TW201737037A - 觸控顯示面板與觸控力道的偵測方法 - Google Patents

觸控顯示面板與觸控力道的偵測方法 Download PDF

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Abstract

一種觸控顯示面板,包含多條掃描線、多條資料線、多個畫素單元與控制模組。控制模組耦接掃描線與資料線。控制模組於畫面週期中的至少一偵測時間區間,提供第一偵測訊號給至少部分的掃描線並偵測掃描線與導體結構間的至少一第一電容值。或者,控制模組提供第二偵測訊號給至少部分的資料線並偵測資料線與導體結構間的至少一第二電容值。控制模組依據偵測到的第一電容值或第二電容值判斷出觸控力道值。其中,第一偵測訊號的電壓準位低於每一畫素單元中的開關單元的導通電壓。

Description

觸控顯示面板與觸控力道的偵測方法
本發明係關於一種觸控顯示面板與觸控力道的偵測方法,特別是一種具有導體結構的觸控顯示面板或適用於具有導體結構的觸控顯示面板的觸控力道的偵測方法。
觸控顯示面板依照其感測方式的不同可以分為電阻式觸控顯示面板、電容式觸控顯示面板、光學式觸控顯示面板與電磁式觸控顯示面板。其中,電容式觸控顯示面板具有短反應時間、高準確率與高耐用度等優點,而逐漸普及於目前的電子產品當中。
但是,目前一般的電容式觸控面板雖然可以偵測出手指或其他觸控物的觸控位置,但大部分的電容式觸控面板還無法偵測出觸控的力道大小,這使得應用程式的開發也遭到了限制。目前僅有少數的廠商開發出電容式的外掛式壓力感測器,雖然可以藉由外掛式的壓力感測器來感測觸碰力道,但是在製程上卻需要多次貼合,而且由於需要外掛壓力感測器會增加基板的數量,因此增加了觸控顯示面板的厚度,也影響了顯示器穿透率與顯示效果。
本發明在於提供一種觸控顯示面板與觸控力道的偵測方法,在提供壓力感測功能之餘,還避免了使觸控顯示面板的基板數以及厚度增加的問題。
本發明揭露了一種觸控顯示面板,包含多條掃描線、多條資料線、多個畫素單元與控制模組。每一畫素單元耦接其中一掃描線與其中一資料線,控制模組耦接掃描線與資料線。於一畫面週期中的至少一更新時間區間,至少部分的畫素單元用以更新至少部分的顯示畫面。於畫面週期中的至少一偵測時間區間,控制模組提供第一偵測訊號給至少部分的些掃描線並偵測掃描線與導體結構間的至少一第一電容值,或控制模組提供第二偵測訊號給至少部分的資料線並偵測資料線與導體結構間的至少一第二電容值。控制模組依據至少一第一電容值判斷出至少一掃描線與導體結構的距離以取得觸控力道值,或控制模組依據至少一第二電容值判斷出至少一資料線與導體結構的距離以取得觸控力道值。其中,第一偵測訊號的電壓準位低於每一畫素單元中的開關單元的導通電壓。
本發明揭露了一種觸控力道的偵測方法,適用於觸控顯示面板。觸控顯示面板包括多條掃描線、多條資料線、多個畫素單元與導體結構。每一畫素單元耦接其中一掃描線與其中一資料線。偵測方法包括先於畫面週期中的至少一更新時間區間,經由至少部分的畫素單元更新至少部分的顯示畫面。於該畫面週期中的至少一偵測時間區間,提供第一偵測訊號給至少部分的掃描線並偵測掃描線與導體結構之間的至少一第一電容值,或提供第二偵測訊號給至少部分的資料線並偵測資料線與導體結構之間的至少一第二電容值。依據偵測得的至少一第一電容值判斷出至少一掃描線與導體結構的距離,或依據偵測得的至少一第二電容值判斷出至少一資料線與導體結構的距離。依據至少一掃描線與導體結構的距離或至少一資料線與導體結構的距離判斷得偵測力道值。其中,第一偵測訊號的電壓準位低於每一畫素單元中的開關單元的導通電壓。
