TW201701661A - 測試系統及測試方法 - Google Patents

Abstract

一種測試系統，包含一顯示面板及一底層平台。顯示面板用以提供多個顯示區域，顯示區域分別顯示對應相異測試項目的多個測試影像。底層平台用以同時承載多個待測影像模組，並使得待測影像模組之鏡頭朝向顯示面板，待測影像模組各自拍攝測試影像其中一者。

Description

測試系統及測試方法

本案涉及一種測試系統及測試方法。具體而言，本案涉及一種可提供多個顯示區域之測試系統及測試方法。

目前業界的自動測試機台設計理念為，將原本人工進行的測試項目，整合至單一機台內進行連續測試，依照運作原理，大致可分為兩種測試方法：一種測試方法為固定待測試模組，藉由移動測試設備的方式，將測試設備移動到不同待測試模組的放置位置，以對待測試模組進行不同項目的測試；另一種方式為固定測試設備，藉由移動待測試模組的方式，將待測試模組移動到對應測試項目的測試設備下進行測試。

然而，無論採上述何種方式，對於待測試模組因製程公差與治具公差，或是因測試時擺放位置的位移所產生的最終成像偏移，需透過校正機構進行補償，才能得到正確的測試結果，測試之前也須透過人工進行待測試模組的取放，而造成人力資源不必要的耗費。此外，傳統的測試機台 也有著設計過於複雜，而導致設備成本過高的情況。

如此一來，如何有效地校正待測試模組因製程公差與治具公差，或是因測試時擺放位置的位移所產生的最終成像偏移，以取得正確的測試結果，並避免測試機台的機構設計複雜，而導致設備成本過高，則成為業界急待解決的問題。

本案的一實施態樣涉及一測試系統。根據本案一實施例，測試系統包括一顯示面板及一底層平台。顯示面板用以提供多個顯示區域，顯示區域分別顯示對應相異測試項目的多個測試影像。底層平台用以同時承載多個待測影像模組，並使得待測影像模組之鏡頭朝向顯示面板，待測影像模組各自拍攝測試影像其中一者。

本案的另一實施態樣涉及一種測試方法。根據本案一實施例，測試方法包含：提供複數個顯示區域，些顯示區域分別顯示對應相異測試項目的多個測試影像；以及同時承載多個待測影像模組於一底層平台，並使得待測影像模組之鏡頭朝向顯示面板，待測影像模組各自拍攝測試影像其中一者。

透過應用上述一實施例，即可有效地校正待測試模組因製程公差與治具公差，或是因測試時擺放位置的位移所產生的最終成像偏移，以取得正確的測試結果，並避免測試機台的機構設計複雜，而導致設備成本過高。

200‧‧‧測試部件區

100、400‧‧‧測試系統

10‧‧‧顯示面板

11‧‧‧第一顯示區域

12‧‧‧第二顯示區域

13‧‧‧第三顯示區域

14‧‧‧黑卡

50‧‧‧運算單元

40‧‧‧控制單元

60‧‧‧測試機台顯示單元

30‧‧‧測試箱

20‧‧‧底層平台

A~D‧‧‧影像模組放置區

E‧‧‧走線區

81~85‧‧‧定位點

X1、X2、Y1、Y2‧‧‧連線

601~608、701~706‧‧‧步驟

第1圖為根據本案一實施例所繪示的測試系統的示意圖；第2圖為根據本案一實施例所繪示的測試部件區的示意圖；第3A~3B圖為根據本案一實施例所繪示的旋轉平台的俯視圖；第4圖為根據本案一實施例所繪示的測試系統的示意圖；第5圖為根據本案一實施例所繪示的定位點示意圖；第6圖為根據本案一實施例所繪示的測試方法的流程圖；第7圖為根據本案一實施例所繪示的校正方法的流程圖；第8圖為根據本案一實施例所繪示的應用定位點以實施校正方法的示意圖；第9圖為根據本案一實施例所繪示的測試方法的流程圖。

以下將以圖式及詳細敘述清楚說明本揭示內容之精神，任何所屬技術領域中具有通常知識者在瞭解本揭示 內容之實施例後，當可由本揭示內容所教示之技術，加以改變及修飾，其並不脫離本揭示內容之精神與範圍。

關於本文中所使用之『第一』、『第二』、...等，並非特別指稱次序或順位的意思，亦非用以限定本發明，其僅為了區別以相同技術用語描述的元件或操作。

關於本文中所使用之『包含』、『包括』、『具有』、『含有』等等，均為開放性的用語，即意指包含但不限於。

同時參照第1圖及第2圖。第1圖為根據本案一實施例所繪示的測試系統100的示意圖。第2圖為根據本案一實施例所繪示的測試部件區200的示意圖。於第1圖中，測試系統100包括一顯示面板10及一底層平台20。於一實施例中，顯示面板10包含於測試部件區200中，測試部件區200及底層平台20置於測試箱30中。

