TW201346304A - 電源測試裝置 - Google Patents

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Li Liu
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Hon Hai Prec Ind Co Ltd
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    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/40—Testing power supplies

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Abstract

一種電源測試裝置，用以對一電源進行測試，該電源輸出至少一直流電壓，該電源測試裝置包括一測試治具板與一電子負載板，該測試治具板包括一介面，該介面將該直流電壓輸出給該電子負載板，一電容選擇電路連接到該介面，該電容選擇電路包括複數電容模組，每一電容模組分別包括一電容與一開關，該電容藉由該開關連接到該介面，該開關接通而將該電容與該介面相連，該開關斷開而將該電容與該介面斷開。

Description

電源測試裝置
本發明涉及一種測試裝置，尤指一種用於測試電源之測試裝置。
電腦等電子設備之電源將交流電轉換為電腦工作所需要之直流電，例如，電腦之電源一般將交流電轉換成多種直流電壓，例如5V、12V、3.3V等，在對電源進行測試時，需要分別測試該等直流電壓連接到不同之電容時之狀況，習知之測試裝置需要裝拆不同之電容而進行測試，不僅裝拆過程繁瑣費時，且有可能將電容裝反而引起事故，需要測試人員仔細檢查，使用起來很不方便。
鑒於以上內容，有必要提供一種可方便測試電源之電源測試裝置。
一種電源測試裝置，用以對一電源進行測試，該電源輸出至少一直流電壓，該電源測試裝置包括一測試治具板與一電子負載板，該測試治具板包括一介面，該介面將該直流電壓輸出給該電子負載板，一電容選擇電路連接到該介面，該電容選擇電路包括複數電容模組，每一電容模組分別包括一電容與一開關，該電容藉由該開關連接到該介面，該開關接通而將該電容與該介面相連，該開關斷開而將該電容與該介面斷開。
相較於習知技術，上述電源測試裝置可藉由接通開關而接入電容，使用方便。
請參閱圖1，本發明電源測試裝置一較佳實施例用以測試一電源10，該電源測試裝置包括一測試治具板20、複數設定於測試治具板20上之電容選擇電路30與一電子負載板50。
該測試治具板20包括一輸入端21，該輸入端21連接到該電源10，從而接收該電源10輸出之直流電壓，例如5V、12V、3.3V直流電壓等，該測試治具板20還包括複數介面23，每一介面23對應一種直流電壓，每一介面23分別包括一第一輸出端231與一第二輸出端232，第一輸出端231接收直流電壓，第二輸出端232接地。
該電子負載板50連接到測試治具板20之該等介面23，電子負載板50上設有複數負載，該等負載藉由該等介面23供電，從而測試電源10於連接了負載下之運行情況。
請參閱圖2，該電容選擇電路30連接於該介面23之第一輸出端231與第二輸出端232之間，該電容選擇電路30包括複數電容模組，於一實施例中，該電容選擇電路30包括一第一電容模組31、一第二電容模組32與一第三電容模組33。
該第一電容模組31包括第一電容C1、一第一發光二極體D1與一第一開關K1，該第一電容C1與第一發光二極體D1相並聯，該第一電容C1與第一發光二極體D1之正極藉由該第一開關K1連接到該第一輸出端231；該第一開關K1閉合時，該第一電容C1與第一發光二極體D1之正極與第一輸出端231相連；該第一開關K1斷開時，該第一電容C1與第一發光二極體D1之正極與第一輸出端231斷開。該第一電容C1與第一發光二極體D1之負極連接到該第二輸出端232。
該第二電容模組32包括第二電容C2、一第二發光二極體D2與一第二開關K2，該第二電容C2與第二發光二極體D2相並聯，該第二電容C2與第二發光二極體D2之正極藉由該第二開關K2連接到該第一輸出端231；該第二開關K2閉合時，該第二電容C2與第二發光二極體D2之正極與第一輸出端231相連；該第二開關K2斷開時，該第二電容C2與第二發光二極體D2之正極與第一輸出端231斷開。該第二電容C2與第二發光二極體D2之負極連接到該第二輸出端232。
該第三電容模組33包括第三電容C3、一第三發光二極體D3與一第三開關K3，該第三電容C3與第三發光二極體D3相並聯，該第三電容C3與第三發光二極體D3之正極藉由該第三開關K3連接到該第一輸出端231；該第三開關K3閉合時，該第三電容C3與第三發光二極體D3之正極與第一輸出端231相連；該第三開關K3斷開時，該第三電容C3與第三發光二極體D3之正極與第一輸出端231斷開。該第三電容C3與第三發光二極體D3之負極連接到該第二輸出端232。
上述第一電容C1、第二電容C2與第三電容C3可為電容值不同之電容，例如第一電容C1之電容值為1000皮法，第二電容C2之電容值為2000皮法，第三電容C3之電容值為5000皮法，則於測試時可單獨將一個電容接入電路，或接入多個電容，從而可得到不同之電容值，例如1000皮法、2000皮法、5000皮法、3000皮法、6000皮法、7000皮法與8000皮法；同樣，上述第一電容C1、第二電容C2與第三電容C3亦可為電容值相同之電容，例如同為2000皮法，則可於測試中得到2000皮法、4000皮法與6000皮法之電容值。
該電源測試裝置對該電源10進行測試時，電源10提供各種直流電壓給測試治具板20，每一種直流電壓藉由介面23輸出到電子負載板50，同時可藉由選擇性之接通第一開關K1、第二開關K2與第三開關K3而提供不同之電容值，例如當接通第一開關K1並斷開第二開關K2與第三開關K3時，第一電容C1被接通到測試電路中，且第一發光二極體D1發光而進行對應之指示，第二電容C2與第三電容C3未接入測試電路，第二發光二極體D2與第三發光二極體D3未發光；
於上述電源測試裝置中，當需要於測試電路中接入不同之電容值時，撥動第一開關K1、第二開關K2與第三開關K3使其對應之導通或斷開即可，從而不需頻繁地裝拆電容。
且為滿足不同之測試需求，該電容選擇電路30亦可設定兩個或其他數量之電容模組即可。
綜上所述，本發明係合乎發明專利申請條件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述僅為本發明之較佳實施例，舉凡熟悉本案技藝之人士其所爰依本案之創作精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下之申請專利範圍內。
10．．．電源
20．．．測試治具板
21．．．輸入端
23．．．介面
231．．．第一輸出端
232．．．第二輸出端
30．．．電容選擇電路
31．．．第一電容模組
32．．．第二電容模組
33．．．第三電容模組
50．．．電子負載板
C1．．．第一電容
D1．．．第一發光二極體
K1．．．第一開關
C2．．．第二電容
D2．．．第二發光二極體
K2．．．第二開關
C3．．．第三電容
D3．．．第三發光二極體
K3．．．第三開關
圖1係本發明電源測試裝置一較佳實施例之一示意圖。
圖2係圖1之電源測試裝置之一電容選擇電路之一電路圖。
231．．．第一輸出端
232．．．第二輸出端
31．．．第一電容模組
32．．．第二電容模組
33．．．第三電容模組
C1．．．第一電容
D1．．．第一發光二極體
K1．．．第一開關
C2．．．第二電容
D2．．．第二發光二極體
K2．．．第二開關
C3．．．第三電容
D3．．．第三發光二極體
K3．．．第三開關

