TW201520680A - 相機檢測裝置 - Google Patents
相機檢測裝置 Download PDFInfo
- Publication number
- TW201520680A TW201520680A TW103140670A TW103140670A TW201520680A TW 201520680 A TW201520680 A TW 201520680A TW 103140670 A TW103140670 A TW 103140670A TW 103140670 A TW103140670 A TW 103140670A TW 201520680 A TW201520680 A TW 201520680A
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- light sources
- state
- camera
- detecting device
- illumination
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N17/00—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
- H04N17/002—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for television cameras
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B43/00—Testing correct operation of photographic apparatus or parts thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/60—Control of cameras or camera modules
- H04N23/66—Remote control of cameras or camera parts, e.g. by remote control devices
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/70—Circuitry for compensating brightness variation in the scene
- H04N23/74—Circuitry for compensating brightness variation in the scene by influencing the scene brightness using illuminating means
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Studio Devices (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
一種相機檢測裝置,其包含一框架組件、一控制單元及複數個耦接該框架組件並與該控制單元通訊之第一光源與第二光源。該等第一及第二光源中之每一者係處於一發光的第一狀態或一不發光的第二狀態中之其中一狀態,且該複數個第一及第二光源中之每一者係調適成設在一遠離該等第一及第二光源設置之相機之視野內。該控制單元傳送一第一指令至該第一光源中之每一者以改變一第一操作參數。該控制單元傳送一第二指令至該等第二光源中之一第一者使其以一第一亮度發光,並傳送一第三指令至該等第二光源中之一第二者使其以一第二亮度發光。
Description
本發明整體上係有關測試設備,尤指用於相機之測試設備。
當評估攝影機時,理想是量化其性能參數,包含解析度、動態範圍、失真度、靈敏度、運作圖框速率、色彩真實度、光幕雜散光、相對亮度、及損壞像素數量。現今有一些關於攝影機定量測量的標準及建議,但由於校準測試設備的困難,在市場上很少有攝影機具有經驗證的性能,且終端用戶只能基於非常有限的未量化資訊來選擇產品。
在本發明之一實施例中,一相機檢測裝置係包含一框架組件、一控制單元、及耦接該框架組件並與該控制單元通訊之複數個第一光源。該複數個第一光源中之每一者係(或經調適成)處於一發光的第一狀態或一不發光的第二狀態中之其中一狀態,且該複數個第一光源中之每一者係調適成設在一遠離該複數個第一光源設置之相機之視野內。該相機檢測裝置亦包含耦接該框架組件並與該控制單元通訊之複數個第二光源。該複數個第二光源中之每一者係(或經調適成)處於一發光的第一狀態或一不發光的第二狀態中之其中一狀態,且該複數個第二光源中之每一者係調適成設在該遠離該複數個第二光源設置之相機之視野內。該控制單元傳送(或經調適成傳送)一第一指令至該複數
個第一光源中之每一者,以改變該複數個第一光源中之每一者之一第一操作參數,且該控制單元傳送(或經調適成傳送)一第二指令至該複數個第二光源中之每一者以改變該複數個第二光源中之每一者之一第二操作參數,且該第一操作參數係不同於該第二操作參數。該複數個第一光源中之每一者之第一操作參數係於接收到該第一指令時改變(或經調適而改變)。該控制單元傳送(或經調適成傳送)一第二指令至該複數個第二光源中之一第一者使其以一第一亮度發光,並傳送一第三指令至該複數個第二光源中之一第二者使其以一與該第一亮度不同之第二亮度發光。該複數個第二光源中之第一者係於接收到該第二指令時以該第一亮度發光(或經調適而發光),且該複數個第二光源中之第二者係於接收到該第三指令時以該第二亮度發光(或經調適而發光)。
在本發明之另一實施例中,一檢測相機之方法係包含由一控制單元傳送一第一訊號至一第一光源以將該第一光源的一操作參數由一發光的第一狀態改變至一不發光的第二狀態。該第一光源係耦接一遠離該相機設置之框架組件。該方法更包含將該第一光源的狀態由該發光的第一狀態改變至該不發光的第二狀態。該方法亦包含啟動一遠離該框架組件設置之相機,讓一由該相機所產生之影像含有該第一光源。該方法亦包含針對一測試參數分析由該相機所產生之影像。
在本發明之又一實施例中,一相機檢測裝置係包括一框架組件、一控制單元、以及耦接該框架組件並與該控制單元通訊之複數個第一光源。該複數個第一光源中之每一者係處於一發光的第一狀態或一不發光的第二狀態中之其中一狀態,且該複數個第一光源中之每一者係調適成設在該遠離該複數個第一光源設置之相機之視野內。該控制單元傳送(或經調適而傳送)一指令至該複數個第一光源中之每一者以由該發光的第一狀態改變至該不發光的第二狀態,或由該不發光的
第二狀態改變至該發光的第一狀態,且該複數個第一光源中之每一者係調適成在接收到該第一指令時由該發光的第一狀態改變(或經調適而改變)至不發光的第二狀態,或由該不發光的第二狀態改變至該發光的第一狀態。
10‧‧‧相機檢測裝置
12‧‧‧框架組件
14‧‧‧控制單元
16‧‧‧第一光源
18‧‧‧相機
20‧‧‧第二光源
30‧‧‧第一上框架構件
32‧‧‧第二上框架構件
34‧‧‧第三上框架構件
36‧‧‧第四上框架構件
38‧‧‧第一下框架構件
40‧‧‧第二下框架構件
42‧‧‧第三下框架構件
44‧‧‧第四下框架構件
46‧‧‧第一中間框架構件
48‧‧‧第二中間框架構件
50‧‧‧第三中間框架構件
52‧‧‧第四中間框架構件
54‧‧‧腳輪
56‧‧‧棒狀光源
56a‧‧‧第一棒狀光源
58‧‧‧點光源
59‧‧‧LED
60‧‧‧第一驅動器
64‧‧‧第一處理器
66‧‧‧記憶體
68‧‧‧使用者介面
70‧‧‧發光區域
72‧‧‧燈管
74a‧‧‧第一端
74b‧‧‧第二端
75‧‧‧光源
76‧‧‧擴散元件
78‧‧‧第二驅動器
79‧‧‧光學感測器
80‧‧‧面板構件
81‧‧‧支撐構件
82‧‧‧固持板
83‧‧‧孔口
84‧‧‧第二處理器
86‧‧‧光幕裝置
87‧‧‧本體
88‧‧‧正面
89‧‧‧表面
90‧‧‧背面
92‧‧‧第一側面
94‧‧‧第二側面
96‧‧‧頂面
98‧‧‧底面
100‧‧‧中央孔口
102‧‧‧孔壁
104‧‧‧凹槽
106‧‧‧光源
108‧‧‧罩幕元件
110‧‧‧對準固定件
112‧‧‧相機支架
113‧‧‧安裝機構
114‧‧‧托架
116‧‧‧對準部
118‧‧‧第一對準特徵
120‧‧‧第二對準特徵
201‧‧‧電流微控制器
202‧‧‧霍爾效應感測器
203‧‧‧電流調節器
204‧‧‧LED
205‧‧‧電線
206‧‧‧光學感測器
207‧‧‧電源
