TW201703447A - 用於收發器的內建調校、測試及校準的射頻振盪器技術 - Google Patents
用於收發器的內建調校、測試及校準的射頻振盪器技術 Download PDFInfo
- Publication number
- TW201703447A TW201703447A TW105117231A TW105117231A TW201703447A TW 201703447 A TW201703447 A TW 201703447A TW 105117231 A TW105117231 A TW 105117231A TW 105117231 A TW105117231 A TW 105117231A TW 201703447 A TW201703447 A TW 201703447A
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- transceiver
- block
- calibrating
- ttc
- testing
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B17/00—Monitoring; Testing
- H04B17/10—Monitoring; Testing of transmitters
- H04B17/11—Monitoring; Testing of transmitters for calibration
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B17/00—Monitoring; Testing
- H04B17/10—Monitoring; Testing of transmitters
- H04B17/11—Monitoring; Testing of transmitters for calibration
- H04B17/14—Monitoring; Testing of transmitters for calibration of the whole transmission and reception path, e.g. self-test loop-back
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B17/00—Monitoring; Testing
- H04B17/10—Monitoring; Testing of transmitters
- H04B17/11—Monitoring; Testing of transmitters for calibration
- H04B17/13—Monitoring; Testing of transmitters for calibration of power amplifiers, e.g. gain or non-linearity
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B17/00—Monitoring; Testing
- H04B17/10—Monitoring; Testing of transmitters
- H04B17/15—Performance testing
- H04B17/19—Self-testing arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B17/00—Monitoring; Testing
- H04B17/20—Monitoring; Testing of receivers
- H04B17/21—Monitoring; Testing of receivers for calibration; for correcting measurements
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B1/00—Details of transmission systems, not covered by a single one of groups H04B3/00 - H04B13/00; Details of transmission systems not characterised by the medium used for transmission
- H04B1/02—Transmitters
- H04B1/04—Circuits
- H04B2001/0408—Circuits with power amplifiers
- H04B2001/0416—Circuits with power amplifiers having gain or transmission power control
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B1/00—Details of transmission systems, not covered by a single one of groups H04B3/00 - H04B13/00; Details of transmission systems not characterised by the medium used for transmission
- H04B1/02—Transmitters
- H04B1/04—Circuits
- H04B2001/0491—Circuits with frequency synthesizers, frequency converters or modulators
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L49/00—Packet switching elements
