TW201805640A - 四端點量測裝置之接觸檢查電路 - Google Patents

Abstract

一種四端點量測裝置之接觸檢查電路，具有第一隔離器、訊號源、乘法器及計算器。第一隔離器具有初級側及次級側，次級側具有第一端電性連接驅動端子及第二端電性連接量測端子。訊號源電性連接第一隔離器的初級側，用以提供量測訊號。乘法器電性連接訊號源及第一隔離器的初級側。當第一隔離器的第一端及第二端依據量測訊號產生第一反射訊號至第一隔離器的初級側時，乘法器依據第一反射訊號及量測訊號，產生輸出訊號。計算器依據輸出訊號的直流部分，計算驅動端子和量測端子的接觸電阻。

Description

四端點量測裝置之接觸檢查電路

本發明係關於一種檢測裝置，特別是一種檢測量測端和驅動端之間電阻的檢測裝置。

一般而言，使用精密儀器來量測待測物時，精密儀器的量測端子、傳輸線或其內部的其他元件都有可能影響測量的準確度。以四端點感測裝置或稱凱爾文感測（Kelvin-sense）裝置來說，四端點感測裝置利用驅動端子輸出驅動訊號來驅動待測物，並用感測端子來量測待測物回應的訊號。雖然四端點感測裝置以個別獨立的驅動端子和感測端子來測量待測物，可以減去驅動端子傳輸驅動訊號帶來的壓降，增加量測上的精確度，但驅動端子和感測端子上的導線阻抗以及與待測物連接的接觸阻抗，仍影響四端點感測裝置的測量準確度。

再者，隨著四端點感測裝置的使用次數和使用長度的增加，驅動端子和感測端子上的導線阻抗，或者驅動端子和感測端子與待測物連接的接觸阻抗亦會跟著改變，進而造成四端點感測裝置對於待測物的量測結果越來越不準確。

本發明在於提供一種四端點量測裝置之接觸檢查電路，藉以解決測量準確度的問題。

本發明所揭露的四端點量測裝置之接觸檢查電路，適用於量測驅動端子和量測端子之間的接觸電阻。檢測裝置具有第一隔離器、訊號源、乘法器及計算器。第一隔離器具有初級側及次級側。次級側具有第一端電性連接驅動端子及第二端電性連接量測端子。訊號源電性連接第一隔離器的初級側，用以提供量測訊號。乘法器電性連接訊號源及第一隔離器的初級側。當第一隔離器的次級側依據量測訊號產生第一反射訊號至第一隔離器的初級側時，乘法器依據第一反射訊號及量測訊號，產生輸出訊號。計算器電性連接乘法器，依據輸出訊號的直流部分，計算驅動端子和量測端子的接觸電阻。

根據上述本發明所揭露的四端點量測裝置之接觸檢查電路，藉由提供量測訊號至驅動端子和量測端子，使得驅動端子和量測端子反應量測訊號而產生第一反射訊號於第一隔離器的初級側。乘法器對第一反射訊號和量測訊號進行訊號處理後產生的輸出訊號包含直流部分，可以使計算器較容易依據直流部分檢測出接觸電阻的檢測結果，不僅增加檢測端子間電阻的速度，亦可以提升測量的準確度。

以上之關於本揭露內容之說明及以下之實施方式之說明係用以示範與解釋本發明之精神與原理，並且提供本發明之專利申請範圍更進一步之解釋。

以下在實施方式中詳細敘述本發明之詳細特徵以及優點，其內容足以使任何熟習相關技藝者了解本發明之技術內容並據以實施，且根據本說明書所揭露之內容、申請專利範圍及圖式，任何熟習相關技藝者可輕易地理解本發明相關之目的及優點。以下之實施例係進一步詳細說明本發明之觀點，但非以任何觀點限制本發明之範疇。

