TW201608253A - 射頻裝置、射頻電路的檢測電路及檢測方法 - Google Patents

Abstract

本文說明了一種射頻裝置、射頻電路的檢測電路及使用其之射頻電路的檢測方法。此檢測電路包括檢測信號產生單元、濾波單元以及檢測結果提供單元。檢測信號產生單元從信號輸出端提供檢測信號。濾波單元的第一端接收檢測信號，第二端電性耦接到射頻電路的測試點，且濾波單元有能力濾除射頻電路中的射頻信號。檢測結果提供單元電性耦接至濾波單元的第一端，並且根據濾波單元第一端的電位變化狀況而決定對外提供之信號內容。

Description

射頻裝置、射頻電路的檢測電路及檢測方法

本發明是有關於一種射頻電路的檢測技術，尤其是有關於一種射頻裝置、射頻電路的檢測電路及使用其之射頻電路的檢測方法。

在目前的技術中，若於射頻電路，例如天線等，運作時進行檢測，很容易會對通訊的品質造成干擾。所以，一般的射頻電路檢測都是在特定的測試模式下進行。這使得射頻電路在檢測過程中無法維持正常運作，導致使用者在使用上產生不便。再者，對於有直流短路零件並聯到地的射頻電路而言，就無法使用直流電壓來檢測此射頻電路是否存在不適當的短路現象。相對地，對於有直流開路零件並聯到地的射頻電路而言，就無法使用直流電壓來檢測此射頻電路是否存在不適當的開路現象。

以上種種缺陷，對於射頻電路的維護都造成了一定的困擾。

本發明提供可以在射頻電路運作的同時進行即時檢測操作的射頻裝置、檢測電路以及相關的檢測方法，並且可以明確的讓使用者判讀出射頻電路的現況。

本發明之一實施例提供一種射頻電路的檢測電路，其適於檢測射頻電路。此檢測電路包括信號輸出端、第 一濾波單元以及檢測結果提供單元。其中，信號輸出端輸出檢測信號。第一濾波單元具有第一外部連接端與第二外部連接端，第一外部連接端接收檢測信號，第二外部連接端電性耦接至射頻電路，且第一濾波單元有能力濾除在射頻電路中傳遞的射頻信號。檢測結果提供單元具有外部輸入端，外部輸入端電性耦接至第一外部連接端，且檢測結果提供單元會根據外部輸入端之電位變化狀況而決定所提供之信號內容。

本發明的另一實施例提供一種射頻裝置，其包括 射頻電路與檢測電路，射頻電路用以發送或接收射頻信號，而檢測電路則用以檢測射頻電路的狀況。其中，檢測電路包括信號輸出端、第一濾波單元以及檢測結果提供單元。其中，信號輸出端提供檢測信號。第一濾波單元具有第一外部連接端與第二外部連接端，第一外部連接端電性耦接到信號輸出端以接收檢測信號，第二外部連接端電性耦接至射頻電路，且第一濾波單元有能力濾除在射頻電路中傳遞的射頻信號，並可讓檢測信號通過。檢測結果提供單元具有外部輸入端，外部輸入端電性耦接至第一外部連接端，檢測結果提供單元會根據外部輸入端之電位變化狀況而決定所提供之信號內容。

本發明的另一實施例提供一種使用前述檢測電 路之射頻電路的檢測方法，包括：進行比較操作，比較檢測結果提供單元所提供之信號內容與預設信號內容；以及根據比較操作的結果判斷射頻電路是否在正常狀態。其中，預設信號內容可以是以檢測電路檢測正常之射頻電路時，由檢測結果提供單元所提供之信號內容，或者是以其他預設的檢測信號得之。此外，還可以進一步根據檢測結果提供單元所提供之信號內容與預設信號內容的差異方式，判斷射頻電路為誤短路或誤開路。

