TW201413314A - 光纖偏心量測方法 - Google Patents
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Abstract
一種光纖偏心量測方法,用於量測光通訊模組中光纖是否偏心,所述光通訊模組包括跨接器和光電耦合模組,所述跨接器上具有固定所述光纖之容置孔,所述光電耦合模組具有與所述光纖進行光耦合之透鏡,所述跨接器上具有第一定位結構,所述光纖偏心量測方法包括:提供一標準片,所述標準片包括主體和設置於所述主體上的通孔,所述通孔與所述容置孔一一對應且中心對準,所述通孔的直徑等於或略大於所述容置孔的直徑,所述主體上具有對應所述第一定位結構的第二定位結構;將第二定位結構和第一定位結構對齊以使所述標準片定位於所述跨接器上;透過所述通孔目測所述光纖,如果能夠看到所述光纖完整的端部,則所述光纖沒有偏心,否則,所述光纖偏心。
Description
本發明關於一種光纖偏心量測方法。
完整的光纖通訊模組包括電路板、光電耦合模組(OE lens)、跨接器(Jumper)和固定結構,電路板上設置有驅動晶片、鐳射二極體和光電二極體。光電二極體的功能為將光訊號輸入轉換成電訊號輸出;反之雷射二極體的功能則為電訊號輸入轉換成光訊號輸出。跨接器的功能是為了連結光纖與光電耦合模組的機構件。固定結構則是固定光電耦合模組與跨接器之扣件。
使用光纖作光通訊傳輸重要的課題在於發射光與接收光是否準直,而偏心會影響到光傳輸能量的損耗。以光電轉換模組為例,基板的鐳射二極體發出多個垂直電路板的雷射光,再經由光電轉換模組將垂直電路板的雷射光全反射為平行光,之後經過光纖陣列可將多個通道的光訊號輸出;反之光纖也可以輸入多個通道的光訊號讓電路板上的光電二極體接收光訊號。
將光纖組裝入跨接器中時,透過三次元影像量測儀量測光纖是否偏心,而當光纖在跨接器中固定後,基本上是光纖陣列之線材,如此難以將其架設於三次元影像量測儀上進行量測。
有鑒於此,有必要提供一種方便檢測光纖是否偏心的光纖偏心量測方法。
一種光纖偏心量測方法,用於量測光通訊模組中光纖是否偏心,所述光通訊模組包括跨接器和光電耦合模組,所述跨接器之一端具有固定所述光纖之容置孔,所述光電耦合模組上具有與所述光纖進行光耦合之透鏡,所述跨接器上具有第一定位結構,所述光纖偏心量測方法包括:提供一標準片,所述標準片包括主體和設置於所述主體上的通孔,所述通孔與所述容置孔一一對應且中心對準,所述通孔的直徑等於或略大於所述容置孔的直徑,所述主體上具有對應所述第一定位結構的第二定位結構;將第二定位結構和第一定位結構對齊以使所述標準片定位於所述跨接器上;透過所述通孔目測所述光纖,如果能夠看到所述光纖完整的端部,則所述光纖沒有偏心,否則,所述光纖偏心。
相較於先前技術,本發明實施例的光纖偏心量測方法藉助具有通孔之標準片觀察光纖,以判斷光纖是否偏心,不需要藉助複雜、精密的量測儀器,從而方便檢測光纖是否偏心。
下面將結合附圖對本發明實施例作進一步詳細說明。
請參閱圖1,本發明實施例提供的光纖偏心量測方法,用於量測光通訊模組中光纖是否偏心,所述光通訊模組包括跨接器和光電耦合模組,所述跨接器之一端具有固定所述光纖之容置孔,所述光電耦合模組上具有與所述光纖進行光耦合之透鏡,所述跨接器上具有第一定位結構,所述光纖偏心量測方法包括:
提供一標準片,所述標準片包括主體和設置於所述主體上的通孔,所述通孔與所述容置孔一一對應且中心對準,所述通孔的直徑等於或略大於所述容置孔的直徑,所述主體上具有對應所述第一定位結構的第二定位結構;
將第二定位結構和第一定位結構對齊以使所述標準片定位於所述跨接器上;
透過所述通孔目測所述光纖,如果能夠看到所述光纖完整的端部,則所述光纖沒有偏心,否則,所述光纖偏心。
請一併參閱圖2、圖3及圖4,圖1所示的光纖偏心量測方法藉助一標準片20來量測光通訊模組中的光纖30是否偏心。
光通訊模組包括跨接器10和光電耦合模組(圖未示),光電耦合模組用於與光纖30進行光耦合。跨接器10包括本體11和設置在本體11上的複數容置孔12和兩個第一定位結構13。容置孔12用來固定光纖30並且光纖30應與容置孔12同心,第一定位結構13可以為定位孔或定位柱。