綜合以上所述,本發明提供了一種觸控顯示面板與觸控力道的偵測方法,藉由分時控制的方式,在顯示面板閒置的時間區間中偵測資料線或掃描線與觸控顯示面板的導體結構間的電容變化,判斷出資料線或掃描線與觸控顯示面板的導體結構間的距離變化,從而依據這樣的距離變化判斷出觸控力道的大小。藉由這樣的做法,得以在不額外增加基板的情況下感測出觸控力道,克服了以往為了讓觸控顯示面板具有觸控力道感測的功能而不得不增加基板數或增加觸控顯示面板的厚度的問題。
以上之關於本揭露內容之說明及以下之實施方式之說明係用以示範與解釋本發明之精神與原理,並且提供本發明之專利申請範圍更進一步之解釋。
以下在實施方式中詳細敘述本發明之詳細特徵以及優點,其內容足以使任何熟習相關技藝者了解本發明之技術內容並據以實施,且根據本說明書所揭露之內容、申請專利範圍及圖式,任何熟習相關技藝者可輕易地理解本發明相關之目的及優點。以下之實施例係進一步詳細說明本發明之觀點,但非以任何觀點限制本發明之範疇。
請參照圖1,圖1係為根據本發明一實施例所繪示之主動元件基板的示意圖。主動元件基板14具有掃描線S1~S10、資料線D1~D10、畫素單元P1,1~P10,10、驅動電路30與資料電路40。須先說明的是,在此為求敘述簡明,僅舉掃描線S1~S10、資料線D1~D10與畫素單元P1,1~P10,10為例進行說明,然實際上掃描線、資料線與畫素單元的數量並不以此為限。畫素單元P1,1~P10,10中的每一畫素單元耦接掃描線S1~S10的其中之一與資料線D1~D10的其中之一。舉例來說,畫素單元P1,2代表圖1中第1列第2行的畫素單元,也就是耦接掃描線S1與資料線D2的畫素單元。其中,掃描線S1~S10與資料線D1~D10耦接控制模組20,且掃描線S1~S10耦接驅動電路30,資料線D1~D10耦接資料電路40。掃描線S1~S10分別具有掃描電壓VS1~VS10,資料線D1~D10分別具有資料電壓VD1~VD10。驅動電路30例如用以提供調整掃描電壓VS1~VS10的電壓準位。資料電路40例如用以提供調整資料電壓VD1~VD10的電壓準位。
請接著參照圖2,圖2係為根據本發明一實施例所繪示之觸控顯示面板的時序示意圖。如圖2所示,觸控顯示面板1的畫面週期Prd1~Prd3分別定義有更新時間區間TD1、TD2、TD3與偵測時間區間TF1、TF2、TF3。更新時間區間TD1、TD2、TD3與偵測時間區間TF1、TF2、TF3各時間區間的時間長度可以相等也可不相等,在此並不加以限制。在一實施例中,畫面週期Prd1~Prd3其中之每一的長度例如為1/60秒。圖2中更繪示有掃描線S1~S10上的掃描電壓VS1~VS10、資料線D1~D10上的資料電壓VD1~VD10與觸控偵測訊號TP的相對時序。後續係以畫面週期Prd1中的更新時間區間TD1與偵測時間區間TF1為例進行介紹。
於畫面週期Prd1的更新時間區間TD1中,畫素單元P1,1~P10,10用以更新顯示畫面。更詳細地來說,此時,掃描電壓VS1~VS10依序被調整至高電壓準位VH,當對應的掃描電壓VS1~VS10被調整至高電壓準位VH時,每一列的畫素單元P1,1~P10,10依序接收對應資料線D1~D10上的資料電壓VD1~VD10,並據以對應發光。而當掃描電壓VS1~VS10為低電壓準位VL時,對應地畫素單元P1,1~P10,10大致上維持之前寫入資料的發光狀態。