圖1係一相機檢測裝置之一實施例之外觀圖;圖2係該相機檢測裝置之一實施例之控制單元示意圖;圖3A係該相機檢測裝置之一實施例之第二光源實施例之前視圖;圖3B係圖3A中該第二光源之實施例之部分側視圖;圖4A係該相機檢測裝置之一實施例之驅動器實施例之前視圖;圖4B係該相機檢測裝置之一實施例之驅動器實施例之示意圖;圖4C係該相機檢測裝置之一實施例之驅動器實施例之示意圖;圖4D係該相機檢測裝置之一實施例之驅動器實施例之示意圖;圖5係該相機檢測裝置之一實施例之光幕裝置實施例之外觀圖;圖6A係該相機檢測裝置之一實施例之相機支架實施例之外觀圖;圖6B係顯示圖6A之相機支架之該等第二對準特徵實施例的框架組件之前視圖;圖7係該相機檢測裝置之一實施例之驅動器實施例之示意圖;圖8A係該相機檢測裝置之一實施例之第二光源實施例之前視圖;及圖8B係圖3A之第二光源實施例之部分側視圖。
如圖1及圖2中所示,一相機檢測裝置10係包括一框架組件12、一控制單元14、及耦接該框架組件12並與該控制單元通訊14之複數個
第一光源16。該複數個第一光源16中之每一者係處於一發光的第一狀態或一不發光的第二狀態中之其中一狀態,且該複數個第一光源16中之每一者係調適成設在一遠離該複數個第一光源16設置之相機18的視野內。如圖1中所示,該相機檢測裝置10亦包含耦接該框架組件12並與該控制單元14通訊之複數個第二光源20(參圖2)。該複數個第二光源20中之每一者係處於一發光的第一狀態或一不發光的第二狀態中之其中一狀態,且該複數個第二光源20中之每一者係調適成設在該遠離該複數個第二光源20設置之相機18的視野內。
該控制單元14係傳送一第一指令至該複數個第一光源16中之每一者,以改變該複數個第一光源16中之任一者或全部之一第一操作參數,且該複數個第一光源16中之任一者或全部之第一操作參數係於接收到該第一指令時改變。該控制單元14傳送一第二指令至該複數個第二光源20中之第一者使其以一第一亮度發光,其並傳送一第三指令至該複數個第二光源20中之一第二者使其以一與該第一亮度不同之第二亮度發光。該複數個第二光源20中之第一者係於接收到該第二指令時以該第一亮度發光,且該複數個第二光源20中之第二者係於接收到該第三指令時以該第二亮度發光。通過這樣的配置,該相機測試裝置10提供了一可配置的通用平台以執行多種用以判定或驗證鏡頭性能特性的測試(諸如,例如,圖框速率測試、光幕雜散光測試、及光靈敏度測試)中之任一種測試。
至於該相機測試裝置10的更多細節,圖1顯示了該框架組件12之一實施例。該框架組件12係可包含任何數量的框架元件,並可具有任何合適的形狀或形狀組合。例如,如在圖1中所示,該框架組件12係可包含一第一上框架構件30,該第一上框架構件30係可伸長並具有一於一第一水平方向上延伸之縱軸。本文所使用之水平方向係為一沿著一平行於圖1中所供參考座標系統的X-Y平面或與該X-Y平面為同一平
面之平面而延伸之方向。更具體而言,該第一上框架構件30的縱軸係可在一平行於圖1中所供參考座標系統的Y軸或與該Y軸為同軸之第一水平方向上延伸。該框架組件12亦可包含一第二上框架構件32,且該第二上框架構件32係可伸長並具有一延伸於該第一水平方向上之縱軸。該第二上框架構件32之縱軸係可平行於該第一上框架構件30的縱軸並與該第一上框架構件30的縱軸水平偏移。
該框架組件12亦可包含一第三上框架構件34,且該第三上框架構件34係可延長並具有一延伸於一第二水平方向上之縱軸。更具體而言,該第三上框架構件34的縱軸係可平行於圖1中所供參考座標系統的X軸或與該X軸為同軸。該框架組件12可進一步包含一第四上框架構件36,且該第四上框架構件36係可伸長並具有一延伸於該第二水平方向上之縱軸。該第四上框架構件36的縱軸係可平行於該第三上框架構件34的縱軸並與該第三上框架構件34的縱軸水平偏移。當沿著圖1中所供參考座標系統的Z軸檢視時,該第一、第二、第三、及第四上框架構件30、32、34、36可具有正方形或矩形之大致形狀。
再參見圖1,該框架組件12可包含一第一下框架構件38,該第一下框架構件38係可伸長並具有一於該第一水平方向上延伸之縱軸。更具體而言,該第一下框架構件38的縱軸係可平行於該第一上框架構件30的縱軸並與該第一上框架構件30的縱軸垂直偏移。該框架組件12亦可包含一第二下框架構件40,且該第二下框架構件40係可伸長並具有一延伸於該第一水平方向上之縱軸。具體來說,該第二下框架構件40之縱軸係可平行於該第一下框架構件38的縱軸並與該第一下框架構件38的縱軸水平偏移。此外,該第二下框架構件40的縱軸係可平行於該第二上框架構件32的縱軸並與該第二上框架構件32的縱軸垂直偏移。
該框架組件12可包含一第三下框架構件42,該第三下框架構件42係可伸長並具有一於該第二水平方向上延伸之縱軸。更具體而言,
該第三下框架構件42的縱軸係可平行於該第三上框架構件34的縱軸並與該第三上框架構件34的縱軸垂直偏移。該框架組件12亦可包含一第四下框架構件44,且該第四下框架構件44係可伸長並具有一延伸於該第二水平方向上之縱軸。具體來說,該第四下框架構件44之縱軸係可平行於該第三下框架構件42的縱軸並與該第三下框架構件42的縱軸水平偏移。此外,該第四下框架構件44的縱軸係可平行於該第四上框架構件36的縱軸並與該第四上框架構件36的縱軸垂直偏移。
當沿著圖1中所供參考座標系統的Z軸檢視時,該第一、第二、第三、及第四下框架構件38、40、42、44可具有正方形或矩形之大致形狀。此外,該第一、第二、第三、及第四下框架構件38、40、42、44的縱軸皆可沿著一單一水平面而延伸。
該框架組件12可進一步包含一第一中間框架構件46,該第一中間框架構件46具有一在垂直方向上延伸之縱軸。本文所使用的垂直方向係指一所沿軸線平行於圖1中所供參考座標系統的Z軸或與該Z軸同軸之方向。該第一中間框架構件46的一第一端係可由該第一上框架構件30與該第三上框架構件34的交接處而延伸。該第一中間框架構件46的一第二端係可由該第一下框架構件38與該第三下框架構件42的交接處而延伸。
該框架組件12亦可進一步包含一第二中間框架構件48,該第二中間框架構件48具有一在垂直方向上延伸之縱軸。該第二中間框架構件48的一第一端係可由該第二上框架構件32與該第三上框架構件34的交接處而延伸。該第二中間框架構件48的一第二端係可由該第二下框架構件40與該第三下框架構件42的交接處而延伸。
該框架組件12亦可進一步包含一第三中間框架構件50,該第三中間框架構件50具有一在垂直方向上延伸之縱軸。該第三中間框架構件50的一第一端係可由該第二上框架構件32與該第四上框架構件36的
交接處而延伸。該第三中間框架構件50的一第二端係可由該第二下框架構件40與該第四下框架構件44的交接處而延伸。
該框架組件12可另外包含一第四中間框架構件52,該第四中間框架構件52具有一在垂直方向上延伸之縱軸。該第四中間框架構件52的一第一端係可由該第一上框架構件30與該第四上框架構件36的交接處而延伸。該第四中間框架構件52的一第二端係可由該第一下框架構件38與該第四下框架構件44的交接處而延伸。
該等框架構件30-52可具有任何適合的長度。例如,該第一、第二、第三、第四上框架構件30-36可每一者具有相同的長度,諸如(例如)28英吋。此外,該第一、第二、第三及第四下框架構件可每一者具有與該第一、第二、第三及第四上框架構件30-36相同之長度。該第一、第二、第三及第四中間框架構件46-52可每一者比該第一、第二、第三及第四上框架構件30-36較長,且該第一、第二、第三及第四中間框架構件46-52可每一者為(例如)48英吋。所揭露的框架構件可具有任何適合的形狀。例如,各框架構件30-52可包含一具有四個縱向壁之管體,該等縱向壁係經配置以具有矩形或正方形剖面形狀,且該等縱向壁可相配合以界定一中空內部而降低該等框架構件的重量。
沿著整個縱軸的剖面形狀係可均一或有改變。可於該四個縱向壁中之一者或更多者上設置複數個縱脊以加固該等框架構件。該等框架構件係可由任何合適的材料所製成,諸如不燃材料(例如,鋁或塑料)。該框架組件12還可以包含複數個腳輪54,其允許使用者容易將產生熱的裝置10移動到所期望的位置。
如在圖1中所示,該相機檢測裝置10亦包含該耦接該框架組件12並與該控制單元14通訊(參圖2)之複數個第一光源16。該複數個第一光源16中之每一者係調適成設在一遠離該複數個第一光源16設置之相機18的視野內。該複數個第一光源16中之每一者係可為任何合適的光
