TW201723732A - 伺服器測試系統、方法及控制系統、方法 - Google Patents

Abstract

本發明提供一種伺服器測試系統、方法及控制系統、方法。伺服器測試系統包括檢測模組、恆溫箱、資料獲取儀以及控制器。控制器電性連接恆溫箱、伺服器和資料獲取儀，用以生成溫度設定指令，以發送至恆溫箱，使得恆溫箱達到與溫度設定指令相應的溫度，並用以生成一測試指令，以發送至伺服器，且伺服器根據測試指令進行運行時，生成資料獲取指令以發送至資料獲取儀，且獲取並記錄資料獲取儀的獲取結果。

Description

伺服器測試系統、方法及控制系統、方法

本發明涉及伺服器測試領域，特別是涉及一種伺服器測試系統、方法及控制系統、方法。

目前在伺服器的散熱設計過程中，在不同的溫度下對伺服器做不同的載入測試是驗證和發現伺服器散熱設計是否合乎要求的重要組成部分。現有的散熱測試，需要測試工程師手動開啟或設定，由於散熱驗證要求至少在15℃、20℃、25℃、30℃、以及35℃五種溫度下做6種以上的載入測試，每組測試要1個小時左右來完成，這樣一個完整的測試就需要工程師花費30小時以上，耗費的時間長，且工作量非常大。

有鑒於以上所述先前技術的缺點，本發明的目的在於提供一種伺服器測試系統、方法及控制系統、方法，用於解決先前技術中對伺服器的散熱測試需要花費工程師大量的時間和精力的問題。

為實現上述目的及其他相關目的，本發明提供一種伺服器測試系統，包括：一檢測模組、一恆溫箱、一資料獲取儀以及一控制器。檢測模組設置於伺服器的預定位置，用以檢測預定位置的溫度。恆溫箱用於容設 伺服器，具有溫度設定單元以及資料收發單元，溫度設定單元用以透過資料收發單元接收一溫度設定指令設定恆溫箱的溫度，以為伺服器提供一恆溫環境。資料獲取儀，與檢測模組電性連接，用以根據一資料獲取指令獲取檢測模組的檢測結果。控制器與恆溫箱、伺服器、和資料獲取儀電性連接，用以生成溫度設定指令，以發送至恆溫箱，使得恆溫箱達到與溫度設定指令相應的溫度，並用以生成一測試指令，以發送至伺服器，且伺服器根據測試指令進行運行時，生成資料獲取指令以發送至資料獲取儀，且獲取並記錄資料獲取儀的採集結果。

由上述必要技術手段所衍生之一附屬技術手段為，檢測模組為溫度感測器，用以檢測伺服器預定位定的溫度。

由上述必要技術手段所衍生之一附屬技術手段為，預定位置包括CPU、記憶體、硬碟、以及出風口中之至少一者所處的位置。

由上述必要技術手段所衍生之一附屬技術手段為，測試指令包括令伺服器運行一載入程式的指令。

由上述必要技術手段所衍生之一附屬技術手段為，控制器以一固定週期並依照一預先設定的次序，依次向恆溫箱發送令其設定為相應溫度的溫度設定指令。

由上述必要技術手段所衍生之一附屬技術手段為，相應溫度為15度、20度、25度、30度、以及35度中之一者。

由上述必要技術手段所衍生之一附屬技術手段為，恆溫箱更包括一溫度感測器，用以即時獲取恆溫箱的即時溫度，並透過資料收發單元發送至控制器，控制器根據即時溫度，向恆溫箱回饋一溫度調整指令。

由上述必要技術手段所衍生之一附屬技術手段為，控制器用以將即時溫度與一預設溫度閾值進行比較，以當即時溫度大於預設溫度閾值 時，向恆溫箱發送令恆溫箱降溫的溫度調整指令；並當即時溫度小於預設溫度閾值時，向恆溫箱發送令恆溫箱升溫的溫度調整指令。

由上述必要技術手段所衍生之一附屬技術手段為，恆溫箱更包括一溫度調整單元，用以根據溫度調整指令，對恆溫箱的溫度進行調整。

為實現上述目的及其他相關目的，本發明還提供一種伺服器測試方法，應用如上所述的伺服器測試系統，對伺服器的散熱性能進行測試。

為實現上述目的及其他相關目的，本發明還提供一種控制系統，應用於上述的伺服器測試系統的控制器，包括溫度設定模組、測試控制模組、獲取控制模組以及記錄模組。溫度設定模組用以生成溫度設定指令，以發送至恆溫箱。測試控制模組用以生成測試指令，以發送至伺服器。獲取控制模組用以在恆溫箱達到與溫度設定指令相應的溫度，且伺服器根據測試指令進行運行時，生成資料獲取指令，以發送至資料獲取儀。記錄模組用以獲取並記錄資料獲取儀的獲取結果。

