-1）h 1+（n 3-1）h 2，其中n 1≥2並且是第一電晶體邏輯集合內的供電軌軌道的數目，n 2≥2並且是第二電晶體邏輯集合內的供電軌軌道的數目，並且n 3≥2並且是第三電晶體邏輯集合內的供電軌軌道的數目，其中n 1+n 2+n 3-2是一個邏輯單元內的供電軌的總數目。
再次參考圖3-圖7，MOS IC包括第一電晶體邏輯集合380。第一電晶體邏輯集合380具有在第一方向上延伸的第一多個閘極互連360。第一多個閘極互連360具有閘極間距p g。第一電晶體邏輯集合380具有一個或多個供電軌對330、350，其向每個對應的供電軌對330、350之間的邏輯提供電源電壓和接地電壓。第一電晶體邏輯集合380具有第一單元高度h 1，並且具有在每個供電軌對330、350之間在第二方向上單向延伸的第一數目的M x層軌道340。第二方向與第一方向正交。MOS IC還包括第二電晶體邏輯集合370。第二電晶體邏輯集合370在第一方向上與第一電晶體邏輯集合380相鄰。第二電晶體邏輯集合370具有在第一方向上延伸的第二多個閘極互連360。第二多個閘極互連360具有與第一多個閘極互連360相同的閘極間距p g並且每個與第一多個閘極互連360中的相應一個共線。如果兩個閘極互連位於相同直線上，則兩個閘極互連可以說是“共線”。第二電晶體邏輯集合370具有一個或多個供電軌對310、330，其向每個對應的供電軌對310、330之間的邏輯提供電源電壓和接地電壓。第二電晶體邏輯集合370具有第二單元高度h 2，並且具有在每個供電軌對310、330之間在第二方向上單向延伸的第二數目的M x層軌道320。第二單元高度h 2大於第一單元高度h 1。M x層軌道320的第二數目大於M x層軌道340的第一數目。滿足以下至少一項：（1）高度比h R=h 2/h 1是非整數值，並且第一電晶體邏輯集合的子集和第二電晶體邏輯集合的子集可以在或可以不在一個邏輯單元內，或（2）高度比h R=h 2/h 1是整數值，並且第一電晶體邏輯集合的子集和第二電晶體邏輯集合的子集在一個邏輯單元內。
在一種配置中，第一和第二電晶體邏輯集合380、370的一個或多個供電軌對350、330、310中的供電軌330在第一電晶體邏輯集合380和第二電晶體邏輯集合370之間在第二方向上延伸。供電軌330是共用供電軌，並且被配置成：向第一電晶體邏輯集合380的至少一個子集和第二電晶體邏輯集合370的至少一個子集提供電源電壓或接地電壓中的一個。
在一種配置中，第一電晶體邏輯集合380的第一數目的M x層軌道340的間距p 1和第二電晶體邏輯集合370的第二數目的M x層軌道320的間距p 2相同。在另一種配置中，p 1≠p 2。
在一種配置中，M x層是在第二方向上單向延伸的最低金屬層。例如，M x層可以是M0層或M1層。
在一種配置中，高度比h R=h 2/h 1是非整數值，並且第一電晶體邏輯集合380包括第一邏輯單元集合，並且第二電晶體邏輯集合370包括第二邏輯單元集合（例如，參見圖4的邏輯單元402、404、408、410；也參見圖5的邏輯單元502、506、512、514）。替代地，第一和第二電晶體邏輯集合370、380或第一和第二電晶體邏輯集合370、380的子集可以在相同邏輯單元內（例如，參見圖4的邏輯單元406；也參見圖5的邏輯單元504、508）。在這種配置中，高度比h R=h 2/h 1可以是，也可以不是非整數值。