如第2圖所示，顯示面板10用以提供多個顯示區域。舉例而言，顯示面板10為一液晶顯示面板，並透過一顯示面顯示一影像畫面，且所述多個顯示區域包含於顯示面板10的所述顯示面。於此實施例中，顯示面板10上共提供三個不同的顯示區域11~13。這些顯示區域11~13分別位於顯示面板10上不同位置並且分別顯示對應相異測試項目的多個測試影像。於一實施例中，上述的多個測試影像可以分別為解析圖/定位圖、彩黑點測試圖、白平衡測試圖或是其他具相等性的光學測試用圖樣(如灰階漸層圖、色域圖、色溫分佈圖等)。舉例來說，位於顯示面板10上方的顯示區 域11可以顯示解析圖及定位圖，位於顯示面板10左下方的顯示區域12可以顯示彩黑點測試圖，位於顯示面板10右下方的顯示區域13可以顯示白平衡測試圖。

底層平台20用以同時承載多個待測影像模組，底層平台20上具有多個影像模組放置區(於此實施例中為四個)並使得底層平台20上的多個待測影像模組之鏡頭均朝向顯示面板10的所述顯示面，其中所述多個待測影像模組的位置分別對應到顯示面板10上不同的顯示區域，藉此，所述多個待測影像模組能夠同時各自拍攝測試影像其中一者。

舉例而言，當底層平台20承載三個待測影像模組時，此三個待測影像模組分別為第一待測影像模組、第二待測影像模組、第三待測影像模組。第一待測影像模組之鏡頭可用以拍攝顯示區域11所顯示的測試影像，顯示區域11所顯示的測試影像例如為一解析圖及一定位圖。於另一實施例中，顯示區域11所顯示的測試影像可為一具有定位功能的解析圖，例如包含有複數個定位點的解析圖，此實施例將於下述對應於第9圖的說明書段落詳述之。藉由拍攝解析圖及一定位圖，可取得此第一待測影像模組拍攝結果的成像位置，以判斷第一待測影像模組是否具有製程公差、治具公差，或是因測試時擺放位置的位移所產生的成像偏移；同時，第二待測影像模組之鏡頭可用以拍攝顯示區域12所顯示的測試影像，其中顯示區域12所顯示的測試影像例如為一白平衡測試圖，藉由拍攝白平衡測試圖，可測試此第二待 測影像模組對於動態色溫純色畫面的拍攝效果；同時，第三待測影像模組之鏡頭可用以拍攝顯示區域13所顯示的測試影像，其中顯示區域13所顯示的測試影像例如為一彩黑點測試圖，藉由拍攝彩黑點測試圖，可測試此第三待測影像模組對於標準純色畫面的拍攝效果。

因此，藉由顯示區域11~13分別顯示對應不同測試項目的多個測試影像，可讓多個待測影像模組各自拍攝該些測試影像其中一者，以達到在同一時間各自針對不同的測試項目進行測試之效果，也解決了傳統上需要準備多個測試箱分別設置不同測試影像，再一一進行拍攝，導致測試時間較長且所需空間較大的缺點。

此外，於另一實施例中，測試部件區200更包含一黑卡14。舉例而言，當底層平台20承載兩個待測影像模組時，一待測影像模組之鏡頭可用以拍攝顯示區域12所顯示的測試影像，其中顯示區域12所顯示的測試影像例如為一白平衡測試圖，藉由拍攝白平衡測試圖，可測試此待測影像模組對於動態色溫純色畫面的拍攝效果；於同一時間，另一待測影像模組之鏡頭可用以拍攝黑卡14(例如顏色為全黑的紙卡，或是其他黑色的物體)，藉由拍攝黑卡14可測試此另一待測影像模組對於全遮黑畫面的拍攝效果。

實際上，目前的顯示技術中，採用顯示面板10來顯示全黑畫面通常還是會有一定程度的漏光(例如液晶螢幕的全黑畫面將仍有一定亮度，而非全黑無亮度的畫面)，將可能導致測試誤差，且無端浪費顯示面板10的電能。於 此實施例中，在測試部件區200中整合設置實體的黑卡14來進行全遮黑畫面的測試，可以節省電能並達到較好的測試效果。但本揭示文件並不以包含黑卡為限，另一實施例中，亦可利用顯示面板10顯示全黑畫面來取代黑卡。

