TW201339830A - 自動開關機測試裝置及測試系統 - Google Patents

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    • G06F11/2284Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing by power-on test, e.g. power-on self test [POST]

Abstract

一種自動開關機測試裝置,用於對被測電子裝置進行開關機測試,所述自動開關機測試裝置包括設置模組、控制器、啟動模組以及USB連接器,所述設置模組用於輸入對被測電子裝置進行開關機測試的開機次數以及關機持續時間;所述啟動模組用於使能所述被測電子裝置的主板的電源啟動引腳以使所述被測電子裝置開機;所述USB連接器藉由USB線纜電性連接至所述被測電子裝置,所述USB連接器用於接收所述被測電子裝置以USB資料形式回饋的開機確認資訊以及關機確認資訊,並傳送至所述控制器。本發明還涉及一種自動開關機測試系統。

Description

自動開關機測試裝置及測試系統
本發明涉及一種測試裝置,尤其涉及一種自動開關機測試裝置及測試系統。
在個人電腦、平板電腦或者伺服器等電子裝置的實際使用過程中,一般是藉由其上的開關按鈕來開機或關機。所述開關按鈕藉由兩根導線分別連接至所述電子裝置主板上的電源啟動(PS-ON)引腳以及接地引腳,當需要開機並按下開關按鈕時,開關按鈕即將所述PS-ON引腳與接地引腳短接,當電子裝置的電源模組檢測到該PS-ON引腳為低電平後,即給電子裝置主板供電以控制電子裝置開機。
在對上述電子裝置進行開關機測試時,目前的測試方法一般是採用一測試主機藉由RS232介面發送開機指令至一被測電子裝置,以控制該被測電子裝置開機,例如,直接發送指令給電子裝置的電源模組,控制電源模組給電子裝置供電。然而,這樣則無法類比人工靠按壓開關按鈕來發送訊號給電子裝置的電源模組以使所述電子裝置開機的情況,無法達到較好的測試效果。
有鑒於此,有必要提供一種可類比人工靠按壓開關按鈕來使被測電子裝置開機的自動開關機測試裝置。
另,還有必要提供一種具有所述自動開關機測試裝置的測試系統。
一種自動開關機測試裝置,用於對被測電子裝置進行開關機測試,所述自動開關機測試裝置包括:
設置模組,包括多個按鍵,多個所述按鍵用於配合輸入對被測電子裝置進行開關機測試的開機次數;
啟動模組,用於使能所述被測電子裝置的主板的電源啟動引腳以使所述被測電子裝置開機;
控制器,電性連接至多個所述按鍵及所述啟動模組,所述控制器用於根據設置模組設置的開關機測試的開機次數,相應控制所述啟動模組使能所述電源啟動引腳的次數;
USB連接器,電性連接至所述控制器,所述USB連接器藉由USB線纜電性連接至所述被測電子裝置,所述USB連接器用於接收所述被測電子裝置以USB資料形式回饋的資訊,即所述被測電子裝置每次正常開機時輸出的開機確認資訊以及每次正常關機時輸出的關機確認資訊,並將上述資訊傳送至所述控制器;
顯示器,電性連接至所述控制器,所述顯示器用於顯示被測電子裝置開關機測試的最終測試結果、所述預設的開機次數以及被測電子裝置實際的開機、關機次數;
記憶體,電性連接至所述控制器,所述記憶體用於經由所述控制器獲得所述預設的開機次數,並記錄所述預設的開機次數、被測電子裝置實際的開機、關機次數;以及
電源,用於給所述控制器、啟動模組、USB連接器、顯示器以及記憶體供電。
一種自動開關機測試系統,包括:
被測電子裝置,包括主板,所述主板包括電源啟動引腳;以及
自動開關機測試裝置,用於對被測電子裝置進行開關機測試,所述自動開關機測試裝置包括:
設置模組,包括多個按鍵,多個所述按鍵用於配合輸入對被測電子裝置進行開關機測試的開機次數;
啟動模組,用於使能所述被測電子裝置的主板的電源啟動引腳以使所述被測電子裝置開機;
控制器,電性連接至多個所述按鍵及所述啟動模組,所述控制器用於根據設置模組設置的開關機測試的開機次數,相應控制所述啟動模組使能所述電源啟動引腳的次數;