於偵測時間區間TF1,控制模組20提供第一偵測訊號給掃描線S1~S10並偵測掃描線S1~S10與一導體結構間的至少一第一電容值。所述的導體結構可以例如為觸控顯示面板1的系統組件,例如電池或印刷電路板中的導體。導體結構也可例如為是觸控顯示面板1的背光模組中的反射層,或者是觸控顯示面板1的金屬件,例如外框或支撐架。換句話說,所述的導體結構可以是觸控顯示面板1中多種金屬組件的其中之一或者是多種導體的其中之一,而不以上述舉例為限。在一實施例中,所述的至少一第一電容值例如是掃描線S1~S10中的其中之一與導體結構間的電容值。在另一實施例中,所述的至少一第一電容值例如是掃描線S1~S10中的部分與導體結構間的電容值。在更一實施例中,所述的至少一第一電容值例如是掃描線S1~S10中的全部掃描線與導體結構間的電容值。此外,所述的至少一電容值可以被定義為個別掃描線S1~S10與導體結構間的電容值,或者是掃描線S1~S10中的多條掃描線共同與導體結構之間的電容值。此間的計算方式係為所屬技術領域具有通常知識者可自由設計而無定論,在此並不加以限制。
在圖2中係以一方波序列來表示第一偵測訊號的變化,方波序列具有多個方波,方波的寬度、間隔、振幅與個數並不以圖式所繪者為限。於實務上,第一偵測訊號的實施態樣並不僅限於方波,在此僅為舉例示範,實際上並不以此為限。在此實施例中,控制模組20可在一個方波的時間中偵測一次所述的第一電容值。換句話說,在偵測時間區間TF1中,控制模組20可以偵測一或多次所述的第一電容值。需注意的是,第一偵測訊號的電壓準位會低於畫素單元P1,1~P10,10中的開關單元的導通電壓,以避免在偵測時間區間TF1中導通畫素單元P1,1~P10,10中的開關單元而影響到顯示畫面。在此實施例中,第一偵測訊號的方波的振幅電壓準位VTF1會低於前述的低電壓準位VL,以確保在提供第一偵測訊號於掃描線S1~S10的同時不會導通畫素單元P1,1~P10,10中的開關單元。
而於另一類的實施例中,當對應的掃描電壓VS1~VS10被調整至低電壓準位VL時,每一列的畫素單元P1,1~P10,10依序接收對應資料線D1~D10上的資料電壓VD1~VD10,並據以對應發光。而當掃描電壓VS1~VS10為高電壓準位VH時,對應地畫素單元P1,1~P10,10大致上維持之前寫入資料的發光狀態。在此類的實施例中,第一偵測訊號的方波的振幅電壓準位VTF1會高於前述的高電壓準位VH,以確保在提供第一偵測訊號於掃描線S1~S10的同時不會導通畫素單元P1,1~P10,10中的開關單元。
延續前述,控制模組20更於偵測時間區間TF1中提供第二偵測訊號給資料線D1~D10並偵測資料線D1~D10與所述的導體結構間的至少一第二電容值。在此圖式同樣是以方波序列示意第二偵測訊號,且第二偵測訊號的方波具有振幅電壓準位VTF2。在此同樣不對第二偵測訊號的實施態樣加以限制。在一實施例中,控制模組20依據至少一第一電容值判斷出掃描線S1~S10的至少其中之一與導體結構的距離以取得觸控力道值。於實務上,控制模組20可再依據前述的距離與虎克定律(Hooke’s law)進一步判斷出觸控力道值。更詳細地來說,控制模組20例如可以偵測到或預設有觸控顯示面板1的各構層間的結構彈性係數。當控制模組20取得如前述的距離變化時,控制模組20即可依據虎克定律中的其中一個等式:ΔF=kΔx來取得觸控力道值。其中,ΔF為為觸控力道值的變化量,而k為如前述的各構層間的彈性結構係數,Δx則為控制模組20取得的距離變化量。上述僅為舉例示範,實際上並不以此為限。在另一實施例中,控制模組20依據至少一第二電容值判斷出資料線D1~D10的至少其中之一與導體結構的距離以取得觸控力道值。在更一實施例中,控制模組20係同時依據至少一第一電容值與至少一第二電容值取得觸控力道值。