請參照第3A~3B圖，第3A~3B圖分別為根據本案一實施例所繪示的旋轉平台的俯視圖。於此實施例中，底層平台可以為一旋轉平台20，旋轉平台20包含影像模組放置區A~D，用以分別承載多個待測影像模組。旋轉平台20藉由旋轉方式將多個待測影像模組旋轉到不同的位置，以各自對應拍攝不同顯示區域11~13的測試影像。其中，旋轉平台20可藉由自動或手動方式旋轉。於此實施例中，旋轉平台20同時可容納並承載四個待測影像模組，但本揭示文件並不以此為限。於一實施例中，影像模組放置區A~D分別排列於旋轉平台20之平面上的上、下、左、右四個方位，藉此影像模組放置區A~D其中之至少三個影像模組放置區可分別與顯示區域11~13對應，例如但不限於第2~3A圖中，影像模組放置區D對應至顯示區域12，影像模組放置區A對應至顯示區域11，影像模組放置區B對應至顯示區域13，於此例中，可使放置於影像模組放置區域D、B及A的影像模組分別拍攝到顯示區域12、顯示區域11及顯示區域13之測試影像。

於另一例子中，如第3A圖所示，旋轉平台20的影像模組放置區D可用以放置第一待測影像模組，第一待測影像模組用以拍攝顯示區域12所顯示的測試影像，影像 模組放置區A可放置第二待測影像模組，第二待測影像模組用以拍攝顯示區域11所顯示的測試影像，當第一待測影像模組拍攝完顯示區域12所顯示的測試影像且第二待測影像模組拍攝完顯示區域11所顯示的測試影像之後，旋轉平台20可相對於顯示面板10以旋轉(例如：往順時鐘方向轉動90度)到一特定位置，如第3B圖所示，使第一待測影像模組被轉動到得以拍攝到顯示區域11所顯示的測試影像的位置(例如：使第一待測影像模組位於顯示區域11的正下方)，且同時使第二待測影像模組被轉動到得以拍攝到顯示區域13所顯示的測試影像的位置(例如：使第二待測影像模組位於顯示區域13的正下方)，以進行下一輪拍攝。

於另一實施例中，旋轉平台20具有四個特定位置，例如第3A圖所示旋轉平台20之特定位置、將第3A圖所示旋轉平台20往右旋轉90度之特定位置(如第3B圖所示)、將第3A圖所示旋轉平台20往右旋轉180度之特定位置以及將第3A圖所示旋轉平台20往右旋轉270度之特定位置等四個位置；當旋轉平台20旋轉至各個特定位置時，影像模組放置區A~D會各自依次對應到顯示區域11~13和一取放區其中一者。藉此。當待測影像模組被轉動至該取放區的位置時，此待測影像模組沒有與任何顯示區域對準，並且使得此待測影像模組容易自旋轉平台被取下和/或被另一個尚未經測試的待測影像模組交替放置。

因此，藉由旋轉平台20的轉動，可讓多個待測影像模組移動到對應尚未拍攝之測項的顯示區域位置，以使 待測影像模組各自針對尚未拍攝之測試影像進行拍攝。

於另一實施例中，測試系統100更包含一控制單元(未繪示)，且多個待測影像模組中具有第一待測影像模組、第二待測影像模組、第三待測影像模組；顯示區域包含第一顯示區域11、第二顯示區域12、第三顯示區域13；如第3A圖所示，當控制單元控制旋轉平台20旋轉至一第一特定位置時，第一待測影像模組拍攝第一顯示區域11之至少一測試影像以取得一第一影像資料，第二待測影像模組拍攝第二顯示區域12之至少一測試影像以取得一第二影像資料，及第三待測影像模組13拍攝第三顯示區域之至少一測試影像以取得一第三影像資料；接著，控制單元控制旋轉平台20旋轉至一第二特定位置，如第3B圖所示。於控制單元控制旋轉平台20旋轉至第二特定位置後，第一待測影像模組拍攝第二顯示區域12之至少一測試影像，第二待測影像模組拍攝第三顯示區域13之至少一測試影像。於一實施例中，於控制單元控制旋轉平台20旋轉至第二特定位置後，第三待測影像模組用以拍攝第一顯示區域11之至少一測試影像。

然，本發明之實施方式並不限於放置三個待測影像模組於旋轉平台20上，顯示面板10所提供的顯示區域的數量也不限於三個；應可理解的，本案發明可放置多個待測影像模組於旋轉平台20，顯示面板10可提供多個顯示區域，且透過控制旋轉平台20與顯示面板10的相對轉動，可使多個待測影像模組移動至得以拍攝到對應顯示區域的位 置，藉此在同一時間使多個待測影像模組各自拍攝不同測試項目，並於拍攝完當前測試項目後，經由旋轉平台20的轉動，以移動各待測影像模組至各自對應的下一個欲測項目之顯示區域下方，以拍攝下一個測試項目之測試影像。

