TW201721121A - 量測鏡頭光學品質的裝置 - Google Patents

Abstract

本發明提供一種鏡頭的光學品質量測裝置，可測量例如應用於車用攝影之鏡頭的多視角光學解析度、多場點過焦曲線、多方向可視角度、光軸偏斜及多視場雜散光反應特性，並即時提供量化資訊藉以判斷該鏡頭是否可以通過品質規格要求。

Description

量測鏡頭光學品質的裝置

本發明係關於一種量測鏡頭之光學品質的裝置，特別是關於一種應用於車用攝影鏡頭，量測包含多視角光學解析度、過焦曲線、可視角度、光軸偏斜及雜散光反應特性，並即時提供量化資訊藉以判斷該鏡頭是否可以通過品質規格要求的裝置。

目前車用攝影鏡頭光學品質量測，已逐漸轉型到需要測量多視角光學解析度、多場點過焦曲線、多方向可視角度、光軸偏斜及多視場雜散光反應特性的每一項，才足以判斷該鏡頭是否可以通過品質規格要求。車用攝影鏡頭多半是超廣角的魚眼鏡頭，其中心的光學解析度要求較高。

光學解析度的量測在習知技術中已相當成熟。目前鏡頭光學解析度的自動量測設備分成正投影與逆投影，正投影將一測試圖樣放在待測鏡頭物端的一固定距離，利用位於待測鏡頭像端的電荷耦合元件(Charge-coupled device,CCD)成像，逆投影則將測試圖樣放在待測鏡頭的焦點投射後，再以人眼或相機判讀解析度。請參閱第一圖，其是傳統的逆投影鏡頭光學解析度的量測設備的側面示意圖。該量測設備10包含光源裝置11、圖板12、待測鏡頭13以及屏幕14。請參閱第二圖，其示出該圖板12上的典型圖樣20，其中同心圓為鏡頭的各個不同視場角，矩形為成像裝置成像的範圍，其餘線條用於協助標示參考位置。在該典型圖樣20上不同的參考位置，例如第二圖中虛線圓圈的位置，為測試線對圖設置之處。也就是說，在各個視場角放置測試線對圖，以供測試鏡頭的光學解析度。典 型的測試線對圖為垂直或水平設置之複數平行線，例如第三圖所示的a~h七組不同寬度的複數平行線。傳統的鏡頭光學解析度的量測以人眼觀察複數平行線經由待測鏡頭13在屏幕14上的投影，並判斷最高可以分辨多少條/mm(以lp/mm為單位，其中lp為線對(line pairs)之縮寫；每一個lp/mm值稱為一個空間頻率，較高的空間頻率具有較多條平行線/mm)，即待測鏡頭13在該成像位置之光學解析度為多少lp/mm。

發明專利I229749以面型感應器(其中以CCD為範例)取代人眼，利用電腦系統處理面型感應器上像素之間的亮度分布，並自動計算調制轉換函數(Modulation transfer function,MTF)。調制轉換函數MTF以下式計算：MTF=(Max-Min)/(Max+Min)其中Max為量測到的亮度最大值，Min為量測到的亮度最小值。例如CCD量測到全白及全黑，標準化(normalized)的Max=1，Min=0，所以在低空間頻率下MTF=1。發明專利I229749揭露的測試線對圖之排列方式為中心對稱分布以及垂直水平交錯分布。

當圖板上之測試線對相對於面型感應器為垂直或水平設置時，由於測試線對與面型感應器像素之間存在相位差(即測試線對在鏡頭成像的空間頻率與面型感應器像素的空間頻率不同)，因此每個像素所取得的資料都因相位不同而有差異，因此至少需要兩個面型感應器像素對應一組線對，也就是說，能夠測量的測試線對在鏡頭成像的空間頻率，最高只有面型感應器像素的空間頻率的一半(或說半頻)，否則會有混淆現象(aliasing)。以目前市售的2μm pitch的CCD而言，半頻只有125lp/mm，但是車用攝影鏡頭的中心解析度要求到200lp/mm。發明專利I229749揭露利用相位偏移(即一部分平行線可偏移一預設距離)解決混淆現象的問題，只是靠相位偏移的方式，隨著不同的檢測頻率需要製作不同的圖樣，難以泛用在多種鏡頭，實用性並不高。該專利相當程度地阻止了他人製作MTF 檢測機台，但是該專利並未揭露讓人滿意的正投影測試機。對於車用攝影鏡頭光學品質的自動量測，使用正投影方式，移動CCD自動對焦，則是比較容易實現的方式。