本發明之實施例因採用濾波單元隔絕射頻電路 與檢測電路，所以能在檢測電路中運行的檢測信號的頻率將不會高到能影響射頻電路的射頻信號的程度，這使得射頻電路的檢測能在射頻電路正常運作時進行。而利用射頻電路因檢測信號頻率的阻抗變化對檢測信號平緩元件產生的不同影響，可以簡單的判斷出射頻電路中是否出現不正常的開路或短路現象，減少了檢測時所受到的限制。

10、20‧‧‧射頻裝置

35、45、150、250‧‧‧檢測電路

100‧‧‧射頻電路

152‧‧‧檢測信號產生單元

152a、352a‧‧‧信號輸出端

154‧‧‧平緩檢測信號單元

154a、R1a、R1b‧‧‧端點

156、356‧‧‧第一濾波單元

156a、156b、257a、257b、356a、356b、357a、357b‧‧‧外部連接端

158、358‧‧‧檢測結果提供單元

158a、358a‧‧‧外部輸入端

257、357‧‧‧第二濾波單元

380‧‧‧整流單元

382‧‧‧直流偵測單元

382a‧‧‧控制端

382b、382c‧‧‧通路端

A、B‧‧‧階段

C1~C5‧‧‧電容

D1‧‧‧二極體

L1~L3‧‧‧電感

R1‧‧‧電阻

S500~S516‧‧‧本發明一實施例之施行步驟

T1‧‧‧電晶體(開關元件)

TP‧‧‧測試點

Ts‧‧‧檢測信號

VDD‧‧‧工作電位

Vout‧‧‧輸出電位

Ws‧‧‧整流信號

圖1為根據本發明一實施例之射頻裝置的電路方塊圖。

圖2為根據本發明一實施例之射頻裝置的電路方塊圖。

圖3為根據本發明一實施例之檢測電路的電路圖。

圖4為根據本發明一實施例之檢測電路的電路圖。

圖5為根據本發明一實施例之檢測方法的實施流程圖。

請參照圖1，其為根據本發明一實施例之射頻裝置的電路方塊圖。在本實施例中，射頻裝置10包括了一個射頻電路100以及用來檢測射頻電路100的檢測電路150。射頻電路100是可以用來發送或者接收射頻信號的電路，例如各類天線。檢測電路150則包括檢測信號產生單元152、平緩檢測信號單元154、第一濾波單元156以及檢測結果提供單元158。其中，檢測信號產生單元152具有信號輸出端152a，並從信號輸出端152a提供檢測信號Ts；平緩檢測信號單元154有一端點154a電性耦接到檢測信號產生單元152以接收檢測信號Ts；第一濾波單元156具有外部連接端156a(後稱第一外部連接端)與外部連接端156b(後稱第二外部連接端)，第一外部連接端156a用以電性耦接到平緩檢測信號單元154的端點154a以及信號輸出端152a並因此而接收檢測信號Ts，第二外 部連接端156b電性耦接至射頻電路100中預先設定好的測試點；檢測結果提供單元158具有外部輸入端158a，此外部輸入端158a電性耦接至平緩檢測信號單元154的端點154a、信號輸出端152a以及外部連接端156a，且檢測結果提供單元158根據外部輸入端158a之電位變化狀況而決定所提供之信號內容。

前述的檢測信號產生單元152應具有較佳的低輸 出阻抗電壓源或高輸出阻抗電流源特性，而所提供的檢測信號Ts可以是數位信號，且可以有不只一種的信號內容。舉例來說，檢測信號Ts的內容可以是連續的邏輯高電位(相當於固定直流電壓)，亦即每個位元值都為1的數位信號(1,1,1,1,...)；或者可以是連續的邏輯低電位(相當於固定直流接地)，亦即每個位元值都為0的數位信號(0,0,0,0,...)；也或者可以是連續的邏輯高電位與邏輯低電位的依序組合(相當於中、低頻信號)，亦即為連續1、0的數位信號(1,0,1,0,...)。 前述的各種數位信號還可以搭配不同的工作週期而產生各種不同的檢測信號。再者，數位檢測信號也可以有多種波形，如方波、三角波或弦波等。