需注意的是，於第3A~3B圖中，旋轉平台20為設計為圓形平台但並不限於此，於實際實施時，可以視情況將旋轉平台20設計為橢圓形平台、方形平台或其他形狀之平台。此外，於一實施例中，旋轉平台20將各個待測影像模組的走線集中放置於走線區E，以避免多條走線影響到旋轉平台20的可旋轉性。另外，於一實施例中，旋轉平台20可藉由自動或手動地旋轉任一角度至一特定位置。

接著，請一併參閱第4~6圖。第4圖為根據本案一實施例所繪示的測試系統的示意圖。第5圖為根據本案一實施例所繪示的定位點示意圖。第6圖為根據本案一實施例所繪示的測試方法的流程圖。於本實施例中，測試系統400可依據各待測影像模組拍攝的影像資料以產生測試結果，並校正解析圖的顯示位置。其中，測試系統400之測試部件區200、顯示面板10、底層平台20、測試箱30皆與上述實施例相似，故此處不贅述之。以下詳述測試系統400的具體實施方式。

測試系統400包含一控制單元40、一運算單元50、一測試機台顯示單元60，且顯示面板10包含一第一顯示區域11(如第2圖所示)，多個待測影像模組包含一第一待測影像模組。

於一實施例中，控制單元40、運算單元50、測試機台顯示單元60可以分別置於測試箱30內、整併為放置於測試箱30內的單一裝置，或是整併為與測試箱30分開的單一裝置，且控制單元40、運算單元50、測試機台顯示單元60可藉由有線或無線傳輸方式與顯示面板10及各待測影像模組連接。其中，控制單元40與運算單元50可以分別或整合為體積電路，如微控制單元(microcontroller)、微處理器(microprocessor)、數位訊號處理器(digital signal processor)、特殊應用積體電路(application specific integrated circuit，ASIC)或一邏輯電路來實施。測試機台顯示單元60可以由一顯示器來實施。

於步驟601，放置第一待測影像模組於底層平台20上。於一實施例中，可藉由使用者手動或經由測試系統400自動地放置多個待測影像模組於底層平台20上。

於步驟602，顯示面板10於第一顯示區域11顯示定位圖。舉例而言，如第5圖所示，第一顯示區域11顯示之定位圖可包含複數個定位點81~85，藉由各個定位點81~85之間的相對關係及各自的座標位置，可將測試影像作精準定位。於另一實施例中，步驟602的次序也可以在步驟601之前；或者，另一實施例中，步驟602的次序也可以在步驟603之後和步驟604之前。

於步驟603，控制單元40控制底層平台20旋轉至一第一特定位置，使第一待測影像模組與第一顯示區域11對準。於一實施例中，第一顯示區域11顯示定位圖及解 析圖。於另一實施例中，底層平台20可承載多個待測影像模組，此些待測影像模組至少包含第一待測影像模組、第二待測影像模組、第三待測影像模組，藉由底層平台20旋轉至第一特定位置後，此些待測影像模組之位置可各自對應至顯示區域11~13，以利於各自拍攝顯示區域11~13所顯示的測試影像。

於步驟604，第一待測影像模組拍攝定位圖。於一實施例中，底層平台20除第一待測影像模組之外，可進一步至少承載第二待測影像模組及第三待測影像模組，其中，第一待測影像模組用以拍攝顯示區域11所顯示的定位圖及解析圖，第二待測影像模組用以拍攝顯示區域12所顯示的白平衡測試圖，第三待測影像模組用以拍攝顯示區域13所顯示的彩黑點測試圖。此外，於一實施例中，解析圖可以是一格紋圖(SFR)、網柵圖(MTF)、星狀圖(Star Chart)、或掃描線(TV line)解析圖，但不以此為限。

於步驟605，運算單元50依據第一待測影像模組所拍攝之定位圖中的多個定位點之座標以計算一校正參數，並依據該校正參數以補償一解析圖。

舉例而言，請參照第7~8圖。第7圖為根據本案一實施例的校正方法的流程圖。第8圖為根據本案一實施例的應用定位點以實施校正方法的示意圖。於一實施例中，步驟605所述的解析圖補償方法更包含以下步驟：於步驟701中，當第一待測影像模組拍攝第一顯示區域11之定位圖以取得一第一影像資料後，運算單元 50用以計算第一影像資料中之多個定位點之座標。舉例而言，如第8圖所示，運算單元50用以計算第一影像資料中之定位點81~84之座標。

於步驟702中，運算單元50利用第一影像資料中的定位點之座標以計算第一影像資料中的定位點之間的至少一距離與至少一夾角，並藉由至少一距離與至少一夾角以計算出第一影像資料的一成像旋轉角度、一成像傾斜度及成像位移量。