實務上，可視角度的檢測多半由人工進行。現行的雜散光檢測也只在生產線上由作業員以強光照射用目測檢視，並轉動鏡頭以獲得多視場雜散光反應特性，此過程缺乏量化。此外，現行檢測雜散光的標準環境必須是亮場，與MTF檢測的環境是暗場互相衝突。另外，傳統的光軸偏斜量測，需要旋轉鏡頭；旋轉鏡頭的過程，最快至少要1、2秒的時間。

本發明可以有效解決先前技術具有的上述問題，提供一種可應用於車用攝影鏡頭之光學品質的自動量測裝置，在2秒內做完所有的量測項目。

本案申請人鑑於習知技術中的不足，經過悉心試驗與研究，並一本鍥而不捨之精神，終構思出本案，且能夠克服先前技術的不足，以下為本案之簡要說明。

本發明提供的光學品質的自動量測裝置，整合多項鏡頭測試功能，大量節省鏡頭測試時間，可廣泛運用於各種車用攝影鏡頭，能有效提昇正投影量測解析度至200lp/mm以上，將雜散光測試、超廣角鏡頭可視角度檢測與鏡頭光軸偏斜檢驗量化，具有極高的應用價值。

本案之一構想在於提供一種量測鏡頭之光學品質的裝置，該裝置包括：軌道單元，包括：複數條弧形軌道，匯聚於一交會點且形成一半球形支架；以及承載單元，被配置於在該複數弧形軌道之一而可在一第一維方向上移動；第一圖板，位於承載單元而可在一第二維方向上移動，且包括複數平行線；成像裝置，位於該半球形支架內及該交會點投影的正下方，且被配置於通過鏡頭而呈現照射該複數平行線的影像，其中鏡頭位於該交會點與成像裝置之間；以及量測裝置，耦接於成像裝置，且該量測 裝置藉由該複數平行線的影像來量測鏡頭之光學解析度。

本案之另一構想在於提供一種量測鏡頭之光學品質的裝置，該裝置包括：軌道單元；圖板，位於軌道單元而可在其上移動，且包括複數平行線，其中該複數平行線至少其一經放大後呈一長矩形狀，且其一長側邊呈鋸齒狀；以及一成像及量測裝置，位於軌道單元內，且被配置於通過鏡頭而呈現照射該複數平行線的影像，其中該成像及量測裝置藉由該影像來量測鏡頭的光學解析度。

本案之另一構想在於提供一種量測鏡頭之光學品質的裝置，該裝置包括：軌道單元；圖板，位於軌道單元而可在其上移動，且包括複數平行線；圖板光源裝置，位於軌道單元而可在其上移動，且被配置與圖板配合而量測鏡頭之光學解析度；相對強光光源裝置，位於軌道單元而可在其上移動，且被配置而直接照射鏡頭以量測鏡頭之雜散光反應特性；以及一成像及量測裝置，位於軌道單元內，且被配置於通過鏡頭而呈現照射該複數平行線的影像，及量測雜散光反應特性。