在一種配置中，第一電晶體邏輯集合380、604的子集和第二電晶體邏輯集合370、606的子集在一個邏輯單元602內（例如，參見圖6；也參見圖4的邏輯單元406和圖5的邏輯單元504、508）。一個邏輯單元602的高度h m等於（n 1-1）h 1+（n 2-1）h 2，其中n 1≥2並且是第一電晶體邏輯集合604的子集內的供電軌軌道的數目，n 2≥2並且是第二電晶體邏輯集合606的子集內的供電軌軌道的數目，並且其中n 1+n 2-1是一個邏輯單元602內的供電軌的總數目。在一種配置中，第一電晶體邏輯集合380、604的子集和第二電晶體邏輯集合370、606的子集在一個邏輯單元602內耦接在一起。即，第一電晶體邏輯集合380、604和第二電晶體邏輯集合370、606可以彼此不耦接或在一個邏輯單元602內耦接在一起。當第一電晶體邏輯集合380、604和第二電晶體邏輯集合370、606彼此不耦接時，針對第一電晶體邏輯集合380、604和第二電晶體邏輯集合370、606，所述一個邏輯單元602可以具有分開的輸入和分開的輸出。當第一電晶體邏輯集合380、604和第二電晶體邏輯集合370、606彼此耦接時，針對第一電晶體邏輯集合380、604和第二電晶體邏輯集合370、606，所述一個邏輯單元602可以具有聯合輸入和聯合輸出。
在一種配置中，對於低-高-低架構（例如，參見圖7的圖700、圖720），MOS IC還可以包括第三電晶體邏輯集合。第三電晶體邏輯集合具有在第一方向上延伸的第三多個閘極互連。第三多個閘極互連具有與第一多個閘極互連和第二多個閘極互連相同的閘極間距，並且每個與第一多個閘極互連和第二多個閘極互連中的相應的閘極互連共線。第三電晶體邏輯集合具有一個或多個供電軌對，其向每個對應的供電軌對之間的邏輯提供電源電壓和接地電壓。第三電晶體邏輯集合具有第一單元高度h 1，並且具有在每個供電軌對之間在第二方向上單向延伸的第一數目的M x層軌道。第二電晶體邏輯集合在第一電晶體邏輯集合和第三電晶體邏輯集合之間。在一種配置中，第二電晶體邏輯集合和第三電晶體邏輯集合的一個或多個供電軌對中的供電軌在第二電晶體邏輯集合和第三電晶體邏輯集合之間在第二方向上延伸。供電軌是共用供電軌，並且被配置成：向第二電晶體邏輯集合的至少一個子集和第三電晶體邏輯集合的至少一個子集提供電源電壓或接地電壓中的一個。在一種配置中，第一電晶體邏輯集合的子集、第二電晶體邏輯集合的子集和第三電晶體邏輯集合的子集在一個邏輯單元內。所述一個邏輯單元的高度h m等於（n 1-1）h 1+（n 2-1）h 2+（n 3-1）h 1，其中n 1≥2並且是第一電晶體邏輯集合的子集內的供電軌軌道的數目，n 2≥2並且是第二電晶體邏輯集合的子集內的供電軌軌道的數目，並且n 3≥2並且是第三電晶體邏輯集合的子集內的供電軌軌道的數目，並且其中n 1+n 2+n 3-2是所述一個邏輯單元內的供電軌的總數目。在一種配置中，第一電晶體邏輯集合的子集、第二電晶體邏輯集合的子集和第三電晶體邏輯集合的子集在一個邏輯單元內耦接在一起。
在一種配置中，對於高-低-高架構（參見例如圖7的圖740、圖760），MOS IC還可以包括第三電晶體邏輯集合。第三電晶體邏輯集合具有在第一方向上延伸的第三多個閘極互連。第三多個閘極互連具有與第一多個閘極互連和第二多個閘極互連相同的閘極間距，並且每個與第一多個閘極互連和第二多個閘極互連中的相應閘極互連共線。第三電晶體邏輯集合具有一個或多個供電軌對，其向每個對應的供電軌對之間的邏輯提供電源電壓和接地電壓。第三電晶體邏輯集合具有第二單元高度h 2，並且具有在每個供電軌對之間在第二方向上單向延伸的第二數目的M x層軌道。第一電晶體邏輯集合在第二電晶體邏輯集合和第三電晶體邏輯集合之間。