TW201820139A - 輸入裝置測試系統及其方法 - Google Patents
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Abstract
本發明提供一種輸入裝置測試系統,用以測試具有複數個功能元件之輸入裝置,輸入裝置測試系統包括:測試主機,用以執行測試程式與訊息攔截程式,並藉由測試程式輸出測試訊息;測試平台,用以接收測試訊息並依據測試訊息操作輸入裝置,輸入裝置因應該操作而輸出反應訊息至測試主機;其中,訊息攔截程式用以攔截反應訊息並將反應訊息轉換為至少一編碼,且測試程式判別至少一編碼是否與測試訊息相符。
Description
本發明係有關於一種輸入裝置應用領域,尤指一種測試多功能輸入裝置的系統及其方法。
在現代社會中,電腦已經成為人類生活中不可或缺的一部分,舉几是食、衣、住、行、育、樂,生活中處處都可看見電腦及其相關產品的相關應用。
隨著電腦的普及與多元化,許多嶄新的電腦週邊設備也如雨後春筍般不斷地冒出,而為節省空間並讓使用者可便利地使用電腦週邊設備,電腦週邊設備亦朝向小巧而兼具多功能性的方向發展,例如印表機可兼具傳真機或掃描機的功能;液晶螢幕附加觸控功能或可觀賞2D或3D的影片;輸入裝置如鍵盤、滑鼠等,除原先按鍵與滾輪中鍵的功能外,更多了電阻式或電容式的觸控偵測器,讓使用者可便捷地將指令輸入至電腦之中。
而在所有的電腦週邊設備中,由於輸入裝置作為人與電腦之間溝通的媒介,因此,在輸入裝置的製造過程中,測試輸入裝置是否可正確地運作極其重要。
現有的輸入裝置往往具有多種複合的功能元件,例如兼具觸控及按鍵功能的滑鼠或筆記型電腦的觸控板,但由於在產線上的測試系統 多為視窗(Windows)作業系統,可能讓待測試的滑鼠或觸控板與測試系統自身的游標輸入裝置相互的影響,使測試系統自身的游標產生無法控制或不規則跳動的情況,甚或造成測試系統的誤判。
有鑑於此,如何提供一種可區隔待測試輸入裝置與測試系統自身輸入裝置,以避免兩者相互影響的測試系統,為本發明欲解決的技術課題。
本發明之主要目的,在於提供一種可測試具複數個功能元件輸入裝置的測試系統,其係藉由對待測試輸入裝置所輸出的反應訊息重新編碼,使其可與控制測試主機自身的輸入裝置有所區隔,使待測試輸入裝置與測試主機自身的輸入裝置不會相互的影響,同時達到測試輸入裝置功能元件的作用。
為達前述之目的,本發明提供一種輸入裝置測試系統,用以測試具有複數個功能元件之輸入裝置,輸入裝置測試系統包括:測試主機,用以執行測試程式與訊息攔截程式,並藉由測試程式輸出測試訊息;測試平台,用以接收測試訊息並依據測試訊息操作輸入裝置,輸入裝置因應該操作而輸出反應訊息至測試主機;其中,訊息攔截程式用以攔截反應訊息並將反應訊息轉換為至少一編碼,且測試程式判別至少一編碼是否與測試訊息相符。
於上述較佳實施方式中,其中輸入裝置為滑鼠或觸控板。
於上述較佳實施方式中,其中功能元件包括:左鍵、右鍵、電容偵測器或光學偵測器。
於上述較佳實施方式中,其中測試主機包括螢幕,螢幕用以顯示測試程式的人機介面。
於上述較佳實施方式中,其中反應訊息包含功能元件輸出的複數個訊息封包。
於上述較佳實施方式中,其中訊息攔截程式轉換訊息封包為至少一編碼。
於上述較佳實施方式中,其中輸入裝置藉由藍牙無線通信或通用序列匯流排介面輸出反應訊息至測試主機。
本發明另一較佳作法,係關於一種輸入裝置測試方法,用以測試具有複數功能元件之輸入裝置,輸入裝置測試方法包括下列步驟:(a).產生測試訊息;(b).依據測試訊息操作輸入裝置,而使輸入裝置因應該操作而輸出反應訊息;(c).將反應訊息轉換為至少一編碼;(d).判別至少一編碼是否與測試訊息相符;以及(e).依據至少一編碼是否與測試訊息相符而顯示測試結果。
P0‧‧‧反應訊息
P1、P2、P3、P4‧‧‧反應訊息編碼
S100~S104‧‧‧步驟
T0‧‧‧測試訊息
10‧‧‧滑鼠
101a‧‧‧左鍵
101b‧‧‧右鍵
102‧‧‧上蓋殼體
1021‧‧‧電容偵測器
103‧‧‧下蓋殼體
1031‧‧‧光學偵測器
20‧‧‧測試主機
201‧‧‧訊息攔截程式
202‧‧‧測試程式
2021‧‧‧人機介面
30‧‧‧螢幕
40‧‧‧測試平台
圖1A:係為多功能的輸入裝置之側視圖;圖1B:係為多功能的輸入裝置之俯視圖;圖2:係為本發明所提供之輸入裝置測試系統;圖3:係為本發明輸入裝置測試系統之測試流程圖;以及圖4:係為本發明輸入裝置測試系統人機介面顯示之情境示意圖。
本發明的優點及特徵以及達到其方法將參照例示性實施例及附圖進行更詳細的描述而更容易理解。然而,本發明可以不同形式來實現且不應被理解僅限於此處所陳述的實施例。相反地,對所屬技術領域具有通常知識者而言,所提供的此些實施例將使本揭露更加透徹與全面且完整地傳達本發明的範疇。