USB連接器,電性連接至所述控制器,所述USB連接器藉由USB線纜電性連接至所述被測電子裝置,所述USB連接器用於接收所述被測電子裝置以USB資料形式回饋的資訊,即所述被測電子裝置每次正常開機時輸出的開機確認資訊以及每次正常關機時輸出的關機確認資訊,並將上述資訊傳送至所述控制器;
顯示器,電性連接至所述控制器,所述顯示器用於顯示被測電子裝置開關機測試的最終測試結果、所述預設的開機次數以及被測電子裝置實際的開機、關機次數;
記憶體,電性連接至所述控制器,所述記憶體用於經由所述控制器獲得所述預設的開機次數,並記錄所述預設的開機次數、被測電子裝置實際的開機、關機次數;以及
電源,用於給所述控制器、啟動模組、USB連接器、顯示器以及記憶體供電。
所述的自動開關機測試裝置及自動開關機測試系統藉由所述啟動模組來使能所述被測電子裝置的電源啟動引腳,以類比開關按鈕使能所述電源啟動引腳的情況,被測電子裝置的電源模組檢測到所述電源啟動引腳被使能後,記給被測電子裝置的主板供電進行開機,如此,較好地類比了被測電子裝置在實際使用中藉由開關按鈕進行開關機的情況,能達到較好的測試效果。並且藉由所述USB連接器來接收被測電子裝置以USB資料形式回饋的開機確認資訊及關機確認資訊,能較準確地獲得測試結果,提高測試精度。
請參閱圖1,本發明較佳實施方式的自動開關機測試系統100包括自動開關機測試裝置10及被測電子裝置30。被測電子裝置30可以為個人電腦、平板電腦或者伺服器等電子裝置,也可以為一類比裝置,所述類比裝置用於類比個人電腦主機、平板電腦或者伺服器等電子裝置。當被測電子裝置30為一類比裝置時,所述類比裝置包括被其類比的電子裝置所具有的全部硬體,而在軟體上,所述類比裝置可以只包括開機程式及關機程式。被測電子裝置30包括主板31,所述主板31包括電源啟動引腳PS-ON,當該電源啟動引腳PS-ON被使能時,被測電子裝置30即開始載入開機程式開機。
所述自動開關機測試裝置10包括盒體11、設置模組12、控制器13、啟動模組14、USB連接器15、顯示器16、記憶體17以及電源18。在本實施方式中,電源18為+5V電源,其用於給控制器13、啟動模組14、USB連接器15以及顯示器16供電。
請一併參閱圖2及圖3,盒體11包括第一面板111及第二面板113。
設置模組12包括電性連接至所述控制器13的多個輸入按鍵121。多個輸入按鍵121間隔設置於第一面板111上。多個輸入按鍵121用於配合輸入預設的開關機次數以及開關機時間等資訊。例如,多個輸入按鍵121可以分別為功能表鍵、保存鍵、上移(加)鍵以及下移(減)鍵。藉由配合操作多個輸入按鍵121,可以將預設的開關機次數、關機持續時間等資訊輸入至控制器13。
控制器13電性連接至啟動模組14、USB連接器15、顯示器16、記憶體17以及電源18。控制器13用於根據設置模組12的輸入資訊來控制啟動模組14的啟動次數及啟動間隔,從而相應控制被測電子裝置30的開關機次數及關機持續時間。也就是說,所述控制器13用於根據設置模組12設置的開關機測試的預設的開機次數,相應控制所述啟動模組14使能所述電源啟動引腳PS-ON的次數。
請參閱圖4,啟動模組14包括第一導線141(如圖3所示)、繼電器K1、電子開關Q1、放電二極體D1、第一分壓電阻R1以及第二分壓電阻R2。第一導線141經由第二面板113伸出於盒體11之外,繼電器K1藉由所述導線L1電性連接至被測電子裝置30的電源啟動引腳PS-ON,控制器13藉由控制電子開關Q1導通來閉合繼電器K1,繼電器K1藉由第一導線141相應地使能電源啟動引腳PS-ON,從而控制被測電子裝置30開機。