請參照圖1，圖1係根據本發明一實施例所繪示之接觸檢查電路的示意圖。如圖1所示，接觸檢查電路10用以量測驅動端子21和量測端子23與待測物30之間的接觸電阻。於一個實施例中，以四端點感測裝置又稱凱爾文感測（Kelvin-sense）裝置或其他合適的感測連接方式來對待測物30進行量測。四端點感測裝置具有驅動端子21、驅動端子22、量測端子23及量測端子24。驅動端子21和驅動端子22電性連接至電源25，以傳輸電源25提供至待測物30的驅動訊號。量測端子23及量測端子24電性連接至待測物30，用以傳輸待測物30依據驅動訊號產生的訊號至量測儀或其他合適的裝置，由量測儀或其他合適的裝置判斷待測物30的特性。以連接於待測物30同一端的驅動端子21與量測端子23來說，接觸電阻關聯於驅動端子21的導線電阻、驅動端子21與待測物30之間的接觸阻抗、量測端子23的導線電阻、量測端子23與待測物30之間的接觸阻抗、驅動端子21與量測端子23之間的接觸不連通性或其他可能的因素。為了方便圖式顯示，圖式中接觸電阻以電阻R1與電阻R2表示。電阻R1例如表示驅動端子21的導線電阻和驅動端子21與待測物30之間的接觸阻抗。電阻R2例如表示量測端子23的導線電阻和量測端子23與待測物30之間的接觸阻抗。

接觸檢查電路10具有隔離器11、訊號源12、乘法器13、計算器14、緩衝器15、匹配電阻16、延遲器17及濾波器18和轉換器19。隔離器11具有初級側111和次級側112，次級側112具有第一端113及第二端114。次級側112的第一端113電性連接驅動端子21，次級側112的第二端114電性連接量測端子23。訊號源12經由緩衝器15及匹配電阻16電性連接隔離器11的初級側111，且經由緩衝器15和延遲器17電性連接乘法器13，用以提供量測訊號至隔離器11和乘法器13。乘法器13的輸入端電性連接延遲器17及隔離器11的初級側111，輸出端電性連接計算器14。當隔離器11的次級側112依據量測訊號產生第一反射訊號至隔離器11的初級側111時，乘法器13依據初級側111的第一反射訊號及自延遲器17接收的量測訊號，產生輸出訊號。計算器14電性連接乘法器13，依據輸出訊號的直流部分，計算驅動端子21和量測端子23的接觸電阻。

詳細來說，訊號源12所提供的量測訊號例如為正弦波或其他合適的量測波形。以正弦波為例來說，訊號源12提供的量測訊號經過緩衝器15後，傳輸至匹配電阻16及延遲器17。量測訊號經過匹配電阻16傳輸至隔離器11的初級側111，並經由隔離器11的第一端113及第二端114傳輸至驅動端子22與量測端子24。量測訊號在隔離器11、驅動端子22與量測端子24形成的電流路徑上傳輸，並產生反射訊號於隔離器11的初級側111。隔離器11例如是變壓器、耦合器或其他合適的元件。隔離器11的初級側111與次級側112隔離，初級側111接收到量測訊號，並將量測訊號耦合至次級側112的第一端113和第二端114，使得第一端113和第二端114之間的迴路依據量測訊號的耦合訊號產生反應。在實務上，第一端113和第二端114之間迴路的對耦合訊號的反應會經由耦合而反射至隔離器11的初級側111，使得隔離器11的初級側111產生反射訊號。

隔離器11的初級側111產生的反射訊號會被傳輸至乘法器13的第一輸入端，而量測訊號經過延遲器17後，亦會被傳輸至乘法器13的第二輸入端。延遲器17再將量測訊號傳輸至乘法器13的第二輸入端之前，延遲器17依據反射訊號和量測訊號的相位差，調整量測訊號，使得量測訊號的相位與反射訊號的相位相同。換言之，由於量測訊號被輸入至隔離器11至隔離器11的輸入端產生反射訊號之間，訊號經過一段時間的傳輸。反射訊號與量測訊號之間因為傳輸的過程而具有相位差，因此延遲器17將量測訊號的相位調整至與反射訊號相同。當乘法器13接收到相位相同的反射訊號與量測訊號後，乘法器13將反射訊號與量測訊號相乘，產生輸出訊號。乘法器13產生的輸出訊號中將會有兩倍頻的訊號與直流部分的訊號。