源。例如,該複數個第一光源16中之每一者係可為一含有二個或更多個沿著或大體上沿著一直線軸設置的點光源58之棒狀光源56。各直線軸係可設置在任何合適的方向。例如,各直線軸係可呈垂直狀(即,平行於圖1中所供參考座標系統的Z軸或與該Z軸同軸之方向)。可使用任何數量的第一光源16(例如,棒狀光源56),諸如三至七個第一光源16。例如,可使用五個第一光源16。該等棒狀光源56中之每一者係可設置於一垂直面內或毗鄰該垂直面設置。該二個或更多個點光源58中之每一者(與該等棒狀光源56連接者,或與該包括該複數個第一光源16中之一者的二個或更多個點光源58連接者)係可為任何可在一相對較小的區域產生強烈光線並可受該控制單元14控制之合適光源。例如,該二個或更多個點光源58中之每一者係可為一與該控制單元14通訊之LED 59。更具體而言,該二個或更多個點光源58中之每一者(或任一者)係可為一與一第一驅動器60通訊之LED,該第一驅動器60本身係與該控制單元14通訊或為該控制單元14中之一元件。每一棒狀光源56係可為一矩形棒體且該二個或更多個點光源58中之每一者係可耦接該棒狀光源56,且該二個或更多個點光源58中之每一者係可垂直排列。
如在圖1中所示,該赴數個第一光源16係可直接或間接固定於該框架組件12。例如,該複數個第一光源16係可耦接一直接或間接固定於該框架組件12上之面板構件80。該面板構件80係可耦接至該框架構件12的任何合適位置,並可以任何方向設置。例如,該面板構件80係可為平面式並設置於一平行於圖1中所供參考座標系統的Y-Z平面之平面上。該面板構件80係可耦接至(或耦接至部分的)該第一上框架構件30、該第四中間框架構件52、及該第一中間框架構件46中之任一者或全部。例如,該等含有二個或更多個點光源58的棒狀光源56中之每一者係可耦接該面板構件80並可平行一線性垂直軸設置(即,圖1的參考座標系統的Z軸)。複數個長條狀支撐構件81(參圖6B)係可代替該面板
構件80(或除該面板構件外)而設置於該第一上框架構件30及該第一下框架構件38的全部或一部分之間,及/或該第一中間框架構件46及該第四中間框架構件52的全部或一部分之間。例如,該複數個支撐構件81中之每一者係可平行圖1參考座標系統的Z軸而延伸。該等棒狀光源56中之每一者係可固定於該複數個支撐構件81中之至少一者。如在圖1中所示,該等棒狀光源56中之每一者可具有一水平對齊排列(即,沿著圖1的參考座標系統的Z軸對齊排列)的頂部以及一水平對齊排列的底部。該等棒狀光源56之每一者或每一群組係可偏移一均勻距離或以任何合適的方式間隔開。
該複數個第一光源16中之每一者(例如,該點光源58)係處於一發光的第一狀態或一不發光的第二狀態中之其中一狀態。在該發光的第一狀態中,該複數個第一光源16中之任一者可具有任何合適的亮度。例如,該複數個第一光源16中之一第一者的亮度係可不同於該複數個第一光源16中之一第二者的亮度。或者,該複數個第一光源16全部具有一均勻或大體上均勻的亮度。該複數個第一光源16中之每一者係經調適以設在該遠離該複數個第一光源16設置之相機18的視野內。
如在圖2中所示,該控制單元14可包含一第一處理器64,該第一處理器64可傳送一第一指令至該複數個第一光源16中之每一者(或任一者)以改變該複數個第一光源16中之每一者(或任一者)的一第一操作參數,且該複數個第一光源16中之每一者(或任一者)的第一操作參數係於接收到該第一指令時改變。例如,該第一操作參數係可為該複數個第一光源16中之每一者(或任一者)的發光狀態(即,不論該複數個第一光源16中之任一者或全部是在該發光的第一狀態或在不發光的第二狀態)。因此,改變該第一操作參數的指令係可為使該複數個第一光源16中之每一者(或任一者)由該發光的第一狀態改變至該不發光的第二狀態(或反過來)。更具體而言,改變該第一操作參數的指令係可為
使該複數個第一光源16中之每一者(或任一者)由該發光的第一狀態改變至該不發光的第二狀態(或反過來)。或者,改變該第一操作參數的指令係可為使一第一棒狀光源56a(或多個棒狀光源)的二個或更多個點光源58中之每一者(或任一者)由該發光的第一狀態改變至該不發光的第二狀態(或反過來)。
在其他實施例中,改變該第一操作參數的指令係可為使該複數個第一光源16中之每一者(或任一者)由一第一輸出強度(即,一第一亮度)改變至一不同於該第一輸出強度的第二輸出強度(即,一第二亮度),或反過來。更具體而言,改變該第一操作參數的指令係可為使該複數個第一光源16中之每一者(或任一者)由一第一輸出強度改變至一不同於該第一輸出強度的第二輸出強度(或反過來)。或者,改變該第一操作參數的指令係可為使一第一棒狀光源56a(或多個棒狀光源)的二個或更多個點光源58中之每一者(或任一者)由該第一輸出強度改變至該第二輸出強度(或反過來)。
如上所述之配置,該複數個第一光源16中之每一者或任一者係可使用於執行一圖框速率測試或一曝光時間測試。具體來說,一待檢測之相機18係可遠離該複數個第一光源16設置,且該複數個第一光源16中之任一者或全部係可設在該相機18的視野內。在某些實施例中,該複數個第一光源16可佔用以該相機18所拍攝的一影像中之約80%的空間。將該相機18如此設置時,該用以改變該操作參數(例如,處於該發光的第一狀態或該不發光的第二狀態,或者反過來)的指令係可在一給定時間週期中發出或觸發一已知次數(即,在一已知頻率下)。
該複數個第一光源16的影像係可由該相機18所拍攝,且該等影像係經分析以判定是否有一連續順序的影像顯示該複數個第一光源16全部只處在發光的第一狀態或不發光的第二狀態中之其中一狀態下。如果是這樣的話,那麼該已知的操作參數改變頻率會與該相機18的圖框速率
(或曝光時間)相同。用另外一種方式表示,若該相機18擷取到該複數個第一光源16持續在發光狀態下的穩定狀態影像,那麼該相機的圖框速率(或曝光時間)會與從關到開改變該複數個第一光源16的頻率相同。然而,影像可能經分析判定在一連續順序的影像中,該複數個第一光源16並非全部只處在發光的第一狀態或不發光的第二狀態中之其中一狀態下。如果這樣的話,那麼該已知的操作參數改變頻率並不會與該相機18的圖框速率相同。會接著(由一使用者通過該控制單元14而自動地)調整該頻率,直至有一連續順序的影像顯示該複數個第一光源16全部只處在發光的第一狀態或不發光的第二狀態中之其中一狀態下。
參閱圖2,該第一指令係可由一儲存於該控制單元14的一記憶體66內的程式所產生。或者,該第一指令係可通過一與該控制單元14通訊的使用者介面68而藉由使用者輸入所產生。該控制單元14可包含一電源(圖中未示),或者一電源係可電性耦接該控制單元14之一或更多個元件及/或該第一驅動器60,以提供電力至該複數個第一光源16。
該第一驅動器60(或該控制單元14之任何與該第一處理器64通訊之部分)係可包含一時序電路,該時序電路可以一給定頻率而變換該複數個第一光源16中之一第一者(或更多者)相對於該複數個第一光源16中之一第二者(或更多者)的相位之相位。更具體而言,複數個第一光源16中之一第一群組(例如,二或更多個棒狀光源56)係可在一第一相位中以一第一恆定頻率發光及停止發光(即,電力開啟或關閉),且該複數個第一光源16中之一第二群組(例如,二或更多個棒狀光源56)係可在一與該第一相位不同之第二相位中以該第一恆定頻率發光及停止發光。該複數個第一光源16中之第二群組係可以一低於該第一頻率之第二頻率發光及停止發光。藉由降低頻率,用以求出雜訊的平均值之經拍攝或記錄影像就不會被誤認為是記錄到記憶體的序列影像。例
如,於該第二頻率為該第一頻率的一半之情形下,所有經由一實施雙圖框平均化的相機所擷取到的視頻圖框或影像將會顯示該第一光源的第一群組以及該第一光源的第二群組。而經由一未實施平均化的相機所擷取到的視頻圖框將只會每隔一個圖框顯示出該第一光源兩個群組的影像。同樣的,此方法可藉由分別設定該第二頻率為第一頻率的三分之一、四分之一、及五分之一而檢測三圖框平均化、四圖框平均化及五圖框平均化。
如在圖1中所示,該相機檢測裝置10亦包含該耦接該框架組件12並與該控制單元14通訊之複數個第二光源20。參閱圖2,該複數個第二光源20係可與該控制單元14的第一處理器64或與該控制單元的一第二處理器84通訊。該複數個第二光源20中之每一者係調適成設在一遠離該複數個第二光源20設置之相機18的視野內。該複數個第二光源20中之每一者係可為任何合適的光源,且該光源係可不同於該複數個第一光源16或具有與該複數個第一光源16不同之特性。例如,如在圖1中所示,複數個第二光源20中之每一者可包含一均勻發光之發光區域70。該發光區域70可具有任何合適的形狀或尺寸,以能夠為該相機18所見或感知。