- H04L49/10—Packet switching elements characterised by the switching fabric construction
- H04L49/109—Integrated on microchip, e.g. switch-on-chip
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Transceivers (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
- Circuits Of Receivers In General (AREA)
- Transmitters (AREA)
Abstract
方法及各種結構提供收發器之回送調校、測試及校準,包括:自一個振蕩器向該收發器之一發射器與一接收器兩者供應射頻驅動;向該收發器之一收發器區塊應用一調變波形以産生一調幅信號;將該調幅信號之一旁頻帶轉換爲具有適合於由一接收器數位區塊處理之一頻率之一基頻信號,其中處理該基頻信號産生一數位輸出;及至少部分地基於該數位輸出執行該收發器區塊之調校、測試及校準。
Description
本發明係關於用於收發器之內建調校、測試及校準的射頻振蕩器技術。
在單工或分時多工系統中利用調頻的低成本收發器可利用鎖定至高精度參考之單精度振蕩器來用於正常發射器或接收器操作。由於收發器之發射器及接收器功能在此系統中不同時有效,因此單個振蕩器足以用於正常操作。
晶片上系統(System-on-Chip; SoC)收發器實施晶片上調校、測試及校準(tune, test and calibration; TTC)電路系統以使執行此等功能原本需要之外部工廠設備之成本最小化,且使得此等功能在收發器於現場中使用時能得以執行。用於在收發器中之各種級段執行TTC之方法爲在所謂的「回送」拓撲中將發射路徑輸出注入至接收路徑輸入中,且隨後重新使用接收數位電路系統以執行用於TTC之信號分析。然而,若同一振蕩器用於直接且同時地驅動發射與接收路徑兩者,則無法滿足在TTC功能期間在接收路徑中産生週期信號且由接收數位電路系統測試該週期信號之要求。因此産生額外且不同的射頻信號以驅動發射路徑,僅專用於TTC功能。此額外射頻信號可由收發器之額外振蕩器供應。
生成額外的高品質射頻信號之要求爲設計負擔;産生射頻信號所需之額外振蕩器增加矽面積(且因此增加成本),且在TTC功能期間,歸因於由額外振蕩器及與振蕩器相關聯之任何額外電路系統(諸如鎖相迴路電路)汲取之功率,其增加供應收發器所需之峰值功率。彼額外成本及峰值功率與僅在TTC中且不在收發器正常操作時使用的電路相關聯,使得期望發現對兩個振蕩器方法之替代方案。
本發明目的爲一種用於收發器之回送調校、測試及校準(tuning, testing, and calibrating; TTC)之方法,包含:自一個振蕩器向收發器之發射器與接收器兩者供應射頻驅動;向收發器之收發器區塊應用調變波形以産生調幅信號;將調幅信號之旁頻帶轉換爲具有適合於由接收器數位區塊處理之頻率之基頻信號,其中處理基頻信號産生數位輸出;及至少部分地基於數位輸出執行收發器區塊之調校、測試及校準中之至少一者。
本文中描述之各種方法、設備及裝置提供使用該收發器之一個振蕩器的收發器之TTC,從而消除對用於TTC目的之專用振蕩器的需要。
根據本發明之某些代表性實施例,提供一種用於收發器之TTC之方法:自一個振蕩器向收發器之發射器與接收器兩者供應射頻驅動;向收發器之收發器區塊應用調變波形以産生調幅信號;將調幅信號之旁頻帶轉換爲具有適合於由接收器數位區塊處理之頻率之基頻信號,其中處理基頻信號産生數位輸出;及至少部分地基於數位輸出執行收發器區塊之調校、測試及校準中之至少一者。
儘管本發明易於以多種不同形式實施,但在圖式中顯示且將在本文中詳細描述具體實施例,應理解本揭露應被視爲本發明之原理之實例且不意欲將本發明限制爲所示及所描述之具體實施例。在以下描述中,類似的元件符號用於描述圖式之若干視圖中之相同、類似或對應的部分。
在此文件中,諸如第一及第二、頂部及底部及其類似者之關係術語可單獨使用以區別一個實體或動作與另一實體或動作而不一定要求或暗示在此類實體或動作之間的任何實際此類關係或次序。術語「包含(comprises/comprising)」或其任何其他變化形式意欲覆蓋非獨佔性包括,以使得包含一系列元件之程序、方法、物件或設備不僅包括彼等元件且可包括未經明白地列出或該程序、方法、物件或設備固有之其他元件。在「包含一(comprises…a)」之前的元件在不受更多約束的情況下不排除額外的相同元件在包含該元件之程序、方法、物件或設備中存在。
本文件中通篇所提及之「一個實施例」、「某些實施例」、「一實施例」或類似術語意謂結合該實施例描述之具體特徵結構、結構或特徵包括在本發明之至少一個實施例中。因此,此類短語之出現或在此說明書通篇中之各種位置中不一定全部係指同一實施例。此外,可以任何適宜的方式不受限制地將具體特徵結構、結構或特徵在一或多個實施例中組合。
如本文中所用之術語「或(or)」應解釋爲包含性或意謂任何一個或任何組合。因此,「A、B或C」意謂「以下中之任一者:A;B;C;A及B;A及C;B及C;A、B及C」。此定義之例外將僅在元件、功能、步驟或動作之組合以某種方式固有地互斥時發生。
出於說明之簡要及清楚之原因,元件符號可在圖示之中重複以指示對應或類似元件。闡述多個細節以提供對本文中描述之實施例之理解。可在不具有此等細節之情況下實踐實施例。在其他情況下,熟知的方法、過程及組件尚未經詳細描述以避免模糊所描述的實施例。描述不應視爲限制本文中描述之實施例之範疇。
現在參考第 1 圖
,如圖100中所示,當處於發射(TX)模式中時,鎖相迴路(phase-locked loop; PLL)之電壓控制振蕩器(voltage controlled oscillator; VCO)114經耦合至發射緩衝器120之輸入,從而供應射頻驅動信號116。PLL/調頻區塊110將TX調變信號112直接應用至VCO 114,如圖所示。發射緩衝器120之輸出經耦合至發射濾波器130之輸入。發射濾波器130之輸出經耦合至功率放大器(power amplifier; PA)140之輸入,且PA之輸出經耦合至天線開關150之TX埠,如圖所示。在TX模式中,天線開關150將在其TX埠處之信號耦合至其天線埠。收發器之接收功能係由圖式之陰影區塊指示。