再者，前述的第一濾波單元156具有高頻高阻抗 且中低頻低阻抗的特性。此處的高頻指的是射頻信號之頻率附近一定範圍的頻率段(約為300MH以上頻帶，後稱高頻帶)，而中低頻頻帶指的則是低於前述高頻的使用頻率頻帶的0.25倍以下，特別是檢測信號產生單元152所產生之檢測信號Ts及其附近的頻率段(後稱中低頻帶)。如此一來，在射頻電路100運作的時候，在射頻電路100中傳遞的射頻信號就會因為第一濾波單元156的阻隔而不會影響到檢測電路150的運作；相對的，由於第一濾波單元156不會阻擋檢測信號Ts，所以對於檢測信號Ts來說，射頻電路100也是檢測信號 Ts的傳遞路徑之一，因此射頻電路100的阻抗變化將會影響到檢測電路150中各點電位的變化，特別是，檢測結果提供單元158從外部輸入端158a所接收的電位的變化。

平緩檢測信號單元154在此做為暫態儲能與濾波 之用，以使經過平緩檢測信號單元154之後所得到的波形，能夠比原本的檢測信號波形更趨向於平緩的信號波形。實際上在設計時，可以獨立存在也可以併入於檢測電路150的濾波單元之中。在以下的幾個實施例中將進一步說明相關的設計變化方式。

請參照圖2，其為根據本發明另一個實施例之射 頻裝置的電路方塊圖。比較圖1與圖2所示之實施例，圖2之射頻裝置20較圖1所示之射頻裝置10，在檢測電路250中多了一個第二濾波單元257。第二濾波單元257電性耦接在第一濾波單元156與檢測信號產生單元152之間，其外部連接端257a(後稱第三外部連接端)電性耦接至檢測信號產生單元152以接收檢測信號Ts，外部連接端257b則電性耦接到第一濾波單元156的外部連接端156a以及檢測結果提供單元158的外部輸入端158a。第二濾波單元257可以對檢測信號產生單元152提供更佳的高頻隔絕效果，避免在高功率射頻電路100中傳遞的射頻信號影響檢測信號產生單元152的運作。第二濾波單元257可以藉由在前述的高頻帶具備一定程度的阻抗效果以達到此一目的；在較佳的狀況下，第二濾波單元257在前述的高頻帶可提供與第一濾波單元156相同或更高的阻抗效果。從另一個角度來看，第一濾波單元156與第二濾波單元257兩者可以都是低通濾波器或帶通濾波器；也可以是其中一者為低通濾波器，而另一者則為帶通濾波器。只要能達成原始的設計目的，哪一種類型的濾波器並不會是必要的限制。

除了上述的差異之外，射頻裝置20的電路連接 關係與運作原理皆與圖1所示之射頻裝置10相類似，在此不再多做說明。此外應注意的是，雖然在上述實施例中都在檢測電路內提供了一個檢測信號產生單元，但這是為了說明讓檢測電路能獨立運作所做的特例。換句話說，在檢測電路中並不一定需要包含檢測信號產生單元，甚至在整個射頻裝置中都可以不包含檢測信號產生單元，但如此一來就需要在外部另外安裝一個對應的檢測信號產生單元以提供檢測所需的檢測信號。

舉例來說，請參照圖3，其為根據本發明一實施 例之檢測電路的電路圖。在本實施例中，檢測電路35主要包括了信號輸出端352a、第一濾波單元356、第二濾波單元357以及檢測結果提供單元358。很明顯的，在此實施例中就不存在一個獨立的檢測信號產生單元，所以信號輸出端352a必須電性耦接到一個外部的檢測信號產生單元(未繪示)，並從檢測信號產生單元接收檢測信號Ts，並將所接收到的檢測信號Ts提供至檢測電路35。