該第二光源20係可具有任何合適的結構以提供該發光區域70。例如,如在圖3A及圖3B中所示,該第二光源20中之每一者可包含一由一開放式第一端74a延伸到一開放式第二端74b之中空燈管72。該燈管72可具有任何合適的形狀,諸如(例如)圓柱形或橢圓形。一擴散元件76係可設置在該燈管72的第一端74a。該擴散元件76係可為平面式並覆蓋該燈管72整個開放式第一端74a。該擴散元件76係可為透明或半透明的,且其可由任何合適的材料所製成,諸如玻璃或聚碳酸酯。該擴散元件76亦可具有任何合適的顏色,諸如白色。該燈管72之開放式第二端74b係可設置在一或多個光源75上或毗鄰該光源75設置。例
如,該燈管72之開放式第二端74b係可毗鄰一或多個LED設置,諸如一或多個OLED(即,有機發光二極體)。更具體而言,複數個OLED係可組列於該燈管72之開放式第二端74b或毗鄰該第二端74b設置,讓該第二端74b圍繞該複數個OLED。如在圖4A中所示,該複數個OLED係可組列於一電路板上,該電路板可為一第二驅動器78的一元件,該第二驅動器78可為該控制單元14的一部分或與該控制單元14通訊。電路板可為一第二驅動器78的元件之其他實施例係圖示於圖4B、圖4C及圖4D中。或者,該複數個OLED係可組列於一為該第一驅動器60(參圖2)或任何其他驅動器的電路板之電路板上。該LED或OLED陣列係可具有一圓形的周邊或任何與該燈管72第二端74b形狀對應的合適周邊。該第二光源20中之每一者可具有其自己的第二驅動器78,或二個或更多個第二光源20可共享一第二驅動器78。
如在圖4A至4D中所示,該第二驅動器78的電路板係可具有一穿設其中之孔口83,且該孔口83為該LED或OLED陣列所圍繞。圖8A及8B顯示一替代實施例,其中該第二光源20中之一者或更多者具有一孔口83,該孔口83係穿過一偏離該第二驅動器78之表面89或穿過該第二驅動器78的一表面。一光學感測器79(參見,例如,圖8B)係可設置在該電路板上(其LED或OLED陣列的一相對側)以感測來自該LED或OLED陣列穿過該孔口83的光線,以判定該LED或OLED的溫度。該光學感測器係可與該控制單元14通訊(諸如該第一處理器64或該第二處理器84與該複數個光源20通訊)以傳達該LED或OLED的溫度。若該溫度高於一閾值溫度,可發出一指令或警報。該指令係可為一切斷該等LED或OLED電源的指令,以防止對該第二驅動器78元件的危害。可在該電路板上代替該光學感測器(或除該光學感測器外)而設置一霍爾效應感測器以感測該LED或OLED陣列的溫度。該霍爾效應感測器係可與該控制單元14通訊(諸如該第一處理器64或該第二處理器84)以傳
達該等LED或OLED的溫度。該霍爾效應感測器可取代一可降低散熱性並改善電路穩定度之電流感測電阻器。若該溫度高於一閾值溫度,可發出一指令或警報。該指令係可為一切斷該等LED或OLED電源的指令,以防止對該第二驅動器78元件的危害。圖4B顯示該第二驅動器78之一實施例之電路圖。
當該第二驅動器78產生或接收一指令而點亮該一或更多個光源75中之任一者或全部,該一或更多個光源75中之任一者或全部係經點亮而在該燈管72內提供光線,且此光線照亮該發光區域70讓該發光區域70均勻發亮或大體上均勻發亮。
如在圖1中所示,該複數個第二光源20(例如,在圖3B中所示之燈管72、該一或多個光源75、擴散元件76、及第二驅動器78)係可直接或間接固定至該框架組件12。例如,該複數個第二光源20係可耦接至該直接或間接固定於框架組件12上的面板構件80。該面板構件80可具有一孔口,該孔口係對應該複數個第二光源20中之每一者,讓該第一端74a(參圖3B)設置成穿過或毗鄰該面板構件80的孔口而設置。這般配置下,當沿著或平行於圖1中所供參考座標系統的X軸檢視時係可看見該發光區域70。該等擴散元件76中之全部或部分者(即,該發光區域70)係可與該面板構件80的外表面同平面(或稍微偏離該外表面)設置。如在圖3B中所示,一固持板82係固定於該面板構件80上以保留並固定該擴散元件76(及該燈管72),讓該擴散元件76(該發光區域70)設置於該固持板82中的一孔口內(或毗鄰該孔口設置)。該發光區域70(及該固持板82中的孔口)係可為圓形並具有一介於0.5英吋至6英吋之間的直徑。
該複數個第二光源20中之一第一者係經調適以提供一第一亮度,而該複數個第二光源20中之一第二者係經調適以提供一不同於該第一亮度之第二亮度。此外,該複數個第二光源20中之一第三者係經
調適以提供一不同於該第一亮度及該第二亮度之第三亮度(等等)。
如在圖2中所示,該控制單元14(例如,該第二處理器84)可傳送一第二指令至該複數個第二光源20中之第一者而使其以該第一亮度(即,強度)發光,並傳送一第三指令至該複數個第二光源20中之第二者而使其以該第二亮度發光。在某些實施例中,該第二指令及該第三指令可為相同的指令。在其他實施例中,該第二指令及該第三指令可為不同的指令。在其他實施例中,該控制單元14可傳送一第四指令至該複數個第二光源20中之一第三者而使其以一不同於該第一亮度及該第二亮度之第三亮度。在某些實施例中,該第四指令係可與該第二指令及該第三指令相同。在其他實施例中,該第四指令係可不同於該第二指令及該第三指令中之一者或二者。該第二指令、第三指令、及/或第四指令係可為任何適合分別導致該第一亮度、第二亮度、及/或第三亮度的訊號。例如,該第二指令、第三指令、及/或第四指令係可為一來自於該控制單元14的一部分的電源(圖中未示)之指令,以點亮該複數個第二光源20之第一者、第二者、及/或第三者。或者,該第二指令、第三指令、及/或第四指令係可由一儲存於一記憶體(例如,該記憶體66)中之程式所產生。
該複述個第二光源20中之每一者的亮度係可為固定且不可調整,或該複述個第二光源20中之每一者的亮度係為可變及/或可調整的。該複述個第二光源20中之每一者的亮度係可為經由一使用者或一儲存於該控制單元14之一記憶體66之程式所調整。在一些實施例中,該複述個第二光源20中之每一者的亮度係可為經由一儲存於該第二驅動器78之一記憶體66之程式所調整。
該複數個第二光源20係可以任何合適的方式設置,使該複數個第二光源20處在該遠離該複數個第二光源20設置之相機18的視野內。例如,如在圖1中所示,該複數個第二光源20係圍繞該複數個第一光
源16中之任一者或全部而排列成一圓形圖樣。在一些實施例中,該複數個第二光源20係圍繞二個或更多個棒狀光源56而排列成一圓形圖樣。在一些實施例中,十二個第二光源20係可組列成一形成有一圓周之圓形圖樣,且有五個棒狀光源56設置在該元周內或內部。在一些實施例中,該複數個第二光源20係可設置成一圓形圖樣且未有第一光源16設置在該圓周內或內部。該複數個第二光源20係可設置成一“X”圖樣,或設置成二或更多列或排。
如上所述之配置,該複數個第二光源20中之每一者可提供一獨有的亮度,該亮度係可從最小亮度(或強度)改變到最大亮度(或強度)。因此,當該遠離複數個第二光源20設置之相機18拍攝該複數個第二光源20的影像時,可在該相機18上執行光靈敏度測試。在光靈敏度測試中,該相機18相對於另一相機的光靈敏度係可藉由分析各個相機的影像而判定。亦即該複數個第二光源20中之每一者之強度係已知的,故若在該相機18所拍攝影像中解析該複數個第二光源20中之一特定者,該相機18的光靈敏度至少等同於該複數個第二光源20中之特定者的強度。然而,若該相機18所拍攝影像未顯示該複數個第二光源20中之另一者,相機18的光靈敏度係大於該複數個第二光源20中之特定者的強度。因此,可測試多個相機以判定或查證其光靈敏度值。
該驅動器(例如,該第一驅動器60及/或第二驅動器78)係可為任何適合調節一或多個LED電源的電子裝置,以在該一或多個LED 59的電氣特性因溫度的相應變化而改變時,維持或提供一所要的功率水平(例如,恆定功率)。例如,一驅動器60可包含經調適成電性耦接該一或多個LED 59至該驅動器60之複數個連接線(圖中未示)。一傳統的電源供應器係可代替一驅動器而使用於驅動該一或多個LED中之任一者。
圖7係顯示該第二驅動器78之一實施例之區塊圖。該第二驅動器78可包含一或多個LED 204、一光學感測器206、及/或一霍爾效應感
測器202。該光學感測器206可量測該LED 204輸出的變化(即,感測該LED 204或該LED陣列的穩定性)。該霍爾效應感測器202係可監測與一LED 204或一LED陣列的電流消耗相關之磁場強度。例如,該霍爾效應感測器202係可量測一與該LED 204(或一LED陣列)通訊之電線205附近之磁場,且該磁場係與該LED(或一LED陣列)的電流消耗相關聯。該第二驅動器78亦可包含一電流微控制器201(MCU),該電流微控制器201可依據來自該光學感測器206及/或該霍爾效應感測器202之輸出訊號而調整一電流調節器203。該電流調節器203可控制該LED 204(或該LED陣列)的穩定性。該微控制器201及該電流調節器203可各自耦接一電源207。該電流調節器203可控制設至於該第二驅動器78上之一LED陣列的穩定性。
