TW201807966A - Id資訊傳收裝置以及通訊系統 - Google Patents

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Hiroshi Aoyama
Joji MUGITA
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Hiroshi Aoyama
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Abstract

本發明的課題在於提供一種可以低成本檢測是否照射了電磁波的ID資訊傳收裝置以及通訊系統。本發明的ID資訊傳收裝置具備能夠與讀寫器非接觸式通訊的天線、及電連接於該天線的IC晶片,所述ID資訊傳收裝置的特徵在於:藉由照射電磁波來對能否與所述讀寫器通訊進行切換。本發明的通訊系統具備包含所述構成的ID資訊傳收裝置、及能夠與該ID資訊傳收裝置非接觸式通訊的讀寫器。所述天線可為藉由電磁波的照射而電性質發生變化者。所述天線可具有藉由電磁波的照射而電性質發生變化的性質變化部。所述電性質可為天線的介電常數、共振頻率及電阻值的至少一者。

Description

ID資訊傳收裝置以及通訊系統
本發明是有關於一種識別(identification,ID)資訊傳收裝置以及使用該ID資訊傳收裝置的通訊系統。
為了檢測是否對規定部位照射了光,考慮到將光接收感測器配置於該規定部位。例如,日本專利特開平10-253132號公報中記載有一種藉由感測器檢測房間內的亮度或溫度等來控制空調之類的構成。如此,為了檢測光照射到了哪個地方而使用光接收感測器,但例如為了於多個部位分別檢測是否接收到光而需要使用多個感測器。
但是,若檢測部位增多,則要求設置許多光接收感測器,且需要設置時間及設置空間,從而成本提高。 [現有技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本專利特開平10-253132號公報
[發明所欲解決的課題] 本發明是基於所述般的情況而成者,目的在於提供一種可以低成本檢測是否被照射了光等電磁波的ID資訊傳收裝置以及使用該ID資訊傳收裝置的通訊系統。 [解決課題之手段]
為了解決所述課題而成的本發明為具備能夠與傳收訊號的傳收器非接觸式通訊的天線(antenna)、及電連接於該天線的積體電路(Integrated Circuit,IC)晶片的ID資訊傳收裝置,所述ID資訊傳收裝置的特徵在於:藉由被照射電磁波來對能否與所述傳收器通訊進行切換。
該ID資訊傳收裝置藉由被照射電磁波來對能否與讀寫器(reader writer)通訊進行切換,因此可藉由檢測該通訊狀態來探測是否對該ID資訊傳收裝置照射了電磁波。再者,電磁波不僅包含光(包含可見光線、紫外線、紅外線及X射線),亦包含電波。
宜為,所述天線藉由電磁波的照射而電性質發生變化。藉由對該天線照射電磁波,天線的電性質發生變化,且對該ID資訊傳收裝置與讀寫器之間的通訊狀態進行切換,因此可探測是否對該ID資訊傳收裝置照射了電磁波。
宜為,所述天線具有藉由電磁波的照射而電性質發生變化的性質變化部。藉由對該性質變化部照射電磁波,性質變化部的電性質發生變化,且對該ID資訊傳收裝置與讀寫器能否通訊進行切換,因此可探測是否對該ID資訊傳收裝置照射了電磁波。
宜為,所述電性質為天線的介電常數、電抗、靜電電容、阻抗(impedance)、共振頻率及電阻值的至少一者。藉此,若對該ID資訊傳收裝置照射電磁波,則天線的介電常數、共振頻率及電阻值的至少一者發生變化。藉此,對該ID資訊傳收裝置與所述讀寫器能否通訊進行切換,因此可探測是否對該ID資訊傳收裝置照射了電磁波。
宜為,所述天線具有:一對傳收部,隔著所述IC晶片配設;及變化放大部,配置於所述一對傳收部之間,且將電磁波照射時與未照射時天線的電性質的變化放大。如此,藉由天線具備變化放大部,可將電磁波照射時與未照射時天線的電性質的差設定得大,因此可更確實地探測有無照射電磁波。