具體地,在本實施方式中,電子開關Q1為N溝道金屬氧化物半導體場效應電晶體(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor, MOSFET),其閘極G藉由第一分壓電阻R1電性連接至控制器13;源極S接地;汲極D電性連接至所述繼電器K1。第二分壓電阻R2串聯至第一分壓電阻R1與閘極G之間的節點與地之間。繼電器K1為電磁繼電器,其包括線圈L、控制端1、控制端2、連接端3以及連接端4。線圈L分別藉由控制端1、2電性連接至電源18與汲極D之間。當線圈L上有電流藉由時,連接端3、4相互連接;當線圈L上沒有電流時,連接端3、4相互斷開。放電二極體D1的陽極電性連接至控制端1,陰極電性連接至控制端2,放電二極體D1用於在電子開關Q1斷開時對線圈L上的感應電流進行快速放電。
可以理解,第一電子開關Q1也可以為一NPN型三極管,其基極、發射極和集電極分別對應所述N溝道MOSFET的閘極G、源極S和汲極D。
當被測電子裝置30的電源啟動引腳PS-ON為低電平有效時,在本發明較佳實施方式中,連接端3及連接端4其中一方(例如圖4所示的連接端3)藉由所述第一導線141電性連接至被測電子裝置30的電源啟動引腳PS-ON,另一方(例如圖4所示的連接端4)藉由一下拉電阻R3接地。如此,控制器13藉由發送一高電平至所述電子開關Q1使電子開關導通,此時線圈L上有電流流過,連接端3、4相互連接於一起,電源啟動引腳PS-ON接地被使能,使得被測電子裝置30開機。控制器13發送的高電平訊號維持一段時間,例如兩秒後,則發送低電平訊號使電子開關Q1截止,從而相應地控制連接端3、4斷開。
在本發明第二實施方式中,啟動模組14還可以包括第二導線143(如圖3所示)。連接端3及連接端4其中一方藉由第一導線141電性連接至被測電子裝置30的電源啟動引腳PS-ON,另一方藉由第二導線143電性連接至被測電子裝置30的主板31的接地引腳。當連接端3、4相互連接於一起,電源啟動引腳PS-ON藉由主板31的接地引腳接地而被使能,使得被測電子裝置30開機。
可以理解,若當被測電子裝置30的電源啟動引腳PS-ON為高電平有效時,連接端3及連接端4其中一方藉由所述第一導線141電性連接至被測電子裝置30的電源啟動引腳PS-ON,另一方藉由一上拉電阻(圖未示)電性連接至所述電源18。當連接端3、4相互連接於一起,電源啟動引腳PS-ON為+5V高電平而被使能,使得被測電子裝置30開機。
USB連接器15設置於第二面板113上,USB連接器15藉由USB線纜(圖未示)電性連接至被測電子裝置30。USB連接器15用於實現控制器13與被測電子裝置30之間的通訊;顯示器16設置於第一面板111上,用於顯示被測電子裝置30開關機測試的最終測試結果、所述預設的開機次數以及被測電子裝置30實際的開機、關機次數;記憶體17用於經由所述控制器接收設置模組12輸入的預設的開機次數並記錄該預設的開機次數,記憶體17還用於記錄被測電子裝置30實際的開機及關機次數。在本實施方式中,控制器13為單片機,由於其與顯示器16以及USB連接器15的電路連接為習知技術,故在此不再贅述。
當被測電子裝置30正常開機以及正常關機後,其會分別輸出相應的開機確認資訊以及關機確認資訊,所述USB連接器15則用於接收被測電子裝置30以USB資料形式回饋的開機確認資訊及關機確認資訊,並傳送至控制器13。控制器13根據接收到所述確認資訊,如開機確認資訊後,則藉由顯示器16顯示相應的測試結果,如正常開機。並且控制器13在接收到開機確認資訊後,控制記憶體17記錄的開機次數加一,並藉由顯示器16顯示記憶體17的計數次數。若控制器13在預設的資訊接收時間內沒有接收到相應的開機確認資訊或者關機確認資訊,則判斷開機或關機失敗,並藉由顯示器16進行顯示。
在本實施方式中,當被測電子裝置30開機至一開機持續時間後,其會自動運行關機程式進行關機,而無需在自動開關機測試裝置10的控制下關機。被測電子裝置30的開機持續時間可以直接對被測電子裝置30編程實現,也可以從設置模組12輸入,並由控制器13藉由USB連接器15傳送至被測電子裝置30。
下面簡述所述自動開關機測試裝置10對被測電子裝置30進行測試的測試過程。