如第 2 圖
之圖200中所示,當處於接收(RX)模式時,VCO 114經耦合至接收混頻器220之本地振蕩器(local oscillator; LO)輸入埠,從而供應LO信號210。對於LO之功能,由TX路徑中之調頻區塊110提供之調頻功能被禁用,且VCO 114保持鎖定至一精度參考之倍數。混頻器220之射頻輸入埠經耦合至低噪音放大器(low-noise amplifier; LNA)230之輸出215,如圖所示。LNA 230之輸入經耦合至天線開關240之RX埠。在RX模式中,天線開關240將在其天線埠處之信號耦合至其RX埠。混頻器220之中間頻率(intermediate frequency; IF)輸出埠産生混頻器中間頻率輸出信號225,其經耦合至中間頻率增益區塊250之輸入。中間頻率增益區塊250之輸出經耦合至基頻濾波器260之輸入。基頻濾波器之輸出産生耦合至RX數位區塊270之基頻信號。收發器之發射功能係由圖式之陰影區塊指示。
可見單工或分時多工(time-division duplex; TDD)系統中之收發器(XCVR)利用單個精度振蕩器,例如鎖定至高精度參考之VCO,用於正常發射器(TX)或接收器(RX)操作。由於收發器之TX及RX功能在此系統中不同時有效,因此單個振蕩器(VCO 114)足以用於正常操作。
晶片上系統(System-on-Chip; SoC)XCVR實施晶片上調校、測試及校準(tune, test and calibration; TTC)電路系統以提供在已存在於現場中之收發器區塊上且以最低成本執行TTC。用於在XCVR中之各種級段執行TTC之方法爲在所謂的「回送」拓撲中將TX路徑輸出注入至RX路徑輸入中,且隨後重新使用RX數位電路系統以執行用於TTC之信號分析,如第 3 圖
之收發器區塊圖300所示。
待由RX數位電路系統分析之實際基頻信號爲週期信號,諸如音調。若同一振蕩器用於直接且同時地驅動TX路徑(射頻信號)與RX路徑(LO信號)兩者,則無法滿足此對於在TTC功能期間於RX路徑中産生週期信號的要求。爲在RX數位區塊之輸入處産生適用於TTC目的之週期基頻信號,必須産生專用於TTC功能之額外且不同的射頻信號310以驅動TX路徑。爲了産生具有執行此等功能通常所需之所要頻率的穩定基頻信號,此額外射頻信號310必須針對高頻率精確性、精度及穩定性來設計。大體上,此將用額外振蕩器320來達成,該額外振蕩器係由耦合至系統中可用之精度參考之鎖相迴路來控制。此生成額外高品質射頻信號之要求爲設計負擔;産生高品質射頻信號310所需之額外振蕩器320增加矽面積(且因此增加成本),並且在TTC功能期間,歸因於由額外振蕩器及與振蕩器相關聯之任何額外電路系統(諸如鎖相迴路電路)汲取之功率,其增加供應XCVR 300所需之峰值功率。此額外成本及峰值功率係由僅在TTC中且不在XCVR處於正常操作時使用之電路導致之事實,使得期望找到替代方案,在該替代方案中,在不需要額外振蕩器的情況下賦能XCVR之回送TTC。
如本文中所揭示,提供將調幅應用至一或多個現有XCVR區塊,從而賦能重新使用發射路徑振蕩器以使得消除對用於TTC目的之專用振蕩器之需要。在第 4 圖
中所示之示例性實施例中,此伴隨使用鎖定至精度參考430之相同振蕩器114以驅動RX與TX路徑兩者,且應用調變波形450至發射緩衝器120之賦能輸入。因此,LO信號210之RX LO産生未受影響,同時TX路徑産生來源於與用於驅動RX路徑之振蕩器相同的振蕩器114的調幅輸出460。當應用調變至發射緩衝器120之賦能輸入時,由OOK控制410提供之所應用之調變波形450將根據響應於由TTC控制器420施加之控制由OOK控制區塊410産生之調變波形來實質上賦能及禁用TX信號440。在此意義上,TTC控制器420在TTC模式期間提供用於控制TX路徑之操作流程之邏輯。OOK控制410控制TX緩衝器120之賦能模式且選取待應用之特定波形。此方法可例如與利用向量調變器之較通用TX系統進行對比,在該系統中,可將實質上正弦波應用至調變器以完成調幅。根據本文中之各種實施例,調幅可藉由調變波形産生,該調變波形可爲一系列脈衝、實質上方形波或實質上正弦波或其他週期基頻信號(作爲實例而非限制)。
TX輸出440之調變旁頻帶之頻譜位置係藉由用以經由提供至發射緩衝器級段120之賦能輸入之賦能控制信號450來實質上賦能及禁用或開關鍵(ON-OFF Key; OOK)TX輸出信號440之頻率定義。此由OOK控制區塊410提供之控制信號450可爲具有可自高精度數位時鐘精確設定的可程式化速率之脈衝(諸如來源於精度參考430以將VCO 114相鎖定至特定射頻頻率之脈衝),從而産生旁頻帶處於精確、準確、可預測且可控制位置的TX信號。詳言之,可置放旁頻帶以使得當TX信號440在LNA 230處「回送」至RX路徑中時,旁頻帶將在頻率中轉換爲適用於由RX數位區塊270處理之基頻頻率,其産生數位輸出470。數位輸出470包含處理基頻信號之結果,且可包括解調及振幅決定處理結果(作爲實例而非限制)。
在第 4 圖