在一種配置中，第一電晶體邏輯集合和第三電晶體邏輯集合的一個或多個供電軌對中的供電軌在第一電晶體邏輯集合和第三電晶體邏輯集合之間在第二方向上延伸。供電軌是共用供電軌，向第一電晶體邏輯集合的至少一個子集和第三電晶體邏輯集合的至少一個子集提供電源電壓或接地電壓中的一個。在一種配置中，第一電晶體邏輯集合的子集、第二電晶體邏輯集合的子集和第三電晶體邏輯集合的子集在一個邏輯單元內。所述一個邏輯單元的高度h m等於（n 3-1）h 2+（n 1-1）h 1+（n 2-1）h 2，其中n 1≥2並且是第一電晶體邏輯集合的子集內的供電軌軌道的數目，n 2≥2並且是第二電晶體邏輯集合的子集內的供電軌軌道的數目，並且n 3≥2並且是第三電晶體邏輯集合的子集內的供電軌軌道的數目，並且其中n 1+n 2+n 3-2是在所述一個邏輯單元內的供電軌的總數目。在一種配置中，第一電晶體邏輯集合的子集、第二電晶體邏輯集合的子集和第三電晶體邏輯集合的子集在一個邏輯單元內耦接在一起。
參見圖7的圖700、圖720、圖740、圖760，在一種配置中，MOS IC包括n個電晶體邏輯集合。n個電晶體邏輯集合在第一方向上與第一電晶體邏輯集合或第二電晶體邏輯集合中的一個相鄰。n個電晶體邏輯集合中的每個集合具有相同數目的在第一方向上延伸的閘極互連。所述閘極互連具有相同的閘極間距，並且每個閘極互連與第一多個閘極互連和第二多個閘極互連中的相應閘極互連共線。n個電晶體邏輯集合中的每個集合具有一個或多個供電軌對，其向每個對應的供電軌對之間的電晶體邏輯提供電源電壓和接地電壓。n個電晶體邏輯集合中的每個集合具有第一單元高度h 1和第一數目的M x層軌道，或者具有第二單元高度h 2和第二數目的M x層軌道。
如上文所討論的，對於所提供的異質高度邏輯單元架構，相對較高和相對較低的邏輯架構可以彼此相鄰，兩者都具有相同間距的對齊閘極互連。與較低的邏輯架構相比，較高的邏輯架構可以提供更大數目的路由軌道。較高的邏輯架構可以以較低的面積效率提供相對較高的性能，而較低的邏輯架構可以以較高的面積效率提供相對較低的性能。邏輯單元可以位於較高邏輯架構內、較低邏輯架構內，或較高邏輯架構和較低邏輯架構兩者內。異質高度邏輯單元架構可以允許最佳化的面積/性能，同時還允許更容易的程序縮放至更小的技術程序節點。
應當理解的是，所公開的程序中的步驟的具體次序或層次是示例性方法的說明。應當理解的是，基於設計偏好，可以重排這些程序中步驟的具體次序或層次。此外，一些步驟可以被組合或被省略。所附方法請求項以示例次序呈現各種步驟的要素，而不意味著被限制於所呈現的具體次序或層次。
提供先前描述是為了使本領域任何技術人員均能夠實踐本文中描述的各種方面。對這些方面的各種改動將容易為本領域技術人員所明白，並且在本文中所定義的一般原理可以被應用於其它方面。因此，申請專利範圍不旨在被限制於本文中所示出的方面，而是應被授予與語言上的申請專利範圍相一致的全部範圍，其中除非特別聲明，對單數形式的要素的引用不旨在表示“有且僅有一個”，而是“一個或多個”。本文使用術語“示例性”意指“用作示例、實例或說明”。本文中被描述為“示例性”的任何方面不必被解釋成優於或勝過其它方面。除非特別另外聲明，否則術語“一些”指的是一個或多個。諸如“A、B或C中的至少一個”、“A、B和C中的至少一個”以及“A、B、C或其任何組合”之類的組合包括A、B和/或C的任何組合，並且可以包括多個A、多個B或者多個C。具體地，諸如“A、B或C中的至少一個”、“A、B和C中的至少一個”以及“A、B、C或其任何組合”之類的組合可以是僅A、僅B、僅C、A和B、A和C、B和C、或者A和B和C，其中任何這種組合可以包含A、B或C中的一個或多個成員。貫穿本公開內容描述的各種方面的要素，為本領域一般技術人員當前或今後所知的所有結構上和功能上的等效方案透過引用被明確納入於此，並且旨在被申請專利範圍所涵蓋。此外，本文中所公開的任何內容都不旨在貢獻給公眾，無論這種公開是否在申請專利範圍中被明確地記載。沒有任何申請專利範圍要素要被解釋為部件加功能，除非所述要素是使用片語“用於......的部件”來被明確記載。