容置孔12位於第一定位結構13限定之區域內。
標準片20包括主體21和設置在主體21上的通孔22和第二定位結構23。通孔22的排列方式與容置孔12的排列方式相同,即通孔22與容置孔12一一對應且中心軸對準。第二定位結構23與第一定位結構13相對應,故,第二定位結構23可以為定位柱或定位孔。
通孔22的直徑等於容置孔12的直徑,或者,等於容置孔12的直徑與允許的同心度公差(光纖30的中心與容置孔12的中心不重合時,允許的差異)之和。
於量測光纖是否偏心時,將標準片20上的第二定位結構23對齊跨接器10上的第一定位結構13並使第一定位結構13和第二定位結構23相耦合,以使標準片20定位於跨接器10上。量測人員從標準片20一側,透過通孔22目測觀察光纖30,如有能看到光纖30完整的端部,例如,圖3所示的情形(光纖30的外徑位於通孔22內以及外徑接近通孔22的內徑),則說明光纖30與容置孔12之間不存在偏心;反之,圖4所示的情形,則說明光纖30與容置孔12之間存在偏心。優選地,量測人員藉助顯微鏡目測觀察。
上述光纖偏心量測方法藉助具有通孔之標準片觀察光纖,以判斷光纖是否偏心,不需要藉助複雜、精密的量測儀器,從而方便檢測光纖是否偏心。
綜上所述,本發明確已符合發明專利之要件,遂依法提出專利申請。惟,以上所述者僅為本發明之較佳實施方式,自不能以此限制本案之申請專利範圍。舉凡熟悉本案技藝之人士援依本發明之精神所作之等效修飾或變化,皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。
10...跨接器
11...本體
12...容置孔
13...第一定位結構
20...標準片
21...主體
22...通孔
23...第二定位結構
30...光纖
圖1是光纖偏心量測方法的示意圖。
圖2是標準片的結構示意圖。
圖3是光纖對位組裝不存在偏心時的示意圖。
圖4是光纖對位組裝存在偏心時的示意圖。
10...跨接器
11...本體
12...容置孔
13...第一定位結構
20...標準片
21...主體
22...通孔
23...第二定位結構
30...光纖
Claims (5)
- 一種光纖偏心量測方法,用於量測光通訊模組中光纖是否偏心,所述光通訊模組包括跨接器和光電耦合模組,所述跨接器之一端具有固定所述光纖之容置孔,所述光電耦合模組具有與所述光纖光耦合之透鏡,所述跨接器上具有第一定位結構,所述光纖偏心量測方法包括:
提供一標準片,所述標準片包括主體和設置於所述主體上的通孔,所述通孔與所述容置孔一一對應且中心對準,所述通孔的直徑等於或略大於所述容置孔的直徑,所述主體上具有對應所述第一定位結構的第二定位結構;
將第二定位結構和第一定位結構對齊以使所述標準片定位於所述跨接器上;
透過所述通孔目測所述光纖,如果能夠看到所述光纖完整的端部,則所述光纖沒有偏心,否則,所述光纖偏心。 - 如請求項1所述的光纖偏心量測方法,其中,藉助顯微鏡透過所述通孔觀察所述光纖。
- 如請求項1所述的光纖偏心量測方法,其中,所述第一定位結構為定位孔,所述第二定位結構為定位柱。
- 如請求項1所述的光纖偏心量測方法,其中,所述第一定位結構為定位柱,所述第二定位結構為定位孔。
- 如請求項2所述的光纖偏心量測方法,其中,所述通孔直徑等於所述容置孔的直徑與所述光纖允許的同心度公差之和。
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2012
- 2012-09-21 TW TW101134643A patent/TW201413314A/zh unknown
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2013
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