中,振蕩器(VCO 114)爲PLL/調頻器110之整體部分。調頻器110係由發射資料串流112饋送,該發射資料串流在正常TX操作期間將瞬時頻率偏差直接應用至VCO 114。VCO 114係由鎖相迴路控制,其經耦合至精度頻率參考430且保持振蕩器中心頻率鎖定至精度頻率參考之倍數。振蕩器114經耦合至發射緩衝器120輸入與接收器混頻器220 LO埠兩者,如圖所示。發射緩衝器120之賦能輸入係由自OOK控制區塊410接收之調變波形450驅動。OOK控制區塊410又耦合至TTC控制器420。另外,OOK控制區塊410經耦合至驅動PLL/調頻器110之鎖相迴路之同一精度頻率參考430。發射緩衝器120之調幅輸出460經耦合至發射濾波器130之輸入。發射濾波器130具有由TTC控制器420經由OOK控制410控制之可調整調校控制輸入,例如發射濾波器130之中心頻率可根據由TTC控制器420及OOK控制410施加之控制調整。發射濾波器130之輸出經耦合至PA 140,且PA輸出經耦合至天線開關150之TX埠。在回送模式中,天線開關150將其TX埠處之信號耦合至其RX埠,該RX埠經耦合至LNA 230之輸入。LNA輸出經耦合至接收混頻器220之射頻輸入。混頻器220之中間頻率輸出埠産生經耦合至中間頻率增益區塊250之輸入之混頻器中間頻率輸出信號225。中間頻率增益區塊250之輸出經耦合至基頻濾波器260之輸入。基頻濾波器260之輸出産生耦合至RX數位區塊270之基頻信號265。RX數位區塊270之輸出經耦合至TTC控制器420。TTC控制器420亦經耦合至PLL/調頻器110且直接控制PLL設定,其中振蕩器(VCO 114)爲子區塊;TTC控制器420亦爲天線開關150上之控制輸入,如圖所說明。因此,TTC控制器420命令PLL鎖定至特定頻率,且PLL之迴路動作控制VCO頻率。
藉由此技術,僅用單個振蕩器産生基頻信號265。基頻信號之振幅可藉由RX數位區塊270分析,且結果用以在XCVR 400上執行TTC。在第4圖之回送方塊圖中,最有利的爲將調變級段靠近振蕩器安置,以使得調變信號可爲沿著可能需要TTC之迴路之最大數目的電路區塊所用;然而,亦考慮了不如此便利安置之其他區塊之調變。
可由所揭示TTC方法調校、測試或校準之收發器區塊或收發器組件之參數包括濾波器中心頻率及頻寬、區塊增益、最大值增益、相對功率變化(步階)及其他者。此等參數可藉由調整與所關注之電路區塊相關聯之電壓、電流、電阻、電容及電感中之任一者來調校、測試或校準。因此,根據各種實施例,調校、測試及校準可以以下方法中之至少一或多者來實現:調整濾波器之中心頻率;調整濾波器之頻寬;調整區塊之增益,其可包括針對目標輸出位準調整收發器區塊之增益,諸如PA驅動器區塊自PA産生所要輸出功率可能需要,或將接收器增益區塊調整至最佳交換(trade)靈敏度、阻斷及互調變效能;調整區塊之增益以便最大化其輸出位準,該等可爲LNA最大化接收器靈敏度或PA最大化輸出功率所需要;調整收發器區塊之電壓、電流、電阻、電容及電感中之至少一者,可實施該步驟以最大化功率效率;在級間阻抗匹配電路中調整電容器值以獲得收發器區塊之最大輸出位準(例如,在TX驅動器級之間的匹配級段);決定可切換增益區塊之增益值相差預定量,可在PA驅動器區塊中實施該操作以用於需要精度PA輸出功率之應用;決定收發器滿足預定規格(例如,決定PA輸出功率在規格內,或中間頻率增益區塊之增益根據自動增益控制目的所需而變化);及在收發器之設計與製造中之至少一者中識別故障(例如,識別導致無偏差LNA之設計故障,或發射濾波器中之可調校電容器組具有導致實質上遷移或不存在之共振之製造缺陷,該等兩個實例在回送測試期間使達至RX數位區塊之基頻信號大大衰減)。
根據本文中所揭示之各種所揭示實施例,用於調校發射濾波器之具體實例在第5圖之流程圖500中顯示。如第6圖中所指示,此流程僅爲可用於執行收發器之TTC之一種方法。現在參考第 5 圖
,流程起始於方塊510。在方塊520,TTC控制器將XCVR置放至TTC回送模式中。此係藉由將天線開關置放至回送模式中(將其TX埠處之信號與其RX埠耦合)及控制振蕩器(VCO)以驅動接收器混頻器與發射緩衝器兩者,從而將射頻驅動供應至XCVR之TX與RX兩者來實現。在方塊530,TTC控制器控制OOK控制區塊以將調變波形供應至將在濾波器之所要中心頻率下産生調變旁頻帶之發射緩衝器。在方塊540,TTC控制器評估由射頻數位區塊報告之基頻信號之位準。在方塊550,TTC控制器調整濾波器中心頻率,例如藉由調整濾波器中之電容器之值,且隨後在方塊560重新評估基頻信號之位準。如上文所論述,TTC控制器可使用各種其他方法執行收發器之TTC,所有該等方法都至少部分地基於RX數位輸出。
本文中所揭示之實施例之完整流程在第 6 圖
中顯示。流程起始於方塊610。在方塊620,自一個振蕩器將射頻驅動供應至TX與RX路徑兩者。隨後,在方塊630,將調變波形應用至收發器區塊,從而産生調幅信號。如上文所描述,所應用之調變波形可爲例如一系列脈衝、實質上方形波及實質上正弦波。在方塊640,調幅信號之旁頻帶經轉換爲適用於由接收器之接收器數位區塊處理之基頻頻率,從而産生數位輸出。在方塊650,執行TTC,其意謂至少部分地基於RX數位輸出執行收發器區塊(組件)之調校、測試及校準中之至少一者。
熟習此項技術者將認識到已依據基於程式化處理器之使用之示例性實施例來描述本發明。然而,本發明不應限制於此,因爲本揭露可使用等效於所描述及所主張之本發明之硬體組件等效物,諸如特殊目的硬體及/或專用處理器來實施。類似地,通用目的電腦、基於微處理器之電腦、微控制器、光電腦、類比電腦、專用處理器及/或專用硬佈線邏輯可用於建構本揭露之替代等效實施例。
此外,熟習此項技術者將進一步瞭解用於實施上文所描述之實施例之程式流及相關聯資料可使用各種儲存形式來實施,諸如唯獨記憶體(Read Only Memory; ROM)、隨機存取記憶體(Random Access Memory; RAM)、電子可抹除可程式化唯獨記憶體(Electrically Erasable Programmable Read Only Memory; EEPROM);非依電性記憶體(non-volatile memory; NVM);大容量儲存,諸如硬碟驅動、軟碟驅動、光碟驅動;光儲存元件、磁儲存元件、磁-光儲存元件、快閃記憶體、核心記憶體及/或其他等效儲存技術,而不偏離本發明。應將此類替代性儲存裝置視爲等效物。
本文中所描述之各種實施例係使用程式化處理器來實施,該等程式化處理器執行以流程圖形式廣泛描述之程式化指令,其可儲存在任何適宜的電子儲存媒體上或經由任何適宜的電子通信媒體傳輸。然而,熟習此項技術者將瞭解上文所描述之程序可以任何數目之變化形式且以多種適宜的程式化語言實施而不偏離本發明。舉例而言,執行某些操作之次序常常可不同,可添加額外操作或可爲除操作而不偏離本發明。可添加及/或增強錯誤設陷且可在使用者介面及資訊呈現中作出變化而不偏離本發明。考慮此類變化形式且將其視爲等效。