計算器14依據輸出訊號中的直流部分，判斷接觸電阻的電阻值。於一個實施例中，乘法器13產生的輸出訊號更被傳輸至濾波器18，由濾波器18過濾輸出訊號，並將輸出訊號的直流部分提供至轉換器19。轉換器19例如是類比數位轉換器或其他合適的轉換器，用以檢測輸出訊號的直流部分，並將輸出訊號的直流部分轉換成量測值，並輸出至計算器13，由計算器13依據量測值計算接觸電阻的電阻值。

於一個實施例中，計算器13可以利用查表單元從一個查找表中查找量測值對應的電阻值。於另一個實施例中，計算器13可以收集多次檢測接觸電阻時取得的檢測結果，並將多次檢測中取得的量測值經過資料彙整，判斷出關聯於接觸電阻的變化關係式。計算器13依據本次檢測到的量測值代入接觸電阻的變化關係式中，取得接觸電阻的電阻值。於所屬技術領域具有通常知識者亦可以其他方式來判斷接觸電阻的電阻值，本實施例不予限制。

於本實施例中，延遲器17係設置於訊號源12與乘法器13之間，用以調整量測訊號的相位，使量測訊號的相位與反射訊號的相位相同。於其他實施例中，延遲器17亦可以設置於初級側111與乘法器13之間，以調整反射訊號的相位，使反射訊號的相位與量測訊號的相位相同，本實施例不予限制。

在實務上，當訊號傳輸路徑上的阻抗匹配時，量測訊號和反射訊號的頻率受到傳輸路徑的影響程度較低。訊號傳輸路徑的長度影響量測訊號和反射訊號的相位的程度較高，而接觸電阻影響量測訊號和反射訊號的振幅大小。換言之，當量測訊號經過接觸電阻，使得初級側111產生反射訊號時，反射訊號的振幅關聯於接觸電阻的電阻值。因此，將相位調整為相同的反射訊號與量測訊號相乘後，輸入訊號的直流部分與相位無關，而與反射訊號和量測訊號的振幅相關，進而方便計算器14容易檢測輸入訊號的直流部分，由輸入訊號的直流部分檢測出接觸電阻的電阻大小。

以實際例子來說，例如反射訊號為

，量測訊號為

，反射訊號和量測訊號經過相位調整後分別為

和

。相位調整為相同的反射訊號與量測訊號相乘：

計算器14依據輸入訊號中的直流部分

判斷接觸電阻的電阻大小。

於本實施例中，為了方便說明，直接以具有緩衝器15、匹配電阻16、延遲器17及濾波器18和轉換器19的接觸檢查電路10為例來說明，但並非限制緩衝器15、匹配電阻16、延遲器17及濾波器18和轉換器19為接觸檢查電路10的必要元件。於所屬技術領域具有通常知識者可以依據實際需求取消緩衝器15、匹配電阻16、延遲器17及濾波器18和轉換器19的設置，或將緩衝器15、匹配電阻16、延遲器17及濾波器18和轉換器19替換為別的元件，本實施例不予限制。

此外，接觸檢查電路10除了設置於驅動端子21與量測端子23之間，亦可以設置於驅動端子22與量測端子24之間，以檢測驅動端子22與量測端子24之間的接觸電阻。同樣地，為了方便說明，以下實施例係以接觸檢查電路10設置於驅動端子21與量測端子23之間為例說明，於所屬技術領域具有通常知識者可以據以推得接觸檢查電路10設置於驅動端子22與量測端子24之間的實施方式，不再贅述。