以下示例僅是說明性的，並且可以與本文描述的其它實施例或教示的方面結合，而沒有限制。
示例1是包括第一電晶體邏輯集合的MOS IC。所述第一電晶體邏輯集合具有在第一方向上延伸的第一多個閘極互連。所述第一多個閘極互連具有閘極間距。所述第一電晶體邏輯集合具有一個或多個供電軌對，所述一個或多個供電軌對向每個對應的供電軌對之間的邏輯提供電源電壓和接地電壓。所述第一電晶體邏輯集合具有第一單元高度h 1並且具有在每個供電軌對之間在第二方向上單向延伸的第一數目的M x層軌道。所述第二方向與所述第一方向正交。所述MOS IC還包括第二電晶體邏輯集合。所述第二電晶體邏輯集合在所述第一方向上與所述第一電晶體邏輯集合相鄰。所述第二電晶體邏輯集合具有在所述第一方向上延伸的第二多個閘極互連。所述第二多個閘極互連具有與所述第一多個閘極互連相同的閘極間距，並且每個與所述第一多個閘極互連中的相應一個共線。所述第二電晶體邏輯集合具有一個或多個供電軌對，所述一個或多個供電軌對向每個對應的供電軌對之間的邏輯提供所述電源電壓和所述接地電壓。所述第二電晶體邏輯集合具有第二單元高度h 2並且具有在每個供電軌對之間在所述第二方向上單向延伸的第二數目的M x層軌道。所述第二單元高度h 2大於所述第一單元高度h 1。所述M x層軌道的第二數目大於所述M x層軌道的第一數目。滿足以下至少一項：高度比h R=h 2/h 1是非整數值，或所述第一電晶體邏輯集合的子集和所述第二電晶體邏輯集合的子集在一個邏輯單元內。
示例2是根據示例1所述的MOS IC，其中所述第一電晶體邏輯集合和所述第二電晶體邏輯集合的所述一個或多個供電軌對中的供電軌在所述第一電晶體邏輯集合和所述第二電晶體邏輯集合之間在所述第二方向上延伸。所述供電軌被配置成：向所述第一電晶體邏輯集合的至少一個子集和所述第二電晶體邏輯集合的至少一個子集提供所述電源電壓或所述接地電壓中的一個。
示例3是根據示例1和示例2中任一項所述的MOS IC，其中所述第一電晶體邏輯集合的所述第一數目的M x層軌道的間距與所述第二電晶體邏輯集合的所述第二數目的M x層軌道的間距相同。
示例4是根據示例1至示例3中任一項所述的MOS IC，其中所述M x層是在所述第二方向上單向延伸的最低金屬層。
示例5是根據示例1至示例4中任一項所述的MOS IC，其中所述高度比h R=h 2/h 1是非整數值，並且所述第一電晶體邏輯集合包括第一邏輯單元集合，並且所述第二電晶體邏輯集合包括第二邏輯單元集合。
示例6是根據示例1至示例5中任一項所述的MOS IC，其中所述第一電晶體邏輯集合的所述子集和所述第二電晶體邏輯集合的所述子集在一個邏輯單元內。所述一個邏輯單元的高度h m等於（n 1-1）h 1+（n 2-1）h 2，其中n 1≥2並且是所述第一電晶體邏輯集合的所述子集內的供電軌軌道的數目，並且n 2≥2並且是所述第二電晶體邏輯集合的所述子集內的供電軌軌道的數目，並且其中n 1+n 2-1是所述一個邏輯單元內的供電軌的總數目。
示例7是根據示例6所述的MOS IC，其中所述第一電晶體邏輯集合的所述子集和所述第二電晶體邏輯集合的所述子集在所述一個邏輯單元內耦接在一起。