已作爲實例而非作爲限制呈現本文中已詳細描述之代表性實施例。熟習此項技術者將理解,可在所描述之實施例之形式及細節中作出各種導致等效實施例之變化,該等等效實施例保持在隨附申請專利範圍之範疇中。
因此,在以下經編號之條項中闡述所揭示之實施例之一些特徵結構: 1. 一種用於一收發器之回送調校、測試及校準(tuning, testing, and calibrating; TTC)之方法,包含: 自一個振蕩器向該收發器之一發射器與一接收器兩者供應射頻驅動; 向該收發器之一收發器區塊應用一調變波形以産生一調幅信號; 將該調幅信號之一旁頻帶轉換爲具有適合於由一接收器數位區塊處理之一頻率之一基頻信號,其中處理該基頻信號産生一數位輸出;及 至少部分地基於該數位輸出執行該收發器區塊之調校、測試及校準中之至少一者。 2. 如條項1所述之方法,進一步包含: 在供應射頻驅動之前: 一TTC控制器將該收發器設定爲一TTC模式;及 在應用該調變波形之前: 該TTC控制器控制一控制器以供應該調變波形。 3. 如條項2所述之方法,其中將該收發器設定爲該TTC模式包含: 藉由將該天線開關之一發射器(TX)埠處之一信號耦合至該天線開關之一接收器(RX)埠來將該收發器之一天線開關置放至回送模式中;及 控制該一個振蕩器以驅動該收發器之一接收器混頻器與一發射緩衝器兩者;及 其中該TTC控制器控制一控制器以供應一調變波形包含: 控制一OOK控制區塊以將該調變波形供應至該發射緩衝器以在一發射濾波器之一所要中心頻率下産生一調變旁頻帶。 4. 如條項2所述之方法,進一步包含: 該TTC控制器調整一發射濾波器之一中心頻率;及 重新評估該經調整之基頻信號。 5. 如條項1所述之方法,其中將該調變波形應用至一收發器區塊包含將該調變波形應用至該收發器區塊之一賦能輸入。 6. 如條項1所述之方法,其中該調變波形爲一系列脈衝。 7. 如條項1所述之方法,其中該調變波形爲一實質上方形波。 8. 如條項1所述之方法,其中該調變波形爲一實質上正弦波。 9. 如條項1所述之方法,其中執行該調校、測試及校準中之至少一者包含調整一濾波器之一中心頻率。 10. 如條項1所述之方法,其中執行該調校、測試及校準中之至少一者包含調整一濾波器之一頻寬。 11. 如條項1所述之方法,其中該調校、測試及校準中之至少一者包含調整該收發器區塊之一增益。 12. 如條項11所述之方法,其中該調整該收發器區塊之該增益包含調整該收發器區塊之一電壓、電流、電阻、電容及電感中之至少一者。 13. 如條項11所述之方法,其中調整該收發器區塊之該增益係針對一目標輸出位準執行。 14. 如條項1所述之方法,其中該調校、測試及校準中之至少一者包含調整一電容器值以獲得該收發器區塊之一最大輸出位準。 15. 如條項1所述之方法,其中該調校、測試及校準中之至少一者包含決定一可切換增益區塊之增益值相差預定量。 16. 如條項1所述之方法,其中該調校、測試及校準中之至少一者包含決定該收發器滿足預定規格。 17. 如條項1所述之方法,其中該調校、測試及校準中之至少一者包含在該收發器之設計及製造中之至少一者中識別一故障。 18. 如條項1所述之方法,其中該一個振蕩器爲一電壓控制振蕩器。 19. 如條項1所述之方法,其中對該收發器之該發射器調頻。
100‧‧‧圖
110‧‧‧鎖相迴路/調頻區塊
112‧‧‧TX調變信號/發射資料串流
114‧‧‧電壓控制振蕩器
116‧‧‧射頻驅動信號
120‧‧‧發射緩衝器
130‧‧‧發射濾波器
140‧‧‧功率放大器
150‧‧‧天線開關
200‧‧‧圖
210‧‧‧本地振蕩器信號
215‧‧‧輸出
220‧‧‧接收混頻器
225‧‧‧混頻器中間頻率輸出信號
230‧‧‧低噪音放大器
240‧‧‧天線開關
250‧‧‧中間頻率增益區塊
260‧‧‧基頻濾波器
265‧‧‧基頻信號
270‧‧‧RX數位區塊
300‧‧‧收發器區塊圖/收發器
310‧‧‧射頻信號
320‧‧‧額外振蕩器
400‧‧‧收發器
410‧‧‧OOK控制區塊
420‧‧‧TTC控制器
430‧‧‧精度參考
440‧‧‧TX輸出信號
450‧‧‧調變波形/賦能控制信號
460‧‧‧調幅輸出
470‧‧‧數位輸出
500‧‧‧流程圖
510‧‧‧方塊
520‧‧‧方塊
530‧‧‧方塊
540‧‧‧方塊
550‧‧‧方塊
610‧‧‧方塊
620‧‧‧方塊
630‧‧‧方塊
640‧‧‧方塊
650‧‧‧方塊
110‧‧‧鎖相迴路/調頻區塊
112‧‧‧TX調變信號/發射資料串流
114‧‧‧電壓控制振蕩器
116‧‧‧射頻驅動信號
120‧‧‧發射緩衝器
130‧‧‧發射濾波器
140‧‧‧功率放大器
150‧‧‧天線開關
200‧‧‧圖
210‧‧‧本地振蕩器信號
215‧‧‧輸出
220‧‧‧接收混頻器
225‧‧‧混頻器中間頻率輸出信號
230‧‧‧低噪音放大器
240‧‧‧天線開關
250‧‧‧中間頻率增益區塊
260‧‧‧基頻濾波器
265‧‧‧基頻信號
270‧‧‧RX數位區塊
300‧‧‧收發器區塊圖/收發器
310‧‧‧射頻信號
320‧‧‧額外振蕩器
400‧‧‧收發器
410‧‧‧OOK控制區塊
420‧‧‧TTC控制器
430‧‧‧精度參考
440‧‧‧TX輸出信號
450‧‧‧調變波形/賦能控制信號
460‧‧‧調幅輸出
470‧‧‧數位輸出
500‧‧‧流程圖
510‧‧‧方塊
520‧‧‧方塊
530‧‧‧方塊
540‧‧‧方塊
550‧‧‧方塊
610‧‧‧方塊
620‧‧‧方塊
630‧‧‧方塊
640‧‧‧方塊
650‧‧‧方塊
隨附圖式提供視覺表示,其將用於更全面地描述各種代表性實施例且可由熟習此項技術者所用以更好地理解所揭示的代表性實施例及其固有優點。在此等圖式中,類似的元件符號識別對應元件。
第 1 圖
爲根據各種代表性實施例的說明收發器之發射模式的方塊圖。
第 2 圖
爲根據各種代表性實施例的說明收發器之接收模式的方塊圖。
第 3 圖
爲根據先前技術的說明用於在TTC期間執行信號分析之回送拓撲的方塊圖。