其中,控制模組20係於偵測時間區間TF1中的不同時間區段分別提供第一偵測訊號給掃描線S1~S10或提供第二偵測訊號給資料線D1~D10。從另一個角度來說,在圖2所示的實施例中,同一時間只會有掃描線S1~S10接收到第一偵測訊號,或只會有資料線D1~D10接收到第二偵測訊號。在此類的實施例中,控制模組20在不同時間提供第一偵測訊號與第二偵測訊號的其中之一可避免掃描線S1~S10與資料線D1~D10彼此的訊號干擾。而在另一類的實施例中,控制模組20係在提供第一偵測訊號給掃描線S1~S10的同時也提供第二偵測訊號給資料線D1~D10。
在一實施例中,觸控偵測訊號TP在偵測時間區間TF1、TF2、TF3中也被拉至相對的高電壓準位。亦即,觸控顯示面板1在偵測時間區間TF1、TF2、TF3中除了偵測觸控力道值之外,也偵測觸控位置。就相對時間而言,觸控顯示面板1可以於偵測時間區間TF1、TF2、TF3的相同時段中同時偵測觸控力道值與觸控位置,或者觸控顯示面板1可以於偵測時間區間TF1、TF2、TF3的不同時段中偵測觸控力道值與觸控位置。此外,於另一實施例中,觸控偵測訊號TP也可以由控制模組20產生。相關細節係為所屬技術領域具有通常知識者經詳閱本說明書後可自由設計,在此並不加以限制。
而需注意的是,掃描電壓VS1~VS5彼此在時間上也可以不重疊,圖3所繪示之掃描電壓VS1~VS5的相對時序僅為舉例示範,實際上並不以此為限。相仿地,圖3中的掃描電壓V6~V10或後續所述之掃瞄電壓的相對時序皆不以圖式所繪示者為限。
請接著參照圖3,圖3係為根據本發明另一實施例所繪示之觸控顯示面板的時序示意圖。在圖3所對應之實施例,畫面週期Prd4具有更新時間區間TD41、TD42與偵測時間區間TF41、TF42。更新時間區間TD41先於偵測時間區間TF41,更新時間區間TD42先於偵測時間區間TF42,偵測時間區間TF41先於更新時間區間TD42。圖3所對應之實施例中係以兩個偵測時間區間與兩個更新時間區間作為示範,但實際上偵測時間區間與更新時間區間的數目可為任意多個而不以此為限制。
請繼續參照圖3,在更新時間區間TD41中,掃描電壓VS1~VS5依序拉至高電壓準位,第一列的畫素單元P1,1~P1,10至第五列的畫素單元P5,1~P5,10依序接收對應資料線D1~D10上的資料電壓VD1~VD10,以發出對應的光。相仿地,在更新時間區間TD42中,掃描電壓VS6~VS10依序拉至高電壓準位VH,第六列的畫素單元P6,1~P6,10至第十列的畫素單元P10,1~P10,10依序接收對應資料線D1~D10上的資料電壓VD1~VD10,以發出對應的光。而在偵測時間區間TF41、TF42中,第一偵測訊號與第二偵測訊號如前述地被分別提供至掃描線S1~S10與資料線D1~D10。因此在畫面週期Prd4當中一共對全部的掃描線S1~S10與全部的資料線D1~D10進行了兩次電容值的偵測。換句話說,當畫面週期Prd4的長度為1/60秒,也就是畫面更新頻率為60赫茲(Hertz, Hz)時,觸控力道值的偵測頻率為120赫茲。藉此,在此實施例中,觸控力道值的偵測頻率較圖2所對應的實施例提高了兩倍。