控制器13首先藉由所述啟動模組14控制被測電子裝置30開機,被測電子裝置30正常開機後,則發送開機確認資訊至控制器13,控制器13控制記憶體17的開機次數加一。在被測電子裝置30開機至一開機持續時間後,被測電子裝置30自動執行關機程式進行關機。在被測電子裝置30正常關機後,則發送關機確認資訊至控制器13,控制器13控制記憶體17的關機次數加一。在控制器13接收到所述關機確認資訊至一關機持續時間後,則再次藉由藉由所述啟動模組14控制被測電子裝置30開機。當記憶體17存儲的開機次數到達設置模組輸入的開機次數設定值後,則整個測試結束。
所述的自動開關機測試裝置10及自動開關機測試系統100藉由所述啟動模組14來使能所述被測電子裝置30的電源啟動引腳PS-ON,以類比開關按鈕使能所述電源啟動引腳PS-ON的情況,被測電子裝置30的電源模組(圖未示)檢測到所述電源啟動引腳PS-ON被使能後,即給被測電子裝置30的主板供電進行開機,如此,較好地類比了被測電子裝置30在實際使用中藉由開關按鈕進行開關機的情況,能達到較好的測試效果。並且藉由所述USB連接器來接收被測電子裝置30以USB資料形式回饋的開機確認資訊及關機確認資訊,能較準確地獲得測試結果,提高測試精度。
綜上所述,本發明符合發明專利要件,爰依法提出專利申請。惟,以上所述者僅為本發明之實施方式,本發明之範圍並不以上述實施方式為限,舉凡熟悉本案技藝之人士,於援依本案發明精神所作之等效修飾或變化,皆應包含於以下之申請專利範圍內。
100...自動開關機測試系統
10...自動開關機測試裝置
30...被測電子裝置
31...主板
PS-ON...電源啟動引腳
11...盒體
111...第一面板
113...第二面板
12...設置模組
121...輸入按鍵
13...控制器
14...啟動模組
141...第一導線
143...第二導線
15...USB連接器
16...顯示器
17...記憶體
18...電源
K1...繼電器
Q1...電子開關
D1...放電二極體
R1...第一分壓電阻
R2...第二分壓電阻
G...閘極
S...源極
D...汲極
L...線圈
1、2...控制端
3、4...連接端
圖1為本發明較佳實施方式的具有本發明自動開關機測試裝置的自動開關機測試系統的功能模組圖。
圖2為圖1所示自動開關機測試裝置的盒體的第一面板示意圖。
圖3為圖1所示自動開關機測試裝置的盒體的第二面板示意圖。
圖4為圖1所示自動開關機測試裝置的啟動模組的電路圖。
100...自動開關機測試系統
10...自動開關機測試裝置
30...被測電子裝置
31...主板
11...盒體
12...設置模組
13...控制器
14...啟動模組
15...USB連接器
16...顯示器
17...記憶體
18...電源

Claims (10)

  1. 一種自動開關機測試裝置,用於對被測電子裝置進行開關機測試,其改良在於,所述自動開關機測試裝置包括:
    設置模組,包括多個按鍵,多個所述按鍵用於配合輸入對被測電子裝置進行開關機測試的預設的開機次數;
    啟動模組,用於使能所述被測電子裝置的主板的電源啟動引腳以使所述被測電子裝置開機;
    控制器,電性連接至多個所述按鍵及所述啟動模組,所述控制器用於根據設置模組設置的開關機測試的預設的開機次數,相應控制所述啟動模組使能所述電源啟動引腳的次數;
    USB連接器,電性連接至所述控制器,所述USB連接器藉由USB線纜電性連接至所述被測電子裝置,所述USB連接器用於接收所述被測電子裝置以USB資料形式回饋的資訊,即所述被測電子裝置每次正常開機時輸出的開機確認資訊以及每次正常關機時輸出的關機確認資訊,並將上述資訊傳送至所述控制器;
    顯示器,電性連接至所述控制器,所述顯示器用於顯示被測電子裝置開關機測試的最終測試結果、所述預設的開機次數以及被測電子裝置實際的開機、關機次數;
    記憶體,電性連接至所述控制器,所述記憶體用於經由所述控制器獲得所述預設的開機次數,並記錄所述預設的開機次數、被測電子裝置實際的開機及關機次數;以及