第 4 圖
爲根據各種代表性實施例的說明用於在TTC期間執行信號分析之回送拓撲的方塊圖。
第 5 圖
爲根據各種代表性實施例的說明發射濾波器之調校的流程圖。
第 6 圖
爲根據各種代表性實施例的說明執行收發器之TTC的流程圖。
無
(請換頁單獨記載) 無
100‧‧‧圖
110‧‧‧鎖相迴路/調頻區塊
112‧‧‧TX調變信號/發射資料串流
114‧‧‧電壓控制振蕩器
116‧‧‧射頻驅動信號
120‧‧‧發射緩衝器
130‧‧‧發射濾波器
140‧‧‧功率放大器
150‧‧‧天線開關
Claims (19)
- 一種用於一收發器之回送調校、測試及校準(TTC)之方法,包含以下步驟: 自一個振蕩器向該收發器之一發射器與一接收器兩者供應射頻驅動; 向該收發器之一收發器區塊應用一調變波形以産生一調幅信號; 將該調幅信號之一旁頻帶轉換爲具有適合於由一接收器數位區塊處理之一頻率之一基頻信號,其中處理該基頻信號産生一數位輸出;及 至少部分地基於該數位輸出執行該收發器區塊之調校、測試及校準中之至少一者。
- 如請求項1所述之方法,進一步包含以下步驟: 在供應射頻驅動之步驟之前: 一TTC控制器將該收發器設定爲一TTC模式;及 在應用該調變波形之步驟之前: 該TTC控制器控制一控制器以供應該調變波形。
- 如請求項2所述之方法,其中將該收發器設定爲該TTC模式之步驟包含以下步驟: 藉由將該天線開關之一發射器(TX)埠處之一信號耦合至該天線開關之一接收器(RX)埠來將該收發器之一天線開關置放至回送模式中;及 控制該一個振蕩器以驅動該收發器之一接收器混頻器與一發射緩衝器兩者;及 其中該TTC控制器控制一控制器以供應一調變波形之步驟包含以下步驟: 控制一OOK控制區塊以將該調變波形供應至該發射緩衝器以在一發射濾波器之一所要中心頻率下産生一調變旁頻帶。
- 如請求項2所述之方法,進一步包含以下步驟: 該TTC控制器調整一發射濾波器之一中心頻率;及 重新評估該經調整之基頻信號。
- 如請求項1所述之方法,其中將該調變波形應用至一收發器區塊之步驟包含以下步驟:將該調變波形應用至該收發器區塊之一賦能輸入。
- 如請求項1所述之方法,其中該調變波形爲一系列脈衝。
- 如請求項1所述之方法,其中該調變波形爲一實質上方形波。
- 如請求項1所述之方法,其中該調變波形爲一實質上正弦波。
- 如請求項1所述之方法,其中執行該調校、測試及校準中之至少一者之步驟包含以下步驟:調整一濾波器之一中心頻率。
- 如請求項1所述之方法,其中執行該調校、測試及校準中之至少一者之步驟包含以下步驟:調整一濾波器之一頻寬。
- 如請求項1所述之方法,其中該調校、測試及校準中之至少一者之步驟包含以下步驟:調整該收發器區塊之一增益。
- 如請求項11所述之方法,其中該調整該收發器區塊之該增益之步驟包含以下步驟:調整該收發器區塊之一電壓、電流、電阻、電容及電感中之至少一者。
- 如請求項11所述之方法,其中調整該收發器區塊之該增益之步驟係針對一目標輸出位準執行。
- 如請求項1所述之方法,其中該調校、測試及校準中之至少一者之步驟包含以下步驟:調整一電容器值以獲得該收發器區塊之一最大輸出位準。
- 如請求項1所述之方法,其中該調校、測試及校準中之至少一者之步驟包含以下步驟:決定一可切換增益區塊之增益值相差預定量。
- 如請求項1所述之方法,其中該調校、測試及校準中之至少一者之步驟包含以下步驟:決定該收發器滿足預定規格。
- 如請求項1所述之方法,其中該調校、測試及校準中之至少一者之步驟包含以下步驟:在該收發器之設計及製造中之至少一者中識別一故障。
- 如請求項1所述之方法,其中該一個振蕩器爲一電壓控制振蕩器。
- 如請求項1所述之方法,其中對該收發器之該發射器調頻。
Applications Claiming Priority (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201562187629P | 2015-07-01 | 2015-07-01 | |
US62/187,629 | 2015-07-01 | ||
US201562190168P | 2015-07-08 | 2015-07-08 | |
US62/190,168 | 2015-07-08 | ||
US15/007,915 US9794007B2 (en) | 2015-07-01 | 2016-01-27 | Single RF oscillator technique for built-in tune, test, and calibration of a transceiver |
US15/007,915 | 2016-01-27 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW201703447A true TW201703447A (zh) | 2017-01-16 |
TWI695593B TWI695593B (zh) | 2020-06-01 |
Family
ID=57684259
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW105117231A TWI695593B (zh) | 2015-07-01 | 2016-06-01 | 用於收發器的內建調校、測試及校準的射頻振盪器技術 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US9794007B2 (zh) |
KR (1) | KR102449329B1 (zh) |
CN (1) | CN106330351B (zh) |
SG (1) | SG10201603907WA (zh) |
TW (1) | TWI695593B (zh) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3045940A1 (en) * | 2014-12-31 | 2016-07-20 | Essilor International (Compagnie Generale D'optique) | Ophthalmic lens comprising an anti-reflective coating designed for scotopic conditions |