請參照圖2，圖2係根據本發明另一實施例所繪示之接觸檢查電路的示意圖，如圖2所示，接觸檢查電路40用以量測驅動端子51和量測端子53與待測物60之間連接的接觸電阻。於一個實施例中，以四端點感測裝置或其他合適的感測連接方式來量測待測物60的特性。四端點感測裝置具有驅動端子51、驅動端子52、量測端子53及量測端子54。驅動端子51和驅動端子52電性連接至電源55，以傳輸電源55提供至待測物60的驅動訊號。量測端子53及量測端子54電性連接至待測物60，用以傳輸待測物60依據驅動訊號產生的訊號至量測儀或其他合適的裝置，由量測儀或其他合適的裝置判斷待測物60的特性。以驅動端子51與量測端子53來說，接觸電阻關聯於驅動端子51的導線電阻、驅動端子51與待測物60之間的接觸阻抗、量測端子53的導線電阻、量測端子53與待測物60之間的接觸阻抗、驅動端子51與量測端子53之間的接觸不連通性或其他可能的因素。為了方便圖式顯示，圖式中接觸電阻以電阻R1與電阻R2表示。電阻R1例如表示驅動端子51的導線電阻和驅動端子51與待測物60之間的接觸阻抗。電阻R2例如表示量測端子53的導線電阻和量測端子53與待測物60之間的接觸阻抗。

接觸檢查電路40具有第一隔離器41、訊號源42、乘法器43、計算器44、第二隔離器45、電阻元件46、差動放大器47、補償器48、相位調整器49、匹配電阻及緩衝器。匹配電阻及緩衝器與前一個實施例大致上相同，不再加以贅述。。第一隔離器41具有初級側411及次級側412，次級側412具有第一端4133及第二端4144。次級側412的第一端413電性連接驅動端子51，次級側412的第二端414電性連接量測端子53。訊號源42經由匹配電阻及緩衝器電性連接第一隔離器41的初級側411和第二隔離器45的初級側451，並經由相位調整器49電性連接乘法器43，訊號源42用以提供量測訊號至第一隔離器41、第二隔離器45及乘法器43。電阻元件46和補償器48電性連接第二隔離器45的次級側452，差動放大器47電性連接第一隔離器41的初級側411及第二隔離器45的初級側451。差動放大器47用以當訊號源42輸出量測訊號至第一隔離器41及第二隔離器45時，依據初級側411上的第一反射訊號和初級側451上的第二反射訊號產生比較訊號。乘法器43電性連接訊號源42及差動放大器47，乘法器43依據差動放大器47產生的比較訊號及訊號源42輸出的量測訊號，產生輸出訊號。計算器44電性連接乘法器43，依據輸出訊號的直流部分，計算驅動端子51和量測端子53的接觸電阻。

詳細來說，訊號源42所提供的量測訊號例如為正弦波或其他合適的量測波形。以正弦波為例來說，訊號源42提供的量測訊號經過緩衝器及匹配電阻後，傳輸至第一隔離器41的初級側411及第二隔離器45的初級側451，並經由第一隔離器41的第一端413及第二端414傳輸至驅動端子51與量測端子53，經由第二隔離器45和補償器48傳輸至電阻元件46。量測訊號在第一隔離器41、驅動端子52與量測端子54形成的第一電流路徑上傳輸，並產生第一反射訊號於第一隔離器41的初級側411。量測訊號亦在補償器48和電阻元件46形成的第二電流路徑上傳輸，並產生第二反射訊號於第二隔離器45的初級側451。

第一隔離器41和第二隔離器45例如是變壓器、耦合器或其他合適的元件。第一隔離器41的初級側411與第一隔離器41的次級側412隔離，初級側411接收到量測訊號，並將量測訊號耦合至第一端413和第二端414，使得第一端413和第二端414之間的迴路依據量測訊號的耦合訊號產生反應。在實務上，第一端413和第二端414之間迴路的對耦合訊號的反應會經由耦合而反射至第一隔離器41的初級側411，使得第一隔離器41的初級側411產生第一反射訊號。

同理地，第二隔離器45的初級側451與次級側452隔離。初級側451接收到量測訊號，並將量測訊號耦合至次級側452，使得補償器48和電阻元件46之間的迴路依據次級側452的耦合訊號產生反應。補償器48和電阻元件46之間的迴路的對耦合訊號的反應會經由耦合而反射至第二隔離器45的初級側451，使得第二隔離器45的初級側451產生第二反射訊號。於一個實施例中，補償器48用以使量測訊號與第一反射訊號之間的相位差等於量測訊號與第二反射訊號之間的相位差。舉例來說，量測訊號在第一電流路徑中的傳輸時間和量測訊號在第二電流路徑中的傳輸時間不同，補償器48可以補償量測訊號在第二電流路徑中的傳輸時間，據以使得第一反射訊號的相位與第二反射訊號的相位調整為相同。