該相機檢測裝置10亦可包含一光幕裝置86,如在圖5中所示。該光幕裝置86係包含一本體87,且該本體87係為一具有矩形剖面之實心料件。該本體87係可由一透明或半透明的塑料材料的實心單一塊體,諸如透明壓克力。該本體87可包含一平行於圖5中參考座標系統的Y-Z平面之平面狀正面88。一平面狀背面90係平行於該正面,並以一平行於圖5中參考座標系統的X軸之方向偏離該正面。一橫向的第一側面92係以一垂直於該正面88的方向延伸於該正面88及該背面90之間。亦即,該第一側面92係平行於圖5中參考座標系統的X-Z平面。一橫向的第二側面94亦以一垂直於該正面88的方向延伸於該正面88及該背面90之間,且該第二側面94係以一平行於圖5中參考座標系統的Y軸之方向偏離該第一側面92。一頂面96係以一垂直於該正面88的方向延伸於該正面88及該背面90之間,且該頂面96係垂直於該正面88、該第一側面92、及該第二側面94。亦即,該頂面96係平行於圖5中參考座標系統的X-Y平面。一底面98亦延伸於該正面88及該背面90之間,且該底面98係以一平行於圖5中參考座標系統的Z軸之方向偏離該頂面
98。一中央孔口100(由一或更多個孔壁102所界定)係可由該正面88至該背面90而延伸穿過該光幕裝置86,且該中央孔口100係以一平行於圖5中參考座標系統的X軸之方向延伸。該中央孔口100可具有任何合適的形狀,諸如圓形,且該中央孔口100可具有圓筒形狀(即,該孔壁具有圓筒的形狀)。一或更多個長條狀凹槽104係可沿著該第一側面92、第二側面94、頂面96、及/或底面98中之任一者或全部的縱長而設置。該一或更多個長條狀凹槽104中之每一者可具有一範圍在該第一側面92、第二側面94、頂面96、及/或底面98中任一者長度的100%至75%內之長度。
該光幕裝置86可另外包含設置於該等長條狀凹槽104內或毗鄰該等凹槽設置之一或更多個光源106。例如,該一或更多個光源106中之每一者係可為複數個LED,該複數個LED係經設置適用以穿過界定各凹槽104的一或更多個表面中之任一者而向內照亮該本體87。該等光源106係可與該控制單元14通訊或可由該使用者所獨立控制。該一或更多個光源106於點亮時係可各自提供一恆定的光照強度。或者,該一或更多個光源106於點亮時係可各自提供一可調整的光照強度。
該光幕裝置86亦可包含一或更多個罩幕元件108,該罩幕元件具有一反射內表面以在該本體87內反射光線。該等罩幕元件的外表面係可呈黑色。例如,該一或更多個罩幕元件108中之一第一者及第二者係經調適以覆蓋該正面88及該背面90中之每一者的全部或一部分。該罩幕元件108於該正面88上之反射內表面係面向該背面90,且該罩幕元件108於該背面90上之反射內表面係面向該正面88。該等罩幕元件108中之一第三者至第六者係經調適成覆蓋該第一側面92、第二側面94、頂面96、及或底面98中之每一者的全部或一部分。該罩幕元件108的反射內表面係可面向該中央孔口100。該(等)孔壁102及界定該等長條狀凹槽104每一者之該等表面的全部或部分係未受該等罩幕元
件108中之一相應者所覆蓋。該等罩幕元件108中之任一者或全部可包含一或更多個顏料塗層或其他表面處理。此外,該等罩幕元件108中之任一者或全部係可為一固定於該本體87上之單獨元件。操作時,該複數個光源106係經點亮,且由於該等罩幕元件108內部的反射表面,光照係直接穿過該一或更多個孔壁102以在該中央孔口100內及/或毗鄰該中央孔口100處提供均勻的環繞光線。
通過這樣的配置,該光幕裝置86可使用於對一或更多個相機18執行光幕雜散光測試。更具體而言,一第一相機18係可設置於該中央孔口100內或鄰近該中央孔口100處。例如,該第一相機18中之透鏡係可對齊該中央孔口100的中央軸,讓該透鏡設置於該正面88的垂直面與該背面90的垂直面之間。當使用該第一相機18拍攝影像時,該影像係可經分析而判定光幕雜散光的範圍或程度。此外,或者,該影像係可與從一第二相機所拍攝的影像進行比較,以比較光幕雜散光的範圍或程度。該光幕裝置86可耦接至該框架組件12,或可遠離該框架組件12設置。在一些實施例中,該光幕雜散光測試係可在任一或全部其他測試的期間執行或配合其他測試執行。例如,該光幕裝置86於圖框速率測試及/或靈敏度測試期間係可依上文描述使用。
該相機檢測裝置10亦可包含一對準固定件110,該對準固定件110係經調適以耦接至一其本身係經調適以支撐該相機18之相機支架112,如圖6A中所示。該相機支架112(及/或該對準固定件110)係可固定或耦接於該框架組件12,或可遠離該框架組件12設置。在一些實施例中,該相機支架112(及/或該對準固定件110)係可獨立該框架組件12使用。該相機支架112可具有任何經調適以於執行上述測試中之任一者時及/或於該相機18使用於記錄或拍攝一或更多個影像時穩固地支撐相機之結構。該相機支架112可具有任何合適的安裝機構113,該安裝機構113係經調適以耦接該相機至該相機支架112。例如,該相機
支架112可為一傳統具有習用安裝機構之三角架。該對準固定件110係可為一具有一對準部116且固定於該相機支架112上之托架114。該對準部116係可固定於該相機支架112之安裝機構113上。該對準部116係可為平面式且為直立式或大體上為直立式(即,對準於圖1中參考座標系統的Z軸)。
該對準部116係可支撐該一或更多個第一對準特徵118,該第一對準特徵118係可與設置在該框架組件12、該複數個第一光源16、及該複數個第二光源20中任一者或毗鄰該者上之對應的一或更多個第二對準特徵120聯合使用(參圖6B)。該一或更多個第一對準特徵118係可與該一或更多個第二對準特徵120相配合,以確保該相機支架112所支撐的相機18位於正確的位置上,已執行前述測試中之任一者或全部。例如,該一或更多個第一對準特徵118可包含一或更多個雷射,且該一或更多個第二對準特徵120係可為在該框架組件12或該面板構件80(或該複數個第一或第二光源16、20中之任一者)上之一或更多個對應的孔口或標記。在一些實施例中,該一或更多個第二對準特徵120可包含一或更多個雷射,且該一或更多個第一對準特徵118係可為在該框架組件12或該面板構件80(或該複數個第一或第二光源16、20中之任一者)上之一或更多個對應的孔口或標記。該第一對準特徵118可包含二個垂直分離並沿著一垂直軸對齊之雷射,且該第二對準特徵120可包含二個在該框架組件12或該面板構件80(或該複數個第一或第二光源16、20中之任一者)上之對應的孔口或標記。於此實施例中,來自於每一雷射的光束係可穿過該對應的孔口,或可設置於該等標記上或毗鄰該等標記設置。
如本文所述之配置,該相機檢測裝置10之該等實施例及使用該相機檢測裝置10之方法係能夠定量地、不斷地並準確地測量攝影機的性能,並對於終端用戶選擇合適的產品時提供有意義的資訊。本領域
中具有通常知識者將認知到該等所揭露之相機檢測裝置10實施例係可容易地以現成的光學設備校準,並可以準確地量化為各種攝影機的性能。
儘管已在上文描述各種實施例,本發明並不意在侷限於此。對於所揭露實施例所做的變化仍屬所附申請專利範圍之範疇內。
10‧‧‧相機檢測裝置
12‧‧‧框架組件
16‧‧‧第一光源
18‧‧‧相機
20‧‧‧第二光源
30‧‧‧第一上框架構件
32‧‧‧第二上框架構件
34‧‧‧第三上框架構件
36‧‧‧第四上框架構件
38‧‧‧第一下框架構件
40‧‧‧第二下框架構件
42‧‧‧第三下框架構件
44‧‧‧第四下框架構件
46‧‧‧第一中間框架構件
48‧‧‧第二中間框架構件
50‧‧‧第三中間框架構件
52‧‧‧第四中間框架構件
54‧‧‧腳輪
56‧‧‧棒狀光源
58‧‧‧點光源
59‧‧‧LED
70‧‧‧發光區域
80‧‧‧面板構件
82‧‧‧固持板
Claims (52)