舉例而言，運算單元50計算第一影像資料中的定位點81與定位點83之間的距離、定位點82與定位點84之間的距離、定位點81與定位點82之間的距離、定位點83與定位點84之間的距離、定位點81與83之連線X1與定位點81及82之連線Y1所構成的夾角、定位點81及82之連線Y1與定位點81及84之連線(未繪示)所構成的夾角，並藉由此些資訊以計算出第一影像資料的一成像旋轉角度及一成像傾斜度。

於一實施例中，運算單元50藉由判斷連線X1及連線X2是否平行，以用於座標y軸的傾斜校正，藉由判斷連線Y1及連線Y2是否平行，以用於座標x軸的傾斜校正。此外，於一實施例中，定位點85用於平移校正，藉由定位點85的位置以判斷是否須將整體影像進行平移。於一實施例中，可利用判斷兩斜對角定位點81及82連線之斜率，以進行旋轉校正。因此，藉由定位點81~85之間至少一距離與至少一夾角，可計算出第一影像資料的成像旋轉角度及成像 傾斜度。

於步驟703中，運算單元50藉由成像旋轉角度、成像傾斜度及成像位移量計算出一校正參數，並依據校正參數以校正第一影像資料中的定位點的顯示位置。於一實施例中，運算單元50藉由成像旋轉角度、成像傾斜度及成像位移量計算出校正參數為往右平移5個像素，則將第一影像資料中的定位點的顯示位置往右平移5個像素。

於步驟704中，運算單元50判斷校正後定位點的顯示位置與一預先決定的顯示位置之差異是否小於一門檻值；若是，則表示於藉由上述校正方法已讓校正後定位點的顯示位置可被接受，進入步驟705；若否，則回到步驟701，使運算單元50再次進行校正。

於一實施例中，若門檻值為校正後定位點的顯示位置相對於預先決定的顯示位置之差異不能超過5個像素，當運算單元50判斷校正後定位點的顯示位置相對於預先決定的顯示位置為偏左10個像素時，則表示定位點的顯示位置仍需再次校正，故回到步驟701，計算當前定位點之座標。

於另一實施例中，若門檻值為校正後定位點的顯示位置相對於預先決定的顯示位置之旋轉角度不能超過10度，當運算單元50判斷校正後定位點的顯示位置相對於預先決定的顯示位置為旋轉角度偏移15度時，則表示定位點的顯示位置仍需再次校正，故回到步驟701，計算當前定位點之座標。

又於另一實施例中，若門檻值為校正後定位點的顯示位置相對於預先決定的顯示位置之差異不能超過5個像素，當運算單元50判斷校正後定位點的顯示位置相對於預先決定的顯示位置為偏左3個像素時，則表示校正後定位點的顯示位置可被接受，進入步驟705。

於步驟705中，儲存校正參數，並依據校正參數以校正第一影像資料中的解析圖的顯示位置。舉例而言，若校正參數為往右平移5個像素，則將解析圖的顯示位置往右平移5個像素。藉此，運算單元50可依據成像旋轉角度、成像傾斜度及成像位移量計算出一校正參數，並依據校正參數以調整解析圖的水平位移或垂直位移等。於另一實施例中，校正時，除了依據校正參數以選擇性地調整解析圖的水平位移或垂直位移之外，可進一步選擇性地調整解析圖的旋轉角度或傾斜角度，使得校正結果更為準確。

於步驟706中，輸出校正後之解析圖。

接著，回到第6圖之步驟606，顯示面板10於第一顯示區域11顯示解析圖。

於步驟607，第一待測影像模組拍攝解析圖。於此步驟中，第一待測影像模組係拍攝已完成校正之解析圖，因此可以使測試結果更為精準。

於步驟608，測試機台顯示單元60顯示拍攝之解析圖及測試結果。

接著，請一併參照第2、3A~3B、8圖及第9圖。第9圖為根據本案一實施例所繪示的測試方法的流程圖。於 本實施例中，顯示區域11所顯示的測試影像可為一具有定位功能的解析圖，例如包含有複數個定位點的解析圖，以下詳述本實施例之測試方法步驟。

於步驟901中，將多個待測模組放置於旋轉平台上。於一實施例中，此些待測模組中包含一第一待測模組。此外，此步驟已於前文中詳述，故此處不贅述之。

於步驟902中，於顯示面板10的第一顯示區域11顯示具有定位功能的解析圖。於一實施例中，具有定位功能的解析圖可以為一包含多個定位點之解析圖。

於步驟903中，控制單元40控制旋轉平台20旋轉至特定位置，使待測模組中的第一待測模組與第一顯示區域對準。例如，於第3A~3B圖中，控制單元40控制旋轉平台20由原先的位置(如第3A圖所示)向右旋轉90度，以旋轉至特定位置(如第3B圖所示)。