首先,請參閱圖1A及圖1B所示,圖1A係為多功能的輸入裝置之側視圖;圖1B係為多功能的輸入裝置之俯視圖。本發明所述的多功能輸入裝置可為滑鼠或觸控板等具有左鍵、右鍵、電容偵測器或光學偵測器的電腦周邊裝置。
於圖1A及圖1B中,多功能輸入裝置為游標輸入裝置,即滑鼠10,滑鼠10具上蓋殼體102、下蓋殼體103,以及設置於其中的複數個功能元件,其中,功能元件包括:左鍵101a、右鍵101b、電容偵測器1021與光學偵測器1031,其中,左鍵101a與右鍵101b可為具有實體的左右按鍵;或藉由手指與滑鼠10上蓋殼體102的接觸位置形成的左右鍵;或藉由滑鼠10上蓋殼體102左右擺動形成的左鍵及右鍵;電容偵測器1021係設置於滑鼠10上蓋殼體102內層的電容式印刷電路板,電容偵測器1021利用人體電容效應來改變電路中的微小的電容量,以偵測手指或手掌在滑鼠10上蓋殼體1021的動態,例如,電容偵測器102可偵測手指於上蓋殼體1021上的移動狀態,當手指於左鍵101a或右鍵101b的位置處上下或左右滑動時,進行電腦螢幕網頁上下滑動或切換頁面的操作;光學偵測器1031設置於下蓋殼體103,光學偵測器1031可蒐集滑鼠10在其所放置的物體表面上的移動方位及相對運動,使用者則藉由移動滑鼠10來操作螢幕上游標的點擊與移動。
接著,請一併參閱圖1A、1B及圖2,圖2係為本發明所提供之輸入裝置測試系統,包括:滑鼠10、測試主機20、螢幕30及測試平台40。測試主機20為視窗(Windows)作業系統的電腦主機,測試主機20自身亦具有操作用的輸入裝置(未示於圖中)。測試主機20係藉由並列埠(Parallel port)電性連接測試平台40,此外,測試主機20用以安裝並執行訊息攔截程式201及測試程式202,使用者可利用測試主機20自身的輸入裝置(未示於圖中)操作測試程式202,其中,測試程式202係利用一般常見之Labview軟體所寫,測試程式202經由並列埠輸出測試訊息T0至測試平台40,測試平台40則依據測試訊息T0的指令進行運作,舉例來說,測試平台40可為機械手臂或是以電磁控制的打擊頭,當進行輸入裝置測試時,測試平台40依據測試訊息T0的指令以機械手臂操作滑鼠10移動使光學偵測器1031產 生反應訊息P0;或以打擊頭敲擊滑鼠10的左鍵101a或右鍵101b使左鍵101a或右鍵101b產生反應訊息P0;滑鼠10則藉由藍牙(Blue Tooth)無線通信或通用序列匯流排介面(Universal Serial Bus,USB)傳送反應訊息P0至測試主機20;測試主機20中的訊息攔截程式201係由C語言所撰寫,訊息攔截程式201為一種hook程式,用以攔截較視窗作業系統內建hook程式更底層的訊息,於本發明中,訊息攔截程式201係用於攔截滑鼠10傳送至測試主機20的反應訊息P0;螢幕30則作為顯示測試程式202的人機介面之用,方便使用者藉由測試主機20自身的輸入裝置(未示於圖中)操作輸入裝置測試系統。
請一併參閱圖2及圖3,圖3係為本發明輸入裝置測試系統之測試流程圖,在進行輸入裝置測試時,首先,產生測試訊息T0(步驟S100),於步驟S100中,可以人為或自動方式驅動測試程式202自測試主機20產生並輸出測試訊息T0至測試平台40,測試平台40在接收到測試訊息T0後,測試平台40依據測試訊息T0操作滑鼠10,而使滑鼠10因應該操作而輸出反應訊息P0(步驟S101),於步驟S101中,若測試訊息T0內含的測試資訊為測試滑鼠10的左鍵101a六次,則測試平台40以打擊頭於預設的時間內依序敲擊滑鼠10的左鍵101a六次;若測試訊息T0內含的測試資訊為測試滑鼠10的光學偵測器1031,則測試平台40以機械手臂操作滑鼠10以預設速度朝向預設方向進行移動。
隨後,滑鼠10輸出反應訊息P0至測試主機20,由於滑鼠10包括複數個功能元件(左鍵101a、右鍵101b、電容偵測器1021與光學偵測器1031),因此,在滑鼠10進行操作測試時,依據測試訊息T0內含的測試資訊,其輸出的反應訊息P0包括:左鍵101a輸出的訊息封包、右鍵101b輸出的訊息封包、電容偵測器1021輸出的訊息封包或光學偵測器1031輸出的訊息封包,測試主機20在接收到反應訊息P0後,則以訊息攔截程式201攔截反應訊息P0並將反應訊息P0轉換為至少一編碼(步驟S102),於步驟S102中,訊息攔截程式201在攔截反應訊息P0後,則對左鍵101a輸出的反應訊息封包、右鍵101b輸出的反應訊息封包、電容偵測器1021輸出的反應訊息封包或光學偵測器1031輸出的反應訊息封包進行重新編碼,在 重新編碼完成後,進一步將左鍵101a之反應訊息編碼P1、右鍵101b之反應訊息編碼P2、電容偵測器1021之反應訊息編碼P3或光學偵測器1031之反應訊息編碼P4傳送予測試程式202。由於反應訊息P0已被訊息攔截程式201所攔截,因此可有效區隔滑鼠10與測試主機20自身的輸入裝置(未示於圖中),使滑鼠10與測試主機20自身的輸入裝置(未示於圖中)不會相互的影響。