在本實施例中，第一濾波單元356包括了電感 L1與電容C1。電感L1的一端電性耦接到第一濾波單元356的外部連接端356b以及射頻電路(未繪示)中的測試點TP，電感L1的另一端(相當於第一濾波單元356的外部連接端356a)、電容C1的一端、第二濾波單元357的外部連接端357b以及檢測結果提供單元358的外部輸入端358a互相電性耦接，電容C1的另一端則電性耦接到地。第二濾波單元357包括了電感L2與電容C2。電感L2的一端(相當於第二濾波單元357的外部連接端357a)電性耦接到信號輸出端352a以及電容C2的一端，電感L2的另一端(相當於第二濾波單元357的外部連接端357b)電性耦接到檢測結果提供單元358的外部 輸入端358a以及第一濾波單元356的外部連接端356a，而電容C2的另一端則接地。

在此處，電容C1與電容C2共同擔任如圖1所示 的平緩檢測信號單元154的角色。換句話說，電容C1與電容C2共同提供了暫態儲能與濾波的效果，做為後級檢測結果提供單元358中所需的直流偏壓(DC bias)信號。

如圖所示，本實施例中的檢測結果提供單元358 包括一個整流單元380以及一個直流偵測單元382。整流單元380電性耦接至外部輸入端358a，並對外部輸入端358a的電位進行整流操作而輸出對應的整流信號Ws；直流偵測單元382電性耦接至整流單元380以接收整流信號Ws，並且直流偵測單元382可以根據整流信號Ws而決定檢測結果提供單元358所要提供之信號內容。

在本實施例中，整流單元380包括二極體D1、電感L3以及電容C3。二極體D1的陽極電性耦接到外部輸入端358a，陰極則與電感L3的一端電性耦接；電感L3的另一端與電容C3的一端電性耦接，而電容C3的另一端則接地。直流偵測單元382包括電晶體T1以及電阻R1。電晶體T1的控制端382a同時電性耦接到整流單元380的電感L3與電容C3，並從整流單元380接收整流信號Ws來控制是否導通通路端382b(後稱第一通路端)與通路端382c(後稱第二通路端)之間的電性通路。通路端382c接地，通路端382b與電阻R1的端點R1b同時電性耦接至外部輸出端Out，以提供一個輸出電位Vout做為檢測結果提供單元358所要提供之信號內容，電阻R1的另一端點R1a則電性耦接到工作電位VDD。

上述實施例中的電晶體T1僅是開關元件的一種實體例子而已，並非是絕對的限制條件。在實際製作的時候可以視環境需求而選用其他類型的開關元件。

隨著所測試的射頻電路不同，檢測信號Ts的工 作週期也可以隨之調整。藉由使用特定的檢測信號Ts，使得射頻電路的阻抗可以在正常與不正常的時候，藉由分別得到的整流信號Ws(包含前述的直流偏壓)，足以驅動電晶體T1分別為導通與不導通的狀態。如此一來，就可以根據輸出電位Vout的電位值來判斷受檢測的射頻電路的阻抗是否在設計的正常狀態。舉例來說，在經過調適之後，可以採用一個特定的檢測信號Ts以使在射頻電路為正常的時候，整流信號Ws的電位足以使電晶體T1導通，並使在射頻電路為短路的時候，整流信號Ws的電位不能使電晶體T1導通。如此一來，當射頻電路為正常的時候，因為電晶體T1為導通狀態，所以輸出電位Vout就會是低電位(在本實施例中為接近接地電位)；而當射頻電路為短路的時候，因為電晶體T1為不導通狀態，所以輸出電位Vout就會是高電位(在本實施例中為接近工作電位VDD)。測試者可以很容易的從輸出電位Vout的電位而得知射頻電路的現狀是否正常。