請接著參照圖4,圖4係為根據本發明更一實施例所繪示之觸控顯示面板的時序示意圖。相仿於圖3所對應的實施例,在圖4所示的實施例中,畫面週期Prd5具有更新時間區間TD51、TD52與偵測時間區間TF51、TF52。更新時間區間TD51先於偵測時間區間TF51,更新時間區間TD52先於偵測時間區間TF52,偵測時間區間TF51先於更新時間區間TD52。這樣的定義方式同樣是用以舉例示範,並不以此為限。
在更新時間區間TD51中的時序與圖3所對應實施例相仿,掃描電壓VS1~VS5依序拉至高電壓準位VH,第一列的畫素單元P1,1~P1,10至第五列的畫素單元P5,1~P5,10依序接收對應資料線D1~D10上的資料電壓VD1~VD10,以發出對應的光。相仿地,在更新時間區間TD52中,掃描電壓VS6~VS10依序拉至高電壓準位,第六列的畫素單元P6,1~P6,10至第十列的畫素單元P10,1~P10,10依序接收對應資料線D1~D10上的資料電壓VD1~VD10,以發出對應的光。
在偵測時間區間TF51中,第一偵測訊號與第二偵測訊號被分別提供至掃描線S1~S5與資料線D1~D5。而在偵測時間區間TF52,第一偵測訊號與第二偵測訊號被分別提供至掃描線S6~S10與資料線D6~D10。因此在畫面週期Prd5當中一共對全部的掃描線S1~S10與全部的資料線D1~D10進行了一次電容值的偵測。相較於圖3所對應的實施例,在圖4所對應的實施例中雖然未能提高偵測觸控力道值的頻率,但是由於在偵測時間區間TF51中只藉由掃描線S1~S5與資料線D1~D5進行偵測,在偵測時間區間TF52中只藉由掃描線S6~S10與資料線D6~D10進行偵測,圖4所對應的實施例在同一偵測時間區間中只藉由一半數量的掃描線與資料線進行偵測,而得以在維持偵測觸控力道值的頻率的情況下,降低了掃描線與資料線之間的訊號干擾。
由上述實施例可知,當畫面週期具有多個偵測時間區間時,掃描線S1~S10與資料線D1~D10可以對應於偵測時間區間的個數而被定義為至少一個群組。並且,在其中一個偵測時間區間中,對一或多個群組進行電容值偵測,以判斷出觸控力道值。請接著參照圖5~圖8以說明掃描線S1~S10與資料線D1~D10可能的分組方式,圖5係為根據本發明一實施例所繪示之掃描線與資料線的分組示意圖,圖6係為根據本發明另一實施例所繪示之掃描線與資料線的分組示意圖,圖7係為根據本發明更一實施例所繪示之掃描線與資料線的分組示意圖,圖8係為根據本發明再一實施例所繪示之掃描線與資料線的分組示意圖。
如圖5所示,在圖5所示的實施例中,所有的掃描線S1~S10與資料線D1~D10都被定義為第一群組G1。在偵測時間區間中,第一群組G1的掃描線或資料線分別被提供第一偵測訊號或第二偵測訊號。亦即,在每一個偵測時間區間當中,所有的掃描線S1~S10與資料線D1~D10都分別被提供第一偵測訊號或第二偵測訊號以進行偵測第一電容值或第二電容值。
如圖6所示,在圖6所示的實施例中,掃描線S1~S10被定義為第一群組G1,資料線D1~D10被定義為第二群組G2。在一偵測時間區間中,第一群組G1被提供第一偵測訊號,在另一偵測時間區間中,第二群組G2被提供第二偵測訊號。亦即,在不同的偵測時間區間當中,第一群組G1與第二群組G2依序被提供第一偵測訊號與第二偵測訊號以進行偵測第一電容值或第二電容值。