US11695439B2 (en) * | 2020-10-30 | 2023-07-04 | Mediatek Inc. | Semiconductor chip with local oscillator buffer reused for signal transmission and associated transmission method |
US11601147B2 (en) * | 2020-10-30 | 2023-03-07 | Mediatek Inc. | Semiconductor chip with local oscillator buffer reused for loop-back test and associated loop-back test method |
US20230188093A1 (en) * | 2021-12-15 | 2023-06-15 | Texas Instruments Incorporated | Oscillator frequency accuracy and amplitude control |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7363563B1 (en) * | 2003-12-05 | 2008-04-22 | Pmc-Sierra, Inc. | Systems and methods for a built in test circuit for asynchronous testing of high-speed transceivers |
US20050148304A1 (en) * | 2003-12-24 | 2005-07-07 | Fodus Communications, Inc. | Calibration method for the correction of in-phase quadrature signal mismatch in a radio frequency transceiver |
US7778610B2 (en) * | 2006-08-29 | 2010-08-17 | Texas Instruments Incorporated | Local oscillator with non-harmonic ratio between oscillator and RF frequencies using XOR operation with jitter estimation and correction |
US8351874B2 (en) * | 2008-04-08 | 2013-01-08 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) | System and method for adaptive antenna impedance matching |
US8135055B2 (en) * | 2008-07-30 | 2012-03-13 | Qualcomm Incorporated | I/Q calibration of transmit and receive paths in OFDM FDD communication systems |
US8130046B2 (en) * | 2009-03-19 | 2012-03-06 | Qualcomm Incorporated | Frequency calibration of radio frequency oscillators |
US20100279617A1 (en) * | 2009-04-30 | 2010-11-04 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Methods and Apparatus for Reducing Receive Band Noise in Communications Transceivers |
US8699972B2 (en) * | 2011-11-15 | 2014-04-15 | Qualcomm Incorporated | Transmit power calibration in a communication system |
CN102594345B (zh) * | 2012-02-21 | 2014-04-09 | 无锡泽太微电子有限公司 | 一种基于芯片的数据发送方法及系统 |
US9176188B2 (en) * | 2013-12-20 | 2015-11-03 | Texas Instruments Incorporated | Waveform calibration using built in self test mechanism |
US9628203B2 (en) * | 2014-03-04 | 2017-04-18 | Qualcomm Incorporated | Analog built-in self test transceiver |
-
2016
- 2016-01-27 US US15/007,915 patent/US9794007B2/en active Active
- 2016-05-16 SG SG10201603907WA patent/SG10201603907WA/en unknown
- 2016-06-01 TW TW105117231A patent/TWI695593B/zh active
- 2016-06-10 KR KR1020160072264A patent/KR102449329B1/ko active IP Right Grant