在另一個實施例中，檢測結果提供單元358可以 不包括直流偵測單元382。而在這種情況下，可以直接將整流信號Ws做為檢測結果提供單元358所要提供之信號內容，而測試者只需要將整流信號Ws接上類比數位轉換器就可以得到檢測的結果；更進一步的，可以利用類比數位轉換器轉換後所得到的信號來決定是否發出警示燈、警示音甚或其他警示訊息等。

或者，在另一個實施例中，在這種情況下也可以 將示波器整合到檢測電路35中，以直接將整流信號Ws顯示出來。但是一般來說，由於示波器的體積較大，所以可以將整個檢測電路35加上示波器做成一個自動化測試儀器。如此一來，除了在工廠中可以簡易的運用在批量化自動測量之 外，也可以做成可攜式的檢測裝置以便利維修人員在外進行射頻電路的檢測工作。

請參照圖4，其為根據本發明另一個實施例之檢 測電路的電路圖。比較圖3與圖4，圖4所示的檢測電路45顯然並不具備圖3中直流偵測單元382的相關電子元件；除此之外，檢測電路45還比檢測電路35多加了兩個電容C4與C5。在圖4所示的實施例中，電容C5擔任如圖1所示的平緩檢測信號單元154的角色。換句話說，電容C5提供了暫態儲能的效果，做為後級檢測結果提供單元358中的基本直流電壓(也就是前述的直流偏壓)信號。當然，電容C1與電容C2也提供了暫態儲能與濾波的效果，但藉由調動獨立存在的電容C5的電容值，可以在不改變濾波效果的前提下改變後級電路中直流偏壓信號的大小。再者，電容C4(以交流耦合)可以使提供檢測信號Ts的檢測信號產生單元(未繪示)被隔離於射頻電路100為主動負載時的直流偏壓之外，避免直流偏壓對檢測信號產生單元造成傷害。

如前所述，檢測電路45中顯然並不具備圖3中 直流偵測單元382的相關電子元件。因此，可以直接將整流信號Ws做為向外提供之信號內容；或者，可以整合類比數位轉換器到檢測電路45中，以直接將整流信號Ws顯示出來做為向外提供之信號內容。除此之外，也可以利用整流信號Ws的值或變化方式來做為驅動警示燈、警示音甚或其他警示訊息等的依據。

雖然上述實施例中都採用半波整流器為整流單 元的實施例，但此技術領域者當知，其他類型的整流器，例如全波整流器或橋式整流器等，都可以在此處被用來替換作為實施例的半波整流器。

接下來請參照圖5，其為根據本發明一實施例之 檢測方法的實施流程圖。在此實施例中，檢測方法被分為兩個階段A與B，其中的階段A一般是在射頻電路出廠之前就會進行的，而階段B則是在射頻電路運作時進行，但並不以此為限。請一併參照圖1，以下說明將配合圖1以便於理解。

在圖5所示的實施例中，首先提供檢測信號(步 驟S500)至檢測電路150，接下來則從檢測結果提供單元158取得檢測結果(步驟S502)。在步驟S504中，假若發現檢測結果與設計時的理論值差異過大，則進入步驟S506以進行射頻電路的修復，並回到步驟S500重新進行檢測；而若在步驟S504中發現檢測結果與理論值相符合(包含差距在一定的誤差範圍內)，則流程進入步驟S508以將此時的檢測結果儲存起來做為後續檢測時比對用的預設值。當然，後續在販售後的檢測(階段B)中也可以直接採用設計時的理論值為預設值，但採用步驟S508所得的預設值來進行後續的檢測，可以更貼近每一個射頻電路可能因為製作誤差而產生略微偏移的電路特性，所以將能得到更為準確的檢測結果。