- 一種相機檢測裝置,包括:一框架組件;一控制單元;複數個第一光源,係耦接該框架組件並與該控制單元通訊,其中該複數個第一光源中之每一者係處於一發光的第一狀態或一不發光的第二狀態中之其中一狀態,且其中該複數個第一光源中之每一者係調適成設在一遠離該複數個第一光源設置之相機之視野內;以及複數個第二光源,係耦接該框架組件並與該控制單元通訊,其中該複數個第二光源中之每一者係處於一發光的第一狀態或一不發光的第二狀態中之其中一狀態,且其中該複數個第二光源中之每一者係調適成設在該遠離該複數個第二光源設置之相機之視野內,其中該控制單元傳送一第一指令至該複數個第一光源中之每一者,以改變該複數個第一光源中之任一者或其全部之一第一操作參數,其中該複數個第一光源中之任一者或其全部之第一操作參數係於接收到該第一指令時改變,且其中該控制單元傳送一第二指令至該複數個第二光源中之一第一者使其以一第一亮度發光,並傳送一第三指令至該複數個第二光源中之一第二者使其以一與該第一亮度不同之第二亮度發光,其中該複數個第二光源中之第一者係於接收到該第二指令時以該第一亮度發光,及該複數個第二光源中之第二者係於接收 到該第三指令時以該第二亮度發光。
- 如請求項1之相機檢測裝置,其中該第一操作參數係為該複數個第一光源中之任一者或其全部之一照明狀態,且其中該複數個第一光源中之任一者或其全部之第一操作參數的改變係包含(a)將該複數個第一光源中之任一者或其全部由該發光的第一狀態改變至該不發光的第二狀態,或(b)將該複數個第一光源中之任一者或其全部由該不發光的第二狀態改變至該發光的第一狀態。
- 如請求項1之相機檢測裝置,其中該第一操作參數係為該複數個第一光源中之任一者或其全部之輸出亮度,且其中該複數個第一光源中之任一者或其全部之第一操作參數的改變係包含(a)將該複數個第一光源中之任一者或其全部由一第一輸出亮度改變至一第二輸出亮度,或(b)將該複數個第一光源中之任一者或其全部由該第二輸出亮度改變至該第一輸出亮度。
- 如請求項1之相機檢測裝置,其中該第一指令係由一儲存於該控制單元的一記憶體內的程式所產生。
- 如請求項1之相機檢測裝置,其中該複數個第一光源中之每一者係為一棒狀光源,其包含二個或更多個沿著一直線軸設置之點光源。
- 如請求項5之相機檢測裝置,其中該二個或更多個點光源中之每一者係為LED。
- 如請求項1之相機檢測裝置,其中該複數個第二光源中之每一者係具有一均勻發光之發光區域。
- 如請求項7之相機檢測裝置,其中該發光區域係為圓形且具有一介於25英吋及6英吋之間的直徑。
- 如請求項7之相機檢測裝置,其中該複數個第二光源中之每一者 係包含一具有一第一端及一第二端之燈管,複數個設置於該燈管的一第一端上或毗鄰該燈管第一端設置之LEDs,以及一毗鄰該燈管第二端設置之擴散元件。
- 如請求項1之相機檢測裝置,其中該控制單元包含一第一處理器及一第二處理器,且其中該複數個第一光源中之每一者係與該第一處理器通訊,且該複數個第二光源中之每一者係與該第二處理器通訊。
- 如請求項1之相機檢測裝置,其中該複數個第二光源中之每一者係包含一LED陣列,且該控制單元包含至少一第二驅動器,且該LED陣列係毗鄰該至少一第二驅動器設置。
- 如請求項11之相機檢測裝置,其中該第二驅動器包含一霍爾效應感測器,以監測與該LED陣列的電流消耗相關的磁場強度。
- 如請求項12之相機檢測裝置,其中該第二驅動器包含一光學感測器,以感測該LED陣列的穩定性。
- 如請求項13之相機檢測裝置,其中該第二驅動器包含一毗鄰該LED陣列設置之孔口,且其中該光學感測器係經設置以偵測來自該陣列之穿過該孔口的光線,以調控該LED陣列的溫度。
- 如請求項2之相機檢測裝置,其中該控制單元包含一與該複數個第一光源中之每一者通訊之第一驅動器,且其中該複數個第一光源中之每一者係為一LED。
- 如請求項15之相機檢測裝置,其中該第一驅動器係為與該複數個第一光源中之一第一者以及該複數個第一光源中之一第二者通訊,且其中該複數個第一光源中之第一者的發光狀態係以一第一頻率改變,且該複數個第一光源中之第二者的發光狀態係以一第二頻率改變。
- 如請求項16之相機檢測裝置,其中該第一驅動器包含一時序電 路且其中該第一頻率係等同於該第二頻率,且其中該第一頻率之相位係相對該第二頻率變換。
- 如請求項16之相機檢測裝置,其中該第一驅動器包含一時序電路且該第一頻率係低於該第二頻率。
- 如請求項1之相機檢測裝置,其中該控制單元包含一第一處理器,且其中該複數個第一光源中之每一者係與該第一處理器通訊,且該複數個第二光源中之每一者係與該第一處理器通訊。
- 如請求項1之相機檢測裝置,其中該控制單元係遠離該框架組件設置。
- 如請求項1之相機檢測裝置,其中該相機係藉由一相機支架所支撐。
- 如請求項21之相機檢測裝置,其中該相機支架係耦接該框架組件。
- 如請求項1之相機檢測裝置,其中該複數個第一光源中之每一者係設置於一垂直平面內。
- 如請求項23之相機檢測裝置,其中該複數個第二光源中之每一者之至少一部分係設置於該第一平面內。
- 如請求項24之相機檢測裝置,其中該第一平面係呈垂直狀。
- 如請求項1之相機檢測裝置,其中該控制單元係耦接至該框架組件。
- 如請求項1之相機檢測裝置,其中該控制單元係變換該複數個第一光源中之每一者由該第一狀態改變至該第二狀態或由該第二狀態改變至該第一狀態之頻率。
- 如請求項1之相機檢測裝置,其中於該複數個第二光源中之第一者及第二者處於該第一狀態中時,該複數個第二光源中之一第一者的亮度係不同於該複數個第二光源中之一第二者的亮度。
- 如請求項1之相機檢測裝置,其中於該複數個第二光源中之每一者係處於該第一狀態中時,該控制單元係變換該複數個第二光源中之每一者的亮度。
- 如請求項4之相機檢測裝置,其中該複數個第一光源中之二個或多個中之每一者的軸係平行一垂直軸設置。
- 如請求項30之相機檢測裝置,其中該複數個第二光源係圍繞該複數個第一光源的第一群組而排列成一圓形圖樣。
- 如請求項6之相機檢測裝置,其中該複數個第二光源中之一第一群組係排列成一「X」形狀。
- 如請求項22之相機檢測裝置,其中一對準固定件係耦接於該相機支架。
- 如請求項33之相機檢測裝置,其中該對準固定件包含一托架,該托架具有一固定於該相機支架之對準部。
- 如請求項34之相機檢測裝置,其中該個或更多個第一對準特徵係耦接於該對準部,且其中該第一對準特徵係與一或更多個遠離該等第一對準特徵設置之第二對準特徵相配合以設置該相機。
- 如請求項35之相機檢測裝置,其中該個或更多個第一對準特徵係為一或更多個雷射,且該個或更多個第二對準特徵係為在該框架組件上之一或更多個對應的孔口或標記。
- 如請求項1之相機檢測裝置,其中該相機的一透鏡部係設置於一發光的中央孔口內,該中央孔口係通過一光幕裝置的一主體所形成。
- 如請求項37之相機檢測裝置,其中該中央孔口係由一圓筒狀孔壁所界定,且其中有複數個光源係通過該孔壁而提供均勻光線。
- 一種檢測相機之方法,該方法包括:由一控制單元傳送一第一訊號至一第一光源以將該第一光源由一發光的第一狀態改變至一不發光的第二狀態,其中該第一光源係耦接一遠離該相機設置之框架組件;將該第一光源的狀態由該發光的第一狀態改變至該不發光的第二狀態;啟動一遠離該框架組件設置之相機,讓一由該相機所產生之影像包含該第一光源;以及針對一測試參數分析由該相機所產生之影像。
- 如請求項39之方法,更包括:由該控制單元傳送一第二訊號至該第一光源以由該不發光的第二狀態改變至該發光的第一狀態;以及將該第一光源的狀態由該不發光的第二狀態改變至該發光的第一狀態。
- 如請求項40之方法,更包括:由該控制單元傳送一第三訊號至一第二光源以由一發光的第一狀態改變至一不發光的第二狀態;以及將該第二光源的狀態由該發光的第一狀態改變至該不發光的第二狀態,其中由該相機所產生的圖像係包含該第一光源及該第二光源。
- 如請求項41之方法,更包括:由該控制單元傳送一第四訊號至該第二光源以由該不發光的第二狀態改變至該發光的第一狀態;以及將該第二光源的狀態由該不發光的第二狀態改變至該發光的第一狀態。
- 如請求項40之方法,其中該測試參數係為相機解析度或光敏度 中之一者。
- 一種相機檢測裝置,包括:一框架組件;一控制單元;以及複數個第一光源,係耦接該框架組件並與該控制單元通訊,其中該複數個第一光源中之每一者係處於一發光的第一狀態或一不發光的第二狀態中之其中一狀態,且其中該複數個第一光源中之每一者係調適成設在該遠離該複數個第一光源設置之相機之視野內;其中該控制單元係調適成傳送一指令至該複數個第一光源中之每一者以由該發光的第一狀態改變至該不發光的第二狀態,或由該不發光的第二狀態改變至該發光的第一狀態,且其中該複數個第一光源中之每一者係調適成在接收到該第一指令時由該發光的第一狀態改變至不發光的第二狀態,或由該不發光的第二狀態改變至該發光的第一狀態。
- 如請求項44之相機檢測裝置,更包括耦接該框架組件並與該控制單元通訊之複數個第二光源,其中該複數個第二光源中之每一者係處於一發光的第一狀態或一不發光的第二狀態中之其中一狀態,且其中該複數個第二光源中之每一者係調適成設在遠離該複數個第二光源設置之相機的視野內。