示例8是根據示例1至示例7中任一項所述的MOS IC，還包括第三電晶體邏輯集合。所述第三電晶體邏輯集合具有在所述第一方向上延伸的第三多個閘極互連。所述第三多個閘極互連具有與所述第一多個閘極互連和所述第二多個閘極互連相同的閘極間距，並且每個與所述第一多個閘極互連和所述第二多個閘極互連中的相應閘極互連共線。所述第三電晶體邏輯集合具有一個或多個供電軌對，所述一個或多個供電軌對向每個對應的供電軌對之間的邏輯提供所述電源電壓和所述接地電壓。所述第三電晶體邏輯集合具有所述第一單元高度h 1並且具有在每個供電軌對之間在所述第二方向上單向延伸的所述第一數目的M x層軌道。所述第二電晶體邏輯集合在所述第一電晶體邏輯集合和所述第三電晶體邏輯集合之間。
示例9是根據示例8所述的MOS IC，其中所述第二電晶體邏輯集合和第三電晶體邏輯集合的所述一個或多個供電軌對中的供電軌在所述第二電晶體邏輯集合和所述第三電晶體邏輯集合之間在所述第二方向上延伸。所述供電軌被配置成：向所述第二電晶體邏輯集合的至少一個子集和所述第三電晶體邏輯集合的至少一個子集提供所述電源電壓或接地電壓中的一個。
示例10是根據示例8和示例9中任一項所述的MOS IC，其中所述第一電晶體邏輯集合的子集、所述第二電晶體邏輯集合的子集和所述第三電晶體邏輯集合的子集在一個邏輯單元內。所述一個邏輯單元的高度h m等於（n 1-1）h 1+（n 2-1）h 2+（n 3-1）h 1，其中n 1≥2並且是所述第一電晶體邏輯集合的所述子集內的供電軌軌道的數目，n 2≥2並且是所述第二電晶體邏輯集合的所述子集內的供電軌軌道的數目，並且n 3≥2並且是所述第三電晶體邏輯集合的所述子集內的供電軌軌道的數目，並且其中n 1+n 2+n 3-2是所述一個邏輯單元內的供電軌的總數目。
示例11是根據示例10所述的MOS IC，其中所述第一電晶體邏輯集合的所述子集、所述第二電晶體邏輯集合的所述子集和所述第三電晶體邏輯集合的所述子集在所述一個邏輯單元內耦接在一起。
示例12是根據示例1至示例11中任一項所述的MOS IC，還包括第三電晶體邏輯集合。所述第三電晶體邏輯集合具有在所述第一方向上延伸的第三多個閘極互連。所述第三多個閘極互連具有與所述第一多個閘極互連和所述第二多個閘極互連相同的閘極間距，並且每個與所述第一多個閘極互連和所述第二多個閘極互連中的相應閘極互連共線。所述第三電晶體邏輯集合具有一個或多個供電軌對，所述一個或多個供電軌對向每個對應的供電軌對之間的邏輯提供所述電源電壓和所述接地電壓。所述第三電晶體邏輯集合具有所述第二單元高度h 2並且具有在每個供電軌對之間在所述第二方向上單向延伸的所述第二數目的M x層軌道。所述第一電晶體邏輯集合在所述第二電晶體邏輯集合和所述第三電晶體邏輯集合之間。
示例13是根據示例12所述的MOS IC，其中所述第一電晶體邏輯集合和第三電晶體邏輯集合的所述一個或多個供電軌對中的供電軌在所述第一電晶體邏輯集合和所述第三電晶體邏輯集合之間在所述第二方向上延伸。所述供電軌被配置成：向所述第一電晶體邏輯集合的至少一個子集和所述第三電晶體邏輯集合的至少一個子集提供所述電源電壓或所述接地電壓中的一個。
示例14是根據示例12和示例13中任一項所述的MOS IC，其中所述第一電晶體邏輯集合的子集、所述第二電晶體邏輯集合的子集和所述第三電晶體邏輯集合的子集在一個邏輯單元內。所述一個邏輯單元的高度h m等於（n 3-1）h 2+（n 1-1）h 1+（n 2-1）h 2，其中n 1≥2並且是所述第一電晶體邏輯集合的所述子集內的供電軌軌道的數目，n 2≥2並且是所述第二電晶體邏輯集合的所述子集內的供電軌軌道的數目，並且n 3≥2並且是所述第三電晶體邏輯集合的所述子集內的供電軌軌道的數目，並且其中n 1+n 2+n 3-2是所述一個邏輯單元內的供電軌的總數目。