10‧‧‧量測設備

11‧‧‧光源裝置

12‧‧‧圖板

13‧‧‧待測鏡頭

14‧‧‧屏幕

20‧‧‧典型圖樣

100‧‧‧光學品質量測裝置

110‧‧‧弧形軌道

120‧‧‧交會點

130‧‧‧承載單元

141‧‧‧光學解析度測試圖板

146‧‧‧可視角度測試圖板

150‧‧‧待測鏡頭

160A、160B‧‧‧非垂直及非水平的複數平行線

170‧‧‧十字圖樣

180‧‧‧圖樣

190‧‧‧複數條平行粗黑線

190A‧‧‧影像

200‧‧‧面型裝置

本案得藉由下列圖式及詳細說明，俾得以令熟悉技藝之人更深入了解。

第一圖是傳統的逆投影鏡頭光學解析度的量測設備的側面示意圖。

第二圖示出第一圖中之圖板上的典型圖樣。

第三圖示出於第二圖參考位置(虛線圓圈)上放置的典型測試線對圖。

第四圖為本發明整合多項鏡頭測試功能的光學品質自動量測裝置之立體示意圖。

第五圖局部的弧形軌道110及承載單元上的光學解析度測試圖板的示意圖。

第六圖為局部的弧形軌道110及承載單元130上的可視角度測試圖板的示意圖。

第七圖為本發明中以光學品質量測裝置量測待測鏡頭之光學解析度之示意圖。

第八圖為本發明之光學解析度測試圖板上圖樣之另一實施例，該圖樣基本上是在黑色背景中的白色具鋸齒狀長側邊的複數平行線。

為了解決現行檢測雜散光的標準環境必須是亮場，與MTF檢測的環境是暗場互相衝突的問題，本發明採用多點的發光二極體(LED)當作強光光源，檢測影像上是否出現不應該出現的雜散光訊號。經由發明人的實驗結果，為了檢測出雜散光，該強光應使成像產生飽和狀態(Saturated)。

請參閱第四圖，其為本發明整合多項鏡頭測試功能的光學品質量測裝置之立體示意圖。光學品質量測裝置100具有匯聚於交會點120的複數條弧形軌道110。值得注意的是，第四圖僅為示意之用，相鄰兩條弧形軌道110在交會點120之間距在圖中未按比例繪製。該複數條弧形軌道110形成一半球形支架，基本上以待測鏡頭150為球心。每一弧形軌道110上具有複數個承載單元130，每一承載單元130可沿著該弧形軌道110移動，此移動方向為該半球形之經度方向，可稱為第一維方向。該複數個承載單元130各自裝載光學解析度測試圖板、強光光源或可視角度測試圖板，該光學解析度測試圖板、強光光源或可視角度測試圖板均可沿著承載單元130上的軌道移動，此移動方向為該半球形之緯度方向，可稱為第二維方向。該光學解析度測試圖板、強光光源或可視角度測試圖板透過第一、二維兩個方向的軌道，可以放置於鏡頭視野的各個角度。強光光源提供雜散光反應特性量測所需之光源，在第四圖中以光錐狀虛線代表該強光光源所射出之光線。

光學品質量測裝置100還包括成像裝置(未於第四圖示出)，其位於該半球形支架內及該交會點投影的正下方。光學解析度測試圖板或可視角度測試圖板上之圖樣經過照射(照射光學解析度測試圖板或可視角度測試圖板的光源並未於第四圖中示出)後，由該光學解析度測試圖板或可視角度測試圖板出射的光束，經過待測鏡頭150，在成像裝置上呈現該等圖樣之影像。強光光源照射待測鏡頭150後，也由成像裝置接收雜散光之訊號。在一個具體實施例中，成像裝置為面型裝置，例如CCD。照射光學解析度測試圖板或可視角度測試圖板的光源可為環境光源或背光源，且本發明的光學品質量測裝置100上通常可設置複數個光源。

光學品質量測裝置100並包括量測裝置(未於第四圖示出)，耦接於成像裝置，可藉由光學解析度測試圖板上之圖樣的影像，來進行MTF運算，以量測待測鏡頭150之光學解析度，或是藉由可視角度測試圖板的影像，分析待測鏡頭150對應在特定角度的精確視角。該量測裝置還包括控制模組，該控制模組被配置以控制照射光學解析度測試圖板或可視角度測試圖板的光源及強光光源的明暗及待測鏡頭150的焦距。此外，具有明確中心點的特徵圖樣(例如十字圖樣)可設置在交會點120處，且該特徵圖樣可繪製於光學解析度測試圖板上。特徵圖樣在光學品質量測裝置100上的位置可以精密調整，以與該成像裝置的中心完全對正，再利用該量測裝置計算該特徵圖樣成像之中心點偏移，即可確認光軸偏移量。在一具體實施例中，光學品質量測裝置100更包括連接於待測鏡頭150之距離調整裝置(未於第四圖示出)，該距離調整裝置用於調整待測鏡頭150與成像裝置之間的距離，並以量測裝置計算待測鏡頭150的光學解析度，形成過焦曲線，進而取得焦點位置及光學解析度。該複數個強光光源係由控制模組逐一點亮以進行雜散光量測，但因待測鏡頭本身的特性即包含快速的曝光速度，因此這是一個迅速的量測過程。光學品質量測裝置100亦可同時測試多個鏡頭，對每個鏡頭提供不同的多個測試場點。因此光學品質 量測裝置100可允許在2秒內完成該多個鏡頭的多視角光學解析度、多場點過焦曲線、多方向可視角度、光軸偏斜及多視場雜散光反應特性的量測，並可自動判斷該多個鏡頭的每一者是否可以通過品質規格要求，而此量測結果亦可用於改善鏡頭製程。