第一隔離器41的初級側411產生的第一反射訊號會被傳輸至差動放大器47的第一輸入端，第二隔離器45的初級側451產生的第二反射訊號會被傳輸至差動放大器47的第二輸入端。於一個實施例中，差動放大器47將第一反射訊號和第二反射訊號相減產生比較訊號，並將比較訊號輸入至乘法器43的第一輸入端。

另一方面，由訊號源42輸出的量測訊號在經過相位調整器49後，亦會被傳輸至乘法器43的第二輸入端。相位調整器49用以依據比較訊號和量測訊號的相位差，調整量測訊號，使得量測訊號的相位與比較訊號的相位相同。當乘法器43接收到相位相同的比較訊號與量測訊號後，乘法器43將比較訊號與量測訊號相乘，產生輸出訊號。計算器44依據輸出訊號中的直流部分，計算接觸電阻。換言之，乘法器43將比較訊號轉換成輸出訊號，使得輸出訊號中的直流部分容易讓計算器44檢測，據以判斷關聯於接觸電阻的檢測結果。

於一個實施例中，乘法器43產生的輸出訊號更被傳輸至濾波器，由濾波器過濾輸出訊號，並將輸出訊號的直流部分提供至計算器43，使計算器43依據輸出訊號的直流部分檢測出接觸電阻的電阻值是否小於電阻元件46的電阻值。

以實際例子來說，例如第一反射訊號為

，第二反射訊號為

，第一反射訊號和第二反射訊號經過差動放大器47相減後產生的比較訊號為

或

。比較訊號為

或

係依據接觸電阻的電阻值是否小於電阻元件46的電阻值來判斷。當相位調整為相同的比較訊號與量測訊號

相乘：

或

計算器44依據輸入訊號中的直流部分為

或

可以判斷接觸電阻的電阻值是否小於電阻元件46的電阻值。

在實務上，當只提供量測訊號至接觸電阻，並依據接觸電阻反射的訊號來檢測接觸電阻時，接觸電阻反射的訊號容易被忽略而無法檢測到接觸電阻。因此，於本實施例中，利用第二隔離器45和電阻元件46來構成第二電流路徑。在第一電流路徑依據量測訊號反應時，第二電流路徑亦同樣依據量測訊號來反應，使得接觸電阻反射的訊號不容易被忽略，並且透過乘法器43將比較訊號和量測訊號相乘後產生具有直流部分的輸出訊號，可以讓計算器44容易依據輸出訊號的直流部分檢測出接觸電阻與電阻元件46的電阻值大小關係。

於本實施例中，補償器48用以使量測訊號與第一反射訊號之間的相位差等於量測訊號與第二反射訊號之間的相位差。於另一個實施例中，請參照圖3，圖3係根據本發明再一實施例所繪示之接觸檢查電路的示意圖，如圖3所示，接觸檢查電路40可以用另一個相位調整器48’電性連接於第二隔離器45的初級側451與差動放大器47之間。換言之，於第二隔離器45的初級側451產生的第二反射訊號與第一反射訊號具有相位差時，相位調整器48’依據第一反射訊號和第二反射訊號的相位差，調整第二反射訊號的相位，使差動放大器47依據第一反射訊號和調整相位後的第二反射訊號產生比較訊號。於其他實施例中，相位調整器亦可以是電性連接於第一隔離器41的初級側411與差動放大器47之間，依據第一反射訊號和第二反射訊號的相位差，調整第一反射訊號的相位，本實施例不予限制。