宜為,該ID資訊傳收裝置進而具備支撐所述天線的天線支撐體,該天線支撐體若被照射電磁波,則電性質發生變化,且使所述天線的電性質變化。藉此,若對天線支撐體照射電磁波,則天線支撐體的電性質發生變化,藉由該天線支撐體的電性質的變化而天線的電性質發生變化,從而可探測是否對該ID資訊傳收裝置照射了電磁波。
宜為,該ID資訊傳收裝置藉由電磁波的照射而所述天線的形狀發生變化。於該構成中,若對該ID資訊傳收裝置照射電磁波,則天線的形狀發生變化,伴隨該形狀變化而天線的電性質發生變化。藉此,對能否與所述讀寫器通訊進行切換,因此可探測是否對該ID資訊傳收裝置照射了電磁波。
宜為,該ID資訊傳收裝置進而具備支撐所述天線的天線支撐體,該天線支撐體至少於支撐天線的位置具有藉由電磁波的照射而形狀發生變化的形狀變化部。藉此,天線支撐體的形狀變化部藉由電磁波的照射而形狀發生變化,藉由該形狀的變化而天線的形狀發生變化。
宜為,所述天線具有至少一個蜿蜒線(meander line)狀的傳收部。藉此,該ID資訊傳收裝置可藉由蜿蜒線狀的傳收部而容易地進行與讀寫器的通訊。
該ID資訊傳收裝置可為有源(active)型,但較佳為無源(passive)型或半無源(semi-passive)型。藉此,難以限定該ID資訊傳收裝置的設置地點或環境,且可於寬廣的範圍內利用該ID資訊傳收裝置。
本發明的通訊系統具備:包含所述構成的該ID資訊傳收裝置、及能夠與該ID資訊傳收裝置非接觸式通訊的傳收器。
該通訊系統藉由被照射電磁波來對該ID資訊傳收裝置與讀寫器能否通訊進行切換,因此可藉由檢測該通訊狀態來探測是否對該ID資訊傳收裝置照射了電磁波。 [發明的效果]
關於本發明的ID資訊傳收裝置及通訊系統,藉由對該ID資訊傳收裝置照射了電磁波而與讀寫器非接觸式通訊,因此可以低成本檢測是否被照射了電磁波。
以下,一面參照本發明的實施形態一面進行詳細說明。
[第一實施形態] <RFID標籤> 圖1表示作為本發明的第一實施形態的ID資訊傳收裝置的RFID標籤1。圖1的RFID標籤1具備:能夠與作為傳收電波訊號(訊號)的傳收器的讀寫器非接觸式傳收訊號的天線2、及電連接於該天線2的IC晶片3。該RFID標籤1藉由被照射電磁波來對能否與所述讀寫器通訊進行切換。再者,本實施形態中電磁波為可見光(以下,於實施形態中有時將可見光簡稱為光),該RFID標籤1藉由有無光的照射來對能否與讀寫器通訊進行切換。
該RFID標籤1為將源於讀寫器的電波訊號作為能量源來進行動作的無源型的ID資訊傳收裝置。再者,本發明中,ID資訊傳收裝置亦可為有源型或半無源型。其中,相較於有源型而言較佳為半無源型或無源型,特別是於成本方面或設置環境的方面,最佳為無源型。
該RFID標籤1具備所述天線2及所述IC晶片3,並且進而具備支撐所述天線2的天線支撐體4。本實施形態中,所述天線支撐體4包括積層有天線2的片狀構件。該天線支撐體4可由聚對苯二甲酸乙二酯(polyethylene terephthalate,PET)膜、聚苯硫醚(polyphenylene sulfide,PPS)樹脂、聚乳酸(poly lactic acid,PLA)樹脂、通用工程塑膠等合成樹脂、或紙、或不織布、或玻璃等材料形成。
所述天線2與讀寫器之間進行電波訊號的傳收。本實施形態中,天線2具有將導電材料配設為天線圖案(蜿蜒線)而形成的一對傳收部2a,於該一對傳收部2a之間配設有所述IC晶片3。另外,所述天線2例如可藉由將導電性油墨以規定形狀印刷於天線支撐體4的表面而形成。
所述天線2若被照射光,則電性質發生變化,且對能否與所述讀寫器通訊進行切換。具體而言,該RFID標籤1例如設置為:於未對天線2照射光的情況下,成為天線2與讀寫器能夠通訊的狀態;於被照射了光的情況下,成為天線2與讀寫器不能夠通訊的狀態。
本實施形態中,所述天線2的形成材料是由藉由光的照射而天線2的電性質發生變化的材料所形成。具體而言,可設置為:於天線2的形成材料中,例如包含藉由光的照射而導電化的氧化鋅、或者藉由光的照射而電阻發生變化的硫化鎘等,藉此因光的照射而天線2的電性質發生變化。
宜為,所述電性質為天線2的介電常數、共振頻率、電抗、靜電電容、阻抗及電阻值的至少一者。此種構成中,藉由電性質發生變化來對天線2與讀寫器能否通訊進行切換。