請參閱第五圖，其為局部的弧形軌道110及承載單元130上的光學解析度測試圖板的示意圖。在第五圖中，光學解析度測試圖板141包含兩組非垂直及非水平的複數平行線160A及160B以及一十字圖樣170。關於光學解析度測試圖板上之圖樣，下文有更詳細的說明。第六圖為局部的弧形軌道110及承載單元130上的可視角度測試圖板的示意圖，其用以顯示一可視角度測試圖板146上圖樣180之實施例。

第七圖為本發明中以光學品質量測裝置量測待測鏡頭之光學解析度之示意圖。在第七圖中，光學解析度測試圖板(未示出)具有非垂直及非水平的複數平行線，如第七圖上端複數條平行粗黑線190所示。複數條平行粗黑線190經照射後之出射光束進入第七圖中部方框所示之待測鏡頭150，而於第七圖下方之面型裝置200成像。第七圖中面型裝置200的每一最小方格代表一個像素。由第七圖中可得知，當該複數平行線相對於面型裝置為非垂直及非水平設置時，面型裝置中某一排的某一像素(例如第七圖中虛線圈起來的像素)將可能被量測裝置讀取為影像190A的全黑訊號，。對該像素而言，複數平行線與面型裝置之間相位同步。複數平行線中的每一者都可能找到一個相位同步的面型裝置之像素。同理，面型裝置中另一排的另一像素將可能被量測裝置讀取為影像190A的全白訊號，因此可以得到亮度的最大值與最小值，進而計算出MTF，而不像垂直或水平設置的複數平行線，整排像素都讀到半黑半白的灰色訊號。因此，非垂直及非水平的複數平行線的設置可以提高能夠測量的複數平行線在鏡頭成像的空間頻率。

一般而言，複數平行線至少包含一個空間頻率，並必須依照 成像裝置成像時的影像像素對應關係，對面型裝置的垂直與水平像素進行特定範圍角度的傾斜，此一傾斜角度係用來對應成像時的混淆現象(aliasing)。當此傾斜角度在特定範圍內且在複數平行線成像的相位與面型裝置相同時，可以提昇檢測解析度至成像裝置的奈奎斯頻率(Nyquist frequency)極限。意即，當複數平行線為非垂直及非水平設置時，最高可以測量全頻。以目前市售的2μm pitch的CCD而言，全頻可達250lp/mm，超過車用攝影鏡頭的中心解析度的最低要求。

非垂直及非水平的複數平行線的至少其一的長側邊可配合面型裝置的像素而呈鋸齒狀，如第八圖中之部分放大圖所示。又，第八圖基本上是在黑色背景中的白色具鋸齒狀長側邊的複數平行線，是一個適合用於由背光光源照射的光學解析度測試圖板上之圖樣的實施例。

實施例

1.一種量測一鏡頭之光學品質的裝置，該裝置包括：一軌道單元，包括：複數條弧形軌道，匯聚於一交會點且形成一半球形支架；以及一承載單元，被配置於在該複數弧形軌道之一而可在一第一維方向上移動；一第一圖板，位於該承載單元而可在一第二維方向上移動，且包括複數平行線；一成像裝置，位於該半球形支架內及該交會點投影的正下方，且被配置於通過該鏡頭而呈現照射該複數平行線的影像，其中該鏡頭位於該交會點與該成像裝置之間；以及一量測裝置，耦接於該成像裝置，且該量測裝置藉由該複數平行線的影像來量測該鏡頭之一光學解析度。