為實現上述目的及其他相關目的，本發明還提供一種控制方法，應用於上述的伺服器測試系統的控制器，包括以下步驟：首先，生成溫度設定指令，以發送至恆溫箱；再者，生成測試指令，以發送至伺服器；之後，在恆溫箱達到與溫度設定指令相應的溫度，且伺服器根據測試指令進行運行時，生成資料獲取指令，以發送至資料獲取儀。最後，獲取並記錄資料獲取儀的獲取結果。

如上所述，本發明的伺服器測試系統、方法及控制系統、方法，其中，伺服器測試系統包括檢測模組、恆溫箱、資料獲取儀、以及控制器，其中，控制器與恆溫箱、伺服器、和資料獲取儀電性連接，用以生成溫度設定指令，以發送至恆溫箱，使得恆溫箱達到與溫度設定指令相應的溫度，並用以生成一測試指令，以發送至伺服器，且伺服器根據測試指令進行運 行時，生成資料獲取指令以發送至資料獲取儀，且獲取並記錄資料獲取儀的採集結果。本發明的伺服器測試系統、方法及控制系統、方法可以自動的運行測試程式，且自動調整測試溫度，並對測試結果進行自動記錄，可以提高測試效率，節省測試工程師花費的時間和精力。

10、10’‧‧‧伺服器

20、20’‧‧‧檢測模組

30、30’‧‧‧恆溫箱

31、31’‧‧‧溫度設定單元

32、32’‧‧‧資料收發單元

33’‧‧‧溫度感測器

34’‧‧‧溫度調整單元

40、40’‧‧‧資料獲取儀

50、50’‧‧‧控制器

51‧‧‧控制系統

511‧‧‧溫度設定模組

512‧‧‧測試控制模組

513‧‧‧獲取控制模組

514‧‧‧記錄模組

第一圖係顯示本發明的伺服器測試系統在一具體實施例中的應用方塊圖。

第二圖係顯示為本發明的控制器在一具體實施例中應用的控制系統的模組方塊圖。

第三圖係顯示為本發明的控制器在一具體實施例中應用的控制方法的流程圖。

第四圖係顯示為本發明的伺服器測試系統在一具體實施例中的應用示意圖。

以下透過特定的具體實例說明本發明的實施方式，本領域技術人員可由本說明書所揭露的內容輕易地了解本發明的其他優點與功效。本發明還可以透過另外不同的具體實施方式加以實施或應用，本說明書中的各項細節也可以基於不同觀點與應用，在沒有背離本發明的精神下進行各種修飾或改變。需說明的是，在不衝突的情況下，以下實施例及實施例中的特徵可以相互組合。

需要說明的是，以下實施例中所提供的圖示僅以示意方式說明本發明的基本構想，遂圖式中僅顯示與本發明中有關的組件而非按照實際實 施時的元件數目、形狀及尺寸繪製，其實際實施時各元件的型態、數量及比例可為一種隨意的改變，且其元件佈局型態也可能更為複雜。

具體的，請參閱第一圖，第一圖係顯示本發明的伺服器測試系統在一具體實施例中的應用方塊圖。伺服器測試系統用於對伺服器10的散熱性能進行測試，伺服器測試系統包括一檢測模組20、一恆溫箱30、一資料獲取儀40以及一控制器50。

其中，檢測模組20設置於伺服器10的預定位置，用以檢測預定位置的溫度。於本發明的一具體實施例中，檢測模組20為溫度感測器，用以檢測伺服器10預定位置的溫度。較佳者，預定位置包括CPU、記憶體、硬碟、以及出風口中之至少一者所處的位置，或者其他對散熱要求較高的位置。

，再者，恆溫箱30用於容設伺服器10，具有一溫度設定單元31以及一資料收發單元32，溫度設定單元31用以透過資料收發單元32接收一溫度設定指令設定恆溫箱30的溫度，以為伺服器10提供一恆溫環境。

另外，資料獲取儀40與檢測模組20電性連接，用以根據一資料獲取指令獲取檢測模組20的檢測結果。於具體應用中，資料獲取儀40採用安捷倫的資料獲取儀。

控制器50與恆溫箱30、伺服器10、和資料獲取儀40電性連接。較佳者，控制器50與資料獲取儀40以及恆溫箱30透過RS232串列埠進行通信，控制器50用以生成溫度設定指令，以發送至恆溫箱30，使得恆溫箱30達到與溫度設定指令相應的溫度，並用以生成一測試指令，以發送至伺服器10，且伺服器10根據測試指令進行運行時，生成資料獲取指令以發送至資料獲取儀40，且獲取並記錄資料獲取儀40的獲取結果。於本發明的一具體實施例中，測試指令包括令伺服器10運行一載入程式的指令。