於所述天線2中安裝有所述IC晶片3。IC晶片3對天線2自讀寫器接收的訊號進行處理。該IC晶片3能夠記憶資訊,且記憶區別於其他RFID標籤的ID資訊。另外,IC晶片3包含具有各種功能的電路,例如包含電壓限制電路、調變電路、解調電路等。
<作用> 如上所述,該RFID標籤1為藉由光來對能否通訊進行切換的構成,以下,對其作用進行說明。
於未對天線2照射光的情況下,該RFID標籤1與讀寫器之間能夠通訊。該通訊例如以如下動作進行。於未對天線2照射光的狀態下,若自讀寫器發出電波訊號,則天線2接收電波訊號,電流於IC晶片3中流動。若電流於IC晶片3中流動,則IC晶片3啟動並進行資訊處理。而且,自天線2對讀寫器發送電波訊號,讀寫器接收源於該RFID標籤1的電波訊號。藉此,探測到未對該RFID標籤1的設置部位照射光。
另一方面,於對天線2照射了光的情況下,與未對天線2照射光的情況相比,天線2的電性質發生變化。因此,即使天線2接收到自讀寫器發送的電波訊號,用於使IC晶片3啟動所需的電流亦不會於IC晶片3中流動。如此,於對天線2照射了光的情況下,天線2與讀寫器之間不能夠通訊。因此,探測到對該RFID標籤1的設置部位照射了光。
於使用本實施形態的RFID標籤1的情況下,與感測器相比,可藉由廉價的構成檢測是否被照射了光。另外,由於使用RFID標籤1,因此可容易地增加檢測部位等。
[第二實施形態] 其次,一面參考圖2一面對第二實施形態的RFID標籤11進行說明。再者,於第二實施形態的說明中有時省略與第一實施形態共通的說明。
與第一實施形態同樣地,第二實施形態的RFID標籤11亦具備天線12、IC晶片13及天線支撐體14,且藉由光的照射來對能否與讀寫器通訊進行切換,天線12藉由光的照射而電性質發生變化。
於第二實施形態的RFID標籤11中,天線12具有藉由光的照射而電性質發生變化的性質變化部12b。該性質變化部12b包括藉由光的照射來對天線12的電流動進行切換的切換機構。具體而言,該切換機構例如可藉由與第一實施形態的天線2同樣的材料形成。具體而言,可藉由使用氧化鋅或硫化鎘等來構成所述性質變化部12b。藉此,天線12於照射有光時電特性發生變化,因此該RFID標籤11與讀寫器之間不能夠通訊。再者,於第二實施形態中,天線12的性質變化部12b以外的部分不包含電性質發生變化的材料,而是由鋁等導電性材料所形成。
再者,第二實施形態中,天線12的性質變化部12b以外的部分(傳收部12a)於其形成材料中不包含藉由光的照射而電性質發生變化的材料,而是由鋁等導電性材料所形成。另外,第二實施形態中,所述性質變化部12b的配設部位並不限定於所述部位,只要為可藉由光的照射而天線12的電性質發生變化的部位,則配設部位沒有特別的限制。
<第三實施形態> 一面參考圖3一面對第三實施形態的RFID標籤21進行說明。再者,於第三實施形態的說明中有時省略與第一實施形態或第二實施形態共通的說明。
與第一實施形態及第二實施形態同樣地,第三實施形態的RFID標籤21亦具備天線22、IC晶片23及天線支撐體24,且藉由被照射光來對能否與讀寫器通訊進行切換,天線22藉由光的照射而電性質發生變化。
與第二實施形態同樣地,第三實施形態的RFID標籤21中,天線22具有藉由光的照射而電性質發生變化的性質變化部22b。第三實施形態中,所述性質變化部22b配設於IC晶片23的附近。具體而言,所述性質變化部22b與一對傳收部22a電連接,且與所述IC晶片23並聯連接。關於該RFID標籤21,由於天線22具有所述性質變化部22b,因此於藉由光的照射而性質變化部22b的電阻值發生變化時,即使傳收部22a接收到自讀寫器發送的電波訊號,用於使IC晶片3啟動所需的電流亦不會於IC晶片3中流動。
該性質變化部22b例如可採用光二極體。藉此,若將光照射於光二極體,則阻抗上升,天線22成為無法進行通訊的狀態。另外,於該構成中,由光二極體形成的性質變化部22b配置於一對傳收部22a之間且靠近IC晶片3。該情況下,性質變化部22b更佳為與IC晶片3的距離近。於該構成中,性質變化部22b藉由光二極體形成,因此藉由是否對光二極體照射了光來對通訊狀態進行切換。