Claims (7)

  1. 一種電源測試裝置，用以對一電源進行測試，該電源輸出至少一直流電壓，該電源測試裝置包括一測試治具板與一電子負載板，該測試治具板包括一介面，該介面將該直流電壓輸出給該電子負載板，一電容選擇電路連接到該介面，該電容選擇電路包括複數電容模組，每一電容模組分別包括一電容與一開關，該電容藉由該開關連接到該介面，該開關接通而將該電容與該介面相連，該開關斷開而將該電容與該介面斷開。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之電源測試裝置，其中該介面包括一第一輸出端與一第二輸出端，該第一輸出端接收該直流電壓，該第二輸出端接地。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之電源測試裝置，其中該電容之正極藉由該開關連接到該第一輸出端，該電容之負極連接到該第二輸出端。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之電源測試裝置，其中一發光二極體與該電容相並聯，該發光二極體於該開關接通時發光，於該開關斷開時不發光。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之電源測試裝置，其中該介面包括一第一輸出端與一第二輸出端，該第一輸出端接收該直流電壓，該第二輸出端接地，該電容與該發光二極體之正極藉由該開關連接到該第一輸出端，該電容與該發光二極體之負極接地。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之電源測試裝置，其中該等電容模組中之電容之電容值不同。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之電源測試裝置，其中該等電容模組中之電容之電容值相同。
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