如圖7所示,在圖7所示的實施例中,掃描線S1、S2被定義為第一群組G1,掃描線S3、S4被定義為第三群組G3,第五群組G5至第九群組G9相對於掃描線S5~S10的定義方式係可依此類推。資料線D1、D2被定義為第二群組G2,資料線D3、D4被定義為第四群組G4,第六群組G6、第八群組G8與第十群組G10相對於資料線D5~D10的定義方式係可依此類推。在此實施例中,每一群組包含相鄰的兩條掃描線或包含相鄰的兩條資料線,但實際上每一群組可以包含任意數量的掃描線或是任意數量的資料線,且每一群組所包含的掃描線也可以不相鄰,每一群組所包含的資料線也可以不相鄰。同一群組可以不只包含掃描線,也可以不只包含資料線。上述僅為舉例示範,實際上並不以此為限。在圖7所示的實施例中,對應的畫面週期具有十個偵測時間區間,每一時間區間中係對第一群組G1至第十群組G10中的其中之一進行電容值偵測,以依據第一電容值或第二電容值判斷出觸控力道值。
如圖8所示,在圖8所示的實施例中,掃描線S1、S2、S5、S6、S9、S10被定義為第一群組G1,掃描線S3、S4、S7、S8被定義為第三群組G3,資料線D1、D2、D5、D6、D9、D10被定義為第二群組G2,資料線D3、D4、D7、D8被定義為第四群組G4。在圖8所示的實施例中,畫面週期具有四個偵測時間區間,每一時間區間中係對第一群組G1至第四群組G4中的其中之一進行電容值偵測,以依據第一電容值或第二電容值判斷出觸控力道值。
延續以上發想,本發明更提供了一種觸控力道的偵測方法。請參照圖9,圖9係為根據本發明一實施例所繪示之觸控力道的偵測方法的方法流程圖。在步驟S1001中,係於畫面週期中的至少一更新時間區間,經由至少部分的畫素單元更新至少部分的顯示畫面。在步驟S1003中,係於畫面週期中的至少一偵測時間區間,提供第一偵測訊號給至少部分的掃描線並偵測掃描線與導體結構之間的至少一第一電容值,或提供第二偵測訊號給至少部分的資料線並偵測資料線與導體結構之間的至少一第二電容值。接著在步驟S1005中,依據偵測得的至少一第一電容值判斷出至少一掃描線與導體結構的距離,或依據偵測得的至少一第二電容值判斷出至少一資料線與導體結構的距離。然後在步驟S1007中,依據至少一掃描線與導體結構的距離或至少一資料線與導體結構的距離判斷得偵測力道值。其中,第一偵測訊號的電壓準位低於每一畫素單元中的開關單元的導通電壓。
此外,於一實施例中,至少一更新時間區間的數量為複數個,至少一偵測時間區間的數量為複數個。掃描線被分別定義成至少一掃描線群組,資料線被分別定義成至少一資料線群組。本發明所提供之偵測方法更包括於其中一更新時間區間中,經由至少部分的畫素單元更新至少部分的顯示畫面。於其中一偵測時間區間中,提供第一偵測訊號給其中一掃描線群組或提供第二偵測訊號給其中一資料線群組。
綜合以上所述,本發明提供了一種觸控顯示面板與觸控力道的偵測方法,藉由分時控制的方式,在顯示面板不對畫素單元所存資料進行更新的時間區間中,偵測資料線或掃描線與觸控顯示面板的導體結構間的電容變化。並依據偵測出的電容值或電容差值判斷出資料線或掃描線與觸控顯示面板的導體結構間的距離變化。從而依據這樣的距離變化判斷出觸控力道的大小。藉由這樣的做法,本發明所提供之觸控顯示面板與觸控力道的偵測方法得以在不額外增加基板的情況下感測出觸控力道,克服了以往為了讓觸控顯示面板具有觸控力道感測的功能而不得不增加基板數或增加觸控顯示面板的厚度的問題。而且,本發明所提供之觸控顯示面板可以採用目前現行大部分的電容式觸控面板之結構,本發明所提供之觸控力道的偵測方法可應用於目前現行大部分的電容式觸控面板。
雖然本發明以前述之實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明。在不脫離本發明之精神和範圍內,所為之更動與潤飾,均屬本發明之專利保護範圍。關於本發明所界定之保護範圍請參考所附之申請專利範圍。