- 2016-06-30 CN CN201610509710.6A patent/CN106330351B/zh active Active
-
2017
- 2017-09-13 US US15/702,927 patent/US10056989B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20170005738A1 (en) | 2017-01-05 |
CN106330351A (zh) | 2017-01-11 |
TWI695593B (zh) | 2020-06-01 |
KR102449329B1 (ko) | 2022-09-30 |
SG10201603907WA (en) | 2017-02-27 |
KR20170004852A (ko) | 2017-01-11 |
US9794007B2 (en) | 2017-10-17 |
CN106330351B (zh) | 2022-11-01 |
US20180006738A1 (en) | 2018-01-04 |
US10056989B2 (en) | 2018-08-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10056989B2 (en) | Single RF oscillator technique for built-in tune, test, and calibration of a transceiver | |
MXPA04008636A (es) | Tecnicas de calibracion para sintetizadores de frecuencia. | |
US10756881B2 (en) | Method and system for operating a communications device that communicates via inductive coupling | |
US8836434B2 (en) | Method and system for calibrating a frequency synthesizer | |
CN110808724A (zh) | 一种阻抗匹配装置及方法 | |
JP2013031189A (ja) | 制御整合ステージを備える装置 | |
US9806771B1 (en) | Method and system for high resolution tuning of the phase for active load modulation in a NFC system | |
US10129059B2 (en) | Low latency multi-amplitude modulation receiver | |
GB2459733A (en) | Determining the frequency of a first oscillator with reference to a second oscillator during execution of boot code | |
US10088379B2 (en) | Data transmitting device capable of configuring different operating frequencies for use by tire pressure monitoring detector | |
KR102481207B1 (ko) | 듀얼 포트 주파수 변조 트림 | |
CN104200630A (zh) | 一种无需外部晶体且免调试的射频发射和接收集成电路 | |
US8238859B2 (en) | Radio receiver | |
US8559904B2 (en) | System and method for duty cycle control of a crystal oscillator | |
US9831960B2 (en) | Systems and methods for reducing transmission interference | |
US9263990B2 (en) | Impedance transformer for use with a quadrature passive CMOS mixer | |
US20080090542A1 (en) | Method for interference-free frequency change in a receiving system with a plurality of parallel operated recevers | |
US8731025B2 (en) | Offset phase-locked loop transmitter and method thereof | |
US9438290B2 (en) | Receiver having a calibration source | |
US7546100B2 (en) | System for generating amplitude matched 45 degree phase separated local oscillator signals | |
WO2023275200A1 (en) | Estimation of the cut-off frequency of an electronic filter | |
GB2394372A (en) | Frequency generation in a wireless communication unit | |
CN204667607U (zh) | 一种无需外部晶体且免调试的射频发射和接收集成电路 | |
GB2557639A (en) | Radio receiver circuits and methods of receiving a radio signal |