    電源,用於給所述控制器、啟動模組、USB連接器、顯示器以及記憶體供電。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之自動開關機測試裝置,其中當所述控制器在預設的時間內沒有接收到所述開機確認資訊或者關機確認資訊,則相應地判斷開機失敗或關機失敗,並控制所述顯示器顯示相應的測試結果。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之自動開關機測試裝置,其中所述啟動模組包括第一導線、電性連接至所述控制器的電子開關以及電性連接至所述電子開關的繼電器,所述繼電器藉由所述第一導線電性連接至所述被測電子裝置的電源啟動引腳,所述控制器藉由控制所述繼電器開關閉合使得器電器閉合,從而相應使能所述電源啟動引腳。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之自動開關機測試裝置,其中所述電子開關為N溝道金屬氧化物半導體場效應電晶體,其閘極電性連接至控制器,源極接地;所述繼電器包括線圈、兩個控制端及兩個連接端;所述線圈分別藉由兩個所述控制端電性連接至所述電源與所述N溝道金屬氧化物半導體場效應電晶體的汲極之間。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之自動開關機測試裝置,其中當所述電源啟動引腳為低電平有效時,其中一個連接端接地,另一個連接端藉由所述第一導線連接至所述電源啟動引腳。
  6. 如申請專利範圍第4項所述之自動開關機測試裝置,其中當所述啟動引腳為低電平有效時,所述啟動模組還包括第二導線,兩個所述連接端分別藉由所述第一導線及第二導線電性連接至被測電子裝置的主板的電源啟動引腳以及接地引腳。
  7. 如申請專利範圍第4項所述之自動開關機測試裝置,其中當所述電源啟動引腳為高電平有效時,其中一個連接端電性連接至所述電源,另一個連接端藉由所述第一導線連接至所述電源啟動引腳。
  8. 如申請專利範圍第4項所述之自動開關機測試裝置,其中所述啟動模組還包括放電二極體,所述放電二極體的陽極電性連接至所述汲極,陰極電性連接至所述電源,所述放電二極體用於在所述電子開關斷開時對所述線圈上的感應電流進行快速放電。
  9. 一種自動開關機測試系統,包括:
    被測電子裝置,包括主板,所述主板包括電源啟動引腳;以及
    自動開關機測試裝置,用於對被測電子裝置進行開關機測試,所述自動開關機測試裝置包括:
    設置模組,包括多個按鍵,多個所述按鍵用於配合輸入對被測電子裝置進行開關機測試的開機次數;
    啟動模組,用於使能所述被測電子裝置的主板的電源啟動引腳以使所述被測電子裝置開機;
    控制器,電性連接至多個所述按鍵及所述啟動模組,所述控制器用於根據設置模組設置的開關機測試的開機次數,相應控制所述啟動模組使能所述電源啟動引腳的次數;
    USB連接器,電性連接至所述控制器,所述USB連接器藉由USB線纜電性連接至所述被測電子裝置,所述USB連接器用於接收所述被測電子裝置以USB資料形式回饋的資訊,即所述被測電子裝置每次正常開機時輸出的開機確認資訊以及每次正常關機時輸出的關機確認資訊,並將上述資訊傳送至所述控制器;
    顯示器,電性連接至所述控制器,所述顯示器用於顯示被測電子裝置開關機測試的最終測試結果、所述預設的開機次數以及被測電子裝置實際的開機、關機次數;
    記憶體,電性連接至所述控制器,所述記憶體用於經由所述控制器獲得所述預設的開機次數,並記錄所述預設的開機次數、被測電子裝置實際的開機及關機次數;以及
    電源,用於給所述控制器、啟動模組、USB連接器、顯示器以及記憶體供電。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之自動開關機測試系統,其中當所述被測電子裝置開機至一預設時間後,被測電子裝置自動運行關機程式進行關機。
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