當在步驟S508中儲存了預設值之後，整個射頻 裝置10就可以出廠供貨給消費者了。當消費者安裝好進行運行之時，射頻裝置10就可以自我進行階段B的檢測流程。在階段B中，首先提供檢測信號(步驟S510)至檢測電路150，接下來則從檢測結果提供單元158取得檢測結果(步驟S512)。接下來則在步驟S514中比對所取得的檢測結果與預設值是否相符。若在步驟S514中發現檢測結果與預設值相符合(包含差距在一定的誤差範圍內)，則流程回到步驟S510以進行下一輪的檢測；而若在步驟S514中發現檢測結果與預設值不相符，則流程進入步驟S516以發出警示信號，提醒使用者應注意檢修，並視設計考量而可能進一步的停止射頻電路100的運作。

在前述的實施例中，步驟S504與S514所進行的 比較可以由外部的處理裝置進行，或者可以由設置在射頻裝置10之中的處理器進行。射頻裝置10的處理器可以獨立存在，也可以與檢測信號產生單元152合併在一起。當然，步驟S504與S514所進行的比較也可以由硬體電路完成，例如，請參照圖3，以圖3的直流偵測單元382為例，當檢測結果與預設值(或理論值)相符，也就是射頻電路正常的時候，輸出電位Vout會為低電位；而當檢測結果與預設值差異過大，則輸出電位Vout會為高電位。藉由設計根據輸出電位Vout而決定是否發出警示信號的硬體電路，就可以在不需要額外處理器的條件下發出警示信號。

上述的各實施例針對性的說明了射頻電路不當 短路時所可能出現的狀態與應對方式，但此方式經過略微修改之後也可以應用於射頻電路不當開路時的偵測。藉由使用本發明所提供的各實施例，短路與開路的測試原理是相同的，僅在於檢測信號頻率的阻抗值變化方式可能有所差異，因此在此就不多予贅述。

綜上所述，本發明之實施例因採用濾波單元隔絕 射頻電路與檢測電路，所以能在檢測電路中運行的檢測信號的頻率將不會高到能影響射頻電路的射頻信號的程度，這使得射頻電路的檢測能在射頻電路正常運作時進行。而利用射頻電路在平緩檢測信號頻率的阻抗變化對平緩檢測信號元件產生的不同影響，可以簡單的判斷出射頻電路中是否出現不正常的開路或短路現象，減少了檢測時所受到的限制。

20‧‧‧射頻裝置

100‧‧‧射頻電路

152‧‧‧檢測信號產生單元

152a‧‧‧信號輸出端

154‧‧‧平緩檢測信號單元

154a‧‧‧端點

156‧‧‧第一濾波單元

156a、156b、257a、257b‧‧‧外部連接端

158‧‧‧檢測結果提供單元

158a‧‧‧外部輸入端

250‧‧‧檢測電路

257‧‧‧第二濾波單元

Ts‧‧‧檢測信號

Claims (14)