接著,測試程式202則判別至少一編碼是否與測試訊息T0相符(步驟S103),於步驟S103中,測試程式202比對步驟S100中所產生的測試訊息T0與左鍵101a之反應訊息編碼P1、右鍵101b之反應訊息編碼P2、電容偵測器1021之反應訊息編碼P3或光學偵測器1031之反應訊息編碼P4,舉例來說,當測試訊息T0內含的測試資訊為測試滑鼠10的左鍵101a,則測試程式202會判別是否接收到左鍵101a之反應訊息編碼P1。
最後,螢幕30則依據至少一編碼是否與測試訊息T0相符而顯示測試結果(步驟S104),於步驟S104中,若測試訊息T0與反應訊息編碼(P1、P2、P3或P4)相符,則於螢幕30的人機介面中顯示測試通過(Pass);若測試訊息T0與反應訊息編碼(P1、P2、P3或P4)不相符,則於螢幕30的人機介面中顯示測試不通過(Fail),舉例來說,測試訊息T0內含的測試資訊為測試滑鼠10的左鍵101a,則測試程式202會判別是否接收到左鍵101a之反應訊息編碼P1,若是,則於螢幕30顯示通過(Pass);反之,若測試訊息T0內含的測試資訊為測試滑鼠10的左鍵101a,但測試程式202並未接收到左鍵101a之反應訊息編碼P1或接收到的是右鍵101b之反應訊息編碼P2,則於螢幕30顯示通過(Fail)。
本發明所提供的輸入裝置測試系統不僅可有效區隔待測試輸入裝置與測試主機20自身的輸入裝置(未示於圖中),使兩者間不會相互的影響,另一方面,可分別測試輸入裝置的複數個功能元件,例如,當使用者欲測試滑鼠10的左鍵101a、右鍵101b時,可設定測試程式202僅辨識左鍵101a之反應訊息編碼P1、右鍵101b之反應訊息編碼P2,並忽略電容偵測器1021之反應訊息編碼P3及光學偵測器1031之反應訊息編碼P4;或當使用者欲測試滑鼠10的電容偵測器1021時,可設定測試程式202僅 辨識電容偵測器1021時之反應訊息編碼P3,並忽略左鍵101a之反應訊息編碼P1、右鍵101b之反應訊息編碼P2及光學偵測器1031之反應訊息編碼P4;甚或當使用者欲測試滑鼠10的光學偵測器1031時,可設定測試程式202僅辨識光學偵測器1031時之反應訊息編碼P4,並忽略左鍵101a之反應訊息編碼P1、右鍵101b之反應訊息編碼P2及電容偵測器1021時之反應訊息編碼P3。
請參閱圖4,圖4係為本發明輸入裝置測試系統人機介面顯示之情境示意圖,於圖4中,假設測試訊息T0內含的測試資訊為測試滑鼠10的左鍵101a六次,則訊息攔截程式201將左鍵101a輸出的反應訊息封包重新編碼為X00Y(其中Y值介於1~9),並於螢幕30上測試程式202的人機介面2021中顯示X001、X002、X003、X004、X005、X006等編碼,同時顯示滑鼠10的左鍵101a測試通過(Pass)。
相較於習之技術,本發明所提供的輸入裝置測試系統可分別測試輸入裝置的各功能元件是否可正常運作,同時可區隔待測試輸入裝置與測試主機20自身的輸入裝置,使兩者不會相互影響,有效提高產品測試的準確性及自動化生產的效率;故,本發明實為一極具產業價值之創作。
本發明得由熟悉本技藝之人士任施匠思而為諸般修飾,然皆不脫如附申請專利範圍所欲保護。
Claims (8)
- 一種輸入裝置測試系統,用以測試具有複數個功能元件之一輸入裝置,該輸入裝置測試系統包括:一測試主機,用以執行一測試程式與一訊息攔截程式,並藉由該測試程式輸出一測試訊息;一測試平台,用以接收該測試訊息並依據該測試訊息操作該輸入裝置,該輸入裝置因應該操作而輸出一反應訊息至該測試主機;其中,該訊息攔截程式用以攔截該反應訊息並將該反應訊息轉換為至少一編碼,且該測試程式判別該至少一編碼是否與該測試訊息相符。
- 如申請專利範圍第1項所述之輸入裝置測試系統,其中該輸入裝置為滑鼠或觸控板。
- 如申請專利範圍第1項所述之輸入裝置測試系統,其中該些功能元件包括:一左鍵、一右鍵、一電容偵測器或一光學偵測器。
- 如申請專利範圍第1項所述之輸入裝置測試系統,其中該測試主機包括一螢幕,該螢幕用以顯示該測試程式的人機介面。
- 如申請專利範圍第1項所述之輸入裝置測試系統,其中該反應訊息包含該些功能元件輸出的複數個訊息封包。
- 如申請專利範圍第5項所述之輸入裝置測試系統,其中該訊息攔截程式轉換該些訊息封包為該至少一編碼。
- 如申請專利範圍第1項所述之輸入裝置測試系統,其中該輸入裝置藉由藍牙無線通信或通用序列匯流排介面輸出該反應訊息至 該測試主機。