<第四實施形態> 一面參考圖4一面對第四實施形態的RFID標籤31進行說明。再者,於第四實施形態的說明中有時省略與第一實施形態、第二實施形態或第三實施形態共通的說明。
與第一實施形態、第二實施形態及第三實施形態同樣地,第四實施形態的RFID標籤31亦具備天線32、IC晶片33及天線支撐體34,且藉由被照射光來對能否與讀寫器通訊進行切換,天線32藉由光的照射而電性質發生變化。
第四實施形態中設置為,藉由光的照射而所述天線32的形狀發生變化。具體而言設置為,支撐所述天線32的天線支撐體34的形狀藉由光的照射而發生變化。更具體而言,該天線支撐體34設置為藉由光的照射而如圖4所示般彎曲。再者,圖4中表示天線支撐體34經照射光而彎曲了的狀態。
即,該RFID標籤31中,天線支撐體34於支撐天線32的位置具有藉由光的照射而形狀發生變化的形狀變化部。因此,若對該RFID標籤1照射光,則天線支撐體34的形狀發生變化,伴隨於此,天線32的形狀發生變化。藉由天線32的形狀變化而天線32的電性質、特別是共振頻率發生變化,藉此對該RFID標籤31與讀寫器能否通訊進行切換。
如上所述,作為藉由光的照射而形狀發生變化的天線支撐體34的材料,例如可使用包含光響應性高分子的材料。再者,光響應性高分子例如可使用日本專利特開2012-144610號公報所記載者。再者,圖4中符號32a表示傳收部。
<第五實施形態> 一面參考圖5一面對第五實施形態的RFID標籤41進行說明。再者,於第五實施形態的說明中有時省略與第一實施形態~第四實施形態的任一者共通的說明。
與第一實施形態~第四實施形態同樣地,第五實施形態的RFID標籤41亦具備天線42、IC晶片43及天線支撐體44,且藉由被照射光來對能否與讀寫器通訊進行切換,天線42藉由光的照射而電性質發生變化。
與第二實施形態及第三實施形態同樣地,第五實施形態的RFID標籤1中,天線42亦具有藉由光的照射而電性質發生變化的性質變化部42b。第五實施形態中,天線42具有經由所述性質變化部42b而電連接於IC晶片43(及傳收部42a)的蜿蜒線部42c。所述性質變化部42b於未經照射光的情況下不通電,於被照射了光的情況下電進行流動,並將傳收部42a與所述蜿蜒線部42c通電。即,該RFID標籤41的天線42於未經照射光的情況下,僅藉由一對傳收部42a發揮天線功能,於被照射了光的情況下,藉由一對傳收部42a及蜿蜒線部42c發揮天線功能。因此,該RFID標籤41藉由光的照射而天線42的電性質發生變化,且對能否與讀寫器之間通訊進行變更。
<第六實施形態> 一面參考圖6一面對第六實施形態的RFID標籤51進行說明。再者,於第六實施形態的說明中有時省略與第一實施形態~第五實施形態的任一者共通的說明。
與第一實施形態~第五實施形態同樣地,第六實施形態的RFID標籤51亦具備天線52、IC晶片53及天線支撐體54,且藉由被照射光來對能否與讀寫器通訊進行切換,天線52藉由光的照射而電性質發生變化。
與第四實施形態同樣地,第六實施形態的RFID標籤51中,天線支撐體54的形狀亦藉由光的照射而發生變化,伴隨該天線支撐體54的形狀變化而天線52的形狀發生變化。於該第六實施形態中,天線支撐體54設置為藉由光的照射而伸縮。即,與第四實施形態同樣地,該RFID標籤51中,天線支撐體54亦具有藉由光的照射而形狀發生變化的形狀變化部54a。具體而言,若對該RFID標籤51照射光,則天線支撐體54的形狀變化部54a如圖6所示般伸縮。再者,圖6為自斜上方觀察該RFID標籤51的概略圖,且表示對天線支撐體34照射光而形狀變化部54a伸長了的狀態。另外,圖6為了容易理解伸長了的狀態而誇張地圖示伸長狀態。再者,圖6中傳收部52a的直線部於天線支撐體64伸長的部位,與其他部分相比亦圖示為一定,但該部位的直線部伴隨天線支撐體64的伸長而加寬。