- 如請求項45之相機檢測裝置,其中該複數個第二光源中之一第一者係調適成以一第一亮度發光,且該複數個第二光源中之一第二者係調適成以一與該第一亮度不同之第二亮度發光。
- 如請求項46之相機檢測裝置,其中該複數個第二光源中之一第三者係調適成以一與該第一亮度及該第二亮度中之每一者不同之第三亮度發光。
- 如請求項1之相機檢測裝置,其中該控制單元傳送一第四指令至該複數個第二光源中之任一者或全部以改變該複數個第二光源中之任一者或全部之一第二操作參數,其中該第一操作參數係與該第二操作參數不同。
- 如請求項1之相機檢測裝置,其中該控制單元傳送一第四指令至該複數個第二光源中之一第三者使其以一與該第一亮度及該第二亮度不同之第三亮度發光,且其中該複數個第二光源之第三者係於接收到該第四指令時以該第三亮度發光。
- 如請求項13之相機檢測裝置,其中該第二驅動器包含一電流調節器以控制該LED陣列的穩定性。
- 如請求項50之相機檢測裝置,其中該第二驅動器包含一微控制器,以依據一來自於該霍爾效應感測器或該光學感測器中之一者或二者之輸出訊號而調整該電流調節器。
- 如請求項11之相機檢測裝置,其中該第二驅動器包含一光學感測器以感測制該LED陣列的穩定性。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201361908676P | 2013-11-25 | 2013-11-25 | |
US61/908,676 | 2013-11-25 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW201520680A true TW201520680A (zh) | 2015-06-01 |
TWI638222B TWI638222B (zh) | 2018-10-11 |
Family
ID=52002702
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW103140670A TWI638222B (zh) | 2013-11-25 | 2014-11-24 | 相機檢測裝置及檢測相機之方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9451247B2 (zh) |
EP (1) | EP2876880A1 (zh) |
TW (1) | TWI638222B (zh) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112805554B (zh) * | 2018-08-30 | 2024-09-06 | 佳能弗吉尼亚股份有限公司 | 自主监视系统 |
US11635326B2 (en) * | 2019-04-02 | 2023-04-25 | Waymo Llc | Stray-light testing station |
KR102340260B1 (ko) * | 2020-10-13 | 2021-12-17 | (주)이즈미디어 | 카메라 모듈 검사 장치 |
Family Cites Families (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4336580A (en) | 1978-08-25 | 1982-06-22 | General Instrument Corporation | Alpha-numeric display array and method of manufacture |
DE3106545A1 (de) | 1980-03-06 | 1982-02-04 | Smiths Industries Ltd., London | Verfahren zum bestimmen der anordnung einer anzeige in einer anzeigeflaeche |
US5760829A (en) | 1995-06-06 | 1998-06-02 | United Parcel Service Of America, Inc. | Method and apparatus for evaluating an imaging device |
GB2330679B (en) | 1997-10-21 | 2002-04-24 | 911 Emergency Products Inc | Warning signal light |
US6473062B1 (en) | 2000-03-22 | 2002-10-29 | Storage Technology Corporation | Intelligent light source |
US6985616B2 (en) | 2001-10-18 | 2006-01-10 | Robodesign International, Inc. | Automated verification and inspection device for sequentially inspecting microscopic crystals |
US20030142044A1 (en) | 2002-01-31 | 2003-07-31 | James Berry | License plate frame with programmable electronic display |
EP2203032A3 (en) | 2002-02-06 | 2010-11-03 | Philips Solid-State Lighting Solutions, Inc. | Controlled lighting methods and apparatus |
US6850169B2 (en) | 2002-05-17 | 2005-02-01 | Payam Manavi | Emergency traffic signal device |
US7068302B2 (en) | 2002-08-15 | 2006-06-27 | Ford Global Technologies, Llc | Method for camera calibration and quality testing |
JP3902109B2 (ja) | 2002-10-02 | 2007-04-04 | 本田技研工業株式会社 | 赤外線カメラ特性確認治具 |
JP2005191387A (ja) | 2003-12-26 | 2005-07-14 | Fujitsu Ltd | 撮像素子試験方法及び装置 |
WO2005100944A1 (ja) | 2004-03-31 | 2005-10-27 | Advantest Corporation | イメージセンサ用試験装置 |
US8634014B2 (en) | 2004-04-05 | 2014-01-21 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Imaging device analysis systems and imaging device analysis methods |
US8705151B2 (en) | 2004-04-05 | 2014-04-22 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Imaging device calibration methods, imaging device calibration instruments, imaging devices, and articles of manufacture |
US7252408B2 (en) | 2004-07-19 | 2007-08-07 | Lamina Ceramics, Inc. | LED array package with internal feedback and control |
EP1628123A1 (en) | 2004-08-17 | 2006-02-22 | Dialog Semiconductor GmbH | Testing of miniaturized cameras with electronic and/or optical zoom functions |
EP1628492A1 (en) | 2004-08-17 | 2006-02-22 | Dialog Semiconductor GmbH | A camera test system |