圖3中的第一隔離器41、訊號源42、乘法器43、計算器44、第二隔離器45、電阻元件46、差動放大器47和相位調整器49與前述實施例大致上相同，不再加以贅述。

在前述的實施例中，相位調整器49例如是延遲器或其他可以調整訊號相位的元件。於本實施例中，相位調整器49係設置於訊號源42與乘法器43之間，用以調整量測訊號的相位，使量測訊號的相位與第一反射訊號的相位相同。於其他實施例中，相位調整器49亦可以設置於差動放大器47與乘法器43之間，以調整比較訊號的相位，使比較訊號的相位與量測訊號的相位相同，本實施例不予限制。

此外，為了方便說明，前述實施例直接以具有補償器48、相位調整器49、匹配電阻及緩衝器的接觸檢查電路40為例來說明，但並非限制補償器48、相位調整器49、匹配電阻及緩衝器為接觸檢查電路40的必要元件，於所屬技術領域具有通常知識者可以依據實際需求取消補償器48、相位調整器49、匹配電阻及緩衝器的設置，或將補償器48、相位調整器49、匹配電阻和緩衝器替換為別的元件。於所屬技術領域具有通常知識者亦可以依據其他設計需求，加入其他元件於接觸檢查電路40中，例如圖1所示的轉換器或其他合適的元件，本實施例不予限制。

此外，接觸檢查電路40除了設置於驅動端子51與量測端子53之間，亦可以設置於驅動端子52與量測端子54之間，以檢測驅動端子52與量測端子54之間的接觸電阻。以下實施例不贅述接觸檢查電路40設置於驅動端子52與量測端子54之間的實施例，並非限制本實施例僅可以實施於驅動端子51與量測端子53之間。

綜合以上所述，本發明實施例提供一種量測端與驅動端之間的電阻檢測裝置，此量測端與驅動端之間的電阻檢測裝置透過提供量測訊號至驅動端子和量測端子，使得驅動端子和量測端子之間的接觸電阻依據量測訊號而產生第一反射訊號於隔離器的初級側，再藉由乘法器將第一反射訊號和量測訊號相乘後產生具有直流部分的輸出訊號，可以使計算器較容易依據輸出訊號的直流部分檢測出接觸電阻的檢測結果，不僅增加檢測的速度，亦可以提升測量的準確度。

雖然本發明以前述之實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明。在不脫離本發明之精神和範圍內，所為之更動與潤飾，均屬本發明之專利保護範圍。關於本發明所界定之保護範圍請參考所附之申請專利範圍。

10、40‧‧‧檢測裝置
11、41‧‧‧隔離器
111、411‧‧‧初級側
112、412‧‧‧次級側
113、413‧‧‧第一端
114、414‧‧‧第二端
12、42‧‧‧訊號源
13、43‧‧‧乘法器
14、44‧‧‧計算器
15‧‧‧緩衝器
16‧‧‧匹配電阻
17‧‧‧延遲器
18‧‧‧濾波器
19‧‧‧轉換器
21、22、51、52‧‧‧驅動端子
23、24、53、54‧‧‧量測端子
25、55‧‧‧電源
30、60‧‧‧待測物
45‧‧‧第二隔離器
451‧‧‧初級側
452‧‧‧次級側
46‧‧‧電阻元件
47‧‧‧差動放大器
48‧‧‧補償器
49、48’‧‧‧相位調整器
R1、R2‧‧‧電阻

圖1係根據本發明一實施例所繪示之接觸檢查電路的示意圖。 圖2係根據本發明另一實施例所繪示之接觸檢查電路的示意圖。 圖3係根據本發明再一實施例所繪示之接觸檢查電路的示意圖。

10‧‧‧檢測裝置

11‧‧‧隔離器

111‧‧‧初級側

112‧‧‧次級側

113‧‧‧第一端

114‧‧‧第二端

12‧‧‧訊號源

13‧‧‧乘法器

14‧‧‧計算器

15‧‧‧緩衝器

16‧‧‧匹配電阻

17‧‧‧延遲器

18‧‧‧濾波器

19‧‧‧轉換器

21、22‧‧‧驅動端子

23、24‧‧‧量測端子

25‧‧‧電源

30‧‧‧待測物

R1、R2‧‧‧電阻

Claims (9)