關於該RFID標籤51,如上所述,藉由天線支撐體54伸縮,天線52的傳收部52a伸縮,且天線52的電性質發生變化,藉此,對該RFID標籤51與讀寫器能否通訊進行切換。再者,於第六實施形態中,天線支撐體54的形狀變化部54a若被照射光,則於蜿蜒線(傳收部52a)的長度方向上伸長,且於蜿蜒線的天線寬度方向上收縮,於厚度方向上收縮。再者,所謂天線寬度方向,為於天線支撐體54的表面蜿蜒線的直線部延伸的方向,所謂蜿蜒線的長度方向,是指於天線支撐體54的表面與天線寬度方向正交的方向(多個直線部呈段狀排列的方向)。再者,與第四實施形態同樣地,此種天線支撐體54的材料可使用包含光響應性高分子的材料。
圖6中,對將所述形狀變化部54a設置於與其中一個傳收部52a的一部分相對應的部位者進行了說明,但如圖7所示,亦可將所述形狀變化部54a設置於與其中一個傳收部52a整體相對應的部位。另外,亦可為天線支撐體54整體藉由光的照射而進行形狀變化者。再者,對於圖7中具有與圖6的構成同樣的構成者,使用與圖6相同的符號。另外,與圖6同樣地,圖7亦誇張地圖示伸長狀態。
<第七實施形態> 一面參考圖8及圖9一面對第七實施形態的RFID標籤61進行說明。再者,於第七實施形態的說明中有時省略與第一實施形態~第六實施形態的任一者共通的說明。再者,圖8為自斜上方觀察該RFID標籤1的概略圖,圖9為自斜下方觀察該RFID標籤61的概略圖,圖8及圖9中為了容易理解結構而誇張地圖示比例。
與第一實施形態~第六實施形態同樣地,第七實施形態的RFID標籤61亦具備天線62、IC晶片63及天線支撐體64,且藉由被照射光來對能否與讀寫器通訊進行切換,天線62藉由光的照射而電性質(阻抗)發生變化。與第二實施形態、第三實施形態及第五實施形態同樣地,第六實施形態的RFID標籤61中,天線62亦具有藉由光的照射而電性質發生變化的性質變化部12b。
第七實施形態中,天線62具有所述傳收部62a,並且具有接地部62c。該接地部62c配設於該RFID標籤61的背面(與積層有傳收部62a的面為相反側的面)。接地部62c於該背面形成為立體狀。該接地部62c的寬度W2較所述傳收部62a的寬度W1(天線寬度)大(參照圖8及圖9)。再者,該接地部62c是由胴或鋁等所形成。
另外,接地部62c經由形成於天線支撐體64的側面64a的連接部62b而電連接於所述傳收部62a。所述性質變化部62b配設於所述接地部62c與傳收部62a之間。將天線支撐體64的側面64a彎曲地設置。
所述天線支撐體64具備包含陶瓷(ceramic)、發泡苯乙烯、陶瓷(ceramics)等的介電體。再者,圖8及圖9中將介電體圖示得厚,但介電體的厚度較佳為設為1 mm以下,藉此可作為片狀的RFID標籤1來處理。
該RFID標籤61於經未照射光的情況下,傳收部62a與接地部62c藉由性質變化部62b電屏蔽,於被照射了光的情況下,性質變化部62b成為通電狀態,藉此傳收部62a與接地部62c電連接。因此,藉由光的照射而天線62的電性質發生變化,且對該RFID標籤61與讀寫器之間能否通訊進行變更。
<第八實施形態> 一面參考圖10一面對第八實施形態的RFID標籤71進行說明。再者,於第八實施形態的說明中有時省略與第一實施形態~第七實施形態的任一者共通的說明。
與第一實施形態~第七實施形態同樣地,第八實施形態的RFID標籤71亦具備天線72、IC晶片73及天線支撐體74,且藉由被照射光來對能否與讀寫器通訊進行切換,天線72藉由光的照射而電性質發生變化。與第二實施形態、第三實施形態、第五實施形態及第七實施形態同樣地,第八實施形態的RFID標籤71中,天線72亦具有藉由光的照射而電性質發生變化的性質變化部72b。另外,第八實施形態中,天線72與第七實施形態同樣地具有接地部72c。
第八實施形態中,接地部72c配設於該RFID標籤71的表面(積層有傳收部72a的面)。如此,由於表面具有接地部72c,因此與其他實施形態相比,該RFID標籤71的面積廣。另外,與第七實施形態同樣地,所述性質變化部72b配設於所述接地部72c與傳收部72a之間。
該RFID標籤71中,藉由是否被照射了光而天線72的電性質發生變化,且對該RFID標籤71與讀寫器之間能否通訊進行變更。
<第九實施形態> 一面參考圖11一面對第九實施形態的RFID標籤81進行說明。再者,於第九實施形態的說明中有時省略與第一實施形態~第八實施形態的任一者共通的說明。另外,圖11為用於說明第九實施形態的RFID標籤81的示意性電路圖。