2.如實施例1所述的裝置，其中該複數平行線為非垂直及非水平設置。

3.如實施例1或2所述的裝置，其中該複數平行線至少其一經放大後呈一 長矩形狀，且其一長側邊呈鋸齒狀。

4.如實施例1~3中任一實施例所述的裝置，更包括一相對強光光源裝置，位於該軌道單元而可在其上移動，且被配置為直接照射該鏡頭以量測該鏡頭之一雜散光反應特性。

5.如實施例1~4中任一實施例所述的裝置，其中當該相對強光光源裝置的光源亮度最大時，該雜散光影像呈現一飽和狀態。

6.如實施例1~5中任一實施例所述的裝置，更包括：一第二圖板，位於該承載單元而可在該第二維方向上移動，且包括一特徵圖樣，其中當該第二圖板移動至該交會點時，該量測裝置藉由該成像裝置上的該特徵圖樣影像來量測該鏡頭的一光軸偏斜。

7.如實施例1~6中任一實施例所述的裝置，其中該特徵圖樣該特徵圖樣為一十字圖樣。

8.如實施例1~7中任一實施例所述的裝置，更包括：一第二圖板，位於該承載單元而可在該第二維方向上移動，且包括一特徵圖樣，其中當該第二圖板在該第一維及該第二維方向上移動時，該量測裝置藉由該成像裝置上是否呈現該特徵圖樣影像來量測該鏡頭的一可視角度。

9.如實施例1~8中任一實施例所述的裝置，更包括連接於該鏡頭的一距離調整裝置，該距離調整裝置被配置於調整該鏡頭與該成像裝置之間的一距離，以俾該量測裝置藉由該距離的變化來量測該鏡頭的一過焦曲線特性。

10.如實施例1~9中任一實施例所述的裝置，其中該量測裝置更被配置以藉由該複數平行線影像來量測該鏡頭的調制轉換函數(MTF)。

11.如實施例1~10中任一實施例所述的裝置，更包括一第一光源裝置，該第一光源裝置被配置於供應能呈現該複數平行線影像的光源。

12.如實施例1~11中任一實施例所述的裝置，其中該第一圖板為一可透光 圖板且包括背向於該複數平行線的一背面，該第一光源裝置面向該背面。

13.如實施例1~12中任一實施例所述的裝置，其中該量測裝置包括一控制模組，該控制模組被配置以控制該第一光源裝置的明暗及該鏡頭的焦距。

14.一種量測一鏡頭之光學品質的裝置，該裝置包括：一軌道單元；一圖板，位於該軌道單元而可在其上移動，且包括複數平行線，其中該複數平行線至少其一經放大後呈一長矩形狀，且其一長側邊呈鋸齒狀；以及一成像及量測裝置，位於該軌道單元內，且被配置於通過該鏡頭而呈現照射該複數平行線的影像，其中該成像及量測裝置藉由該影像來量測該鏡頭的光學解析度。

15.如實施例14所述的裝置，其中該複數平行線為非垂直及非水平設置。

16.一種量測一鏡頭之光學品質的裝置，該裝置包括：一軌道單元；一圖板，位於該軌道單元而可在其上移動，且包括複數平行線；一圖板光源裝置，位於該軌道單元而可在其上移動，且被配置與該圖板配合而量測該鏡頭之一光學解析度；一相對強光光源裝置，位於該軌道單元而可在其上移動，且被配置而直接照射該鏡頭以量測該鏡頭之一雜散光反應特性；以及一成像及量測裝置，位於該軌道單元內，且被配置於通過該鏡頭而呈現照射該複數平行線的影像，及量測該雜散光反應特性。

由上可知，本發明提供的光學品質的自動量測裝置，整合多項鏡頭測試功能，大量節省鏡頭測試時間，可以允許在2秒內完成多個鏡頭的多視角光學解析度、多場點過焦曲線、多方向可視角度、光軸偏斜及多視場雜散光反應特性的量測，並可自動判斷該多個鏡頭的每一者是否可以通過品質規格要求，而此量測結果亦可用於改善鏡頭製程。該光學品質 量測裝置，可廣泛運用於各種車用攝影鏡頭，能有效提昇正投影量測解析度至200lp/mm以上，將雜散光測試、超廣角鏡頭可視角度檢測與鏡頭光軸偏斜檢驗量化，具有極高的應用價值。

本發明得由熟悉技藝之人任施匠思而為諸般修飾，然不脫如附申請專利範圍所欲保護者。

100‧‧‧光學品質量測裝置

110‧‧‧弧形軌道

120‧‧‧交會點

130‧‧‧承載單元

150‧‧‧待測鏡頭

Claims (16)