於步驟904中，拍攝具有定位功能的解析圖以取得影像資料。舉例而言，放置於旋轉平台20上的多個待測模組中具有第一待測模組，此第一待測模組被旋轉至對應此具有定位功能的解析圖的位置後，可拍攝此具有定位功能的解析圖。

於步驟905中，運算單元50依據所拍攝之具有定位功能的解析圖中的定位點以判斷具有定位功能的解析圖是否需要校正。若需要校正則進入步驟906，若無需校正，則進入步驟911。

於一實施例中，運算單元50係計算具有定位功 能的解析圖中的定位點的顯示位置與預先決定的顯示位置之差異是否小於門檻值，以判斷具有定位功能的解析圖是否需要校正，例如，運算單元50計算具有定位功能的解析圖中的定位點的顯示位置與預先決定的顯示位置之差異為5個像素，此差異小於門檻值(例如為兩者相差不得高於10像素)，則判斷此具有定位功能的解析圖無需校正，則進入步驟911；相反地，若運算單元50計算具有定位功能的解析圖中的定位點的顯示位置與預先決定的顯示位置之差異為200個像素，此差異小於門檻值(例如為兩者相差不得高於10像素)，則判斷此具有定位功能的解析圖需要校正，則進入步驟906。

於步驟906中，運算單元50計算定位點座標。舉例而言，如第8圖所示，運算單元50用以計算影像資料中之定位點81~84之座標。

於步驟907中，運算單元50利用定位點座標以計算所述影像資料的成像旋轉角度、傾斜角度、位移量。此步驟所採用的技術手段與前述步驟702相似，故此處不贅述之。

於步驟908中，藉由成像旋轉角度、傾斜角度、位移量計算出校正參數，並依據校正參數以校正定位點的顯示位置。此步驟所採用的技術手段與前述步驟703相似，故此處不贅述之。

於步驟909中，判斷校正後定位點的顯示位置與預先決定的顯示位置之差異是否小於門檻值。若判斷校正 後定位點的顯示位置與預先決定的顯示位置之差異小於門檻值，則進入步驟910；若判斷校正後定位點的顯示位置與預先決定的顯示位置之差異不小於門檻值，則進入步驟906。此外，此步驟所採用的技術手段與前述步驟702相似，故此處不贅述之。

於步驟910中，儲存校正參數後同時拍攝此具有定位功能的解析圖。於此步驟中，第一待測影像模組係拍攝已完成校正之解析圖，因此可以使測試結果更為精準。

於步驟911中，顯示拍攝之具有定位功能的解析圖及測試結果。

藉由本案上述之測試系統及測試方法，可以自動化地使多個待測模組針對不同的測試項目同時進行測試，並藉由校正方法使測試系統有效地校正因待測試模組製程公差與治具公差，或是因測試時擺放位置的位移所產生的最終成像偏移，以達到取得正確且精準的測試結果之效果。

雖然本發明已以實施方式揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

200‧‧‧測試部件區

10‧‧‧顯示面板

11‧‧‧第一顯示區域

12‧‧‧第二顯示區域

13‧‧‧第三顯示區域

14‧‧‧黑卡

Claims (22)