示例15是根據示例14所述的MOS IC，其中所述第一電晶體邏輯集合的所述子集、所述第二電晶體邏輯集合的所述子集和所述第三電晶體邏輯集合的所述子集在所述一個邏輯單元內耦接在一起。
示例16是根據示例1至示例15中任一項所述的MOS IC，還包括n個電晶體邏輯集合。所述n個電晶體邏輯集合在所述第一方向上與所述第一電晶體邏輯集合或所述第二電晶體邏輯集合中的一個相鄰。所述n個電晶體邏輯集合中的每個集合具有相同數目的在所述第一方向上延伸的閘極互連。所述閘極互連具有所述相同的閘極間距並且每個閘極互連與所述第一多個閘極互連和所述第二多個閘極互連中的相應的閘極互連共線。所述n個電晶體邏輯集合中的每個集合具有一個或多個供電軌對，所述一個或多個供電軌對向每個對應的供電軌對之間的邏輯提供所述電源電壓和所述接地電壓。所述n個電晶體邏輯集合中的每個集合具有所述第一單元高度h 1和所述第一數目的M x層軌道，或者具有所述第二單元高度h 2和所述第二數目的M x層軌道。
100:圖示 102:閘極 104:源極 106:汲極 108:接觸層互連 110:接觸層互連 112:通孔 114:金屬1（M1）層互連 116:通孔V1 118:金屬2（M2）層互連 200:圖示 202:閘極 204:源極 206:汲極 208:接觸層互連 210:接觸層互連 212:通孔 214:M1層互連 216:通孔V1 218:M2層互連 300:第一圖 310:供電軌 320:M x層軌道 330:供電軌 340:M x層軌道 350:供電軌 360:閘極互連 370:較高高度部分 380:較低高度部分 p 1:間距 p 2:間距 p g:間距 h1:第一單元高度 h2:第二單元高度 400:第二圖 402:邏輯單元 404:邏輯單元 406:邏輯單元 408:邏輯單元 410:邏輯單元 500:第三圖 502:邏輯單元 504:邏輯單元 506:邏輯單元 508:邏輯單元 510:邏輯單元 512:邏輯單元 514:邏輯單元 600:第四圖 602:邏輯單元 604:第一電晶體邏輯集合 606:第二電晶體邏輯集合 700:圖 720:圖 740:圖 760:圖
圖1是繪示標準單元和IC內的各種層的側視圖的第一圖。
圖2是繪示標準單元和IC內的各種層的側視圖的第二圖。
圖3是概念性地繪示異質高度邏輯單元架構的俯視圖的第一圖。
圖4是概念性地繪示異質高度邏輯單元架構的俯視圖的第二圖。
圖5是概念性地繪示異質高度邏輯單元架構的俯視圖的第三圖。
圖6是概念性地繪示異質高度邏輯單元架構的俯視圖的第四圖。
圖7是概念性地繪示異質高度邏輯單元架構的不同配置的俯視圖的圖集合。
300:第一圖
310:供電軌
320:Mx層軌道
330:供電軌
340:Mx層軌道
350:供電軌
360:閘極互連
370:較高高度部分
380:較低高度部分
p1:間距
p2:間距
pg:間距
h1:第一單元高度
h2:第二單元高度

Claims (16)