EP1628494A1 (en) | 2004-08-17 | 2006-02-22 | Dialog Semiconductor GmbH | Intelligent light source with synchronization with a digital camera |
US7629998B2 (en) | 2005-06-23 | 2009-12-08 | Elbex Video Limited | Method and apparatus for measuring illumination and camera performances |
KR101144185B1 (ko) | 2005-06-29 | 2012-05-10 | 삼성전자주식회사 | 액정 표시 장치의 화질 검사 장치 및 방법 |
WO2007061895A1 (en) | 2005-11-22 | 2007-05-31 | 3M Innovative Properties Company | Arrays of light emitting articles and method of manufacturing same |
BRPI0714428A2 (pt) | 2006-07-13 | 2013-03-12 | Tir Technology Lp | Fonte de luz , método para acionar a mesma, produto de programa de computador, e, meio de armazenamento legível por computador |
CN105934050B (zh) | 2006-09-20 | 2019-07-05 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发光元件控制系统及包含该系统的照明系统 |
US7944153B2 (en) | 2006-12-15 | 2011-05-17 | Intersil Americas Inc. | Constant current light emitting diode (LED) driver circuit and method |
EP2116890A1 (en) | 2008-05-09 | 2009-11-11 | Shun-Kun Kuo | Testing apparatus for fixing and testing a LCD panel |
US20100027293A1 (en) | 2008-07-30 | 2010-02-04 | Intematix Corporation | Light Emitting Panel |
US8456092B2 (en) * | 2008-09-05 | 2013-06-04 | Ketra, Inc. | Broad spectrum light source calibration systems and related methods |
US8028909B2 (en) | 2008-11-26 | 2011-10-04 | Symbol Technologies, Inc. | Integrated image quality test for imaging system |
CN102998891B (zh) | 2011-05-19 | 2016-08-31 | 南昌欧菲光电技术有限公司 | 多方向空间频率响应测量系统 |
US8585243B2 (en) | 2011-06-28 | 2013-11-19 | Osram Sylvania Inc. | LED lighting apparatus, systems and methods of manufacture |
US8480267B2 (en) | 2011-06-28 | 2013-07-09 | Osram Sylvania Inc. | LED lighting apparatus, systems and methods of manufacture |
CN202119722U (zh) * | 2011-07-07 | 2012-01-18 | 湖南正中制药机械有限公司 | 检测设备的双相机检测装置 |
CN103365032B (zh) | 2012-03-28 | 2017-06-06 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 光源通道校正方法及系统 |
CN202814431U (zh) * | 2012-09-18 | 2013-03-20 | 廖怀宝 | 自动光学检测仪及其多段式轨道装置 |
CN203679645U (zh) * | 2013-11-27 | 2014-07-02 | 周俊雄 | O型圈组装设备 |
-
2014
- 2014-11-21 US US14/550,670 patent/US9451247B2/en active Active
- 2014-11-24 EP EP14194591.5A patent/EP2876880A1/en not_active Withdrawn
- 2014-11-24 TW TW103140670A patent/TWI638222B/zh active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2876880A1 (en) | 2015-05-27 |
TWI638222B (zh) | 2018-10-11 |
US9451247B2 (en) | 2016-09-20 |
US20150146016A1 (en) | 2015-05-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8860819B2 (en) | Automated lighting system characterization device and system | |
TWI498534B (zh) | 成像感測器陣列測試設備 | |
TWI638222B (zh) | 相機檢測裝置及檢測相機之方法 | |
JP2011025028A5 (zh) | ||
KR101812235B1 (ko) | 카메라 화질 테스트용 검사 장치 | |
CN105873495A (zh) | 光源装置 | |
KR101673203B1 (ko) | 지오데식 돔 설계기법이 적용된 돔 구조 카메라 화질 테스트용 검사장치 | |
JP2019526152A (ja) | 照明システムのセンサを較正するための方法 | |
JP2005172665A (ja) | 光放射パターン測定装置 | |
CN101788115A (zh) | 多光谱均匀面光源 | |
KR101466608B1 (ko) | 발광 다이오드의 특성 측정장치 | |
CN207703459U (zh) | 一种激光投影散斑测量系统 | |
CN209913938U (zh) | 基于光学成像的摄像头探测锁定系统 | |
JP7341145B2 (ja) | 皮膚を画像化する装置 | |
TWI426247B (zh) | 光源測量方法 | |
CN111060204A (zh) | 一种色彩分析仪的定标装置及方法 | |
CN103471821A (zh) | Led台灯照度均匀度和光谱特性检测与分析装置及方法 | |
KR101371111B1 (ko) | Led 모듈 검사 장치 | |
EP3536224A1 (en) | System for measuring skin pores | |
EP3311069B1 (en) | Lighting device, in particular for lighting exhibition objects | |
CN211291747U (zh) | 一种色彩分析仪的定标装置 | |
JP6805238B2 (ja) | 照明装置および照明装置を制御するための方法 | |
CN112762862A (zh) | 一种校准眩光测量装置的标准眩光场及校准方法 | |
JP2005107434A (ja) | 発光表示装置 | |
CN216559333U (zh) | 一种光度计校准用光源 |