1. 一種接觸檢查電路，適用於一四端點量測裝置，該接觸檢查電路包括：一第一隔離器，具有一初級側及一次級側，該次級側具有一第一端電性連接一驅動端子，及一第二端電性連接一量測端子；一訊號源，電性連接該第一隔離器的該初級側，用以提供一量測訊號；一乘法器，電性連接該訊號源及該第一隔離器的該初級側，當該第一隔離器的該次級側依據該量測訊號產生一第一反射訊號至該第一隔離器的該初級側時，該乘法器依據該第一反射訊號及該量測訊號，產生一輸出訊號；以及一計算器，電性連接該乘法器，依據該輸出訊號的直流部分，計算該驅動端子與該量測端子的一接觸電阻。
2. 如請求項1所述之接觸檢查電路，更包括一延遲器，該延遲器電性連接該訊號源與該乘法器，用以依據該第一反射訊號和該量測訊號的相位差，調整該第一反射訊號和該量測訊號其中之一的相位，該乘法器更依據調整相位後的該第一反射訊號或該量測訊號產生該輸出訊號。
3. 如請求項1所述之接觸檢查電路，更包括一濾波器及一轉換器，該濾波器電性連接該乘法器及該轉換器，該轉換器電性連接該計算器，該濾波器過濾該乘法器輸出的該輸出訊號，並提供該輸出訊號的直流部分至該轉換器，該轉換器轉換該輸出訊號的直流部分為一量測值，該計算器依據該量測值計算該接觸電阻的電阻值。
4. 如請求項1所述之接觸檢查電路，更包括：一第二隔離器，具有一初級側及一次級側，該第二隔離器的該初級側電性連接該訊號源；一電阻元件，電性連接該第二隔離器的該次級側；以及一差動放大器，電性連接該第一隔離器的該初級側及該第二隔離器的該初級側，當該第一隔離器的該第一端及該第二端接收到該量測訊號時，該電阻元件接收該量測訊號，且依據該量測訊號產生一第二反射訊號至該第二隔離器的該初級側，該差動放大器依據該第一反射訊號及該第二反射訊號產生一比較訊號，該乘法器依據該比較訊號及該量測訊號產生該輸出訊號。
5. 如請求項4所述之接觸檢查電路，更包括一補償器，該補償器電性連接該第二隔離器，且與該電阻元件形成一第一電流路徑，該第一隔離器、該驅動端子、該量測端子和該接觸電阻形成的一第二電流路徑，該補償器用以使該量測訊號與該第一反射訊號之間的相位差等於該量測訊號與該第二反射訊號之間的相位差，該量測訊號與該第二反射訊號的相位差關聯於該第一電流路徑，該量測訊號與該第一反射訊號的相位差關聯於該第二電流路徑。
6. 如請求項4所述之接觸檢查電路，更包括一第一相位調整器，該第一相位調整器電性連接該第二隔離器的該初級側和該第一隔離器的該初級側其中之一與該差動放大器，該第一相位調整器依據該第一反射訊號和該第二反射訊號的相位差，調整該第一反射訊號和該第二反射訊號其中之一的相位，使該差動放大器依據調整相位後的該第一反射訊號和該第二反射訊號產生該比較訊號。
7. 如請求4所述之接觸檢查電路，更包括一第二相位調整器，該第二相位調整器電性連接該訊號源及該差動放大器其中之一及該乘法器，該第二相位調整器依據該比較訊號和該量測訊號的相位差，調整該比較訊號和該量測訊號其中之一的相位，使該乘法器依據調整相位後的該比較訊號和該量測訊號產生該輸出訊號。
8. 如請求項4所述之接觸檢查電路，更包括一濾波器，該濾波器電性連接該乘法器及該計算器，該濾波器過濾該乘法器輸出的該輸出訊號，並提供該輸出訊號的直流部分至該計算器。
9. 如請求項4所述之接觸檢查電路，其中該計算器依據該輸出訊號的直流部分，判斷該接觸電阻的電阻值是否小於該電阻元件的電阻值。