  1. 一種金屬氧化物半導體（MOS）積體電路（IC），包括： 第一電晶體邏輯集合，具有在第一方向上延伸的第一多個閘極互連，所述第一多個閘極互連具有閘極間距，所述第一電晶體邏輯集合具有向每個對應的供電軌對之間的邏輯提供電源電壓和接地電壓的一個或多個供電軌對，所述第一電晶體邏輯集合具有第一單元高度h 1並且具有在每個供電軌對之間在第二方向上單向延伸的第一數目的金屬x（M x）層軌道，所述第二方向與所述第一方向正交；以及 第二電晶體邏輯集合，在所述第一方向上與所述第一電晶體邏輯集合相鄰，所述第二電晶體邏輯集合具有在所述第一方向上延伸的第二多個閘極互連，所述第二多個閘極互連具有與所述第一多個閘極互連相同的閘極間距，並且每個與所述第一多個閘極互連中的相應一個閘極互連共線，所述第二電晶體邏輯集合具有向每個對應的供電軌對之間的邏輯提供所述電源電壓和所述接地電壓的一個或多個供電軌對，所述第二電晶體邏輯集合具有第二單元高度h 2並且具有在每個供電軌對之間在所述第二方向上單向延伸的第二數目的M x層軌道，所述第二單元高度h 2大於所述第一單元高度h 1，所述M x層軌道的第二數目大於所述M x層軌道的第一數目， 其中滿足以下至少一項：高度比h R=h 2/h 1是非整數值，或所述第一電晶體邏輯集合的子集和所述第二電晶體邏輯集合的子集在一個邏輯單元內。
  2. 根據請求項1所述的MOS IC，其中所述第一電晶體邏輯集合和所述第二電晶體邏輯集合的所述一個或多個供電軌對中的供電軌在所述第一電晶體邏輯集合和所述第二電晶體邏輯集合之間在所述第二方向上延伸，所述供電軌被配置成：向所述第一電晶體邏輯集合的至少一個子集和所述第二電晶體邏輯集合的至少一個子集提供所述電源電壓或所述接地電壓中的一個。
  3. 根據請求項1所述的MOS IC，其中所述第一電晶體邏輯集合的所述第一數目的M x層軌道的間距與所述第二電晶體邏輯集合的所述第二數目的M x層軌道的間距相同。
  4. 根據請求項1所述的MOS IC，其中所述M x層是在所述第二方向上單向延伸的最低金屬層。
  5. 根據請求項1所述的MOS IC，其中所述高度比h R=h 2/h 1是非整數值，並且所述第一電晶體邏輯集合包括第一邏輯單元集合，並且所述第二電晶體邏輯集合包括第二邏輯單元集合。
  6. 根據請求項1所述的MOS IC，其中所述第一電晶體邏輯集合的所述子集和所述第二電晶體邏輯集合的所述子集在一個邏輯單元內，所述一個邏輯單元的高度h m等於（n 1-1）h 1+（n 2-1）h 2，其中n 1≥2並且是所述第一電晶體邏輯集合的所述子集內的供電軌軌道的數目，並且n 2≥2並且是所述第二電晶體邏輯集合的所述子集內的供電軌軌道的數目，並且其中n 1+n 2-1是所述一個邏輯單元內的供電軌的總數目。
  7. 根據請求項6所述的MOS IC，其中所述第一電晶體邏輯集合的所述子集和所述第二電晶體邏輯集合的所述子集在所述一個邏輯單元內耦接在一起。
  8. 根據請求項1所述的MOS IC，還包括： 第三電晶體邏輯集合，具有在所述第一方向上延伸的第三多個閘極互連，所述第三多個閘極互連具有所述相同的閘極間距，並且每個與所述第一多個閘極互連和所述第二多個閘極互連中的相應閘極互連共線，所述第三電晶體邏輯集合具有向每個對應的供電軌對之間的邏輯提供所述電源電壓和所述接地電壓的一個或多個供電軌對，所述第三電晶體邏輯集合具有所述第一單元高度h 1並且具有在每個供電軌對之間在所述第二方向上單向延伸的所述第一數目的M x層軌道，所述第二電晶體邏輯集合在所述第一電晶體邏輯集合和所述第三電晶體邏輯集合之間。
  9. 根據請求項8所述的MOS IC，其中所述第二電晶體邏輯集合和所述第三電晶體邏輯集合的所述一個或多個供電軌對中的供電軌在所述第二電晶體邏輯集合和所述第三電晶體邏輯集合之間在所述第二方向上延伸，所述供電軌被配置成：向所述第二電晶體邏輯集合的至少一個子集和所述第三電晶體邏輯集合的至少一個子集提供所述電源電壓或所述接地電壓中的一個。