進一步地，控制器50以一固定週期並依照一預先設定的次序，依次向恆溫箱30發送令其設定為相應溫度的溫度設定指令，例如，依次向恆溫箱30發送令其設定為15度、20度、25度、30度、以及35度中之一者之溫度設定指令，且每個溫度保持四至六個小時，即一個測試週期大約為二十小時到三十小時。且可同時對多個伺服器10進行測試。

進一步地，參閱第二圖，第二圖係顯示為本發明的控制器在一具體實施例中應用的控制系統的模組方塊圖。如圖所示，控制系統51包括溫度設定模組511、測試控制模組512、獲取控制模組513、以及記錄模組514。

其中，溫度設定模組511用以生成溫度設定指令，以發送至恆溫箱30。測試控制模組512用以生成測試指令，以發送至伺服器10。獲取控制模組513用以在恆溫箱30達到與溫度設定指令相應的溫度，且伺服器10根據測試指令進行運行時，生成資料獲取指令，以發送至資料獲取儀40。記錄模組514用以獲取並記錄資料獲取儀40的獲取結果。

進一步地，參閱第三圖，第三圖係顯示為本發明的控制器在一具體實施例中應用的控制方法的流程圖。如圖所示，控制方法應用於如圖1的伺服器測試系統的控制器50，包括以下步驟：

S11：生成溫度設定指令，以發送至恆溫箱。

S12：生成測試指令，以發送至伺服器。

S13：在恆溫箱達到與溫度設定指令相應的溫度，且伺服器根據測試指令進行運行時，生成資料獲取指令，以發送至資料獲取儀。

S14：獲取並記錄資料獲取儀的獲取結果。

請參閱第四圖，第四圖係顯示為本發明的伺服器測試系統在一具體實施例中的應用示意圖。用於對伺服器10’的散熱性能進行測試，伺服器測試系統包括一檢測模組20’、一恆溫箱30’、一資料獲取儀40’以及一控制 器50’。其中，恆溫箱30’還包括溫度設定單元31’和資料收發單元32’。且在第一圖中的檢測模組20、恆溫箱30、資料獲取儀40、控制器50、溫度設定單元31、以及資料收發單元32均可應用於本實施例中。

進一步地，於本實施例中，恆溫箱30’更包括一溫度感測器33’，用以即時獲取恆溫箱30’的即時溫度，並透過資料收發單元32’發送至控制器50’。控制器50’根據即時溫度，向恆溫箱30’回饋一溫度調整指令。

較佳者，控制器50’用以將即時溫度與一預設溫度閾值進行比較，以當即時溫度大於預設溫度閾值時，向恆溫箱30’發送令恆溫箱30’降溫的溫度調整指令；並當即時溫度小於預設溫度閾值時，向恆溫箱30’發送令恆溫箱30’升溫的溫度調整指令。

於本發明的一具體實施例中，恆溫箱30’還包括一溫度調整單元34’，用以根據溫度調整指令，對恆溫箱30’的溫度進行調整。

於另一具體實施例中，本發明還提供一種伺服器測試方法，應用如圖1的伺服器測試系統對伺服器的散熱性能進行測試。

且經過實際驗證，當對二十個測試項目進行測量時，現有的測試方法大概需要兩天半的時間，但是採用本發明的伺服器測試系統和方法對伺服器的散熱性能進行測試，大概只需要一天的時間，時間上縮短了一半以上，且不需要測試人員手動操作設置，節省了測試人員耗費的精力和時間。

綜上所述，在本發明所提供的伺服器測試系統、方法及控制系統、方法中，伺服器測試系統包括檢測模組、恆溫箱、資料獲取儀、以及控制器，其中，控制器與恆溫箱、伺服器、和資料獲取儀電性連接，用以生成溫度設定指令，以發送至恆溫箱，使得恆溫箱達到與溫度設定指令相應的溫度，並用以生成一測試指令，以發送至伺服器，且伺服器根據測試指令 進行運行時，生成資料獲取指令以發送至資料獲取儀，且獲取並記錄資料獲取儀的獲取結果。本發明的伺服器測試系統、方法及控制系統、方法可以自動的運行測試程式，且自動調節測試溫度，並對測試結果進行自動記錄，可以提高測試效率，節省測試工程師花費的時間和精力。因此，本發明有效克服了現有技術中的種種缺點而具高度產業利用價值。