與第一實施形態~第七實施形態同樣地,第九實施形態的RFID標籤81亦具備天線82、IC晶片83及天線支撐體84,且藉由被照射光來對能否與讀寫器通訊進行切換,天線82藉由光的照射而電性質發生變化。與第二實施形態、第三實施形態、第五實施形態、第七實施形態及第八實施形態同樣地,第九實施形態的RFID標籤81中,天線2亦具有藉由光的照射而電性質發生變化的性質變化部82b。
第九實施形態中,天線82具有傳收部82a及性質變化部82b、以及變容二極體(varicap diode)82c(可變電容二極體)。即,本實施形態中,天線82具有配置於一對傳收部82a之間,且將光照射時與未照射時天線82的電性質(靜電電容)的變化放大的變化放大部(變容二極體82c)。本實施形態中,性質變化部82b是由藉由光的照射而產生電動勢的光二極體所構成。具體而言,所述變容二極體82c與一對傳收部82a電連接,且與所述IC晶片83並聯連接。另外,變容二極體82c亦與由光二極體形成的性質變化部82b並排配置。詳細而言,性質變化部82b位於IC晶片83與變容二極體82c之間。換言之,以IC晶片83、性質變化部82b、變容二極體82c的順序排列配置,且分別連接於一對傳收部82a。藉由如此配設變容二極體82c,光的照射狀態與未照射狀態的靜電電容及阻抗(電特性)大幅度變化,因此可更準確地進行是否對該RFID標籤81照射了光的探測。更具體地說明,於未照射光的狀態下,光二極體(性質變化部82b)不產生電動勢,而藉由變容二極體82c微量電流進行流動。該狀態下,將電特性設定為該RFID標籤81與讀寫器之間能夠通訊。而且,於被照射了光的狀態下,光二極體中產生電動勢,變容二極體82c的靜電電容急劇下降,其阻抗急劇上升,因此該RFID標籤81的通訊特性大幅度變化,而無法與讀寫器通訊。再者,亦能夠將共振元件連接於光二極體(性質變化部82b)的附近,藉此阻抗(電特性)進一步大幅度變化,從而可進一步準確地探測有無光的照射。另外,亦能夠採用PIN(p-intrinsic-n)二極體而非變容二極體82c。
<第十實施形態> 其次,一面參考圖12一面對本發明的通訊系統的實施形態進行說明。
圖12的通訊系統具備:圖1的RFID標籤1、及能夠與該RFID標籤1非接觸式通訊的讀寫器100。
本實施形態中,使用多個RFID標籤1,多個RFID標籤1配置於藉由光來確認動作的部位。圖示例中,RFID標籤1於儲物櫃或房間入口等的門中設置於藉由門的開閉來對光的照射進行變更的地方,可藉由該RFID標籤1來探測門的開閉。另外,RFID標籤1於機械中設置於藉由機械的動作來對光的照射進行變更的地方,可藉由該RFID標籤1來探測機械的動作。再者,本實施形態中,使用RFID標籤1來探測門的開閉或機械動作,即使新增加了機械數量、或者增加了門的數量,亦能夠藉由增加RFID標籤來應對。該通訊系統中,亦可容易地對許多RFID標籤1同時進行讀取處理。
[其他實施形態] 本發明並不限定於所述實施形態。即,所述實施形態中,對作為RFID標籤的構成進行了說明,但本發明的ID資訊傳收裝置並不限定於此,亦可為卡類型(card type)、鍵類型(key type)等其他類型的RFID裝置、或者以無線方式發送ID資訊的通訊裝置。
另外,所述實施形態中,對天線具有一對蜿蜒線狀的傳收部者進行了說明,但天線的形狀等不限定於此,天線例如亦能夠採用線圈狀的傳收部或者採用片狀天線(patch antenna)。另外,天線的形成方法亦無特別限定。例如亦能夠剪下銅箔或鋁箔的一部分並設為如圖13所示的天線形狀。再者,圖13的RFID標籤91是藉由如下方式而形成:將銅或鋁中含有電特性因光而變化的材料的箔積層於天線支撐體94後,將箔剪為天線92的形狀,並將IC晶片93安裝於該箔的表面。進而,亦能夠設為所述天線具有增益天線(booster antenna)部的構成。
所述實施形態中,對假設了可見光者進行了說明,但亦能夠用於紅外線或紫外線、X射線等光的探測,進而亦能夠用於電波的探測。於探測紅外線或紫外線等的情況下,使用與紅外線或紫外線、X射線對應的二極體或電晶體而非所述實施形態中的光二極體。