- 一種輸入裝置測試方法,用以測試具有複數功能元件之一輸入裝置,該輸入裝置測試方法包括下列步驟:(a).產生一測試訊息;(b).依據該測試訊息操作該輸入裝置,而使該輸入裝置因應該操作而輸出一反應訊息;(c).將該反應訊息轉換為至少一編碼;(d).判別該至少一編碼是否與該測試訊息相符;以及(e).依據該至少一編碼是否與該測試訊息相符而顯示一測試結果。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW105138914A TWI609261B (zh) | 2016-11-25 | 2016-11-25 | 輸入裝置測試系統及其方法 |
US15/433,186 US10248519B2 (en) | 2016-11-25 | 2017-02-15 | Input device test system and method thereof |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW105138914A TWI609261B (zh) | 2016-11-25 | 2016-11-25 | 輸入裝置測試系統及其方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TWI609261B TWI609261B (zh) | 2017-12-21 |
TW201820139A true TW201820139A (zh) | 2018-06-01 |
Family
ID=61230883
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW105138914A TWI609261B (zh) | 2016-11-25 | 2016-11-25 | 輸入裝置測試系統及其方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10248519B2 (zh) |
TW (1) | TWI609261B (zh) |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3057958A (en) * | 1959-08-24 | 1962-10-09 | Stelma Inc | Telegraph test set |
US4409656A (en) * | 1980-03-13 | 1983-10-11 | Her Majesty The Queen, In Right Of Canada As Represented By The Minister Of National Defense | Serial data bus communication system |
US8849585B2 (en) * | 2008-06-26 | 2014-09-30 | Lam Research Corporation | Methods for automatically characterizing a plasma |
US20100077260A1 (en) * | 2008-09-22 | 2010-03-25 | Mts Systems Corporation | Testing machine with workflow based test procedure |
US9350845B2 (en) * | 2009-12-01 | 2016-05-24 | Ringcentral, Inc. | Universal call management platform |
TWI438657B (zh) * | 2011-07-15 | 2014-05-21 | Primax Electronics Ltd | 滑鼠移動軌跡之測試系統 |
IN2013CH06052A (zh) * | 2013-12-23 | 2015-06-26 | Cognizant Technology Solutions India Pvt Ltd |
-
2016
- 2016-11-25 TW TW105138914A patent/TWI609261B/zh active
-
2017
- 2017-02-15 US US15/433,186 patent/US10248519B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US10248519B2 (en) | 2019-04-02 |
US20180150370A1 (en) | 2018-05-31 |
TWI609261B (zh) | 2017-12-21 |
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