1. 一種測試系統，包含：一顯示面板，用以提供複數個顯示區域，該些顯示區域分別顯示對應相異測試項目的複數個測試影像；以及一底層平台，用以同時承載複數個待測影像模組，並使得該些待測影像模組之鏡頭朝向該顯示面板，該些待測影像模組各自拍攝該些測試影像其中一者。
2. 如申請專利範圍第1項所述之測試系統，其中，該底層平台係為一旋轉平台，該旋轉平台包含：複數個影像模組放置區，用以承載該些待測影像模組；其中該些影像待測模組分別排列於該旋轉平台之平面上的上、下、左、右四個方位。
3. 如申請專利範圍第2項所述之測試系統，該旋轉平台更包含：一取放區，當該些待測影像模組其中之一待測影像模組被轉動至該取放區的位置時，該些待測影像模組其中之該待測影像模組沒有與任何顯示區域對準，且被轉動至該取放區的該些待測影像模組其中之該待測影像模組可選擇性地自該旋轉平台被取下或被尚未經測試的另一待測影像模組交替放置。
4. 如申請專利範圍第2項所述之測試系統， 更包含一控制單元，且該些待測影像模組中具有一第一待測影像模組、一第二待測影像模組、一第三待測影像模組；該些顯示區域包含一第一顯示區域、一第二顯示區域、一第二顯示區域；該旋轉平台相對於該顯示面板選擇性地旋轉至一第一特定位置及一第二特定位置；當該旋轉平台相對於該顯示面板旋轉至該第一特定位置時，該第一待測影像模組拍攝該第一顯示區域之該測試影像以取得一第一影像資料，該第二待測影像模組拍攝該第二顯示區域之該測試影像以取得一第二影像資料，及該第三待測影像模組拍攝該第三顯示區域之該測試影像以取得一第三影像資料。
5. 如申請專利範圍第4項所述之測試系統，其中，於該控制單元控制該旋轉平台旋轉至該第二特定位置後，該第一待測影像模組拍攝該第二顯示區域之該測試影像，該第二待測影像模組拍攝該第三顯示區域之該測試影像。
6. 如申請專利範圍第1項所述之測試系統，其中，該顯示面板所提供的該些顯示區域包含：一第一顯示區域，用以顯示一解析圖及一定位圖，且該定位圖包含複數個定位點；一第二顯示區域，用以顯示一彩黑點測試圖； 一第三顯示區域，用以顯示一白平衡測試圖。
7. 如申請專利範圍第6項所述之測試系統，更包含：一運算單元，當該些待測影像模組的一第一待測影像模組拍攝該第一顯示區域之該定位圖以取得一第一影像資料後，該運算單元用以計算該第一影像資料中之該些定位點之座標，利用該第一影像資料中的該些定位點之座標以計算該第一影像資料中的該些定位點之間的至少一距離與至少一夾角；以及該運算單元藉由該至少一距離與該至少一夾角以計算出該第一影像資料的一成像旋轉角度、一成像傾斜度及一成像位移量，並藉由該成像旋轉角度、該成像傾斜度及該成像位移量計算出一校正參數，並依據該校正參數以校正該些定位點的顯示位置。
8. 如申請專利範圍第7項所述之測試系統，其中該運算單元依據該成像旋轉角度、該成像傾斜度及該位移量計算出一校正參數，並依據該校正參數以選擇性地調整該解析圖的水平位移、垂直位移、旋轉角度或傾斜角度。
9. 如申請專利範圍第1項所述之測試系統，其中該些顯示區域包含於一測試部件區，該測試部件區包 含一黑卡。
10. 如申請專利範圍第1項所述之測試系統，更包含一控制單元、一運算單元、一測試機台顯示單元，該顯示面板包含一第一顯示區域，該些待測影像模組包含一第一待測影像模組，其中：該顯示面板於該第一顯示區域顯示一定位圖；該控制單元控制該底層平台旋轉至一第一特定位置，該第一特定位置使該第一待測影像模組與該第一顯示區域對準；該第一待測影像模組拍攝該定位圖；該運算單元依據該定位圖之複數個定位點之座標以計算一校正參數，並依據該校正參數以補償一解析圖；該顯示面板於該第一顯示區域顯示該解析圖；該第一待測影像模組拍攝該解析圖；該測試機台顯示單元顯示該第一待測影像模組所拍攝之該解析圖及一測試結果。
11. 如申請專利範圍第1項所述之測試系統，更包含一控制單元、一運算單元、一測試機台顯示單元，該顯示面板包含一第一顯示區域，該些待測影像模組包含一第一待測影像模組，該底層平台係為一旋轉平台，且該第一待測影像模組放置於該旋轉平台上，其中：該顯示面板的該第一顯示區域顯示一具有定位功能 的解析圖；該控制單元控制該旋轉平台旋轉至一特定位置，使該第一待測影像模組與該第一顯示區域對準；該第一待測影像模組拍攝該具有定位功能的解析圖以取得一影像資料；該運算單元依據所拍攝之該具有定位功能的解析圖中的複數個定位點以判斷該具有定位功能的解析圖是否需要校正；若該運算單元判斷該具有定位功能的解析圖需要校正，則計算該影像資料中之一定位點座標，利用該定位點座標以計算該影像資料的一成像旋轉角度、一傾斜角度及一位移量，並藉由該成像旋轉角度、該傾斜角度、該位移量計算出一校正參數，並依據該校正參數以校正該些定位點的顯示位置；以及該運算單元判斷該些校正後之定位點的顯示位置與一預先決定的顯示位置之差異是否小於一門檻值，若該運算單元判斷該些校正後之定位點的顯示位置與該預先決定的顯示位置之差異小於該門檻值，則儲存該校正參數並同時拍攝該具有定位功能的解析圖，並顯示拍攝之該具有定位功能的。