所述實施形態中,例示了以電波方式通訊的構成,但亦能夠設為以電磁力方式通訊的構成、或者以其他方式通訊的構成。另外,IC晶片的具體構成亦不限定於所述實施形態者。
進而,如所述般,該ID資訊傳收裝置並非必須為無源型,亦可為有源型或半無源型。於為半無源型的情況下,例如如圖14所示,ID資訊傳收裝置101具有輔助電源電路105。該輔助電源電路105具有電池及電阻。與第九實施形態同樣地,該圖14的ID資訊傳收裝置101具有天線82、晶片83及天線支撐體84,所述天線82具有傳收部82a與性質變化部82b及變容二極體82c。
另外,所述實施形態中,對藉由電磁波的照射而不能夠通訊者進行了說明,但亦能夠設為如下構成:於未被照射電磁波時不能夠通訊,於被照射了電磁波時能夠通訊。
根據所述實施形態中使用的變容二極體或光二極體的功能或性能,亦可安裝輔助電源來進行支持。
所述實施形態中,對藉由有無照射電磁波來對能夠通訊及不能夠通訊狀態進行可逆切換者進行了說明,但根據用途,亦可為進行不可逆切換者(例如於被照射了電磁波的情況下不能夠通訊,即使電磁波的照射消失亦保持不能夠通訊的狀態者)。
所述實施形態中,對ID資訊傳收裝置進行了說明,但本發明不限於此,亦能夠應用於可傳收ID資訊的其他構成的裝置。
所述實施形態中,將光二極體等因光的照射而電性質(阻抗)發生變化的性質變化部設置於天線支撐體上,但本發明不限於此,亦可根據用途而將性質變化部設置為遠離天線支撐體。
所述實施形態對將天線及IC晶片安裝於天線支撐體的結構者進行了說明,但本發明不限定於此,於天線自身具有某種程度的剛性的情況等下,天線支撐體並非必需的構成構件。另外即使為具備天線支撐體的情況,天線支撐體的構成亦並不限定於所述構成。例如,天線支撐體亦可包括多個片狀構件。
另外,即使為具有天線支撐體的情況,亦並不限定於所述實施形態者。即,亦能夠採用如下構成:天線支撐體使用藉由電磁波的照射而電性質發生變化者,且藉由該天線支撐體的電性質的變化而天線的電性質發生變化。例如,可採用如下構成:天線支撐體藉由電磁波的照射來使天線短路。
進而,所述各實施形態中,分別以不同的構成藉由電磁波的照射來對能否與讀寫器通訊進行切換,但亦能夠將所述各實施形態的多種構成加以組合。例如,亦能夠具有如下構成:如第一實施形態般天線的形成材料由藉由光的照射而天線的電性質發生變化的材料形成,進而如第二實施形態般具有性質變化部(光二極體)。
另外,用於藉由電磁波的照射來對能否與讀寫器通訊進行切換的構成並不限定於所述實施形態中所例示者,能夠採用各種構成。例如,亦可為如下構成:設置為天線支撐體藉由電磁波的照射而使介電常數發生變化,且藉由天線支撐體的介電常數的變化而天線的電性質發生變化,從而ID資訊傳收裝置與讀寫器之間的通訊狀態發生變化。
第十實施形態中的系統僅為一例,亦可應用於其他構成的系統。只要具備藉由電磁波的照射來對能否與讀寫器通訊進行切換、且能夠以無線方式傳收ID資訊的裝置與讀寫器,則亦可應用於任何構成的系統。 [產業上的可利用性]
如上所述,本發明的ID資訊傳收裝置由於可探測電磁波的照射,因此可用於工廠、倉庫、運輸、流通、行李處理等廣泛領域。
1‧‧‧RFID標籤
2‧‧‧天線
2a‧‧‧傳收部
3‧‧‧晶片
4‧‧‧天線支撐體
11‧‧‧RFID標籤
12‧‧‧天線
12a‧‧‧傳收部
12b‧‧‧性質變化部
13‧‧‧IC晶片
14‧‧‧天線支撐體
21‧‧‧RFID標籤
22‧‧‧天線
22a‧‧‧傳收部
22b‧‧‧性質變化部
23‧‧‧IC晶片
24‧‧‧天線支撐體
31‧‧‧RFID標籤
32‧‧‧天線
32a‧‧‧傳收部
33‧‧‧IC晶片
34‧‧‧天線支撐體
41‧‧‧RFID標籤
42‧‧‧天線
42a‧‧‧傳收部
42b‧‧‧性質變化部
42c‧‧‧蜿蜒線部
43‧‧‧IC晶片
44‧‧‧天線支撐體
51‧‧‧RFID標籤
52‧‧‧天線
52a‧‧‧傳收部
53‧‧‧IC晶片
54‧‧‧天線支撐體
54a‧‧‧形狀變化部
61‧‧‧RFID標籤
62‧‧‧天線
62a‧‧‧傳收部
62b‧‧‧性質變化部
62c‧‧‧接地部
62d‧‧‧連接部