  10. 根據請求項8所述的MOS IC，其中所述第一電晶體邏輯集合的子集、所述第二電晶體邏輯集合的子集和所述第三電晶體邏輯集合的子集在一個邏輯單元內，所述一個邏輯單元的高度h m等於（n 1-1）h 1+（n 2-1）h 2+（n 3-1）h 1，其中n 1≥2並且是所述第一電晶體邏輯集合的所述子集內的供電軌軌道的數目，n 2≥2並且是所述第二電晶體邏輯集合的所述子集內的供電軌軌道的數目，並且n 3≥2並且是所述第三電晶體邏輯集合的所述子集內的供電軌軌道的數目，並且其中n 1+n 2+n 3-2是所述一個邏輯單元內的供電軌的總數目。
  11. 根據請求項10所述的MOS IC，其中所述第一電晶體邏輯集合的所述子集、所述第二電晶體邏輯集合的所述子集和所述第三電晶體邏輯集合的所述子集在所述一個邏輯單元內耦接在一起。
  12. 根據請求項1所述的MOS IC，還包括： 第三電晶體邏輯集合，具有在所述第一方向上延伸的第三多個閘極互連，所述第三多個閘極互連具有所述相同的閘極間距，並且每個與所述第一多個閘極互連和所述第二多個閘極互連中的相應閘極互連共線，所述第三電晶體邏輯集合具有向每個對應的供電軌對之間的邏輯提供所述電源電壓和所述接地電壓的一個或多個供電軌對，所述第三電晶體邏輯集合具有所述第二單元高度h 2並且具有在每個供電軌對之間在所述第二方向上單向延伸的所述第二數目的M x層軌道，所述第一電晶體邏輯集合在所述第二電晶體邏輯集合和所述第三電晶體邏輯集合之間。
  13. 根據請求項12所述的MOS IC，其中所述第一電晶體邏輯集合和所述第三電晶體邏輯集合的所述一個或多個供電軌對中的供電軌在所述第一電晶體邏輯集合和所述第三電晶體邏輯集合之間在所述第二方向上延伸，所述供電軌被配置成：向所述第一電晶體邏輯集合的至少一個子集和所述第三電晶體邏輯集合的至少一個子集提供所述電源電壓或所述接地電壓中的一個。
  14. 根據請求項12所述的MOS IC，其中所述第一電晶體邏輯集合的子集、所述第二電晶體邏輯集合的子集和所述第三電晶體邏輯集合的子集在一個邏輯單元內，所述一個邏輯單元的高度h m等於（n 3-1）h 2+（n 1-1）h 1+（n 2-1）h 2，其中n 1≥2並且是所述第一電晶體邏輯集合的所述子集內的供電軌軌道的數目，n 2≥2並且是所述第二電晶體邏輯集合的所述子集內的供電軌軌道的數目，並且n 3≥2並且是所述第三電晶體邏輯集合的所述子集內的供電軌軌道的數目，並且其中n 1+n 2+n 3-2是所述一個邏輯單元內的供電軌的總數目。
  15. 根據請求項14所述的MOS IC，其中所述第一電晶體邏輯集合的所述子集、所述第二電晶體邏輯集合的所述子集和所述第三電晶體邏輯集合的所述子集在所述一個邏輯單元內耦接在一起。
  16. 根據請求項1所述的MOS IC，還包括： n個電晶體邏輯集合，在所述第一方向上與所述第一電晶體邏輯集合或所述第二電晶體邏輯集合中的一個相鄰，所述n個電晶體邏輯集合中的每個集合具有相同數目的在所述第一方向上延伸的閘極互連，所述閘極互連具有所述相同的閘極間距並且每個閘極互連與所述第一多個閘極互連和所述第二多個閘極互連中的相應閘極互連共線，所述n個電晶體邏輯集合中的每個集合具有向每個對應的供電軌對之間的邏輯提供所述電源電壓和所述接地電壓的一個或多個供電軌對，所述n個電晶體邏輯集合中的每個集合具有所述第一單元高度h 1和所述第一數目的M x層軌道，或者具有所述第二單元高度h 2和所述第二數目的M x層軌道。
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