12. 一種測試方法，包含：提供複數個顯示區域，該些顯示區域分別顯示對應相異測試項目的複數個測試影像；以及 放置複數個待測影像模組於一底層平台，並使得該些待測影像模組之鏡頭朝向一顯示面板，該些待測影像模組各自拍攝該些測試影像其中一者。
13. 如申請專利範圍第12項所述之測試方法，其中，該底層平台係為一旋轉平台，該旋轉平台包含：複數個影像模組放置區，用以承載該些待測影像模組；其中該些影像待測模組分別排列於該旋轉平台之平面上的上、下、左、右四個方位。
14. 如申請專利範圍第13項所述之測試方法，更包含：當該些待測影像模組其中之一待測影像模組被轉動至一取放區的位置時，該些待測影像模組其中之該待測影像模組沒有與任何顯示區域對準，且被轉動至該取放區的該些待測影像模組其中之該待測影像模組可選擇性地自該旋轉平台被取下或被尚未經測試的另一待測影像模組交替放置。
15. 如申請專利範圍第13項所述之測試方法，其中該些待測影像模組中具有一第一待測影像模組、一第二待測影像模組、一第三待測影像模組；該些顯示區域包含一第一顯示區域、一第二顯示區域、一第二顯示區域，該測試方法更包含： 控制該旋轉平台旋轉至一第一特定位置；藉由該第一待測影像模組拍攝該第一顯示區域之該測試影像以取得一第一影像資料；藉由該第二待測影像模組拍攝該第二顯示區域之該測試影像以取得一第二影像資料；藉由該第三待測影像模組拍攝該第三顯示區域之該測試影像以取得一第三影像資料；接著，控制該旋轉平台旋轉至一第二特定位置。
16. 如申請專利範圍第15項所述之測試方法，於控制該旋轉平台旋轉至該第二特定位置之步驟後，更包含：藉由該第一待測影像模組拍攝該第二顯示區域之該測試影像；藉由該第二待測影像模組拍攝該第三顯示區域之該測試影像。
17. 如申請專利範圍第12項所述之測試方法，更包含：藉由一第一顯示區域以顯示一解析圖及一定位圖，且該定位圖包含複數個定位點；藉由一第二顯示區域以顯示一彩黑點測試圖；藉由一第三顯示區域以顯示一白平衡測試圖。
18. 如申請專利範圍第17項所述之測試方法，更包含：藉由該些待測影像模組的一第一待測影像模組拍攝該第一顯示區域之該定位圖以取得一第一影像資料；計算該第一影像資料中之該些定位點之座標；利用該第一影像資料中的該些定位點之座標計算該第一影像資料中的該些定位點之間的至少一距離與至少一夾角；藉由該至少一距離與該至少一夾角以計算出該第一影像資料的一成像旋轉角度、一成像傾斜度及一成像位移量；藉由該成像旋轉角度、該成像傾斜度及該成像位移量計算出一校正參數；依據該校正參數以校正該些定位點的顯示位置。
19. 如申請專利範圍第18項所述之測試方法，更包含：依據該成像旋轉角度、該成像傾斜度及該成像位移量計算出一校正參數；藉由該校正參數以選擇性地調整該解析圖的水平位移、垂直位移、旋轉角度或傾斜角度。
20. 如申請專利範圍第12項所述之測試方法其中該些顯示區域包含於一測試部件區，該測試部件區包含一黑卡。
21. 如申請專利範圍第12項所述之測試方法，更包含：於該顯示面板之一第一顯示區域顯示一定位圖；控制該底層平台旋轉至一第一特定位置，使該些待測影像模組的一第一待測影像模組與該第一顯示區域對準；拍攝該定位圖；依據該定位圖之複數個定位點之座標以計算一校正參數，並依據該校正參數以補償一解析圖；於該顯示面板之該第一顯示區域顯示該解析圖；拍攝該解析圖；顯示該第一待測影像模組所拍攝之該解析圖及一測試結果。
22. 如申請專利範圍第12項所述之測試方法，其中該底層平台係為一旋轉平台，該測試方法更包含：於該顯示面板之一第一顯示區域顯示一具有定位功能的解析圖；控制該旋轉平台旋轉至一特定位置，使該些待測影像模組中的一第一待測影像模組與該第一顯示區域對準；拍攝該具有定位功能的解析圖以取得一影像資料；依據所拍攝之該具有定位功能的解析圖中的複數個定位點以判斷該具有定位功能的解析圖是否需要校正，若判斷該具有定位功能的解析圖需要校正，則計算該影像資料 中之一定位點座標，利用該定位點座標以計算該影像資料的一成像旋轉角度、一傾斜角度及一位移量，並藉由該成像旋轉角度、該傾斜角度、該位移量計算出一校正參數，並依據該校正參數以校正該些定位點的顯示位置；以及判斷該些校正後之定位點的顯示位置與一預先決定的顯示位置之差異是否小於一門檻值，若判斷該些校正後之定位點的顯示位置與該預先決定的顯示位置之差異小於該門檻值，則儲存該校正參數並同時拍攝該具有定位功能的解析圖，並顯示拍攝之該具有定位功能的解析圖及一測試結果。