63‧‧‧IC晶片
64‧‧‧天線支撐體
64a‧‧‧側面
71‧‧‧RFID標籤
72‧‧‧天線
72a‧‧‧傳收部
72b‧‧‧性質變化部
72c‧‧‧接地部
73‧‧‧IC晶片
74‧‧‧天線支撐體
81‧‧‧RFID標籤
82‧‧‧天線
82a‧‧‧傳收部
82b‧‧‧性質變化部
82c‧‧‧變容二極體
83‧‧‧IC晶片
84‧‧‧天線支撐體
91‧‧‧RFID標籤
92‧‧‧天線
93‧‧‧IC晶片
94‧‧‧天線支撐體
100‧‧‧讀寫器
101‧‧‧ID資訊傳收裝置
102‧‧‧天線
102a‧‧‧傳收部
102b‧‧‧性質變化部
102c‧‧‧變容二極體
103‧‧‧IC晶片
104‧‧‧天線支撐體
105‧‧‧輔助電源電路
W1‧‧‧傳收部的寬度、天線寬度
W2‧‧‧接地部的寬度
圖1為本發明的第一實施形態的無線射頻識別(radio frequency identification,RFID)標籤的示意性立體圖。 圖2為本發明的第二實施形態的RFID標籤的示意性立體圖。 圖3為本發明的第三實施形態的RFID標籤的示意性立體圖。 圖4為本發明的第四實施形態的RFID標籤的示意性立體圖。 圖5為本發明的第五實施形態的RFID標籤的示意性立體圖。 圖6為本發明的第六實施形態的RFID標籤的示意性立體圖。 圖7為本發明的第六實施形態的RFID標籤的變形例的示意性立體圖。 圖8為表示本發明的第七實施形態的RFID標籤的示意性立體圖。 圖9為自背面觀察本發明的第七實施形態的RFID標籤的示意性立體圖。 圖10為本發明的第八實施形態的RFID標籤的示意性立體圖。 圖11為用於說明本發明的第九實施形態的RFID標籤的構成的示意性電路圖。 圖12為本發明的第十實施形態的通訊系統的示意性概略說明圖。 圖13為本發明的其他實施形態的RFID標籤的示意性立體圖。 圖14為用於說明本發明的其他實施形態的RFID標籤的構成的示意性電路圖。
11‧‧‧RFID標籤
12‧‧‧天線
12a‧‧‧傳收部
12b‧‧‧性質變化部
13‧‧‧IC晶片
14‧‧‧天線支撐體

Claims (11)

  1. 一種ID資訊傳收裝置,具備能夠與傳收訊號的傳收器非接觸式通訊的天線、及電連接於所述天線的積體電路晶片,所述ID資訊傳收裝置的特徵在於: 藉由被照射電磁波來對能否與所述傳收器通訊進行切換。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的ID資訊傳收裝置,其中,所述天線藉由電磁波的照射而電性質發生變化。
  3. 如申請專利範圍第2項所述的ID資訊傳收裝置,其中,所述天線具有藉由電磁波的照射而電性質發生變化的性質變化部。
  4. 如申請專利範圍第2項所述的ID資訊傳收裝置,其中,所述電性質為天線的介電常數、電抗、靜電電容、阻抗、共振頻率及電阻值的至少一者。
  5. 如申請專利範圍第2項所述的ID資訊傳收裝置,其中,所述天線具有: 一對傳收部,隔著所述積體電路晶片配設;及 變化放大部,配置於所述一對傳收部之間,且將電磁波照射時與未照射時天線的電性質的變化放大。
  6. 如申請專利範圍第2項所述的ID資訊傳收裝置,其進而具備支撐所述天線的天線支撐體, 所述天線支撐體於被照射電磁波時電性質發生變化,且使所述天線的電性質變化。
  7. 如申請專利範圍第1項所述的ID資訊傳收裝置,其中,藉由電磁波的照射而所述天線的形狀發生變化。
  8. 如申請專利範圍第7項所述的ID資訊傳收裝置,其進而具備支撐所述天線的天線支撐體, 所述天線支撐體至少於支撐天線的位置具有藉由電磁波的照射而形狀發生變化的形狀變化部。
  9. 如申請專利範圍第1項所述的ID資訊傳收裝置,其中,所述天線具有至少一個蜿蜒線狀的傳收部。
  10. 如申請專利範圍第1項所述的ID資訊傳收裝置,其為無源型或半無源型。
  11. 一種通訊系統,其具備:如申請專利範圍第1項所述的ID資訊傳收裝置、及 能夠與所述ID資訊傳收裝置非接觸式通訊的傳收器。
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