1‧‧‧觸控顯示面板
20‧‧‧控制模組
D1~D10‧‧‧資料線
G1~G10‧‧‧第一群組~第十群組
P1,1~P10.10‧‧‧畫素單元
Prd1、Prd2、Prd3、Prd4、Prd5‧‧‧畫面週期
S1~S10‧‧‧掃描線
TD1、TD2、TD3、TD41、TD42、TD51、TD52‧‧‧更新時間區間
TF1、TF2、TF3、TF41、TF42、TF51、TF52‧‧‧偵測時間區間
TP‧‧‧觸控偵測訊號
VD1~VD10‧‧‧資料電壓
VH‧‧‧高電壓準位
VL‧‧‧低電壓準位
VS1~VS10‧‧‧掃描電壓
VTF1、VTF2‧‧‧振幅電壓準位
圖1係為根據本發明一實施例所繪示之主動元件基板的示意圖。 圖2係為根據本發明一實施例所繪示之觸控顯示面板的時序示意圖。 圖3係為根據本發明另一實施例所繪示之觸控顯示面板的時序示意圖。 圖4係為根據本發明更一實施例所繪示之觸控顯示面板的時序示意圖。 圖5係為根據本發明一實施例所繪示之掃描線與資料線的分組示意圖。 圖6係為根據本發明另一實施例所繪示之掃描線與資料線的分組示意圖。 圖7係為根據本發明更一實施例所繪示之掃描線與資料線的分組示意圖。 圖8係為根據本發明再一實施例所繪示之掃描線與資料線的分組示意圖。 圖9係為根據本發明一實施例所繪示之觸控力道的偵測方法的方法流程圖。

Claims (14)

  1. 一種觸控顯示面板,包括:多條掃描線;多條資料線;多個畫素單元,每一該畫素單元耦接其中一該掃描線與其中一該資料線,於一畫面週期中的至少一更新時間區間,至少部分的該些畫素單元用以更新至少部分的一顯示畫面;以及一控制模組,耦接該些掃描線與該些資料線,於該畫面週期中的至少一偵測時間區間,該控制模組提供一第一偵測訊號給至少部分的該些掃描線並偵測該些掃描線與一導體結構間的至少一第一電容值,或該控制模組提供一第二偵測訊號給至少部分的該些資料線並偵測該些資料線與該導體結構間的至少一第二電容值,該控制模組依據該至少一第一電容值判斷出至少一該掃描線與該導體結構的距離以取得一觸控力道值,或該控制模組依據該至少一第二電容值判斷出至少一該資料線與該導體結構的距離以取得該觸控力道值;其中,該第一偵測訊號的電壓準位低於每一該畫素單元中的一開關單元的導通電壓。
  2. 如請求項1所述的觸控顯示面板,其中該至少一更新時間區間的數量為複數個且該至少一偵測時間區間的數量為複數個,該些掃描線被分別定義成至少一掃描線群組,該些資料線被分別定義成至少一資料線群組,於其中一該更新時間區間中,至少部分的該些畫素單元用以更新至少部分的該顯示畫面,於其中一該偵測時間區間中,該控制模組提供該第一偵測訊號給其中一該掃描線群組或提供該第二偵測訊號給其中一該資料線群組。
  3. 如請求項1所述的觸控顯示面板,其中,於該更新時間區間中,每一該畫素單元依據耦接的該掃描線上的一掃描訊號接收耦接的該資料線上的一資料訊號,該掃描訊號具有一低電壓準位與一高電壓準位,當其中一該畫素單元接收得的該掃描訊號為該高電壓準位時,該畫素單元接收耦接的該資料線上的該資料訊號,且該第一偵測訊號的電壓準位低於該掃描訊號的該低電壓準位。
  4. 如請求項1所述的觸控顯示面板,其中,於該更新時間區間中,每一該畫素單元依據耦接的該掃描線上的一掃描訊號接收耦接的該資料線上的一資料訊號,該掃描訊號具有一低電壓準位與一高電壓準位,當其中一該畫素單元接收得的該掃描訊號為該低電壓準位時,該畫素單元接收耦接的該資料線上的該資料訊號,且該第一偵測訊號的電壓準位高於該掃描訊號的該高電壓準位。