上述實施例僅例示性說明本發明的原理及其功效，而非用於限制本發明。任何熟悉此技術的人士皆可在不違背本發明的精神及範疇下，對上述實施例進行修飾或改變。因此，舉凡所屬技術領域中具有通常知識者在未脫離本發明所揭示的精神與技術思想下所完成的一切等效修飾或改變，仍應由本發明的專利申請範圍所涵蓋。

10‧‧‧伺服器

20‧‧‧檢測模組

30‧‧‧恆溫箱

31‧‧‧溫度設定單元

32‧‧‧資料收發單元

40‧‧‧資料獲取儀

50‧‧‧控制器

Claims (12)

1. 一種伺服器測試系統，包括：一檢測模組，係設置於一伺服器的一預定位置，用以檢測該預定位置的溫度；一恆溫箱，係用於容設該伺服器，具有一溫度設定單元以及一資料收發單元，該溫度設定單元電性連接於該資料收發單元，用以透過該資料收發單元接收一溫度設定指令設定該恆溫箱的溫度，以為該伺服器提供一恆溫環境；一資料獲取儀，係與該檢測模組電性連接，用以根據一資料獲取指令獲取該檢測模組的檢測結果；以及一控制器，係與該恆溫箱、伺服器、和資料獲取儀電性連接，用以生成該溫度設定指令，以發送至該恆溫箱，使得該恆溫箱達到與該溫度設定指令相應的溫度，並用以生成一測試指令，以發送至該伺服器，且該伺服器根據該測試指令進行運行時，生成該資料獲取指令以發送至該資料獲取儀，且獲取並記錄該資料獲取儀的獲取結果。
2. 如申請專利範圍第1項所述的伺服器測試系統，其中，該檢測模組係一溫度感測器，用以檢測該伺服器的該預定位置的溫度。
3. 如申請專利範圍第2項所述的伺服器測試系統，其中，該預定位置包括CPU、記憶體、硬碟、以及出風口中之至少一者所處的位置。
4. 如申請專利範圍第1所述的伺服器測試系統，其中，該測試指令包括令該伺服器運行一載入程式的指令。
5. 如申請專利範圍第1項所述的伺服器測試系統，其中，該控制器以一固定週期並依照一預先設定的次序，依次向該恆溫箱發送令其設定為相應溫度的溫度設定指令。
6. 如申請專利範圍第5項所述的伺服器測試系統，其中，該相應溫度為15度、20度、25度、30度、以及35度中之一者。
7. 如申請專利範圍第1項所述的伺服器測試系統，其中，該恆溫箱更包括一溫度感測器，用以即時獲取該恆溫箱的即時溫度，並透過該資料收發單元發送至該控制器，該控制器根據該即時溫度，向該恆溫箱回饋一溫度調整指令。
8. 如申請專利範圍第7項所述的伺服器測試系統，其中，該控制器係用以將該即時溫度與一預設溫度閾值進行比較，以當該即時溫度大於該預設溫度閾值時，向該恆溫箱發送令該恆溫箱降溫的溫度調整指令；並當該即時溫度小於該預設溫度閾值時，向該恆溫箱發送令該恆溫箱升溫的溫度調整指令。
9. 如申請專利範圍第7項所述的伺服器測試系統，其中，該恆溫箱還包括一溫度調整單元，用以根據該溫度調整指令，對該恆溫箱的溫度進行調整。
10. 一種伺服器測試方法，其中，應用如申請專利範圍第1至9項中任一項所述的伺服器測試系統，係對伺服器的散熱性能進行測試。
11. 一種控制系統，其中，應用於如申請專利範圍第1至9項中任一項所述的伺服器測試系統的控制器，包括：一溫度設定模組，係用以生成該溫度設定指令，以發送至該恆溫箱；一測試控制模組，係用以生成該測試指令，以發送至該伺服器； 一獲取控制模組，係用以在該恆溫箱達到與該溫度設定指令相應的溫度，且該伺服器根據該測試指令進行運行時，生成該資料獲取指令，以發送至該資料獲取儀；一記錄模組，係用以獲取並記錄該資料獲取儀的獲取結果。
12. 一種控制方法，其中，應用於如申請專利範圍第1至9項中任一項所述的伺服器測試系統的控制器，包括以下步驟：(a)生成該溫度設定指令，藉以發送至該恆溫箱；(b)生成該測試指令，藉以發送至該伺服器；(c)在該恆溫箱達到與該溫度設定指令相應的溫度，且該伺服器根據該測試指令進行運行時，生成該資料獲取指令，以發送至該資料獲取儀；(d)獲取並記錄該資料獲取儀的獲取結果。