1. 一種射頻電路的檢測電路，適於檢測一射頻電路，包括：一信號輸出端，接收並提供一檢測信號；一第一濾波單元，具有一第一外部連接端與一第二外部連接端，該第一外部連接端用以電性耦接到信號輸出端以接收該檢測信號，該第二外部連接端電性耦接至該射頻電路，且該第一濾波單元適於濾除在該射頻電路中傳遞之射頻信號；以及一檢測結果提供單元，具有一外部輸入端，該外部輸入端電性耦接至該第一外部連接端，且該檢測結果提供單元根據該外部輸入端之電位變化狀況而決定所提供之信號內容。
2. 如申請專利範圍第1項所述的檢測電路，更包括：一第二濾波單元，電性耦接於該信號輸出端與該第一外部連接端之間，該第二濾波單元具有一第三外部連接端與一第四外部連接端，該第三外部連接端電性耦接到該信號輸出端，該第四外部連接端電性耦接至該第一外部連接端。
3. 如申請專利範圍第1項所述的檢測電路，其中該檢測結果提供單元包括：一整流單元，電性耦接至該外部輸入端，該整流單元對該外部輸入端的電位進行整流操作而輸出對應的一整流信號；以及一直流偵測單元，電性耦接至該整流單元以接收該整流信號，並根據該整流信號而決定該檢測結果提供單元提供之信號內容。
4. 如申請專利範圍第3項所述的檢測電路，其中該直流偵測單元包括：一開關元件，具有一控制端，一第一通路端與一第二通路端，該控制端接收該整流信號而根據該整流信號決定是否導通該第一通路端與該第二通路端之間的電性通路，該第一通路端電性耦接至一外部輸出端，該第二通路端電性耦接一第一預設電位；以及一電阻，一端電性耦接至一第二預設電位，另一端電性耦接至該第一通路端。
5. 如申請專利範圍第1項所述的檢測電路，更包括：一檢測信號產生單元，產生該檢測信號以提供至該信號輸出端。
6. 如申請專利範圍第1項所述的檢測電路，更包括：一平緩檢測信號單元，一端電性耦接至該信號輸出端接收該檢測信號，並電性耦接至該第一濾波單元之該第一外部連接端。
7. 一種射頻裝置，包括：一射頻電路，用以發送或接收一射頻信號；以及一檢測電路，包括：一信號輸出端，接收並提供一檢測信號；一第一濾波單元，具有一第一外部連接端與一第二外部連接端，該第一外部連接端用以電性耦接到該信號輸出端以接收該檢測信號，該第二外部連接端電性耦接至該射頻電路，且該第一濾波單元適於濾除在該射頻電路中傳遞之射頻信號；以及 一檢測結果提供單元，具有一外部輸入端，該外部輸入端電性耦接至該第一外部連接端，且該檢測結果提供單元根據該外部輸入端之電位變化狀況而決定所提供之信號內容。
8. 如申請專利範圍第7項所述的射頻裝置，更包括：一第二濾波單元，電性耦接於該信號輸出端與該第一外部連接端之間，該第二濾波單元具有一第三外部連接端與一第四外部連接端，該第三外部連接端電性耦接到該信號輸出端，該第四外部連接端電性耦接至該第一外部連接端。
9. 如申請專利範圍第7項所述的射頻裝置，其中該檢測結果提供單元包括：一整流單元，電性耦接至該外部輸入端，該整流單元對該外部輸入端的電位進行整流操作而輸出對應的一整流信號；以及一直流偵測單元，電性耦接至該整流單元以接收該整流信號，並根據該整流信號而決定該檢測結果提供單元提供之信號內容。
10. 如申請專利範圍第7項所述的射頻裝置，更包括：一檢測信號產生單元，產生該檢測信號並提供至該信號輸出端。
11. 如申請專利範圍第7項所述的射頻裝置，更包括：一平緩檢測信號單元，一端電性耦接至該信號輸出端接收該檢測信號，並電性耦接至該第一濾波單元之該第一外部連接端。
12. 一種使用如申請專利範圍第1項所述的檢測電路之射頻電路的檢測方法，包括：進行一比較操作，比較該檢測結果提供單元所提供之信號內容與一預設信號內容；以及根據該比較操作的結果，判斷該射頻電路是否正常。
13. 如申請專利範圍第12項所述的檢測方法，其中該預設信號內容為：該檢測電路檢測正常之該射頻電路時，該檢測結果提供單元所提供之信號內容；且其中根據該比較操作的結果，判斷該射頻電路是否正常，包括：當該檢測結果提供單元所提供之信號內容與該預設信號內容相同時，判斷該射頻電路為正常；以及當該檢測結果提供單元所提供之信號內容與該預設信號內容不同時，判斷該射頻電路為不正常。
14. 如申請專利範圍第13項所述的檢測方法，其中當該檢測結果提供單元所提供之信號內容與該預設信號內容不同時，除了判斷該射頻電路為不正常之外，更包括：根據該檢測結果提供單元所提供之信號內容與該預設信號內容的差異方式，判斷該射頻電路為誤短路或誤開路。