1. 一種量測一鏡頭之光學品質的裝置，該裝置包括：一軌道單元，包括：複數條弧形軌道，匯聚於一交會點且形成一半球形支架；以及一承載單元，被配置於在該複數弧形軌道之一而可在一第一維方向上移動；一第一圖板，位於該承載單元而可在一第二維方向上移動，且包括複數平行線；一成像裝置，位於該半球形支架內及該交會點投影的正下方，且被配置於通過該鏡頭而呈現照射該複數平行線的影像，其中該鏡頭位於該交會點與該成像裝置之間；以及一量測裝置，耦接於該成像裝置，且該量測裝置藉由該複數平行線的影像來量測該鏡頭之一光學解析度。
2. 如申請專利範圍第1項所述的裝置，其中該複數平行線為非垂直及非水平設置。
3. 如申請專利範圍第2項所述的裝置，其中該複數平行線至少其一經放大後呈一長矩形狀，且其一長側邊呈鋸齒狀。
4. 如申請專利範圍第1項所述的裝置，更包括一相對強光光源裝置，位於該軌道單元而可在其上移動，且被配置為直接照射該鏡頭以量測該鏡頭之一雜散光反應特性。
5. 如申請專利範圍第4項所述的裝置，其中當該相對強光光源裝置的光源亮度最大時，該雜散光影像呈現一飽和狀態。
6. 如申請專利範圍第1項所述的裝置，更包括：一第二圖板，位於該承載單元而可在該第二維方向上移動，且包括一特徵圖樣，其中當該第二圖板移動至該交會點時，該量測裝置藉由該成像裝置上的該特徵圖樣影像來量測該鏡頭的一光軸偏斜。
7. 如申請專利範圍第6項所述的裝置，其中該特徵圖樣該特徵圖樣為一十字圖樣。
8. 如申請專利範圍第1項所述的裝置，更包括：一第二圖板，位於該承載單元而可在該第二維方向上移動，且包括一特徵圖樣，其中當該第二圖板在該第一維及該第二維方向上移動時，該量測裝置藉由該成像裝置上是否呈現該特徵圖樣影像來量測該鏡頭的一可視角度。
9. 如申請專利範圍第1項所述的裝置，更包括連接於該鏡頭的一距離調整裝置，該距離調整裝置被配置於調整該鏡頭與該成像裝置之間的一距離，以俾該量測裝置藉由該距離的變化來量測該鏡頭的一過焦曲線特性。
10. 如申請專利範圍第1項所述的裝置，其中該量測裝置更被配置以藉由該複數平行線影像來量測該鏡頭的調制轉換函數(MTF)。
11. 如申請專利範圍第1項所述的裝置，更包括一第一光源裝置，該第一光源裝置被配置於供應能呈現該複數平行線影像的光源。
12. 如申請專利範圍第11項所述的裝置，其中該第一圖板為一可透光圖板且包括背向於該複數平行線的一背面，該第一光源裝置面向該背面。
13. 如申請專利範圍第11項所述的裝置，其中該量測裝置包括一控制模組，該控制模組被配置以控制該第一光源裝置的明暗及該鏡頭的焦距。
14. 一種量測一鏡頭之光學品質的裝置，該裝置包括：一軌道單元；一圖板，位於該軌道單元而可在其上移動，且包括複數平行線，其中該複數平行線至少其一經放大後呈一長矩形狀，且其一長側邊呈鋸齒狀；以及一成像及量測裝置，位於該軌道單元內，且被配置於通過該鏡頭而呈現照射該複數平行線的影像，其中該成像及量測裝置藉由該影像來量測該鏡頭的光學解析度。
15. 如申請專利範圍第14項所述的裝置，其中該複數平行線為非垂直及非水平設置。
16. 一種量測一鏡頭之光學品質的裝置，該裝置包括：一軌道單元；一圖板，位於該軌道單元而可在其上移動，且包括複數平行線；一圖板光源裝置，位於該軌道單元而可在其上移動，且被配置與該圖板配合而量測該鏡頭之一光學解析度；一相對強光光源裝置，位於該軌道單元而可在其上移動，且被配置而直接照射該鏡頭以量測該鏡頭之一雜散光反應特性；以及一成像及量測裝置，位於該軌道單元內，且被配置於通過該鏡頭而呈現照射該複數平行線的影像，及量測該雜散光反應特性。