  5. 如請求項1所述的觸控顯示面板,其中該至少一更新時間區間與該至少一偵測時間區間不重疊。
  6. 如請求項1所述的觸控顯示面板,更包括一觸控模組,該觸控模組用以於該偵測時間區間中偵測關聯於該觸控力道值的一觸控位置。
  7. 如請求項1所述的觸控顯示面板,其中該導體結構係為該觸控顯示面板的一電池、一電路板中的導體、一背光模組中的一導體層或一導體外殼,且該導體結構耦接該控制模組。
  8. 一種觸控力道的偵測方法,適用於一觸控顯示面板,該觸控顯示面板包括多條掃描線、多條資料線、多個畫素單元與一導體結構,每一該畫素單元耦接其中一該掃描線與其中一該資料線,該偵測方法包括:於一畫面週期中的至少一更新時間區間,經由至少部分的該些畫素單元更新至少部分的一顯示畫面;於該畫面週期中的至少一偵測時間區間,提供一第一偵測訊號給至少部分的該些掃描線並偵測該些掃描線與該導體結構之間的至少一第一電容值,或提供一第二偵測訊號給至少部分的該些資料線並偵測該些資料線與該導體結構之間的至少一第二電容值; 依據偵測得的該至少一第一電容值判斷出至少一該掃描線與該導體結構的距離,或依據偵測得的該至少一第二電容值判斷出至少一該資料線與該導體結構的距離;以及依據至少一該掃描線與該導體結構的距離或至少一該資料線與該導體結構的距離判斷得一偵測力道值;其中,該第一偵測訊號的電壓準位低於每一該畫素單元中的一開關單元的導通電壓。
  9. 如請求項8所述的偵測方法,其中該至少一更新時間區間的數量為複數個,該至少一偵測時間區間的數量為複數個,該些掃描線被分別定義成至少一掃描線群組,該些資料線被分別定義成至少一資料線群組,該偵測方法更包括:於其中一該更新時間區間中,經由至少部分的該些畫素單元更新至少部分的該顯示畫面;以及於其中一該偵測時間區間中,提供該第一偵測訊號給其中一該掃描線群組或提供該第二偵測訊號給其中一該資料線群組。
  10. 如請求項8所述的偵測方法,其中於該畫面週期中的該至少一更新時間區間,經由至少部分的該些畫素單元更新至少部分的一顯示畫面的步驟中,係經由其中一該掃描線提供一掃描訊號給其中一該畫素單元,以令該畫素單元依據該掃描訊號選擇性地接收耦接的該資料線上的一資料訊號;其中,該掃描訊號具有一低電壓準位與一高電壓準位,當其中一該畫素單元接收得的該掃描訊號為該高電壓準位時,該畫素單元接收耦接的該資料線上的該資料訊號,且該第一偵測訊號的電壓準位低於該掃描訊號的該低電壓準位。
  11. 如請求項8所述的偵測方法,其中於該畫面週期中的該至少一更新時間區間,經由至少部分的該些畫素單元更新至少部分的一顯示畫面的步驟中,係經由其中一該掃描線提供一掃描訊號給其中一該畫素單元,以令該畫素單元依據該掃描訊號選擇性地接收耦接的該資料線上的一資料訊號;其中,該掃描訊號具有一低電壓準位與一高電壓準位,當其中一該畫素單元接收得的該掃描訊號為該低電壓準位時,該畫素單元接收耦接的該資料線上的該資料訊號,且該第一偵測訊號的電壓準位高於該掃描訊號的該高電壓準位。
  12. 如請求項8所述的偵測方法,其中該至少一更新時間區間與該至少一偵測時間區間不重疊。
  13. 如請求項8所述的偵測方法,更包括:於該偵測時間區間中,偵測關聯於該觸控力道值的一觸控位置。
  14. 如請求項8所述的觸控顯示面板,其中該導體結構係為該觸控顯示面板的一電池、一電路板中的導體、一背光模組中的一導體層或一導體外殼,且該導體結構耦接該控制模組。
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